KR100495125B1 - Apparatus and method for measuring flatness of cold strip - Google Patents
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Abstract
본 발명은 CCD 카메라를 이용하여 웨이브가 발생하는 위치정보를 구하고 그 위치정보를 이용하여 레이저 거리계를 각각 이동시켜 평탄도를 구함으로써, 빠르게 이송 중인 스트립의 평탄도를 정확하게 측정할 수 있는 평탄도 측정장치를 제공하는 데 그 목적이 있다. The present invention obtains the position information that the wave is generated by using a CCD camera and obtains the flatness by moving the laser rangefinder using the position information, so that the flatness measurement can accurately measure the flatness of the strip being transported quickly. The object is to provide a device.
본 발명의 평탄도 측정장치는 스트립의 번호, 폭을 포함하는 각종 정보를 관리하는 스트립 정보관리부(2)와, 이송되는 스트립의 표면에 조명을 조사하는 조명장치(5)와, 이송되는 스트립의 표면을 촬상하여 스트립의 표면에 형성되는 웨이브를 촬상하는 CCD 카메라(4)와, 스트립에 형성되는 웨이브의 크기에 따라 변화되는 거리를 감지하는 다수의 레이저 센서(18 ∼ 23) 및, 다수의 레이저 센서를 이동시키는 모터 구동부(8)를 포함한다. 또한, 본 발명은 스트립의 이송길이에 따른 스트립의 위치를 측정하는 엔코더(12)와, 스트립 정보관리부에서 전송되는 정보에 따라 모터 구동부를 제어하여 다수의 레이저 센서의 위치를 조절하고, CCD 카메라에서 촬상한 영상을 통해 모터 구동부를 제어하여 다수의 레이저 센서의 위치를 조절하며, 엔코더에서 측정한 스트립의 위치정보를 통해 스트립의 위치에 따른 웨이브를 정확하게 측정함으로써 평탄도를 측정하는 중앙처리장치(7)를 포함한다. The flatness measuring apparatus of the present invention includes a strip information management unit 2 for managing various types of information including a strip number and width, an illumination device 5 for illuminating the surface of the strip to be transported, and a strip to be transported. CCD camera 4 for imaging the surface formed on the surface of the strip by imaging the surface, a plurality of laser sensors 18 to 23 and a plurality of laser sensors for detecting a distance varying according to the size of the wave formed on the strip. And a motor driver 8 for moving the sensor. In addition, the present invention, the encoder 12 for measuring the position of the strip according to the transport length of the strip, and controls the motor drive unit according to the information transmitted from the strip information management unit to adjust the position of the plurality of laser sensors, in the CCD camera A central processing unit for controlling flatness by controlling the motor driving unit through the captured image to adjust the position of the plurality of laser sensors and accurately measuring the wave according to the position of the strip through the position information of the strip measured by the encoder. ).
Description
본 발명은 평탄도 측정장치에 관한 것이며, 특히, 연속 냉간압연을 거친 스트립이 수직방향으로 하강 또는 상승하는 연속 소둔라인의 입측에 설치되어 스트립의 이동속도가 최대 600mpm인 경우까지 냉연 스트립의 평탄도를 측정하는 장치에 관한 것이다. 또한, 본 발명은 냉간압연을 거친 냉연 스트립의 평탄도를 측정하는 방법에 관한 것이기도 하다. The present invention relates to a flatness measuring device, and in particular, the flatness of the cold rolled strip until the strip passing through the continuous cold rolling is installed at the inlet side of the continuous annealing line that descends or rises in the vertical direction up to 600mpm. It relates to a device for measuring. The invention also relates to a method for measuring the flatness of a cold rolled strip subjected to cold rolling.
냉연 제품의 외형적 품질 지표로는 일정 범위내의 중심 두께 편차와, 스트립에 웨이브진 정도를 나타내는 평탄도가 있다. Outer quality indices of cold rolled products include a central thickness variation within a range and flatness indicating the degree of undulation in the strip.
도 1에 도시된 바와 같이, 평탄도 불량은 센터에 웨이브가 지는 센터 웨이브형 불량과, 양 엣지에 웨이브가 지는 엣지 웨이브 등이 있다. 그리고, 평탄도라 함은 도 2에 도시된 바와 같이 웨이브의 주기(L)과 웨이브의 파고(h)를 측정하여 수학식 1과 같이 나타내는 것을 의미한다. As shown in FIG. 1, the flatness failure includes a center wave type defect having a wave at the center, an edge wave having a wave at both edges, and the like. In addition, the flatness means that the period (L) of the wave and the wave height (h) of the wave as shown in FIG.
따라서, 스트립의 평탄도를 측정하기 위해서는 평탄도 불량 타입(예를 들면, 센터 웨이브, 엣지 웨이브)과, 평탄도 값을 구하기 위한 웨이브의 주기와 파고가 측정되어야 한다. Therefore, in order to measure the flatness of the strip, the flatness failure type (eg, center wave, edge wave), and the period and wave height of the wave to obtain the flatness value must be measured.
종래의 평탄도 측정장치에 관한 일본특허로는 특개평11-248444호, 특개평10-122842호, 특개평8-219763호, 특개평8-029147호, 특개평7-234121호, 특개평5-332710호, 특개평5-269527호, 특개평5-04000호 등이 있으나, 이중에서 본 발명과 유사한 특허는 특개평7-234121호, 특개평5-332710호로서, 이 기술은 강판의 평탄도 측정장치에 관한 것으로, 비접촉 거리계를 사용한다는 점에서는 본 발명과 동일하나 측정센서가 등간격으로 고정되어 있고 수평으로 지나가는 스트립의 평탄도를 측정한다는 점이 본 발명과 상이하다. Japanese Patents related to conventional flatness measuring devices include Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 11-248444, 10-122842, 8-219763, 8-829147, 7-234121 and 5 -332710, Japanese Patent Laid-Open No. 5-269527, Japanese Patent Laid-Open No. 5-04000, etc. Among them, Patents similar to the present invention are Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 7-234121 and Japanese Patent Laid-Open No. 5-332710. The present invention relates to a measuring device, which is similar to the present invention in that it uses a non-contact distance meter, but differs from the present invention in that the measuring sensor is fixed at equal intervals and measures the flatness of the strip passing horizontally.
대한민국 특허 제129048호에는 "온라인 스트립 평탄도 측정장치 및 그 방법"에 관한 내용이 기술되어 있는데, 이 측정장치는 레이저 거리계를 이용한다는 점이 본 발명과 동일하지만, 웨이브가 발생되는 지점에 레이저가 위치하도록 수동으로 조작해야 하는 문제점과, 레이저가 설치되는 기계장치를 구조적으로 레이저와 동일간격으로 움직이게 구성하여야 하는 문제점이 있다. 그리고, 대한민국 특허 제129048호의 장치는 수평으로 지나가는 스트립의 평탄도를 측정하는 장치로서, 수직방향으로 지나가는 스트립의 평탄도의 측정은 불가능하다는 단점이 있다. Korean Patent No. 129048 describes an "Online Strip Flatness Measuring Apparatus and Method thereof", which is the same as the present invention using a laser rangefinder, but the laser is positioned at the point where the wave is generated. There is a problem that the manual operation so as to operate, and a mechanism that the laser is installed to be structurally moved at the same interval as the laser. In addition, the device of Korean Patent No. 129048 is a device for measuring the flatness of the strip passing horizontally, there is a disadvantage that it is impossible to measure the flatness of the strip passing in the vertical direction.
따라서, 본 발명은 앞서 설명한 바와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, CCD 카메라를 이용하여 웨이브가 발생하는 위치정보를 구하고 그 위치정보를 이용하여 레이저 거리계를 각각 이동시켜 평탄도를 구함으로써, 빠르게 이송 중인 스트립의 평탄도를 정확하게 측정할 수 있는 평탄도 측정장치 및 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다. Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, to obtain the position information that the wave is generated by using a CCD camera and to move the laser rangefinder using the position information, respectively to obtain the flatness Accordingly, an object of the present invention is to provide a flatness measuring device and method capable of accurately measuring the flatness of a strip being rapidly transferred.
위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평탄도 측정장치는 스트립의 번호, 폭을 포함하는 각종 정보를 관리하는 스트립 정보관리부와, 이송되는 스트립의 표면에 조명을 조사하는 조명장치와, 이송되는 스트립의 표면을 촬상하여 스트립의 표면에 형성되는 웨이브를 촬상하는 CCD 카메라와, 스트립에 형성되는 웨이브의 크기에 따라 변화되는 거리를 감지하는 다수의 레이저 센서 및, 상기 다수의 레이저 센서를 이동시키는 모터 구동부를 포함한다. 또한, 본 발명은 상기 스트립의 이송길이에 따른 스트립의 위치를 측정하는 엔코더와, 상기 스트립 정보관리부에서 전송되는 정보에 따라 상기 모터 구동부를 제어하여 상기 다수의 레이저 센서의 위치를 조절하고, 상기 CCD 카메라에서 촬상한 영상을 통해 상기 모터 구동부를 제어하여 상기 다수의 레이저 센서의 위치를 조절하며, 상기 엔코더에서 측정한 스트립의 위치정보를 통해 스트립의 위치에 따른 웨이브를 정확하게 측정함으로써 평탄도를 측정하는 중앙처리장치를 포함한다. Flatness measuring apparatus of the present invention for achieving the above object is a strip information management unit for managing a variety of information, including the strip number, the width, the illumination device for irradiating the illumination of the surface of the strip to be transported, the strip being transported CCD camera for imaging the wave formed on the surface of the strip by imaging the surface of the plurality of laser sensors, a plurality of laser sensors for detecting a distance changed according to the size of the wave formed on the strip, and a motor driving unit for moving the plurality of laser sensors It includes. In addition, the present invention is an encoder for measuring the position of the strip according to the transport length of the strip, and control the motor drive in accordance with the information transmitted from the strip information management unit to adjust the position of the plurality of laser sensors, the CCD Adjusting the position of the plurality of laser sensors by controlling the motor driving unit through the image taken by the camera, and measuring the flatness by accurately measuring the wave according to the position of the strip through the position information of the strip measured by the encoder It includes a central processing unit.
또한, 본 발명의 평탄도 측정방법은, 이송될 스트립의 번호, 폭을 포함하는 각종 정보를 전송하는 단계와, 전송되는 스트립의 폭정보를 통해 스트립의 거리를 감지하는 다수의 레이저 센서의 초기위치를 설정하는 단계와, 스트립이 이송되면 이송되는 스트립의 이송거리를 연속적으로 측정하는 단계와, 상기 다수의 레이저 센서를 통해 스트립의 표면에 형성되는 웨이브의 크기에 따라 달라지는 스트립과의 거리를 측정함과 동시에 CCD 카메라를 통해 스트립의 영상을 취득하는 단계를 포함한다. 또한, 본 발명의 평탄도 측정방법은, 상기 CCD 카메라를 통해 취득된 영상 이미지를 통해 스트립에 형성되는 웨이브의 발생위치를 구하는 단계와, 상기 웨이브의 의 이미지 변화 여부를 판단하여 이미지 변화가 발생하면 각각의 레이저 센서를 새로운 위치로 이동시키고 그렇지 않으면 레이저 센서의 현 위치를 유지한 체 스트립에 형성되는 웨이브를 감지하여 평탄도를 측정하는 단계를 포함한다. In addition, the flatness measuring method of the present invention, the step of transmitting a variety of information including the number, the width of the strip to be transferred, the initial position of the plurality of laser sensors for detecting the distance of the strip through the width information of the transmitted strip The step of setting, and continuously measuring the transport distance of the strip to be transported when the strip is transported, and measuring the distance with the strip that depends on the size of the wave formed on the surface of the strip through the plurality of laser sensors And simultaneously acquiring an image of the strip through the CCD camera. In addition, the method of measuring the flatness of the present invention comprises the steps of obtaining the generation position of the wave formed on the strip through the image image acquired by the CCD camera, and if the image change occurs by determining whether the image of the wave changes Moving each laser sensor to a new position and otherwise detecting a wave formed in the sieve strip keeping the current position of the laser sensor to measure flatness.
아래에서, 본 발명에 따른 냉연 스트립의 평탄도 측정장치 및 방법의 양호한 실시예를 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명하겠다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the flatness measuring apparatus and method of the cold rolled strip according to the present invention will be described in detail.
도면에서, 도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 냉연 스트립의 평탄도 측정장치의 개략도이고, 도 4는 도 3에 도시된 평탄도 측정장치의 정면도이다. 그리고, 도 5는 도 3에 도시된 평탄도 측정장치의 측면도이고, 도 6은 본 발명에 따른 평탄도 측정방법의 흐름도이며, 도 7은 조명에 반사된 웨이브진 스트립을 CCD 카메라로 캡쳐한 이미지의 개략도이다. 3 is a schematic view of a flatness measuring apparatus of a cold rolled strip according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is a front view of the flatness measuring apparatus shown in FIG. And, Figure 5 is a side view of the flatness measuring device shown in Figure 3, Figure 6 is a flow chart of a flatness measuring method according to the invention, Figure 7 is an image captured by the CCD camera of the wavy strip reflected by the illumination Schematic diagram of.
도 3에 보이듯이, 본 발명의 냉연 스트립의 평탄도 측정장치는, 연속 소둔라인으로 들어오는 코일(스트립)들의 코일번호와, 폭, 두께 및 강종 등의 정보를 관리하는 코일 정보관리부(2)와, 이송되는 스트립의 표면을 촬상하여 스트립의 표면에 형성되는 웨이브를 촬상하는 CCD 카메라(4)와, 스트립의 표면에 조명을 조사하는 조명장치(5)와, 이송 중인 스트립의 평탄도를 측정하는 레이저 평탄도 측정장치(9)와, 이송되는 스트립의 위치를 측정하기 위한 엔코더(12)와, 주위 장치들과의 인터페이스 및 관련 프로그램을 실행시키는 중앙처리장치(7) 및, 레이저 평탄도 측정장치(9)내의 각각의 레이저 센서를 이동시키는 모터 구동부(8)로 구성되어 있다. As shown in Figure 3, the flatness measuring device of the cold rolled strip of the present invention, the coil information management unit (2) for managing the information, such as the coil number, the width, thickness and steel grade of the coils (strips) coming into the continuous annealing line and A CCD camera 4 for imaging the surface of the strip to be transported to photograph waves formed on the surface of the strip, an illumination device 5 for illuminating the surface of the strip, and measuring the flatness of the strip being transported. Laser flatness measuring device 9, encoder 12 for measuring the position of the strip to be conveyed, central processing unit 7 for executing an interface with peripheral devices and related programs, and laser flatness measuring device It consists of the motor drive part 8 which moves each laser sensor in (9).
도 4 및 도 5에 보이듯이, 상기 레이저 평탄도 측정장치(9)는 레이저 센서(18 ~ 24)가 설치되어 있는 상부 장치(13)와, 바닥에 고정되는 하부 장치(14)로 구성되어 있다. 상기 상부 장치(13)는 스테핑 모터(17)와 커플링(32) 및 볼 스크류(33)를 통해, 모터(17)쪽을 향해 가이드(15, 16)를 따라 전진 또는 후진할 수 있도록 구성되어 있다. 4 and 5, the laser flatness measuring device 9 is composed of an upper device 13 on which laser sensors 18 to 24 are installed, and a lower device 14 fixed to the floor. . The upper device 13 is configured to move forward or backward along the guides 15, 16 toward the motor 17, via a stepping motor 17, a coupling 32, and a ball screw 33. have.
그리고, 상부 장치(13)에 설치되는 레이저 센서는 상부쪽에 위치하는 레이저 센서(19, 21, 23)와 하부쪽에 위치하는 레이저 센서(18, 20, 22, 24)로 구분되는데, 상부쪽에 위치하는 레이저 센서(19, 21, 23)는 각각의 스테핑 모터(27)에 의해 상부 가이드(25)를 따라 각각 독립적으로 움직이고, 하부에 위치하는 레이저 센서(18, 20, 22, 24)는 각각의 스테핑 모터(28)에 의해 하부 가이드(26)를 따라 각각 독립적으로 움직이게 구성되어 있다. In addition, the laser sensor installed in the upper device 13 is divided into the laser sensor (19, 21, 23) located on the upper side and the laser sensor (18, 20, 22, 24) located on the lower side, The laser sensors 19, 21, 23 are moved independently along the upper guide 25 by respective stepping motors 27, and the lower laser sensors 18, 20, 22, 24 are each stepped. The motor 28 is configured to move independently of each other along the lower guide 26.
본 발명에 사용되는 스테핑 모터(27, 28)의 축에는 피니언(도시안됨)이 위치하고 가이드(25, 26)의 뒤쪽에는 랙(도시안됨)이 각각 설치되어 있으며, 이런 피니언과 랙을 통해 회전운동이 직선운동을 하게 된다. Pinions (not shown) are located on the shafts of the stepping motors 27 and 28 used in the present invention, and racks (not shown) are installed at the rear of the guides 25 and 26, respectively, and the rotary motions through the pinions and the racks. This is a linear motion.
그리고, 하부 장치(14)는 바닥과 체결되는 지지대(29, 30)와 베이스 프레임(31)으로 구성된다. In addition, the lower device 14 is composed of a support (29, 30) and the base frame 31 is fastened to the bottom.
그리고, 도 3에 보이듯이, 중앙처리장치(7)는 코일정보 전송라인(3)을 통해 코일 정보관리부(2)로부터 코일정보를 수신하는 통신카드(7a)와, 스트립 이미지 전송라인(6)을 통해 CCD 카메라(4)로부터 이미지를 전송받는 이미지 캡쳐 보드(7b)와, 레이저 측정신호 전송라인(10)을 통해 레이저 평탄도 측정장치(9)로부터 레이저 측정신호를 전송받는 A/D 보드(7c)와, 엔코더(12)의 신호를 전송받는 카운터 보드(7d)와, 각각의 스테핑 모터(17, 27, 28)를 컨트롤하는 모터 구동 보드(7e) 및, 전체적인 구동로직을 실행시키는 CPU 보드(7f)로 구성되어 있다. 3, the central processing unit 7 includes a communication card 7a for receiving coil information from the coil information management unit 2 through the coil information transmission line 3, and a strip image transmission line 6. An image capture board 7b receiving an image from the CCD camera 4 through the A / D board receiving a laser measurement signal from the laser flatness measuring apparatus 9 through the laser measurement signal transmission line 10 ( 7c), a counter board 7d for receiving signals from the encoder 12, a motor drive board 7e for controlling the respective stepping motors 17, 27, and 28, and a CPU board for executing the overall drive logic. It consists of 7f.
아래에서는, 앞서 설명한 바와 같이 구성된 본 발명의 냉연 스트립의 평탄도 측정장치의 작동관계를 상세히 설명하겠다. In the following, it will be described in detail the operation relationship of the flatness measuring device of the cold rolled strip of the present invention configured as described above.
도 3 및 도 6에 보이듯이, 용접기(1)를 통해 전후 코일의 용접이 완료되면, 코일 정보관리부(2)에서 각종 정보들(코일번호, 폭, 두께 및 강종 등등)을 인식함과 동시에, 이런 정보들은 코일정보 전송라인(3)을 통해 중앙처리장치(7)로 입력된다(S1). 그러면, 코일번호의 폴더가 생성되고, 레이저 평탄도 측정장치(9)에 각각 설치된 레이저 센서(18 ∼ 23)의 위치가 입력되는 코일의 폭정보에 따라 일정하게 이동하게 된다(S2). As shown in FIG. 3 and FIG. 6, when welding of the front and rear coils is completed through the welding machine 1, the coil information management unit 2 recognizes various types of information (coil number, width, thickness and steel grade, etc.), Such information is input to the CPU 7 through the coil information transmission line 3 (S1). Then, a folder of coil numbers is generated, and the positions of the laser sensors 18 to 23 respectively installed in the laser flatness measuring device 9 are constantly moved in accordance with the width information of the coil to be input (S2).
그리고, 용접기(1)에 의해 용접이 완료된 후에 스트립이 이동하기 시작하면(S3), 엔코더(12)가 작동하여 스트립의 이송거리를 계속 측정하게 된다(S4). 이렇게 엔코더(12)에 의해 측정된 거리정보는 스트립의 위치에 따른 품질정보관리를 위해 사용된다. When the strip starts to move after the welding is completed by the welder 1 (S3), the encoder 12 operates to continuously measure the transport distance of the strip (S4). The distance information measured by the encoder 12 is used for quality information management according to the position of the strip.
새로운 코일이 가이드 롤(11)을 지나는 시점이 되면, 레이저 평탄도 측정장치(9)에 각각 설치된 레이저 센서(18 ∼ 23)를 통해 스트립과의 거리측정이 시작됨과 동시에, CCD 카메라(4)로 스트립의 영상을 취득하게 된다(S5, S6). 여기서, 레이저 평탄도 측정장치(9)는 스트립의 표면에 형성되는 웨이브의 크기에 따라 그 측정거리가 달라지는 원리를 이용하여 평탄도를 측정하는 것이다. When the new coil passes the guide roll 11, the distance measurement with the strip is started through the laser sensors 18 to 23 respectively installed in the laser flatness measuring device 9, and the CCD camera 4 An image of the strip is acquired (S5, S6). Here, the laser flatness measuring device 9 measures flatness using the principle that the measurement distance varies depending on the size of the wave formed on the surface of the strip.
이렇게 CCD 카메라(4)를 통해 취득된 영상 이미지를 통해, 중앙처리장치(7)에서는 스트립에 형성되는 웨이브의 발생위치(X1, X2(도 7))를 구하고(S7), 이에 따라 웨이브의 전후 위치차(이미지 변화)가 있는지 여부를 판단한다(S8). 즉, 현재 측정하는 스트립의 폭방향의 전후 위치에 따른 이미지 변화의 여부를 판단한다. 이 때, 도 7에 보이듯이, 웨이브가 형성되지 않은 스트립은 조명빛이 균일하게 반사되고, 웨이브가 형성된 스트립은 웨이브에 의해 조명빛이 산란된다. 판단결과, 이미지 변화가 발생하면 모터 구동부(8)를 통해 각각의 레이저 센서를 새로운 위치로 이동시켜(S9, S10), 현 코일에 대한 작업이 완료될 때까지 평탄도를 측정한다(S12). 그러나, 이미지 변화가 없으면 레이저 센서의 현 위치를 유지하게 된다(S11). 이와 같은 과정을 통해 현재 코일에 대한 작업이 완료되면 스트립이 정지하여 용접기(1)를 통해 추후에 진입될 코일과 용접되어 다시 상기와 같은 과정을 되풀이하게 된다.Through the video image acquired by the CCD camera 4, the central processing unit 7 obtains the generation positions X1 and X2 (FIG. 7) of the wave formed on the strip (S7), and accordingly before and after the wave. It is determined whether there is a position difference (image change) (S8). That is, it is determined whether the image changes according to the front and rear positions in the width direction of the strip to be measured at present. At this time, as shown in Figure 7, the strip is not formed, the illumination light is uniformly reflected, the strip is formed, the wave is scattered illumination light by the wave. As a result of the determination, when an image change occurs, each laser sensor is moved to a new position through the motor driver 8 (S9 and S10), and the flatness is measured until the work on the current coil is completed (S12). However, if there is no image change to maintain the current position of the laser sensor (S11). When the work for the current coil is completed through the above process, the strip is stopped and welded to the coil to be entered later through the welding machine 1 to repeat the above process.
이 때, 레이저 센서의 위치선정은 CCD 카메라(4)를 통한 이미지 검출과 무관하게 수동조작으로 임의로 설정된 위치로의 이동도 가능하다. At this time, the position selection of the laser sensor can be moved to a position arbitrarily set by manual operation irrespective of the image detection through the CCD camera 4.
앞서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명의 냉연 스트립의 평탄도 측정장치는 연속 냉간압연을 통해 생산된 코일의 평탄도를 연속 소둔공정의 입측에서 온라인으로 측정함으로써, 제품의 품질정보를 보다 정확하고 빠르게 제공할 수 있다. As described in detail above, the flatness measuring apparatus of the cold rolled strip of the present invention measures the flatness of the coil produced through continuous cold rolling online at the entrance of the continuous annealing process, thereby providing more accurate and faster product quality information. Can be.
또한, 본 발명의 평탄도 측정장치를 통한 정보를 이용함으로써, 연속 냉간압연시 평탄도 제어성능을 보다 향상시킬 수 있다. In addition, by using the information through the flatness measuring device of the present invention, it is possible to further improve the flatness control performance during continuous cold rolling.
이상에서 본 발명의 냉연 스트립의 평탄도 측정장치 및 방법에 대한 기술사항을 첨부도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 가장 양호한 실시예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. Although the technical details of the flatness measuring apparatus and method of the cold rolled strip of the present invention have been described together with the accompanying drawings, this is only illustrative of the preferred embodiment of the present invention and not intended to limit the present invention.
또한, 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자이면 누구나 본 발명의 기술사상의 범주를 이탈하지 않는 범위내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다. In addition, it is obvious that any person skilled in the art can make various modifications and imitations without departing from the scope of the technical idea of the present invention.
도 1은 냉연 스트립의 평탄도가 불량한 경우를 도시한 도면이고, 1 is a view showing a case in which the flatness of the cold rolled strip is poor,
도 2는 냉연 스트립의 평탄도 측정방법을 설명하기 위한 도면이고, 2 is a view for explaining a method for measuring the flatness of the cold rolled strip,
도 3은 본 발명의 한 실시예에 따른 냉연 스트립의 평탄도 측정장치의 개략도이고, 3 is a schematic view of a flatness measuring apparatus of a cold rolled strip according to an embodiment of the present invention,
도 4는 도 3에 도시된 평탄도 측정장치의 정면도이고, 4 is a front view of the flatness measuring apparatus shown in FIG.
도 5는 도 3에 도시된 평탄도 측정장치의 측면도이고, 5 is a side view of the flatness measuring device shown in FIG.
도 6은 본 발명에 따른 평탄도 측정방법의 흐름도이며, 6 is a flowchart of a flatness measuring method according to the present invention;
도 7은 조명에 반사된 웨이브진 스트립을 CCD 카메라로 캡쳐한 이미지의 개략도이다. 7 is a schematic diagram of an image captured by a CCD camera of a wavy strip reflected by illumination.
♠ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ♠ ♠ Explanation of symbols on the main parts of the drawing ♠
1 : 용접기 2 : 코일 정보관리부1: welding machine 2: coil information management unit
3 : 코일정보 전송라인 4 : CCD 카메라3: coil information transmission line 4: CCD camera
5 : 조명장치 6 : 스트립 이미지 전송라인5: lighting device 6: strip image transmission line
7 : 중앙처리장치 8 : 모터 구동부7 central processing unit 8 motor drive unit
9 : 레이저 평탄도 측정장치 10 : 레이저 측정신호 전송라인9: Laser flatness measuring device 10: Laser measurement signal transmission line
11 : 가이드 롤 12 : 엔코더11: guide roll 12: encoder
13 : 상부 장치 14 : 하부 장치13: upper device 14: lower device
15, 16, 25, 26 : 가이드 17, 27, 28 : 스테핑 모터15, 16, 25, 26: guide 17, 27, 28: stepping motor
18 ∼ 23 : 레이저 센서 29, 30 : 하부 지지대18-23: laser sensor 29, 30: lower support stand
31 : 베이스 프레임 31: base frame
Claims (3)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0080026A KR100495125B1 (en) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | Apparatus and method for measuring flatness of cold strip |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0080026A KR100495125B1 (en) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | Apparatus and method for measuring flatness of cold strip |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20020050842A KR20020050842A (en) | 2002-06-28 |
| KR100495125B1 true KR100495125B1 (en) | 2005-06-14 |
Family
ID=27684445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0080026A KR100495125B1 (en) | 2000-12-22 | 2000-12-22 | Apparatus and method for measuring flatness of cold strip |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100495125B1 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN107576287A (en) * | 2017-09-27 | 2018-01-12 | 江苏杰士德精密工业有限公司 | Mobile phone battery cover flatness detecting device |
| CN113714794B (en) * | 2021-08-03 | 2022-12-13 | 哈尔滨工程大学 | Ultrasonic wave-based automatic measurement and adjustment device and method for pose of precision part |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20020050842A (en) | 2002-06-28 |
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|
| FPAY | Annual fee payment |
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|
| FPAY | Annual fee payment |
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