KR100271083B1 - Infrared camera with thermoelectric temperature stabilization - Google Patents
Infrared camera with thermoelectric temperature stabilization Download PDFInfo
- Publication number
- KR100271083B1 KR100271083B1 KR1019940704655A KR19940704655A KR100271083B1 KR 100271083 B1 KR100271083 B1 KR 100271083B1 KR 1019940704655 A KR1019940704655 A KR 1019940704655A KR 19940704655 A KR19940704655 A KR 19940704655A KR 100271083 B1 KR100271083 B1 KR 100271083B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- temperature
- array
- radiation
- infrared
- opening
- Prior art date
Links
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 title claims abstract description 9
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 35
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 claims abstract description 18
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 claims description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 11
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical group [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 1
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005513 bias potential Methods 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
- H04N23/50—Constructional details
- H04N23/54—Mounting of pick-up tubes, electronic image sensors, deviation or focusing coils
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
- G01J5/061—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity by controlling the temperature of the apparatus or parts thereof, e.g. using cooling means or thermostats
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/10—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
- G01J5/20—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using resistors, thermistors or semiconductors sensitive to radiation, e.g. photoconductive devices
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
- H04N5/30—Transforming light or analogous information into electric information
- H04N5/33—Transforming infrared radiation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1305—Bipolar Junction Transistor [BJT]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Lubricants (AREA)
Abstract
적외선 방사선용 카메라 시스템은 값싼 열전 온도 안정장치를 갖는 진공패키지내에 마이크로보로메타 소자의 초점면 어레이를 갖는다. 안정화 온도는 넓은 온도범위에 걸쳐 설계자 또는 사용자에 의해 선택될 수 있지만, 주로 실온에서 사용된다. 마이크로보로메타는 수동소자이고, 정복판독 구조는 짧은 구간 펄스의 고레벨 바이어스 전류로 어레이의 스위프를 포함한다.Infrared radiation camera systems have an array of focal planes of microborometa elements in a vacuum package with inexpensive thermoelectric temperature stabilizers. The stabilization temperature can be selected by the designer or user over a wide temperature range, but is mainly used at room temperature. The microboromete is a passive element, and the readout structure contains the sweep of the array with a high level bias current of short duration pulses.
Description
[발명의 명칭][Name of invention]
열전 온도 안정화를 갖는 적외선 카메라(Infrared Camera with Thermoelectric Temperature Stabilization)Infrared Camera with Thermoelectric Temperature Stabilization
[발명의 분야][Field of Invention]
본 발명은 비디오 영상 분야에 관한 것으로, 특히 적외선 방사선으로부터 시각영상을 발생시키며, 보다 구체적으로는 비교적 낮은 비용으로 상기 시각영상을 제공하는 비디오 카메라에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to the field of video imaging, and more particularly, to a video camera which generates a visual image from infrared radiation, and more particularly, provides the visual image at a relatively low cost.
[발명의 배경][Background of invention]
본 발명은 실온부근에서 동작하는 새로운 형태의 방사선 감응 초점면, 즉 초소형 보로메타(마이크로보로메타)의 2차원 어레이에 응용된다. 본 발명은 1) 초퍼를 사용할 필요가 없이 IR 영상카메라에 상기 초점면을 사용하는 장치 및 방법과, 2) 초점면에 내재된 정보를 효율적으로 검색하는 장치 및 방법 및, 3) 상기 초점면이 비디오 출력신호를 발생시키기 위해 동작할 수 있는 카메라 시스템을 개시하고 있다.The present invention is applied to a new type of radiation sensitive focal plane operating near room temperature, i.e., a two-dimensional array of ultra-small borometa (microborometa). The present invention provides an apparatus and method for using the focal plane in an IR image camera without the need for a chopper, 2) an apparatus and method for efficiently retrieving information embedded in the focal plane, and 3) the focal plane Disclosed is a camera system operable to generate a video output signal.
[발명의 개요][Overview of invention]
본 발명에 개시된 카메라 시스템은 진공실내에 내재된 초점면 어레이상에 장면을 접속시키기 위해 아이리스(iris)를 갖는 반사 또는 다른 광학 시스템 어셈블리와, 렌즈를 바람직하게 포함하는 방사선 수신시스템을 구비한다. 광수용면 또는 진공실의 "윈도우"는 초점면 어레이에 의해 기록되거나 또는 수신될 방사선의 파장에 보이지 않는다.The camera system disclosed in the present invention comprises a reflection or other optical system assembly with an iris for connecting a scene on a focal plane array embedded in a vacuum chamber, and a radiation receiving system preferably comprising a lens. The "window" of the photoreceptive surface or vacuum chamber is not visible at the wavelength of the radiation to be recorded or received by the focal plane array.
진공 패키지는 열전 온도 안정장치의 한면에 부가되는 초점면 어레이를 포함한다. 열전 온도 안정장치 또는 초점면 어레이의 기판은 온도 감지 장치이다. 전체 어셈블리는 진공실의 베이스와 지지구조체내에 고정된다. 전기접속은 진공실의 벽을 통해 그 내부에 몇개의 구성요소로 구성되고, 특정 순간의 시간내에 특정 초점면 어레이 소자에 펄스가 발생될 바이어스 전류를 허가함으로써 그 내부에 수신되는 방사선과 관련된 출력을 발생시키게 될 것이다. 열전 온도 안정장치에 의해 유도되는 제어는 진공실을 통과하고, 온도센서에 의해 감지되는 온도에 따라 온도가 안정화되는 것이 가능하게 된다. 고안정 바이어스 소스는 디코더를 통하여 스위프내에서 감지될 특정 초점면 어레이 소자로 전송되는 일정레벨에서 전압을 제공한다. 각 소자의 출력은 전치증폭기에 의해 수신되어, 디지탈신호로 중계되고, 비디오출력을 생성하는 영상처리기로 전송된다.The vacuum package includes an array of focal planes added to one side of the thermoelectric temperature stabilizer. The substrate of the thermoelectric temperature stabilizer or focal plane array is a temperature sensing device. The entire assembly is fixed in the base and support structure of the vacuum chamber. The electrical connection consists of several components therein through the walls of the vacuum chamber and permits a bias current to be pulsed to a particular focal plane array element within a certain instant of time to generate an output related to the radiation received therein. Will be. Control induced by the thermoelectric temperature stabilizer passes through the vacuum chamber, and the temperature can be stabilized in accordance with the temperature sensed by the temperature sensor. The high bias source provides a voltage at a constant level that is transmitted through a decoder to a particular focal plane array element to be sensed in the sweep. The output of each device is received by a preamplifier, relayed to a digital signal, and sent to an image processor that generates a video output.
바람직한 실시예에서, 방사선이 통과하는 진공실의 윈도우는 적외선에서만 투명하고, 마이크로보로메타 소자로 구성된 초점면 어레이는 미합중국 특허출원 제 06/511,369호, 제 06/511,370호, 제 07/035,118호, 제 07/172,110호 및 제 06/887,495호에 개시된 마이크로보로메타 초점면 어레이와 유사하게 열을 소산시키기 위해 상기 어레이와 적당히 이격되어 있다.In a preferred embodiment, the window of the vacuum chamber through which the radiation passes is transparent only in infrared light, and the focal plane array composed of microborometa elements is disclosed in United States Patent Application Nos. 06 / 511,369, 06 / 511,370, 07 / 035,118, Similarly to the microborometa focal plane arrays disclosed in 07 / 172,110 and 06 / 887,495, they are properly spaced from the array to dissipate heat.
[도면의 간단한 설명][Brief Description of Drawings]
제1도는 양호한 실시예에 따른 카메라의 주요구성부에 대한 3차원 블록도이다.1 is a three-dimensional block diagram of the main components of a camera according to a preferred embodiment.
제2도는 진공패키지의 분해도이다.2 is an exploded view of a vacuum package.
제3도는 진공패키지의 측면도이다.3 is a side view of the vacuum package.
제4도는 본 발명의 일 실시예에 따른 소형의 초점면 어레이의 전기블록도이다.4 is an electrical block diagram of a small focal plane array according to one embodiment of the invention.
제5도는 양호한 실시예의 초점면 어레이와 결합되는 구동회로부의 전기배선도이다.5 is an electrical diagram of a drive circuit portion coupled with the focal plane array of the preferred embodiment.
제6도는 초점면 어레이의 수동소자에 시간에 걸친 펄스바이어스 전압의 인가에 따른 효과를 예시하는 시간대 온도 및 전압의 그래프이다.6 is a graph of time zone temperature and voltage illustrating the effect of application of pulse bias voltage over time on passive elements of a focal plane array.
[바람직한 실시예의 상세한 설명]Detailed Description of the Preferred Embodiments
[카메라][camera]
제1도를 참조하면, 카메라(100)의 레이아웃이 도시되어 있다. 렌즈 또는 반사 광학 시스템(71)에 의해 수신되는 광 또는 방사선은 아이리스(72)를 통하여 초점면 어레이(도시생략)가 내재된 패키지 또는 진공실(10)상의 윈도우의 표면으로 입사된다. 작은 점선 C는 카메라의 나머지 부분을 패키지(10)와 전기적으로 접속시키는 많은 핀들을 나타낸다.Referring to FIG. 1, the layout of the camera 100 is shown. Light or radiation received by the lens or reflective optical system 71 is incident through the iris 72 to the surface of the window on the package or vacuum chamber 10 in which the focal plane array (not shown) is embedded. The small dashed line C represents the many pins that electrically connect the rest of the camera with the package 10.
초점면 어레이의 온도는 패키지(10)내측의 온도 센서의 출력에 따라 온도를 설정하는 열전 제어기(73)에 의해 일정하게 유지된다. 어레이가 유지되는 온도는 안정화 온도라고도 칭한다. 마이크로보로메타를 사용하는 경우, 이 안정화 온도의 범위는 보다 높거나 또는 보다 낮은 안정화 온도가 사용될 수 없는 이유는 아니더라도 제로 내지 30℃에서 시험된다.The temperature of the focal plane array is kept constant by the thermoelectric controller 73 which sets the temperature in accordance with the output of the temperature sensor inside the package 10. The temperature at which the array is maintained is also referred to as the stabilization temperature. In the case of using microborometa, this range of stabilization temperatures is tested at zero to 30 ° C., even if higher or lower stabilization temperatures cannot be used.
라인 t는 온도 정보가 열전제어기에 의해 수신되는 것을 나타낸다. 수신된 상기 온도 정보가 원하는 정보이면, 다른 라인 ta및 tb를 통해서는 어떠한 신호도 전송되지 않는다. 그러나, 양호한 실시예에 있어서, 열전제어기는 원하는 온도 변화의 방향(온열기 또는 냉각기)에 따라 라인 ta또는 tb중 어느 하나의 라인을 통해 전력을 전송함으로써 제어될 수 있다.Line t indicates that temperature information is received by the thermoelectric controller. If the received temperature information is the desired information, no signal is transmitted over the other lines t a and t b . However, in a preferred embodiment, the thermoelectric controller can be controlled by transferring power through either line t a or t b depending on the direction of the desired temperature change (heater or cooler).
패키지(10)내의 초점면 어레이의 수동소자는 전압 또는 전류를 제공함으로써 폴링되거나 혹은 응답지령 신호를 보낼 필요가 있다. 따라서, 어레이 바이어스는 어레이 바이어스 블록(76)에 의해 제공되고, 이 전기 유닛은 양호한 실시예에서 고안정(낮은 잡음, 낮은 드리프트)전압 공급이 이루어진다. 본 발명자들은 당업자에게는 공지된 다른 소오스가 사용될지라도 간단한 배터리를 사용하여 몇몇 성공을 갖게 되었다. 양호한 실시예에서 몇몇 시퀀스의 어레이의 수동소자에는 전압이 인가된다. 따라서, 일련의 디코더(75)는 논리제어기(77)에 의해 제어된다. 논리제어기(77)는 제 2 스위프내에서 다시 폴링되기 이전에 열어드레스에 의한 각각의 행이 스위프를 한번에 폴링되도록 스위핑시퀀스의 디코더(큰 멀티플렉서로서 동작하는)를 제어함으로써 전류를 조정한다. 이어서 디코더는 패키지(10)에 부착된 핀(C)로 어레이 바이어스(76)에 의해 제공되는 바이어스 전류를 조종한다.Passive elements of the focal plane array in package 10 need to be polled or send a response command signal by providing a voltage or current. Thus, the array bias is provided by the array bias block 76, which electrical unit is provided with a highly stable (low noise, low drift) voltage supply in a preferred embodiment. We have had some success with simple batteries even though other sources known to those skilled in the art can be used. In a preferred embodiment a voltage is applied to the passive elements of the array in some sequences. Thus, the series of decoders 75 are controlled by the logic controller 77. Logic controller 77 adjusts the current by controlling the decoder of the sweeping sequence (which acts as a large multiplexer) so that each row by the open dress is polled at a time before the poll is opened again in the second sweep. The decoder then steers the bias current provided by the array bias 76 to pin C attached to the package 10.
여기서 블록(74)으로 나타낸 일련의 전치증폭기에는 출력 핀(C)들이 접속된다. 이들 전치증폭기의 출력은 전치증폭기에 입력되는 아날로그 신호레벨 값의 디지탈 표시 값을 각각의 전치증폭기로부터의 각각의 출력에 제공되는 아날로그 디지탈 변환 모듈(78)에 의해 연속적으로 또는 버퍼링된 형태로 출력될 수 있다. 전치증폭기의 전기특성은 시간 및 온도에 따라 안정되게 설계되고, 상기 변화에 대한 보정은 영상처리기로 인가된다. 본 발명자들은 전치증폭기로 주입되는 교정 신호를 사용하는 후자의 기술에 따라 몇몇 성공을 갖게 되었다. 또한 이것은 당업자에게는 공지된 온도 및 시간 독립 회로 설계에 의해 달성될 수 있다.The output pins C are connected to a series of preamplifiers represented here by block 74. The outputs of these preamplifiers can be output continuously or in buffered form by an analog digital conversion module 78 provided to the respective outputs from each preamplifier a digital display of the analog signal level values input to the preamplifier. Can be. The electrical characteristics of the preamplifier are designed to be stable over time and temperature, and correction for the change is applied to the image processor. The inventors have had some success with the latter technique of using calibration signals injected into the preamplifier. This can also be accomplished by temperature and time independent circuit designs known to those skilled in the art.
카메라에는 또한 조작자의 콘솔(79)이 전기 제어 접촉상태인 영상처리기(80)가 제공되어 있다. 즉, 영상처리기(80)내에 이미 존재하는 디지탈 값의 수신 방법을 제어함으로써, 조작자는 감도를 변화시킬 수 있고, 정지화면정보를 수신하며, 영상처리기(80)에 의해 출력될 비디오신호를 다양하게 보정 또는 변환시킨다. 영상처리기는 비디오 카메라 분야에서 명확히 공지되어 있고, 통상적으로 디지탈 신호 처리회로를 사용하며, 라인(82)으로 예시된 출력 비디오신호를 제공하도록 도입되는 입력신호에 대해 다양한 조정을 갖는다.The camera is also provided with an image processor 80 in which the operator's console 79 is in electrical control contact. That is, by controlling the method of receiving the digital value already existing in the image processor 80, the operator can change the sensitivity, receive still image information, and variously output the video signal to be output by the image processor 80. Correct or convert. Image processors are well known in the video camera art and typically use digital signal processing circuitry and have various adjustments to the input signal introduced to provide the output video signal illustrated by line 82.
소프트웨어 제어는 통상적으로 사용되는 알고리즘이 배선에 의한 논리이기보다 소프트웨어에 의해 가장 편리하게 실행되기 때문에 바람직한 실시예이다. 이러한 소프트웨어 제어에 의하여 상이한 알고리즘이 상이한 순간의 시간내에 필요하고, 상이한 범위의 어레이로부터의 신호가 상이한 처리 알고리즘으로 처리할 수 있기 때문에 하드웨어 내에서 실행이 어려운 사항들도 실행이 가능하게 된다.Software control is a preferred embodiment because algorithms that are commonly used are most conveniently executed by software rather than by logic by wiring. This software control enables different algorithms to be executed in different instants of time, and signals from different ranges of arrays can be processed with different processing algorithms, making it possible to execute even those that are difficult to execute in hardware.
이러한 카메라 설계에는 드러나지 않은 몇몇 장점들을 내포하고 있다.This camera design has some advantages that are not revealed.
아이리스는 몇개의 영상 프레임을 평균하고 영상처리 시스템내에 있을 수 있는 긴 수명의 디지탈메모리에 디지탈데이타를 기록할 수 있도록 순간적으로 폐쇄될 수 있다.(즉, 카메라 제조 후에, 다시말해서 카메라 조작시에)원할 경우에는 렌즈 캡 또는 셔터의 단순한 수단으로 대체하여 사용될 수 있다. 정상적으로 카메라 동작시 상기 아이리스(72)는 영구적으로 개방상태를 유지하거나 또는 초점면 상의 방사선 세기의 하강을 감소시키는 것이 요구되면 부분적으로 폐쇄된다. 영상처리기는 픽셀 대 픽셀 기준에 따라 긴 수명의 메모리의 디지탈데이타로부터 유입되는 신호를 감산한다. 이것은 관측자에게 보여지는 영상의 각 픽셀에 대해 오프셋 보정을 제공하고, 이러한 조건 및 처리는 당업자에게는 알려져 있다. 초점면은 TE 안정장치에 의해 안정된 온도로 유지되고, 전치증폭기의 전기 특성은 불변이고, 어떠한 변화도 어레이의 전기적 폴링을 구성할 수 없으며, 어떠한 초퍼도 장면으로부터 방사선을 방해하는 것이 요구되지는 않는다. 초퍼를 갖지않으므로서 다수의 양호한 장점들, 즉 보다 값싸고 신뢰할 수 있는 카메라, 보다 낮은 전자속도 조건 및 초퍼의 주기적인 방사선 장애로부터 생성되는 낮은 감도의 제거를 갖게된다.The iris can be instantaneously closed so that it can average several image frames and record the digital data in a long-life digital memory that may be in the image processing system (i.e. after camera manufacture, i.e. during camera operation). If desired, it can be used as an alternative to simple means of lens caps or shutters. In normal camera operation, the iris 72 is partially closed if it is desired to remain permanently open or to reduce the drop in radiation intensity on the focal plane. The image processor subtracts a signal from the digital data of the long lifetime memory on a pixel-by-pixel basis. This provides offset correction for each pixel of the image seen by the viewer, and such conditions and processing are known to those skilled in the art. The focal plane is maintained at a stable temperature by the TE stabilizer, the electrical characteristics of the preamplifier are unchanged, no change can constitute electrical polling of the array, and no chopper is required to disturb the radiation from the scene. . The absence of a chopper results in a number of good advantages: cheaper and more reliable cameras, lower electron speed conditions and the removal of low sensitivity resulting from the chopper's periodic radiation disturbances.
[어레이용 패키지][Package for Array]
제2도를 참조하면, 진공실(10)은 분해도로 나타내었다. 패키지는 카메라에 접속을 위해 개구(12, 13, 14, 15)를 포함하는 베이스 플레이트(11)와, 패드(18)가 위치설정된 내부스텝(17)을 갖는 주위벽 구조체(16)로 구성된다. 단지 몇개만 도시한 와이어(19)들은 이들 패드에 접속되어 있다. 기본적으로 이 분해도 및 그 제한된 소자들은 제한된 목적으로 구성한 것은 아니고 단지 예시의 목적으로 도시하였다.Referring to FIG. 2, the vacuum chamber 10 is shown in an exploded view. The package consists of a base plate 11 comprising openings 12, 13, 14 and 15 for connection to a camera and a peripheral wall structure 16 having an inner step 17 on which pads 18 are positioned. . Only a few of the wires 19 shown are connected to these pads. Basically, this exploded view and its limited elements are not intended for a limited purpose, but are shown for illustrative purposes only.
벽(16)은 베이스 플레이트(11)의 상부면에 개구(53)를 가지며, 벽의 내부에 경계영역(54)을 둘러싸고 있다. 개구(53)는 내부공간이 점선으로 나타내고 최종적으로 양호한 실시예의 제품이 51에서 압착된 상태의 튜브(50)내로 연장된다. 또한 게터(55)가 사용될 수 있다. 열전 온도 안정장치(20)는 최종 완성된 패키지의 경계영역(54)의 공간내에 조립된다. 열전 온도 안정장치는 비스무트 및/또는 안티몬 또는 공지된 기타의 적합한 물질등의 다른 물질의 층을 삽입한 통상 베릴륨 산화물의 상부판(20a)과 하부판(20b)으로 구성된다. 전력선 "-" 및 "+"는 상기 상부판과 하부판중 하나의 판에 전력을 인가하여, 장치를 냉각 또는 가열시키게 된다. 상부면(26)과 같은 표면은 그 상부면(26)에 대해 초점면 어레이의 한측면 또는 하부면상의 기판(11)의 상부면에 땜납으로 바람직하게 결합하여 금속화된다. 서미스터의 간소화를 위해 바람직한 실시예의 온도 감지 장치(27)는 열전 온도 안정장치(20)의 상부면에 부착된다. 다수의 온도센서는 현재 발전상태에 있거나 또는 널리 이용가능하고, 또한 경제적인 측면에 좌우되어 사용될 수 있다. 만일 온도센서가 충분히 작은 경우 온도센서는 자체 초점면 어레이 칩 상에 위치될 수도 있다. 이렇게 되면 설계자의 요구에 부응하게 되는 것이다. 따라서 필요한 모든것은 초점면 어레이의 온도에 대해 매우 정확한 판독이 온도 감지장치에 의해 제공될 수 있게 된다.The wall 16 has an opening 53 in the upper surface of the base plate 11 and surrounds the boundary area 54 in the interior of the wall. The opening 53 extends into the tube 50 with the interior space represented by the dashed line and finally with the product of the preferred embodiment pressed at 51. Getter 55 may also be used. The thermoelectric temperature stabilizer 20 is assembled in the space of the boundary region 54 of the finally completed package. The thermoelectric temperature stabilizer consists of a top plate 20a and a bottom plate 20b, usually of beryllium oxide, incorporating a layer of other material such as bismuth and / or antimony or other suitable materials known in the art. Power lines "-" and "+" apply power to one of the top and bottom plates, thereby cooling or heating the device. Surfaces such as top surface 26 are preferably metalized by soldering to the top surface 26 of the substrate 11 on one or the bottom surface of the focal plane array. For simplicity of thermistor, the temperature sensing device 27 of the preferred embodiment is attached to the top surface of the thermoelectric temperature stabilizer 20. Many temperature sensors are currently in development or widely available and can be used depending on economic aspects. If the temperature sensor is small enough, the temperature sensor may be located on its focal plane array chip. This will meet the designer's needs. So all that is required is that a very accurate reading of the temperature of the focal plane array can be provided by the temperature sensor.
또한 발명자들은 초점면 어레이 칩상에서 제조되는 온도센서를 사용하여 몇몇 성공을 갖게 되었다. 이들 센서는 마이크로보로메타와 동일한 방식의 초점면 정보판독 전자장치에 의해 주기적으로 폴링되고, 그 온도 데이타는 마이크로보로메타 신호와 동일한 방식의 영상처리기로 전송된다. 본 발명자들은 카메라내의 작은 온도 변화에 대해 보정함으로써 영상화질을 개량하도록 이들 온도 신호를 이용하기 위해 영상처리기를 사용하여 몇몇 성공을 갖게 되었다. 이들은 적외선 방사선에 민감하지 않게 구성되는 마이크로보로메타가 될 수 있다.The inventors also have some success using temperature sensors fabricated on focal plane array chips. These sensors are periodically polled by the focal plane information reading electronics in the same manner as the microborometa, and the temperature data is transmitted to the image processor in the same manner as the microborometa signal. The present inventors have had some success using image processors to utilize these temperature signals to improve image quality by correcting for small temperature variations in the camera. These can be microborometa that are configured to be insensitive to infrared radiation.
초점면 어레이칩(30)은 그 연부 둘레에 바람직하게 결합해드, 즉 리이드(31)를 갖는다. 방사선에 민감한 초점면 어레이 소자는 바람직한 실시예의 칩의 영역(33)내에 배치된다. 온도 센서가 초점면 어레이상에 사용되면, 그 온도 센서는 영역(33)내에 포함되는 것이 가장 바람직스럽게 된다.The focal plane array chip 30 preferably has a coupling head, ie, a lead 31, around its edge. The focal plane array element, which is sensitive to radiation, is disposed in the region 33 of the chip of the preferred embodiment. If a temperature sensor is used on the focal plane array, the temperature sensor is most preferably included in the area 33.
패키지에서 떨어진 상부는 초점면 어레이(33)에 의해 수신되는 것이 예상되는 방사선 형태의 투명한 윈도우(40)이다. 이 윈도우의 하부 주변에지는 납땜에 의해 바람직한 실시예내에 금속화 된다. 현재 가장 바람직한 실시예의 초점면 어레이 소자는 미합중국 특허출원 제 07/035,118호에 개시된 것과 관련된 방식의 각 소자에 의해 수신되는 적외선 방사선의 양에 기초하여 저항율의 변화를 제공하는 바나듐 산화물로 코팅된 수동 마이크로보로메타 소자이다. 이러한 적외선 감지의 바람직한 실시예에 있어서 반사 방지되는 게르마늄 윈도우는 윈도우(40)용으로 사용된다. 현재의 바람직한 실시예의 패키지에 있어서, 베이스(11)와 그 주위벽(16)은 구리합금의 베이스 플레이트와 벽에 대해 알루미늄 산화물(Al2O3)로 이루어진 일본의 Kyocera사에 의해 제조된 주문형 IC 패키지이다. 바람직한 실시예의 튜브는 구리이고, 게터는 튜브가 밀봉된 패키지(10)내에 공기를 펌핑하기 위해 사용된 이후에 장치로부터 이격되어 동작되는 당업자들에게는 공지된 금속합금이다. 게터는 튜브(50)의 패키지 쪽으로 밀폐되도록 밀어올려지고, 패키지는 51에서 튜브를 압착함으로써 밀봉된다. 바람직한 실시예에서 모든 부분은 땜납이 사용되지만, 전기 접속부는 결합된다. 그러나, 전기도선 및 구성요소를 함께 부착시키는 기술 및 실행의 개량은 본 발명의 범위내에서 상이한 방식으로 실행될 수 있다. 또한 유사하게 상술한 것에 대해 명확히 대체될 수 있는 물질들은 본 발명의 범위를 초과함이 없이 대체될 수 있다.The top away from the package is a transparent window 40 in the form of radiation which is expected to be received by the focal plane array 33. Edges around the bottom of this window are metallized in the preferred embodiment by soldering. The focal plane array device of the presently preferred embodiment is a passive micro-coated with vanadium oxide which provides a change in resistivity based on the amount of infrared radiation received by each device in a manner related to that disclosed in US patent application Ser. No. 07 / 035,118. Borrometa device. In a preferred embodiment of this infrared sensing an antireflective germanium window is used for the window 40. In the package of the presently preferred embodiment, the base 11 and its peripheral wall 16 are made of custom-made IC manufactured by Kyocera, Japan, made of aluminum oxide (Al 2 O 3 ) for the base plate and wall of copper alloy. Package. The tube of the preferred embodiment is copper, and the getter is a metal alloy known to those skilled in the art operating away from the apparatus after the tube is used to pump air into the sealed package 10. The getter is pushed up to seal towards the package of the tube 50 and the package is sealed by pressing the tube at 51. In the preferred embodiment all parts are soldered, but the electrical connections are joined. However, improvements in the technology and practice of attaching electrical leads and components together can be implemented in different ways within the scope of the present invention. Similarly, materials which can be clearly substituted for the above can be replaced without exceeding the scope of the present invention.
제3도를 참조하면, 내부에 게터(55)를 가지며 베이스 플레이트(11)에 결합된 구리관(50)을 가진 패키지(10)의 측면도가 도시된다. 전선(W, Wt, Wtb, Wta)은 진공 공간(53)내의 3개의 장치로 전력 및 판독정보를 제공한다. 이들 전선으로부터 스텝(17)의 리이드 또는 패드는 벽(16)을 통해 와이어(19)에 결합되는데, 상기 와이어는 제1도의 블럭(74)의 전치증폭기와, 제1도의 블럭(73)의 열전 제어기 및, 제 1도의 블럭(75)을 통해 바이어스 전압을 공급하는 디코더와 같은 외부 소자에 대해 접속기로 결합될 수 있다. 직각 파장(R1)으로 윈도우(40)에 도달하는 방사선은 윈도우를 통해 진행한다. 직각 파장(R2)이 아닌 방사선은 윈도우(40)에서 반사되거나 혹은 윈도우로 흡수된다. 상술한 바와 같이 몇개의 표면은 땜납접속되는 연결부(61, 62, 63, 64)를 납땜함으로써 바람직한 실시예에서 함께 유지된다. 또한 상술한 바와 같이 이들 접속은 다른 수단으로도 가능하지만, 현재로는 납땜이 바람직스럽다.Referring to FIG. 3, a side view of a package 10 having a getter 55 therein and having a copper tube 50 coupled to the base plate 11 is shown. Wires W, Wt, Wt b and Wt a provide power and readout information to three devices in vacuum space 53. From these wires the leads or pads of step 17 are coupled to wires 19 through walls 16, which are preamplifiers of block 74 in FIG. 1 and thermoelectrics in block 73 in FIG. It may be coupled to a connector to an external device such as a controller and a decoder that supplies a bias voltage through block 75 of FIG. The radiation reaching the window 40 at the right wavelength R1 travels through the window. Radiation other than the perpendicular wavelength R2 is reflected at or absorbed by the window 40. As described above, several surfaces are held together in a preferred embodiment by soldering the soldered connections 61, 62, 63, 64. As described above, these connections can be made by other means, but soldering is preferable at present.
열전 온도 안정장치(20)를 참조하여 이들 장치들은 몇몇 제조업자로부터 현재 사용화되어 있고, 바람직한 소오스는 텍사스의 달라스에 소재하는 Marlow Industries이다. 적외선 감지 초점면 어레이는 80,000 소자를 가지며, 바람직한 열전 냉각장치는 Marlow Industries 모델번호 SP5030-03-BC이다.With reference to thermoelectric temperature stabilizer 20 these devices are currently in use from several manufacturers, and the preferred source is Marlow Industries, Dallas, Texas. The infrared sensing focal plane array has 80,000 elements, and the preferred thermoelectric cooler is Marlow Industries model number SP5030-03-BC.
[수동소자로부터 정보판독][Read Information from Passive Device]
제4도를 참조하면, 다수의 입력(여기서는 4개지만 m개로 나타낼 수 있다)과 다수의 출력(여기서는 3개지만 n개로 나타낼 수 있다)을 갖는 초점면 어레이(33A)의 개략도를 도시하고 있다. 입력라인을 통해 출력라인(1, n)상에 그 상태를 나타내는 출력을 제공하기 위해 어드레스(2, 3) 또는 (2, n)에 있는 픽셀(P)과 같은 전체 픽셀의 행이 구동될 바이어스 전류가 각각의 입력 라인에 동시에 공급된다. 이 도면에서, 소자, 유닛, 마이크로보로메타 또는 보로메타 불리우는 각각의 픽셀들은 도면상에서 d(m, 1)으로 나타낸 다이오드(d)를 통해 입력라인(1, m)으로부터 펄스전류를 수신한다.Referring to FIG. 4, there is shown a schematic diagram of focal plane array 33A having a number of inputs (four here can be represented by m) and a number of outputs (here but three can be represented by n). . A bias through which an entire row of pixels, such as pixel P at address (2, 3) or (2, n), will be driven to provide an output indicating its status on output line (1, n) through the input line. Current is simultaneously supplied to each input line. In this figure, each pixel, called an element, unit, microborometa or borometa, receives a pulsed current from input line (1, m) through diode (d), denoted d (m, 1) in the figure.
바람직한 실행은 행으로 도시한 보다 작은 전류를 요구하기 때문에 제 4도의 바이폴라 트랜지스터이다. 회로 동작은 다이오드와 트랜지스터에 대해 동일하다. 그 밖에 매우적은 변화를 갖는 전계효과 트랜지스터를 사용할 수 있다. 개념상으로 다이오드는 임의의 종류의 스위치가 고려될 수 있다.The preferred implementation is the bipolar transistor of FIG. 4 because it requires smaller currents shown in rows. Circuit operation is the same for diodes and transistors. In addition, a field effect transistor having a very small change can be used. Conceptually, any type of switch can be considered as a diode.
동작원리는 제6도를 참조하여 설명한다. 수동 픽셀의 경우에 전기 특성은 방사선의 수신 또는 상기 방사선의 수신으로 인하여 온도를 변화시킴으로 해서 변경되고, 온도 및 전압 대 시간의 그래프는 예시의 목적으로 도시하였다. 물론 가장 바람직한 실시예에 있어서, 픽셀 또는 마이크로보로메타와 윈도우는 적외선 방사선에 투명하다. 마이크로보로메타는 윈도우를 통하여 방사선의 수신과 마이크로보로메타 표면 구조물을 통하는 저향양으로 인하여 온도가 변화하고, 저항은 마이크로보로메타 어셈블리의 열이 증가하므로서 감소된다. 바나듐 산화물 물질은 온도상승으로 인하여 저항이 감소하게 된다. 저항이 상반되도록 변화하는 다른물질(즉, 금속)이 존재한다.The operation principle will be described with reference to FIG. In the case of passive pixels, the electrical properties are changed by changing the temperature due to the reception of radiation or the reception of radiation, and a graph of temperature and voltage versus time is shown for illustrative purposes. In the most preferred embodiment, of course, the pixels or microborometa and the window are transparent to infrared radiation. The microborometa changes in temperature due to the reception of radiation through the window and the amount of deflection through the microborometa surface structure, and the resistance decreases as the heat of the microborometa assembly increases. Vanadium oxide material is reduced in resistance due to temperature rise. There are other materials (ie metals) that change in opposition to the resistance.
제6도에서 라인 5로 나타낸 전압레벨은 초점면 어레이의 단일 마이크로보로메타에 펄스 바이어스 전류를 시간에 걸쳐 공급하는 것이다. 80,000 픽셀 어레이에서 펄스폭은 한번에 바람직한 어드레싱 구조의 어드레싱 14 픽셀에 기초하여 대략 5∼6㎲이다. 온도 곡선 6은 단일 마이크로보로메타 메타 온도가 대략 200∼300 마이크로앰프의 전류 펄스의 각 시간에 대해 약 2℃ 상승될 수 있음을 나타낸다. 섭씨 22°라인은 초점면 어레이에 대한 바람직한 온도를 나타낸다. 개개의 픽셀의 온도는 전류로 펄스되지 않을 때 모든 시간에서 섭씨 22°표시 이상으로 유동되는 것에 주목한다. 초과되는 온도 변화는 제6도에 예시된 바이어스 전류 펄스에 의해 야기되고, 장면으로부터 유도되는 방사선을 추가의 온도변화를 가져옴을 인식할 수 있다.The voltage level, represented by line 5 in FIG. 6, is to supply pulse bias current over time to a single microborometa of the focal plane array. The pulse width in an 80,000 pixel array is approximately 5-6 dB based on the 14 addressing pixels of the preferred addressing structure at a time. Temperature curve 6 shows that a single microborometha meta temperature can rise about 2 ° C. for each time of a current pulse of approximately 200-300 microamps. The 22 ° C line represents the desired temperature for the focal plane array. Note that the temperature of an individual pixel flows above 22 ° Celsius at all times when not pulsed with current. It can be appreciated that the excess temperature change is caused by the bias current pulses illustrated in FIG. 6 and results in additional temperature change with radiation induced from the scene.
섭씨 22°는 바람직한 실시예의 초점면 어레이에 대해 안정화 온도로 예상된다. 이 온도에서, 마이크로보로메타 내에서 10 정도의 온도 변화는 저항의 인지가능한 변화, 즉 약 0.2%를 제공할 수 있다.22 ° C. is expected to be the stabilization temperature for the focal plane array of the preferred embodiment. At this temperature, a temperature change of about ten degrees in the microborometa may provide a noticeable change in resistance, ie about 0.2%.
인간에 의해 실시간 영상으로 인식할 수 있는 이동하는 비디오 영상을 제공하기 위해 어레이내의 신호를 판독하는 시간의 짧은 구간으로 인하여 고대역 폭 증폭기는 제1도의 전치증폭기(74)에 사용된다. 대전류는 이들 고 대역 폭 증폭기의 고유노이즈를 보상하게 된다. 펄스 바이어스로 안전하게 사용될 수 있는 큰 바이어스 전류는 고 대역 폭 증폭기의 고유노이즈를 보상하기 쉬운 마이크로보로메타의 감도를 비례적으로 개선하고, 보로메타 어레이를 갖는 IR 영상이 가능하다.The high bandwidth amplifier is used in the preamplifier 74 of FIG. 1 due to the short span of time for reading signals in the array to provide a moving video image that can be perceived by a human in real time. The large current compensates for the inherent noise of these high bandwidth amplifiers. The large bias current, which can be safely used as a pulse bias, proportionally improves the sensitivity of the microborometa, which is easy to compensate for the inherent noise of a high bandwidth amplifier, and enables IR imaging with a borometa array.
펄스 바이어스 전류 구조는 메모리 칩에 대한 미합중국 특허 제 3,900,716호와 같은 전술한 수동장치의 정보를 판독하기 위해 사용된다. 그럼에도 불구하고 이러한 통상의 구조는 초점면 어레이 기술에 인가되지는 않는다. 초기 단계에서도 여기서 실행하는 방식으로 인가되지는 않는다.The pulse bias current structure is used to read the information of the aforementioned passive device such as US Pat. No. 3,900,716 for the memory chip. Nevertheless, this conventional structure is not applied to focal plane array technology. Even in the early stages, it is not authorized to run here.
본 발명에 있어서 바이어스 전류가 단펄스에 인가되기 때문에 펄스가 연속적으로 인가되면 픽셀에 손상을 주게되는 고 바이어스 전류가 사용될 수 있음에 주목한다. 마이크로보로메타의 감도는 그 감도가 바이어스 전류 레벨에 비례하여 대략 개선되기 때문에 펄스 바이어스 전류보다 더 높다.Note that in the present invention, since the bias current is applied to the short pulse, a high bias current that damages the pixel may be used if the pulse is applied continuously. The sensitivity of the microborometer is higher than the pulse bias current because its sensitivity is improved approximately in proportion to the bias current level.
제5도에는 수동 픽셀의 초점면 어레이부의 상세한 전기 배선도를 도시하고 있다. 여기서 예시된 수동 픽셀은 트랜지스터 QP 에 의해 열(91)과 행(95) 사이에 접속된 하나의 레벨 RP 이다.FIG. 5 shows a detailed electrical wiring diagram of the focal plane array portion of the passive pixel. The passive pixel illustrated here is one level RP connected between column 91 and row 95 by transistor QP.
보로메타 RP 와 픽셀 트랜지스터 QP 는 각각의 행과 열의 교차점에 위치되어 있다(보로메타와 픽셀 트랜지스터의 각각은 행/열 교차점에 위치하지만 여기서는 단지 그들 구성중 하나만 도시하였다). 각 행은 트랜지스터QR(1-4) 및 저항 RR(1-4)에 의해 제어된다. 각 열은 트랜지스터 QC1(1-4) 및 트랜지스터 QC2(1-4)에 의해 제어된다. 행들은 각각의 행 그룹의 여러 행들로 이루어진 행 그룹으로 무리지어 있다(여기서는 2개만 도시함). 열들은 각각의 열 그룹의 여러 열들로 이루어진 열 그룹으로 무리지어 있다(여기서는 2개만 도시함). 이러한 무리를 이룬 구성는 몇개의 제어라인(행 그룹 선택, 행 선택, 열 그룹 선택)에 의해 제어될 큰 어레이를 허용한다. 몇개의 전치증폭기 트랜지스터 및 저항(여기서는 QAMP1, AQMP2, RC1, RC2만 도시)로 신호를 실어나르는 몇개의 신호라인(S1, S2만 도시함)은 증폭된 출력 신호(0UT1, OUT2)를 제공한다.The borometa RP and pixel transistor QP are located at the intersection of each row and column (each of the borometa and pixel transistors are located at the row / column intersection, but only one of these configurations is shown here). Each row is controlled by transistor QR (1-4) and resistor RR (1-4). Each column is controlled by transistors QC1 (1-4) and transistors QC2 (1-4). Rows are grouped into a row group consisting of several rows in each row group (only two are shown here). The columns are grouped into a row group consisting of several columns of each column group (only two are shown here). This clustered configuration allows for a large array to be controlled by several control lines (row group selection, row selection, column group selection). Several signal lines (shown only S1 and S2) carrying signals to several preamplifier transistors and resistors (here only QAMP1, AQMP2, RC1, RC2 are shown) provide the amplified output signals (0UT1, OUT2).
동작에 있어서, 하나의 행은 행 선택 및 행 그룹 선택 제어라인으로 제어 신호의 인가에 의한 "ON"전위로 바이어스되고, 다른 모든 행들은 RR저항에 의해 "OFF"전위로 바이어스된다. 동시에 제어신호는 행 선택과 동시에 몇개의 (2개만 도시) 마이크로보로메타 RP로부터 신호를 판독하기 위해 열 그룹 선택 라인에 인가된다. 정보판독 신호는 선택된 열 그룹의 열 내부로 흐르는 전류로 구성된다. 정보판독 신호 전류는 전치증폭기 트랜지스터(2개만 도시)에 의해 증폭된 전압 신호로 변환된다. 선택된 행의 모든 마이크로보로메타가 판독될 때까지 제어신호는 열 그룹 선택 라인에 인가된다. 이어서 "ON" 전위로 바이어스될 또 다른 행이 선택되고, 상기 공정이 반복된다. 이러한 동작은 원하는 행과 열의 모든 마이크로보로메타가 판독될 때까지 계속된다.In operation, one row is biased to the "ON" potential by application of a control signal to the row select and row group select control lines, and all other rows are biased to the "OFF" potential by the RR resistor. At the same time, a control signal is applied to the column group selection line to read the signal from several (only two) microborometa RPs at the same time as the row selection. The information reading signal consists of a current flowing into the columns of the selected column group. The information read signal current is converted into a voltage signal amplified by a preamplifier transistor (only two are shown). The control signal is applied to the column group select line until all microborometers of the selected row have been read. Then another row to be biased to the "ON" potential is selected and the process is repeated. This operation continues until all microborometa of the desired rows and columns have been read.
이와 같은 동작모드에 있어서, 보로메타를 통해 흐르는 바이어스 전류는 단 펄스의 형태이고, 또 보로메타의 온도는 펄스 방식으로 변화한다. 이러한 펄스 바이어스 동작은 연속 바이어스 전류로 허용되는 것 보다 더 높은 바이어스 전류가 인가되는 것을 허용하고(연속 바이어스 전류는 과열에 의해 픽셀 또는 보로메타의 파괴를 예방하기 위해 더욱 작게 유지된다), 적외선 방사선에 대응하게 보다 높은 감도를 제공한다.In such an operation mode, the bias current flowing through the borometer is in the form of a short pulse, and the temperature of the borometer changes in a pulsed manner. This pulse bias operation allows a higher bias current to be applied than is allowed with a continuous bias current (continuous bias current is kept smaller to prevent destruction of the pixel or borometer by overheating), and to infrared radiation Correspondingly providing higher sensitivity.
개별 픽셀의 동시 정보판독은 최적의 어레이 동작을 위한 허용값에 놓이도록 전류 펄스 구간이 선택되는 것이 가능하다.It is possible for the current pulse interval to be selected so that simultaneous readout of individual pixels is at an acceptable value for optimal array operation.
행 그룹과 열 그룹내로 행과 열의 그룹핑은 비교적 소수의 제어라인으로 큰 어레이가 제어되도록 하는 것이 가능하다.Grouping rows and columns into row and column groups makes it possible to control a large array with a relatively few control lines.
VSUB는 제5도의 회로에 인가되는 바이어스 전위이다. 그 목적은 고유동작을 위해 바이어스되는 트랜지스터를 유지하고, 펄스 바이어스 전류용 "싱크"를 제공하기 위한 것이다. 그 이름은 이 접속이 실리콘칩의 기판에 생기는 사실로부터 일어난다. VROW는 사용하지 않는 행 "OFF"를 바이어스하기 위해 이들 저항을 인에이블하도록 저항 RR에 인가된다.VSUB is a bias potential applied to the circuit of FIG. The purpose is to hold the transistor biased for inherent operation and provide a "sink" for pulse bias current. The name arises from the fact that this connection occurs on the silicon chip substrate. VROW is applied to resistor RR to enable these resistors to bias unused rows " OFF ".
Claims (23)
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US90143792A | 1992-06-19 | 1992-06-19 | |
US07/901437 | 1992-06-19 | ||
PCT/US1993/005740 WO1994000950A1 (en) | 1992-06-19 | 1993-06-15 | Infrared camera with thermoelectric temperature stabilization |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950702370A KR950702370A (en) | 1995-06-19 |
KR100271083B1 true KR100271083B1 (en) | 2000-11-01 |
Family
ID=25414189
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940704655A KR100271083B1 (en) | 1992-06-19 | 1993-06-15 | Infrared camera with thermoelectric temperature stabilization |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5420419A (en) |
EP (1) | EP0672325B2 (en) |
JP (4) | JP3261617B2 (en) |
KR (1) | KR100271083B1 (en) |
AU (1) | AU669548B2 (en) |
CA (1) | CA2117476C (en) |
DE (1) | DE69328440T3 (en) |
RU (1) | RU2121766C1 (en) |
WO (1) | WO1994000950A1 (en) |
Families Citing this family (130)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4324709A1 (en) * | 1993-07-23 | 1995-01-26 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Capsule for an ultra-high vacuum detector |
EP0739476B1 (en) * | 1994-01-13 | 1999-08-11 | Abb Air Preheater, Inc. | Hot spot detection in rotary regenerative heat exchangers |
US5554849A (en) * | 1995-01-17 | 1996-09-10 | Flir Systems, Inc. | Micro-bolometric infrared staring array |
JP3344163B2 (en) * | 1995-06-06 | 2002-11-11 | 三菱電機株式会社 | Infrared imaging device |
AU6291996A (en) * | 1995-06-28 | 1997-01-30 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems | Digital offset corrector for microbolometer array |
WO1997015813A1 (en) * | 1995-10-24 | 1997-05-01 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Uncooled focal plane array sensor |
US6515285B1 (en) | 1995-10-24 | 2003-02-04 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for compensating a radiation sensor for ambient temperature variations |
US5763885A (en) * | 1995-12-19 | 1998-06-09 | Loral Infrared & Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for thermal gradient stabilization of microbolometer focal plane arrays |
US6023061A (en) * | 1995-12-04 | 2000-02-08 | Microcam Corporation | Miniature infrared camera |
EP0866955A4 (en) * | 1995-12-07 | 2000-09-20 | Diasense Inc | Array combining many photoconductive detectors in a compact package |
US5729019A (en) * | 1995-12-29 | 1998-03-17 | Honeywell Inc. | Split field-of-view uncooled infrared sensor |
US5914488A (en) * | 1996-03-05 | 1999-06-22 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Infrared detector |
US6274869B1 (en) | 1996-06-28 | 2001-08-14 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Digital offset corrector |
US6040577A (en) * | 1996-08-08 | 2000-03-21 | Mauduit; Nicolas | Chopperless operation of a thermal infrared radiation sensor system by application of heat pulses to thermally isolated pixel sensor elements |
US6249002B1 (en) | 1996-08-30 | 2001-06-19 | Lockheed-Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Bolometric focal plane array |
US5789622A (en) * | 1996-09-12 | 1998-08-04 | Trw Inc. | Focal plane array calibration method |
US5994701A (en) * | 1996-10-15 | 1999-11-30 | Nippon Avonics Co., Ltd. | Infrared sensor device with temperature correction function |
US6791610B1 (en) | 1996-10-24 | 2004-09-14 | Lockheed Martin Ir Imaging Systems, Inc. | Uncooled focal plane array sensor |
US6322670B2 (en) | 1996-12-31 | 2001-11-27 | Honeywell International Inc. | Flexible high performance microbolometer detector material fabricated via controlled ion beam sputter deposition process |
JPH10281864A (en) * | 1997-04-03 | 1998-10-23 | Nikon Corp | Thermal type infrared camera |
US6144031A (en) * | 1997-04-21 | 2000-11-07 | Inframetrics Inc. | Infrared video camera system with uncooled focal plane array and radiation shield |
US6036872A (en) * | 1998-03-31 | 2000-03-14 | Honeywell Inc. | Method for making a wafer-pair having sealed chambers |
US6359333B1 (en) * | 1998-03-31 | 2002-03-19 | Honeywell International Inc. | Wafer-pair having deposited layer sealed chambers |
US6252229B1 (en) | 1998-07-10 | 2001-06-26 | Boeing North American, Inc. | Sealed-cavity microstructure and microbolometer and associated fabrication methods |
JP3635937B2 (en) | 1998-09-10 | 2005-04-06 | 三菱電機株式会社 | Infrared camera |
US6267501B1 (en) | 1999-03-05 | 2001-07-31 | Raytheon Company | Ambient temperature micro-bolometer control, calibration, and operation |
US6046485A (en) * | 1999-04-01 | 2000-04-04 | Honeywell International Inc. | Large area low mass IR pixel having tailored cross section |
JP3573040B2 (en) | 1999-05-07 | 2004-10-06 | 三菱電機株式会社 | Infrared camera and infrared camera system |
GB9919877D0 (en) | 1999-08-24 | 1999-10-27 | Secr Defence | Micro-bridge structure |
US6444983B1 (en) | 1999-10-07 | 2002-09-03 | Infrared Solutions, Inc. | Microbolometer focal plane array with controlled bias |
US6953932B2 (en) * | 1999-10-07 | 2005-10-11 | Infrared Solutions, Inc. | Microbolometer focal plane array with temperature compensated bias |
US6453748B1 (en) | 1999-12-15 | 2002-09-24 | Wayne State University | Boron nitride piezoresistive device |
JP4795610B2 (en) | 2000-05-01 | 2011-10-19 | ビーエイイー・システムズ・インフォメーション・アンド・エレクトロニック・システムズ・インテグレイション・インコーポレーテッド | Method and apparatus for compensating temperature fluctuations of a radiation sensor |
US6465785B1 (en) | 2000-05-05 | 2002-10-15 | Infrared Solutions, Inc. | Apparatus and method for compensating for pixel non-uniformity in a bolometer |
CA2312646A1 (en) * | 2000-06-28 | 2001-12-28 | Institut National D'optique | Hybrid micropackaging of microdevices |
US6686653B2 (en) | 2000-06-28 | 2004-02-03 | Institut National D'optique | Miniature microdevice package and process for making thereof |
AU2002213108A1 (en) | 2000-10-13 | 2002-04-22 | Litton Systems Inc. | Monolithic lead-salt infrared radiation detectors |
JP3591445B2 (en) | 2000-10-16 | 2004-11-17 | 三菱電機株式会社 | Infrared camera |
US7365326B2 (en) * | 2000-12-26 | 2008-04-29 | Honeywell International Inc. | Camera having distortion correction |
US6559447B2 (en) | 2000-12-26 | 2003-05-06 | Honeywell International Inc. | Lightweight infrared camera |
US6541772B2 (en) | 2000-12-26 | 2003-04-01 | Honeywell International Inc. | Microbolometer operating system |
GB0104206D0 (en) | 2001-02-21 | 2001-04-11 | Secr Defence | Radiometers |
DE10108430A1 (en) * | 2001-02-22 | 2002-09-05 | Philips Corp Intellectual Pty | Radiation sensor and radiation detector for a computer tomograph |
US20020125430A1 (en) * | 2001-03-06 | 2002-09-12 | Honeywell International Inc. | Bolometer operation using fast scanning |
GB2373389B (en) | 2001-03-12 | 2003-03-12 | Infrared Integrated Syst Ltd | A method of multiplexing column amplifiers in a resistive bolometer array |
US7235785B2 (en) * | 2001-05-11 | 2007-06-26 | Irvine Sensors Corp. | Imaging device with multiple fields of view incorporating memory-based temperature compensation of an uncooled focal plane array |
WO2002095382A1 (en) * | 2001-05-21 | 2002-11-28 | Pressco Technology, Inc. | An apparatus and method for providing snapshot action thermal infrared imaging within automated process control article inspection applications |
US6683310B2 (en) * | 2001-06-18 | 2004-01-27 | Honeywell International Inc. | Readout technique for microbolometer array |
US7075079B2 (en) * | 2001-06-27 | 2006-07-11 | Wood Roland A | Sensor for dual wavelength bands |
WO2003062783A2 (en) * | 2001-07-20 | 2003-07-31 | North Carolina State University | Light addressable electrochemical detection of duplex structures |
US8436905B2 (en) * | 2002-09-20 | 2013-05-07 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | Front lens shutter mount for uniformity correction |
US20040180369A1 (en) * | 2003-01-16 | 2004-09-16 | North Carolina State University | Photothermal detection of nucleic acid hybridization |
US20040179098A1 (en) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Haehn Craig S. | Image reversing for infrared camera |
US7378655B2 (en) * | 2003-04-11 | 2008-05-27 | California Institute Of Technology | Apparatus and method for sensing electromagnetic radiation using a tunable device |
US7422365B2 (en) * | 2003-04-25 | 2008-09-09 | Land Instruments International Limited | Thermal imaging system and method |
US6958478B2 (en) | 2003-05-19 | 2005-10-25 | Indigo Systems Corporation | Microbolometer detector with high fill factor and transducers having enhanced thermal isolation |
KR20060012649A (en) * | 2003-05-27 | 2006-02-08 | 카디오웨이브, 인코포레이티드. | Methods and apparatus for a remote, noninvasive technique to detect core body temperature in a subject via thermal imaging |
US7429596B2 (en) * | 2003-06-20 | 2008-09-30 | The Regents Of The University Of California | 1H-pyrrolo [2,3-D] pyrimidine derivatives and methods of use thereof |
US20050023469A1 (en) * | 2003-07-28 | 2005-02-03 | Richard Chin | Digital video thermal electric controller loop utilizing video reference pixels on focal plane arrays |
US7030378B2 (en) * | 2003-08-05 | 2006-04-18 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration, Inc. | Real-time radiation sensor calibration |
US7170059B2 (en) * | 2003-10-03 | 2007-01-30 | Wood Roland A | Planar thermal array |
WO2005042785A1 (en) * | 2003-10-30 | 2005-05-12 | North Carolina State University | Electrochemical detection of nucleic acid hybridization |
US6826361B1 (en) * | 2003-12-29 | 2004-11-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Systems and methods for estimating lens temperature |
US7484885B1 (en) | 2004-06-30 | 2009-02-03 | Raytek Corporation | Thermal imager having sunlight exposure protection mechanism |
US7304297B1 (en) | 2004-07-01 | 2007-12-04 | Raytek Corporation | Thermal imager utilizing improved radiometric calibration technique |
JP2008520744A (en) | 2004-11-19 | 2008-06-19 | ザ・レジェンツ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・カリフォルニア | Anti-inflammatory pyrazolopyrimidine |
FR2879819B1 (en) * | 2004-12-21 | 2007-02-23 | Ulis Soc Par Actions Simplifie | COMPONENT FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC RADIATION, IN PARTICULAR INFRARED |
TWI302036B (en) * | 2005-04-01 | 2008-10-11 | Unimems Mfg Co Ltd | Infrared imaging sensor and vacuum packaging method thereof |
EP1727359B1 (en) * | 2005-05-26 | 2013-05-01 | Fluke Corporation | Method for fixed pattern noise reduction in infrared imaging cameras |
AU2007347115A1 (en) * | 2006-04-04 | 2008-10-23 | The Regents Of The University Of California | PI3 kinase antagonists |
US7764324B2 (en) * | 2007-01-30 | 2010-07-27 | Radiabeam Technologies, Llc | Terahertz camera |
KR100790681B1 (en) * | 2007-02-05 | 2008-01-02 | 삼성전기주식회사 | Camera module |
DE102007021643B4 (en) | 2007-05-09 | 2017-11-30 | Docter Optics Se | Camera for digital image processing, control or support device with such a camera and vehicle with such a camera |
DE102007025108A1 (en) | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Docter Optics Gmbh | Lens especially for a driver assistance system |
US7786440B2 (en) | 2007-09-13 | 2010-08-31 | Honeywell International Inc. | Nanowire multispectral imaging array |
US7750301B1 (en) | 2007-10-02 | 2010-07-06 | Flir Systems, Inc. | Microbolometer optical cavity tuning and calibration systems and methods |
US20090090864A1 (en) * | 2007-10-03 | 2009-04-09 | Tracy Glatzmaier | Thermal imager having integrated support assembly |
GB2467670B (en) | 2007-10-04 | 2012-08-01 | Intellikine Inc | Chemical entities and therapeutic uses thereof |
DE102007056731A1 (en) * | 2007-11-26 | 2009-06-18 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Concept for determining a measured value on a component |
KR101897881B1 (en) | 2008-01-04 | 2018-09-12 | 인텔리카인, 엘엘씨 | Certain chemical entities, compositions and methods |
US8193182B2 (en) | 2008-01-04 | 2012-06-05 | Intellikine, Inc. | Substituted isoquinolin-1(2H)-ones, and methods of use thereof |
WO2009114874A2 (en) | 2008-03-14 | 2009-09-17 | Intellikine, Inc. | Benzothiazole kinase inhibitors and methods of use |
US8637542B2 (en) | 2008-03-14 | 2014-01-28 | Intellikine, Inc. | Kinase inhibitors and methods of use |
US20110224223A1 (en) * | 2008-07-08 | 2011-09-15 | The Regents Of The University Of California, A California Corporation | MTOR Modulators and Uses Thereof |
BRPI0915231A2 (en) | 2008-07-08 | 2018-06-12 | Intellikine Inc | kinase inhibitor compounds and methods of use |
US8235590B2 (en) * | 2008-08-21 | 2012-08-07 | Fluke Corporation | Thermal instrument engine |
US8703778B2 (en) | 2008-09-26 | 2014-04-22 | Intellikine Llc | Heterocyclic kinase inhibitors |
EP2358720B1 (en) | 2008-10-16 | 2016-03-02 | The Regents of The University of California | Fused ring heteroaryl kinase inhibitors |
US8476282B2 (en) * | 2008-11-03 | 2013-07-02 | Intellikine Llc | Benzoxazole kinase inhibitors and methods of use |
EP2427195B1 (en) | 2009-05-07 | 2019-05-01 | Intellikine, LLC | Heterocyclic compounds and uses thereof |
US8753008B2 (en) * | 2009-06-26 | 2014-06-17 | Fluke Corporation | Protective enclosure for a thermal imaging device of an industrial monitoring system |
US9658111B2 (en) | 2009-10-09 | 2017-05-23 | Flir Systems, Inc. | Microbolometer contact systems and methods |
US8729474B1 (en) | 2009-10-09 | 2014-05-20 | Flir Systems, Inc. | Microbolometer contact systems and methods |
WO2011047384A2 (en) | 2009-10-16 | 2011-04-21 | The Regents Of The University Of California | Methods of inhibiting ire1 |
FR2951895B1 (en) * | 2009-10-22 | 2012-07-13 | Ulis | METHOD OF CORRECTING IMAGES DELIVERED BY A DETECTOR NOT REGULATED IN TEMPERATURE, AND DETECTOR USING SUCH A METHOD |
US9848134B2 (en) * | 2010-04-23 | 2017-12-19 | Flir Systems, Inc. | Infrared imager with integrated metal layers |
CN103002738A (en) | 2010-05-21 | 2013-03-27 | 英特利凯恩有限责任公司 | Chemical compounds, compositions and methods for kinase modulation |
US8743207B2 (en) * | 2010-07-27 | 2014-06-03 | Flir Systems Inc. | Infrared camera architecture systems and methods |
CN103298474B (en) | 2010-11-10 | 2016-06-29 | 无限药品股份有限公司 | Heterocyclic compound and application thereof |
JP5500056B2 (en) * | 2010-12-06 | 2014-05-21 | 日本電気株式会社 | Infrared sensor package and electronic device equipped with the infrared sensor package |
DE102010061079B4 (en) * | 2010-12-07 | 2012-12-06 | Greateyes Gmbh | Radiation detector and method for processing or maintenance of a radiation detector |
NZ612909A (en) | 2011-01-10 | 2015-09-25 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Processes for preparing isoquinolinones and solid forms of isoquinolinones |
US9167179B2 (en) | 2011-02-21 | 2015-10-20 | Vectronix, Inc. | On-board non-uniformity correction calibration methods for microbolometer focal plane arrays |
AR085397A1 (en) | 2011-02-23 | 2013-09-25 | Intellikine Inc | COMBINATION OF QUINASA INHIBITORS AND THEIR USES |
KR101153722B1 (en) | 2011-03-15 | 2012-06-14 | 한국과학기술원 | System in Package Method of Semi-Active Focal PlanSystem in Package Method of Semi-Active Focal Plane Array sensor using Diode witching e Array sensor using Diode witching |
US8969363B2 (en) | 2011-07-19 | 2015-03-03 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
MX2014000648A (en) | 2011-07-19 | 2014-09-25 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Heterocyclic compounds and uses thereof. |
TW201311663A (en) | 2011-08-29 | 2013-03-16 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Heterocyclic compounds and uses thereof |
MX370814B (en) | 2011-09-02 | 2020-01-08 | Univ California | Substituted pyrazolo[3,4-d]pyrimidines and uses thereof. |
JP5904795B2 (en) * | 2012-01-06 | 2016-04-20 | セコム株式会社 | Image monitoring device |
CN103076552B (en) * | 2012-03-23 | 2015-05-13 | 南京理工大学 | Method for inhibiting bias voltage ripples and line output amplifier channel non-uniformity |
US8940742B2 (en) | 2012-04-10 | 2015-01-27 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
US8828998B2 (en) | 2012-06-25 | 2014-09-09 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Treatment of lupus, fibrotic conditions, and inflammatory myopathies and other disorders using PI3 kinase inhibitors |
RU2015115631A (en) | 2012-09-26 | 2016-11-20 | Дзе Риджентс Оф Дзе Юниверсити Оф Калифорния | MODULATION IRE1 |
US9606016B2 (en) * | 2012-12-31 | 2017-03-28 | Flir Systems, Inc. | Devices and methods for determining vacuum pressure levels |
US10677656B2 (en) | 2012-12-31 | 2020-06-09 | Flir Systems, Inc. | Devices and methods for infrared reference pixels |
US9481667B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-11-01 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Salts and solid forms of isoquinolinones and composition comprising and methods of using the same |
DE102013216909A1 (en) * | 2013-08-26 | 2015-02-26 | Robert Bosch Gmbh | Thermal sensor and method for manufacturing a thermal sensor |
US9751888B2 (en) | 2013-10-04 | 2017-09-05 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
NZ718430A (en) | 2013-10-04 | 2021-12-24 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Heterocyclic compounds and uses thereof |
AU2015231413B2 (en) | 2014-03-19 | 2020-04-23 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds for use in the treatment of PI3K-gamma mediated disorders |
US20150320755A1 (en) | 2014-04-16 | 2015-11-12 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Combination therapies |
US9708348B2 (en) | 2014-10-03 | 2017-07-18 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Trisubstituted bicyclic heterocyclic compounds with kinase activities and uses thereof |
MX2018003058A (en) | 2015-09-14 | 2018-08-01 | Infinity Pharmaceuticals Inc | Solid forms of isoquinolinone derivatives, process of making, compositions comprising, and methods of using the same. |
WO2017161116A1 (en) | 2016-03-17 | 2017-09-21 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Isotopologues of isoquinolinone and quinazolinone compounds and uses thereof as pi3k kinase inhibitors |
WO2017214269A1 (en) | 2016-06-08 | 2017-12-14 | Infinity Pharmaceuticals, Inc. | Heterocyclic compounds and uses thereof |
JP7054681B2 (en) | 2016-06-24 | 2022-04-14 | インフィニティー ファーマシューティカルズ, インコーポレイテッド | Combination therapy |
US11118961B2 (en) | 2016-09-02 | 2021-09-14 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Imaging apparatus with infrared-based temperature detection devices |
CN106847759B (en) * | 2017-02-23 | 2019-03-29 | 浙江大立科技股份有限公司 | Vacuum encapsulation structure and its packaging method, the device for Vacuum Package |
US10983047B2 (en) | 2017-12-08 | 2021-04-20 | Duke University | Imaging devices including dielectric metamaterial absorbers and related methods |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0397251A2 (en) * | 1989-05-10 | 1990-11-14 | Gec-Marconi Limited | Methods of producing vacuum devices and infrared detectors with a getter |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5123870B2 (en) * | 1972-10-02 | 1976-07-20 | ||
US3900716A (en) * | 1972-10-17 | 1975-08-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical static card reader |
US4230945A (en) * | 1978-04-24 | 1980-10-28 | Meir Vladimir A | Device for detecting ionizing radiation |
JPS6221024A (en) * | 1985-07-19 | 1987-01-29 | Fujitsu Ltd | Signal correction circuit for infrared camera |
US4654622A (en) * | 1985-09-30 | 1987-03-31 | Honeywell Inc. | Monolithic integrated dual mode IR/mm-wave focal plane sensor |
JPS6326924A (en) * | 1986-07-18 | 1988-02-04 | Okaya Denki Sangyo Kk | Flat discharge tube and its manufacture |
US4926227A (en) * | 1986-08-01 | 1990-05-15 | Nanometrics Inc. | Sensor devices with internal packaged coolers |
US4752694A (en) * | 1987-01-12 | 1988-06-21 | Honeywell Inc. | Array uniformity correction |
DE69123575T2 (en) * | 1990-04-26 | 1999-09-02 | Commw Of Australia | BOLOMETER TYPE THERMAL INFRARED DETECTOR WITH SEMICONDUCTOR FILM |
WO1992006561A1 (en) * | 1990-10-05 | 1992-04-16 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Temperature stabilization buffer for a solid state electronic component |
US5075549A (en) * | 1990-12-11 | 1991-12-24 | Hughes Aircraft Company | Pyroelectric detector using electronic chopping |
US5129595A (en) * | 1991-07-03 | 1992-07-14 | Alliant Techsystems Inc. | Focal plane array seeker for projectiles |
-
1993
- 1993-06-15 WO PCT/US1993/005740 patent/WO1994000950A1/en active IP Right Grant
- 1993-06-15 JP JP50243594A patent/JP3261617B2/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-15 RU RU94046326A patent/RU2121766C1/en active
- 1993-06-15 KR KR1019940704655A patent/KR100271083B1/en not_active IP Right Cessation
- 1993-06-15 DE DE69328440T patent/DE69328440T3/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-15 CA CA002117476A patent/CA2117476C/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-06-15 AU AU45379/93A patent/AU669548B2/en not_active Expired
- 1993-06-15 EP EP93915372A patent/EP0672325B2/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-02-28 US US08/203,739 patent/US5420419A/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-10-24 JP JP2001326952A patent/JP2002185852A/en active Pending
-
2005
- 2005-10-05 JP JP2005292072A patent/JP4460515B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2008
- 2008-11-26 JP JP2008300981A patent/JP4447648B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0397251A2 (en) * | 1989-05-10 | 1990-11-14 | Gec-Marconi Limited | Methods of producing vacuum devices and infrared detectors with a getter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2121766C1 (en) | 1998-11-10 |
JPH07508384A (en) | 1995-09-14 |
EP0672325A1 (en) | 1995-09-20 |
JP2006081204A (en) | 2006-03-23 |
JP4447648B2 (en) | 2010-04-07 |
EP0672325B1 (en) | 2000-04-19 |
JP2009085964A (en) | 2009-04-23 |
DE69328440D1 (en) | 2000-05-25 |
KR950702370A (en) | 1995-06-19 |
JP4460515B2 (en) | 2010-05-12 |
AU669548B2 (en) | 1996-06-13 |
AU4537993A (en) | 1994-01-24 |
JP2002185852A (en) | 2002-06-28 |
US5420419A (en) | 1995-05-30 |
DE69328440T2 (en) | 2000-09-07 |
DE69328440T3 (en) | 2009-05-07 |
WO1994000950A1 (en) | 1994-01-06 |
CA2117476A1 (en) | 1994-01-06 |
JP3261617B2 (en) | 2002-03-04 |
EP0672325B2 (en) | 2008-08-27 |
CA2117476C (en) | 2000-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100271083B1 (en) | Infrared camera with thermoelectric temperature stabilization | |
US5486698A (en) | Thermal imaging system with integrated thermal chopper | |
RU94046326A (en) | INFRARED CAMERA AND METHOD FOR READING CHANGES IN SPECIFIC RESISTANCE OF PASSIVE RADIO-RECEIVING ELEMENTS | |
EP0870181B1 (en) | Method and apparatus for thermal gradient stabilization of microbolometer focal plane arrays | |
KR100265672B1 (en) | Readout sustem and process for ir detector arrays | |
KR100402194B1 (en) | Heat Sensing System with High-Speed Response Calibrator and Application Method of Uniformity Correction | |
US5600143A (en) | Sensor including an array of sensor elements and circuitry for individually adapting the sensor elements | |
GB2285683A (en) | Partitioned infrared sensor array | |
JPS6086971A (en) | Television camera | |
JP2006292594A (en) | Infrared detector | |
US5023459A (en) | Miniature multi-temperature radiometric reference | |
EP1366344B1 (en) | Method and apparatus for the read-out of a bolometer array by using multiple bias pulses | |
JP4153861B2 (en) | Infrared sensor | |
KR20040004475A (en) | Improved microblolmeter operating systne | |
US6441413B1 (en) | Semiconductor device having thin film resistors made of bolometer materials | |
WO1992006561A1 (en) | Temperature stabilization buffer for a solid state electronic component | |
US7560694B2 (en) | Method and system for increasing signal-to-noise ratio in microbolometer arrays | |
JPH055435B2 (en) | ||
JPH075047A (en) | Radiation heat sensor | |
US4260888A (en) | Non-cryogenic infrared position and image sensor | |
Funaki et al. | A 160 x 120 pixel uncooled TEC-less infrared radiation focal plane array on a standard ceramic package | |
JP2005181206A (en) | Non-cooled infrared camera | |
Finfrock | Calibration of starring infrared systems using thermoelectric thermal reference sources | |
JPH0850059A (en) | Infrared-ray detector | |
JP2000162036A (en) | Infrared imaging component and its manufacture |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120727 Year of fee payment: 13 |
|
EXPY | Expiration of term |