KR100470363B1 - LCD panel lighting test system - Google Patents
LCD panel lighting test system Download PDFInfo
- Publication number
- KR100470363B1 KR100470363B1 KR10-2002-0014152A KR20020014152A KR100470363B1 KR 100470363 B1 KR100470363 B1 KR 100470363B1 KR 20020014152 A KR20020014152 A KR 20020014152A KR 100470363 B1 KR100470363 B1 KR 100470363B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lcd panel
- unit
- lighting
- test
- position adjusting
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/44—Testing lamps
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2202/00—Materials and properties
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 발명은 엘시디 점등 테스트 시스템에 관한 것으로, 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 테스트 작동상태를 제어하는 테스트 컨트롤러; 테스트 컨트롤러에 의하여 제어되되 상기 엘시디 패널이 점등 테스트되는 점등 테스트부; 점등 테스트부에 위치한 엘시디 패널의 접촉 위치를 조절하는 위치조절부; 위치조절부로 엘시디 패널을 자동으로 전달하는 자동전달부; 위치조절부에 엘시디 패널을 수동으로 전달하는 수동전달부를 구비한 것으로, 이러한 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 시스템의 배치와 구성상태를 개선함과 동시에 점등 테스트 장치의 구성을 개선함으로써 엘시디 패널의 점등 테스트를 위한 공정 시간을 감소시켜 공정 효율을 보다 향상시킬 수 있도록 하고, 또한, 자동전달과 더불어 수동으로도 엘시디 패널을 전달할 수 있도록 함으로써 시스템의 운용효율을 극대화 할 수 있는 효과가 있다.The present invention relates to an LCD lighting test system, and the LCD panel lighting test system according to the present invention includes a test controller for controlling a test operation state; A lighting test unit controlled by a test controller, wherein the LCD panel is turned on and tested; Position adjusting unit for adjusting the contact position of the LCD panel located in the lighting test unit; Automatic transmission unit for automatically transferring the LCD panel to the position adjustment unit; The LCD panel lighting test system according to the present invention is provided with a manual transmission unit for manually transferring the LCD panel to the position adjusting unit. The LCD panel lighting test system according to the present invention improves the layout and configuration of the system and improves the configuration of the lighting test device. By reducing the process time for the lighting test of the to improve the efficiency of the process, and also to automatically deliver the LCD panel in addition to the automatic transfer has the effect of maximizing the operating efficiency of the system.
Description
본 발명은 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 제조 공정을 거친 엘시디 패널의 점등 상태를 묵시 테스트하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD panel lighting test system, and more particularly, to an LCD panel lighting test system for implicitly testing the lighting state of an LCD panel which has been manufactured.
일반적으로 엘시디(LCD) 패널은 여러 단계의 제조 공정을 거쳐 제조되어지는바, 이때 각 제조 공정, 예컨대, 납땜 등의 조립공정, 불량 요인의 수리공정 등의 공정이 진행될 때 엘시디 패널에는 그 점등 상태를 테스트하는 소정의 점등 상태 테스트 공정을 진행하여 제조된 엘시디 패널이 항상 일정 수준 이상의 점등 상태를 유지하여 제품으로 출하되도록 하고 있다.In general, LCD panels are manufactured through various manufacturing processes. At this time, the LED panel is turned on when each manufacturing process, for example, an assembly process such as soldering or a repair process of a defective factor, is performed. The LCD panel manufactured by going through a predetermined lighting state test process for testing is always kept at a predetermined level or more to be shipped as a product.
여기서의 엘시디 패널 점등 테스트는 엘시디 패널 테스트 시스템의 테스트부에서 엘시디 패널 전체에 대한 점등 신호를 인가한 후 엘시디 패널에 디스플레이되는 화면 상태를 육안관측을 통해 목시 테스트하도록 되어 있다.In the LCD panel lighting test, the test unit of the LCD panel test system applies a lighting signal to the entire LCD panel and visually tests the screen state displayed on the LCD panel through visual observation.
그리고 엘시디 패널의 광원 점등상태가 적절히 검측되며, 이러한 검측결과에 따라 불량으로 판정이 된 엘시디 패널은 분리 반송되어 적절한 추후공정을 거친 후 그 기능이 복구되도록 하고, 정상 상태의 엘시디 패널은 제품으로 출하되도록 한다.In addition, the lighting state of the LCD panel is properly detected, and the LCD panel, which is determined to be defective according to the detection result, is separated and returned, and after proper processing, the function is restored. The LCD panel in the normal state is shipped as a product. Be sure to
종래의 엘시디 패널의 테스트를 위한 시스템은 컨베이어에 의하여 엘시디 패널을 공급하는 공급부와 이 공급부에 대하여 수평상태로 배치된 로봇을 구비하고, 다시 로봇에 대하여 수평상태로 위치한 다수의 엘시디 패널 테스트장치를 구비한 구성이다.The conventional system for testing an LCD panel includes a supply for supplying an LCD panel by a conveyor, and a robot disposed horizontally with respect to the supply, and a plurality of LCD panel test devices positioned horizontally with respect to the robot. One configuration.
이러한 종래 엘시디 패널 테스트 시스템에서 엘시디 패널을 테스트할 때 로봇이 하나의 엘시디 패널을 이송 전달하면 엘시디 패널 테스트장치에서 이에 대한 테스트를 수행한 후 다시 로봇이 다른 엘시디 패널을 엘시디 패널 테스트장치로 전달하여 계속적인 엘시디 패널 테스트가 이루어지도록 하고 있다.When testing the LCD panel in the conventional LCD panel test system, if the robot transfers and transfers one LCD panel, the robot performs the test on the LCD panel test apparatus, and then the robot passes the other LCD panel to the LCD panel test apparatus again. To ensure that the typical LCD panel test is done.
그런데, 종래의 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 두 대의 엘시디 패널 테스트 장치가 로봇에 대하여 수평 상태로 위치하고 있기 때문에 로봇은 한번에 하나씩의 엘시디 패널을 일측의 테스트장치에 한번 전달한 다음 타측의 테스트장치로 이동하여 타측의 테스트장치로 엘시디 패널을 번갈아 가면서 공급하도록 되어 있다.However, in the conventional LCD panel lighting test system, since two LCD panel test apparatuses are positioned horizontally with respect to the robot, the robot delivers one LCD panel to one test apparatus at a time and then moves to the other test apparatus to the other side. Alternately, the panel is supplied with alternating LCD panels.
따라서 이러한 엘시디 패널 이송작업으로 로봇은 회전운동뿐만 아니라 각각의 테스트 장비를 향한 직선운동을 함께 수행하여야 하기 때문에 이때의 이동으로 인한 이동시간이 소요되어 그만큼 공정시간이 길어지게 되고, 또한, 로봇의 이동을 위한 설비가 부가적으로 필요하기 때문에 시스템의 구현을 위한 별도의 설비 비용이 소요되게 된다.Therefore, by moving the LCD panel, the robot must perform not only the rotational movement but also the linear movement toward the respective test equipment. Therefore, the movement time is required due to the movement of the robot, and the processing time becomes longer. Since additional equipment is needed, additional equipment cost for implementing the system is required.
그리고 각각의 패널 테스트 장치는 한번에 하나씩의 엘시디 패널을 전달받아 테스트한 후 반송하도록 되어 있다. 즉 로봇으로부터 하나씩의 엘시디 패널을 전달받은 후 이 패널에 대한 테스트가 완료되면 다시 테스트장치로 다른 엘시디 패널을 전달받아 엘시디 패널에 대한 테스트가 이루어지도록 한다는 것이다.Each panel test device receives one LCD panel at a time, tests it, and then returns it. In other words, after receiving one LCD panel from the robot, when the test on the panel is completed, another LCD panel is delivered to the test device to test the LCD panel.
따라서 종래의 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치에서는 한번에 하나씩의 엘시디 패널만을 전달받아 테스트 한 후 반송하고, 다시 로봇으로부터 다른 엘시디 패널을 전달받아야 하기 때문에 테스트장치에는 항상 하나의 엘시디 패널의 이동과 테스트만이 이루어지므로 테스트장치에서의 엘시디 패널 테스트시간이 많이 소요되게 되어 시스템의 운용 효율이 떨어진다.Therefore, in the test apparatus provided in the conventional LCD panel lighting test system, only one LCD panel is received and tested at a time, and then transported, and another LCD panel must be delivered again from the robot, so the test apparatus always moves and tests one LCD panel. Because only this is done, it takes a lot of time to test the LCD panel in the test apparatus, and the operation efficiency of the system is reduced.
그리고 로봇이 고장났을 경우에는 로봇이 기능이 회복될 때까지 검사작업을 수행할 수 없으며, 또한 부분적으로 소수의 패널을 검사할 때에는 전체 시스템을 모두 구동시켜야 하여야 하는 문제점도 있다.And when the robot has failed, the robot cannot perform the inspection work until the function is restored, and when the part of the robot is partially inspected, there is a problem in that the entire system must be driven.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 엘시디 패널의 점등 상태 테스트를 위하여 이송되는 엘시디 패널의 이송 경로와 이를 위한 공정 시스템의 구성을 개선하여 엘시디 패널 테스트 시스템의 설비 비용을 줄일 수 있도록 하고, 또한 테스트시간을 단축시킬 수 있도록 한 엘시디 패널 점등 테스트 시스템을 제공하기 위한 것이다.The present invention is to solve the above problems, an object of the present invention is to improve the configuration of the LCD panel transfer path and the process system for conveying for the lighting state of the LCD panel to improve the equipment cost of the LCD panel test system The aim is to provide an LCD panel lighting test system that can reduce the number and shorten the test time.
전술한 목적과 관련된 본 발명의 다른 목적은 소수의 패널을 검사하거나 로봇이 고장났을 때 부분적으로 수동 검사작업을 수행할 수 있도록 한 엘시디 패널 점등 검사 시스템을 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention in connection with the above-described object is to provide an LCD panel lighting inspection system which enables to inspect a small number of panels or to perform a partial manual inspection when a robot fails.
도 1은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템의 구성을 도시한 도면이다.1 is a view showing the configuration of an LCD panel lighting test system according to the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템의 작동 플로우를 도시한 순서도이다.2 is a flow chart showing the operational flow of the LCD panel lighting test system according to the present invention.
도 3은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치의 측면도이다.3 is a side view of a test apparatus provided in an LCD panel lighting test system according to the present invention.
도 4는 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치의 배치상태를 도시한 정면도이다.Figure 4 is a front view showing the arrangement of the test apparatus provided in the LCD panel lighting test system according to the present invention.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
100...테스트 장치100 ... test device
130...자동 전달부130 ... Automatic Delivery
170...위치조절부170 ... Positioning part
180...수동전달부180 ... Manual Delivery
전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 제조공정을 거친 엘시디 패널의 점등 상태를 테스트하는 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 있어서, 테스트 작동상태를 제어하는 메인 컨트롤러; 상기 메인 컨트롤러에 의하여 제어되되 상기 엘시디 패널이 점등 테스트되는 점등 테스트부; 상기 점등 테스트부에 위치한 상기 엘시디 패널의 접촉 위치를 조절하는 위치조절부;상기 위치조절부로 상기 엘시디 패널을 자동으로 전달하는 자동 전달부; 상기 위치조절부에 상기 엘시디 패널을 수동으로 전달하는 수동전달부를 구비한다.An LCD panel lighting test system according to the present invention for achieving the above object, the LCD panel lighting test system for testing the lighting state of the LCD panel after the manufacturing process, the main controller for controlling the test operation state; A lighting test unit controlled by the main controller and configured to test lighting of the LCD panel; Position adjusting unit for adjusting the contact position of the LCD panel located in the lighting test unit; Automatic transmission unit for automatically transmitting the LCD panel to the position control unit; It is provided with a manual transfer unit for manually transferring the LCD panel to the position control unit.
그리고 바람직하게 상기 위치조절부는 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 X축에 대하여 조절하는 X축 조절부와, 상기 엘시디 패널의 점등 위치를 Y축에 대하여 조절하는 Y축 조절부와, Y축 그리고 Z축 및 회전 위치를 조절하는 위치조절부를 포함한다.And preferably, the position adjusting unit X-axis adjusting unit for adjusting the lighting position of the LCD panel with respect to the X axis, Y-axis adjusting unit for adjusting the lighting position of the LCD panel with respect to the Y axis, Y-axis and Z-axis And a position adjusting unit for adjusting the rotation position.
또한, 상기 수동전달부는 상기 위치조절부를 소정위치로 이동시켜 상기 위치조절부의 상기 엘시디 패널안착부분이 노출되도록 각각의 상기 위치조절부들을 함께 소정위치로 이송 안내하는 안내부재를 구비한 것을 특징으로 한다.In addition, the manual transfer unit is characterized in that it comprises a guide member for guiding each of the position adjustment unit to the predetermined position to move the position adjustment unit to a predetermined position to expose the LCD panel seating portion of the position adjustment unit .
이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 엘시디 패널 테스트 시스템에 대한 하나의 바람직한 실시예를 도면을 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, one preferred embodiment of an LCD panel test system according to the present invention configured as described above will be described with reference to the drawings.
본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 도 1과 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 메인 컨트롤러(10)에 의하여 제어되며, 각 테스트 장치(100)의 작동상태를 제어하는 테스트 컨트롤러(110)를 구비한다.The LCD panel lighting test system according to the present invention is controlled by the main controller 10 as shown in FIGS. 1, 3, and 4, and a test controller 110 for controlling an operation state of each test apparatus 100. It is provided.
그리고 테스트 컨트롤러(110)에 의하여 제어되며 엘시디 패널에 대한 점등 상태 테스트를 실시하는 점등 테스트부(120)를 구비한다. 이 점등 테스트부(120)는 엘시디 패널의 X와 Y면으로 접촉하고, 엘시디 패널을 진공으로 흡착하도록 되어 있으며, 신호가 인가되는 접촉바늘에 엘시디 패널의 전극단자가 접촉되도록 된 워크 테이블을 구비하고 있다.And a lighting test unit 120 controlled by the test controller 110 to perform a lighting state test on the LCD panel. The lighting test unit 120 is in contact with the X and Y planes of the LCD panel and sucks the LCD panel in a vacuum, and includes a work table in which the electrode terminals of the LCD panel are in contact with a contact needle to which a signal is applied. have.
한편, 점등 테스트부(120)로의 엘시디 패널의 전달은 로봇(20)으로부터 제공된 엘시디 패널을 최초 상향 경사지게 이송시켜 점등 테스트부(120)의 상측으로 위치시키도록 하는 자동 전달부(130)와 이 자동 전달부(130)와 별도로 수동으로 엘시디 패널을 전달하는 수동전달부(180)에 의하여 전달이 이루어진다.On the other hand, the transmission of the LCD panel to the lighting test unit 120 is the automatic transmission unit 130 and the automatic transfer to position the LCD panel provided from the robot 20 to the first upwardly inclined upward position of the lighting test unit 120 The transfer is made by the manual transfer unit 180 which manually transfers the LCD panel separately from the transfer unit 130.
먼저 자동 전달부(130)는 로봇(20)으로부터 엘시디 패널을 전달받아 상향 경사지게 이송한 후 다시 엘시디 패널을 대략 60도의 각도로 회전 위치시킨다. 이러한 회전 각도는 점등 테스트부(120)에서 엘시디 패널이 점등된 상태에 따른 목시테스트를 위해 작업자의 시야 각도에 맞도록 하기 위한 것이다.First, the automatic transmission unit 130 receives the LCD panel from the robot 20 and transfers it upwardly inclined, and then rotates the LCD panel at an angle of approximately 60 degrees. This rotation angle is to match the viewing angle of the operator for the visual test according to the state that the LCD panel is lit in the lighting test unit 120.
그리고 자동 전달부(130)에서 전달된 엘시디 패널을 이송 및 대기시키는 제 1이송대기부(140)와 제 2이송대기부(150)가 마련되어 점등 테스트부(120)를 향한 나머지 소정거리의 이송이 이루어진다.In addition, a first transfer standby unit 140 and a second transfer standby unit 150 for transferring and waiting for the LCD panel transferred from the automatic transfer unit 130 are provided so that the transfer of the predetermined distance toward the lighting test unit 120 is performed. Is done.
이 각각의 이송대기부(140)(150)는 서로 겹쳐져 있는 상태에 있는데, 먼저 제 1이송대기부(140)에 의하여 하나의 엘시디 패널이 점등 테스트부(120)로 이송되면, 두 번째 제 2이송대기부(150)는 다른 하나의 엘시디 패널을 이송 대기상태에 있도록 한다.Each of the transfer standby portions 140 and 150 is in an overlapping state. First, when one LCD panel is transferred to the lighting test unit 120 by the first transfer standby portion 140, the second second portion is transferred. The transfer standby unit 150 allows the other LCD panel to be in a transfer standby state.
그리고 제 1이송대기부(140)에서 엘시디 패널의 점등 테스트가 완료되면 이와 동시에 제 2이송대기부(150)는 즉시 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널을 이송하여 엘시디 패널에 대한 계속적인 테스트를 수행하도록 하고, 최초 테스트된 엘시디 패널은 즉각적으로 반송 처리되도록 한다.When the lighting test of the LCD panel is completed in the first transfer standby unit 140, the second transfer standby unit 150 immediately transfers the LCD panel to the lighting test unit 120 to continuously test the LCD panel. The first tested LCD panel is immediately returned for processing.
이러한 제 1이송대기부(140)와 제 2이송대기부(150)의 작동은 서로 반대방향으로 동시에 이루어지도록 되어 있다.The operation of the first transfer standby unit 140 and the second transfer standby unit 150 is to be made at the same time in the opposite direction to each other.
다음으로 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널이 이송되면 엘시디 패널의 접촉패드와 점등 테스트부(120)의 접촉바늘이 서로 접촉하도록 그 위치를 조절하는 위치조절부가 마련되고, 이때의 위치조절을 위한 얼라인먼트 측정을 위하여 한 개 내지는 두 개의 CCD로 된 촬상부(160)가 마련된다.Next, when the LCD panel is transferred to the lighting test unit 120, a position adjusting unit is provided to adjust the position of the LCD panel so that the contact pad of the LCD panel contacts the contact needle of the lighting test unit 120. An imaging unit 160 of one or two CCDs is provided for alignment measurement.
이 촬상부(160)는 엘시디 패널의 끝단 모서리 부분에 "+" 모양으로 된 얼라인먼트 표시를 촬상하여 그 위치의 조절이 이루어지도록 하는 것으로, 본 발명에 적용된 촬상부(160)는 미세하게 CCD의 자체 위치 조절이 이루어지도록 다축 조절부분을 구비하고 있으며, CCD의 초점 거리는 대략 75mm 정도로 구현되고, 그 촬상 배율은 대략 240배율 정도로 구현되어 있다.The imaging unit 160 captures an alignment mark having a "+" shape on the edge of the LCD panel to adjust the position thereof. The imaging unit 160 applied to the present invention finely controls the CCD itself. It is provided with a multi-axis adjustment portion to adjust the position, the focal length of the CCD is implemented as about 75mm, the imaging magnification is implemented as about 240 times magnification.
한편, 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템에 마련된 테스트장치는 점등 상태의 목시 테스트뿐만 아니라 정밀한 점등 상태 확인을 위하여 별도의 현미경 장치(미부호)를 설치하여 운용하고 있다.On the other hand, the test apparatus provided in the LCD panel lighting test system according to the present invention is operating by installing a separate microscope device (unsigned) for precisely confirming the lighting state as well as the visual test of the lighting state.
이때 적용되는 현미경 장치(미부호)는 엘시디 패널 전면에 대한 점등 상태 확인을 위하여 X축과 Y축에 대한 방향으로 조절 작동이 가능하도록 되어 있다.At this time, the microscope device (unsigned) that is applied is made to enable the adjustment operation in the direction of the X-axis and Y-axis to check the lighting state on the LCD panel front.
계속해서 각각의 이송대기부(140)(150)로부터 이송된 엘시디 패널이 점등 테스트부(120)로 이송되면 이송된 점등 테스트부(120)에서의 접촉니들과 엘시디 패널의 접촉패드부분이 접촉할 수 있도록 전술한 촬상부(160)에서 위치를 측정하게 되면 위치조절부(170)에서 측정된 위치로 엘시디 패널의 접촉 위치를 얼라인먼트 하게 된다.Subsequently, when the LCD panels transferred from each of the transfer standby units 140 and 150 are transferred to the lighting test unit 120, the contact needles of the transferred lighting test unit 120 and the contact pads of the LCD panel may contact each other. When the position is measured by the imaging unit 160 described above, the contact position of the LCD panel is aligned with the position measured by the position adjusting unit 170.
이때의 얼라인먼트 동작을 위한 위치조절부(170)는 X축에 대한 엘시디 패널의 접촉위치를 조절하는 X축 위치조절부(171)와 Y축에 대한 위치조절을 수행하는 Y축 위치조절부(172)를 구비하고, 또한, Z축에 대한 위치조절을 수행하는 Z축 위치조절부(173)와 마지막으로 회전 위치에 대한 위치조절을 수행하는 회전위치조절부(174)를 구비하고 있다.At this time, the position adjusting unit 170 for the alignment operation is the X-axis position adjusting unit 171 for adjusting the contact position of the LCD panel with respect to the X-axis and the Y-axis position adjusting unit 172 for adjusting the position of the Y-axis. And a Z-axis position adjusting unit 173 for performing position adjustment with respect to the Z axis, and finally, a rotation position adjusting unit 174 for performing position adjustment with respect to the rotation position.
여기서 각각의 위치조절부(170)의 작동은 미세한 위치조절 운용이 가능하도록 고정밀도를 가진 볼스크류 작동구성으로 되어 있다. 그리고 측정된 위치에 대한 반복 접촉시의 얼라이먼트 변위 폭은 대략 0.002mm를 유지하도록 되어 있고, 엘시디 패널의 후광원(미부호)이 그 전방으로 설치되어 있다.Here, the operation of each position adjusting unit 170 has a ball screw operating configuration with a high precision to enable a fine position adjustment operation. And the width | variety of the alignment displacement at the time of repeated contact with respect to a measured position is set to maintain approximately 0.002 mm, and the back light source (unsigned) of an LCD panel is provided in front.
한편, 엘시디 패널을 소수만을 검사하거나 로봇 등의 다른 시스템요소에 고장이 낮을 경우에는 전술한 바와 같이 수동으로 엘시디 패널을 전달한다.On the other hand, when inspecting only a small number of the LCD panel or the failure of other system elements such as robots, the LCD panel is manually transferred as described above.
이를 위한 수동전달부(180)는 엘시디 패널이 안착되는 위치조절부(170)의 패널 안착부분이 외부로 노출되도록 하여 작업자가 엘시디 패널을 이 위치조절부(170)의 노출된 패널 안착부분에 엘시디 패널을 안착시킬 수 있도록 한 것이다.The manual transmission unit 180 for this purpose is to expose the panel seating portion of the position control unit 170 on which the LCD panel is seated to the outside so that the operator can move the LCD panel to the exposed panel seating portion of the position control unit 170. The panel can be seated.
그 구성은 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이 테스트 장치(100)의 측방으로 연장 형성되되 위치조절부(170)의 설치위치에서 측방으로 위치조절부(170)의 좌우폭 만큼의 크기로 연장 설치된 프레임(181)과 위치조절부(170) 전체가 측방으로 이송되도록 위치조절부(170)의 가장 하측에 마련된 X축 위치조절부(171)를 지지하는 플레이트(181)의 등면으로부터 결합 설치된 안내부재를 구비한다. 이 안내부재는 엘엠가이드(184)와 모터(182) 그리고 볼스크류(183)로 마련된다.The configuration is formed to extend to the side of the test apparatus 100 as shown in Figures 3 and 4 but is installed extending to the size of the left and right width of the position adjusting portion 170 laterally from the installation position of the position adjusting portion 170 Guide member coupled and installed from the back surface of the plate 181 for supporting the X-axis position adjusting portion 171 provided at the bottom of the position adjusting portion 170 so that the entire frame 181 and the position adjusting portion 170 is transported laterally. It is provided. The guide member is provided with an LM guide 184, a motor 182 and a ball screw (183).
여기서의 이 수동전달부(180)는 테스트 장치에 일체로 구현할 수도 있고, 다르게는 별도의 조립구조를 적용하여 조립식으로 구현할 수 도 있을 것이며 모터(182)와 볼스크류(183) 등의 자동 작동구성을 사용하지 않고, 수동 조작만이 가능하도록 할 수도 있다.Here, the manual transmission unit 180 may be integrally implemented in the test apparatus, or alternatively, may be implemented in a prefabricated manner by applying a separate assembly structure, and automatically operates the motor 182 and the ball screw 183. It is also possible to enable only manual operation without using.
이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 엘시디 패널 테스트시스템의 작용상태에 대하여 도 2를 참조하여 설명하기로 한다.Hereinafter, an operation state of the LCD panel test system according to the present invention configured as described above will be described with reference to FIG. 2.
본 발명에 따른 엘시디 점등 테스트 시스템은 선행 제조 공정을 통하여 제작된 엘시디 패널이 최종에 그 점등 상태 테스트를 위하여 진행한다.In the LED lighting test system according to the present invention, an LCD panel manufactured through a prior manufacturing process is finally performed for the lighting state test.
이때 가장 먼저 엘시디 패널의 수동 전달이 필요한가를 판단한다(S10). 이 단계(S10)는 로봇 또는 그 외의 설비의 장치들이 고장나거나 임의로 소수의 엘시디 패널을 검사할 필요가 있을 때 메인 컨트롤러(10)로부터 또는 작업자가 임으로 지정한 상태에 따라 결정된다.In this case, first of all, it is determined whether the manual transmission of the LCD panel is necessary (S10). This step (S10) is determined according to the state designated by the operator or from the main controller 10 when the robot or other equipment of the equipment is broken or optionally need to inspect a small number of LCD panels.
이하 자동 전달 단계와 수동 전달단계를 나누어서 설명하기로 한다.Hereinafter, the automatic delivery step and the manual delivery step will be described separately.
먼저 자동 전달 단계라고 판단되면 엘시디 패널은 컨베이어 등으로 된 공급부(30)로부터 공급되고, 로봇(20)은 공급된 엘시디 패널을 테스트 장치(100)로 이송하게 된다(S20).First, if it is determined that the automatic transfer step LCD panel is supplied from the supply unit 30, such as a conveyor, the robot 20 transfers the supplied LCD panel to the test device 100 (S20).
그리고 테스트 장치(100)로 로봇(20)을 통하여 이송된 엘시디 패널은 그 테스트 장치(100)의 전달부(130)로 운반되게 된다.And the LCD panel transferred to the test device 100 through the robot 20 is to be carried to the transfer unit 130 of the test device 100.
이와 같이 로봇(20)을 통하여 테스트 장치(100)로 이송된 엘시디 패널은 자동전달부(130)에서 전달받게 된다. 그리고 자동전달부(130)는 이 엘시디 패널을 상향 경사지게 이송시킨 후 대략 60도의 각도로 전방 회동시킨다(S30).As such, the LCD panel transferred to the test apparatus 100 through the robot 20 is received by the automatic transmission unit 130. In addition, the automatic transmission unit 130 rotates the LCD panel forward at an angle of approximately 60 degrees after upwardly inclined (S30).
그리고 엘시디 패널의 전방 회동이 완료되면 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널의 존재 유무를 판단하게 되고(S40), 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 없으면 제 1이송대기부(140)가 작동하여 자동전달부(130)로부터 엘시디 패널을 전달받게 되며(S41), 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 있으면 제 2이송대기부(150)에서 엘시디 패널을 전달받게 된다(S50).When the forward rotation of the LCD panel is completed, it is determined whether the LCD panel exists in the first transfer standby unit 140 (S40). If there is no LCD panel in the first transfer standby unit 140, the first transfer standby unit ( 140 is operated to receive the LCD panel from the automatic transfer unit 130 (S41), if there is an LCD panel in the first transfer standby unit 140, the LCD panel is received from the second transfer standby unit 150. (S50).
즉, 공정 운용중 테스트 장치(100)에는 두 개의 엘시디 패널이 운용 중에 있게 되는데, 이때의 작동은 제 1이송대기부(140)에 엘시디 패널이 전달된 후 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널이 전달되면, 계속해서 로봇(20)을 통하여 또 다른 엘시디 패널이 전달부(130)로 전달되게 되고, 이 자동전달부(130)는 제 2이송대기부(150)에 다른 엘시디 패널을 전달하게 된다.That is, two LCD panels are in operation in the test apparatus 100 during the process operation. In this case, after the LCD panel is transferred to the first transfer standby unit 140, the LCD panel is turned on to the lighting test unit 120. When delivered, the LCD panel continues to be transferred to another LCD panel through the robot 20, and the automatic transmission unit 130 delivers another LCD panel to the second transfer standby unit 150. .
그리고 제 1이송대기부(140)로부터 점등 테스트부(120)에 엘시디 패널이 이송되면(S70) 촬상부(160)에서는 이송된 엘시디 패널의 얼라인먼트 위치를 촬상하게 되고, 이 촬상된 위치에 따라 테스트 위치에 맞도록 X축 위치조절부(171)와 Y축 위치조절부(172) 그리고 Z축 위치조절부(173) 및 회전 위치조절부(174)가 각각 작동하여 엘시디 패널의 정확한 테스트 위치를 맞추게 된다(S80).When the LCD panel is transferred from the first transfer standby unit 140 to the lighting test unit 120 (S70), the imaging unit 160 captures the alignment position of the transferred LCD panel, and the test is performed according to the imaged position. The X-axis positioning unit 171, the Y-axis positioning unit 172, and the Z-axis positioning unit 173 and the rotational position adjusting unit 174 are operated to match the positions, so that the correct test position of the LCD panel can be adjusted. It becomes (S80).
그리고 후광원이 발광하여 조명을 하게 됨과 동시에 점등 테스트부(120)의 접촉니들과 엘시디 패널의 접촉패드가 접촉한 후 점등 신호를 인가하게 되면 엘시디 패널 전체에 대한 점등이 이루어진다.(S90)In addition, when the back light source emits light and illuminates, when the contact needle of the lighting test unit 120 and the contact pad of the LCD panel come into contact with each other, a lighting signal is applied to the entire LCD panel.
이러한 점등 상태에서 작업자는 엘시디 패널의 점등 상태를 목시 테스트함과동시에 현미경을 통하여 정밀 테스트를 수행하게 된다. 그리고 테스트된 엘시디 패널이 정상상태면 작업자는 테스트 컨트롤러(110)를 통하여 정상상태라고 판별 입력하고, 불량상태라고 판별되면 테스트 컨트롤러(110)에 불량상태로 판별 입력한다.In this lighting state, the operator visually tests the lighting state of the LCD panel and simultaneously performs a precise test through the microscope. If the tested LCD panel is in a normal state, the operator may determine that the controller is in a normal state through the test controller 110.
그리고 이 테스트 컨트롤러(110)의 정상 및 불량 판별상태는 즉시 통신선로를 통하여 메인 컨트롤러(10)로 송신하게 되고, 이 메인 컨트롤러(10)에서는 이후 테스트된 엘시디 패널의 다음 작업 상태에 대한 공정을 시스템에 인식 및 인가하게 된다.And the normal and bad determination state of the test controller 110 is immediately transmitted to the main controller 10 through the communication line, the main controller 10 is a system for the next working state of the LCD panel tested afterwards To be recognized and applied.
한편 제 1이송대기부(140)로부터 이송된 엘시디 패널의 테스트가 종료되었는가의 여부를 판별하게 되고(S60), 판별결과 제 1이송대기부(140)에 있는 엘시디 패널의 테스트가 종료되면, 다시 제 1이송대기부(140)로부터 자동전달부(130) 측으로 테스트된 엘시디 패널은 이송되게 되고, 동시에 대기중이던 제 2이송대기부(150)가 점등 테스트부(120)로 엘시디 패널을 이송시키게 되며 이송된 다른 엘시디 패널은 점등 테스트부(120)에서 그 점등 상태의 테스트가 이루어지게 된다.(S70)On the other hand, it is determined whether the test of the LCD panel transferred from the first transfer standby unit 140 is terminated (S60), and when the test of the LCD panel in the first transfer standby unit 140 is terminated, the determination is made again. The LCD panel tested from the first transfer standby unit 140 to the automatic transfer unit 130 is transferred, and at the same time, the second transfer standby unit 150, which is in standby, transfers the LCD panel to the lighting test unit 120. The transferred LCD panel is tested in the lighting state of the lighting test unit 120 (S70).
그리고 제 1이송대기부(140)로부터 테스트된 엘시디 패널을 전달받은 자동전달부(130)는 다시 경사지게 하강하여 반송부(40) 측으로 엘시디 패널을 반송한(S100) 다음 로봇(20)으로부터 새로운 엘시디 패널을 전달받고, 다시 경사지게 상승한 후 제 1이송대기부(140)로 새로운 엘시디 패널을 전달하게 된다.And the automatic transfer unit 130 received the tested LCD panel from the first transfer standby unit 140 is again inclined down to convey the LCD panel to the carrier 40 side (S100) and then a new LCD from the robot 20 After receiving the panel, the panel is inclined again to transfer the new LCD panel to the first transfer standby unit 140.
다음으로 수동 전달이 필요하다고 판단되면, 위치조절부(170)는 모터(182)와 볼스크류(183) 그리고 엘엠가이드(184)로 된 안내부재에 의하여 수동전달부(180)로 그 전체가 이동하게 된다. 이때의 작동은 물론 자동동작이 가능하지만, 수동으로도구현 가능하다(S200).Next, if it is determined that manual transmission is necessary, the position adjusting unit 170 is moved to the manual transmission unit 180 by the guide member of the motor 182, the ball screw 183 and the LM guide 184. Done. At this time, the operation is of course automatic operation, but can be manually implemented (S200).
그리고 수동전달부(180)로 위치조절부(170)가 이동하면, 작업자는 위치조절부(170)의 패널 안착부분에 엘시디 패널을 안착시킨다(S210). 그리고 엘시디 패널이 안착되면 위치조절부(170)는 다시 본래의 위치, 즉 점등 테스트부(120)의 하측으로 이동하게 되고(S220), 이후 점등 테스트부(120)의 하측에서 접촉 위치에 대한 위치를 조절을 수행하게 된다(S230).And when the position control unit 170 is moved to the manual transmission unit 180, the operator seats the LCD panel on the panel mounting portion of the position control unit 170 (S210). When the LCD panel is seated, the position adjusting unit 170 moves back to the original position, that is, the lower side of the lighting test unit 120 (S220), and then the position of the contact position at the lower side of the lighting test unit 120. To perform the adjustment (S230).
그리고 접촉위치가 조절되면 이후 접촉 테스트 단계(S240)를 거치게 되고, 접촉 테스트가 완료되면 다시 위치조절부(170)는 안내부재에 의하여 수동전달부(180)로 복귀하게 되며(S250), 작업자는 수동전달부(180)로 복귀한 엘시디 패널을 수거하여 그 판별상태에 따라 분류한 후 다음 작업을 수행하게 된다.And when the contact position is adjusted after the contact test step (S240), and after the contact test is completed, the position adjusting unit 170 is returned to the manual transmission unit 180 by the guide member (S250), the operator The LCD panel returned to the manual transfer unit 180 is collected and classified according to the discriminated state, and then the next operation is performed.
이상과 같은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 자동 전달공정을 수행시에는 엘시디 패널의 이송에 소요되는 시간, 즉 하나의 엘시디 패널을 측정한 후 다음 엘시디 패널이 접촉되기까지 걸리는 공정 시간이 장치의 정밀도와 운용상태에 따라 달라질 수 있으나 대략 9초 내외의 시간 안에 이루어질 수 있도록 한다. 이러한 공정 시간은 종래의 테스트 장치에서 소용되는 시간의 거의 절반 내지는 2/3 수준으로 그만큼 공정시간을 단축시킬 수 있게 된다.In the LCD panel lighting test system according to the present invention as described above, the time required for the transfer of the LCD panel during the automatic transfer process, that is, the process time taken after measuring one LCD panel and then contacting the next LCD panel is a device. This may vary depending on the precision and operating conditions of the system, but can be achieved within about 9 seconds. This process time can be shortened to about half or two thirds of the time used in the conventional test apparatus.
그리고 필요에 따라 수동전달부(170)를 통하여 수동으로 엘시디 패널을 점등 테스트 할 수 있도록 함으로써 보다 효율적인 시스템의 운용이 가능하게 된다.In addition, by enabling the LED panel to be manually turned on and tested through the manual transmission unit 170 as necessary, more efficient operation of the system is possible.
한편, 이러한 본 발명의 구성 외에 이들의 세부적인 일부분을 변형하여 다른 실시예로 적용할 수 있을 것이고, 또는 본 발명의 구성상태 및 그 변형된 상태의운용방법을 다르게 구현할 수 있을 것이다. 그러나 기본적으로 변형된 구성과 방법들이 본 발명에서 청구하고 있는 구성요소들을 모두 포함하고 있는 것이라면 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 할 것이다.On the other hand, in addition to the configuration of the present invention may be applied to other embodiments by modifying some of these details, or may be implemented differently the configuration state of the present invention and the operation method of the modified state. However, if the modified configuration and methods basically include all the components claimed in the present invention, it should be considered that they are included in the technical scope of the present invention.
이상과 같은 본 발명에 따른 엘시디 패널 점등 테스트 시스템은 시스템의 배치와 구성상태를 개선함과 동시에 점등 테스트 장치의 구성을 개선함으로써 엘시디 패널의 점등 테스트를 위한 공정 시간을 감소시켜 공정 효율을 보다 향상시킬 수 있도록 하고, 또한 설비의 배치상태에 따른 점유공간 및 시스템 구현 경비를 줄일 수 있도록 하며, 더욱이 자동전달과 더불어 수동으로도 엘시디 패널을 전달할 수 있도록 함으로써 시스템의 운용효율을 극대화 할 수 있는 효과가 있다.The LCD panel lighting test system according to the present invention improves the process efficiency by reducing the process time for the lighting test of the LCD panel by improving the arrangement and configuration of the system and improving the configuration of the lighting test apparatus. In addition, it can reduce the occupied space and the cost of implementing the system according to the arrangement of the facility, and can also maximize the operational efficiency of the system by allowing the LCD panel to be delivered manually as well as automatic delivery. .
Claims (5)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0014152A KR100470363B1 (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | LCD panel lighting test system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0014152A KR100470363B1 (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | LCD panel lighting test system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20030075054A KR20030075054A (en) | 2003-09-22 |
| KR100470363B1 true KR100470363B1 (en) | 2005-02-05 |
Family
ID=32224965
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR10-2002-0014152A KR100470363B1 (en) | 2002-03-15 | 2002-03-15 | LCD panel lighting test system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100470363B1 (en) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990065368A (en) * | 1998-01-12 | 1999-08-05 | 이억기 | LCD panel loading method and lighting device for lighting inspection |
| KR19990038591U (en) * | 1998-03-27 | 1999-10-25 | 김영환 | LCD cell lighting inspection device |
| KR20000055998A (en) * | 1999-02-12 | 2000-09-15 | 윤종용 | A system and a method for moving a substrate into and out of |
| KR20000065566A (en) * | 1999-04-07 | 2000-11-15 | 김영환 | Visual tester for lcd cell |
| KR20020065089A (en) * | 2001-02-05 | 2002-08-13 | 메카텍스 (주) | LCD panel lighting test system |
-
2002
- 2002-03-15 KR KR10-2002-0014152A patent/KR100470363B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990065368A (en) * | 1998-01-12 | 1999-08-05 | 이억기 | LCD panel loading method and lighting device for lighting inspection |
| KR19990038591U (en) * | 1998-03-27 | 1999-10-25 | 김영환 | LCD cell lighting inspection device |
| KR20000055998A (en) * | 1999-02-12 | 2000-09-15 | 윤종용 | A system and a method for moving a substrate into and out of |
| KR20000065566A (en) * | 1999-04-07 | 2000-11-15 | 김영환 | Visual tester for lcd cell |
| KR20020065089A (en) * | 2001-02-05 | 2002-08-13 | 메카텍스 (주) | LCD panel lighting test system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20030075054A (en) | 2003-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6356093B2 (en) | Printed circuit board testing apparatus | |
| US20040120570A1 (en) | Automatic optical inspection system and method | |
| KR101074394B1 (en) | Apparatus for Testing LCD Panel | |
| KR20020060931A (en) | Apparatus and Method For Probe Testing Printed Circuit Board | |
| KR100534023B1 (en) | Apparatus for inspecting camera module | |
| JPH09500205A (en) | Optical scanning and alignment of the device under test | |
| KR101802843B1 (en) | Automated Vision Inspection System | |
| JP2006329714A (en) | Lens inspection apparatus | |
| KR100538912B1 (en) | Method for detecting the position of components placed on a substrate by a pick-and-place robot | |
| JP4224268B2 (en) | Electronic circuit component mounting machine, and mounting position accuracy inspection method and apparatus for the same | |
| KR100265727B1 (en) | Inspection and marking system for pcb | |
| KR100470363B1 (en) | LCD panel lighting test system | |
| KR100399534B1 (en) | LCD panel lighting test system | |
| US20040150814A1 (en) | Inspecting device for semiconductor wafer | |
| JP3158102U (en) | Printed circuit board test mechanism with integrated flying probe detection | |
| JP6476294B2 (en) | Insertion component positioning inspection method, insert component mounting method, insert component positioning inspection apparatus, and insert component mounting apparatus | |
| KR100354104B1 (en) | Alignment apparatus to test position for LCD panel | |
| JP2005353750A (en) | Maintenance and management apparatus for electronic component mounting apparatus | |
| KR20020029853A (en) | Pcb inspection system | |
| KR101017626B1 (en) | Alignment stage for lcd tester | |
| KR20170012911A (en) | PCB Inspection device with AOI | |
| JPH08115954A (en) | Inspection equipment | |
| KR19990062033A (en) | Semiconductor image inspection device and method using rotary table method | |
| JP6616981B2 (en) | Ball inspection repair device | |
| JP7249012B2 (en) | Conductive ball inspection and repair equipment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| N231 | Notification of change of applicant | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120130 Year of fee payment: 8 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |