KR100525021B1 - 다양한 엘시디 모듈에 대응하여 검사 가능한 엘시디 검사장치 - Google Patents

다양한 엘시디 모듈에 대응하여 검사 가능한 엘시디 검사장치 Download PDF

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Abstract

다양한 LCD 모듈에 대응하여 검사 가능한 LCD 검사 장치가 개시된다. 본 발명은 인버터에 의해 구동되는 냉음극 형광 램프로 백라이트되는 LCD 검사 장치에 있어서, 다양한 크기의 LCD들이 장착된 LCD 모듈들의 테스트 조건들을 설정하는 주제어부와, 주제어부로부터 LCD 디스플레이에 관한 테스트 조건들을 송수신하는 통신 신호 변환부와, LCD 모듈을 테스트하기 위하여 해당 LCD 모듈을 선택하는 어드레스부와, 선택된 LCD 모듈에 디스플레이될 패턴 데이터를 저장하고 화면 신호를 발생하는 패턴 발생부와, 선택된 LCD 모듈로 인가될 전류와 전압을 설정하는 전류 전압 제어부와, 화면 신호를 수신하여 LCD 모듈을 구동하는 제1 구동 신호와 제1 구동 전압을 발생하는 LCD 구동 신호 변환부와, 그리고 제1 구동 전압을 수신하여 인버터를 구동하는 제2 구동 전압을 발생하고, LCD 모듈 내 LCD를 구동하는 타이밍 신호들을 발생하는 멀티플렉스부를 포함한다. 따라서, 본 발명에 의하면, 다양한 크기의 LCD 판넬 모델에 따라 인버터와 냉음극 형광 램프를 구동하는 전압이 각각 제공되기 때문에, 여러 종류의 LCD를 서로 다른 조건에서 테스트할 수 있다.

Description

다양한 엘시디 모듈에 대응하여 검사 가능한 엘시디 검사 장치{LCD testing apparatus for various kind of LCD modules}
본 발명은 LCD 검사 장치에 관한 것으로, 특히 다양한 LCD 모듈에 대응하여 검사 가능한 LCD 검사 장치에 관한 것이다.
정보 통신 산업의 발달에 따라 휴대용 정보 처리 기기 및 이동 통신 단말기의 고성능화가 요구된다. 이들 장치들 중 노트북과 같은 중대형 단말기의 모니터는 일반적으로 LCD(Liquid Crystal Display)를 사용하고 있다. LCD 모니터는 다른 디스플레이 장치에 비하여 해상도, 칼라 표시, 화질, 그리고 저전력 소비 면에서 경쟁력을 가지고 있다. LCD의 칼라 및 백라이트 효율을 포함하는 광범위한 광학 연구가 필요하고, 특히 백라이트로 사용되는 냉음극 형광 램프와 인버터에 대한 연구가 요구된다.
냉음극 형광 램프는 백열 전구와는 달리 점등 장치가 필요하지만, 광의 질이 높고 고효율로 경제적이고 취급도 간편하기 때문에, 현재 사용되는 광원의 주류를 이루고 있다. 형광 램프는 정상적으로 애벌런치(avalanche) 모드에 의해서 구동되는 가스 방전 소자이다. 형광 램프를 기동하기 위해서는 정상 동작의 몇배가 되는 전압이 요구되고, 기동 후에는 수십 kHz의 교류(AC) 드라이브를 하면서 평균(RMS) 전류값에 따라 저항 값이 변하는 가변 저항처럼 동작한다. 광 출력은 대체적으로 전류의 평균에 비례하므로, 전류 루프를 사용하여 광 출력을 측정하게 된다.
LCD 백라이트로 사용되는 냉음극 형광 램프는 고휘도, 고효율, 저소비 전력, 장수명, 저발열, 우수한 내구성, 우수한 점등 특성 등 매우 많은 장점들을 지닌다. 냉음극 형광 램프는 수십 kHz대의 주파수와 수백 볼트의 고전압으로 구동되기 때문에, 인버터를 필요로 한다. 냉음극 형광 램프는 관경, 관장, 방전 개시 전압, 관전압, 관전류에 의해 그 휘도와 수명이 결정된다. 이러한 냉음극 형광 램프와 인버터는 각각의 LCD 모델에 전용으로 적용되는 경우가 많다.
그런데, LCD 모델 마다 전용으로 냉음극 형광 램프와 인버터가 필요하면, 각각의 LCD 모듈을 테스트하기 위해 냉음극 형광 램프와 인버터를 포함하는 검사 장치가 필요하게 된다. 이는 LCD 테스트 비용을 증가시키고 테스트 생산성을 낮추는 문제점을 발생시킨다. 그러므로, 다양한 LCD 모듈에 대응하여 테스트 가능한 LCD 검사 장치가 요구된다.
본 발명의 목적은 다양한 LCD 모듈에 대응하여 테스트 가능한 LCD 검사 장치를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일예는 인버터에 의해 구동되는 냉음극 형광 램프로 백라이트되는 LCD 검사 장치에 있어서, 다양한 크기의 LCD들이 장착된 LCD 모듈들의 테스트 조건들을 설정하는 주제어부; 주제어부로부터 LCD 디스플레이에 관한 테스트 조건들을 송수신하는 통신 신호 변환부; LCD 모듈을 테스트하기 위하여 해당 LCD 모듈을 선택하는 어드레스부; 선택된 LCD 모듈에 디스플레이될 패턴 데이터를 저장하고 화면 신호를 발생하는 패턴 발생부; 선택된 LCD 모듈로 인가될 전류와 전압을 설정하는 전류 전압 제어부; 화면 신호를 수신하여 LCD 모듈을 구동하는 제1 구동 신호와 제1 구동 전압을 발생하는 LCD 구동 신호 변환부; 및 제1 구동 전압을 수신하여 인버터를 구동하는 제2 구동 전압을 발생하고, LCD 모듈 내 LCD를 구동하는 타이밍 신호들을 발생하는 멀티플렉스부를 포함한다.
바람직하기로, 제1 구동 신호는 클럭 신호, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 패턴 데이터들, 인에이블 신호들, 패턴 디스플레이 시간 또는 패턴 인터발 시간이다. 통신 신호 변환부는 주제어부와 RS232 통신 프로토콜로 연결되고, 패턴 발생부는 통신 신호 변환부와 RS422 통신 프로토콜로 연결된다. LCD 검사 장치는 통신 신호 변환부와 연결되어 테스트 조건들을 감지 증폭하는 증폭부를 더 포함한다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 다른 예에 의한 LCD 검사 장치는 다양한 크기의 LCD들이 장착된 LCD 모듈들의 테스트 조건들을 설정하는 주제어부; LCD 모듈 별로 소정의 전원을 공급하는 전원 발생부들; 인버터에 의해 구동되는 냉음극 형광 램프로 백라이트되는 LCD를 포함하는 LCD 모듈들; 및 LCD 모듈별로 설정된 상기 테스트 조건에 따라 상기 LCD 모듈들 각각에 대응하여 패턴데이터를 발생시키고, 상기 LCD 모듈들로 인가되는 전압/전류를 설정하고 인버터 구동전압 및 LCD 판넬 구동전압을 발생시켜 상기 패턴데이터를 상기 LCD 판넬에 표시하는 LCD 검사모듈들을 포함한다.
LCD 검사모듈 각각은 상기 주제어부로부터 LCD 디스플레이에 관한 상기 테스트 조건들을 송수신하는 통신 신호 변환부; 통신 신호 변환부와 연결되어 테스트 조건들을 감지 증폭하는 증폭부; LCD 모듈을 테스트하기 위하여 해당 LCD 모듈을 선택하는 어드레스부; 선택된 LCD 모듈에 디스플레이될 패턴 데이터를 저장하고 화면 신호를 발생하는 패턴 발생부; 선택된 LCD 모듈로 인가될 전류와 전압을 설정하는 전류 전압 제어부; 화면 신호를 수신하여 LCD 모듈을 구동하는 제1 구동 신호와 제1 구동 전압을 발생하는 LCD 구동 신호 변환부; 및 제1 구동 전압을 수신하여 인버터를 구동하는 제2 구동 전압을 발생하고, LCD 모듈 내 LCD를 구동하는 타이밍 신호들을 발생하는 멀티플렉스부를 포함한다.
따라서, 본 발명에 의하면, 다양한 크기의 LCD 판넬 모델에 따라 인버터와 냉음극 형광 램프를 구동하는 전압이 각각 제공되기 때문에, 여러 종류의 LCD를 서로 다른 조건에서 테스트할 수 있다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 예시적인 실시예를 설명하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 LCD 검사 장치를 설명하는 도면이다. 이를 참조하면, LCD 검사 장치(100)는 주제어부(110), 전원 발생부들(120, 122, 124), LCD 검사모듈들(130, 132, 134), 그리고 LCD 모듈들(140, 142, 144)을 포함한다.
주제어부(110)는 LCD 검사 장비(100)의 운영 및 관리를 위한 프로그램을 구동하고, LCD 모듈들(140, 142, 144)의 테스트 조건들을 설정한다. 주제어부(110)는 전원 발생부들(120, 122, 124)을 제어하여 LCD 검사모듈들(130, 132, 134)로 공급되는 전원을 조절한다. 전원 발생부들(120, 122, 124)은 LCD 검사모듈들(130, 132, 134)을 구동하는 전원을 공급한다. LCD 검사모듈들(130, 132, 134)과 LCD 모듈들(140, 142, 144)을 대표하여, 도 2에 LCD 검사모듈(130)과 LCD 모듈(140)을 구체적으로 도시하였다.
도 2를 참조하면, LCD 검사모듈(130)은 통신 신호 변환부 및 증폭부(210), 어드레스부(212), 패턴 발생부 및 전압 전류 제어부(214), LCD 구동 신호 변환부(216), 그리고 멀티플렉스부(218)를 포함한다.
통신 신호 변환부 및 증폭부(210)는 주제어부(110)와 연결되어 LCD 디스플레이에 관한 타이밍 값들, 예컨대 클럭, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 패턴 데이터들, 인에이블 신호들, 패턴 디스플레이 시간, 패턴 인터발 시간 등을 송수신한다. 통신 신호 변환부 및 증폭부(210)는 주제어부(110)와 RS232 통신 프로토콜로 연결되고 RS422 통신 프로토콜로 출력한다. RS422 통신 프로토콜은 속도가 RS232 프로토콜에 비하여 속도가 빠른 장점이 있고 원거리 통신에 유리한 이점이 있다. 증폭부(210)에 의하여 수십 m 정도의 원거리 통신이 더욱 안정적이다.
어드레스부(212)는 통신신호변환부(210)와 연결되고 LCD 검사모듈들(130, 132, 134, 도 1)을 어드레싱한다. 어드레스부(212)에 의하여 활성화되는 LCD 검사 모듈(130)로 주제어부(110)에서 설정된 LCD 모듈(140) 테스트 조건들이 셋팅된다.
패턴 발생부 및 전압 전류 제어부(214)는 LCD 판넬(236)에 디스플레이될 패턴 데이터들을 저장하고, LCD 판넬(236) 시험에 사용될 전압과 전류를 설정한다. 패턴 데이터들은 TTL 신호 형식의 화면 신호로 LCD 구동 신호 변환부(216)로 전달된다.
LCD 구동 신호 변환부(216)는 LCD 모듈(140)에서 요구하는 신호들, 즉 클럭, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 패턴 데이터들, 인에이블 신호들, 패턴 디스플레이 시간, 패턴 인터발 시간 등의 제1 LCD 구동 신호들로 변환시킨다. 제1 LCD 구동 신호들은 전기적인 신호로써 LCD 소오스 PCB(230)로 제공된다. LCD 구동 신호 변환부(216)는 전압 전류 제어부(214)에서 설정된 LCD 판넬 시험용 전압 전류에 따라 전원 발생부(120)로부터 제1 CCFL 구동 전압을 발생시킨다.
멀티플렉스부(218)는 제1 CCFL 구동 전압과 제2 LCD 구동신호를 입력받아 제2 CCFL 구동 전압과 제3 LCD 구동 신호를 발생시킨다. 제2 CCFL 구동 전압은 멀티플렉스부(218)에 포함된 전압 레귤레이션 기능에 의해 제 1 CCFL 구동전압으로 부터 레귤레이트(regulate)된 전압으로 인버터(232)로 입력되어 인버터(232)를 구동한다. 인버터(232)에 의하여 냉음극 형광 램프(234)가 구동된다. 제3 LCD 구동 신호는 검사 패턴 신호로써, LCD 판넬(236)로 입력되어 제2 LCD 구동 신호를 LCD 구동 타이밍에 맞도록 할 뿐 아니라, 제2 LCD구동신호들의 신호레벨을 원하는 대로 쉬프트(shift)한 후 LCD 판넬(236)을 구동한다.
전술한 본 발명에 의하면, 각 LCD 검사모듈(130, 132, 134, 도 1)에 내장된 어드레스부(212)에 의하여 해당 LCD 검사모듈(130, 132, 134)가 선택된다. 선택된 LCD 검사모듈(130, 132, 134)에는 LCD 모듈(140)에 장착되는 LCD 판넬(236)의 모델에 따라 인버터와 냉음극 형광 램프를 구동하는 전압이 각각 서로 다르게 저장될 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 LCD 검사 장치는 다양한 LCD 판넬 모델을 서로 다른 조건에서 테스트할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
상술한 본 발명의 LCD 검사 장치에 의하면, 다양한 크기의 LCD 판넬 모델에 따라 인버터와 냉음극 형광 램프를 구동하는 전압이 각각 제공되고 또한 제어되기 때문에, 여러 종류의 LCD를 서로 다른 조건에서 테스트할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 LCD 검사 장치를 설명하는 도면이다.
도 2는 도 1의 LCD 검사모듈과 LCD 모듈을 설명하는 도면이다.

Claims (10)

  1. 인버터에 의해 구동되는 냉음극 형광 램프로 백라이트되는 LCD 검사 장치에 있어서,
    다양한 크기의 LCD들이 장착된 LCD 모듈들의 테스트 조건들을 설정하는 주제어부;
    상기 주제어부로부터 LCD 디스플레이에 관한 상기 테스트 조건들을 송수신하는 통신 신호 변환부;
    상기 LCD 모듈을 테스트하기 위하여 해당 LCD 모듈을 선택하는 어드레스부;
    상기 선택된 LCD 모듈에 디스플레이될 패턴 데이터를 저장하고 화면 신호를 발생하는 패턴 발생부;
    상기 선택된 LCD 모듈로 인가될 전류와 전압을 설정하는 전압 전류 제어부;
    상기 화면 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈을 구동하는 제1 구동 신호와 제1 구동 전압을 발생하는 LCD 구동신호 변환부; 및
    상기 제1 구동 전압을 수신하여 상기 인버터를 구동하는 제2 구동 전압을 발생하고, 상기 LCD 모듈 내 상기 LCD를 구동하는 타이밍 신호들을 발생하는 멀티플렉스부를 구비하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 구동 신호는
    클럭 신호, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 패턴 데이터들, 인에이블 신호들, 패턴 디스플레이 시간 또는 패턴 인터발 시간인 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 통신 신호 변환부는
    상기 주제어부와 RS232 통신 프로토콜로 연결되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 패턴 발생부는
    상기 통신 신호 변환부와 RS422 통신 프로토콜로 연결되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 LCD 검사 장치는
    상기 통신 신호 변환부와 연결되어 상기 테스트 조건들을 감지 증폭하는 증폭부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  6. 다양한 크기의 LCD들이 장착된 LCD 모듈들의 테스트 조건들을 설정하는 주제어부;
    상기 LCD 모듈 별로 소정의 전원을 공급하는 전원 발생부들;
    인버터에 의해 구동되는 냉음극 형광 램프로 백라이트되는 상기 LCD를 포함하는 상기 LCD 모듈들; 및
    상기 LCD 모듈 별로 설정된 상기 테스트 조건에 따라 상기 LCD 모듈들을 각각 테스트하는 LCD 검사모듈들을 구비하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  7. 제6항에 있어서, 상기 LCD 검사모듈는
    상기 주제어부로부터 LCD 디스플레이에 관한 상기 테스트 조건들을 송수신하는 통신 신호 변환부;
    상기 통신 신호 변환부와 연결되어 상기 테스트 조건들을 감지 증폭하는 증폭부;
    상기 LCD 모듈을 테스트하기 위하여 해당 LCD 모듈을 선택하는 어드레스부;
    상기 선택된 LCD 모듈에 디스플레이될 패턴 데이터를 저장하고 화면 신호를 발생하는 패턴 발생부;
    상기 선택된 LCD 모듈로 인가될 전류와 전압을 설정하는 전류 전압 제어부;
    상기 화면 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈을 구동하는 제1 구동 신호와 제1 구동 전압을 발생하는 LCD 구동 신호 변환부; 및
    상기 제1 구동 전압을 수신하여 상기 인버터를 구동하는 제2 구동 전압을 발생하고, 상기 LCD 모듈 내 상기 LCD를 구동하는 타이밍 신호들을 발생하는 멀티플렉스부를 구비하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  8. 제6항에 있어서, 상기 제1 구동 신호는
    클럭 신호, 수평 동기 신호, 수직 동기 신호, 패턴 데이터들, 인에이블 신호들, 패턴 디스플레이 시간 또는 패턴 인터발 시간인 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  9. 제6항에 있어서, 상기 통신 신호 변환부는
    상기 주제어부와 RS232 통신 프로토콜로 연결되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
  10. 제6항에 있어서, 상기 패턴 발생부는
    상기 통신 신호 변환부와 RS422 통신 프로토콜로 연결되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사 장치.
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