KR100481435B1 - Method of measuring insulation resistance and apparatus thereof - Google Patents

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KR100481435B1 KR10-2000-0050096A KR20000050096A KR100481435B1 KR 100481435 B1 KR100481435 B1 KR 100481435B1 KR 20000050096 A KR20000050096 A KR 20000050096A KR 100481435 B1 KR100481435 B1 KR 100481435B1
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Abstract

전력 공급 계통의 어스 및 전원 사이에 설치되어 전력 계통의 절연 저항을 측정하는 방법 및 이를 실행하는 장치가 개시되어 있다. 방법은 a) AC 라인을 흐르는 전류를 샘플링하는 단계; b) 단계 a)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전류값을 연산하는 단계; c) 상기 AC 라인을 흐르는 전류의 평균값을 연산하는 단계; d) 단계 b)에 의한 영 전류값 및 단계 c)에 의해 연산된 평균 전류 값을 기초로 유효 전류값을 연산하는 단계; e) 상기 AC 라인의 전압을 샘플링하는 단계; f) 단계 e)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전압값을 연산하는 단계; g) 상기 AC 라인에 인가되는 전압의 평균 전압값을 연산하는 단계; h) 단계 f)에 의한 영 전압값 및 단계 g)에 의해 검출된 평균 전압값을 기초로 유효 전압값을 연산하는 단계; 및 i) 단계 d)에 의한 상기 유효 전류값 및 단계 h)에 의한 상기 유효 전압값을 기초로 절연 저항을 연산하는 단계로 구성되어, 전원을 오프시키지 않고 절연 저항을 측정할 수 있다.Disclosed are a method for measuring insulation resistance of a power system installed between the earth and the power supply of a power supply system and an apparatus for performing the same. The method includes a) sampling a current flowing through an AC line; b) calculating a zero current value based on the sampling values of step a); c) calculating an average value of current flowing through the AC line; d) calculating an effective current value based on the zero current value obtained in step b) and the average current value calculated in step c); e) sampling the voltage of said AC line; f) calculating a zero voltage value based on the sampling values of step e); g) calculating an average voltage value of the voltages applied to the AC line; h) calculating an effective voltage value based on the zero voltage value according to step f) and the average voltage value detected by step g); And i) calculating an insulation resistance based on the effective current value in step d) and the effective voltage value in step h), so that the insulation resistance can be measured without turning off the power supply.

Description

절연 저항 측정 방법 및 그 장치{Method of measuring insulation resistance and apparatus thereof}Method of measuring insulation resistance and apparatus thereof

본 발명은 절연 저항 측정 방법 및 그 장치에 관하는 것으로 특히, 전력 공급 계통의 어스 및 전원 사이에 설치되어 전력 계통의 절연 저항을 측정하는 방법 및 이를 실행하는 장치에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to a method and an apparatus for measuring insulation resistance, and more particularly, to a method for measuring insulation resistance of a power system installed between an earth and a power supply of a power supply system and an apparatus for performing the same.

종래에는 절연 저항을 측정하기 위해서는 전원을 오프시키고, 휴대용 절연 저항 개조 어스 및 전원 사이의 단자를 접속시켜 절연 저항을 측정해야만 했다. 따라서, 전원이 온된 상태에서 절연 저항을 측정할 수 없어 반드시 전원을 오프시켜야 함에 따라 절연 저항을 연속적으로 측정하기 어려웠다.Conventionally, in order to measure insulation resistance, the power supply was turned off, and the insulation resistance was measured by connecting a terminal between the portable insulation resistance retrofit earth and the power supply. Therefore, since the insulation resistance cannot be measured while the power is on, it is difficult to continuously measure the insulation resistance as the power must be turned off.

이에, 본 발명은 상기한 사정을 감안하여 창출된 것으로, 본 발명의 목적은 전원을 오프하지 않고 전력 계통의 저항을 측정할 수 있는 방법 및 이를 실행할 수 있는 장치를 제공하는 것이다. Accordingly, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method capable of measuring the resistance of a power system without turning off the power, and an apparatus capable of performing the same.

상기 목적을 실현하기 위한 본 발명의 제1 관점에 따른 절연 저항 측정 방법은 a) AC 라인을 흐르는 전류를 샘플링하는 단계; b) 단계 a)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전류값을 연산하는 단계; c) 상기 AC 라인을 흐르는 전류의 평균값을 연산하는 단계; d) 단계 b)에 의한 영 전류값 및 단계 c)에 의해 연산된 평균 전류 값을 기초로 유효 전류값을 연산하는 단계; e) 상기 AC 라인의 전압을 샘플링하는 단계; f) 단계 e)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전압값을 연산하는 단계; g) 상기 AC 라인에 인가되는 전압의 평균 전압값을 연산하는 단계; h) 단계 f)에 의한 영 전압값 및 단계 g)에 의해 검출된 평균 전압값을 기초로 유효 전압값을 연산하는 단계; 및 i) 단계 d)에 의한 상기 유효 전류값 및 단계 h)에 의한 상기 유효 전압값을 기초로 절연 저항을 연산하는 단계를 포함한다. Insulation resistance measuring method according to a first aspect of the present invention for achieving the above object comprises the steps of: a) sampling a current flowing through the AC line; b) calculating a zero current value based on the sampling values of step a); c) calculating an average value of current flowing through the AC line; d) calculating an effective current value based on the zero current value obtained in step b) and the average current value calculated in step c); e) sampling the voltage of said AC line; f) calculating a zero voltage value based on the sampling values of step e); g) calculating an average voltage value of the voltages applied to the AC line; h) calculating an effective voltage value based on the zero voltage value according to step f) and the average voltage value detected by step g); And i) calculating an insulation resistance based on the effective current value in step d) and the effective voltage value in step h).

본 발명의 제2 관점에 따른 절연 저항 측정 장치는 AC 라인을 흐르는 전류를 샘플링하기 위한 제1 수단; 상기 샘플링 수단에 의한 샘플링 전류값들을 기초로 영 전류값을 연산하기 위한 제2 수단; 상기 AC 라인을 흐르는 전류의 평균값을 연산하기 위한 제3 수단; 상기 제2 및 제3 수단으로부터의 영 전류값 및 평균 전류 값을 기초로 유효 전류값을 연산하기 위한 제4 수단; 상기 AC 라인의 전압을 샘플링하기 위한 제5 수단; 상기 제5 수단으로부터의 샘플링 전압값들을 기초로 영 전압값을 연산하기 위한 제6 수단; 상기 AC 라인에 인가되는 전압의 평균 전압값을 연산하기 위한 제7 수단; 상기 제6 및 제7 수단으로부터의 영 전압값 및 평균 전압값을 기초로 유효 전압값을 연산하기 위한 제8 수단; 및 상기 제4 수단으로부터의 유효 전류값 및 제8 수단으로부터의 유효 전압값을 기초로 절연 저항을 연산하기 위한 제9 수단으로 구성된다.An insulation resistance measuring apparatus according to a second aspect of the present invention includes: first means for sampling a current flowing through an AC line; Second means for calculating a zero current value based on sampling current values by said sampling means; Third means for calculating an average value of the current flowing through the AC line; Fourth means for calculating an effective current value based on a zero current value and an average current value from the second and third means; Fifth means for sampling the voltage of the AC line; Sixth means for calculating a zero voltage value based on sampling voltage values from said fifth means; Seventh means for calculating an average voltage value of the voltage applied to the AC line; Eighth means for calculating an effective voltage value based on the zero voltage value and the average voltage value from the sixth and seventh means; And ninth means for calculating the insulation resistance based on the effective current value from the fourth means and the effective voltage value from the eighth means.

본 발명에 의하면, 전력 공급라인을 통과하는 전류 및 전압을 샘플링하여 이를 기초로 절연 저항을 측정하므로써, 전원을 오프시키지 않고 절연 저항을 측정할 수 있다.According to the present invention, the insulation resistance can be measured without turning off the power supply by sampling the current and voltage passing through the power supply line and measuring the insulation resistance based on this.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 통해 본 발명을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 절연 저항 측정 장치를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating an insulation resistance measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 계기용 변류기(110), 계기용 변압기(120), 렌지 유니트(130), 다중화기(140), A/D 컨버터(150), 마이크로컴퓨터(160), 통신 유니트(170), 및 디스플레이(180)를 포함한다. Referring to FIG. 1, an instrument current transformer 110, an instrument transformer 120, a stove unit 130, a multiplexer 140, an A / D converter 150, a microcomputer 160, and a communication unit 170 ), And display 180.

상기 계기용 변류기(110)는 부하(11)와 전력 소스(도시하지 않음)를 전기적으로 연결하는 R, S, 및 T상 라인들을 흐르는 전류들 각각 검출하고, 검출된 R, S, 및 T상 검출 전류들을 상기 렌지 유니트(130)에 제공한다.The instrument current transformer 110 detects currents flowing through R, S, and T phase lines electrically connecting the load 11 and a power source (not shown), respectively, and detects the detected R, S, and T phases. The detection currents are provided to the range unit 130.

상기 계기용 변압기(120)는 상기 R, S, 및 T상 라인들 각각에 인가된 전압들을 검출하고 검출된 R, S, 및 T상 검출 전압을 상기 상기 렌지 유니트(130)에 제공한다.The instrument transformer 120 detects voltages applied to each of the R, S, and T phase lines and provides the detected R, S, and T phase detection voltages to the stove unit 130.

상기 렌지 유니트(130)는 상기 마이크로컴퓨터(160)로부터의 렌지 제어 신호에 따라 상기 계기용 변류기(110)로부터의 상기 R, S, 및 T상 검출 전류들 및 상기 계기용 변압기(120)로부터의 R, S, 및 T상 검출 전류들의 렌지를 조절하고, 상기 조절된 R, S, 및 T상 검출 전류 및 전압들을 상기 다중화기(140)에 제공한다.The range unit 130 receives the R, S, and T phase detection currents from the instrument current transformer 110 and the instrument transformer 120 according to the range control signal from the microcomputer 160. A range of R, S, and T phase detection currents is adjusted, and the adjusted R, S, and T phase detection currents and voltages are provided to the multiplexer 140.

상기 다중화기(140)는 상기 마이크로컴퓨터(160)으로부터의 선택 제어 신호에 따라 상기 렌지 유니트로부터 상기 R, S 및 T상 라인들의 검출 전류들 및 전압들을 선택적으로 상기 A/D 컨버터(150)에 제공한다.The multiplexer 140 selectively transmits detection currents and voltages of the R, S, and T phase lines from the range unit to the A / D converter 150 according to a selection control signal from the microcomputer 160. to provide.

상기 A/D 컨버터(150)는 상기 마이크로컴퓨터(160)의 샘플링 제어 신호에 응답하여 상기 다중화기(140)로부터의 전류 또는 전압을 샘플링하고, 샘플링된 신호를 A/D 변환하여 상기 마이크로컴퓨터(160)에 제공한다.The A / D converter 150 samples a current or voltage from the multiplexer 140 in response to a sampling control signal of the microcomputer 160, and A / D converts the sampled signal to perform the microcomputer ( 160).

상기 마이크로컴퓨터(160)는 키패드(190)로부터의 키 입력 신호에 따라 상기 렌지 제어 신호, 상기 선택 제어 신호, 및 샘플링 제어 신호를 발생시키고, 상기 A/D 컨버터(150)로부터의 샘플링 전압값들 및 샘플링 전류값들을 기초로 상기 R, S, 및 T상 라인들 각각의 절연 저항값들을 연산한다. 또한, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 연산된 R, S, 및 T상 라인들의 절연 저항값들을 상기 통신 유니트(170)에 제공하며, 상기 연산된 R, S, 및 T상 라인들의 절연 저항값들을 상기 디스플레이(180)를 통해 표시할 수 있다.The microcomputer 160 generates the range control signal, the selection control signal, and the sampling control signal according to a key input signal from the keypad 190, and samples the sampling voltage values from the A / D converter 150. And insulation resistance values of each of the R, S, and T phase lines are calculated based on sampling current values. In addition, the microcomputer 160 provides the calculated insulation resistance values of the R, S, and T phase lines to the communication unit 170, and calculates the insulation resistance values of the calculated R, S, and T phase lines. These may be displayed on the display 180.

바람직하게는, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 샘플링 전압값들 및 샘플링 전류값들을 기초로 유효 전압값 및 유효 전류값을 구한 후, 상기 유효 전압값 및 유효 전류값으로부터 상기 절연 저항값을 연산한다.Preferably, the microcomputer 160 obtains an effective voltage value and an effective current value based on the sampling voltage values and sampling current values, and then calculates the insulation resistance value from the effective voltage value and the effective current value. .

바람직하게는, 상기 유효 전압 값 Vav은 다음의 식(1)과 같이 연산된다.Preferably, the effective voltage value V av is calculated as in the following equation (1).

(1), (One),

상기 식(1)에서, Save-Value는 소정의 교정값이다.In Equation (1), Save-Value is a predetermined calibration value.

바람직하게는, 상기 평균 전압값 Va은 다음의 식(2)와 같이 연산된다.Preferably, the average voltage value V a is calculated as in the following equation (2).

(2), (2),

상기 식(2)에서, v(t)i는 i번째 순시 전압값, t=iT, i는 1부터 n까지, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Vzero는 상기 영 전압값이다.In Equation (2), v (t) i is an i-th instantaneous voltage value, t = iT, i is 1 to n, T is a sampling period, n is a sampling frequency, and V zero is the zero voltage value.

바람직하게는, 상기 영 전압값 Vzero는 다음의 식(3)과 같이 연산된다.Preferably, the zero voltage value V zero is calculated as in the following equation (3).

(3) (3)

상기 식(3)에서, Vi는 i번째 샘플링 전압값이고, n은 샘플링 횟수이다.In Equation (3), V i is an i-th sampling voltage value and n is a sampling number.

바람직하게는, 상기 유효 전류 값 Iav은 다음의 식(4)와 같이 연산된다.Preferably, the effective current value I av is calculated as in the following equation (4).

(4) (4)

상기 식(4)에서, Save-Value는 소정의 교정값이다.In Equation (4), Save-Value is a predetermined calibration value.

바람직하게는, 상기 평균 전류값 Ia은 다음의 식(5)와 같이 연산된다.Preferably, the average current value I a is calculated as in the following equation (5).

(5) (5)

상기 식(5)에서, i(t)i는 i번째 순시 전류값, t=iT, i는 1부터 n까지, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Izero는 상기 제로 전류값이다.In Equation (5), i (t) i is an i-th instantaneous current value, t = iT, i is 1 to n, T is a sampling period, n is a sampling frequency, and I zero is the zero current value.

상기 영 전류값 Izero는 다음의 식(6)과 같이 연산된다.The zero current value I zero is calculated as in Equation (6) below.

(6) (6)

여기서, Ii는 i번째 샘플링 전류값이고, n은 샘플링 횟수이다.Where I i is the i-th sampling current value and n is the number of sampling times.

상기 통신 유니트(170)는 상기 마이크로컴퓨터(160)으로부터의 데이터를 통상의 통신 네트워크 예컨데, 인터넷 또는 PSTN을 통해 외부로 전송한다.The communication unit 170 transmits data from the microcomputer 160 to the outside via a conventional communication network, for example, the Internet or a PSTN.

상기 디스플레이(180)는 상기 마이크로컴퓨터(190)의 제어하에 본 장치의 제어 상태 및 키패드(190)에 의한 입력들을 표시한다.The display 180 displays the control status of the device and the inputs by the keypad 190 under the control of the microcomputer 190.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 상기 구성으로된 절연 저항 측정 장치를 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, an insulation resistance measuring apparatus having the above configuration will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 도 1에 도시된 절연 저항 장치의 마이크로컴퓨터(160)의 전반적인 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating the overall operation of the microcomputer 160 of the insulation resistance device shown in FIG. 1.

먼저 도 2를 참조하면, 본 장치를 파워 온하는 경우, 마이크로컴퓨터(160)의 MPU(161)는 초기화되고, EEPROM(163)으로부터 초기 데이터를 독출한다(S201, S202, S203).First, referring to FIG. 2, when the apparatus is powered on, the MPU 161 of the microcomputer 160 is initialized and reads initial data from the EEPROM 163 (S201, S202, S203).

이어, 상기 MPU(161)는 상기 EEPROM(163)로부터의 초기 데이터가 정상인 경우, RAM(162)에 초기치를 저장한다. 이와는 달리, 상기 EEPROM(163)에 저장된 데이터가 비정상인 경우, 상기 MPU(161)는 상기 EEPROM(163)에 초기 데이터를 기록한다(S204, S205, S206).Subsequently, when the initial data from the EEPROM 163 is normal, the MPU 161 stores the initial value in the RAM 162. On the contrary, when the data stored in the EEPROM 163 is abnormal, the MPU 161 writes initial data to the EEPROM 163 (S204, S205, S206).

이어, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 디스플레이(180)를 초기화한 다음, 메인 루프 과정을 진행한다(S207, S208).Subsequently, the microcomputer 160 initializes the display 180 and then proceeds with a main loop process (S207 and S208).

도 3은 도 2에 도시된 메인 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of the main routine shown in FIG. 2.

도 3을 참조하면, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 와치 독(watch dog) 신호를 발생시키고, 상기 발생되는 와치 독 신호를 카운트하여 이 후에 상세히 설명하게 될 A/D 루프 과정을 수행한다(S211, S212).Referring to FIG. 3, the microcomputer 160 generates a watch dog signal, counts the generated watch dog signal, and performs an A / D loop process which will be described later in detail (S211, S212).

A/D 루프 과정을 완료하는 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 A/D 루프 과정에 의해 발생되는 샘플링 값들을 기초로, 각종 연산 처리 과정을 이행한다(S213).When the A / D loop process is completed, the microcomputer 160 performs various arithmetic processing processes based on the sampling values generated by the A / D loop process (S213).

이어, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 키 스캐닝 루틴 과정을 이행하여, 키패드(190)에 의해 설정된 킷값들에 따라 데이터를 처리하며, 그 결과를 디스플레이(180)를 통해 표시 및 상기 통신 유니트(170)를 통해 외부에 제공한다(S214, S215, S216, S217).Subsequently, the microcomputer 160 performs a key scanning routine to process data according to kit values set by the keypad 190, and displays the result on the display 180 and the communication unit 170. It is provided to the outside through (S214, S215, S216, S217).

도 4는 도 3에 도시된 A/D 루프의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.4 is a flowchart for explaining an example of the A / D loop shown in FIG. 3.

도 4를 참조하면, 상기 A/D 루프가 시작되는 경우, 마이크로컴퓨터(160)는 버퍼(도시하지 않음)를 클리어하고, 타미머를 구동시킨다(S221).Referring to FIG. 4, when the A / D loop starts, the microcomputer 160 clears a buffer (not shown) and drives the timer (S221).

상기 타이머가 인터럽트 걸리는 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 다중화기(140)을 통해 Z-CT 전류를 선택하고, 상기 A/D 컨버터(150)를 온시킨다(S222, S223).When the timer is interrupted, the microcomputer 160 selects a Z-CT current through the multiplexer 140 and turns on the A / D converter 150 (S222 and S223).

그러면, 상기 A/D 컨버터(150)는 상기 마이크로컴퓨터(160)의 제어에 따라 상기 다중화기(140)으로부터의 검출 전류를 샘플링하여 A/D 변환한다(S224, S225).Then, the A / D converter 150 samples the detected current from the multiplexer 140 and performs A / D conversion under the control of the microcomputer 160 (S224 and S225).

상기 샘플링이 소정 횟수 예컨데, 60Hz에서 6주기 및 50Hz에서 5주기 읽는 경우 즉, 상기 샘프링이 완료되는 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 전류의 샘플링을 완료하고, 전압을 선택하게 된다(S226, S227).When the sampling is a predetermined number of times, for example, reading 6 cycles at 60 Hz and 5 cycles at 50 Hz, that is, the sampling is completed, the microcomputer 160 completes sampling of the current and selects a voltage (S226 S227).

그러면, 상기 A/D 컨버터(150)는 상기 마이크로컴퓨터(160)의 제어에 따라 상기 다중화기(140)으로부터의 검출 전압을 샘플링하여 A/D 변환한다(S228, S229).Then, the A / D converter 150 samples the detected voltage from the multiplexer 140 and performs A / D conversion under the control of the microcomputer 160 (S228 and S229).

상기 전압 샘프링 과정이 완료되는 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 상기 연산 루프 과정으로 진행하게 된다(S230, S231).When the voltage sampling process is completed, the microcomputer 160 proceeds to the operation loop process (S230 and S231).

도 5는 도 3에 도시된 키 스켄닝 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 5 is a flowchart for explaining an example of the key scanning routine shown in FIG. 3.

키 스케닝 루틴이 시작되는 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 복귀 라인을 연속 2회 독출하고, 2회 독출한 값들이 동일한지를 판단한다(S241, S242).When the key scanning routine is started, the microcomputer 160 reads the return line twice consecutively and determines whether the values read twice are the same (S241 and S242).

상기 독출한 값들이 동일한 경우, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 현재의 스케닝한 행에 묶인 키가 있는지를 판단하고, 묶인 키가 있는 경우, 키 플래그 레지스터로 "1"을 전환하고, 이 키의 키값을 해독한다(S243. S244, S245).If the read values are the same, the microcomputer 160 determines whether there is a bound key in the current scanned row, and if there is a bound key, switches the " 1 " (S243. S244, S245).

상기 해독한 키가 2번째 스캐닝한 것인지를 판단하고, 2번째 스캐닝한 것이 아닌 경우, 독출한 키값을 키 코드에 넣는다. 이와는 달리, 2번째 스캐닝한 것인 경우, 이 키가 기존의 키값과 동일한지를 판단하고, 아닌 경우 킷값을 키코드에 입력한다. 상기 키가 기존의 키 값과 동일한 경우, 키 버퍼가 비어 있으면, 키 값을 키 버퍼 및 기존 키에 입력한 다음 키 프레그가 "000H"인지를 판단한다. 키 프레그가 "000H"인 경우, "FFH"를 기존 키 값으로 설정한다(S246, S247, S248, S249, S250, S251).It is determined whether the decrypted key is the second scan, and if it is not the second scan, the read key value is put in the key code. On the other hand, in the case of the second scanning, it is determined whether the key is the same as the existing key value, and if not, the kit value is input to the key code. If the key is equal to the existing key value, if the key buffer is empty, the key value is input to the key buffer and the existing key, and then it is determined whether the keypreg is "000H". When the key flag is "000H", "FFH" is set to an existing key value (S246, S247, S248, S249, S250, S251).

또한, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 단계 S243에서 현재의 스케닝한 행에 묶인 키가 있는 경우, 키 프레그 레지스터로 "0"을 전환한다(S253).In addition, when there is a key bound to the current scanned row in step S243, the microcomputer 160 switches "0" to the key preg register (S253).

도 6은 도 3에 도시된 연산 처리 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 6 is a flowchart for explaining an example of an arithmetic processing routine shown in FIG. 3.

도 6을 참조하면, 상기 A/D 루프 과정에 따라 샘플링된 전류 및 전압 값들은 상기 RAM(162)에 저장되고, 일정 횟수 샘플링되는 경우, 마이크로컴퓨터는 RAM(162)에 있는 샘플링 전류 값들을 기초로 영 전류값 Izero을 상기 식(6)과 같이 연산한다(S271, S272).Referring to FIG. 6, current and voltage values sampled according to the A / D loop process are stored in the RAM 162, and when sampled a predetermined number of times, the microcomputer based on the sampling current values in the RAM 162. The zero current value I zero is calculated as in Equation (6) (S271, S272).

영 전류 값을 구한 후, 마이크로컴퓨터(160)는 상기 샘플링 전류 값들 및 영 전류값 Izero을 기초로 식 (5)와 같이, 평균 전류값을 연산한다(S273).After obtaining the zero current value, the microcomputer 160 calculates an average current value as shown in Equation (5) based on the sampling current values and the zero current value I zero (S273).

이어, 마이크로컴퓨터(160)는 상기 영 전류값 및 상기 평균 전류 값을 기초로 식 (4)와 같이 유효 전류값을 연산한다(S274).Subsequently, the microcomputer 160 calculates an effective current value as shown in Equation (4) based on the zero current value and the average current value (S274).

이어, 마이크로컴퓨터(160)은 상기 RAM(162)에 저장된 샘플링 전압 값을 읽고, 샘플링 전압 값들을 기초로 식 (3)과 같이, 영 전압 값을 연산한다(S275, S276).Subsequently, the microcomputer 160 reads the sampling voltage value stored in the RAM 162 and calculates a zero voltage value as shown in Equation (3) based on the sampling voltage values (S275 and S276).

영 전압값을 연산한 다음, 상기 마이크로컴퓨터(160)는 샘플링 전압 값들 및 영 전압 값을 기초로 식(2)와 같이, 평균 전압값을 연산한다(S277).After calculating the zero voltage value, the microcomputer 160 calculates an average voltage value as shown in Equation (2) based on the sampling voltage values and the zero voltage value (S277).

이어, 마이크로컴퓨터(160)는 평균 전압 값을 기초로 식 (1)과 같이, 유효 전압 값을 연산하고, 상기 유효 전류 값 및 유효 전압값을 기초로 유효 전력 및 절연 저항 값을 연산한다(S278, S279, S280).Subsequently, the microcomputer 160 calculates an effective voltage value based on the average voltage value, and calculates an effective power and insulation resistance value based on the effective current value and the effective voltage value (S278). , S279, S280).

이상, 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전원을 오프하지 않고 전력 계통의 저항을 측정할 수 있는 방법 및 이를 실행할 수 있는 장치를 실현할 수 있게 된다.As described above, according to the present invention, it is possible to realize a method capable of measuring the resistance of a power system and a device capable of performing the same without turning off the power supply.

본 발명을 상기 실시 예에 의해 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 이에 의해 제한되는 것은 아니고, 당업자의 통상적인 지식의 범위 내에서 그 변형이나 개량이 가능하다.Although the present invention has been described in detail by the above embodiments, the present invention is not limited thereto, and variations and improvements can be made without departing from the ordinary knowledge of those skilled in the art.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 절연 저항 측정 장치를 도시한 도면이다.1 is a diagram illustrating an insulation resistance measuring apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 도 1에 도시된 절연 저항 장치의 마이크로컴퓨터(160)의 전반적인 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 2 is a flowchart illustrating the overall operation of the microcomputer 160 of the insulation resistance device shown in FIG. 1.

도 3은 도 2에 도시된 메인 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of the main routine shown in FIG. 2.

도 4는 도 3에 도시된 A/D 루프의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.4 is a flowchart for explaining an example of the A / D loop shown in FIG. 3.

도 5는 도 3에 도시된 키 스켄닝 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 5 is a flowchart for explaining an example of the key scanning routine shown in FIG. 3.

도 6은 도 3에 도시된 연산 처리 루틴의 일 예를 설명하기 위한 흐름도이다.FIG. 6 is a flowchart for explaining an example of an arithmetic processing routine shown in FIG. 3.

〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉<Explanation of symbols for main parts of drawing>

110: 계기용 변류기 120: 계기용 변압기110: current transformer 120: instrument transformer

130: 렌지 유니트 140: 다중화기130: range unit 140: multiplexer

150: A/D 컨버터 160: 마이크로컴퓨터150: A / D converter 160: microcomputer

170: 통신 유니트 180: 디스플레이170: communication unit 180: display

190: 키패드190: keypad

Claims (24)

a) AC 라인을 흐르는 전류를 샘플링하는 단계;a) sampling the current flowing through the AC line; b) 단계 a)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전류값을 연산하는 단계;b) calculating a zero current value based on the sampling values of step a); c) 상기 AC 라인을 흐르는 전류의 평균값을 연산하는 단계;c) calculating an average value of current flowing through the AC line; d) 단계 b)에 의한 영 전류값 및 단계 c)에 의해 연산된 평균 전류 값을 기초로 유효 전류값을 연산하는 단계;d) calculating an effective current value based on the zero current value obtained in step b) and the average current value calculated in step c); e) 상기 AC 라인의 전압을 샘플링하는 단계;e) sampling the voltage of said AC line; f) 단계 e)에 의한 샘플링 값들을 기초로 영 전압값을 연산하는 단계;f) calculating a zero voltage value based on the sampling values of step e); g) 상기 AC 라인에 인가되는 전압의 평균 전압값을 연산하는 단계;g) calculating an average voltage value of the voltages applied to the AC line; h) 단계 f)에 의한 영 전압값 및 단계 g)에 의해 검출된 평균 전압값을 기초로 유효 전압값을 연산하는 단계; 및h) calculating an effective voltage value based on the zero voltage value according to step f) and the average voltage value detected by step g); And i) 단계 d)에 의한 상기 유효 전류값 및 단계 h)에 의한 상기 유효 전압값을 기초로 절연 저항을 연산하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.i) calculating an insulation resistance based on the effective current value in step d) and the effective voltage value in step h). 제1 항에 있어서, 상기 영 전류값 IzeroThe method of claim 1, wherein the zero current value I zero is 이고, ego, 여기서, Ii는 i번째 샘플링 전류값이고, n은 샘플링 횟수인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Wherein I i is the i-th sampling current value and n is the number of sampling times. 제1 항 또는 제2 항에 있어서, 상기 평균 전류값 IaThe method according to claim 1 or 2, wherein the average current value I a is 이고, ego, 여기서, i(t)i는 i번째 순시 전류값, t=iT, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Izero는 상기 제로 전류값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Wherein i (t) i is an i-th instantaneous current value, t = iT, T is a sampling period, n is a sampling frequency, and I zero is the zero current value. 제1 항에 있어서, 상기 유효 전류 값 IavThe method of claim 1, wherein the effective current value I av is 이고, ego, 여기서, Save-Value는 소정의 교정값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Here, Save-Value is an insulation resistance measurement method, characterized in that the predetermined calibration value. 제1 항에 있어서, 상기 영 전압값 VzeroThe method of claim 1, wherein the zero voltage value V zero is 이고, ego, 여기서, Vi는 i번째 샘플링 전압값이고, n은 샘플링 횟수인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Here, V i is the i-th sampling voltage value, n is the number of sampling times, the insulation resistance measuring method. 제1 항 또는 제5 항에 있어서, 상기 평균 전압값 VaThe method according to claim 1 or 5, wherein the average voltage value V a is 이고, ego, 여기서, v(t)i는 i번째 순시 전압값, t=iT, i는 1부터 n까지, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Vzero는 상기 영 전압값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Where v (t) i is the i-th instantaneous voltage value, t = iT, i is 1 to n, T is the sampling period, n is the number of sampling, and V zero is the zero voltage value How to measure. 제1 항에 있어서, 상기 유효 전압 값 VavThe method of claim 1, wherein the effective voltage value V av is 이고, ego, 여기서, Save-Value는 소정의 교정값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 방법.Here, Save-Value is an insulation resistance measurement method, characterized in that the predetermined calibration value. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete R, S, 및 T상 라인들을 흐르는 전류들을 검출하기 위한 계기용 변류기;An instrument current transformer for detecting currents flowing through the R, S, and T phase lines; 상기 R, S, 및 T상 라인들의 전압을 검출하기 위한 계기용 변압기;An instrument transformer for detecting voltages of the R, S, and T phase lines; 렌지 제어 신호에 따라 상기 계기용 변류기 및 상기 계기용 변압기의 렌지를 각각 제어하기 위한 렌지 유니트;A stove unit for controlling the range of the instrument current transformer and the instrument transformer in accordance with a range control signal; 선택 제어 신호에 따라 상기 렌지 유니트로부터 상기 R, S 및 T상 라인들의 검출 전류들 및 검출 전압들을 선택적으로 다중화기;Selectively multiplexing the detected currents and the detected voltages of the R, S and T phase lines from the range unit in accordance with a selection control signal; 상기 다중화기로부터의 검출 전압 또는 전류를 샘플링하여 A/D 변환하기 위한 A/D 컨버터;An A / D converter for sampling and detecting the detected voltage or current from the multiplexer; 입력되는 데이터를 외부로 전송하기 위한 통신 유니트; 및Communication unit for transmitting the input data to the outside; And 상기 렌지 제어 신호 및 상기 선택 제어 신호를 발생시키고, 상기 A/D 컨버터로부터의 샘플링 전압값들 및 샘플링 전류값들을 기초로 상기 R, S, 및 T상 라인들 각각의 절연 저항값들을 연산하고, 상기 R, S, 및 T상 라인들의 절연 저항값들을 상기 통신 유니트에 제공하기 위한 마이크로컴퓨터로 구성되는 것을 특징으로 절연 저항 측정 장치.Generate the range control signal and the selection control signal, calculate insulation resistance values of each of the R, S, and T phase lines based on sampling voltage values and sampling current values from the A / D converter, And a microcomputer for providing the insulation resistance values of the R, S, and T phase lines to the communication unit. 제17 항에 있어서, 상기 마이크로컴퓨터는 상기 샘플링 전압값들 및 샘플링 전류값들을 기초로 유효 전압값 및 유효 전류값을 구한 후, 상기 유효 전압값 및 유효 전류값으로부터 상기 절연 저항값을 연산하는 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.18. The method of claim 17, wherein the microcomputer calculates the insulation resistance value from the effective voltage value and the effective current value after obtaining an effective voltage value and an effective current value based on the sampling voltage values and the sampling current values. Insulation resistance measuring apparatus. 제18 항에 있어서, 상기 유효 전압값은 19. The method of claim 18, wherein the effective voltage value is 상기 유효 전압 값 VavThe effective voltage value V av is 이고, ego, 여기서, Save-Value는 소정의 교정값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Here, Save-Value is an insulation resistance measuring apparatus, characterized in that the predetermined calibration value. 제19 항에 있어서, 상기 평균 전압값 VaThe method of claim 19, wherein the average voltage value V a is 이고, ego, 여기서, v(t)i는 i번째 순시 전압값, t=iT, i는 1부터 n까지, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Vzero는 상기 영 전압값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Where v (t) i is the i-th instantaneous voltage value, t = iT, i is 1 to n, T is the sampling period, n is the number of sampling, and V zero is the zero voltage value Measuring device. 제20 항에 있어서, 상기 영 전압값 VzeroThe method of claim 20, wherein the zero voltage value V zero is 이고, ego, 여기서, Vi는 i번째 샘플링 전압값이고, n은 샘플링 횟수인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Wherein V i is an i-th sampling voltage value and n is a sampling frequency. 제18 항에 있어서, 상기 유효 전류 값 Iav19. The method of claim 18 wherein the effective current value I av is 이고, ego, 여기서, Save-Value는 소정의 교정값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Here, Save-Value is an insulation resistance measuring apparatus, characterized in that the predetermined calibration value. 제22 항에 있어서, 상기 평균 전류값 IaThe method of claim 22, wherein the average current value I a is 이고, ego, 여기서, i(t)i는 i번째 순시 전류값, t=iT, i는 1부터 n까지, T는 샘플링 주기, n은 샘플링 횟수, 및 Izero는 상기 제로 전류값인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Wherein i (t) i is an i-th instantaneous current value, t = iT, i is from 1 to n, T is a sampling period, n is the number of sampling, and I zero is the zero current value Measuring device. 제23 항에 있어서, 상기 영 전류값 IzeroThe method of claim 23, wherein the zero current value I zero is 이고, ego, 여기서, Ii는 i번째 샘플링 전류값이고, n은 샘플링 횟수인 것을 특징으로 하는 절연 저항 측정 장치.Wherein I i is the i-th sampling current value and n is the number of sampling times.
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