KR100551232B1 - Measurement system for using diode laser - Google Patents

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Abstract

본 발명은 비접촉식으로 유체나 화염에 영향을 미치지 않고 계측을 할 수 있는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템을 제공하는 것으로, 각각 특정 파장의 빔을 발진하는 다수개의 다이오드 레이저를 포함하는 발진부; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여, 상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하는 수집 및 분석부; 발진되는 레이저 빔의 파장을 제어하도록 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 조정하는 제어부; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 다이오드 레이저들과 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어, 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치를 포함한다.The present invention provides a measurement system using a diode laser that can be measured without affecting the fluid or flame non-contact, an oscillator including a plurality of diode lasers each oscillating a beam of a specific wavelength; A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; A collecting and analyzing unit collecting and analyzing and extracting an electrical signal emitted from the light receiving unit to distinguish the laser beams oscillated by the plurality of diode lasers; A controller for adjusting the temperature of the diode laser and the current scanned by the diode laser to control the wavelength of the oscillated laser beam; A laser beam passing through a medium is applied to the diode lasers and the collection and analysis unit by being connected to the collection and analysis unit and the control unit, and to distinguish the laser beams of the collection and analysis unit. A signal generator for modulating a wavelength; And a central operation unit connected to the signal generator and the controller to control data processing and the signal generator.

다이오드 레이저, 화염, 계측, 제어, 연산Diode Laser, Flame, Instrumentation, Control, Arithmetic

Description

다이오드 레이저를 이용한 계측시스템{Measurement system for using diode laser}Measurement system for using diode laser {Measurement system for using diode laser}

도 1은 본 발명에 따른 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템을 도시한 구성도이고,1 is a block diagram showing a measurement system using a diode laser according to the present invention,

도 2 내지 도 5는 본 발명에 따른 계측시스템을 이용한 실측치와 해석치를 비교하기 위해 도시한 그래프들이다.2 to 5 are graphs shown for comparing the measured value and the analyzed value using the measurement system according to the present invention.

본 발명은 계측시스템에 관한 것으로, 좀 더 상세하게는 레이저 빔을 이용하여 유체의 성분별 농도, 온도, 유속, 질량유량 등을 계측할 수 있는 다이오드 레이저를 이용한 계측 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a measurement system, and more particularly to a measurement system using a diode laser that can measure the concentration, temperature, flow rate, mass flow rate, etc. of each component of the fluid using a laser beam.

일반적으로, 계측시스템은 어떤 대상물에 대한 정확한 정보를 수집하여 그 대상물을 해석하고 연구하여, 그 대상물의 문제점이나 개선 방향을 제시함으로써, 대상물에 대한 연구 발전에 초석이 되는 매우 중요한 기기로서, 통상 대상물과의 직접적인 접촉을 통해 물체의 특성을 파악하는 접촉식 방식과, 대상물과 직접 접촉하지 않고서도 물체의 특성을 파악하는 비접촉식 방식이 있다.In general, a measurement system is a very important device that is the cornerstone for research and development of an object by collecting accurate information about an object, interpreting and studying the object, and suggesting a problem or improvement direction of the object. There is a contact method for determining the characteristics of an object through direct contact with an object and a non-contact method for identifying the characteristics of an object without directly contacting the object.

접촉식 방식은 간단한 도구를 통해 편리하고 안전하게 물체에 대한 정보를 취득할 수 있으나, 그 대상이 한정되어 있으며, 특히 미세한 외부조건에서도 그 결과가 크게 달라지는 공기 유체나 화염의 경우에는 접촉식으로 물체의 특성을 파악하는데 한계가 있다.The contact method can obtain information about an object conveniently and safely through a simple tool, but its object is limited, and especially in the case of air fluid or flame whose results vary greatly even under minute external conditions, There is a limit in understanding the characteristics.

따라서, 공기 유체나 화염의 성분 계측의 경우에, 비접촉식 방식이 채택되며, 비접촉식 방식 중에서 다이오드 레이저는 광섬유를 매개로 빛의 전송에 의해 대상물을 계측하는 방식이다.Therefore, in the case of measuring the components of an air fluid or flame, a non-contact method is adopted, and among the non-contact methods, a diode laser is a method of measuring an object by transmission of light through an optical fiber.

본 발명은 이와 같은 기술적 발전에 부응하여, 유체나 화염에 영향을 미치지 않고 공기 유체나 화염의 성분을 비접촉식으로 계측을 할 수 있는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템을 제공하는 데 있다.In accordance with such technical development, the present invention provides a measurement system using a diode laser capable of non-contact measurement of an air fluid or flame component without affecting the fluid or flame.

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본 발명의 계측시스템은, 각각 특정 파장의 빔을 발진하는 다수개의 다이오드 레이저를 포함하는 발진부; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여, 상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하는 수집 및 분석부; 발진되는 레이저 빔의 파장을 제어하도록 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 조정하는 제어부; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 다이오드 레이저들과 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어, 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치를 포함한다.
본 발명의 또 다른 계측 시스템은, 특정 파장의 빔을 형성하는 다수개의 다이오드 레이저들을 포함하는 발진부; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여,상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하고, 신호대 잡음비의 증대를 위해 적용된 변조 주파수를 검파하는 수집 및 분석부; 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 각각 조정하는 온도 조절기 및 주사 전류 조절기를 구비하는 제어부; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 제어부를 통한 다이오드 레이저 및 상기 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치를 포함한다.
본 발명의 또 다른 계측 시스템은, 특정 파장의 빔을 형성하는 다수개의 다이오드 레이저들을 포함하는 발진부; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여,상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하고, 신호대 잡음비의 증대를 위해 적용된 변조 주파수를 검파하는 수집 및 분석부; 레이저 빔의 파장을 제어하도록 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 조정하는 제어부; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 제어부를 통한 다이오드 레이저 및 상기 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치로 구성되고, 상기 다수개의 다이오드 레이저는 광섬유를 통해 광분배기로 연결되고, 광분배기는 광섬유를 통해 평행광 렌즈에 연결되며, 상기 평행광 렌즈에서는 직진성을 가진 레이저 빔이 주사되어 매질을 통과하고, 상기 매질을 통과한 레이저 빔을 집광렌즈를 통해 상기 수광부에 흡수한다.
The measurement system of the present invention comprises: an oscillator including a plurality of diode lasers each oscillating a beam of a specific wavelength; A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; A collecting and analyzing unit collecting and analyzing and extracting an electrical signal emitted from the light receiving unit to distinguish the laser beams oscillated by the plurality of diode lasers; A controller for adjusting the temperature of the diode laser and the current scanned by the diode laser to control the wavelength of the oscillated laser beam; A laser beam passing through a medium is applied to the diode lasers and the collection and analysis unit by being connected to the collection and analysis unit and the control unit, and to distinguish the laser beams of the collection and analysis unit. A signal generator for modulating a wavelength; And a central operation unit connected to the signal generator and the controller to control data processing and the signal generator.
Another metrology system of the present invention comprises: an oscillator comprising a plurality of diode lasers forming a beam of a particular wavelength; A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; In order to distinguish the laser beams oscillated from the plurality of diode laser, the collection and analysis unit for collecting and analyzing the electrical signal from the light-receiving unit, and detects the modulation frequency applied to increase the signal-to-noise ratio; A control unit including a temperature controller and a scan current controller for adjusting the temperature of the diode laser and the current scanned by the diode laser, respectively; It is connected to the collection and analysis unit and the control unit, in order to distinguish the laser beam of the collection and analysis unit, a different type of unique electrical signal is applied to the diode laser and the collection and analysis unit through the control unit, and passes through the medium A signal generator for modulating a wavelength of the laser beam; And a central operation unit connected to the signal generator and the controller to control data processing and the signal generator.
Another metrology system of the present invention comprises: an oscillator comprising a plurality of diode lasers forming a beam of a particular wavelength; A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; In order to distinguish the laser beams oscillated from the plurality of diode laser, the collection and analysis unit for collecting and analyzing the electrical signal from the light-receiving unit, and detects the modulation frequency applied to increase the signal-to-noise ratio; A controller for adjusting a temperature of the diode laser and a current scanned by the diode laser to control a wavelength of a laser beam; It is connected to the collection and analysis unit and the control unit, in order to distinguish the laser beam of the collection and analysis unit, a different type of unique electrical signal is applied to the diode laser and the collection and analysis unit through the control unit, and passes through the medium A signal generator for modulating a wavelength of the laser beam; And a central processing unit connected to the signal generator and the controller to control data processing and the signal generator, wherein the plurality of diode lasers are connected to an optical splitter through an optical fiber, and the optical splitter is a parallel optical lens through an optical fiber. In the parallel optical lens, a laser beam having a straightness is scanned and passed through a medium, and the laser beam passing through the medium is absorbed by the light receiving unit through a condenser lens.

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템을 도시한 구성도이고, 도 2 내지 도 5는 본 발명에 따른 계측시스템을 이용한 실측치와 해석치를 비교하기 위해 도시한 그래프들이다.1 is a block diagram showing a measurement system using a diode laser according to the present invention, Figures 2 to 5 are graphs for comparing the measured value and the analysis value using the measurement system according to the present invention.

본 발명에 따른 계측시스템은 특정 파장의 레이저 빔을 발진하는 다수개의 다이오드 레이저(1,2,...,n)를 포함하는 발광부(10)와, 매질을 통과한 레이저 빔을 검출하는 수광부(20)와, 다이오드 레이저(1,2,...,n)로부터 발진하는 레이저 빔의 온도와 파장을 제어하는 제어부(30)와, 전기 신호를 발생하는 신호 발생부(40)와, 수광부(20)에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석하는 수집 및 분석부(50)와, 데이터 처리 및 제어를 위한 중앙연산장치(60)로 구성된다.The measurement system according to the present invention comprises a light emitting unit 10 including a plurality of diode lasers (1, 2, ..., n) for oscillating a laser beam of a specific wavelength, and a light receiving unit for detecting a laser beam passing through a medium. 20, a control unit 30 for controlling the temperature and wavelength of the laser beam oscillating from the diode lasers 1, 2, ..., n, a signal generator 40 for generating an electric signal, and a light receiving unit It is composed of a collection and analysis unit 50 for collecting and analyzing the electrical signal from the (20), and a central operation unit 60 for data processing and control.

여기서 발광부(10)를 구성하는 다이오드 레이저(1,2...,n)는 측정하고자 하는 대상 가스에 따라 고유의 파장을 가지는 다이오드 레이저들이 사용된다. 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 나오는 파장은 다이오드를 구성하는 성분에 따라 서로 다른 파장의 빔을 방출한다. 그러나, 계측될 매질의 농도 분석이나 온도 분석을 위한 특정 파장의 빔을 얻기 위해서는 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 방출되는 레이저 빔이 미세 조정되어야만 된다.Here, the diode lasers 1, 2..., N constituting the light emitting unit 10 are diode lasers having a specific wavelength depending on a target gas to be measured. The wavelengths emitted by the diode lasers (1, 2, ..., n) emit beams of different wavelengths depending on the components constituting the diode. However, in order to obtain a beam of a specific wavelength for concentration analysis or temperature analysis of the medium to be measured, the laser beam emitted from the diode lasers (1, 2, ..., n) must be fine tuned.

다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 발진하는 레이저 빔의 파장은 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도와 주사 전류에 따라 변하게 된다. 즉, 매질의 계측에 필요한 파장의 레이저 빔을 얻기 위해 다이오드 레이저의 온도와 다이오드 레이저에 주사되는 주사 전류가 조절됨으로써 원하는 파장으로의 미세조정이 가능하고, 제어부(30)에 포함된 온도 조절기와 주사 전류 조절기에 의해 미세 조정된다.The wavelength of the laser beam oscillated by the diode lasers 1, 2, ..., n changes depending on the temperature of the diode lasers 1, 2, ..., n and the scanning current. That is, by adjusting the temperature of the diode laser and the scanning current scanned by the diode laser to obtain a laser beam having a wavelength necessary for measuring the medium, fine adjustment is possible to a desired wavelength, and the temperature controller and the scan included in the controller 30 are scanned. Finely adjusted by the current regulator.

다수의 다이오드 레이저(1,2,...,n)들은 도 1에 도시된 바와 같이 광섬유(11)를 통해 광분배기(12)로 연결되고, 광분배기(12)는 광섬유(13)를 통해 평행광 렌즈(14)에 연결된다.A plurality of diode lasers (1, 2, ..., n) are connected to the optical splitter 12 through the optical fiber 11, as shown in Figure 1, the optical splitter 12 through the optical fiber 13 It is connected to the parallel light lens 14.

다수의 다이오드 레이저(1,2,...,n)들로부터 발진된 레이저 빔들은 광분배기(12)에서 분배되어 광섬유(13)를 통해 평행광 렌즈(14)로 보내져서, 평행광 렌즈(14)에서 직진성을 가진 레이저 빔으로 된다. 평행광 렌즈(14)에 의해 직진성을 가지는 레이저 빔은 매질을 통과하여 집광렌즈(15)를 통해 수광부(20)에서 수광된다.The laser beams oscillated from the plurality of diode lasers 1, 2, ..., n are distributed in the optical splitter 12 and sent through the optical fiber 13 to the parallel light lens 14, so that the parallel light lens ( 14, the laser beam has a straightness. The laser beam having the straightness by the parallel light lens 14 passes through the medium and is received by the light receiving unit 20 through the condenser lens 15.

수광부(20)는 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 방출되는 레이저 빔이 대상 매질을 통과하는 동안 대상 매질에 의해 빛이 흡수된 레이저 빔을 수광하고, 수광부(20)에서 대상 매질에 의해 흡수된 광량이 측정된다. 수광부(20)는 수광다이오드(Photodiode)로 구성되어 있으며, 수광된 레이저 빔의 강도는 수광부(20)에서 전기 신호로 변환되어, 신호 처리를 위하여 신호 수집 및 분석부(50)로 보내진다.The light receiving unit 20 receives a laser beam absorbed by the target medium while the laser beam emitted from the diode lasers 1, 2,..., N passes through the target medium, and receives the target from the light receiving unit 20. The amount of light absorbed by the medium is measured. The light receiving unit 20 includes a photodiode, and the intensity of the received laser beam is converted into an electrical signal in the light receiving unit 20 and sent to the signal collection and analysis unit 50 for signal processing.

제어부(30)는 다이오드 레이저(1,2,...,n)들로부터 발진된 레이저 빔이 특정 파장으로 형성되도록 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도와 주사전류를 미세 조정한다. The controller 30 adjusts the temperature and the scan current of the diode lasers 1, 2, ..., n so that the laser beam oscillated from the diode lasers 1, 2, ..., n is formed at a specific wavelength. Adjust

제어부(30)는 상기된 바와 같이 크게 온도 제어부와 주사 전류 제어부로 나뉘어지며, 온도 제어부는 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도를 원하는 온도로 일정하게 유지하기 위해 정밀 온도 측정 센서로 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도를 측정하고, 전기 냉각장치, 전기 가열장치를 통해 항상 일정하게 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도를 유지하여 다이오드 레이저(1,2,...,n)의 온도편차가 수밀리 K(캘빈온도) 이내로 유지되도록 한다.The controller 30 is largely divided into a temperature controller and a scan current controller as described above, and the temperature controller measures precision temperature in order to keep the temperature of the diode lasers 1, 2, ..., n constant at a desired temperature. The sensor measures the temperature of the diode lasers (1, 2, ..., n) and maintains the temperature of the diode lasers (1, 2, ..., n) at all times through the electric cooler and the electric heater. The temperature deviation of the diode lasers 1, 2, ..., n is maintained within several milli K (Kelvin temperature).

또한, 주사 전류 제어부는 다이오드 레이저(1,2,...,n)에 공급되는 주사 전류를 미세 조정하여 다이오드 레이저(1,2,...,n)로 균일한 전류가 공급되도록 한다.Also, the scan current controller finely adjusts the scan current supplied to the diode lasers 1, 2, ..., n so that a uniform current is supplied to the diode lasers 1, 2, ..., n.

신호 발생부(40)는 가스 농도 및 온도 계측의 정밀도를 높이기 위하여 다이오드 레이저(1,2,...,n)와 신호 수집 및 분석부(50)에 일정한 주파수의 전기 신호를 가하여 이를 변조시킨다. 이와 같은 변조를 통하여, 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 발진되는 레이저 빔의 파장 역시 변조 주파수와 동일한 주파수의 파장 변화가 발생한다. 이런 레이저 빔의 파장 역시 변조 주파수의 흡수 변화가 발생하며, 이를 신호 수집 및 분석부(50)에 포함된 록 인 앰플리파이어(Lock-in Amplifier)를 통해 신호 수집 및 분석부(50)에서 변조 주파수를 검파하면, 파장에 따른 흡수 광량의 1차 도함수 형태가 추출될 수 있다. 이와 같은 방법을 적용하면, 신호대 잡음비를 크게 높일 수 있어 흡수 광량의 계측 정밀도를 증대할 수 있다.The signal generator 40 applies an electrical signal of a constant frequency to the diode lasers 1, 2, ..., n and the signal collection and analysis unit 50 to modulate the gas concentration and temperature measurement accuracy. . Through such modulation, the wavelength of the laser beam oscillated by the diode lasers (1, 2, ..., n) also occurs at the same frequency as the modulation frequency. The wavelength of the laser beam is also changed in absorption of the modulation frequency, and the signal acquisition and analysis unit 50 modulates the modulation frequency through a lock-in amplifier included in the signal collection and analysis unit 50. Upon detection, the first derivative form of the amount of absorbed light depending on the wavelength can be extracted. By applying such a method, the signal-to-noise ratio can be greatly increased, and the measurement accuracy of the amount of absorbed light can be increased.

또한, 여러 개의 대상 가스를 하나의 수광부(20)를 통해 동시에 계측하기 위해서는 각각의 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 발진되는 레이저 빔이 구분되어야 한다. 이러한 레이저 빔의 구분을 위하여, 상기된 바와 같이 신호 발생부(40)에 의하여 서로 다른 형태의 고유 전기적 신호(Ramp Signal)가 제어부(30)를 통하여 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 발진하는 레이저 빔에 가해지고, 매질을 통과한 레이저 빔이 수광부(20)에서 수광되어 변환된 전기 신호가 신호 수집 및 분석부(50)에서 추출 분리됨으로써, 여러 개의 대상 가스가 하나의 수광부(20)에 의해 계측될 수 있다. 이러한 고유 전기 신호 역시 신호 발생부(40)에서 발생된다.In addition, in order to simultaneously measure several target gases through one light receiving unit 20, laser beams oscillated by the respective diode lasers 1, 2,. In order to distinguish the laser beams, as described above, intrinsic electrical signals (Ramp Signals) of different types are transmitted by the signal generator 40 to the diode lasers 1, 2,..., N. ), The laser beam passing through the medium, and the laser beam passing through the medium are received by the light receiving unit 20, and the converted electrical signal is extracted and separated from the signal collection and analysis unit 50, whereby a plurality of target gases are included in one light receiving unit. Can be measured by 20. This unique electrical signal is also generated by the signal generator 40.

그리고 신호 수집 및 분석부(50)는 전술한 바와 같이 여러 개의 다이오드 레이저(1,2,...,n)에서 발진되는 레이저 빔을 구분하기 위한 고유 전기 신호를 검출하여 분석 추출하는 기능과 신호대 잡음비의 증대를 위해 적용된 변조 주파수를 검파하여 흡수 광량을 분석하는 기능을 가진다. As described above, the signal collection and analysis unit 50 detects and analyzes and extracts a unique electric signal for distinguishing the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers (1, 2, ..., n). It has the function of analyzing the absorbed light amount by detecting the applied modulation frequency to increase the noise ratio.

신호 수집 및 분석부(50)는 매질의 농도를 분석하는 농도 분석부(51), 매질 가스의 온도를 분석하는 온도 분석부(52), 매질 가스의 분자 이동 속도를 분석하는 속도 분석부(53), 및 매질 가스의 질량 유량을 분석하는 질량유량분석부(54)를 포함하게 된다.The signal collection and analysis unit 50 includes a concentration analyzer 51 for analyzing the concentration of the medium, a temperature analyzer 52 for analyzing the temperature of the medium gas, and a speed analyzer 53 for analyzing the molecular movement speed of the medium gas. And a mass flow rate analyzer 54 for analyzing the mass flow rate of the medium gas.

농도 분석부(51)는 다음과 같은 원리를 통해 매질 가스의 농도를 분석한다. 즉, 가스는 구성 분자의 양자역학적 특성에 따라 매질을 통과하는 레이저 빔의 빛을 흡수한다. 도 4는 매질 중의 이산화탄소 가스의 파장별 흡수 강도를 나타내고 있으며, 도 4로부터 알 수 있는 바와 같이, 이산화탄소 가스의 거의 전체 파장에 걸쳐 흡수가 진행된다. 그러나, 이산화탄소 가스의 특정 파장 부근에서는 다른 파장보다 큰 흡수 강도를 나타낸다. 이는 가스의 양자역학적 특성에 따라 모두 다르다. 이처럼 가스는 고유의 광학 흡수 파장대를 가지고 있는 것을 근거로 하여 레이저 빔이 가스를 통과할 때 통과 전후의 광 강도를 비교하여 광흡수량을 측정하고, 중앙 연산 장치(60)는 이를 통해 분자 수밀도를 계산함으로써, 매질의 가스의 농도가 측정되는 것이다.The concentration analyzer 51 analyzes the concentration of the medium gas through the following principle. That is, the gas absorbs the light of the laser beam passing through the medium, depending on the quantum mechanical properties of the constituent molecules. FIG. 4 shows the absorption intensity of each carbon dioxide gas in the medium, and as can be seen from FIG. 4, the absorption proceeds over almost the entire wavelength of the carbon dioxide gas. However, in the vicinity of a specific wavelength of carbon dioxide gas, the absorption intensity is greater than that of other wavelengths. This all depends on the quantum mechanical properties of the gas. In this way, the gas has a unique optical absorption wavelength band, and when the laser beam passes through the gas, the light absorption amount is measured by comparing the light intensity before and after the passage, and the central computing device 60 calculates the molecular number density through the gas. As a result, the concentration of the gas in the medium is measured.

온도 분석부(52)는 레이저 빔이 매질을 통과할 때 매질의 전후에서의 레이저 빔의 온도변화를 감지하여 온도 변화를 측정하게 된다.When the laser beam passes through the medium, the temperature analyzer 52 detects a temperature change of the laser beam before and after the medium and measures the temperature change.

속도 분석부(53)는 레이저 빔이 분자로 된 가스를 통과할 때 산란되는 것을 검출하여 속도를 측정하게 된다. 일반적으로 분자에 의해 산란된 레이저 빔의 파장은 조사한 파장과 동일한 파장의 레이저 빔이 산란되지만 이동하는 분자의 경우,

Figure 112003001107613-pat00001
과 같은 식을 기초로 한 도플러 효과에 의해 분자의 이동 속도에 따라 파장이 변하게 된다. 이를 이용하여 분자의 이동 속도를 계측할 수 있으며 분자의 속도와 동일하다고 가정할 수 있으므로 이를 통하여 유체의 속도를 계측하는 것이다.The speed analyzer 53 measures the speed by detecting scattering when the laser beam passes through the molecular gas. In general, the wavelength of the laser beam scattered by the molecule is scattered by the laser beam of the same wavelength as the irradiated wavelength, but for moving molecules,
Figure 112003001107613-pat00001
The wavelength is changed according to the moving speed of the molecule by the Doppler effect based on the equation. By using this, it is possible to measure the moving speed of the molecule and can be assumed to be the same as the speed of the molecule, thereby measuring the speed of the fluid.

질량유량 분석부(54)는 유체의 질량은 유체의 속도, 밀도 그리고 유체가 통과하는 검사면적의 곱으로 정의되므로 위에서 언급한 바와 같이 유체의 속도와 분자 수밀도를 계측하면 유체의 질량 유량을 구할 수 있다.The mass flow rate analyzer 54 is defined as the product of the fluid mass, the density, and the inspection area through which the fluid passes. Therefore, as mentioned above, the mass flow rate of the fluid can be obtained by measuring the fluid velocity and the molecular number density. have.

이상과 같이 구성된 계측시스템을 이용하여 가스의 질량 유량, 프로판-공기 화염의 당량비 변화에 따른 배가스 중 일산화탄소(CO) 몰분율의 측정, 이산화탄소(CO2)의 레이저 빔 흡수율, 수소-공기 화염에 대한 온도 측정을 실시하였다.Measurement of the mole fraction of carbon monoxide (CO) in flue gas according to the mass flow rate of gas, the equivalent ratio of propane-air flame, the absorption rate of laser beam of carbon dioxide (CO 2 ), and the temperature for hydrogen-air flame The measurement was performed.

도 2에서는 가스의 질량 유량을 측정한 그래프인데, 본 발명에 따른 다이오드 레이저(1,2,...,n)를 이용한 계측시스템을 사용해 측정한 질량 유량과 LDV(Laser Doppler Velocimeter)를 통해 측정한 질량 유량을 비교한 것이다.In Figure 2 is a graph measuring the mass flow rate of the gas, the mass flow rate and LDV (Laser Doppler Velocimeter) measured using a measurement system using a diode laser (1, 2, ..., n) according to the present invention One mass flow rate is compared.

도 3에서는 프로판-공기를 혼합하여 화염을 형성한 경우 당량비 변화에 따른 배가스 중의 일산화탄소 몰분율을 측정한 결과이다. 실측치와 해석치를 비교했을 때 매우 유사한 결과를 나타냄을 알 수 있다.3 is a result of measuring the mole fraction of carbon monoxide in the exhaust gas according to the equivalent ratio change when the flame is formed by mixing propane-air. It can be seen that comparing the measured and interpreted values shows very similar results.

도 4에서는 이산화탄소의 농도별 레이저 빔 흡수율을 나타내고 있는 데, 직선은 해석치이고, 네모박스가 실측치이다. 이 그래프에서도 실측치가 해석치인 직 선에서 크게 벗어나지 않음을 알 수 있다.In FIG. 4, the laser beam absorption rate according to the concentration of carbon dioxide is shown. The straight line is an analytical value and the square box is an actual value. From this graph, it can be seen that the measured value does not deviate significantly from the straight line, which is the analyzed value.

그리고 도 5에서는 수소-공기 화염에 대한 온도를 측정하여 그래프에 나타내고 있고 있다. 그래프에서 실선은 열전대를 측정하여 나타낸 것이고, 점선은 평형상태를 나타낸 것이며, 점은 측정온도을 나타낸다. 이 그래프에서 실제온도인 열전대로 측정한 온도와 다이오드레이저로 측정한 온도가 상당히 근접됨을 알 수 있으며, 본 다이오드레이저 계측장치로 화염의 온도를 정밀하게 측정이 가능하다.In FIG. 5, the temperature of the hydrogen-air flame is measured and shown in a graph. The solid line in the graph shows the measured thermocouple, the dotted line shows the equilibrium state, and the dot shows the measured temperature. From this graph, it can be seen that the temperature measured by the thermocouple, which is the actual temperature, is very close to the temperature measured by the diode laser, and the temperature of the flame can be accurately measured by the diode laser measuring device.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 의하면, 유체나 화염을 향해 레이저 빔을 조사하고 수광부에서 얻은 검출 데이터를 이용하여 원하는 정보를 얻게 됨으로써, 레이저 빔이 유체나 화염을 통과하면서 어떠한 영향도 미치지 않기 때문에 정확한 계측이 가능해진다.As described above, according to the present invention, by irradiating the laser beam toward the fluid or flame and obtaining the desired information by using the detection data obtained from the light receiving unit, since the laser beam does not have any influence while passing through the fluid or flame, Measurement becomes possible.

Claims (4)

각각 특정 파장의 빔을 발진하는 다수개의 다이오드 레이저를 포함하는 발진부;An oscillator including a plurality of diode lasers each oscillating a beam having a specific wavelength; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부;A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여, 상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하는 수집 및 분석부;A collecting and analyzing unit collecting and analyzing and extracting an electrical signal emitted from the light receiving unit to distinguish the laser beams oscillated by the plurality of diode lasers; 발진되는 레이저 빔의 파장을 제어하도록 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 조정하는 제어부;A controller for adjusting the temperature of the diode laser and the current scanned by the diode laser to control the wavelength of the oscillated laser beam; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 다이오드 레이저들과 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및A laser beam passing through a medium is applied to the diode lasers and the collection and analysis unit by being connected to the collection and analysis unit and the control unit, and to distinguish the laser beams of the collection and analysis unit. A signal generator for modulating a wavelength; And 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어, 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치를 포함하는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템.A measurement system using a diode laser connected to the signal generation unit and the control unit and including a central processing unit to control data processing and the signal generation unit. 특정 파장의 빔을 형성하는 다수개의 다이오드 레이저들을 포함하는 발진부;An oscillator including a plurality of diode lasers forming a beam of a specific wavelength; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부;A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여,상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하고, 신호대 잡음비의 증대를 위해 적용된 변조 주파수를 검파하는 수집 및 분석부;In order to distinguish the laser beams oscillated from the plurality of diode laser, the collection and analysis unit for collecting and analyzing the electrical signal from the light-receiving unit, and detects the modulation frequency applied to increase the signal-to-noise ratio; 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 각각 조정하는 온도 조절기 및 주사 전류 조절기를 구비하는 제어부;A control unit including a temperature controller and a scan current controller for adjusting the temperature of the diode laser and the current scanned by the diode laser, respectively; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 제어부를 통한 다이오드 레이저 및 상기 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및It is connected to the collection and analysis unit and the control unit, in order to distinguish the laser beam of the collection and analysis unit, a different type of unique electrical signal is applied to the diode laser and the collection and analysis unit through the control unit, and passes through the medium A signal generator for modulating a wavelength of the laser beam; And 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치를 포함하는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템.Measurement system using a diode laser connected to the signal generator and the control unit including a central processing unit for controlling the data processing and the signal generator. 특정 파장의 빔을 형성하는 다수개의 다이오드 레이저들을 포함하는 발진부;An oscillator including a plurality of diode lasers forming a beam of a specific wavelength; 상기 다수개의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔들이 매질을 통과할 때 매질에 의해 흡수된 광량을 측정하기 위하여 레이저 빔을 수광하여 전기 신호로 변환시키는 수광부;A light receiving unit which receives a laser beam and converts the laser beam into an electrical signal to measure an amount of light absorbed by the medium when the laser beams oscillated from the plurality of diode lasers pass through the medium; 상기 다수의 다이오드 레이저에서 발진된 레이저 빔을 구분하기 위하여,상기 수광부에서 나오는 전기 신호를 수집하여 분석 추출하고, 신호대 잡음비의 증대를 위해 적용된 변조 주파수를 검파하는 수집 및 분석부;In order to distinguish the laser beams oscillated from the plurality of diode laser, the collection and analysis unit for collecting and analyzing the electrical signal from the light-receiving unit, and detects the modulation frequency applied to increase the signal-to-noise ratio; 레이저 빔의 파장을 제어하도록 상기 다이오드 레이저의 온도와 상기 다이오드 레이저에 주사되는 전류를 조정하는 제어부;A controller for adjusting a temperature of the diode laser and a current scanned by the diode laser to control a wavelength of a laser beam; 상기 수집 및 분석부와 제어부에 연결되고, 상기 수집 및 분석부의 레이저 빔을 구분을 위해, 서로 다른 형태의 고유 전기 신호를 상기 제어부를 통한 다이오드 레이저 및 상기 수집 및 분석부에 가하여, 매질을 통과하는 레이저 빔의 파장을 변조시키는 신호 발생부; 및It is connected to the collection and analysis unit and the control unit, in order to distinguish the laser beam of the collection and analysis unit, a different type of unique electrical signal is applied to the diode laser and the collection and analysis unit through the control unit, and passes through the medium A signal generator for modulating a wavelength of the laser beam; And 상기 신호 발생부와 제어부에 연결되어 데이터 처리 및 상기 신호 발생부를 제어하는 중앙연산장치로 구성되고,A central computing device connected to the signal generator and a controller to control data processing and the signal generator; 상기 다수개의 다이오드 레이저는 광섬유를 통해 광분배기로 연결되고, 광분배기는 광섬유를 통해 평행광 렌즈에 연결되며, 상기 평행광 렌즈에서는 직진성을 가진 레이저 빔이 주사되어 매질을 통과하고, 상기 매질을 통과한 레이저 빔을 집광렌즈를 통해 상기 수광부에 흡수하는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템.The plurality of diode lasers are connected to an optical splitter through an optical fiber, and the optical splitter is connected to a parallel light lens through an optical fiber, in which the laser beam having a straightness is scanned and passes through the medium, and passes through the medium. A measurement system using a diode laser that absorbs a laser beam through the light collecting lens. 제 1 항 내지 제 3 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 수집 및 분석부는 가스의 농도, 온도의 변화, 가스의 속도 및 질량 유량을 측정하는 다이오드 레이저를 이용한 계측시스템.The measurement system according to any one of claims 1 to 3, wherein the collecting and analyzing unit measures a concentration of a gas, a change in temperature, a velocity of a gas, and a mass flow rate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100662084B1 (en) * 2005-11-17 2006-12-28 한국원자력연구소 Photo detection circuit and method for acquiring enhanced snr of measuring signal in laser-based ultrasonic inspection system
KR102029875B1 (en) 2017-08-30 2019-10-08 한국생산기술연구원 Alignment System for TDLAS of Simultaneous Measurement of Multicomponent Gas
KR102056794B1 (en) 2017-10-31 2019-12-18 한국생산기술연구원 Alignment System for TDLAS of Simultaneous Measurement of Multicomponent Gas using Micro Optical Passage
KR102056920B1 (en) 2017-10-31 2020-01-22 한국생산기술연구원 Diffraction Alignment System for TDLAS of Simultaneous Measurement of Multicomponent Gas
KR101992335B1 (en) 2017-08-30 2019-06-26 한국생산기술연구원 Precision Measurement System for Precursor Materials of Fine Particle
KR102056799B1 (en) 2017-10-31 2019-12-18 한국생산기술연구원 Automatic Alignment System for TDLAS of Simultaneous Measurement of Multicomponent Gas
KR102024097B1 (en) 2017-10-31 2019-09-23 한국생산기술연구원 Outdoor multi-pass cell for TDLAS with temperature control unit
KR102024101B1 (en) 2017-10-31 2019-09-23 한국생산기술연구원 Precision Measurement System with Prism Reflector for Precursor Materials of Fine Particle
WO2019088479A1 (en) * 2017-10-31 2019-05-09 한국생산기술연구원 Outdoor tdlas multipath cell
KR20210059375A (en) 2019-11-15 2021-05-25 한국생산기술연구원 Detection apparatus for leak gas from reservoir tank
KR102226368B1 (en) 2019-11-18 2021-03-11 한국생산기술연구원 TDLAS gas detection apparatus comprising sonic standing wave

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010027162A2 (en) * 2008-09-08 2010-03-11 김동천 Dmx-optical splitter
WO2010027162A3 (en) * 2008-09-08 2010-06-10 김동천 Dmx-optical splitter

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