KR100473367B1 - Apparatus and Method for testing RF chip in COB reel - Google Patents
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Abstract
카드제조과정에서 RF칩의 안정성을 테스트하는 장치에 있어서, 특히 COB reel 상태에서 COB 전송테이프를 이송시켜 RF칩의 RF단자가 플랜트 상단에 형성된 안테나 단자와 접속하여 RF칩을 자동 검사하여 RF칩을 카드에 탑재하기 전에 불량한 RF칩을 제거함으로써 카드제조공정의 신속성과 정확성을 기할 수 있고, 또한 스마트 카드제작에 소요되는 비용과 시간을 절약할 수 있으며 이로 인해 카드 제조 공정의 생산수율을 향상 시킬 수 있는 COB reel상태의 RF칩 시험장치 및 시험방법을 제공한다. In the apparatus for testing the stability of the RF chip during the card manufacturing process, in particular, the COB transmission tape is transferred in the COB reel state, and the RF chip of the RF chip is connected to the antenna terminal formed at the top of the plant to automatically inspect the RF chip. By removing the bad RF chip before installing it on the card, you can improve the speed and accuracy of the card manufacturing process, and also save the cost and time required for smart card manufacturing, thereby improving the production yield of the card manufacturing process. The present invention provides an RF chip tester and test method in a COB reel state.
Description
카드제조과정에서 RF칩의 안정성을 테스트하는 장치에 있어서, 특히 COB reel 상태에서 RF칩의 안정성을 시험하여 불량한 RF칩을 제거함으로써, 카드 제조 시 공정의 정확성을 기할 수 있고 카드제작비용과 시간을 절약할 수 있는 COB reel상태의 RF칩 시험장치 및 방법에 관한 것이다. In the apparatus for testing the stability of the RF chip during the card manufacturing process, in particular, by testing the stability of the RF chip in the COB reel state and removing the defective RF chip, it is possible to ensure the accuracy of the process in manufacturing the card and to reduce the cost and time of the card manufacturing. The present invention relates to an RF chip testing apparatus and method in a COB reel state that can be saved.
종래의 카드 제조사는 COB(Chip- On- Board)상태의 칩을 카드 제조과정에서 플라스틱 카드에 밀링과 첩부(貼付)단계를 거친 후 RF안테나를 본딩하는 공정을 거처 RF 카드를 제작하고, 제작된 카드의 RF칩의 안정성을 테스트하여 카드의 정상 동작기능 이상유무를 확인한 후 정상작동 카드를 추출하여 공급하고 있다. Conventional card manufacturers manufacture RF cards through a process of bonding an RF antenna after milling and attaching a chip in a chip-on-board (COB) state to a plastic card in a card manufacturing process. After testing the stability of the RF chip of the card to check the normal operation of the card, the normal operation card is extracted and supplied.
스마트카드의 RF칩 안정성 시험과정은 도 1과 같은 카드리더기를 포함한 카드 RF칩 시험 장치를 도시한 바, 상기와 같은 RF칩 시험장치의 동작원리는, 먼저 카드리더기(10)의 내부의 전원에 의한 자기장 유도 범위 내에 카드를 갖다 되면 스마트카드(100) 내부에 설치된 안테나 겸 전류발생 코일(15)에 의해서 RF칩(11)을 구동시켜 카드의 안정성 시험을 행할 수 있다.RF chip stability test process of the smart card shows a card RF chip test apparatus including a card reader as shown in Figure 1, the operation principle of the RF chip test apparatus as described above, first to the power supply inside the card reader 10 When the card is brought within the magnetic field induction range by the RF chip 11 by the antenna and the current generating coil 15 installed in the smart card 100 can be tested for the stability of the card.
이때, 이미 카드가 완성된 상태에서 시험함으로써 정상 동작되는 안정성이 확보된 카드의 생산량을 추출하기 어렵다는 문제점이 있다.At this time, there is a problem that it is difficult to extract the amount of output of the card to ensure the stability of the normal operation by testing in the already completed state of the card.
또한 이러한 안정성시험으로 인하여 불량카드로 확정된 경우 이미 카드에 RF칩이 탑재된 상태이므로 RF칩과 카드가 탑재되기 이전에 소비되지 아니할 시간과 자재가 낭비되는 문제점이 있다. In addition, if it is determined that the defective card is due to the stability test, the RF chip is already mounted on the card, and thus there is a problem in that time and materials that are not consumed before the RF chip and the card are mounted are wasted.
비록 안정성시험으로 인하여 안정성이 확보되었다 하더라도 일일이 카드별 검사로 인하여 이미 시간과 자재가 낭비되며 다시 안정성이 확인된 정상 동작하는 카드를 별도로 구분하여 데이터를 입력해야 하는 문제가 있다. Although the stability is secured by the stability test, time and materials are already wasted due to the card-by-card inspection, and there is a problem in that data must be separately inputted separately for a normal card whose stability is confirmed again.
따라서 종래의 카드 안정성 시험장치에 있어서는 스마트카드의 개별 시험으로 안정성판단이 확실하다는 장점이 있으나 상기 시험장치는 완전한 스마트 카드가 완성된 형태에서 RF칩의 안정성 시험을 함으로써 불량카드 발생으로 인하여 카드제작비용과 시간이 낭비된다는 문제점이 있다. Therefore, in the conventional card stability tester, there is an advantage that the safety judgment is certain by the individual test of the smart card, but the tester is a card manufacturing cost due to the bad card generation by performing the stability test of the RF chip in the form of a complete smart card. There is a problem that waste time and time.
상기 문제점을 해소하기 위한 것으로 COB reel 상태에 있는 RF칩을 자동검사하여 불량한 RF칩을 카드제작전에 제거함으로써, 공정의 신속성과 정확성을 기할 수 있고 스마트 카드제작에 소요되는 비용과 시간을 절약할 수 있으며, 카드 제조 공정의 생산수율을 향상 시킬 수 있는 COB reel상태의 RF칩 시험장치 및 시험방법을 제공하는데 목적이 있다.It is to solve the above problems, and by automatically inspecting the RF chip in COB reel state and removing the defective RF chip before the card production, it is possible to ensure the speed and accuracy of the process and save the cost and time required for the smart card production. It is an object of the present invention to provide an RF chip testing apparatus and test method in a COB reel state that can improve the production yield of a card manufacturing process.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기술적 수단은, 카드제조과정에서 RF칩의 안정성을 테스트하는 장치에 있어서: COB reel 상태에서 RF칩이 시험부에 인입됨을 감지하는 감지센서;Technical means of the present invention for achieving the above object, the apparatus for testing the stability of the RF chip in the card manufacturing process comprising: a sensor for detecting the RF chip is inserted into the test unit in the COB reel state;
상기 감지센서로부터 신호를 받아 시험부의 RF단말기를 통한 시험결과를 판단 및 저장하고 제어명령 및 이송신호를 발하는 제어부; 상기 제어부로부터 출력된 제어명령을 받아 COB 전송테이프에 있는 RF칩을 펀칭하는 펀칭부; 상기 제어부로부터 이송신호를 받아 COB 전송테이프를 이송시키는 이송부; 상기 감지부의 감지신호와 RF단말기로부터 실험결과를 수신하여 상기 제어부에 전달하고 상기 제어부로부터 이송부와 펀칭부에 이송신호와 펀칭명령을 전달하는 인터페이스 수단으로 구성됨을 특징으로 한다.A control unit which receives a signal from the sensor and determines and stores a test result through an RF terminal of a test unit, and issues a control command and a transfer signal; A punching unit for punching an RF chip in a COB transmission tape by receiving a control command output from the control unit; A transfer unit receiving the transfer signal from the control unit and transferring the COB transmission tape; Interface means for receiving the detection signal from the detection unit and the experimental results from the RF terminal to the control unit and transfers the transfer signal and the punching command from the control unit to the transfer unit and the punching unit.
또한, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 기술적 방법은 COB 전송테이프를 이송시키는 단계; 시험부에 COB reel의 RF칩이 인입하는 단계; 전송중인 RF칩의 RF단자가 플랜트 상단에 고착된 안테나단자에 접속되고 RF단말기로부터 리셋신호를 받고 응답신호를 보내는 단계; 상기 RF단말기에서 출력된 신호를 기준값과 비교하고 시험결과를 판단하고 저장하는 단계; 상기 시험결과에 의하여 COB 전송테이프에 있는 RF칩을 펀칭하는 단계로 구성되는 것을 특징으로 하는 RF칩 시험방법을 제공한다.In addition, the technical method of the present invention for achieving the above object comprises the steps of transporting the COB transmission tape; Introducing the RF chip of the COB reel into the test unit; RF terminal of the transmitting RF chip is connected to the antenna terminal fixed to the top of the plant and receives a reset signal from the RF terminal and sends a response signal; Comparing the signal output from the RF terminal with a reference value, and determining and storing a test result; Punching the RF chip in the COB transmission tape by the test result provides an RF chip test method, characterized in that consisting of.
이하에 첨부도면을 참고하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
제 2도에는 본 발명이 일실시예에 따른 COB reel상태의 RF칩 시험장치의 설치를 도시하였으며 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 카드 RF칩 시험장치의 블록도로, 상기 비접촉 카드 RF칩 시험장치의 감지센서(20), 시험부(30), 제어부(40), 펀칭부(50), 이송부(60), RS-232C(70)를 통한 인터페이스수단을 도시하였다.Figure 2 shows the installation of the RF chip test apparatus of the COB reel state according to an embodiment of the present invention and Figure 3 is a block diagram of a card RF chip test apparatus according to an embodiment of the present invention, the contactless card RF chip test Interface means via a sensor 20, test unit 30, control unit 40, punching unit 50, transfer unit 60, RS-232C (70) of the device is shown.
상기 비 접촉카드 RF칩 시험장치의, 감지센서(20)는 시험부(30)에 RF칩이 인입됨을 감지하는 신호를 RS-232C(70)통신회선을 통해 PC인터페이스(41)로 전달한다. 이때 감지신호를 받은 제어부(40)는 RF단말기(31)에 테스트할 것을 명령한다.In the non-contact card RF chip test apparatus, the sensor 20 transmits a signal for detecting that the RF chip is inserted into the test unit 30 to the PC interface 41 through the RS-232C 70 communication line. At this time, the control unit 40 receiving the detection signal instructs the RF terminal 31 to test.
시험부(30)는 플랜트의 상단에 안테나(16)와 COB reel 상태에 COB 전송테이프(65) 이송시 칩의 RF단자가 상기 안테나단자(17)에 접속하는 안테나 접속부와 RF칩(11)에 리셋신호를 보내고 이에 응답신호(ATR)를 받는 RF단말기(31)로 구성되어있다.The test unit 30 is connected to the antenna terminal and the RF chip 11 to which the RF terminal of the chip is connected to the antenna terminal 17 when the COB transmission tape 65 is transferred to the antenna 16 and the COB reel at the top of the plant. It is composed of an RF terminal 31 that sends a reset signal and receives a response signal ATR.
시험부(30)의 작동원리는 감지센서(20)에서 감지신호를 전달받은 제어부(40)는 RF단말기(31)에 테스트 명령을 내리고 명령을 받은 RF단말기(31)는 자기장을 발생시킨다. COB reel 상태에서 COB 전송테이프(65)를 이송시켜 플랜트 상단에 형성된 안테나의 단자(17)와 RF칩의 단자(12)가 접속한다. 이에 상기 안테나(16)에 의하여 유도전류가 발생하며 RF칩(11)에 전력이 공급된다.The operation principle of the test unit 30, the control unit 40 receives the detection signal from the detection sensor 20 gives a test command to the RF terminal 31, the RF terminal 31 receives the command generates a magnetic field. In the COB reel state, the COB transmission tape 65 is transferred so that the terminal 17 of the antenna formed on the top of the plant and the terminal 12 of the RF chip are connected. Accordingly, an induced current is generated by the antenna 16 and power is supplied to the RF chip 11.
이때 RF단말기(31)는 RF칩(11)에 리셋(Reset)신호를 전달하고 RF칩(11)은 내부 상태를 나타내는 ATR(Answer To Reset)응답신호를 RF단말기(31)에 응답한다. 상기 RF단말기(31)는 상기 응답신호를 받아 제어부(40)에 전송한다. At this time, the RF terminal 31 transmits a reset signal to the RF chip 11, and the RF chip 11 responds to the RF terminal 31 with an Answer To Reset (ATR) response signal indicating an internal state. The RF terminal 31 receives the response signal and transmits the response signal.
제어부(40)는 개인용 컴퓨터로 구성되어 있으며 상기 감지신호를 전달받는 PC인터페이스(41)와 RF단말기(31)로부터 전달받은 신호로부터 이상 유무를 확인하는 칩시험모듈부(46)와 상기 시험모듈에 의한 데이터를 저장하는 메모리(43)와 상기 프로그램에 의하여 펀칭부(50)와 이송부(60)에 제어명령을 전달하는 통신카드인 PC카드(44)로 구성되어 있다. The control unit 40 is composed of a personal computer and the chip test module unit 46 and the test module to check the abnormality from the signal received from the PC interface 41 and the RF terminal 31 receiving the detection signal. It consists of a memory 43 for storing data and a PC card 44 which is a communication card for transferring control commands to the punching section 50 and the transfer section 60 by the program.
펀칭부(50)는 제어부(40)에서 펀칭 명령을 전송할 경우 칩을 펀칭하는 펀칭기(51,51')와 상기 펀칭기를 작동시키는 모터(52)로 구성되어 있다.The puncher 50 includes a puncher 51 and 51 'for punching a chip when the controller 40 transmits a punch command, and a motor 52 for operating the puncher.
상기 제어부(40)의 시험모듈부에서 RF칩(11,11')의 이상이 확인될 경우 RS-232C 통신카드(44)로 통하여 펀칭명령을 전송하고 모터(52)를 구동시킨다. 이에 상기 모터(52)의 구동에 의하여 펀칭기(51,51')를 작동하며 칩 펀칭기(51,51')는 RF칩(11,11')에 약 2mm가량의 구멍을 뚫음으로써 육안으로 RF칩(11,11')의 이상여부를 확인하게 한다.When the abnormality of the RF chip 11, 11 ′ is confirmed by the test module unit of the controller 40, a punching command is transmitted through the RS-232C communication card 44 and the motor 52 is driven. Accordingly, the punching machines 51 and 51 'are operated by the driving of the motor 52, and the chip punching machines 51 and 51' drill about 2 mm in the RF chips 11 and 11 'to visually open the RF chip. (11,11 ') Check for abnormalities.
이송부(60)는 공급릴(61)과 권취릴(63)과 전송릴(62)과 권취릴(63)을 회전시키는 이송모터(64)로 구성되어 있다. 상기 제어부(40)의 시험모듈부에서 RF칩(11, 11')의 이상이 있다고 판단하면 정지명령을 내리고 펀칭이 완료된 상태면 RS-232C 통신카드(44)로 통하여 이송제어명령을 전송하여 이송모터(64)를 구동시킨다. The transfer unit 60 is composed of a feed motor 64 for rotating the supply reel 61 and the take-up reel 63 and the transfer reel 62 and the take-up reel 63. If the test module of the controller 40 determines that the RF chip 11, 11 'is abnormal, the stop command is issued. If the punching is completed, the transfer control command is transmitted through the RS-232C communication card 44. The motor 64 is driven.
도 4에서 상기 COB reel상태의 RF칩의 구조를 나타낸 도면이다. COB 전송테이프(65)마디마디 마다 COB 전송구멍(66)이 나있어 전송릴(62)의 기어에 맞물려 COB 전송테이프를 한칸씩 권취릴(63) 방향으로 이동하게 되어 있다. 제어부(40)의 이송신호에 의하여 권취릴(63)를 회전시킴으로써 전송테이프(65)를 이송시킨다. 다만 RF칩(11,11')의 이상이 있어 펀칭명령이 있을 시 에는 펀칭이 되는 동안에는 이송부(60)에 정지명령을 전달하여 권취릴(63)의 회전을 정지시킨다. 4 is a view showing the structure of the RF chip in the COB reel state. Each node of the COB transfer tape 65 has a COB transfer hole 66, which meshes with the gear of the transfer reel 62 to move the COB transfer tape one by one in the direction of the take-up reel 63. The transfer tape 65 is transferred by rotating the take-up reel 63 in response to a transfer signal from the controller 40. However, when there is an error in the RF chips 11 and 11 ', when the punching instruction is made, the stopper is transferred to the transfer unit 60 to stop the rotation of the winding reel 63 during punching.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 카드 RF칩을 펀칭하기 위한 제어흐름도가 개시되어 있다. 제 4도에서 보듯이 두개의 RF칩(11,11')이 병렬적인 COB reel상태로 같이 이송되어간다. 본 실시예에 의한 제어흐름을 도시한 도면이다. 5 is a control flowchart for punching a card RF chip according to an embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, two RF chips 11 and 11 'are transferred together in parallel COB reel. A control flow diagram according to the present embodiment is shown.
먼저 초기화 상태에서 RF칩 시험장치의 제어부는 감지센서의 정상동작여부와 단말기의 정상동작여부 및 이동부와 펀칭부의 정상동작여부를 각각 체크하여 각 장치의 이상 여부를 자동적으로 파악하게 된다.(S1~S3)First, in the initialization state, the control unit of the RF chip test apparatus checks whether the normal operation of the detection sensor, the normal operation of the terminal, and the normal operation of the moving unit and the punching unit, respectively, to automatically determine whether there is an abnormality of each device. ~ S3)
상기에서 이상이 없을 경우 이송단계는 양 RF칩에 이상이 없는 경우 제어부는 이송부(60)에 이송신호를 전달하여 COB 전송테이프를 권취릴(63)로 이송하게 한다.(S4) If there is no abnormality in the transfer step, if there is no abnormality in both RF chips, the control unit transfers the transfer signal to the transfer unit 60 to transfer the COB transmission tape to the take-up reel 63 (S4).
상기 이송부(60)의 권취릴(63)의 회전으로 인하여 양RF칩(11, 11')이 병렬구조로 COB 전송테이프(65)는 시험부(30)에 인입된다. 이에 감지단계에서는 감지센서(20)로 인하여 RF칩이 시험부(30)에 인입을 감지하면 제어부(40)는 인입된 칩의 개수를 체크 메모리부에 저장한다.(S5~S6) Due to the rotation of the winding reel 63 of the transfer unit 60, both RF chips 11 and 11 'are parallel to the COB transmission tape 65 is introduced into the test unit 30. In the sensing step, when the RF chip detects the insertion into the test unit 30 due to the detection sensor 20, the control unit 40 stores the number of the introduced chips in the check memory unit (S5 to S6).
이어 제어부는 RF단말기(31)에 테스트 명령을 전달한다. 이에 시험단계에서는 단말기를 통하여 RF칩의 응답신호를 제어부(40)에 전달하여 두개의 RF칩(11,11') 중 각각에 대한 RF칩의 이상 유무를 체크하고 이에 대한 RF칩의 이상 유무와 개수를 데이터를 저장한다. (S7~S8, S13)Subsequently, the controller transmits a test command to the RF terminal 31. In the test step, the RF chip response signal is transmitted to the control unit 40 through the terminal to check whether there is an abnormality of the RF chip for each of the two RF chips 11 and 11 ', and Count the data. (S7 ~ S8, S13)
상기 제어부에서 시험부에 인입된 RF칩에 이상이 있다고 체크된 경우 즉, 안정성 시험시 기준값에 미달이 된 경우에는 제어부(40)는 RF칩(11,11')이 펀칭 모듈에 들어왔을 때 이송부에 정지명령과 더불어 펀칭부에 그 이상 있는 칩에 대하여 펀칭하는 명령을 전달하여 RF 제 1칩(11)에 이상이 있는 경우에는 제 1펀칭기(51)를 작동시키고 RF제 2칩(11')에 이상이 있는 경우에는 제 2펀칭기(51')를 작동시킨다. 따라서 상기 제어부에서 시험부에 인입된 RF칩이 이상이 없다고 체크된 경우 즉, 기준값과 비교하여 허용수준에 다다를 경우에는 상기 펀칭기(51,51')는 작동되지 아니하며 그 상태로 권취릴(63)까지 이송되어진다.(S9 ~S11)When the control unit checks that there is an error in the RF chip inserted into the test unit, that is, when the stability test falls short of the reference value, the control unit 40 moves to the transfer unit when the RF chips 11 and 11 'enter the punching module. In addition to the stop command, a punching command is transmitted to the punching part, and when there is an error in the RF first chip 11, the first punching machine 51 is operated and the RF second chip 11 ' In case of abnormality, the second punching machine 51 'is operated. Therefore, when the control unit checks that the RF chip inserted into the test unit is intact, that is, when the allowable level is reached in comparison with the reference value, the punching machines 51 and 51 'are not operated and are wound up in the state. (S9 ~ S11)
상기 펀칭단계에서 시험부에서 이상이 감지된 RF칩이 펀칭부에 COB 전송테이프에 의해서 도달하는 한 펀칭은 계속 반복되며 이후 해당 RF칩에 펀칭이 완료된 후에는 제어부는 다시 이송부에 재 이송명령을 내려 해당 RF칩의 펀칭을 위해 정지된 COB전송테이프(65)를 이송시킨다(S12)As long as the RF chip detected by the test part in the punching step reaches the punching part by the COB transmission tape, the punching is repeated, and after the punching is completed on the corresponding RF chip, the control unit sends a transfer command again to the transfer part. Transfer the COB transmission tape 65 stopped for punching the RF chip (S12).
상기 시험단계는 감지센서가 시험부의 칩을 인식하는 동안 계속 반복되며 더 이상 칩의 시험부로의 인입되는 감지가 없을 경우 즉, 최종 RF칩이 인입이 감지된 경우에는 상기 COB 전송테이프(65)가 권취릴에 RF칩이 완전히 도달될 때까지 이송모터(64)를 작동시킨다.(S14) The test step is repeated while the sensing sensor recognizes the chip of the test unit, and when there is no further detection of the chip entering the test unit, that is, when the final RF chip is detected, the COB transmission tape 65 is The transfer motor 64 is operated until the RF chip completely reaches the winding reel. (S14)
상기 최종 RF칩이 권취릴(63)에 완전히 도달된 경우, 권취릴(63)에는 RF칩(11)에 이상이 있는 펀칭된 상태의 RF칩과 이상이 없는 상태의 RF칩이 COB reel 상태로 있다.When the final RF chip has completely reached the winding reel 63, the wound reel 63 is in the punched state and the RF chip in a state of no abnormality in the RF chip 11 in the COB reel state. have.
따라서 상기 펀칭된 상태의 RF칩을 제거하고 상기 이상이 없는 RF칩만 플라스틱 카드에 탑재하여 RF안테나와 본딩 공정을 거치면서 안정성이 확보된 스마트카드가 완성된다.Therefore, by removing the punched RF chip and mounting only the RF chip without any abnormalities on the plastic card, a smart card with stability is completed through the RF antenna and bonding process.
상기에서 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만, 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다. 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며, 본 발명에 첨부된 특허청구범위 안에 속한다 해야 할 것이다.While specific embodiments of the present invention have been described and illustrated above, it will be apparent that the present invention may be embodied in various modifications by those skilled in the art. Such modified embodiments should not be individually understood from the technical spirit or the prospect of the present invention, but should fall within the claims appended to the present invention.
본 발명의 목적은 COB reel 상태에 있는 RF칩을 자동 검사하여 RF칩을 카드에 탑재하기 전에 불량한 RF칩들을 제거함으로써, 공정의 정확성을 기할 수 있고 스마트 카드제작에 소요되는 비용과 시간을 절약할 수 있으며 이로 인해 카드 제조 공정의 생산수율을 향상 시킬 수 있는 이점이 있다. An object of the present invention is to automatically inspect the RF chip in the COB reel state and to remove the defective RF chip before mounting the RF chip on the card, it is possible to ensure the accuracy of the process and to save the cost and time required for smart card production This has the advantage of improving the production yield of the card manufacturing process.
도 1은 종래의 비접촉식 카드 시험방법1 is a conventional contactless card test method
도 2는 본 발명에 일실시예에 따른 COB reel 상태의 칩 시험 장치를 도시한 설치도.Figure 2 is an installation diagram showing a chip test apparatus of the COB reel state according to an embodiment of the present invention.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 COB reel 상태의 칩 시험 장치의 블록도.3 is a block diagram of a chip test apparatus of the COB reel state according to an embodiment of the present invention.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 COB reel상태의 칩의 구조도.4 is a structural diagram of a chip of the COB reel state according to an embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 카드 RF칩을 시험하기 위한 제어흐름도.5 is a control flowchart for testing a card RF chip according to an embodiment of the present invention.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
11,11': RF칩 12: RF칩 단자11,11 ': RF chip 12: RF chip terminal
13: RF칩 외부접속단자 16:안테나 13: RF chip external connection terminal 16: antenna
17: 안테나 단자 20: 감지센서17: antenna terminal 20: sensor
30: 시험부 40: 제어부30: test unit 40: control unit
50: 펀치부 51,51': 펀칭기50: punch part 51, 51 ': punching machine
60: 이송부 65: COB 전송테이프60: transfer section 65: COB transfer tape
66: COB 전송구멍 100: 스마트 카드66: COB transmission hole 100: smart card
Claims (5)
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Applications Claiming Priority (1)
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