KR100278283B1 - Content addressable memory device - Google Patents

Content addressable memory device Download PDF

Info

Publication number
KR100278283B1
KR100278283B1 KR1019920026936A KR920026936A KR100278283B1 KR 100278283 B1 KR100278283 B1 KR 100278283B1 KR 1019920026936 A KR1019920026936 A KR 1019920026936A KR 920026936 A KR920026936 A KR 920026936A KR 100278283 B1 KR100278283 B1 KR 100278283B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
switching transistor
bit line
gate
data
line
Prior art date
Application number
KR1019920026936A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR940016228A (en
Inventor
장현식
Original Assignee
김영환
현대전자산업주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019920026936A priority Critical patent/KR100278283B1/en
Publication of KR940016228A publication Critical patent/KR940016228A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100278283B1 publication Critical patent/KR100278283B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

Abstract

본 발명은 비트 라인을 2개 사용하여 노말 데이터를 저장할 경우에는 서로 컴플리멘터리한 데이터를 사용하고, 마스크시킬 경우에는 같은 데이터를 쓰기시킬 수 있도록 셀을 구성하여 따로 마스크 데이터를 위한 스텝이 필요하지 않으며, 구성상 드라이브되는 메모리와의 연결에도 용이한 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스를 제공하기 위한 것으로, 이를 위해 본 발명은 외부로부터 입력된 데이타를 저장하는 데이터 저장부와, 외부로부터 입력된 어드레스 데이터와 저장된 데이터를 비교하여 매치 여부를 판단하기 위하여 다수의 트랜지스터로 이루어져 배타적 논리합 기능을 수행하는 비교부를 각각 구비한 다수의 컨텐트 어드레서블 셀들로 어레이된 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스에 있어서, 상기 컨텐트 어드레서블 셀 각각의 상기 데이터 저장부는, 일측이 제1 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제1 스위칭 트랜지스터; 일측이 제1 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드라인에 연결되는 제2 스위칭 트랜지스터; 상기 제1 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제2 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제1 레치부; 일측이 제2 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제3 스위칭 트랜지스터; 일측이 제2 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드라인에 연결되는 제4 스위칭 트랜지스터; 및 상기 제3 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제4 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제3 래치부를 포함하고, 상기 비교부는, 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제1 쓰기용 비트라인과 상기 제1 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제1 및 제2 엔모스트랜지스터; 상기 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제2 쓰기용 비트라인과 상기 제2 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제3 및 제4 엔모스트랜지스터를 포함한다.In the present invention, when the normal data is stored using two bit lines, data complementary to each other is used, and when masking, a cell is configured so that the same data can be written. The present invention provides a content addressable memory device that is easy to connect to a memory driven in a configuration. To this end, the present invention provides a data storage unit for storing data input from the outside, and address data input from the outside. A content addressable memory device arranged with a plurality of content addressable cells, each of which has a comparison unit consisting of a plurality of transistors for performing an exclusive OR operation to compare stored data and determine a match. The data of each cell Book, the one side being connected to a first bit line for writing, the first switching transistor gate connected to the word line; A second switching transistor having one side connected to a first read bit line and a gate connected to the word line; A first latch unit connected between the other side of the first switching transistor and the other side of the second switching transistor; A third switching transistor having one side connected to a second read bit line and a gate connected to a word line; A fourth switching transistor having one side connected to a second write bit line and a gate connected to the word line; And a third latch unit connected between the other side of the third switching transistor and the other side of the fourth switching transistor, wherein the comparing unit is connected in series between a matching line and a ground power source, and a gate of the first switching transistor is connected to the first writing transistor. First and second enMOS transistors respectively connected to a storage bit line and a storage node of the first latch unit; And third and fourth enMOS transistors connected in series between the matching line and the ground power source, each having a gate thereof connected to the second writing bit line and a storage node of the second latch unit, respectively.

Description

컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스{CONTENT ADDRESSABLE MEMORY DEVICE}Content addressable memory device {CONTENT ADDRESSABLE MEMORY DEVICE}

본 발명은 메모리 디바이스에 관한 것으로써, 특히 고정 메모리 셀을 이용한, 마스커블한 컨텐트 어드레서블 메모리(Content addressable memory)(이하, CAM이라 함)에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to memory devices, and more particularly, to a maskable content addressable memory (hereinafter referred to as CAM) using fixed memory cells.

이러한 CAM은 패턴 인식 가변장 코더 등의 응용에 사용될 수 있다. 종래의 컨텐트어드레싱 방식의 메모리인 CAM은 캐쉬 메모리나 뉴랄 네트웍, 코딩 등에 많이 사용되고 있다.Such a CAM can be used for applications such as pattern recognition variable length coders. CAM, which is a memory of a conventional content addressing method, is widely used in cache memory, neural networks, coding, and the like.

이러한 CAM 기능상으로는 처리하려는 데이터 메모리 내의 컨텐트와 비교하여 매치되는 어드레스를 찾기 위한 것이기 때문에, 일반적으로 제 1 도와 같이, CAM 셀은 외부로부터 입력된 데이타를 저장하는 데이터 저장부(10)와, 외부로부터 입력된 어드레스 데이터와 저장된 데이터를 비교하여 매치 여부를 판단하기 위하여 다수의 트랜지스터로 이루어져 배타적 논리합 기능을 수행하는 비교부(12)로 이루어진다.In this CAM function, since the CAM cell is generally used to find a matched address in comparison with the contents in the data memory to be processed, the CAM cell generally includes a data storage unit 10 for storing data input from the outside, and from the outside. Comparing unit 12 is composed of a plurality of transistors to compare the input address data and the stored data to determine whether a match, and performs an exclusive OR function.

그런데, 이러한 매치 동작은 응용에 따라서 특정 비트를 마스크(또는 don't care)시켜야 하는 필요가 있게 되며, 이러한 마스크 동작을 통해 CAM 블록의 크기를 상당히 줄일 수 있게 된다. 예로서, 패턴 매칭에서는 가장자리부분의 마스크나 가변장에서 입력 데이터보다 짧은 코드 리던던시 비트의 마스크 등에 사용된다.However, such a match operation needs to mask (or don't care) a specific bit depending on the application, and the mask operation can significantly reduce the size of the CAM block. For example, pattern matching is used for a mask of an edge portion or a mask of code redundancy bits shorter than input data in a variable length.

이러한 기능을 위해 몇몇 마스크에이블(maskable) CAM 셀이 제안되었는데, US patent 5,051,948에서는 다이나믹 셀을 이용한다. 그러나, 이 경우 셀 크기가 작은 잇점에 비해 데이터 리플레쉬가 필요하게 되는 단점이 있다. 이에 반해, 고정 셀을 이용하는 US patent 5,051,949에서는 2개의 셀을 사용하여, 하나의 셀에 마스크에 대한 정보를 저장한다. 이러한 경우, 마스크를 하기 위해 마스크 데이터와 기억시키기 위한 데이터를 쓰는 2 스텝(step)이 필요하게 되며, 2개의 워드 라인 때문에 셀의 구성에 문제가 생긴다. 즉, CAM의 기능상, 다른 메모리의 어드레스를 드라이브하기 위해서는 구성상에서 드라이브하려는 메모리 셀의 높이와 CAM 셀의 높이가 같게 되어야 하는 데 이러한 경우에는 셀 구성이 어렵다.Several maskable CAM cells have been proposed for this function. US patent 5,051,948 uses dynamic cells. However, in this case, there is a disadvantage in that data refresh is required compared to the advantage of small cell size. In contrast, US patent 5,051,949, which uses a fixed cell, uses two cells to store information about a mask in one cell. In such a case, two steps of writing mask data and data to be stored for masking are required, and two word lines cause problems in cell configuration. That is, in order to drive an address of another memory due to the function of the CAM, the height of the memory cell to be driven and the height of the CAM cell in the configuration must be the same. In this case, the cell configuration is difficult.

본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로써, 비트 라인을 2개 사용하여 노말 데이터를 저장할 경우에는 서로 컴플리멘터리한 데이터를 사용하고, 마스크시킬 경우에는 같은 데이터를 쓰기시킬수 있도록 셀을 구성하여 따로 마스크 데이터를 위한 스텝이 필요없고, 드라이브되는 메모리와의 연결 구성에도 용이한 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and when the normal data is stored using two bit lines, the cells are configured so that the same data can be written in the case of masking. Therefore, it is an object of the present invention to provide a content addressable memory device that does not require a step for mask data and is easy to configure a connection with a memory to be driven.

제1도는 종래의 고정 CAM 셀에 대한 회로도.1 is a circuit diagram of a conventional fixed CAM cell.

제2도는 본 발명의 일실시예에 따른 고정 마스커블 CAM 셀의 회로도.2 is a circuit diagram of a fixed maskable CAM cell according to an embodiment of the present invention.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 외부로부터 입력된 데이터를 저장하는 데이터 저장부와, 외부로부터 입력된 어드레스 데이터와 저장된 데이타를 비교하여 매치 여부를 판단하기 위하여 다수의 트렌지스터로 이루어져 배타적 논리합 기능을 수행하는 비교부를 각각 구비한 다수의 컨텐트 어드레서블 셀들로 어레이된 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스에 있어서, 상기 컨텐트 어드레서블 셀 각각의 상기 데이터 저장부는, 일측이 제1 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제1 스위칭 트랜지스터; 일측이 제1 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드라인에 연결되는 제2 스위칭 트랜지스터; 상기 제1 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제2 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제1 래치부; 일측이 제2 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제3 스위칭 트랜지스터; 일측이 제2 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드 라인에 연결되는 제4 스위칭 트랜지스터; 및 상기 제3 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제4 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제3 래치부를 포함하여 이루어지고, 상기 비교부는, 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제1 쓰기용 비트라인과 상기 제1 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제1 및 제2 엔모스트랜지스터; 상기 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제2 쓰기용 비트라인과 상기 제2 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제3 및 제4 엔모스트랜지스터를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is composed of a data storage unit for storing the data input from the outside and a plurality of transistors to determine whether a match by comparing the address data and the stored data input from the outside to perform an exclusive logical OR function In the content addressable memory device arrayed with a plurality of content addressable cells each having a comparison unit to perform, wherein the data storage of each of the content addressable cells, one side is connected to the first write bit line A first switching transistor having a gate connected to the word line; A second switching transistor having one side connected to a first read bit line and a gate connected to the word line; A first latch unit connected between the other side of the first switching transistor and the other side of the second switching transistor; A third switching transistor having one side connected to a second read bit line and a gate connected to a word line; A fourth switching transistor having one side connected to a second write bit line and a gate connected to the word line; And a third latch unit connected between the other side of the third switching transistor and the other side of the fourth switching transistor, wherein the comparing unit is connected in series between a matching line and a ground power source, and a gate of the third switching transistor is connected in series. First and second enMOS transistors respectively connected to a first write bit line and a storage node of the first latch unit; A third and fourth enMOS transistor connected in series between the matching line and a ground power source, each of which has its gate connected to the second write bit line and the storage node of the second latch unit, respectively. do.

이와 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 일실시예를 상세히 설명하면, 제2도에서와 같이 제안하는 마스크에이블 고정 CAM 셀은 2개의 비트 라인, 즉 d비트 라인과 r비트 라인으로 구성되어, 쓰기의 경우는 d비트 라인을 사용하고, 읽기시에는 r비트 라인을 통해서 데이터를 읽어 내며, 매치 동작 시의 데이터는 d비트 라인을 통해 입력되도록 구성된다.Referring to the embodiment of the present invention in detail with reference to the accompanying drawings, the proposed mask-enabled fixed CAM cell as shown in Figure 2 is composed of two bit lines, that is, d bit line and r bit line, In the case of d, a d bit line is used, data is read through the r bit line at the read time, and data during the match operation is input through the d bit line.

r비트 라인은 정션 캐패시턴스와 파리스틱 캐피시던스만으로 구성되기 때문에, 게이트 캐패시턴스가 존재하는 d비트 라인을 사용하여 읽기할 때보다, "하이"스피드로 동작하게 된다. 이때, r비트 라인은 옵션으로서, 싱글 엔디드 SRAM을 사용할 경우는 dbit 라인을 통해 쓰고 읽을 수도 있다. r비트 라인을 사용하면 쓰기나 읽기에서 보통의 SRAM 스피드에 필적하는 스피드로 동작할 수 있다.Because the r-bit line consists of only junction capacitance and parasitic capacitance, it operates at "high" speed, rather than reading using the d-bit line with the gate capacitance present. In this case, the r bit line is an option. When using a single-ended SRAM, the r bit line may be written and read through the dbit line. Using r-bit lines allows writes and reads to run at speeds comparable to normal SRAM speeds.

4가지를 쓰기하여 4가지의 기능을 하게 되는데, dbit0이 "하이"이고 dbit1이 "로우"일 때 "하이" 값이 저장되고, dbit0이 "로우"이고 dbit1이 "하이"일 때는 로우 값이 쓰기 되며, dbit0이 "하이"이고 dbit1이 "하이"일 때는 비트 마스크, dbit이 둘다 로우로 쓰기인 경우로 인매치가 저장되어, 어드레스를 언매치시킬 수 있다. 이때, r비트 라인은 d비트 라인과 컴플리멘트 한 값을 갖게 된다. 제2도에서 a와 d, c 와 b를 교차로 연결하면 원래의 방법에 비해, 인버스된 데이터로 매지하는 동작이 된다.There are four functions by writing four things. The value "high" is stored when dbit0 is "high" and dbit1 is "low", and the value is low when dbit0 is "low" and dbit1 is "high". When dbit0 is "high" and dbit1 is "high", the inmatch is stored when both the bit mask and dbit are written low, so the address can be unmatched. At this time, the r bit line has a value complementary to the d bit line. In FIG. 2, when a and d, c and b are connected at the intersection, the operation is performed with the inverse data compared to the original method.

마스커블 CAM 셀의 읽기시, 1 또는 0인 값을 가진 경우에는 일반적인 SRAM 읽기와 마찬가지로 r비트 라인을 통해, 싱글 엔디드 SRAM을 사용할 경우에는 1 또는 0이 리드되는데 센스 엠프에서나 로지컬한 처리를 하여, 1 또는 0이 되도록 마스크(또는 don't care) 데이터를 읽어 내는 것도 가능하다.When reading a maskable CAM cell, if it has a value of 1 or 0, 1 or 0 is read through an r-bit line as in a normal SRAM read, and when using a single-ended SRAM, a sense amplifier or a logical processing is performed. It is also possible to read mask (or don't care) data to be either 1 or 0.

이 고정 마스크에이블 CAM 셀은 nmos가 병렬로 연결되어 있기 때문에 일반적인 SRAM 셀 크기와 비슷한 크기로 구성이 가능하며, 일반적인 SRAM 셀과 연결하여 기능을 하는데 있어, 구성면에서 효과적인 연결(즉, 셀 높이를 맞추기가 용이하다.)을 할 수 있다. 또한, A의 컴플리멘터리 SRAM대신에 레지스티브 SRAM이나 싱글엔디드 SRAM 등을 사용하여 범위를 줄일 수도가 있다.This fixed mask-enabled CAM cell can be configured in a size similar to that of a typical SRAM cell because nmos are connected in parallel, and can function in conjunction with a typical SRAM cell, providing an effective configuration (i.e. adjusting cell height). Is easy). Alternatively, the range can be reduced by using resistive SRAM, single-ended SRAM, or the like instead of the complimentary SRAM of A.

본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical idea of the present invention has been described in detail according to the above preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.

상기와 같이 이루어지는 본 발명은, 정적인 특성을 가지며 마스커블한 데이터를 저장하여 비트 마스크 기능을 수행할 수 있으며, 특정 어드레스를 언매지시킬 수도 있다.According to the present invention as described above, the bit mask function can be performed by storing the maskable data having a static characteristic and can unmagnify a specific address.

또한, 일반적인 SRAM에 상응하는 스피드로 읽기, 쓰기할 수 있고, 구성상에서도 다른 메모리와의 연결이 효율적으로 되며, 동작은 일반 CAM 구조를 거의 그대로 사용 할 수 있다.In addition, it can read and write at a speed equivalent to that of a general SRAM, and can be efficiently connected to other memories even in a configuration, and the operation can almost use a general CAM structure.

그러므로, 이러한 특성들을 이용하여 가변장 코너, 패턴 인식 등의 응용 등에 사용 될 수 있다.Therefore, these characteristics can be used for applications such as variable length corners, pattern recognition, and the like.

Claims (1)

외부로부터 입력된 데이타를 저장하는 데이터 저장부와, 외부로부터 입력된 어드레스 데이터와 저장된 데이타를 비교하여 매치 여부를 판단하기 위하여 다수의 트랜지스터로 이루어져 배타적 논리합 기능을 수행하는 비교부를 각각 구비한 다수의 컨텐트 어드레서블 셀들로 어레이된 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스에 있어서, 상기 컨텐트 어드레서블 셀 각각의 상기 데이터 저장부는, 일측이 제1 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제1 스위칭 트랜치스터; 일측이 제1 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드라인에 연결되는 제2 스위칭 트랜지스터; 상기 제1 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제2 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제1 래치부; 일측이 제2 읽기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 워드라인에 연결되는 제3 스위칭 트랜지스터; 일측이 제2 쓰기용 비트라인에 연결되고, 게이트가 상기 워드라인에 연결되는 제4 스위칭 트랜지스터; 및 상기 제3 스위칭 트랜지스터의 타측 및 상기 제4 스위칭 트랜지스터의 타측 사이에 연결되는 제3 래치부를 포함하여 이루어지고, 상기 비교부는, 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제1 쓰기용 비트라인과 상기 제1 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제1 및 제2 엔모스트랜지스터; 상기 정합 라인 및 접지전원 사이에 직렬 연결되며, 자신의 게이트가 상기 제2 쓰기용 비트라인과 상기 제2 래치부의 저장 노드에 각기 연결되는 제3 및 제4 엔모스트랜지스터를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 컨텐트 어드레서블 메모리 디바이스.A plurality of contents each having a data storage unit for storing data input from the outside, and a comparison unit consisting of a plurality of transistors to compare the address data and the stored data input from the outside to determine a match, and performs an exclusive OR function. In a content addressable memory device arrayed with addressable cells, the data storage of each of the content addressable cells includes: a first side having one side connected to a first write bit line and a gate connected to a word line; Switching transistors; A second switching transistor having one side connected to a first read bit line and a gate connected to the word line; A first latch unit connected between the other side of the first switching transistor and the other side of the second switching transistor; A third switching transistor having one side connected to a second read bit line and a gate connected to a word line; A fourth switching transistor having one side connected to a second write bit line and a gate connected to the word line; And a third latch unit connected between the other side of the third switching transistor and the other side of the fourth switching transistor, wherein the comparing unit is connected in series between a matching line and a ground power source, and a gate of the third switching transistor is connected in series. First and second enMOS transistors respectively connected to a first write bit line and a storage node of the first latch unit; A third and fourth enMOS transistor connected in series between the matching line and a ground power source, each of which has its gate connected to the second write bit line and the storage node of the second latch unit, respectively. A content addressable memory device.
KR1019920026936A 1992-12-30 1992-12-30 Content addressable memory device KR100278283B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920026936A KR100278283B1 (en) 1992-12-30 1992-12-30 Content addressable memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019920026936A KR100278283B1 (en) 1992-12-30 1992-12-30 Content addressable memory device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR940016228A KR940016228A (en) 1994-07-22
KR100278283B1 true KR100278283B1 (en) 2001-01-15

Family

ID=56078262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019920026936A KR100278283B1 (en) 1992-12-30 1992-12-30 Content addressable memory device

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100278283B1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100477916B1 (en) * 1997-12-31 2005-06-10 주식회사 하이닉스반도체 Test mode circuit

Also Published As

Publication number Publication date
KR940016228A (en) 1994-07-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5386379A (en) Memory cell for associative memory
US4646271A (en) Content addressable memory having dual access modes
US4723224A (en) Content addressable memory having field masking
US6154384A (en) Ternary content addressable memory cell
US4780845A (en) High density, dynamic, content-addressable memory cell
US5258946A (en) Content-addressable memory
KR950015396A (en) Semiconductor Nonvolatile Memory
US5642325A (en) Register file read/write cell
KR880003328A (en) Semiconductor memory device
JPH09167495A (en) Data storage unit and data storage device using the same
US5668761A (en) Fast read domino SRAM
KR970017613A (en) Ferroelectric semiconductor memory and its access method
US6388909B2 (en) Associative memory for accomplishing longest coincidence data detection by two comparing operations
US5818751A (en) Single-port SRAM with no read/write collisions
US4799192A (en) Three-transistor content addressable memory
CN1601449A (en) Circuits and methods for providing variable data I/O width
US5841957A (en) Programmable I/O remapper for partially defective memory devices
KR100278283B1 (en) Content addressable memory device
JPH0485788A (en) Multi-port cache memory
KR960003591B1 (en) Semiconductor memory device
JPS61142596A (en) Memory cell
KR950034252A (en) Semiconductor memory
US6094393A (en) Stacked sense-amp cache memory system and method
KR0136480B1 (en) Encoding method of quad value of cam
KR920007464B1 (en) Content addressable memory

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110923

Year of fee payment: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee