KR100370406B1 - Method for laser vacuum packaging of flat-panel display - Google Patents

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Abstract

평판표시장치의 내부가 진공상태가 되도록 레이저를 이용하여 상부기판과 하부기판을 봉착시키는 진공 패키징 방법이 개시된다. 개시된 레이저 진공 패키징 방법은, 하부기판의 상면 가장자리를 따라 제1 프릿층을 형성시키는 단계와, 제1 프릿층을 건조 및 예비소성시켜 제1 프릿층내의 수분과 바인더 성분을 제거하는 단계와, 제1 프릿층 위에 제2 프릿층을 형성시킨 후 예비소성시키는 단계와, 하부기판 위에 상부기판을 정렬시킨 상태로 진공상태의 소성로에서 소정 온도로 가열하는 단계와, 제1 및 제2 프릿층이 형성된 부위에만 레이저 빔을 조사하여 적어도 제2 프릿층을 용융시킴으로써 상부기판과 하부기판을 봉착시키는 단계를 포함한다. 여기에서, 제1 프릿층의 두께는 제2 프릿층의 두께보다 두꺼우며, 상부기판과 하부기판 사이의 간격의 90% 이상인 것이 바람직하다. 이와 같은 본 발명에 의하면, 프릿층에서의 기포 발생을 최소화하여 상부기판과 하부기판의 접착강도를 높이고 그 내부의 고진공상태를 유지할 수 있게 된다.Disclosed is a vacuum packaging method for sealing an upper substrate and a lower substrate by using a laser such that the inside of the flat panel display is in a vacuum state. The disclosed laser vacuum packaging method comprises the steps of forming a first frit layer along an upper edge of a lower substrate, drying and prefiring the first frit layer to remove moisture and binder components in the first frit layer; Forming a second frit layer on the first frit layer and prefiring the same; heating the substrate at a predetermined temperature in a vacuum firing furnace with the upper substrate aligned on the lower substrate; and forming the first and second frit layers. Sealing the upper substrate and the lower substrate by irradiating a laser beam only on the portion to melt at least the second frit layer. Here, the thickness of the first frit layer is thicker than the thickness of the second frit layer, preferably 90% or more of the gap between the upper substrate and the lower substrate. According to the present invention, it is possible to minimize the generation of bubbles in the frit layer to increase the adhesive strength of the upper substrate and the lower substrate and maintain a high vacuum state therein.

Description

레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법{Method for laser vacuum packaging of flat-panel display}Vacuum packaging method for a flat panel display using a laser {Method for laser vacuum packaging of flat-panel display}

본 발명은 평판표시장치의 진공 패키징 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 전계방출형 표시장치와 같은 평판표시장치를 레이저를 이용하여 진공 패키징하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a vacuum packaging method of a flat panel display device, and more particularly, to a vacuum packaging method of a flat panel display device such as a field emission display device using a laser.

현재 정보전달매체의 중요부분으로서 널리 사용되고 있는 표시장치는 개인용 컴퓨터의 모니터와 텔레비젼 수상기 등에 주로 적용되고 있으며, 최근에는 새로운 응용분야가 광범위하게 창출되고 있다. 이러한 표시장치는 브라운관을 이용한 표시장치, 즉 음극선관(Cathode Ray Tube; CRT) 표시장치와 평판표시장치(Flat Panel Display; FPD)로 크게 분류될 수 있다. 특히, 평판표시장치는 최근 급속한 기술발전을 보이고 있는 것으로, 그 종류로는 액정표시장치(Liquid Crystal Display; LCD), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel; PDP), 형광표시장치(Fluorescent Display) 및 전계방출형 표시장치(Field Emission Display; FED)등이 있으며, 이들은 현재 각 분야에서 활발하게 연구개발되고 있다.BACKGROUND ART Display devices, which are widely used as an important part of information transmission media, are mainly applied to monitors and television receivers of personal computers, and recently, new application fields have been widely created. Such display devices may be broadly classified into display devices using a cathode ray tube, that is, a cathode ray tube (CRT) display device and a flat panel display (FPD). In particular, the flat panel display device is showing rapid technological development in recent years, such as a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a fluorescent display and an electric field Field emission displays (FEDs) and the like are currently being actively researched and developed in their respective fields.

상기와 같은 평판표시장치 중 그 내부의 진공을 필요로 하는 평판표시장치를 제조하기 위해서는 일반적으로 서로 마주보는 상부기판과 하부기판을 소정 간격을 두고 봉착시키고 그 내부를 진공상태로 만드는 패키징(Packaging) 공정을 거치게된다.In order to manufacture a flat panel display device that requires a vacuum therein among the flat panel display devices as described above, the upper substrate and the lower substrate facing each other are sealed at a predetermined interval and packaging to make the interior into a vacuum state. Going through the process.

도 1은 종래의 평판표시장치의 패키징 방법을 설명하기 위한 도면으로서, 이를 참조하면, 종래에는 이와 같은 패키징 공정은 상부기판(11)과 하부기판(12)을 봉착시키는 공정과 상부기판(11)과 하부기판(12) 사이에 형성된 공간을 진공상태로 만드는 배기 공정의 크게 두 공정으로 나뉘어져 수행된다. 상기 봉착 공정을 설명하면, 먼저 프릿(Frit, 13)이라는 저융점의 유리 분말(glass powder)을 페이스트(paste) 형태로 만들어 하부기판(12) 상의 봉착하고자 하는 부위에 소정 두께로 도포한다. 이어서 하부기판(12) 상에 도포된 프릿(13)을 예비소성시켜 프릿(13)내의 수분이나 바인더(binder) 성분등을 제거한다. 그 후에, 상부기판(11)을 하부기판(12) 위에 정렬시킨 후, 이들을 소성로(14)에서 소정 온도로 가열함으로써 프릿(13)을 녹여 상부기판(11)과 하부기판(12)을 봉착시키게 된다. 그리고, 상기 배기 공정을 설명하면, 상기와 같이 상부기판(11)과 하부기판(12)이 봉착된 후에 하부기판(12)에 마련된 배기구(15)를 통해 상부기판(11)과 하부기판(12) 사이에 형성된 공간 내부의 가스들을 배출시킴으로써 그 공간을 소정의 진공상태로 만든다. 그 이후에, 진공상태의 유지를 위하여 배기구(15)를 소정의 방법으로 밀폐시킴으로써, 평판표시장치의 패키징 공정이 완료된다.1 is a view illustrating a conventional packaging method of a flat panel display device. Referring to this, in the related art, such a packaging process includes a process of sealing an upper substrate 11 and a lower substrate 12 and an upper substrate 11. And the evacuation process of vacuuming the space formed between the lower substrate 12 and is carried out in two processes. Referring to the sealing process, first, a low melting glass powder called frit 13 is formed into a paste and applied to a portion to be sealed on the lower substrate 12 with a predetermined thickness. Subsequently, the frit 13 coated on the lower substrate 12 is prebaked to remove moisture, binder components, and the like in the frit 13. Thereafter, the upper substrate 11 is aligned on the lower substrate 12, and then heated to the predetermined temperature in the firing furnace 14 to melt the frit 13 to seal the upper substrate 11 and the lower substrate 12. do. In addition, referring to the exhaust process, the upper substrate 11 and the lower substrate 12 are formed through the exhaust port 15 provided in the lower substrate 12 after the upper substrate 11 and the lower substrate 12 are sealed as described above. The space is made into a predetermined vacuum state by discharging gases in the space formed between the spaces. Thereafter, the exhaust port 15 is sealed by a predetermined method for maintaining the vacuum state, thereby completing the packaging process of the flat panel display device.

그런데 이와 같은 종래의 방법에 의하면, 소성로(14)의 가열온도가 프릿(13)의 재질에 따라 다소 차이가 있으나 대개 400℃에 이르며, 이러한 고온 공정에서 기판(11, 12) 표면에 형성된 전극이나 발광요소등의 산화 또는 오염 문제가 발생하여 발광 성능이 저하되는 단점이 있다. 또한, 크게 봉착 공정과 배기 공정의 두 공정을 거쳐야 거쳐야 하므로 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.However, according to the conventional method, although the heating temperature of the kiln 14 is slightly different depending on the material of the frit 13, it usually reaches 400 ° C., and the electrodes formed on the surfaces of the substrates 11 and 12 may be Oxidation or contamination of light emitting elements, etc. may occur, resulting in deterioration of light emission performance. In addition, there is a problem in that the productivity is lowered because it has to go through two processes, a sealing step and an exhaust step.

이에 따라, 상기와 같은 종래 방법의 문제점을 해결할 수 있는 진공 패키징 방법이 제안되어 사용되고 있다. 진공 패키징은 프릿의 소성을 진공 중에서 행하는 방법이므로, 기판 표면에 형성된 전극이나 발광요소등의 산화 및 오염을 방지할 수 있으며 배기 공정이 생략되어 생산성이 향상되는 잇점이 있다. 또한, 배기구를 만들지 않아도 되며, 이에 따라 배기구를 밀폐시키는 공정도 필요 없게 된다. 이러한 잇점을 가진 진공 패키징 방법은 기본적으로 진공 중에서 프릿을 소성하게 되나, 그 소성 방법에 따라 기판 전체를 가열하는 방법과 프릿이 도포된 부위만을 국부적으로 가열하는 방법으로 나눌 수 있다. 기판 전체를 가열하는 방법은 프릿의 융점까지 기판 전체를 가열하여야 하므로 고온에 의하여 표시장치의 특성이 열화되는 단점이 있는 반면에 국부 가열 방법은 기판을 프릿의 융점 이하의 적정 온도로 가열한 후 프릿이 도포된 부위만을 프릿의 융점 이상의 온도로 가열하므로 공정 소요 시간의 단축과 표시장치를 그 특성의 열화로부터 보호할 수 있다는 장점이 있다.Accordingly, a vacuum packaging method that can solve the problems of the conventional method as described above has been proposed and used. Since vacuum packaging is a method of firing a frit in a vacuum, oxidation and contamination of an electrode, a light emitting element, and the like formed on a substrate surface can be prevented, and an exhaust process is omitted, and thus productivity is improved. In addition, it is not necessary to make the exhaust port, thereby eliminating the need to seal the exhaust port. The vacuum packaging method having this advantage is basically calcined in a vacuum, but may be divided into a method of heating the entire substrate and a method of locally heating only the portion to which the frit is applied, according to the firing method. The method of heating the entire substrate has the disadvantage of deteriorating the characteristics of the display device due to the high temperature since the entire substrate must be heated to the melting point of the frit, while the local heating method heats the substrate to an appropriate temperature below the melting point of the frit and then frits. Since only the coated portion is heated to a temperature higher than the melting point of the frit, there is an advantage of shortening the process time and protecting the display device from deterioration of its characteristics.

상기한 국부 가열 방법도 여러가지가 있으나, 이 중에서도 레이저를 이용한 국부 가열 방법이 최근에 들어 주목받고 있다. 이러한 레이저 진공 패키징 방법을 보다 상세하게 설명하면, 하부기판의 가장자리를 따라 프릿을 소정 두께로 도포한 뒤에, 이를 가열하여 예비소성시킴으로써 프릿 내의 바인더 성분 등을 제거한다. 그 후에, 상부기판을 하부기판 위에 정렬시키고 이들을 진공 상태의 소성로에 장입하여 프릿의 융점 이하의 적정 온도로 가열한 상태에서, 레이저 빔으로 프릿이 도포된 부위만을 국부적으로 가열함으로써 프릿을 용융시켜 상부기판과 하부기판을봉착시키게 된다.Although there exist various local heating methods mentioned above, the local heating method using a laser has attracted attention in recent years. The laser vacuum packaging method will be described in more detail. After the frit is applied to a predetermined thickness along the edge of the lower substrate, the binder component in the frit is removed by heating and prefiring the frit. Thereafter, the upper substrate is aligned on the lower substrate and charged into a vacuum firing furnace and heated to an appropriate temperature below the melting point of the frit, whereby the frit is melted by locally heating only the portion where the frit is applied with a laser beam. The substrate and the lower substrate are sealed.

그러나, 상기한 바와 같은 레이저를 이용한 진공 패키징 방법에 있어서는, 조사된 레이저 빔에 의해 프릿이 용융될 때 다수의 기포가 발생되며, 이로 인해 접착강도의 저하 및 진공 누설 등이 발생하는 문제점이 있다. 이는 예비소성단계에서 수분이나 바인더 성분 등 기포발생원이 충분히 제거되는 부위는 프릿의 표면으로부터 30㎛ ~ 40㎛ 정도이며, 그 내부에는 기포발생원이 충분히 제거되지 않고 잔존하기 때문이다. 즉, 레이저 빔에 의해 프릿이 용융되면서 그 내부에 갇혀 있던 핀홀(pin-hole)이 진공 상태의 소성로 내에서 그 압력차이로 인해 팽창하거나, 또는 예비소성단계에서 제거되지 않고 남아 있던 미량의 바인더 성분이 타면서 발생되는 가스에 의해 기포가 발생되는 것이다. 도 3a는 상기한 종래의 레이저를 이용한 진공 패키징 방법에 의해 실제 소성 공정을 거친 프릿을 절단하여 그 단면을 촬영한 현미경 사진으로서, 이를 보면 프릿의 내부에 크고 작은 기포들이 발생한 것을 알 수 있다. 또한, 이를 시료로 열중량분석(Thermogravimetric analysis; TGA)을 실시한 결과 미량의 바인더 성분이 남아 있었다.However, in the vacuum packaging method using the laser as described above, a large number of bubbles are generated when the frit is melted by the irradiated laser beam, there is a problem that the adhesive strength decreases, such as vacuum leakage occurs. This is because the area where the bubble generating source such as moisture or binder component is sufficiently removed in the prefiring step is about 30 μm to 40 μm from the surface of the frit, and the bubble generating source is not sufficiently removed therein. In other words, a trace amount of binder components that were retained without melting due to the pressure difference in the pin-hole trapped therein while melting the frit by the laser beam due to the pressure difference in the vacuum kiln. Bubbles are generated by the gas generated while burning. Figure 3a is a micrograph of the cross section taken by cutting the frit after the actual firing process by the vacuum packaging method using the conventional laser, it can be seen that large and small bubbles are generated inside the frit. In addition, as a result of thermogravimetric analysis (TGA) with a sample, a trace amount of binder component remained.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 특히 프릿에서의 기포 발생을 최소화하여 상부기판과 하부기판의 접착강도를 높이고 고진공상태를 유지할 수 있는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, in particular, to minimize the occurrence of bubbles in the frit to improve the adhesive strength of the upper substrate and the lower substrate and to maintain a high vacuum state of the flat panel display device It is an object of the present invention to provide a vacuum packaging method.

도 1은 종래의 평판표시장치의 패키징 방법을 설명하기 위한 도면,1 is a view for explaining a packaging method of a conventional flat panel display device;

도 2a 내지 도 2e는 본 발명에 따른 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법을 단계적으로 설명하기 위한 도면,2a to 2e is a view for explaining a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser according to the present invention step by step,

도 3a 및 도 3b는 프릿의 단면을 촬영한 현미경 사진으로서, 도 3a는 종래의 레이저 진공 패키징 방법에 의한 프릿의 단면 사진이고, 도 3b는 본 발명에 따른 레이저 진공 패키징 방법에 의한 프릿의 단면 사진,3A and 3B are micrographs of a cross section of the frit, FIG. 3A is a cross-sectional photograph of a frit by a conventional laser vacuum packaging method, and FIG. 3B is a cross-sectional photograph of a frit by a laser vacuum packaging method according to the present invention. ,

도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법의 진행 중 기판상의 온도분포를 설명하기 위한 것으로서, 도 4a는 온도 측정 위치를 보여주는 도면이고, 도 4b는 프릿의 단위 길이당 흡수된 에너지에 따른 각 위치에서의 온도 변화를 나타낸 그래프,4A and 4B illustrate a temperature distribution on a substrate during a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser according to the present invention. FIG. 4A is a view illustrating a temperature measurement position, and FIG. 4B is a unit of a frit. A graph showing the temperature change at each location with absorbed energy per length,

도 5는 레이저 빔의 스캐너 장치의 사진.5 is a photograph of a scanner device of a laser beam.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

11,21...상부기판 12,22...하부기판11,21 ... top board 12,22 ... bottom board

13...프릿 14,24...소성로13 ... Frit 14,24 ... Fire Furnace

23a...제1 프릿층 23b...제2 프릿층23a ... first frit layer 23b ... second frit layer

25...히터 27...레이저25.Heater 27.Laser

28...레이저 빔 29...스캐너28 ... laser beam 29 ... scanner

상기의 기술적 과제를 달성하기 위해 본 발명은, 평판표시장치의 내부가 진공상태가 되도록 레이저를 이용하여 상부기판과 하부기판을 봉착시키는 진공 패키징 방법에 있어서:In order to achieve the above technical problem, the present invention provides a vacuum packaging method for sealing an upper substrate and a lower substrate by using a laser so that the inside of the flat panel display device is in a vacuum state:

(가) 상기 하부기판의 상면 가장자리를 따라 제1 프릿층을 형성시키는 단계;(A) forming a first frit layer along the upper edge of the lower substrate;

(나) 상기 제1 프릿층을 대기상태의 소성로에서 건조 및 예비소성시켜 상기 제1 프릿층내의 수분과 바인더 성분을 제거하는 단계;(B) drying and prefiring the first frit layer in an air kiln to remove moisture and binder components in the first frit layer;

(다) 상기 제1 프릿층 위에 제2 프릿층을 형성시킨 후 대기상태의 소성로에서 예비소성시키는 단계;(C) forming a second frit layer on the first frit layer and prefiring it in an atmospheric kiln;

(라) 상기 하부기판 위에 상기 상부기판을 정렬시킨 상태로 진공상태의 소성로에서 상기 제1 및 제2 프릿층의 구성재료인 프릿의 융점보다 낮은 소정의 온도로 가열하는 단계; 및(D) heating to a predetermined temperature lower than the melting point of the frit, which is a constituent material of the first and second frit layers, in a firing furnace in a vacuum state with the upper substrate aligned on the lower substrate; And

(마) 상기 제1 및 제2 프릿층이 형성된 부위에만 레이저 빔을 조사하여 적어도 상기 제2 프릿층을 용융시킴으로써 상기 상부기판과 상기 하부기판을 봉착시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.(E) sealing the upper substrate and the lower substrate by irradiating a laser beam only on a portion where the first and second frit layers are formed to melt at least the second frit layer.

여기에서, 상기 (다) 단계에서 형성되는 상기 제2 프릿층의 두께는 30㎛ ~ 40㎛인 것이 바람직하다.Here, the thickness of the second frit layer formed in the step (c) is preferably 30㎛ ~ 40㎛.

그리고, 상기 (라) 단계에서의 상기 하부기판과 상부기판의 정렬은 소성로 장입 전과 후에 모두 가능하며, 이 순서는 소성로의 형태에 따라 달라질 수 있다. 그리고, 장입된 하부기판과 상부기판의 가열 온도는 상기 제1 및 제2 프릿층의 구성재료인 프릿의 융점보다 낮은 온도, 예컨대 250℃ ~ 300℃, 바람직하게는 실질적으로 300℃이다. 이는 국부 가열에 의한 프릿층의 국부 용융에 의한 온도 차이에 의해 상부기판과 하부기판이 파손되는 것을 막기 위해서이다.The alignment of the lower substrate and the upper substrate in the step (d) may be performed both before and after charging the kiln, and this order may vary depending on the shape of the kiln. In addition, the heating temperature of the charged lower substrate and the upper substrate is lower than the melting point of the frit, which is a constituent material of the first and second frit layers, for example, 250 ° C to 300 ° C, preferably substantially 300 ° C. This is to prevent the upper substrate and the lower substrate from being damaged by the temperature difference due to the local melting of the frit layer by local heating.

상기 (나) 및 (다) 단계에서의 예비소성은 소성로에서 수행되는 것이 바람직하며, 상기 (마) 단계는 상기 (라) 단계에서 각 부위의 온도가 평형 상태로 된 후에 수행되는 것이 바람직하다.The prebaking in the steps (b) and (c) is preferably carried out in a kiln, and the step (e) is preferably performed after the temperature of each part is in equilibrium in the step (d).

상기 레이저 빔으로는 적외선 레이저 빔, 예를 들면 파장이 1,064㎚인 CW Nd:YAG 레이저 빔을 사용하는 것이 바람직하다.As the laser beam, it is preferable to use an infrared laser beam, for example, a CW Nd: YAG laser beam having a wavelength of 1,064 nm.

이와 같은 본 발명에 의하면, 프릿층에서의 기포 발생을 최소화하여 상부기판과 하부기판의 접착강도를 높이고 그 내부의 고진공상태를 유지할 수 있게 된다.According to the present invention, it is possible to minimize the generation of bubbles in the frit layer to increase the adhesive strength of the upper substrate and the lower substrate and maintain a high vacuum state therein.

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described a preferred embodiment of a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser according to the present invention in detail.

도 2a 내지 도 2e는 본 발명에 따른 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법을 단계적으로 설명하기 위한 도면이다.2A to 2E are diagrams for explaining step by step a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser according to the present invention.

먼저, 도 2a를 참조하면 전계방출형 표시장치와 같은 평판표시장치의 하부기판(22)의 상면 가장자리를 따라 프릿을 소정 두께(T1)로 도포하여 제1 프릿층(23a)을 형성시킨다. 프릿은 저융점의 유리 분말을 페이스트(paste) 형태로 만든 것이다. 프릿의 도포는 여러가지 방법에 의할 수 있으나, 일반적으로 스크린인쇄(screen-printing)법에 의해 이루어진다. 제1 프릿층(23a)의 두께(T1)는 하부기판(22)과 상부기판 사이의 최종 간격과 후술하는 제2 프릿층의 두께에 따라 적정하게 정해진다. 예를 들면, 상부기판과 하부기판(22) 사이의 간격이 500㎛로 설정된 전계방출형 표시장치를 진공 패키징하는 경우에, 제1 프릿층(23a)의두께(T1)는 대략 480㎛가 되도록 한다.First, referring to FIG. 2A, the first frit layer 23a is formed by applying a frit to a predetermined thickness T 1 along an upper edge of a lower substrate 22 of a flat panel display such as a field emission display. Frit is a paste made of low melting glass powder. The application of the frit may be by a variety of methods, but generally by a screen-printing method. The thickness T 1 of the first frit layer 23a is appropriately determined according to the final spacing between the lower substrate 22 and the upper substrate and the thickness of the second frit layer described later. For example, in the case of vacuum packaging a field emission display device in which the gap between the upper substrate and the lower substrate 22 is set to 500 µm, the thickness T 1 of the first frit layer 23a is approximately 480 µm. Be sure to

이어서, 도 2b에 도시된 바와 같이 하부기판(22) 상에 형성된 제1 프릿층(23a)을 건조시키고 이들을 대기 상태의 소성로(24)에 장입하여 가열하는 예비소성단계를 수행한다. 이때 하부기판(22)과 제1 프릿층(23a)의 가열은 소성로(24) 내에 마련된 평판 형상의 히터(25), 예컨대 할로겐 램프로 가열되는 흑연판에 의해서 이루어진다. 이 단계에서, 제1 프릿층(23a) 내부의 수분이나 바인더 성분 등이 제거된다. 특히, 전술한 바와 같이 제1 프릿층(23a)의 표면으로부터 대략 40㎛까지는 수분이나 바인더 성분 등 기포발생원의 충분한 제거가 이루어진다.Subsequently, as shown in FIG. 2B, a first firing layer 23a formed on the lower substrate 22 is dried, and a prefiring step of charging and heating the first frit layer 23a into an atmospheric firing furnace 24 is performed. At this time, the lower substrate 22 and the first frit layer 23a are heated by a flat plate heater 25 provided in the firing furnace 24, for example, a graphite plate heated by a halogen lamp. In this step, moisture, binder components, and the like inside the first frit layer 23a are removed. In particular, as described above, the bubble generation source such as water or a binder component is sufficiently removed from the surface of the first frit layer 23a to approximately 40 µm.

다음으로 도 2c를 참조하면, 하부기판(22) 상에 형성된 제1 프릿층(23a) 위에 프릿을 스크린인쇄법에 의해 다시 소정 두께(T2)로 도포하여 제2 프릿층(23b)을 형성시킨다. 이때 형성되는 제2 프릿층(23b)의 두께(T2)는 30㎛ ~ 40㎛인 것이 바람직하다. 형성된 제2 프릿층(23b)은 전술한 제1 프릿층(23a)의 예비소성과 같은 방법으로 예비소성단계를 거친다. 이때, 제2 프릿층(23b)의 두께(T2)가 30㎛ ~ 40㎛이므로 전술한 바와 같이 수분이나 바인더 성분 등의 기포발생원이 충분히 제거될 수 있다. 상기한 예에서, 제1 프릿층(23a)의 두께(T1)는 대략 480㎛인 반면에 제2 프릿층(23b)의 두께(T2)는 대략 40㎛가 되도록 한다. 따라서, 제1 프릿층(23a)과 제2 프릿층(23b)의 전체 두께는 대략 520㎛가 된다.Next, referring to FIG. 2C, the second frit layer 23b is formed by applying the frit again to a predetermined thickness T 2 by the screen printing method on the first frit layer 23a formed on the lower substrate 22. Let's do it. In this case, the thickness T 2 of the second frit layer 23b is preferably 30 μm to 40 μm. The formed second frit layer 23b is subjected to a prefiring step in the same manner as the prefiring of the first frit layer 23a described above. At this time, since the thickness T 2 of the second frit layer 23b is 30 μm to 40 μm, bubble generation sources such as moisture or a binder component may be sufficiently removed as described above. In the above example, the thickness T 1 of the first frit layer 23a is approximately 480 μm while the thickness T 2 of the second frit layer 23b is approximately 40 μm. Therefore, the total thickness of the first frit layer 23a and the second frit layer 23b is approximately 520 μm.

이어서, 도 2d에 도시된 바와 같이 하부기판(22) 위에 상부기판(21)을 정렬시킨다. 따라서, 제1 프릿층(23a)과 제2 프릿층(23b)에 의해 하부기판(22)과 상부기판(21)의 사이에는 내부 공간이 형성된다. 이 상태에서 이들을 진공상태의 소성로(24)에 장입하여 소정 온도로 가열한다. 가열은 소성로(24) 내에 마련된 평판 형상의 히터(25), 예컨대 할로겐 램프로 가열되는 흑연판에 의해서 이루어진다. 이 단계에서의 가열 온도는 제1 및 제2 프릿층(23a, 23b)의 구성재료인 프릿의 융점보다 낮은 온도, 예컨대 250℃ ~ 300℃, 바람직하게는 대략 300℃이다. 이 단계는 진공상태의 소성로(24) 내에서 수행되므로 하부기판(22)과 상부기판(21)의 사이의 가스들이 배기되어 그 내부 공간이 진공상태로 된다.Subsequently, the upper substrate 21 is aligned on the lower substrate 22 as shown in FIG. 2D. Therefore, an internal space is formed between the lower substrate 22 and the upper substrate 21 by the first frit layer 23a and the second frit layer 23b. In this state, they are charged into a vacuum firing furnace 24 and heated to a predetermined temperature. The heating is performed by a flat plate heater 25 provided in the firing furnace 24, for example, a graphite plate heated by a halogen lamp. The heating temperature in this step is a temperature lower than the melting point of the frit, which is a constituent material of the first and second frit layers 23a and 23b, for example, 250 ° C to 300 ° C, preferably approximately 300 ° C. Since this step is performed in the firing furnace 24 in a vacuum state, gases between the lower substrate 22 and the upper substrate 21 are exhausted, and the interior space thereof becomes a vacuum state.

상기 단계에서 평판표시장치 각 부위의 온도가 평형 상태로 되면, 도 2e에 도시된 바와 같이 상부기판(21)과 하부기판(22)이 진공상태의 소성로(24) 내에 장입되어 있는 상태에서 제1 및 제2 프릿층(23a, 23b)이 형성된 부위에만 레이저 빔(28)을 조사한다. 레이저 빔(28)이 조사되면, 적어도 제2 프릿층(23b)은 용융되며, 제1 프릿층(23a)의 표면 부분도 용융될 수 있다. 이로 인해 상부기판(21)과 하부기판(22)의 봉착이 이루어진다. 이때 레이저 빔(28)에 의해 용융되는 제1 및 제2 프릿층(23a, 23b)의 두께는 80㎛이하가 되도록 제어한다. 이 정도의 두께는 상부기판(21)과 하부기판(22)을 봉착시키는데 충분한 두께가 된다.When the temperatures of the respective portions of the flat panel display apparatus are in an equilibrium state as shown in FIG. 2E, the first substrate 21 and the lower substrate 22 are loaded in the vacuum furnace 24 in a vacuum state as shown in FIG. 2E. And the laser beam 28 is irradiated only to the portion where the second frit layers 23a and 23b are formed. When the laser beam 28 is irradiated, at least the second frit layer 23b is melted, and the surface portion of the first frit layer 23a may also be melted. As a result, the upper substrate 21 and the lower substrate 22 are sealed. At this time, the thicknesses of the first and second frit layers 23a and 23b melted by the laser beam 28 are controlled to be 80 μm or less. This thickness is sufficient to seal the upper substrate 21 and the lower substrate 22.

이와 같이, 레이저 빔(28)에 의해 제1 및 제2 프릿층(23a, 23b)의 용융되는 부위의 두께가 80㎛이하이며, 이 부위는 전술한 두 번의 예비소성단계에서 기포발생원이 충분히 제거된 부위이다. 따라서, 레이저 빔(28)에 의해 제1 및 제2 프릿층(23a, 23b)이 용융될 때에도 기포가 거의 발생하지 않게 된다. 도 3b는 상기한 본 발명에 따른 방법에 의해 실제 소성 공정을 거친 프릿층을 절단하여 그 단면을 촬영한 현미경 사진으로서, 이를 보면 프릿층의 내부에 기포가 거의 발생되지 않았음을 알 수 있다. 따라서, 상부기판(21)과 하부기판(22)의 접착강도가 향상되며, 진공 누설이 방지될 수 있다.As such, the thickness of the melted portions of the first and second frit layers 23a and 23b by the laser beam 28 is 80 µm or less, and the portions are sufficiently removed from the bubble generation source in the two pre-firing steps described above. Area. Therefore, even when the first and second frit layers 23a and 23b are melted by the laser beam 28, bubbles are hardly generated. Figure 3b is a micrograph of the cross section taken by cutting the frit layer after the actual firing process by the method according to the present invention, it can be seen that little bubbles are generated inside the frit layer. Therefore, the adhesive strength between the upper substrate 21 and the lower substrate 22 is improved, and vacuum leakage can be prevented.

한편, 이 단계에서 사용되는 레이저 빔(28)으로는 적외선 레이저 빔, 바람직하게는 파장이 1,064㎚인 CW Nd:YAG 레이저 빔이 사용된다. 레이저 빔(28)의 최대 출력은 50W로서, 이는 용융되는 프릿층(23a, 23b)의 성질 및 두께에 따라 조절될 수 있다. 레이저(27)로부터 출사된 레이저 빔(28)은 스캐너(29)를 거쳐 상부기판(21)의 가장자리를 따라 소정 속도로 이동하며 조사된다. 상기 스캐너(29)로는 도 5에 도시된 갈바노미터(Galvanometer)가 이용되며, 이 장치는 고속으로 회전하는 두 개의 축에 거울을 장착하여 각각 X축과 Y축의 빔 스캐닝이 가능하도록 한 장치이다. 레이저 빔의 고속 스캐닝은 프릿층(23a, 23b)의 전표면을 동시에 균일하게 용융시킬 수 있는 장점을 가진다. 레이저 빔이 고속 스캐닝이 안될 경우에는, 프릿층(23a, 23b)의 국부적인 용융과 응고가 반복되어 열 스트레스가 발생하게 되며, 또한 상부기판(21)과 하부기판(22)의 정렬이 용융 중에 틀어질 수 있다. 그리고, 이러한 빔 스캐닝 방식은 추가의 설비 투자 없이 스캐너의 위치와 회전각도 조절만으로 소면적에서 대면적까지의 빔 스캐닝이 가능한 장점을 가진다.On the other hand, as the laser beam 28 used in this step, an infrared laser beam, preferably a CW Nd: YAG laser beam having a wavelength of 1,064 nm is used. The maximum power of the laser beam 28 is 50 W, which can be adjusted according to the nature and thickness of the frit layers 23a and 23b to be melted. The laser beam 28 emitted from the laser 27 is irradiated at a predetermined speed along the edge of the upper substrate 21 via the scanner 29. The galvanometer shown in FIG. 5 is used as the scanner 29, and the device is a device that mounts a mirror on two axes rotating at high speed to enable beam scanning of the X and Y axes, respectively. . High speed scanning of the laser beam has the advantage of being able to simultaneously and uniformly melt the entire surfaces of the frit layers 23a and 23b. If the laser beam cannot be scanned at high speed, the local melting and solidification of the frit layers 23a and 23b are repeated to generate thermal stress, and the alignment of the upper substrate 21 and the lower substrate 22 is during melting. Can be wrong. In addition, the beam scanning method has an advantage that the beam scanning from small to large area is possible only by adjusting the position and rotation angle of the scanner without additional equipment investment.

이 단계에서, 기판상의 온도 변화는 도 4b의 그래프에서 볼 수 있다. 도 4a는 온도 측정 위치를 보여주며, 도 4b는 프릿층의 단위 길이당 흡수된 에너지에 따른 각 위치에서의 온도 변화를 보여준다. 도 4a에 도시된 바와 같이, 상부기판(21)의 프릿층(23) 직상부(A), 상부기판(21)의 중심부(B) 및 하부기판(22)의 중심부(C)에 각각 온도 센서를 설치하여 각 부위의 온도 변화를 측정하였다. 그 결과, 도 4b의 그래프에 도시된 바와 같이, 레이저 빔에 의해 가열되는 A 부위의 온도는 프릿층에 흡수되는 에너지에 비례하여 400℃까지 지속적으로 상승하나, B 및 C 부위의 온도는 300℃ 정도에서 거의 변화가 없음을 알 수 있다. 이와 같이, 레이저 빔을 사용하여 상부기판과 하부기판을 봉착시키게 되면, 프릿의 융점보다 낮은 온도로 상부기판과 하부기판을 유지하면서 패키징을 수행할 수 있게 되어 평판표시장치의 특성이 고온으로 인해 열화되는 것을 방지할 수 있게 된다.At this stage, the temperature change on the substrate can be seen in the graph of FIG. 4B. 4A shows the temperature measurement position, and FIG. 4B shows the temperature change at each position according to the absorbed energy per unit length of the frit layer. As shown in FIG. 4A, a temperature sensor is disposed at an upper portion A of the frit layer 23 of the upper substrate 21, a central portion B of the upper substrate 21, and a central portion C of the lower substrate 22, respectively. Was installed to measure the temperature change of each site. As a result, as shown in the graph of FIG. 4B, the temperature of the A site heated by the laser beam continuously rises to 400 ° C. in proportion to the energy absorbed by the frit layer, but the temperature of the B and C sites is 300 ° C. It can be seen that there is almost no change in the degree. As described above, when the upper substrate and the lower substrate are sealed using the laser beam, packaging can be performed while maintaining the upper substrate and the lower substrate at a temperature lower than the melting point of the frit, and the characteristics of the flat panel display are degraded due to the high temperature. Can be prevented.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법에 의하면 프릿층을 두 개의 층으로 형성시키고 두 번의 예비소성단계를 거치게 됨으로써 레이저 빔에 의해 프릿층을 용융시킬 때 기포의 발생이 최소화 될 수 있다. 이에 따라 상부기판과 하부기판의 접착강도가 높아지고 진공 누설이 방지되어 평판표시장치 내부의 고진공상태를 유지할 수 있는 효과가 있다. 또한, 레이저 빔의 스캐닝에 갈바노미터를 사용함으로써 고속의 빔 스캐닝이 가능해지고, 빔의 고속 스캐닝은 프릿층의 전표면을 동시에 균일하게 용융시킬 수 있는 장점을 가진다. 따라서, 프릿층의 국부적인 용융과 응고로 인한 열 스트레스의 발생이 방지되며, 상부기판과 하부기판의 정렬이 용융 중에 틀어질 수 있는 문제점이 해소된다. 또한, 이러한 빔 스캐닝 방식은 추가의 설비 투자 없이 스캐너의 위치와 회전각도 조절만으로 소면적에서 대면적까지의 빔 스캐닝이 가능한 장점을가진다.As described above, according to the vacuum packaging method of the flat panel display using the laser according to the present invention, the frit layer is formed into two layers and subjected to two pre-firing steps to melt bubbles in the frit layer by the laser beam. The occurrence of can be minimized. Accordingly, the adhesive strength between the upper substrate and the lower substrate is increased and vacuum leakage is prevented, thereby maintaining a high vacuum state inside the flat panel display device. In addition, the use of a galvanometer for scanning the laser beam enables high-speed beam scanning, and the high-speed scanning of the beam has the advantage of simultaneously melting the entire surface of the frit layer uniformly. Therefore, the occurrence of thermal stress due to local melting and solidification of the frit layer is prevented, and the problem that the alignment of the upper substrate and the lower substrate is distorted during melting is solved. In addition, this beam scanning method has the advantage that it is possible to scan the beam from small to large area only by adjusting the position and rotation angle of the scanner without additional equipment investment.

Claims (10)

평판표시장치의 내부가 진공상태가 되도록 레이저를 이용하여 상부기판과 하부기판을 봉착시키는 진공 패키징 방법에 있어서:In the vacuum packaging method of sealing the upper substrate and the lower substrate using a laser so that the inside of the flat panel display is in a vacuum state: (가) 상기 하부기판의 상면 가장자리를 따라 제1 프릿층을 형성시키는 단계;(A) forming a first frit layer along the upper edge of the lower substrate; (나) 상기 제1 프릿층을 대기상태의 소성로에서 건조 및 예비소성시켜 상기 제1 프릿층내의 수분과 바인더 성분을 제거하는 단계;(B) drying and prefiring the first frit layer in an air kiln to remove moisture and binder components in the first frit layer; (다) 상기 제1 프릿층 위에 제2 프릿층을 형성시킨 후 대기상태의 소성로에서 예비소성시키는 단계;(C) forming a second frit layer on the first frit layer and prefiring it in an atmospheric kiln; (라) 상기 하부기판 위에 상기 상부기판을 정렬시킨 상태로 진공상태의 소성로에서 상기 제1 및 제2 프릿층의 구성재료인 프릿의 융점보다 낮은 소정의 온도로 가열하는 단계; 및(D) heating to a predetermined temperature lower than the melting point of the frit, which is a constituent material of the first and second frit layers, in a firing furnace in a vacuum state with the upper substrate aligned on the lower substrate; And (마) 상기 제1 및 제2 프릿층이 형성된 부위에만 레이저 빔을 조사하여 적어도 상기 제2 프릿층을 용융시킴으로써 상기 상부기판과 상기 하부기판을 봉착시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.(E) sealing the upper substrate and the lower substrate by irradiating a laser beam only on a portion where the first and second frit layers are formed to melt at least the second frit layer. Vacuum packaging method of using a flat panel display device. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (다) 단계에서 형성되는 상기 제2 프릿층의 두께는 30㎛ ~ 40㎛인 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The thickness of the second frit layer formed in the step (c) is 30㎛ ~ 40㎛ vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제1 및 제2 프릿층은 프릿을 스크린인쇄법에 의해 도포함으로써 형성되는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.And the first and second frit layers are formed by applying the frit by screen printing. 삭제delete 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (라) 단계에서의 가열 온도는 250℃ ~ 300℃ 인 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The heating temperature in the step (d) is a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that 250 ℃ ~ 300 ℃. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (나), (다) 및 (라) 단계에서의 가열은 히터에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that the heating in the steps (b), (c) and (d) is performed by a heater. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 (라) 단계에서 각 부위의 온도가 평형 상태로 된 후에 상기 (마) 단계가 수행되는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The vacuum packaging method of the flat panel display using a laser, characterized in that the step (e) is performed after the temperature of each part is in equilibrium in the step (d). 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 레이저 빔은 적외선 레이저 빔인 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The laser beam is a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that the infrared laser beam. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 레이저 빔은 파장이 1,064㎚인 CW Nd:YAG 레이저 빔인 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The laser beam is a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that the CW Nd: YAG laser beam having a wavelength of 1,064nm. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 레이저 빔의 조사는 갈바노미터를 사용하는 것을 특징으로 하는 레이저를 이용한 평판표시장치의 진공 패키징 방법.The laser beam irradiation is a vacuum packaging method of a flat panel display using a laser, characterized in that using a galvanometer.
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