KR100341867B1 - Automatic Evaluation System of Fabric Wrinkles and Seam Puckers and Their Method - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 직물의 구김(wrinkle)이나 심퍼커(seam pucker)를 자동으로 평가할 수 있는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention is directed to an apparatus and method capable of automatically evaluating wrinkles or seam puckers of fabrics.
일반적으로 직물의 구김이나 심퍼커의 평가는 주로 사람의 감각과 주관에 의존한다. 그 예로 도 1에 나타난 바와 같이 표면의 구김(요철) 정도를 다르게 만든 5개의 플라스틱 판(AATCC Standard Wrinkle Replica 등급 1-5)과 평가하고자 하는 직물 시료를 육안으로 평가함으로써 직물의 구김 정도를 정수값으로 부여하는 방법이 사용된다. 심퍼커에 대해서도 유사한 평가 방법이 사용된다.In general, the wrinkling of fabrics and the evaluation of the symperker depend mainly on the senses and subjectivity of the person. For example, as shown in FIG. 1, five plastic plates (AATCC Standard Wrinkle Replica Grade 1-5) having different degrees of wrinkles (unevenness) and fabric samples to be evaluated are visually evaluated to determine the degree of wrinkles of the fabric. The method of giving is used. Similar evaluation methods are used for simpkers.
이러한 방법은 사람의 시각에 의해 직물을 평가하므로 주관성, 낮은 신뢰성, 관찰자의 전문성에 대한 의존성과 같은 한계를 극복하기 힘들며, 평가에 사용되는 AATCC 레프리카의 경우 등급간의 구김 차이가 일정하지 않다는 단점이 있다. 또한, 등급을 정수 차원으로 표현하기 때문에 직물의 품질에 대한 미세한 평가가 불가능하다.Since this method evaluates the fabric by human perspective, it is difficult to overcome limitations such as subjectivity, low reliability, and dependence on the observer's professionalism, and the AATCC replica used in the evaluation has a disadvantage in that the crease difference between grades is not constant. . In addition, since the grade is expressed in an integer dimension, a minute evaluation of the quality of the fabric is impossible.
한편, 직물 구김 평가의 다른 방법으로는 도 2에 나타난 바와 같은 몬산토 방법이 있는데, 이는 직물 시편을 접어서 일정 하중으로 일정 시간 동안 누른 후 하중을 제거하여 회복되는 각도를 측정하는 방법이다.On the other hand, another method of the fabric wrinkle evaluation is the Monsanto method as shown in Figure 2, which is a method of measuring the angle of recovery by removing the load after pressing the fabric specimen for a certain time by a constant load.
그러나, 이러한 평가 방법은 직물 구김에 대한 단편적인 정보를 줄 수 있을 뿐, 전체적인 직물 품질 평가 방법으로 사용하는 데에는 한계가 있다.However, this evaluation method can give only a fractional information on the wrinkle of the fabric, there is a limit to use as an overall fabric quality evaluation method.
본 발명은 이와 같은 문제점을 해소하기 위하여 착안된 것으로서, 구김이나 심퍼커와 같은 직물의 품질을 객관적으로 평가할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.The present invention has been conceived to solve such a problem, and an object thereof is to provide an apparatus and a method for objectively evaluating the quality of fabrics such as wrinkles and simperkers.
본 발명의 다른 목적은 검사자 없이 자동으로 직물의 구김이나 심퍼커를 평가할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것이다.본 발명의 또다른 목적은 구김이나 심퍼커와 같은 직물의 품질을 세분화하여 정량적으로 평가할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것이다.It is another object of the present invention to provide an apparatus and method for automatically evaluating wrinkles or simperkers of a fabric without an inspector. It is to provide an apparatus and method that can be.
도 1은 AATCC(American Association of Textile Chemists and Colorists) 표준 구김 레프리카(Standard Wrinkle Replica)의 1-5 등급의 이미지를 나타낸 도면이다.1 shows images of grades 1-5 of the American Association of Textile Chemists and Colorists (AATCC) Standard Wrinkle Replica.
도 2는 몬산토(Monsanto) 회복각 측정장치를 나타낸 도면이다.2 is a view showing a Monsanto recovery angle measuring device.
도 3은 레이저를 이용한 광학적 3차원 비접촉 계측 시스템의 개념도이다.3 is a conceptual diagram of an optical three-dimensional non-contact measurement system using a laser.
도 4는 카메라 위치에 따른 모니터 상의 레이저 프로파일을 나타낸 도면이다.4 is a diagram illustrating a laser profile on a monitor according to a camera position.
도 5는 보정판의 흑백 이미지를 나타낸 도면이다.5 is a view showing a black and white image of the correction plate.
도 6은 보정판과 레이저를 이용한 카메라 보정 수단을 보여주는 도면이다.6 is a view showing a camera correction means using a correction plate and a laser.
도 7은 레이저가 만든 평면과 카메라의 광축의 직선과의 관계를 나타내는 도면이다.7 is a diagram showing a relationship between a plane made by a laser and a straight line of an optical axis of a camera.
도 8은 직물 구김과 심퍼커의 자동 평가 방법의 흐름도이다.8 is a flowchart of a method for automatic evaluation of fabric wrinkles and simperkers.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the code | symbol about the principal part of drawing>
1 : 펜티엄 2의 퍼스널 컴퓨터 2, 10 : 흑백 CCD 카메라1: Pentium 2 personal computer 2, 10: monochrome CCD camera
3 : 슬릿광 레이저 4 : 직물시료를 놓는 구동 알리미늄 판3: slit light laser 4: driving aluminum plate to place textile sample
5 : 사각형 금속 박스 6 : 피사체 직물5: square metal box 6: subject fabric
7 : 일반 할로겐 렘프 8, 9 : 퍼스널 컴퓨터의 모니터7: general halogen lamp 8, 9: monitor of personal computer
11 : 보정판 12 : 보정판상의 사각형 격자11: correction plate 12: rectangular grid on the correction plate
13 : 보정판 이동하는 높이 14 : 이미지 좌표계13: height to move the correction plate 14: image coordinate system
15 : 카메라 광축이 이루는 직선 16 : 레이저가 만드는 평면15: Straight line formed by camera optical axis 16: Plane made by laser
이와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에서는, 상용화된 CCD 카메라를 이용하여 광학적인 비접촉식 3차원 방식으로 직물의 구김 형태에 따른 영상정보를 얻은 후, 영상에서 필요한 직물의 3차원 정보를 이미지 프로세싱 및 광학적인 알고리즘의 개발에 의해 얻고, 영상으로부터 얻어진 직물의 3차원 정보로부터 프랙탈 알고리즘을 적용하여 직물의 구김이나 심퍼커를 정량화하여 직물의 품질을 자동으로 평가할 수 있도록 한다.즉, 본 발명에 따른 직물 구김과 심퍼커의 자동 평가 장치는, 검사하고자 하는 직물 시료가 놓여지는 이송 수단, 직물 시료에 레이저 프로파일을 형성시키는 레이저광 조사 수단, 레이저광 조사 수단에 의해 형성된 레이저 프로파일의 영상을 얻는 CCD 카메라, CCD 카메라에 의해 얻은 영상을 보정하기 위한 보정판을 조명하는 할로겐광 조사 수단, 레이저 프로파일의 영상을 CCD 카메라로 명확하게 얻기 위하여 이송 수단, 레이저광 조사 수단, CCD 카메라, 할로겐광 조사 수단을 둘러싸도록 형성되는 암실 수단, CCD 카메라에 의해 얻은 영상을 이용해 직물 시료에 대한 높이 정보를 추출하고, 높이 정보를 포함하는 직물 시료에 대한 3차원 표면 정보를 이용하여 직물 시료의 프랙탈 차원을 계산함으로써, 직물 시료의 품질 등급을 정량적으로 나타낼 수 있는 컴퓨터 수단을 포함하여 이루어진다.여기에서, 레이저광 조사 수단은 직물 시료에 대해 수직으로 레이저 광을 조사하는 것이 바람직하며, CCD 카메라는 레이저광 조사 수단에 의해 조사되는 레이저광과 일정각을 유지하도록 배치하는 것이 좋다. 또한, 레이저광 조사 수단은 적색 파장의 슬릿 레이저를 조사할 수 있다.한편, 본 발명에 따른 직물 구김과 심퍼커의 자동 평가 방법은, 직물 시료를 일정한 속도로 이송하면서 직물 시료에 대해 레이저광을 조사하여 직물 시료에 형성된 레이저 프로파일의 영상을 얻는 제 1 단계, 일정한 형태의 보정판의 영상을 얻어 제 1 단계에서 얻은 레이저 프로파일의 영상을 보정하기 위한 보정상수를 구하는 제 2 단계, 보정상수를 이용하여 제 1 단계에서 얻은 레이저 프로파일의 영상으로부터 직물 시료의 높이 정보를 포함하는 직물 시료의 3차원 표면 정보를 얻는 제 3 단계, 직물 시료의 3차원 표면 정보를 이용하여 프랙탈 차원을 계산함으로써 직물 시료의 품질을 정량적으로 표시하는 제 4 단계를 포함한다.여기에서, 제 2 단계의 보정상수는 보정판의 4개의 점에 대해서 다음의 수학식 1을 적용함으로써 구할 수 있으며, 보정판은 일정한 간격의 사각 격자형으로 표시된 점이 있는 판이고, 보정판의 모든 사각 격자에 대해 보정상수를 구하는 것이 바람직하다.
즉, 도 6에서와 같이 직물 시료를 이송하는 테이블(이송수단) 위에 일정한 사각 격자형으로 표시된 점들이 있는 보정판(11)을 놓고 CCD 카메라를 통해서 이미지를 얻는다. 이 때 보정판(11)을 조명하기 위해 할로겐광 조사 수단(7)이 사용된다.보정판의 사각 격자형 점(도 5의 흰 점들)의 실제 절대 좌표값들을 이미 알고 있으므로, 이 점들에 해당하는 이미지 좌표값(14)을 이미지 처리를 통해 찾고(S830), 각각 같은 점들의 대응관계를 설정함으로써, 이미지의 모든 좌표값을 보정판의 실제 좌표값으로 전환할 수 있다. 좌표값들의 대응관계를 설정한 식은 다음과 같이 표현할 수 있다.That is, as shown in Figure 6 on the table (transport means) for transporting the fabric sample is placed on the correction plate 11 with the points shown in a constant rectangular grid shape to obtain an image through a CCD camera. Halogen light irradiation means 7 is used to illuminate the compensator 11 at this time. Since the actual absolute coordinate values of the square grid points (white points in FIG. 5) of the compensator are already known, the image corresponding to these points By finding the coordinate values 14 through image processing (S830) and setting corresponding relationships between the same points, all coordinate values of the image may be converted into actual coordinate values of the correction plate. The expression that sets the correspondence of coordinate values can be expressed as follows.
X = HYX = HY
여기서 X는 보정판의 평면 절대 좌표값, Y는 이미지의 평면 이미지 좌표값, 그리고 H는 변환상수 값이다. 이 때, H 값은 보정판의 4개의 점의 좌표값과 이미지의 4개의 대응되는 좌표값을 알면 구할 수 있다(S840). 상기 H 값을 얻으면 이미지상에서 임의의 이미지 좌표값은 보정판에 해당하는 절대 좌표값을 찾을 수 있다. 도 5의 모든 사각형 격자에서 각각의 상수 H값을 구함으로써 정밀한 보정을 할 수 있다. 그리고 보정판을 도 6에서와 같이 일정 높이(h, 13)만큼 이동한 후 앞의 과정을 반복하여 각 사각형 격자에 해당하는 H 값을 구한다. HZ=0과 HZ=h를 계산을 통해 얻은 후 Z=0 지점과 Z=h 지점의 평면에 각각 레이저 라인(laser line, 15)을 형성시킨다. 이 때 형성된 라인 프로파일의 공간상의 위치 절대 좌표값은 위에서 얻은 H 값의 적용을 통해 얻을 수 있다. 상기 방법을 통해 레이저 라인에 의해 형성되는 평면(16)의 방정식을 도 7에서와 같이 구할 수 있다. 즉, 레이저 라인은 직선성이 있기 때문에 Z=0 보정판에 형성된 레이저 라인과 Z=h 지점에 형성된 레이저 라인은 하나의 평면상에 있는 라인들이다. 그러므로 각각의 이미지에 형성된 각 라인의 공간상의 위치 좌표를 변환상수 H를 통해 구한 후 두 라인으로 이루어진 평면의 방정식을 구한다(S850).이와 같이 변환상수 H 값과 평면의 방정식을 구한 후 측정하고자 하는 임의의 물체를 레이저 라인이 통과하는 곳에 놓으면 도 7에서와 같이 위치 0의 지점에 레이저 프로파일이 생긴다. 이 프로파일을 카메라에 의해 이미지를 얻고 도 7에서 알 수 있듯이 레이저 프로파일 O점은 카메라 광축과 만나는 각각의 보정판의 지점 O1과 O2를 얻을 수 있으므로 직선의 식을 도출해낼 수 있다. 이제 상기 평면의 방정식과 직선의 식이 만나는 점을 통해 공간상의 좌표값을 구할 수 있다. 이 알고리즘은 기존 방법에 비해 정밀도가 매우 높으며 보정 과정을 쉽고 자동적으로 짧은 시간에 수행할 수 있는 기술로 고도의 정밀을 요하는 비접촉 계측 산업에 적용할 수 있는 것이 특징이다.Where X is the plane absolute coordinate value of the correction plate, Y is the plane image coordinate value of the image, and H is the conversion constant value. At this time, the H value can be obtained by knowing the coordinate values of the four points of the correction plate and the four corresponding coordinate values of the image (S840). When the H value is obtained, any image coordinate value on the image may find an absolute coordinate value corresponding to the correction plate. By correcting each constant H value in all the rectangular grids in FIG. Then, the correction plate is moved by a predetermined height (h, 13) as shown in FIG. 6, and the above process is repeated to obtain an H value corresponding to each square grid. After H Z = 0 and H Z = h are calculated, laser lines 15 are formed in the planes of Z = 0 and Z = h, respectively. The absolute position coordinates in space of the formed line profile can be obtained by applying the H value obtained above. Through this method, the equation of the plane 16 formed by the laser line can be obtained as shown in FIG. That is, since the laser lines are linear, the laser lines formed on the Z = 0 correction plate and the laser lines formed at the Z = h points are lines on one plane. Therefore, the spatial position coordinate of each line formed in each image is obtained through the conversion constant H and then the equation of the plane consisting of two lines is obtained (S850). Placing any object where the laser line passes will result in a laser profile at point 0 as shown in FIG. This profile is imaged by the camera and as can be seen in FIG. 7, the laser profile O point can obtain points O 1 and O 2 of each correction plate which meets the camera optical axis, so that a straight line equation can be derived. It is now possible to obtain the coordinate values in space through the point where the equation of the plane and the equation of the straight line meet. This algorithm is highly accurate compared to the existing method and can be applied to the non-contact measurement industry that requires a high degree of precision because it can easily and automatically perform the calibration process in a short time.
측정하고자 하는 직물 시료에 대한 전체적인 표면 정보를 얻기 위해 직물 시료를 CCD 카메라와 레이저 조사장치 아래로 이송수단(4)에 의해 통과시키면서 각각의 이미지를 얻는다. 즉, 레이저 라인이 통과하는 곳의 피사체 높이 정보만을 얻을 수 있기 때문에 측정 시료를 일정 간격으로 이송 수단에 의해 이동시킨다. 결과적으로 일정 크기의 직물시료에 대한 높이 정보를 얻을 수 있다(S860).Each image is obtained while passing the fabric sample through the conveying means 4 under the CCD camera and the laser irradiation device to obtain overall surface information on the fabric sample to be measured. That is, since only the object height information of the place where the laser line passes, the measurement sample is moved by the transfer means at regular intervals. As a result, the height information for the fabric sample of a certain size can be obtained (S860).
본 발명에서는 자연계의 불규칙한 형상과 거동을 분석하는 기법인 프랙탈 차수를 섬유제품의 품질평가에 접목시켰다. 즉, 이와 같이 얻은 높이 정보를 이용해 해당 직물 시료의 프랙탈 차원을 계산한다(S870). 직물 표면의 3차원 형상 데이터에 대한 프랙탈 차원을 계산함에 있어서는 박스 카운팅 기법(box counting method) 과 큐브 카운팅 기법(cube counting method)을 함께 이용하였다.계산된 프랙탈 차원을 이용하면 직물 시료의 구김의 정도나 직물 표면의 거칠기, 심퍼커 등을 정량적으로 표시할 수 있다(S880). 이와 같이 표시된 직물 품질은 정확하고 선형적인 스케일을 갖고 있으며, 직물 품질을 객관적으로 평가할 수 있다는 장점을 갖는다.지금까지 바람직한 실시예를 참고로 하여 이 발명을 상세히 설명하였으나 이 발명의 범위는 이에 한정되는 것은 아니며, 다음의 특허청구범위에 의해 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 발명이 속하는 분야의 통상의 기술자라면 이 발명의 사상을 벗어나지 않고도 다양한 변형이나 변경이 가능함을 이해할 수 있을 것이다.In the present invention, the fractal order, which is a technique for analyzing the irregular shape and behavior of the natural world, is applied to the quality evaluation of textile products. That is, the fractal dimension of the fabric sample is calculated using the height information thus obtained (S870). The box counting method and the cube counting method were used together to calculate the fractal dimension of the three-dimensional shape data of the fabric surface. B, the surface roughness, simperker, etc. can be displayed quantitatively (S880). The fabric quality displayed as such has an accurate and linear scale and has the advantage of being able to objectively evaluate the fabric quality. The present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, but the scope of the present invention is limited thereto. It is not intended to be interpreted by the following claims. In addition, it will be understood by those skilled in the art that various modifications or changes may be made without departing from the spirit of the present invention.
이상에서 상술한 바와 같이, 본 발명은 이미지 처리기법을 이용하여 섬유제품의 품질 평가를 자동화하여 새로운 표준을 확립할 수 있으며, 섬유제품의 품질을 결정하는 여러 인자들을 비숙련자도 쉽고 정확하게 측정할 수 있다는 효과가 있다. 또한, 본 발명은 섬유제품의 품질을 평가하는 기존 방법이 사람에 의한 시각적인 평가로 이루어지므로 섬유제품의 품질에 신뢰성을 부여할 수 없다는 단점을 극복하고, 측정자에 의존하지 않고 자동으로 섬유제품의 품질을 평가함으로써 평가의 신뢰성을 확보하고 원가를 절감할 수 있는 효과가 있다. 또한, 제품의 평가 데이터를 관리함으로써 섬유제품의 품질을 향상시킬 수 있는 효과도 기대할 수 있다.As described above, the present invention can establish a new standard by automating the evaluation of the quality of textile products by using an image processing technique, and it is possible to easily and accurately measure various factors that determine the quality of textile products. There is an effect. In addition, the present invention overcomes the disadvantage that the existing method of evaluating the quality of the textile product is made by a visual evaluation by the human being, so that the quality of the textile product can not be given a reliability, and does not depend on the measurer. By evaluating the quality, it is possible to secure the reliability of the evaluation and reduce the cost. In addition, the effect of improving the quality of the textile product can be expected by managing the evaluation data of the product.
이미지 처리기법을 활용한 CCD 카메라를 이용한 광학적 보정방법을 이용하면 섬유산업의 다른 분야에서도 섬유제품의 3차원 계측을 수행할 수 있으며, 발명에 적용된 영상 처리 및 분석 기술은 섬유산업 외에도 여러 다른 산업분야에 적용이 가능하다. 또한, 영상처리 및 분석기술은 선진 첨단 기술로 이와 관련된 하드웨어 및 소프트웨어 산업의 발전에도 기여할 수 있는 효과가 기대된다.The optical correction method using a CCD camera using an image processing technique can perform three-dimensional measurement of textile products in other fields of the textile industry. Applicable to In addition, image processing and analysis technology is an advanced state-of-the-art technology is expected to contribute to the development of the related hardware and software industry.
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990035758A KR100341867B1 (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Automatic Evaluation System of Fabric Wrinkles and Seam Puckers and Their Method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990035758A KR100341867B1 (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Automatic Evaluation System of Fabric Wrinkles and Seam Puckers and Their Method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19990083893A KR19990083893A (en) | 1999-12-06 |
KR100341867B1 true KR100341867B1 (en) | 2002-06-24 |
Family
ID=37488235
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019990035758A KR100341867B1 (en) | 1999-08-20 | 1999-08-20 | Automatic Evaluation System of Fabric Wrinkles and Seam Puckers and Their Method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100341867B1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100869469B1 (en) | 2008-04-01 | 2008-11-19 | 한국과학기술원 | Enhanced fiber detection method of section image in fiber-reinforced material |
KR101476745B1 (en) * | 2013-07-03 | 2014-12-29 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method for quantitative analyses of roughness of powder surfaces using three-dimensional surface profiler |
KR102093450B1 (en) * | 2018-12-31 | 2020-03-25 | 주식회사 디쓰리디 | System for measuring property of matter for fabric and method of the same |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100707716B1 (en) * | 2000-04-29 | 2007-04-16 | 디엔엠에프티 (주) | A method and system for analyzing fabric drape and an electronic recording medium structured the same |
CN117030730A (en) * | 2023-08-10 | 2023-11-10 | 苏州苏瑞膜纳米科技有限公司 | Rapid defect detection method based on three-dimensional laser scanning |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0424276A (en) * | 1990-05-17 | 1992-01-28 | Toyobo Co Ltd | Fabric inspection device |
JPH06343140A (en) * | 1993-06-01 | 1994-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Image processor |
JPH08254503A (en) * | 1995-03-15 | 1996-10-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Apparatus and method for automatic fabric inspection |
US5790687A (en) * | 1996-06-18 | 1998-08-04 | Levi Strauss & Co. | Method and apparatus for the optical determination of the orientation of a garment workpiece |
-
1999
- 1999-08-20 KR KR1019990035758A patent/KR100341867B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0424276A (en) * | 1990-05-17 | 1992-01-28 | Toyobo Co Ltd | Fabric inspection device |
JPH06343140A (en) * | 1993-06-01 | 1994-12-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Image processor |
JPH08254503A (en) * | 1995-03-15 | 1996-10-01 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Apparatus and method for automatic fabric inspection |
US5790687A (en) * | 1996-06-18 | 1998-08-04 | Levi Strauss & Co. | Method and apparatus for the optical determination of the orientation of a garment workpiece |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100869469B1 (en) | 2008-04-01 | 2008-11-19 | 한국과학기술원 | Enhanced fiber detection method of section image in fiber-reinforced material |
KR101476745B1 (en) * | 2013-07-03 | 2014-12-29 | 포항공과대학교 산학협력단 | Method for quantitative analyses of roughness of powder surfaces using three-dimensional surface profiler |
KR102093450B1 (en) * | 2018-12-31 | 2020-03-25 | 주식회사 디쓰리디 | System for measuring property of matter for fabric and method of the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR19990083893A (en) | 1999-12-06 |
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A201 | Request for examination | ||
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