KR100524904B1 - Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM - Google Patents

Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM Download PDF

Info

Publication number
KR100524904B1
KR100524904B1 KR10-1998-0027658A KR19980027658A KR100524904B1 KR 100524904 B1 KR100524904 B1 KR 100524904B1 KR 19980027658 A KR19980027658 A KR 19980027658A KR 100524904 B1 KR100524904 B1 KR 100524904B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
ram
scan
data
read
address
Prior art date
Application number
KR10-1998-0027658A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20000008015A (en
Inventor
정찬영
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR10-1998-0027658A priority Critical patent/KR100524904B1/en
Publication of KR20000008015A publication Critical patent/KR20000008015A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100524904B1 publication Critical patent/KR100524904B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/04Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of a single character by selection from a plurality of characters, or by composing the character by combination of individual elements, e.g. segments using a combination of such display devices for composing words, rows or the like, in a frame with fixed character positions
    • G09G3/16Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of a single character by selection from a plurality of characters, or by composing the character by combination of individual elements, e.g. segments using a combination of such display devices for composing words, rows or the like, in a frame with fixed character positions by control of light from an independent source
    • G09G3/18Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of a single character by selection from a plurality of characters, or by composing the character by combination of individual elements, e.g. segments using a combination of such display devices for composing words, rows or the like, in a frame with fixed character positions by control of light from an independent source using liquid crystals
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264Details of driving circuits
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G5/00Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators
    • G09G5/36Control arrangements or circuits for visual indicators common to cathode-ray tube indicators and other visual indicators characterised by the display of a graphic pattern, e.g. using an all-points-addressable [APA] memory
    • G09G5/363Graphics controllers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

그래픽 램 및 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버가 개시된다. 본 발명에 따른 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버는, 외부의 마이크로프로세서와 인터페이스하여 소정 어드레스에 상응하는 램 데이타를 기입/독출하고, 외부의 액정 표시 장치 패널을 구동시키기 위해 램 데이타를 스캔 독출하는 그래픽 램에 있어서, 마이크로프로세서에서 워드 라인을 통하여 인가된 어드레스에 상응하는 소정의 램 데이타를 비트 라인 및 상보 비트 라인을 통하여 각각 기입/독출하고, 소정 스캔 어드레스에 상응하여 기입된 램 데이타를 스캔 데이타로서 출력하는 복수 개의 램 셀들 및 램 셀들의 각 워드라인에 연결된 복수 개의 트랜지스터들을 구비하고, 소정 프리차아지 제어 신호에 응답하여 스캔 데이타 출력 단자를 프리차아지시키거나, 스캔 데이타를 출력하는 프리차아지 제어 수단을 구비하는 것을 특징으로하고, 각 램 셀에서 2개의 트랜지스터를 줄임으로써 전체 그래픽 램의 사이즈와 그래픽 램을 내장하는 LCD드라이버의 사이즈를 줄일 수 있을 뿐만 아니라, 스캔 어드레스를 선택하기 위한 인에이블 신호(EN)만을 이용하기 때문에 셀 어레이를 위한 메탈 라인의 라우팅(ROUTING)면적을 줄일 수 있는 효과가 있다. Disclosed are a graphic RAM and a liquid crystal display device driver incorporating the graphic RAM. The liquid crystal display driver incorporating the graphics RAM according to the present invention interfaces with an external microprocessor to write / read RAM data corresponding to a predetermined address, and scan the RAM data to drive an external liquid crystal display panel. In the graphics RAM to be issued, predetermined RAM data corresponding to an address applied by a microprocessor through a word line is written / read through the bit line and the complementary bit line, respectively, and the RAM data written corresponding to the predetermined scan address is written. A plurality of RAM cells output as scan data and a plurality of transistors connected to respective word lines of the RAM cells, and precharging the scan data output terminal in response to a predetermined precharge control signal, or outputting scan data; Characterized in that it comprises a precharge control means. By reducing two transistors in each RAM cell, the size of the entire graphic RAM and the LCD driver incorporating the graphics RAM can be reduced, and only the enable signal (EN) for selecting a scan address is used. This has the effect of reducing the routing area of the metal lines for the array.

Description

그래픽 램 및 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버{Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM} Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM

본 발명은 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버에 관한 것으로서, 특히, 그래픽 램의 셀 사이즈를 줄임으로써 전체 칩 사이즈를 줄인 그래픽 램 및 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display driver incorporating a graphics RAM, and more particularly, to a graphic RAM and a liquid crystal display driver incorporating a graphics RAM, which reduces the overall chip size by reducing the cell size of the graphics RAM.

일반적으로 그래픽 액정 표시 장치(Liquid Crystal Device:LCD)용 램을 내장한 LCD드라이버 집적 회로(Integrated Circuit:IC)는 외부의 LCD패널과 일대일 대응되는 동일한 사이즈의 그래픽 램(Graphic Random Access Memory :GRAM) 을 내부에 구비한다. 즉, 그래픽 램을 내장한 LCD드라이버는 외부의 LCD패널을 구동하기 위해 커먼 신호(COM)와 세그먼트 신호(SEG)를 발생시키며, 커먼 신호(COM)는 각 칼럼 라인을 구동하고, 세그먼트 신호(SEG)는 각 로우 라인(즉, 워드라인)을 구동한다. In general, an LCD driver integrated circuit (IC) incorporating a RAM for a liquid crystal device (LCD) is a graphic random access memory (GRAM) having the same size as one-to-one correspondence with an external LCD panel. It is provided inside. That is, an LCD driver with a graphics RAM generates a common signal COM and a segment signal SEG to drive an external LCD panel, and the common signal COM drives each column line, and the segment signal SEG. ) Drives each row line (ie, word line).

또한, LCD드라이버는 일반적으로 마이크로프로세서(MICROPROCESSOR UNIT: MPU)와의 데이타 기입/독출을 인터페이스하기 위한 기입/독출 인터페이스 블럭과, 스캔 독출 시의 타이밍을 제어하기 위해 스캔 어드레스(EN/ENB), COM쉬프트 클럭 신호 및 SEG래치 클럭 신호를 발생시키는 스캔 독출 타이밍 제어부를 포함한다. 또한, 그래픽 램으로부터 출력된 스캔 데이타를 입력 하고, COM쉬프트 클럭 신호에 응답하여 커먼 신호(COM)를 쉬프트시켜 LCD패널의 커먼 라인을 선택하며, SEG래치 클럭 신호에 응답하여 래치된 스캔 데이타 출력을 세그먼트 신호(SEG)로서 출력하는 COM/SEG신호 구동부를 더 포함한다. In addition, the LCD driver generally includes a write / read interface block for interfacing data write / read with a microprocessor (MICROPROCESSOR UNIT: MPU), and scan address (EN / ENB) and COM shift to control timing of scan read. And a scan read timing controller for generating a clock signal and a SEG latch clock signal. In addition, scan data outputted from the graphics RAM is input, the common signal COM is shifted in response to the COM shift clock signal to select the common line of the LCD panel, and the latched scan data output is output in response to the SEG latch clock signal. The apparatus further includes a COM / SEG signal driver for outputting the segment signal SEG.

즉, 외부 LCD패널의 로우 라인(즉, 워드라인)과 칼럼 라인을 구동하기 위한 세그먼트 신호(SEG)와 커먼 신호(COM)를 생성하기 위해, LCD드라이버 내부의 그래픽 램은 각 커먼 라인에 상응하는 그래픽 램의 데이타를 주기적으로 스캔 독출하여 세그먼트 신호(SEG)를 발생시킨다. That is, in order to generate the segment signal SEG and the common signal COM for driving the row lines (ie, word lines) and column lines of the external LCD panel, the graphics RAM inside the LCD driver corresponds to each common line. The SRAM is generated by periodically scanning and reading the data of the graphics RAM.

도 1은 종래의 그래픽 램의 램 셀 구조를 설명하기 위한 회로도로서, 기본 구조를 갖는 독출/기입 제어부(10)와 스캔 독출 제어부(15)를 포함한다. 여기에서, 독출/기입 제어부(10)는 워드 라인(WD)과 연결된 게이트와, 각 비트 라인/상보 비트 라인(BIT/BITB)과 연결된 드레인을 갖는 NMOS트랜지스터들(MN11,MN12) 및 NMOS트랜지스터들(MN11, MN12)의 소스 사이에 입출력이 맞물린 인버터들(I11, I12)을 포함한다. 여기에서, 스캔 독출 제어부(15)는 제2스토리지 노드(N2)와 연결된 게이트를 갖는 PMOS트랜지스터(MP13)와 NMOS트랜지스터(MN14), 상보 스캔 어드레스(ENB)와 연결된 게이트를 갖는 PMOS트랜지스터(MP14), 스캔 어드레스(EN)와 연결된 게이트를 갖는 NMOS트랜지스터(MN13)로 구성된 3상태 인버터이다. 1 is a circuit diagram illustrating a RAM cell structure of a conventional graphic RAM, and includes a read / write control unit 10 and a scan read control unit 15 having a basic structure. Here, the read / write control unit 10 has NMOS transistors MN11 and MN12 having a gate connected to the word line WD and a drain connected to each bit line / complementary bit line BIT / BITB. And inverters I11 and I12 having an input / output engaged between the sources of MN11 and MN12. Here, the scan read control unit 15 may include a PMOS transistor MP13 having a gate connected to the second storage node N2, a NMOS transistor MN14, and a PMOS transistor MP14 having a gate connected to the complementary scan address ENB. And a NMOS transistor MN13 having a gate connected to the scan address EN.

도 1을 참조하면, 6개의 트랜지스터들로 이루어진 기본 셀 구조의 기입/독출 제어부(10)는 워드 라인(WD)을 통하여 인가되는 어드레스에 상응하여 비트 라인(BIT) 또는 상보 비트 라인(BITB)을 통하여 MPU로부터 소정의 램 데이타를 저장하거나, 저장된 램 데이타를 마이크로프로세서로 출력한다. 또한, 스캔 독출 제어부(15)는 기입/독출 제어부(10)에 저장된 램 데이타를 입력으로하고, 스캔 어드레스/상보 스캔 어드레스(EN/ENB)에 상응하여 기입/독출 제어부(10)에 저장된 램 데이타를 스캔 데이타 출력 단자 DOUT를 통하여 출력함으로써 스캔 독출 동작을 수행한다. Referring to FIG. 1, the write / read control unit 10 of the basic cell structure including six transistors corresponds to a bit line BIT or a complementary bit line BITB corresponding to an address applied through a word line WD. It stores predetermined RAM data from the MPU or outputs the stored RAM data to the microprocessor. In addition, the scan read control unit 15 receives RAM data stored in the write / read control unit 10, and the RAM data stored in the write / read control unit 10 corresponding to the scan address / complementary scan address EN / ENB. The scan read operation is performed by outputting the data through the scan data output terminal DOUT.

예를 들어, 스캔 어드레스(EN)가 하이 레벨로 인에이블되면 제2스토리지 노드(N2)에 저장된 램 데이타가 하이 레벨일 때, 스캔 데이타 출력(DOUT)으로 로우 레벨의 신호가 출력되고, 램 데이타가 로우 레벨이면 스캔 데이타 출력(DOUT)으로 하이 레벨의 신호가 출력된다. For example, when the scan address EN is enabled at the high level, when the RAM data stored in the second storage node N2 is at the high level, a low level signal is output to the scan data output DOUT, and the RAM data is output. Is low level, a high level signal is output to the scan data output DOUT.

즉, 종래의 LCD 드라이버는 독출/기입 제어부(10)의 인버터들(I11, I12)이 각각 2개의 MOS트랜지스터들로 구현된다고 할 때, 독출/기입 제어부(10)를 위한 전체 6개의 트랜지스터들과, 스캔 독출 제어부(15)의 4개의 트랜지스터들을 더하여 10개의 트랜지스터들을 필요로 하게 된다. That is, in the conventional LCD driver, when the inverters I11 and I12 of the read / write control unit 10 are each implemented with two MOS transistors, a total of six transistors for the read / write control unit 10 and In addition, four transistors of the scan read control unit 15 are added to require ten transistors.

도 2(a)~2(h)는 종래의 그래픽 램을 내장한 LCD드라이버의 스캔 독출 동작을 설명하기 위한 파형도들로서, 2(a)는 COM쉬프트 클럭 신호를 나타내고, 2(b)는 m비트의 커먼 신호(COM<1:m>)를 나타내고, 2(c)~2(e)는 m비트 스캔 어드레스/상보 스캔 어드레스(EN/ENB)를 나타내고, 2(f)는 n비트의 스캔 데이타(DOUT<1:n>)를 나타내고, 2(g)는 SEG래치 클럭 신호를 나타내고, 2(h)는 n비트의 세그먼트 신호(SEG<1:n>)를 나타낸다.2 (a) to 2 (h) are waveform diagrams for explaining a scan read operation of a conventional LCD driver incorporating a graphics RAM, where 2 (a) shows a COM shift clock signal and 2 (b) shows m Bit common signals COM <1: m>, 2 (c) to 2 (e) represent m-bit scan addresses / complementary scan addresses (EN / ENB), and 2 (f) are n-bit scans. Data (DOUT <1: n>) is shown, 2 (g) represents the SEG latch clock signal, and 2 (h) represents the n-bit segment signal (SEG <1: n>).

도 2를 참조하면, 도 2(a)에 도시된 COM래치 클럭 신호에 응답하여 2(c)에 도시된 스캔 어드레스(EN/ENB)가 순차적으로 인에이블되어 도 2(b)와 같은 커먼 신호(COM)를 출력한다. 또한, 한 비트의 커먼 라인이 선택될 때마다 도 2(h)에 도시된 n비트의 병렬 세그먼트 신호(SEG<1:n>)가 동시에 출력된다.Referring to FIG. 2, in response to the COM latch clock signal illustrated in FIG. 2A, the scan address EN / ENB illustrated in FIG. 2C is sequentially enabled, and thus the common signal illustrated in FIG. Output (COM) Each time one bit of the common line is selected, the n-bit parallel segment signal SEG <1: n> shown in Fig. 2H is simultaneously output.

즉, 그래픽 램과 일반 램의 가장 큰 차이는 그래픽 램이 LCD패널과 동일한 사이즈이면서 일대일 대응되어 있으므로 한 커먼 라인(COM)이 선택되면 동시에 세그먼트 수 만큼의 데이타를 독출하여 출력해야 한다는 특징이 있다. 그래픽 램은 1바이트씩 데이타를 독출하는 것이 아니라, 선택된 커먼 라인에 해당하는 도 2(c)~2(e)에 도시된 스캔 어드레스/상보 스캔 어드레스(EN/ENB)를 인에이블킴 으로써 램 셀에 저장된 램 데이타를 도 2(f)에 도시된 스캔 데이타(DOUT<1:n>)로 출력한다. 이 때, 선택되지 않은 커먼 라인은 상기 커먼 라인에 해당하는 어드레스(EN/ENB)를 인에이블시킨다.That is, the biggest difference between the graphic RAM and the general RAM is that since the graphic RAM is the same size and one-to-one correspondence with the LCD panel, when one common line COM is selected, the data of the number of segments must be read out and output at the same time. The graphic RAM does not read data by one byte, but by enabling the scan address / complementary scan address (EN / ENB) shown in FIGS. 2 (c) to 2 (e) corresponding to the selected common line. The RAM data stored in the cell is output as scan data DOUT <1: n> shown in FIG. 2 (f). At this time, the unselected common line enables the address EN / ENB corresponding to the common line.

즉, 도 1에 도시된 램 셀 구조를 갖는 그래픽 램은 10개의 트랜지스터를 이용하여 셀이 구현되기 때문에 그래픽 램의 사이즈가 증가되고, 따라서 LCD드라이버 전체의 사이즈를 증가시키게 된다는 문제점이 있다. 상술한 바와 같이, LCD패널 사이즈가 증가하면, 그래픽 램의 사이즈도 같이 증가하게 되는데 매우 큰 LCD패널을 구동시키는 드라이버 IC에서는 그래픽 램의 사이즈가 전체 칩 사이즈의 2/3이상이 되므로 그 사이즈를 줄여주어야 한다. That is, the graphic RAM having the RAM cell structure shown in FIG. 1 has a problem in that the size of the graphic RAM is increased because the cell is implemented using 10 transistors, thereby increasing the size of the entire LCD driver. As described above, as the size of the LCD panel increases, the size of the graphic RAM also increases. In a driver IC that drives a very large LCD panel, the size of the graphic RAM becomes 2/3 or more of the total chip size. Should give.

본 발명이 이루고자하는 기술적 과제는, 프리차아지를 위한 트랜지스터를 램 셀 외부에 구비하고 램 셀을 구성하는 트랜지스터의 수를 줄임으로써 전체 사이즈를 줄인 그래픽 램을 제공하는데 있다.An object of the present invention is to provide a graphic RAM with a reduced overall size by providing a transistor for precharge outside the ram cell and reducing the number of transistors constituting the ram cell.

본 발명이 이루고자하는 다른 기술적 과제는, 상기 그래픽 램을 내장함으로써 LCD드라이버 전체의 칩 사이즈를 줄인 그래픽 램을 내장한 LCD드라이버를 제공하는데 있다. Another object of the present invention is to provide an LCD driver with a graphics RAM in which the chip size of the entire LCD driver is reduced by embedding the graphics RAM.

상기 과제를 이루기위해, 본 발명에 따른 그래픽 램은, 외부의 마이크로프로세서에서와 인터페이스하여 소정 어드레스에 상응하는 램 데이타를 기입/독출하고, 외부의 액정 표시 장치 패널을 구동시키기 위해 램 데이타를 스캔 독출하는 그래픽 램에 있어서, 마이크로프로세서에서 워드 라인을 통하여 인가된 어드레스에 상응하는 소정의 램 데이타를 비트 라인 및 상보 비트 라인을 통하여 각각 기입/독출하고, 소정 스캔 어드레스에 상응하여 기입된 램 데이타를 스캔 데이타로서 출력하는 복수 개의 램 셀들 및 램 셀들의 각 워드라인에 연결된 복수 개의 트랜지스터들을 구비하고, 소정 프리차아지 제어 신호에 응답하여 스캔 데이타 출력 단자를 프리차아지시키거나, 스캔 데이타를 출력하는 프리차아지 제어 수단으로 구성되는 것이 바람직하다. In order to achieve the above object, the graphics RAM according to the present invention interfaces with an external microprocessor to write / read RAM data corresponding to a predetermined address, and scans the RAM data to drive an external liquid crystal display panel. In the graphics RAM to be issued, predetermined RAM data corresponding to an address applied by a microprocessor through a word line is written / read through the bit line and the complementary bit line, respectively, and the RAM data written corresponding to the predetermined scan address is written. A plurality of RAM cells output as scan data and a plurality of transistors connected to respective word lines of the RAM cells, and precharging the scan data output terminal in response to a predetermined precharge control signal, or outputting scan data; It is preferable to comprise a precharge control means.

상기 다른 과제를 이루기 위해, 본 발명에 따른 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버는, 외부의 마이크로프로세서와 인터페이스하여 소정 어드레스에 상응하는 램 데이타를 기입/독출하고, 외부의 액정 표시 장치 패널을 구동시키기 위해 상기 램 데이타를 스캔 독출하여 커먼 구동 신호와 세그먼트 구동 신호를 생성하는 액정 표시 장치 드라이버에 있어서, 마이크로프로세서와 액정 표시 장치 드라이버 사이에서 데이타 기입/독출을 인터페이스하는 기입/독출 인터페이스 수단, 복수 개의 램 셀들과 프리차아지 제어 수단을 구비하고, 기입/독출 인터페이스 수단을 통하여 램 데이타를 기입/독출하며, 소정 스캔 어드레스 및 프리차아지 제어 신호에 응답하여 램 데이타를 액정 표시 장치 패널을 구동하기 위한 병렬의 스캔 데이타로서 출력하는 그래픽 램, 스캔 데이타를 입력하고, 소정 커먼 쉬프트 클럭 신호 및 세그먼트 래치 클럭 신호에 응답하여 커먼 구동 신호 및 세그먼트 구동 신호를 출력하는 커먼/세그먼트 신호 구동 수단 및 시스템 클럭 신호에 응답하여 스캔 어드레스 및 프리차아지 제어 신호를 생성하고, 커먼 쉬프트 클럭 신호 및 세그먼트 래치 클럭 신호를 발생시키는 스캔 독출 타이밍 제어 수단으로 구성되는 것이 바람직하고, 프리차아지 제어 수단은 램 셀들의 각 워드라인에 연결된 복수 개의 트랜지스터들을 구비하고, 트랜지스터들의 각 게이트로 프리차아지 제어 신호가 인가된다. In order to achieve the above object, the liquid crystal display device driver incorporating the graphics RAM according to the present invention interfaces with an external microprocessor to write / read RAM data corresponding to a predetermined address and to drive the external liquid crystal display panel. A liquid crystal display driver which scans and reads the RAM data to generate a common drive signal and a segment drive signal, the write / read interface means for interfacing data write / read between a microprocessor and a liquid crystal display driver. RAM cells and precharge control means, for writing / reading RAM data through the write / read interface means, and driving the RAM data in response to a predetermined scan address and precharge control signal. Output as parallel scan data Scan address and pre-difference in response to the system clock signal and the common / segment signal driving means for inputting the graphics RAM, scan data and outputting the common drive signal and the segment drive signal in response to the predetermined common shift clock signal and the segment latch clock signal Preferably, the control circuit comprises scan read timing control means for generating an azig control signal and generating a common shift clock signal and a segment latch clock signal. The precharge control means includes a plurality of transistors connected to respective word lines of the RAM cells. Then, a precharge control signal is applied to each gate of the transistors.

이하, 본 발명에 따른 그래픽 램 및 그래픽 램을 내장한 LCD 드라이버에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 다음과 같이 설명한다. Hereinafter, a graphic RAM and an LCD driver incorporating the graphic RAM according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명에 따른 그래픽 램을 내장한 LCD드라이버(30)를 설명하기 위한 개략적인 블럭도로서, MPU기입/독출 인터페이스부(32), 그래픽 램(34), 스캔 독출 타이밍 제어부(36) 및 COM/SEG신호 구동부(38)를 포함한다. 설명의 편의를 위해 LCD드라이버(30) 외부에 연결되는 LCD패널(35)을 함께 도시한다. FIG. 3 is a schematic block diagram illustrating an LCD driver 30 incorporating a graphics RAM according to the present invention, and includes an MPU write / read interface 32, a graphics RAM 34, and a scan read timing controller 36. As shown in FIG. And a COM / SEG signal driver 38. For convenience of description, the LCD panel 35 connected to the outside of the LCD driver 30 is shown together.

MPU기입/독출 인터페이스부(32)는 외부의 마이크로프로세서와 그래픽 램(34) 사이에서 데이타의 기입/독출을 제어하기 위한 블럭으로서, 입력 단자 IN을 통하여 마이크로프로세서(미도시)에서 명령 및 데이타를 입력하고, 워드 라인(WD)을 통하여 그래픽 램(34)으로 어드레스를 인가하고, 비트 라인/상보 비트 라인(BIT/BITB)을 통하여 그래픽 램(34)으로 또는 그래픽 램(34)으로부터 기입/독출되는 데이타를 전송한다. The MPU write / read interface unit 32 is a block for controlling the writing / reading of data between the external microprocessor and the graphics RAM 34. The MPU write / read interface unit 32 receives instructions and data from a microprocessor (not shown) through the input terminal IN. Input, apply an address to the graphics RAM 34 through the word line WD, and write / read to or from the graphics RAM 34 via the bit line / complementary bit line BIT / BITB. Transfer the data.

그래픽 램(34)은 복수 개의 램 셀들과 프리차아지 제어 수단을 구비하고, MPU 기입/독출 인터페이스부(32)를 통하여 램 데이타를 기입/독출하며, 소정 스캔 어드레스 및 프리차아지 제어 신호에 응답하여 기입된 램 데이타를 LCD패널(35)을 구동하기 위한 병렬의 스캔 데이타(DOUT)로서 출력한다. 즉, 그래픽 램(34)은 LCD 패널(35)에 디스플레이될 비트 맵 데이타를 저장하는 기입 기능과, 기입된 데이타를 출력하여 마이크로프로세서(미도시)로 전송하는 독출 기능 등 기본적인 램 데이타를 기입/독출하는 기능을 수행한다. 또한, 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력되는 스캔 어드레스(EN) 즉, 스캔 데이타를 선택하기 위한 인에이블 신호(EN)에 상응하는 COM/SEG신호를 생성하기 위해, 그래픽 램(34)에 저장된 데이타를 스캔 데이타(DOUT)로서 출력한다. The graphics RAM 34 includes a plurality of RAM cells and precharge control means, writes / reads RAM data through the MPU write / read interface 32, and responds to a predetermined scan address and precharge control signal. The written RAM data is output as parallel scan data DOUT for driving the LCD panel 35. That is, the graphics RAM 34 writes / writes basic RAM data such as a write function for storing bit map data to be displayed on the LCD panel 35 and a read function for outputting the written data and transmitting the read data to a microprocessor (not shown). Perform a read function. In addition, in order to generate a COM / SEG signal corresponding to a scan address EN output from the scan read timing control unit 36, that is, an enable signal EN for selecting scan data, it is stored in the graphics RAM 34. Output the data as scan data DOUT.

스캔 독출 타이밍 제어부(36)는 타이밍 발생 및 제어 블럭으로서, 스캔 어드레스(EN)와 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)를 생성하여 외부의 그래픽 램(34)으로 출력하고, 커먼 신호(COM)를 쉬프트하기 위한 COM쉬프트 클럭 신호(CK1)와 SEG신호를 래치하기 위한 SEG래치 클럭 신호(CK2)를 생성하여 COM/SEG신호 구동부(38)로 출력한다. The scan read timing control unit 36 generates a scan address EN and a precharge control signal PRE_CHA as an timing generation and control block, outputs them to the external graphic RAM 34, and shifts the common signal COM. The COM shift clock signal CK1 and the SEG latch clock signal CK2 for latching the SEG signal are generated and output to the COM / SEG signal driver 38.

COM/SEG신호 구동부(38)는 그래픽 램(34)으로부터 출력된 스캔 데이타 (DOUT)를 입력하고, 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력된 COM쉬프트 클럭 신호(CK1)에 응답하여 쉬프트시켜 M개의 커먼 라인을 순차적으로 선택하기 위한 커먼 신호(COM)를 생성하고, 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력된 SEG래치 클럭 신호(CK2)에 응답하여 n비트의 래치된 스캔 데이타(DOUT)를 세그먼트 신호(SEG)로서 동시에 출력한다. 여기에서, 출력된 커먼/세그먼트 신호(COM/SEG)는 LCD 패널(35)로 인가되어 LCD 패널(35)을 구동한다. The COM / SEG signal driver 38 inputs scan data DOUT output from the graphics RAM 34 and shifts the M / A signal in response to the COM shift clock signal CK1 output from the scan read timing controller 36. A common signal COM for sequentially selecting common lines is generated, and the n-bit latched scan data DOUT is segmented in response to the SEG latch clock signal CK2 output from the scan read timing controller 36. Outputs simultaneously as (SEG). Here, the output common / segment signal COM / SEG is applied to the LCD panel 35 to drive the LCD panel 35.

즉, LCD드라이버(30)는 LCD패널(35)의 로우 라인(즉, 워드라인)과 칼럼 라인을 구동하기 위한 세그먼트 신호(SEG) 및 커먼 신호(COM)를 생성하기 위해, 매 커먼 라인마다 각 커먼에 해당하는 그래픽 램(34)의 비트 맵 데이타를 주기적으로 독출 스캔하여 세그먼트 신호(SEG)를 발생시킨다. That is, the LCD driver 30 generates a segment signal SEG and a common signal COM for driving the low lines (ie, word lines) and column lines of the LCD panel 35, and each common line is generated for each common line. The bitmap data of the graphics RAM 34 corresponding to the common is periodically read and scanned to generate a segment signal SEG.

도 4는 도 3에 도시된 LCD 드라이버(30)에 내장된 그래픽 램(34)의 램 셀 어레이를 설명하기 위한 회로도로서, 복수 개의 램 셀들(41a, 41b,~4mn-1, 4mn)과 프리차아지 제어부(40)를 포함한다. 여기에서, 프리차아지 제어부(40)는 n비트의 각 로우 라인 (즉, 세그먼트 라인 또는 워드라인)에 연결된 n개의 PMOS트랜지스터들(MP41~MP4n)로 구성되며, 램 셀들(41a~41n)은 제1커먼 라인을 선택하기 위한 제1스캔 어드레스(EN1)에 연결되고, 마찬가지로 램 셀들(4ma~4mn)은 제m커먼 라인을 선택하기 위한 제m스캔 어드레스(ENm)와 연결된다. FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a RAM cell array of the graphics RAM 34 embedded in the LCD driver 30 shown in FIG. 3, and includes a plurality of RAM cells 41a, 41b, 4mn-1, and 4mn. The charge control unit 40 is included. Here, the precharge control unit 40 is composed of n PMOS transistors MP41 to MP4n connected to each row line (that is, a segment line or a word line) of n bits, and the RAM cells 41a to 41n are formed. The first scan address EN1 for selecting the first common line is connected, and the ram cells 4ma to 4mn are similarly connected to the mth scan address ENm for selecting the mth common line.

즉, 도 3에 도시된 그래픽 램(34)은 도 4에 도시된 바와 같은 램 셀 어레이로 구현되며, 램 셀(41a~41mn)의 각 워드라인에 하나씩 연결된 PMOS트랜지스터들로 이루어진 프리차아지 제어부(40)를 이용함으로써 램 셀을 구성하는 트랜지스터의 수를 8개로 줄였다는 특징이 있다. 각 램 셀(41a~4mn)의 상세한 동작에 관해서는 하기의 도 5에서 상세히 설명된다.That is, the graphic RAM 34 illustrated in FIG. 3 is implemented as a RAM cell array as illustrated in FIG. 4, and the precharge controller includes PMOS transistors connected to each word line of the RAM cells 41a to 41mn. The use of 40 reduces the number of transistors constituting the RAM cell to eight. The detailed operation of each of the RAM cells 41a to 4mn is described in detail in FIG. 5 below.

도 4에 도시된 램 셀 어레이를 참조하면, n비트의 스캔 데이타 출력(DOUT)은 m비트의 스캔 어드레스(EN1~ENm)에 각각 연결되어 있으며, 해당 스캔 어드레스 (EN)가 인에이블된 라인에 연결된 램 셀의 출력이 스캔 데이타(DOUT)로 되어 COM/SEG신호 구동부(38)에서 래치된 후 세그먼트 신호(SEG)로서 출력된다. Referring to the RAM cell array illustrated in FIG. 4, n-bit scan data outputs DOUT are connected to m-bit scan addresses EN1 to ENm, respectively, and the scan address EN is connected to an enabled line. The output of the connected ram cell becomes scan data DOUT and is latched by the COM / SEG signal driver 38 and then output as a segment signal SEG.

도 5는 도 4에 도시된 램 셀 어레이의 각 셀 구조를 설명하기 위한 바람직한 일실시예의 회로도로서, 6개의 트랜지스터들로 이루어진 기입/독출 제어부(50)와 2개의 트랜지스터들로 이루어진 스캔 독출 제어부(55)를 포함하며, 셀 외부에서 프리차아지 제어부(40)의 PMOS트랜지스터(MP41)와 연결된다. 도 5에 도시된 램 셀은 도 4의 램 셀(41a)을 예를 들어 설명하였으며, 도 4에 도시된 나머지 셀들도 같은 구조를 같게 됨을 알 수 있다. FIG. 5 is a circuit diagram of a preferred embodiment for explaining each cell structure of the RAM cell array shown in FIG. 4. The write / read control unit 50 consisting of six transistors and the scan read control unit consisting of two transistors ( 55) and is connected to the PMOS transistor MP41 of the precharge controller 40 outside the cell. The ram cell illustrated in FIG. 5 has been described with reference to the ram cell 41a of FIG. 4, and it can be seen that the remaining cells shown in FIG. 4 have the same structure.

도 5를 참조하면, MPU와의 데이타 기입/독출을 수행하는 기입/독출 제어부 (50)는 종래와 같이 6개의 트랜지스터들로 이루어진다. 여기에서, 인버터들(I51, I53)은 각각 2개의 트랜지스터들로 구현한다. 또한, LCD패널(35)에 데이타를 디스플레이하기 위해 스캔 독출을 수행하는 스캔 독출 제어부(55)는 램 셀(41a)의 외부에서 프리차아지용 PMOS트랜지스터(MP41)를 이용하기 때문에 2개의 NMOS 트랜지스터들(MN56,MN58)만으로 구현되어질 수 있다. 즉, 스캔 독출 제어부(55)의 NMOS트랜지스터(MN58)는 기입/독출 제어부(50)의 제2스토리지 노드(N2)의 데이타를 게이트 입력으로하고, 드레인이 NMOS트랜지스터(MN56)의 소스와 연결되며 소스는 기준 전원(GND)과 연결되어 램 셀에 저장된 램 데이타를 전달하는 역할을 한다. 또한, NMOS트랜지스터(MN56)는 각 커먼 라인의 스캔 어드레스를 나타내는 인에이블 신호(EN)를 게이트 입력으로하고, 드레인은 스캔 데이타 출력 단자 DOUT과 연결되며 해당되는 커먼 라인을 선택하는 역할을 한다. 한편, 램 셀(41a) 외부에 구비되는 프리차아지용 PMOS트랜지스터(MP41)는 전원 전압(VDD)과 소스가 연결되고, 드레인이 스캔 데이타 출력 단자 DOUT과 연결되며, 게이트로 입력되는 프리차아지 신호(PRE_CHA)에 응답하여 DOUT를 전원 전압(VDD)으로 프리차아지 시킨다. Referring to FIG. 5, the write / read control unit 50 which performs data write / read with the MPU is composed of six transistors as in the related art. Here, the inverters I51 and I53 are each implemented with two transistors. In addition, since the scan read control unit 55 which performs scan read to display data on the LCD panel 35 uses the precharge PMOS transistor MP41 outside the RAM cell 41a, two NMOS transistors are used. (MN56, MN58) can be implemented only. That is, the NMOS transistor MN58 of the scan read control unit 55 uses the data of the second storage node N2 of the write / read control unit 50 as a gate input, and the drain thereof is connected to the source of the NMOS transistor MN56. The source is connected to the reference power supply (GND) to transfer the RAM data stored in the ram cell. In addition, the NMOS transistor MN56 uses an enable signal EN indicating a scan address of each common line as a gate input, and a drain thereof is connected to the scan data output terminal DOUT and selects a corresponding common line. On the other hand, the precharge PMOS transistor MP41 provided outside the RAM cell 41a has a power supply voltage VDD connected to a source, a drain connected to the scan data output terminal DOUT, and a precharge signal input to the gate. In response to PRE_CHA, DOUT is precharged to the power supply voltage VDD.

도 5를 참조하여 본 발명에 따른 그래픽 램의 데이타 기입/독출 및 스캔 독출 동작에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The data write / read and scan read operations of the graphics RAM according to the present invention will be described in detail with reference to FIG. 5 as follows.

우선, 마이크로프로세서(미도시)와의 데이타 기입/독출 동작에 관하여 설명한다. 즉, 도 4에 도시된 램 셀 어레이의 제1램 셀(41a)을 예를 들어 설명하면, 램 셀(41a)의 기입/독출 제어부(50)는 워드 라인(WD)을 통하여 인가된 어드레스에 상응하여 제1스토리지 노드(N1) 또는 제2스토리지 노드(N2)에 저장된 램 데이타를 비트 라인(BIT) 또는 상보 비트 라인(BITB)를 통하여 출력하거나, 외부에서 비트 라인(BIT) 또는 상보 비트 라인(BITB)를 통하여 인가된 램 데이타를 제1 또는 제2스토리지 노드(N1또는 N2)에 저장한다. 여기에서, 저장된 데이타는 스캔 독출 제어부(55)의 NMOS트랜지스터(MN58)의 게이트 입력으로 인가된다. First, a data write / read operation with a microprocessor (not shown) will be described. In other words, the first RAM cell 41a of the RAM cell array illustrated in FIG. 4 will be described by way of example. The write / read control unit 50 of the RAM cell 41a is connected to an address applied through the word line WD. Correspondingly, RAM data stored in the first storage node N1 or the second storage node N2 is output through the bit line BIT or the complementary bit line BITB, or externally the bit line BIT or the complementary bit line. The RAM data applied through the BITB is stored in the first or second storage node N1 or N2. The stored data is applied to the gate input of the NMOS transistor MN58 of the scan read control unit 55.

이 때, 스캔 어드레스(EN)가 로우 레벨인 구간 즉, 디스에이블되는 구간에서 스캔 데이타 출력 단자 DOUT는 PMOS트랜지스터(MP41)의 게이트로 입력되는 로우 레벨의 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)에 의해 프리차아지되어 하이 레벨을 유지한다. At this time, the scan data output terminal DOUT is pre-set by the low-level precharge control signal PRE_CHA input to the gate of the PMOS transistor MP41 in a period where the scan address EN is at a low level, that is, a period in which the scan address EN is disabled. Be charged and maintain a high level.

즉, 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)가 로우 레벨인 구간이 프리차아지되는 구간이며, 하이 레벨이 되는 구간이 스캔 독출이 이루어지는 구간이다. 그래픽 램(34)의 스캔 독출 동작은 상기의 프리차아지 타이밍을 기준으로 이루어진다. 따라서, 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)가 로우 레벨이면 스캔 어드레스(EN)는 로우 레벨로 설정되며, 스캔 어드레스(EN)를 게이트 입력으로 하는 트랜지스터(MN56)가 턴오프되어 스캔 데이타 출력 단자 DOUT를 플로팅(FLOATING)시킴과 동시에 PMOS트랜지스터(MN41)가 턴온되므로 DOUT를 전원 전압(VDD)으로 프리차아지시킨다. 또한, 상기의 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)는 도 3에 도시된 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 생성되며, 주기적으로 로우 레벨과 하이 레벨을 반복한다. 스캔 어드레스(EN)는 하이 레벨일 때 인에이블되며, 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력되는 하이 레벨의 스캔 어드레스(EN)가 EN1에서 ENm까지 순차적으로 출력되면서 커먼 라인을 선택한다. 여기에서, 도 5에 도시된 제1램 셀 (41a)인 경우에 하이 레벨의 스캔 어드레스(EN) 즉, EN1이 인에이블되는 구간에서 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)가 하이 레벨로 전이되고, 스캔 독출 제어부(55)의 NMOS트랜지스터(MN56)가 턴온됨으로써 제1커먼 라인을 선택하게 되어 제1커먼 라인에 상응하는 스캔 데이타를 출력한다. 이 때, 기입/독출 제어부(50)의 제2스토리지 노드(N2)에 저장된 데이타 레벨에 따라서 스캔 데이타 출력 단자 DOUT의 출력 레벨이 결정된다. 도 5에 도시된 램 셀의 경우에 스캔 독출 제어부(55)는 제2스토리지 노드(N2)의 데이타를 입력하는 것으로 도시되었으나, 제1스토리지 노드(N1)의 데이타를 입력으로하는 것도 가능하다. That is, a section where the precharge control signal PRE_CHA is at a low level is a precharge section, and a section at which the high level is a scan read section is performed. The scan read operation of the graphics RAM 34 is performed based on the precharge timing. Therefore, when the precharge control signal PRE_CHA is at the low level, the scan address EN is set at the low level, and the transistor MN56 whose gate address is the scan address EN is turned off to turn off the scan data output terminal DOUT. At the same time as PLOATING, the PMOS transistor MN41 is turned on, thereby precharging DOUT to the power supply voltage VDD. In addition, the precharge control signal PRE_CHA is generated by the scan read timing control unit 36 shown in FIG. 3 and periodically repeats the low level and the high level. The scan address EN is enabled at the high level, and the high level scan address EN output from the scan read timing controller 36 is sequentially output from EN1 to ENm to select the common line. Here, in the case of the first RAM cell 41a illustrated in FIG. 5, the precharge control signal PRE_CHA is transferred to the high level in a section in which the high level scan address EN, that is, EN1 is enabled. When the NMOS transistor MN56 of the scan read control unit 55 is turned on, the first common line is selected to output scan data corresponding to the first common line. At this time, the output level of the scan data output terminal DOUT is determined according to the data level stored in the second storage node N2 of the write / read control unit 50. In the case of the RAM cell illustrated in FIG. 5, the scan read control unit 55 is illustrated as inputting data of the second storage node N2, but it is also possible to input data of the first storage node N1.

예를 들어, 램 셀(41a)의 제2스토리지 노드(N2)에 저장된 데이타가 하이 레벨이면 NMOS트랜지스터(MN58)가 턴온되고, 턴온된 트랜지스터들(MN56, MN58)을 통하여 형성된 방전 통로를 거쳐서 기준 전원(VSS)으로 소정의 전류를 흘려주게 되므로 이전에 프리차아지되어있던 하이 레벨의 DOUT는 로우 레벨이 된다. 즉, MPU로부터 인가되는 램 데이타를 램 셀(41a)에 기입할 때 반전시켜 기입하면, 램 셀(41a)에서 다시 반전되어 출력되므로 결과적으로 두번 반전됨으로써 입력된 데이타와 동일한 데이타를 얻을 수 있다. For example, when the data stored in the second storage node N2 of the RAM cell 41a is at a high level, the NMOS transistor MN58 is turned on and the reference is made through a discharge path formed through the turned-on transistors MN56 and MN58. Since a predetermined current flows through the power supply VSS, the previously precharged high level DOUT becomes a low level. That is, when the RAM data applied from the MPU is inverted and written in the RAM cell 41a, the RAM data is inverted and output again in the RAM cell 41a. As a result, the same data as the input data can be obtained by inverting twice.

한편, 램 셀(41a)의 제2스토리지 노드(N2)에 저장된 데이타가 로우 레벨이면 NMOS트랜지스터(MN58)가 턴오프되므로, 이전에 전원 전압(VDD)으로 프리차아지되어 있던 전압이 그대로 출력 단자 DOUT로 출력되어 하이 레벨의 데이타를 출력한다. 결과적으로, 스캔 독출 타이밍 시점에서는 PMOS트랜지스터(MP41)가 턴오프 되므로 DOUT가 플로팅되지만, 이전에 프리차아지 되어있던 하이 레벨의 전압과 NMOS트랜지스터(MN58)의 턴온/턴오프에 의해 스캔 데이타 출력 단자 DOUT의 레벨이 결정됨을 알 수 있다. On the other hand, when the data stored in the second storage node N2 of the RAM cell 41a is at the low level, the NMOS transistor MN58 is turned off, so that the voltage previously precharged to the power supply voltage VDD remains the output terminal. Output to DOUT to output high level data. As a result, the DMOS is floated because the PMOS transistor MP41 is turned off at the time of the scan read timing, but the scan data output terminal is turned on by the high level voltage that was previously precharged and the turn on / turn off of the NMOS transistor MN58. It can be seen that the level of DOUT is determined.

도 6(a)~6(i)는 도 3에 도시된 그래픽 램을 내장한 LCD드라이버(30)의 스캔 독출 동작을 설명하기 위한 파형도들로서, 6(a)는 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력되는 COM쉬프트 클럭 신호(CK1)를 나타내고, 6(b)는 COM/SEG신호 구동부(38) 에서 출력되는 커먼 신호(COM)를 나타내고, 6(c)는 프리차아지 제어 신호 (PRE_CHA)를 나타내고, 6(d)~6(f)는 스캔 어드레스(EN<1>~EN<m>)를 나타내고, 6(g) 는 스캔 데이타 출력 단자 DOUT를 통하여 출력되는 데이타를 나타내고, 6(h)는 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력되는 SEG래치 클럭 신호(CK2)를 나타내고, 6(i)는 COM/SEG신호 구동부(38)에서 출력되는 세그먼트 신호(SEG)를 나타낸다.6 (a) to 6 (i) are waveform diagrams for explaining a scan read operation of the LCD driver 30 incorporating the graphics RAM shown in FIG. 3, and 6 (a) is a scan read timing controller 36. Represents the COM shift clock signal CK1 output from the signal, 6 (b) represents the common signal COM output from the COM / SEG signal driver 38, and 6 (c) represents the precharge control signal PRE_CHA. 6 (d) to 6 (f) denote scan addresses EN <1> to EN <m>, 6 (g) denote data output through the scan data output terminal DOUT, and 6 (h). Denotes the SEG latch clock signal CK2 output from the scan read timing control section 36, and 6 (i) represents the segment signal SEG output from the COM / SEG signal driver 38.

즉, 도 6을 참조하면, 도 6(a)에 도시된 COM쉬프트 클럭 신호(CK1)에 응답하여 m비트의 커먼 구동 신호(COM<1>~COM<m>)가 쉬프트되어 출력되면서 순차적으로 커먼 라인을 선택한다. 또한, 스캔 독출 타이밍 제어부(36)에서 출력되는 도 6(c)에 도시된 프리차아지 신호(PRE_CHA)는 커먼 쉬프트 클럭 신호(CK1)를 기준으로 할 때, 반주기는 프리차아지되는 구간이고 반주기는 스캔 독출을 수행하는 구간임을 알 수 있다. 도 6(c)에 도시된 프리차아지 제어 신호 (PRE_CHA)가 하이 레벨인 스캔 독출 구간에서 도 6(d)~6(f)에 도시된 스캔 어드레스(EN1~ENm)가 순차적으로 선택된다. 따라서, 프리차아지 제어 신호 (PRE_CHA)가 로우 레벨인 프리차아지 구간에서는 도 6(g)에 도시된 스캔 데이타 출력 DOUT이 하이 레벨을 유지하고, 프리차아지 제어 신호(PRE_CHA)가 하이 레벨인 스캔 독출 구간에서는 한 비트의 스캔 어드레스(EN)가 인에이블될 때마다 n비트의 스캔 데이타 출력 DOUT<1>~<n>이 생성된다. 즉, 한 비트의 스캔 어드레스(EN)가 인에이블되면 상기 어드레스에 의해 선택된 커먼 라인과 연결된 램 셀이 동시에 구동하게 되므로 커먼 신호(COM)가 쉬프트될 때마다 DOUT<1>~<n>가 동시에 출력된다. 도 6(g)에 도시된 스캔 데이타 출력 DOUT은 COM/SEG신호 구동부(38)에 래치되고, SEG래치 클럭 신호(CK2)에 응답하여 n비트의 SEG신호로서 출력되며 그 출력 파형은 도 6(i)에 도시된 바와 같다. COM/SEG신호 구동부(38)에서 출력된 n비트의 SEG신호(SEG<1>~<n>)는 LCD패널(35)로 인가되어 각 세그먼트를 구동한다. 결국, 도 3에 도시된 LCD드라이버(30)는 종래의 LCD 드라이버와 비교할 때 그래픽 램(34)의 램 셀을 구성하는 트랜지스터의 수는 줄었으나 도 2 및 도 6에 도시된 바와 같이, 서로 동일한 출력을 얻을 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 LCD드라이버(30)는 램 셀의 구조에서 트랜지스터의 수를 2개 줄임으로써 그래픽 램(34)의 사이즈를 줄일 수 있고, 그에 따른 LCD드라이버(30) 전체의 칩 사이즈를 줄일 수 있게 된다. 특히, 그래픽 램이 전체 칩 면적의 2/3 이상을 차지하는 LCD드라이버의 경우에는 본 발명에 따른 램 셀 구조를 적용함으로써 칩 전체의 사이즈를 효과적으로 감소시킬 수 있다.That is, referring to FIG. 6, in response to the COM shift clock signal CK1 shown in FIG. 6A, m-bit common driving signals COM <1> to COM <m> are shifted and output sequentially. Select the common line. In addition, when the precharge signal PRE_CHA illustrated in FIG. 6C output from the scan read timing control unit 36 is based on the common shift clock signal CK1, the half cycle is a precharge period and a half cycle. It can be seen that is a section for performing scan read. In the scan readout period in which the precharge control signal PRE_CHA shown in FIG. 6C is at a high level, the scan addresses EN1 to ENm shown in FIGS. 6D to 6F are sequentially selected. Therefore, in the precharge period in which the precharge control signal PRE_CHA is at the low level, the scan data output DOUT shown in FIG. 6G maintains the high level, and the precharge control signal PRE_CHA is at the high level. In the scan readout interval, n bits of scan data outputs DOUT <1> to <n> are generated each time one bit of the scan address EN is enabled. That is, when one bit of the scan address EN is enabled, the ram cell connected to the common line selected by the address is simultaneously driven, so that DOUT <1> to <n> are simultaneously generated whenever the common signal COM is shifted. Is output. The scan data output DOUT shown in Fig. 6G is latched by the COM / SEG signal driver 38, and is output as an n-bit SEG signal in response to the SEG latch clock signal CK2. as shown in i). The n-bit SEG signals SEG <1> to <n> output from the COM / SEG signal driver 38 are applied to the LCD panel 35 to drive each segment. As a result, the LCD driver 30 shown in FIG. 3 reduces the number of transistors constituting the RAM cells of the graphic RAM 34 compared with the conventional LCD driver, but as shown in FIGS. You can get the output. Therefore, the LCD driver 30 according to the present invention can reduce the size of the graphic RAM 34 by reducing the number of transistors in the structure of the RAM cell by two, thereby reducing the chip size of the LCD driver 30 as a whole. It becomes possible. In particular, in the case of an LCD driver in which the graphics RAM occupies 2/3 or more of the total chip area, the size of the entire chip can be effectively reduced by applying the RAM cell structure according to the present invention.

본 발명에 따르면, 그래픽 램의 각 셀 구조에서 2개의 트랜지스터를 줄임으로써 전체 그래픽 램의 사이즈를 줄일 수 있고, 따라서 그래픽 램을 내장하는 LCD드라이버의 사이즈를 줄일 수 있다. 또한, 종래에는 스캔 어드레스를 선택하기 위한 인에이블 신호로 EN과 ENB를 이용하였으나, 본 발명에서는 EN만을 이용함으로써 셀 어레이를 위한 메탈 라인의 라우팅(ROUTING)면적을 줄일 수 있다는 효과가 있다. According to the present invention, the size of the entire graphics RAM can be reduced by reducing two transistors in each cell structure of the graphics RAM, and thus the size of the LCD driver incorporating the graphics RAM can be reduced. In addition, although EN and ENB are conventionally used as an enable signal for selecting a scan address, the present invention has an effect of reducing the routing area of the metal line for the cell array by using only EN.

도 1는 종래의 그래픽 램의 셀 구조를 설명하기 위한 회로도이다. 1 is a circuit diagram illustrating a cell structure of a conventional graphic RAM.

도 2(a)~2(h)는 종래의 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버의 스캔 독출 동작을 설명하기 위한 파형도들이다. 2A to 2H are waveform diagrams for explaining a scan read operation of a liquid crystal display driver incorporating a conventional graphic RAM.

도 3은 본 발명에 따른 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버를 설명하기 위한 개략적인 블럭도이다.3 is a schematic block diagram illustrating a liquid crystal display driver having a graphics RAM according to the present invention.

도 4는 도 3에 도시된 액정 표시 장치 드라이버의 램 셀 어레이를 설명하기 위한 도면이다. FIG. 4 is a diagram for describing a RAM cell array of the liquid crystal display driver illustrated in FIG. 3.

도 5는 도 4에 도시된 램 셀 어레이의 셀 구조를 설명하기 위한 회로도이다. FIG. 5 is a circuit diagram illustrating a cell structure of the ram cell array shown in FIG. 4.

도 6(a)~6(i)는 도 3에 도시된 액정 표시 장치 드라이버의 스캔 독출 동작을 설명하기 위한 파형도들이다. 6A to 6I are waveform diagrams for describing a scan read operation of the liquid crystal display driver illustrated in FIG. 3.

Claims (6)

외부의 마이크로프로세서와 인터페이스하여 소정 어드레스에 상응하는 램 데이타를 기입/독출하고, 외부의 액정 표시 장치 패널을 구동시키기 위해 상기 램 데이타를 스캔 독출하는 그래픽 램에 있어서, A graphic RAM which interfaces with an external microprocessor to write / read RAM data corresponding to a predetermined address, and scans and reads the RAM data to drive an external liquid crystal display panel. 상기 마이크로프로세서에서 워드 라인을 통하여 인가된 어드레스에 상응하는소정의 램 데이타를 비트 라인 및 상보 비트 라인을 통하여 각각 기입/독출하고, 소정 스캔 어드레스에 상응하여 상기 기입된 램 데이타를 스캔 데이타로서 출력하는 복수 개의 램 셀들; 및The microprocessor writes / reads predetermined RAM data corresponding to an address applied through a word line through a bit line and a complementary bit line, respectively, and outputs the written RAM data as scan data corresponding to a predetermined scan address. A plurality of RAM cells; And 상기 램 셀들의 각 워드라인에 연결된 복수 개의 트랜지스터들을 구비하고, 소정 프리차아지 제어 신호에 응답하여 스캔 데이타 출력 단자를 프리차아지시키거나, 상기 스캔 데이타를 출력하는 프리차아지 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로하는 그래픽 램.And a precharge control means having a plurality of transistors connected to each word line of the RAM cells and precharging a scan data output terminal in response to a predetermined precharge control signal, or outputting the scan data. Graphic RAM. 제1항에 있어서, 상기 복수 개의 램 셀 들은, The method of claim 1, wherein the plurality of RAM cells, 6개의 MOS트랜지스터들로 구현되며, 상기 어드레스에 응답하여 제1스토리지 노드 또는 제2스토리지 노드에 저장된 램 데이타를 상기 비트 라인 및 상보 비트 라인을 통하여 출력하거나, 상기 비트 라인 및 상보 비트 라인을 통하여 인가된 램 데이타를 상기 제1스토리지 노드 또는 제2스토리지 노드에 저장하는 기입/독출 제어 수단; 및Implemented with six MOS transistors, the RAM data stored in the first storage node or the second storage node in response to the address is output through the bit line and the complementary bit line, or applied through the bit line and the complementary bit line. Write / read control means for storing the stored RAM data in the first storage node or the second storage node; And 2개의 MOS트랜지스터들로 구현되며, 상기 제1 또는 제2스토리지 노드에 저장된 램 데이타를 입력하고, 소정 스캔 어드레스에 응답하여 프리차아지된 신호를 출력하거나, 상기 램 데이타를 상기 스캔 데이타로서 출력하는 스캔 독출 제어 수단을 각각 포함하는 것을 특징으로하는 그래픽 램. Implemented by two MOS transistors, inputs RAM data stored in the first or second storage node, outputs a precharged signal in response to a predetermined scan address, or outputs the RAM data as the scan data. And a scan read control means, respectively. 제1항에 있어서, 상기 프리차아지 제어 수단은,The method of claim 1, wherein the precharge control means, 내부에 구비된 상기 트랜지스터들이 각각 상기 스캔 데이타 출력 단자와 연결되는 드레인과, 전원 전압과 연결된 소스 및 상기 프리차아지 제어 신호와 연결된 게이트를 갖는 것을 특징으로하는 그래픽 램.And each of the transistors having a drain connected to the scan data output terminal, a source connected to a power supply voltage, and a gate connected to the precharge control signal. 제1항에 있어서, 상기 프리차아지 제어 수단은, The method of claim 1, wherein the precharge control means, 상기 게이트로 인가되는 프리차아지 제어 신호가 로우 레벨일때 상기 스캔 데이타 출력 단자를 전원 전압으로 프리차아지시키고, 상기 프리차아지 제어 신호가 하이 레벨이면 상기 램 데이타를 상기 스캔 어드레스에 응답하여 상기 스캔 데이타로서 출력하는 것을 특징으로하는 그래픽 램. When the precharge control signal applied to the gate is at a low level, the scan data output terminal is precharged to a power supply voltage. When the precharge control signal is at a high level, the RAM data is scanned in response to the scan address. Graphic RAM output as data. 제2항에 있어서, 상기 스캔 독출 제어 수단은, The method of claim 2, wherein the scan read control means, 상기 스캔 어드레스와 연결된 게이트와, 상기 스캔 데이타 출력 단자와 연결된 드레인을 갖는 제1트랜지스터; 및A first transistor having a gate connected to the scan address and a drain connected to the scan data output terminal; And 상기 제1 또는 제2스토리지 노드와 연결된 게이트와, 상기 제1트랜지스터의 소스와 연결된 드레인 및 기준 전원과 연결된 소스를 갖는 제2트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로하는 그래픽 램.And a second transistor having a gate connected to the first or second storage node, a drain connected to a source of the first transistor, and a source connected to a reference power source. 외부의 마이크로프로세서와 인터페이스하여 소정 어드레스에 상응하는 램 데이타를 기입/독출하고, 외부의 액정 표시 장치 패널을 구동시키기 위해 상기 램 데이타를 스캔 독출하여 커먼 구동 신호와 세그먼트 구동 신호를 생성하는 액정 표시 장치 드라이버에 있어서, A liquid crystal display device which interfaces with an external microprocessor to write / read RAM data corresponding to a predetermined address, and scans and reads the RAM data to drive an external liquid crystal display panel to generate a common driving signal and a segment driving signal. In the driver, 상기 마이크로프로세서와 상기 액정 표시 장치 드라이버 사이에서 데이타 기입/독출을 인터페이스하는 기입/독출 인터페이스 수단; Write / read interface means for interfacing data write / read between the microprocessor and the liquid crystal display driver; 복수 개의 램 셀들과 프리차아지 제어 수단을 구비하고, 상기 기입/독출 인터페이스 수단을 통하여 상기 램 데이타를 기입/독출하며, 소정 스캔 어드레스 및 프리차아지 제어 신호에 응답하여 상기 램 데이타를 상기 액정 표시 장치 패널을 구동하기 위한 병렬의 스캔 데이타로서 출력하는 그래픽 램;And a plurality of RAM cells and precharge control means, and write / read the RAM data through the write / read interface means, and display the RAM data in response to a predetermined scan address and precharge control signal. A graphics RAM for outputting parallel scan data for driving the device panel; 상기 스캔 데이타를 입력하고, 소정 커먼 쉬프트 클럭 신호 및 세그먼트 래치 클럭 신호에 응답하여 커먼 구동 신호 및 세그먼트 구동 신호를 출력하는 커먼/세그먼트 신호 구동 수단; 및Common / segment signal driving means for inputting the scan data and outputting a common driving signal and a segment driving signal in response to a predetermined common shift clock signal and a segment latch clock signal; And 시스템 클럭 신호에 응답하여 상기 스캔 어드레스 및 상기 프리차아지 제어 신호를 생성하고, 상기 커먼 쉬프트 클럭 신호 및 상기 세그먼트 래치 클럭 신호를 발생시키는 스캔 독출 타이밍 제어 수단을 포함하고, Scan read timing control means for generating the scan address and the precharge control signal in response to a system clock signal, and generating the common shift clock signal and the segment latch clock signal; 상기 프리차아지 제어 수단은 상기 램 셀들의 각 워드라인에 연결된 복수 개의 트랜지스터들을 구비하고, 상기 트랜지스터들의 각 게이트로 상기 프리차아지 제어 신호가 인가되는 것을 특징으로하는 그래픽 램을 내장한 액정 표시 장치 드라이버.The precharge control means includes a plurality of transistors connected to each word line of the RAM cells, and the precharge control signal is applied to each gate of the transistors. driver.
KR10-1998-0027658A 1998-07-09 1998-07-09 Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM KR100524904B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1998-0027658A KR100524904B1 (en) 1998-07-09 1998-07-09 Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-1998-0027658A KR100524904B1 (en) 1998-07-09 1998-07-09 Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20000008015A KR20000008015A (en) 2000-02-07
KR100524904B1 true KR100524904B1 (en) 2005-12-21

Family

ID=19543592

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-1998-0027658A KR100524904B1 (en) 1998-07-09 1998-07-09 Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100524904B1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR890001011A (en) * 1987-06-19 1989-03-17 아오이 죠이찌 CRT / Plasma Display Controller
KR940004362A (en) * 1992-08-21 1994-03-15 가나이 쯔또무 LCD Display Controller
US5471225A (en) * 1993-04-28 1995-11-28 Dell Usa, L.P. Liquid crystal display with integrated frame buffer
KR100234415B1 (en) * 1997-04-30 1999-12-15 윤종용 RAM in lyquid crystal device controller

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR890001011A (en) * 1987-06-19 1989-03-17 아오이 죠이찌 CRT / Plasma Display Controller
KR940004362A (en) * 1992-08-21 1994-03-15 가나이 쯔또무 LCD Display Controller
US5471225A (en) * 1993-04-28 1995-11-28 Dell Usa, L.P. Liquid crystal display with integrated frame buffer
KR100234415B1 (en) * 1997-04-30 1999-12-15 윤종용 RAM in lyquid crystal device controller

Also Published As

Publication number Publication date
KR20000008015A (en) 2000-02-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6724378B2 (en) Display driver and display unit and electronic apparatus utilizing the same
CN101192391A (en) Semiconductor circuit, scanning circuit and display device using these circuits
US6407942B2 (en) Semiconductor memory device with a hierarchical word line configuration capable of preventing leakage current in a sub-word line driver
KR19990024635A (en) Synchronous memory device with data input / output control circuit
JP4432829B2 (en) Electro-optical device substrate and inspection method thereof, and electro-optical device and electronic apparatus
EP1644936B1 (en) Flash/dynamic random access memory field programmable gate array
US5546410A (en) Semiconductor memory device with error self-correction system starting parity bit generation/error correction sequences only when increase of error rate is forecasted
KR19980069694A (en) Semiconductor memory device operating at high speed at low power supply voltage
JP6216129B2 (en) Gate driver circuit and display device
KR0158933B1 (en) Semiconductor memory
US6256681B1 (en) Data buffer for programmable memory
US4985872A (en) Sequencing column select circuit for a random access memory
US4447894A (en) Semiconductor memory device
US4858188A (en) Semiconductor memory with improved write function
KR20050037138A (en) Semiconductor memory device and flat panel display using the same
US5517454A (en) Semiconductor memory device having refresh circuits
KR930008850A (en) Semiconductor memory device with partitioned read data bus system
JP6524749B2 (en) Storage device, display driver, electro-optical device and electronic apparatus
KR100524904B1 (en) Graphic RAM and liquid crystal device driver having the graphic RAM
KR0182341B1 (en) Semiconductor memory and serial data reading method for semiconductor memory
US6937223B2 (en) Driver having a storage device, electro-optical device using the driver, and electronic apparatus
US6201741B1 (en) Storage device and a control method of the storage device
JP4119412B2 (en) Integrated circuit device and test method thereof
JPH097400A (en) Semiconductor memory device
JPS6041039Y2 (en) Semiconductor storage device for display

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee