KR100408655B1 - Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor - Google Patents

Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor Download PDF

Info

Publication number
KR100408655B1
KR100408655B1 KR10-2001-0053179A KR20010053179A KR100408655B1 KR 100408655 B1 KR100408655 B1 KR 100408655B1 KR 20010053179 A KR20010053179 A KR 20010053179A KR 100408655 B1 KR100408655 B1 KR 100408655B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
data
counter
time division
control memory
Prior art date
Application number
KR10-2001-0053179A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030019821A (en
Inventor
류지형
Original Assignee
주식회사 현대시스콤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 현대시스콤 filed Critical 주식회사 현대시스콤
Priority to KR10-2001-0053179A priority Critical patent/KR100408655B1/en
Publication of KR20030019821A publication Critical patent/KR20030019821A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100408655B1 publication Critical patent/KR100408655B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q11/00Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/04Selecting arrangements for multiplex systems for time-division multiplexing
    • H04Q11/08Time only switching
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q2213/00Indexing scheme relating to selecting arrangements in general and for multiplex systems
    • H04Q2213/16Service observation; Fault circuit; Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Abstract

본 발명은 5×5 매트릭스 구조로 이루어진 타임 스위칭보드의 이상 유무를 데스트하여 타임 스위칭보드에 대한 디버깅 및 신뢰성을 향상 시킬 수 있도록 한 교환기의 시간분할 교환장치 및 그 제어방법에 관한 것으로, 이러한 본 발명은 테스트 프로그램을 저장하고 시험에 대한 프로세싱을 제어하기 위한 각 제어 데이터를 발생시키는 테스트 메인(Test Main) 프로세서부와, 콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비하여 시간 분할 교환을 수행하는 시간 분할 교환부와, 상기 시간 분할 교환부에 설치됨과 아울러 테스트 메인 프로세서부와 인터페이스하고 시간 분활 교환부를 제어하여 테스트를 수행하는 EPLD부와, 상기 시간 분할 교환부로 클럭 신호를 출력하는 국부 링크 보드와, 사용자의 입력 데이터에 의해 시험하고자하는 프로세싱이 선택되어지는 터미널 단말부로 구성된다.The present invention relates to a time division exchange apparatus of a switch and a control method thereof, which can improve the debugging and reliability of a time switching board by testing the presence or absence of an abnormality of a time switching board having a 5 × 5 matrix structure. A test main processor unit for storing test programs and generating respective control data for controlling processing for a test, a time division exchange unit having a control memory and a speech memory to perform a time division exchange; An EPLD unit which is installed in the time division exchange unit and interfaces with a test main processor unit and controls the time division exchange unit to perform a test, a local link board which outputs a clock signal to the time division exchange unit, and user input data. By which the processing to be tested is selected. It consists board terminal portion.

Description

교환기의 시간분할 교환장치 및 그 제어방법{Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor}Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor}

본 발명은 이동통신 시스템의 교환기에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 5×5 매트릭스 구조로 이루어진 타임 스위칭보드의 이상 유무를 데스트하여 타임 스위칭보드에 대한 디버깅 및 신뢰성을 향상 시킬 수 있도록 한 교환기의 시간분할 교환장치 및 그 제어방법에 관한 것이다.The present invention relates to an exchanger of a mobile communication system, and more particularly, a time division of an exchanger for improving the debugging and reliability of the time switching board by testing whether or not there is an error of a time switching board having a 5 × 5 matrix structure. An exchange apparatus and a control method thereof.

일반적으로 이동통신 시스템은, 사람, 자동차, 선박, 열차, 항공기 등 이동체를 대상으로 하는 통신 시스템으로, 이에는 이동전화(휴대전화, 차량전화), 항만전화, 항공기전화, 이동공중전화(열차, 유람선, 고속버스 등에 설치), 무선호출, 무선전화, 위성이동통신, 아마추어무선, 어업무선 등이 포함된다.In general, a mobile communication system is a communication system for a mobile device such as a person, a car, a ship, a train, an aircraft, and includes a mobile phone (mobile phone, a vehicle phone), a port phone, an aircraft phone, a mobile public phone (train, Cruise ships, express buses, etc.), radio calling, radiotelephony, satellite mobile communication, amateur radio, fishing service.

이러한 이동통신에는 아날로그 방식을 사용하는 AMPS(Advanced Mobile Phone Service) 시스템, 디지털 방식을 사용하는 CDMA 및 TDMA(Time Division Multiple Access, 시분할 다원 접속)시스템, FDMA(Frequency Division Multiple Access, 주파수 분할 다원접속) 시스템 등이 있고, PCS(Personal Communication System, 개인휴대통신)와 IMT-2000등의 시스템이 사용되고 있다.These mobile communications include the AMPS (Advanced Mobile Phone Service) system using analog methods, CDMA and TDMA (Time Division Multiple Access) systems using digital methods, and Frequency Division Multiple Access (FDMA) systems. Systems, and systems such as PCS (Personal Communication System) and IMT-2000 are used.

도 1은 일반적인 이동통신 시스템의 블록구성도이다.1 is a block diagram of a general mobile communication system.

도 1에 도시된 바와 같이, 교환기(10)의 상태를 관리하는 상태관리부(11)와 상기 교환기(10)에서의 호처리를 수행하는 호처리부(12)를 구비하고, 가입자의 통화로를 구성하며 타통신망과의 접속을 수행하는 교환기(10)과, 제어국(20)의 상태를 관리하는 상태관리부(21)와, 상기 제어국(20)에서의 호처리를 수행하는 호처리부(22)를 구비하고, 무선링크 및 유선링크를 제어하며, 가입자가 이동 중에도 통화의 지속성을 유지시키기 위한 핸드오프 기능을 수행하는 제어국(20)과, 단말기(40)와 함께 무선구간에서 프로토콜을 이용하여 통신을 수행하는 기지국(30)과, 가입자가 이동통신망을 통해 통신을 할 수 있도록 하는 단말장치인 단말기(40)등으로 구성된다. 그래서 교환기(10)와 제어국(20) 및 기지국(30)을 통해 단말기(40)의 통화가 실현하게 된다.As shown in FIG. 1, a state management unit 11 managing a state of an exchange 10 and a call processor 12 performing a call processing at the exchange 10 constitute a subscriber's call path. And a switch 10 for connecting to another communication network, a state manager 21 for managing a state of the control station 20, and a call processor 22 for performing call processing at the control station 20. And a control station 20 which controls a radio link and a wire link, and performs a handoff function for maintaining the continuity of the call even when the subscriber is on the move, and the terminal 40 using a protocol in a radio section. It consists of a base station 30 that performs communication, and a terminal 40 that is a terminal device for allowing a subscriber to communicate through a mobile communication network. Thus, the call of the terminal 40 is realized through the exchange 10, the control station 20, and the base station 30.

여기서, 상기 교환기(10)에는 타임 스위칭 보드(미도시)가 내장되어 있다.Here, a time switching board (not shown) is built in the exchanger 10.

그러나, PCM 스피치 패스 데이터(Speech Path Data)의 시 분할 교환을 위하여 개발된 상기 타임 스위치 보드는 기존에 개발된 보드에 비해 용량이 2배 이상이므로, 기존에 쓰고 있던 테스트 프로그램으로는 증가된 용량을 대해 제대로 시험할 수가 없고, 그 만큼 새로 개발된 보드에 대한 디버깅 및 보드에 대한 신뢰성을 증명할 수 없는 문제점이 있었다.However, the time switch board developed for time-division exchange of PCM speech path data has more than twice the capacity of the conventionally developed board, so that the existing test program can increase the capacity. There was a problem that it could not be tested properly, and that the debugging of the newly developed board and the reliability of the board could not be proved.

따라서, 본 발명은 상기한 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로 본 발명의 목적은, 5×5 매트릭스 구조로 이루어진 타임 스위칭보드의 이상 유무를 데스트하여 타임 스위칭보드에 대한 디버깅 및 신뢰성을 향상 시킬 수 있도록 한 교환기의 시간분할 교환장치 및 그 제어방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to solve the problems according to the prior art described above, and an object of the present invention is to test debugging and reliability of a time switching board by testing whether there is an abnormality of a time switching board having a 5 × 5 matrix structure. The present invention provides a time division exchange device for a switch and a control method thereof.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치의 특징은,Features of the time division exchange device of the exchanger according to the present invention for achieving the above object,

콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비한 이동통신 시스템의 교환기에 있어서,In an exchanger of a mobile communication system having a control memory and a speech memory,

테스트 프로그램을 저장하고 시험에 대한 프로세싱을 제어하기 위한 각 제어 데이터를 발생시키는 테스트 메인(Test Main) 프로세서부와;A test main processor unit for storing each control data for storing a test program and controlling processing for a test;

콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비하여 시간 분할 교환을 수행하는 시간 분할 교환부와;A time division exchange unit having a control memory and a speech memory to perform time division exchange;

상기 시간 분할 교환부에 설치됨과 아울러 테스트 메인 프로세서부와 인터페이스하고 시간 분활 교환부를 제어하여 테스트를 수행하는 EPLD부와;An EPLD unit which is installed in the time division exchange unit and interfaces with a test main processor unit and controls the time division exchange unit to perform a test;

상기 시간 분할 교환부로 클럭 신호를 출력하는 국부 링크 보드와;A local link board for outputting a clock signal to the time division switch;

사용자의 입력 데이터에 의해 시험하고자하는 프로세싱이 선택되어지는 터미널 단말부로 구성된다.It consists of a terminal terminal in which the processing to be tested by the user's input data is selected.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법의 특징은,In addition, the characteristics of the control method of the time division exchange apparatus of the exchanger according to the present invention for achieving the above object,

콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비한 이동통신 시스템의 교환기의 제어방법에 있어서,In the control method of an exchange of a mobile communication system having a control memory and a speech memory,

메인 프로세서의 타이머를 0으로 초기화 함과 아울러 데이터 베이스를 초기화하는 단계와;Initializing the timer of the main processor to 0 and initializing the database;

메인 프로세서의 헤드를 디스플레이시키고, 사용자의 입력데이터에 의해 시험하고자 하는 테스트 프로그램중 개별 테스트 프로그램을 선택했는지 또는 자동 테스트 프로그램을 선택했는지 판단하는 단계와;Displaying a head of the main processor and determining, based on user input data, whether an individual test program or an automatic test program is selected among the test programs to be tested;

상기 판단결과 자동 테스트를 선택하였으면, 자동 테스트 동작을 수행하고, 개별 테스트 동작을 수행하였으면, 개별 테스트 동작을 수행하는 단계와;If the automatic test is selected as a result of the determination, performing the automatic test operation; and if the individual test operation is performed, performing the individual test operation;

상기 두 테스트 동작을 선택하지 않을 경우에는 테스트 동작 시험을 종료하는 단계를 포함하여 이루어진다.If the two test operations are not selected, the step of terminating the test operation test is performed.

도 1은 일반적인 일반적인 이동통신 시스템을 나타낸 구성도,1 is a block diagram showing a general general mobile communication system,

도 2는 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치를 나타낸 구성도,2 is a block diagram showing a time division exchange apparatus of the exchanger according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치의 메인 프로세서의 제어방법을 나타낸 흐름도,3 is a flowchart illustrating a control method of a main processor of a time division exchange apparatus of an exchange according to the present invention;

도 4는 도 3의 개별 테스트 루틴을 나타낸 흐름도,4 is a flow chart illustrating an individual test routine of FIG. 3;

도 5는 도 4의 TD-BUS 인터페이스 시험루틴을 나타낸 흐름도,5 is a flowchart showing a TD-BUS interface test routine of FIG. 4;

도 6은 도 4의 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험루틴을 나타낸 흐름도,6 is a flowchart showing a control memory write / lead test routine of FIG. 4;

도 7은 도 4의 시간 분할 교환 시험루틴을 나타낸 흐름도이다.7 is a flowchart illustrating the time division exchange test routine of FIG. 4.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 테스트 메인 프로세서부100: test main processor

200 : 시간 분할 교환부200: time division exchange

300 : 국부 링크 보드300: Local Link Board

400 : 터미널 단말부400: terminal terminal

이하, 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치 및 그 제어방법의 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of a time division exchange apparatus and a control method of the exchange according to the present invention will be described.

도 2는 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치를 나타낸 구성도이다.2 is a block diagram showing a time division exchange apparatus of the exchanger according to the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 테스트 프로그램을 저장하고 시험에 대한 프로세싱을 제어하기 위한 각 제어 데이터를 발생시키는 테스트 메인(Test Main) 프로세서부(100)와, 콘트롤 메모리(conrtol memory)(110) 및 스피치 메모리(speech memory)(120)를 구비하여 시간 분할 교환을 수행하는 시간 분할 교환부(200)와, 상기 시간 분할 교환부(200)에 설치됨과 아울러 테스트 메인 프로세서부(100)와 인터페이스하고 시간 분활 교환부(200)를 제어하여 테스트를 수행하는 EPLD부(130)와, 상기 시간 분할 교환부(200)로 클럭 신호를 출력하는 국부 링크 보드(300)와, 사용자의 입력 데이터에 의해 시험하고자하는 프로세싱이 선택되어지는 터미널 단말부(400)로 구성된다.As shown in FIG. 2, a test main processor unit 100 for storing a test program and generating respective control data for controlling processing for a test, a control memory 110, and A time division exchange unit 200 having a speech memory 120 for performing time division exchange, and installed in the time division exchange unit 200, and interfacing with the test main processor unit 100 for a time. The EPLD unit 130 controls the division switching unit 200 to perform the test, the local link board 300 outputting a clock signal to the time division switching unit 200, and the user's input data. The processing consists of a terminal terminal 400 to be selected.

상기와 같이 구성된 교환기의 시간분할 교환장치의 동작을 살펴보면 다음과 같다.Looking at the operation of the time division exchange device of the exchange configured as described above are as follows.

먼저, 터미널 단말부(400)에서 사용자의 입력 데이터에 의해 시험하고자 하는 프로세싱을 선택한다.First, the terminal terminal 400 selects the processing to be tested by the user's input data.

그리고, 선택된 프로세싱에 따라 테스트 메인 프로세서(100)의 제어 데이터가 5×5 시간 분할 교환부(200)로 송신되고, 시간 분할 교환부(200)에서는 구현된 304pin EPLD 로직에 따라 이 데이터를 클럭 타이밍에 맞춰 수신한다.The control data of the test main processor 100 is transmitted to the 5 × 5 time division switching unit 200 according to the selected processing, and the time division switching unit 200 clocks the data according to the implemented 304pin EPLD logic. Receive according to.

여기서, 데이터를 수신한 EPLD부(130)는 자신의 구현 로직에 의해서 시험하고자 하는 PCM 패턴 데이터를 발생시키고, 자기 보드에 있는 시간 분할 교환에 관련된 메모리 즉, 콘트롤 메모리(110)와 스피치 메모리(120)에 이 데이터들을 송신하여 시간 분할 교환이 일어나도록 한다.Here, the EPLD unit 130 receiving the data generates the PCM pattern data to be tested by its implementation logic, and the memory related to the time division exchange in the magnetic board, that is, the control memory 110 and the speech memory 120. Send these data so that a time division exchange occurs.

또한, 상기 시간 분할 교환된 데이터는 경로를 거쳐 다시 EPLD부(130)로 수신되어진다.In addition, the time-division exchanged data is again received by the EPLD unit 130 via a path.

상기 교환된 PCM 패턴 데이터를 수신한 EPLD부(130)는 자신의 구현 로직에 의해서 이 데이터를 테스트 메인 프로세서로 송신한다.The EPLD unit 130 receiving the exchanged PCM pattern data transmits the data to the test main processor by its implementation logic.

상기 테스트 메인 프로세서(100)에서는 자신이 처음에 보낸 송신 데이터와 수신된 데이터를 각 비트 단위로 서로 비교하여 시험이 제대로 이루어 졌는지를 측정한다.The test main processor 100 compares the first transmission data and the received data by each bit unit to determine whether the test is properly performed.

따라서, 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치는 기존의 공간 분할 교환 보드에서처럼 클럭 발생 장치가 따로 필요없으며, 시스템에서 옆에 실장되는 링크보드만 있으면 된다. 이 시험을 통해 시간 분할 교환 보드의 각 경로 뿐만 아니라 시간 분할 교환에 관여하는 콘트롤 메모리, 스피치 메모리의 이상 유무도 쉽게 판단할 수 있으며, EPLD칩과 메인 프로세서와의 인터페이스도 제대로 이루어지는지를 판단할 수 있게 해준다.Therefore, the time division exchange apparatus of the exchange according to the present invention does not need a separate clock generator as in the conventional space division exchange board, and only a link board mounted next to the system is required. This test makes it easy to determine not only the paths of the time division exchange boards, but also the control memory and speech memory involved in the time division exchange, and whether the interface between the EPLD chip and the main processor is properly performed. Do it.

또한 이러한 시험을 통해 시험 오류가 발생시 보드를 정상적으로 만들기 위한 디버깅 포인터를 쉽게 찾을 수 있도록 해준다.These tests also make it easy to find debugging pointers to make the board normal in the event of a test failure.

상기와 같이 구성된 교환기의 시간분할 교환장치의 동작을 도 3을 참조하여 상세히 살펴보면 다음과 같다.The operation of the time division exchange apparatus of the exchange configured as described above will be described in detail with reference to FIG. 3.

도 3은 본 발명에 따른 교환기의 시간분할 교환장치의 메인 프로세서의 제어방법을 나타낸 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating a control method of a main processor of a time division exchange apparatus of an exchange according to the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 먼저, 메인 프로세서의 타이머를 0으로 초기화 함과 아울러 데이터 베이스를 초기화한다(S101)(S103).As shown in FIG. 3, first, the timer of the main processor is initialized to 0, and the database is initialized (S101) (S103).

그리고, 메인 프로세서의 헤드를 디스플레이시키고(S105)(S107), 사용자의 입력데이터에 의해 시험하고자 하는 테스트 프로그램중 개별 테스트 프로그램을 선택했는지 또는 자동 테스트 프로그램을 선택했는지 판단한다(S109).Then, the head of the main processor is displayed (S105) (S107), and it is determined whether an individual test program or an automatic test program is selected among the test programs to be tested by the user input data (S109).

상기 판단결과 자동 테스트를 선택하였으면, 자동 테스트 동작을 수행하고(S111), 개별 테스트 동작을 수행하였으면, 개별 테스트 동작을 수행한다(S113).If the automatic test is selected as the determination result, the automatic test operation is performed (S111). If the individual test operation is performed, the individual test operation is performed (S113).

만약, 상기 두 테스트 동작을 선택하지 않을 경우에는 테스트 동작 시험을 종료한다(S115).If the two test operations are not selected, the test operation test is terminated (S115).

한편, 도 4에 도시된 바와 같이, 개별 테스트 동작을 선택하였을 경우, TSMA-A 보드를 셋팅하고 테스트 종류 선택의 메시지를 디스플레이한다(S201)(S203).On the other hand, as shown in Figure 4, when the individual test operation is selected, the TSMA-A board is set and a message of the test type selection is displayed (S201) (S203).

그리고, 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 TD-BUS 인터페이스 시험, 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험 및 시간 분할 교환 시험루틴인지 판단한다(S205).Then, it is determined whether the test program to be tested is the TD-BUS interface test, the control memory write / read test, and the time division exchange test routine (S205).

상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 TD-BUS 인터페이스 시험을 선택하였으면, TD-BUS 인터페이스 시험루틴을 시험수행한다(S207).As a result of the determination, if the test program to be tested selects the TD-BUS interface test, the TD-BUS interface test routine is tested (S207).

그리고, 상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험을 선택하였으면, 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험루틴을 시험수행한다(S209).If the test program to be tested selects the control memory write / read test, the control memory write / lead test routine is tested (S209).

또한, 상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 시간 분할 교환 시험을 선택하였으면, 시간 분할 교환 시험루틴을 시험수행한다(S211).In addition, when the test program to be tested selects the time division exchange test, the time division exchange test routine is tested (S211).

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, TD-BUS 인터페이스 시험을 선택하였을 경우, ok 카운터 및 nok 카운터를 모두 0으로 초기화 한 후 TD-BUS 선택 메시지를 디스플레이한다(S301)(S303).Meanwhile, as shown in FIG. 5, when the TD-BUS interface test is selected, the ok and nok counters are initialized to 0, and then a TD-BUS selection message is displayed (S301) (S303).

그리고, TD-BUS 선택 메시지(('A','a'),('B','b'),(default))의 선택에 따라 즉, 사용자가 'A','a'를 선택하였으면 port=A_PORT를 시험하고, 사용자가 'B','b'를 선택하였으면 port=B_PORT를 시험하며, 사용자가 'default'를 선택하였으면 port=A_PORT를 시험한다(S305)(S307)(S309)(S311).Then, according to the selection of the TD-BUS selection messages (('A', 'a'), ('B', 'b'), (default)), that is, if the user selects 'A', 'a' test port = A_PORT, if the user selects 'B', 'b', test port = B_PORT; if the user selects 'default', test port = A_PORT (S305) (S307) (S309) ( S311).

여기서, Tsma-a 보드에 TD-BUS는 port, Test-side는 A/B가 셋팅(port, side,data, 시험채널)된 메시지가 디스플레이된다(S313).Here, a message in which the TD-BUS is a port and the test-side is A / B set (port, side, data, test channel) is displayed on the Tsma-a board (S313).

그리고, 데이터를'00'∼'256'까지 순차적으로 레지스터에 라이터 시킴과 아울러 데이터를 순차적으로 읽어들이고, 상기 데이터가 레지스터로부터 읽어들인 데이터인지 판단한다(S315)(S317)(S319).The data is sequentially written to the registers from '00' to '256', the data is read sequentially, and it is determined whether the data is data read from the register (S315) (S317) (S319).

상기 판단결과 레지스터로부터 읽어들인 데이터가 아닐경우, 벨을 울림과 아울러 에러 카운터를 1씩 증가시킨다(S321).If the data is not read from the register as a result of the determination, the bell rings and the error counter is incremented by one (S321).

그리고, 레지스터의 라이터 데이터('00'∼'FF') 및 리드 데이터('00'∼'FF')를 디스플레이 시키고, 상기 테스트를 계속 수행할 것인지 판단한다(S323)(S325).Then, the writer data '00' to 'FF' and the read data '00' to 'FF' of the register are displayed, and it is determined whether the test is to be continued (S323) (S325).

상기 판단결과 테스트를 계속 수행하지 않을 경우, 시험을 종료시킨다(S327).If the test does not continue the determination result, the test is terminated (S327).

한편, 상기 S319의 판단결과 레지스터로부터 읽어들인 데이터이고, 테스트를 계속 수행할 경우, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 i값이 256보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S329)(S331)(S333).On the other hand, it is the data read from the result of the determination in S319, and if the test is continued, it is determined whether the i value is greater than or less than 256 by increasing the 'ok counter' by 1 (S329) (S331) (S333). .

상기 판단결과 i값이 256보다 크면, ok 카운터 또는 에러 카운터를 읽어들인다(S335)(S337).If the i value is greater than 256, the ok counter or the error counter is read (S335) (S337).

그리고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료한다(S339)(S341)(S343).When the error counter is greater than '0', the result is NOK, and the error counter is smaller than '0' and the result is ok to end the test (S339) (S341) (S343).

다른 한편, 도 6에 도시된 바와 같이, 콘트롤 메모리 라이터/리드 시험을 선택하였을 경우, ok 카운터 및 에러 카운터를 0으로 초기화 한 후 다수(0∼4)의 콘트롤 메모리에서 하나의 콘트롤 메모리를 선택한다(S401)(S403).On the other hand, when the control memory writer / lead test is selected as shown in FIG. 6, after initializing the ok counter and the error counter to 0, one control memory is selected from a plurality of control memories (0 to 4). (S401) (S403).

상기 선택된 콘트롤 메모리에 번호를 입력함과 아울러 Tsma-a 보드(A-port, side, 콘트롤 메모리, 데이터)를 셋팅한다(S405)(S407).A number is input to the selected control memory and a Tsma-a board (A-port, side, control memory, data) is set (S405) (S407).

그리고, 상기 콘트롤 메모리에 데이터를 라이트 함과 아울러 콘트롤 메모리로부터 데이터를 리드한다(S409).Then, data is written to the control memory and data is read from the control memory (S409).

이때, 상기 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하는지 판단한다(S411).At this time, it is determined whether the values of the write data and the read data of the control memory match.

상기 판단결과 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하지 않으면, 벨을 울림과 아울러 에러 카운터를 1씩 증가시킨다(S413).As a result of the determination, if the values of the write data and the read data of the control memory do not coincide, the bell rings and the error counter is incremented by one (S413).

그리고, 콘트롤 메모리에서 읽어들인 결과, 즉 타임 슬롯 '00'∼'31', 라이트 데이터 '00'∼'FF' 및 리드 데이터 '00'∼'FF'를 디스플레이 시키고, 상기 테스트를 계속 수행할 것인지 판단한다(S415)(S417).Then, as a result of reading from the control memory, that is, time slots '00' to '31', write data '00' to 'FF', and read data '00' to 'FF' are displayed, and the test is to be continued. It determines (S415) (S417).

상기 판단결과 테스트를 계속 수행하지 않을 경우, 시험을 종료시킨다(S419).If it is determined that the test is not to be continued, the test is terminated (S419).

한편, 상기 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하거나 테스트를 계속 수행할 경우, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 i값이 2048보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S421)(S423)(S425).On the other hand, when the value of the write data and the read data of the control memory coincide or continue the test, it is determined whether the i value is larger or smaller than 2048 by increasing the 'ok counter' by 1 (S421) (S423) ( S425).

상기 판단결과 i값이 2048보다 크면, ok 카운터 또는 에러 카운터를 읽어들이고, 에러 카운터가 0보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S427)(S429).If the i value is greater than 2048, the ok counter or the error counter is read, and it is determined whether the error counter is greater than or less than zero (S427) (S429).

그리고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료한다(S431)(S433)(S435).If the error counter is greater than '0', the result is NOK, and the error counter is smaller than '0' and the result is ok to end the test (S431) (S433) (S435).

또 다른 한편, 도 7에 도시된 바와 같이, 시간 분할 교환 시험을 선택하였을 경우, ok 카운터 및 에러 카운터를 0으로 초기화 한 후 "Tsma-a sp-path test" 메시지를 디스플레이시킨다(S501)(S503).On the other hand, as shown in FIG. 7, when the time division exchange test is selected, after initializing the ok counter and the error counter to 0, the message "Tsma-a sp-path test" is displayed (S501) (S503). ).

그리고, 다수의 입/출력 데이터(0∼4)로부터 하나의 입/출력 데이터를 선택한다(S505).Then, one input / output data is selected from the plurality of input / output data 0 to 4 (S505).

또한, 입/출력에 관련된 스피치 메모리를 선택함과 아울러 Tsma-a 보드(port, 콘트롤 메모리, 스피치 메모리, 입력 데이터, 출력 데이터)를 셋팅한다(S507)(S509).In addition, a speech memory related to input / output is selected, and a Tsma-a board (port, control memory, speech memory, input data, output data) is set (S507) (S509).

그리고, 상기 콘트롤 메모리가 4보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S511).Then, it is determined whether the control memory is larger than 4 or smaller (S511).

상기 판단결과 콘트롤 메모리가 4보다 작으면, 콘트롤 메모리를 1씩 증가시킨다(S513).If the control memory is less than 4, the control memory is incremented by one (S513).

또한, 스피치 메모리가 4보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S515).In addition, it is determined whether the speech memory is larger or smaller than 4 (S515).

상기 판단결과 스피치 메모리가 4보다 작으면, 스피치 메모리 카운터를 1씩 증가시키고 패턴 데이터가 FF보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S517)(S519).As a result of the determination, if the speech memory is less than 4, the speech memory counter is incremented by 1 and it is determined whether the pattern data is larger or smaller than FF (S517) (S519).

상기 판단결과 패턴 데이터가 FF 보다 작으면, 데이터를 콘트롤 메모리에서 라이트/리드하여 시간 분할 교환한 후 경로를 거쳐 들어온 데이터를 읽어 들인다(S521).If the pattern data is smaller than FF as a result of the determination, data is read / read in the control memory, and the data input through the path is read after time-division exchange, in step S521.

그리고, 라이터 패턴 데이터와 리드 패턴 데이터가 같은지 판단한다(S523).Then, it is determined whether the lighter pattern data and the read pattern data are the same (S523).

상기 판단결과 라이터 패턴 데이터와 리드 패턴 데이터가 같지 않으면 시험결과를 NOK로 하고, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 ok 카운터와 에러 카운터를 읽어들인다(S525)(S527)(S529)(S531).If the lighter pattern data and the lead pattern data are not the same as the result of the determination, the test result is NOK, and the ok counter and the error counter are read by increasing the 'ok counter' by one (S525) (S527) (S529) (S531).

그리고, 에러 카운터가 0보다 큰지 또는 작은지 판단한다(S533).Then, it is determined whether the error counter is larger or smaller than zero (S533).

상기 판단결과 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료한다(S535)(S537)(S539).If the error counter is greater than '0' as a result of the determination, the execution result is NOK, and the error counter is smaller than '0' and the execution result is ok (S535) (S537) and S539.

이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은 시스템을 완전히 갖추지 않고서도 터미널 단말, 시간 분할 교환 보드, 프로세서 만으로도 시험을 할 수 있는 효과가 있다.As described above, the present invention has the effect of being able to test only a terminal terminal, a time division switching board, and a processor without having a system completely.

또한, 이 시험을 통해 검증된 시간 분할 교환 보드를 시스템에 적용함으로서 시스템의 신뢰성 및 안정성을 향상 시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, by applying the time-division exchange board verified through this test to the system, it is effective to improve the reliability and stability of the system.

Claims (6)

콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비한 이동통신 시스템의 교환기에 있어서,In an exchanger of a mobile communication system having a control memory and a speech memory, 테스트 프로그램을 저장하고 시험에 대한 프로세싱을 제어하기 위한 각 제어 데이터를 발생시키는 테스트 메인(Test Main) 프로세서부와;A test main processor unit for storing each control data for storing a test program and controlling processing for a test; 콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비하여 시간 분할 교환을 수행하는 시간 분할 교환부와;A time division exchange unit having a control memory and a speech memory to perform time division exchange; 상기 시간 분할 교환부에 설치됨과 아울러 테스트 메인 프로세서부와 인터페이스하고 시간 분활 교환부를 제어하여 테스트를 수행하는 EPLD부와;An EPLD unit which is installed in the time division exchange unit and interfaces with a test main processor unit and controls the time division exchange unit to perform a test; 상기 시간 분할 교환부로 클럭 신호를 출력하는 국부 링크 보드와;A local link board for outputting a clock signal to the time division switch; 사용자의 입력 데이터에 의해 시험하고자하는 프로세싱이 선택되어지는 터미널 단말부로 구성된 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치.A time division exchange apparatus of an exchange comprising a terminal terminal for which processing to be tested is selected by user input data. 콘트롤 메모리 및 스피치 메모리를 구비한 이동통신 시스템의 교환기의 제어방법에 있어서,In the control method of an exchange of a mobile communication system having a control memory and a speech memory, 메인 프로세서의 타이머를 0으로 초기화 함과 아울러 데이터 베이스를 초기화하는 단계와;Initializing the timer of the main processor to 0 and initializing the database; 메인 프로세서의 헤드를 디스플레이시키고, 사용자의 입력데이터에 의해 시험하고자 하는 테스트 프로그램중 개별 테스트 프로그램을 선택했는지 또는 자동 테스트 프로그램을 선택했는지 판단하는 단계와;Displaying a head of the main processor and determining, based on user input data, whether an individual test program or an automatic test program is selected among the test programs to be tested; 상기 판단결과 자동 테스트를 선택하였으면, 자동 테스트 동작을 수행하고, 개별 테스트 동작을 수행하였으면, 개별 테스트 동작을 수행하는 단계와;If the automatic test is selected as a result of the determination, performing the automatic test operation; and if the individual test operation is performed, performing the individual test operation; 상기 두 테스트 동작을 선택하지 않을 경우에는 테스트 동작 시험을 종료하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법.And if the two test operations are not selected, terminating a test operation test. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 개별 테스트 동작을 선택하였을 경우,If you selected individual test actions, TSMA-A 보드를 셋팅하고 테스트 종류 선택의 메시지를 디스플레이하는 단계와;Setting a TSMA-A board and displaying a message of a test type selection; 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 TD-BUS 인터페이스 시험, 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험 및 시간 분할 교환 시험루틴인지 판단하는 단계와;Determining whether the test program to be tested is a TD-BUS interface test, a control memory write / lead test and a time division exchange test routine; 상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 TD-BUS 인터페이스 시험을 선택하였으면, TD-BUS 인터페이스 시험루틴을 시험수행하는 단계와;Testing the TD-BUS interface test routine when the test program to be tested selects the TD-BUS interface test; 상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험을 선택하였으면, 콘트롤 메모리 라이트/리드 시험루틴을 시험수행하는 단계와;Testing the control memory write / lead test routine when the test program to be tested selects the control memory write / lead test; 상기 판단결과 시험하고자 하는 테스트 프로그램이 시간 분할 교환 시험을 선택하였으면, 시간 분할 교환 시험루틴을 시험수행하는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법.And if the test program to be tested selects the time division exchange test, performing a time division exchange test routine. 제3항에 있어서,The method of claim 3, TD-BUS 인터페이스 시험을 선택하였을 경우,If you choose TD-BUS interface test, ok 카운터 및 nok 카운터를 모두 0으로 초기화 한 후 TD-BUS 선택 메시지를 디스플레이하는 단계와;initializing both the ok counter and the nok counter to 0 and displaying a TD-BUS selection message; TD-BUS 선택 메시지(('A','a'),('B','b'),(default))의 선택에 따라 즉, 사용자가 'A','a'를 선택하였으면 port=A_PORT를 시험하고, 사용자가 'B','b'를 선택하였으면 port=B_PORT를 시험하며, 사용자가 'default'를 선택하였으면 port=A_PORT를 시험하는 단계와;According to the selection of the TD-BUS selection message (('A', 'a'), ('B', 'b'), (default)), that is, if the user selects 'A', 'a' Testing A_PORT, testing port = B_PORT if the user selects 'B', 'b', and testing port = A_PORT if the user selects 'default'; Tsma-a 보드에 TD-BUS는 port, Test-side는 A/B가 셋팅(port, side, data, 시험채널)된 메시지가 디스플레이되는 단계와;Displaying a message on the Tsma-a board in which TD-BUS is port and Test-side is A / B set (port, side, data, test channel); 데이터를'00'∼'256'까지 순차적으로 레지스터에 라이터 시킴과 아울러 데이터를 순차적으로 읽어들이고, 상기 데이터가 레지스터로부터 읽어들인 데이터인지 판단하는 단계와;Writing data to registers sequentially from '00' to '256', reading data sequentially, and determining whether the data is data read from a register; 상기 판단결과 레지스터로부터 읽어들인 데이터가 아닐경우, 벨을 울림과 아울러 에러 카운터를 1씩 증가시키는 단계와;If it is not the data read from the result of the determination, ringing and incrementing the error counter by one; 레지스터의 라이터 데이터('00'∼'FF') 및 리드 데이터('00'∼'FF')를 디스플레이 시키고, 상기 테스트를 계속 수행할 것인지 판단하는 단계와;Displaying write data ('00' to 'FF') and read data ('00' to 'FF') of the register and determining whether to continue the test; 상기 판단결과 테스트를 계속 수행하지 않을 경우, 시험을 종료시키는 단계와;Terminating the test if the test is not continuously performed; 상기 판단결과 레지스터로부터 읽어들인 데이터이고, 테스트를 계속 수행할 경우, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 i값이 256보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;Determining whether i is greater than or less than 256 by increasing the 'ok counter' by 1 when the test result is data read from the register and the test is continued; 상기 판단결과 i값이 256보다 크면, ok 카운터 또는 에러 카운터를 읽어들이는 단계와;If the i value is greater than 256, reading the ok counter or the error counter; 상기 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법.And if the error counter is greater than '0', performing the NOK, and if the error counter is smaller than '0', ok the execution result to end the test. Control method. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 콘트롤 메모리 라이터/리드 시험을 선택하였을 경우,When Control Memory Writer / Lead Test is selected, ok 카운터 및 에러 카운터를 0으로 초기화 한 후 다수(0∼4)의 콘트롤 메모리에서 하나의 콘트롤 메모리를 선택하는 단계와;initializing the ok counter and the error counter to 0 and selecting one control memory from the plurality of control memories (0 to 4); 상기 선택된 콘트롤 메모리에 번호를 입력함과 아울러 Tsma-a 보드(A-port,side, 콘트롤 메모리, 데이터)를 셋팅하는 단계와;Inputting a number into the selected control memory and setting a Tsma-a board (A-port, side, control memory, data); 상기 콘트롤 메모리에 데이터를 라이트 함과 아울러 콘트롤 메모리로부터 데이터를 리드하는 단계와;Writing data to and from the control memory; 상기 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하는지 판단하는 단계와;Determining whether a value of write data and read data of the control memory match; 상기 판단결과 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하지 않으면, 벨을 울림과 아울러 에러 카운터를 1씩 증가시키는 단계와;If the value of the write data and the read data of the control memory do not match, determining that the ringing and the error counter are incremented by one; 콘트롤 메모리에서 읽어들인 결과, 즉 타임 슬롯 '00'∼'31', 라이트 데이터 '00'∼'FF' 및 리드 데이터 '00'∼'FF'를 디스플레이 시키고, 상기 테스트를 계속 수행할 것인지 판단하는 단계와;As a result of reading from the control memory, that is, time slots '00' to '31', write data '00' to 'FF', and read data '00' to 'FF' are displayed, and it is determined whether to continue the test. Steps; 상기 판단결과 테스트를 계속 수행하지 않을 경우, 시험을 종료시키는 단계와;Terminating the test if the test is not continuously performed; 상기 콘트롤 메모리의 라이트 데이터와 리드 데이터의 값이 일치하거나 테스트를 계속 수행할 경우, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 i값이 2048보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;Determining whether the i value is greater than or less than 2048 by increasing the 'ok counter' by 1 when the value of the write data and the read data of the control memory coincide with each other or if the test is continuously performed; 상기 판단결과 i값이 2048보다 크면, ok 카운터 또는 에러 카운터를 읽어들이고, 에러 카운터가 0보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;If the i value is greater than 2048, reading the ok counter or the error counter, and determining whether the error counter is greater than or less than zero; 상기 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법.And if the error counter is greater than '0', performing the NOK, and if the error counter is smaller than '0', ok the execution result to end the test. Control method. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 시간 분할 교환 시험을 선택하였을 경우,If you choose the time division exchange test, ok 카운터 및 에러 카운터를 0으로 초기화 한 후 "Tsma-a sp-path test" 메시지를 디스플레이시키는 단계와;initializing the ok counter and the error counter to 0 and displaying a "Tsma-a sp-path test" message; 다수의 입/출력 데이터(0∼4)로부터 하나의 입/출력 데이터를 선택하는 단계와;Selecting one input / output data from the plurality of input / output data (0 to 4); 입/출력에 관련된 스피치 메모리를 선택함과 아울러 Tsma-a 보드(port, 콘트롤 메모리, 스피치 메모리, 입력 데이터, 출력 데이터)를 셋팅하는 단계와;Selecting a speech memory related to input / output and setting a Tsma-a board (port, control memory, speech memory, input data, output data); 상기 콘트롤 메모리가 4보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;Determining whether the control memory is greater than or less than four; 상기 판단결과 콘트롤 메모리가 4보다 작으면, 콘트롤 메모리를 1씩 증가시키는 단계와;If the control memory is less than four, increasing the control memory by one; 스피치 메모리가 4보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;Determining whether the speech memory is greater than or less than four; 상기 판단결과 스피치 메모리가 4보다 작으면, 스피치 메모리 카운터를 1씩 증가시키고 패턴 데이터가 FF보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;If the speech memory is less than 4, the speech memory counter is incremented by one, and the pattern data is determined to be larger or smaller than FF; 상기 판단결과 패턴 데이터가 FF 보다 작으면, 데이터를 콘트롤 메모리에서 라이트/리드하여 시간 분할 교환한 후 경로를 거쳐 들어온 데이터를 읽어 들이는 단계와;If the pattern data is smaller than FF as a result of the determination, reading and reading data from the control memory by time-changing the data and reading data entered through a path; 라이터 패턴 데이터와 리드 패턴 데이터가 같은지 판단하는 단계와;Determining whether the lighter pattern data and the read pattern data are the same; 상기 판단결과 라이터 패턴 데이터와 리드 패턴 데이터가 같지 않으면 시험결과를 NOK로 하고, 'ok 카운터'를 1씩 증가시켜 ok 카운터와 에러 카운터를 읽어들이는 단계와;If the lighter pattern data and the lead pattern data are not the same, determining the test result as NOK, and increasing the 'ok counter' by 1 to read the ok counter and the error counter; 에러 카운터가 0보다 큰지 또는 작은지 판단하는 단계와;Determining whether the error counter is greater than or less than zero; 상기 판단결과 에러 카운터가 '0'보다 크면 수행결과를 NOK하고, 상기 에러 카운터가 '0'보다 작으며 수행결과를 ok시켜 시험을 종료하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 교환기의 시간분할 교환장치의 제어방법.If the error counter is greater than '0', the execution result is NOK, and the error counter is smaller than '0', and the operation is completed. Control method of the device.
KR10-2001-0053179A 2001-08-31 2001-08-31 Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor KR100408655B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0053179A KR100408655B1 (en) 2001-08-31 2001-08-31 Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0053179A KR100408655B1 (en) 2001-08-31 2001-08-31 Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030019821A KR20030019821A (en) 2003-03-07
KR100408655B1 true KR100408655B1 (en) 2003-12-06

Family

ID=27721783

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0053179A KR100408655B1 (en) 2001-08-31 2001-08-31 Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100408655B1 (en)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0759183A (en) * 1993-08-13 1995-03-03 Oki Electric Ind Co Ltd Control system for time division time switch
KR970009439A (en) * 1995-07-13 1997-02-24 김광호 Test Method of Electronic Time Exchanger
KR19990002726A (en) * 1997-06-23 1999-01-15 유기범 Test method of time switch and link part in electronic exchange
KR19990047578A (en) * 1997-12-04 1999-07-05 김영환 Internal processing communication path test device of mobile communication exchange

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0759183A (en) * 1993-08-13 1995-03-03 Oki Electric Ind Co Ltd Control system for time division time switch
KR970009439A (en) * 1995-07-13 1997-02-24 김광호 Test Method of Electronic Time Exchanger
KR19990002726A (en) * 1997-06-23 1999-01-15 유기범 Test method of time switch and link part in electronic exchange
KR19990047578A (en) * 1997-12-04 1999-07-05 김영환 Internal processing communication path test device of mobile communication exchange

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030019821A (en) 2003-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0218859A2 (en) Signal processor communication interface
US4154988A (en) Method and means for accessing program memory of a common control telecommunications switching system
JPH05130009A (en) Test system between mobile terminals for cellular type automobile telephone system
JPS61503068A (en) Time division switching control device and method
US4945554A (en) Test circuit arrangement for computer-controlled communications switching systems
US4366350A (en) Control system for telephone switching system
SU778723A3 (en) Control device of long-range communication automatic commutation station
US5201045A (en) Arrangement and method of downloading data to a plurality of destinations in a digital telephone system
KR100408655B1 (en) Time-Divisional Exchanging Device for Exchanger and Controlling Method Therefor
GB1582583A (en) Digital switching arrangements for stored programme control telecommunications systems
GB1564076A (en) Line control units for speech and/or data networks
KR0147503B1 (en) A time switch apparatus for producing a test path
CA2048033C (en) Portable telephone set comprising input keys and a shift key on different surfaces
GB1572892A (en) Data processing equipment
US4628505A (en) Signaling terminal system for CCITT No. 7 common channel signaling system
US5572189A (en) Alarm collection apparatus of central maintenance operation center
KR100255309B1 (en) Testing method for time switch/spavce switch and link block in a full electronic switching system
KR20030039123A (en) Power consumption control method in a mobile phone
KR20010059942A (en) Apparatus and method for dual controlling switch of main board in communication system
KR20000001063A (en) Method to test performance of vocoder in mobile telecommunication exchanger
GB2345411A (en) Digital enhanced cordless telephone system for cell extension
KR970003981B1 (en) Controlling circuit of echo canceller and the same method
JPS6138665B2 (en)
KR950005992B1 (en) Pabx testing method
NZ206850A (en) Computer controlled telecommunication switching

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20061116

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee