KR100257944B1 - Control apparatus of material tester - Google Patents
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Abstract
재료시험기에 의한 재료시험에 있어서, 시험조건을 변경할 때의 작업성을 좋게하고, 시험 실시작업을 정확, 또한 간단하게 조작 가능하게 한다.In the material test by the material testing machine, the workability at the time of changing the test conditions is improved, and the test work can be performed accurately and simply.
재료시험기에서의 제어조건의 패러미터, 시험조각 조건의 패러미터 및 데이터 처리조건의 패러미터를 하나의 레코드 데이터로서 작성해 둔다. 시험조각에 대응하는 레코드(1)∼(X)를 하나의 조건 파일로 한다. 복수의 조건 파일(A)∼(E)를 퍼스널 컴퓨터의 하드디스크에 기억해 둔다. 시험자에 의해 퍼스털 컴퓨터에서 선택된 조건 파일에 대하여, 시험조각에 대응하는 패러미터(레코드데이터)를 계측제어장치로 전송한다. 계측제어장치에 있어서, 전송된 패러미터에 의거하여 재료시험기를 제어한다.The parameters of control conditions, test pieces of parameters and data processing conditions of the material tester are prepared as one record data. Records (1) to (X) corresponding to the test pieces are regarded as one condition file. The plurality of condition files A to E are stored in the hard disk of the personal computer. The parameter (record data) corresponding to the test piece is transmitted to the measurement control device with respect to the condition file selected by the examiner on the personal computer. In the measurement control device, the material tester is controlled based on the transmitted parameters.
Description
본 발명은 재료시험기에서의 시험동작의 제어를 위해 시험조건에 대응된 패러미터를 설정하는 재료시험기용 제어장치에 관한 것이다.The present invention relates to a control device for a material tester for setting a parameter corresponding to a test condition for control of a test operation in a material tester.
종래, 재료시험기에 의한 시험에는 여러 가지 방법이 있고, 시험의 목적이나, 시험조각의 종류나 형상 등, 각각의 시험조건에 따라서 재료시험기의 동작을 제어할 필요가 있다. 이 때문에, 재료시험기에는 계측제어장치가 설치되어 있고, 이 계측제어장치에 시험조건에 따른 각종의 패러미터를 설정하는 것으로, 시험기의 동작이 제어된다.Conventionally, there are various methods for testing by a material tester, and it is necessary to control the operation of the material tester according to the test conditions such as the purpose of the test, the type and shape of the test pieces, and the like. For this reason, a measurement control apparatus is provided in the material tester, and the operation of the tester is controlled by setting various parameters according to the test conditions in the measurement control apparatus.
그러나, 시험조건에 따른 각종의 패러미터를 설정하는 작업은 번잡한 작업이고, 시험에 시간이 걸린다는 문제가 있다. 예컨대, 재료 메이커 등에서 각종 재료의 품질관리를 행하는 경우 등, 로트 단위의 정형(定形)의 시험조각에 대한 시험을 배치(batch)적으로 행하는 경우는 일조(一組)의 패러미터를 설정하고, 하나의 시험조각에 대한 시험 즉, 1회의 시험마다 그 패러미터를 반복하여 사용하면 된다. 그러나, 실제의 시험실의 운용에서는 상기와 같은 로트로서 대량의 정형 시험조각을 취급하는 경우 외에, 표본으로서 소량 단위의 시험조각을 대상으로 하고, 복수 종류의 형상이나 특성이 다른 시험조각에 대하여 연속적으로 시험하는 방법이 작업순서로서 채용되어 있는 경우가 많다. 이와 같은 경우, 종래는 시험조건이 변경될 때마다 패러미터를 설정하여 고칠 필요가 있다.However, the task of setting various parameters according to the test conditions is complicated, and there is a problem that the test takes time. For example, when batch testing a lot of standard test pieces in a lot unit, such as when quality control of various materials is performed by a material maker or the like, a set of parameters is set. The test is performed on the test pieces of, i.e., the parameters are repeated for each test. However, in actual operation of the laboratory, in addition to handling a large number of standard test pieces as a lot as described above, a small amount of test pieces are used as a sample, and a plurality of types of test pieces having different shapes or characteristics are continuously used. The test method is often employed as the work order. In such a case, conventionally, it is necessary to set and fix the parameter every time the test conditions are changed.
본 발명은 재료시험기에 의한 재료시험에 있어서, 시험조건을 변경할 때의 작업성을 좋게하고, 시험 실시작업을 정확, 또한 간단하게 조작 가능하게 하는 것을 과제로 한다.An object of the present invention is to improve the workability at the time of changing the test conditions in the material test by a material testing machine and to make the test execution work accurate and simple.
도 1은 본 발명의 일실시형태의 재료시험시스템의 블록도,1 is a block diagram of a material test system according to one embodiment of the present invention;
도 2는 실시형태에서의 퍼스널 컴퓨터에 기억되어 있는 패러미터의 데이터의 구조를 나타내는 도면,2 is a diagram showing a structure of data of parameters stored in a personal computer in the embodiment;
도 3은 실시형태에서의 시험 순서를 설명하는 도면,3 is a diagram illustrating a test procedure in an embodiment;
도 4는 실시형태에서의 시험시의 패러미터, 신호 및 데이터의 흐름을 개념적으로 나타내는 도면이다.4 is a diagram conceptually showing the flow of parameters, signals, and data during testing in the embodiment.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 재료시험기, 2 : 계측제어장치,1: material testing machine, 2: measurement control device,
3 : 퍼스널 컴퓨터.3: personal computer.
상기의 과제를 해결하기 위해 이루어진 본 발명의 재료시험기용 제어장치는 재료시험기에서의 제어조건, 시험조각의 시험조각 조건 및 계측데이터의 데이터 처리조건에 따른 각 패러미터에 의거하여 재료시험기를 제어하는 계측제어장치와, 시험조각마다 상기 각 패러미터를 하나의 세트로 함과 동시에, 복수의 시험조각에 대응하는 복수 세트의 패러미터를 하나의 조건파일로 하여 복수의 상기 조건파일을 축적하고 있는 조건파일 축적수단과, 상기 조건파일 축적수단에 축적된 조건파일에서 임의의 조건파일을 지정하는 조건파일 지정수단을 구비하고, 상기 조건파일 지정수단으로 지정된 조건파일로부터 시험대상의 시험조각에 대응하는 패러미터를 판독하여 상기 계측제어장치로 전송함으로써, 상기 계측제어장치의 패러미터를 시험조각에 따라서 순차적으로 설정하도록 한 것을 특징으로 한다.The control device for a material tester of the present invention made to solve the above problems is a measurement for controlling the material tester based on each parameter according to the control condition in the material tester, the test piece condition of the test piece and the data processing condition of the measurement data. Condition file accumulating means for accumulating a plurality of said condition files by using a control device and each said parameter as a set for each test piece, and a plurality of sets of parameters corresponding to a plurality of test pieces as one condition file. And condition file designation means for designating an arbitrary condition file in the condition file accumulated in the condition file accumulating means, and reading a parameter corresponding to the test piece of the test object from the condition file designated by the condition file designation means; By transmitting to the measurement control device, the parameters of the measurement control device according to the test piece That the stand so as to sequentially set to be characterized.
이하, 본 발명의 일실시형태에 대해서 도면을 참조하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 일실시형태에 관한 재료시험 시스템의 블록도이고, 재료시험기(1)와 계측제어장치(2)는 각종 신호선으로 접속되어 있다. 또한, 계측제어장치(2)와 퍼스널 컴퓨터(3)는 예컨대 GP-IB규격 등의 통신케이블로 접속되어 있다. 재료시험기(1)는 램(ram)(유압실린더)등을 구동하여 시험조각에 하중을 가하여 인장시험, 압축시험, 휨시험 등을 행하는 것이고, 시험시에는 하중 및 램 스트로크 등의 계측데이터가 재료시험기(1)로부터 계측제어장치(2)로 출력된다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, one Embodiment of this invention is described with reference to drawings. 1 is a block diagram of a material test system according to an embodiment of the present invention, in which a material tester 1 and a measurement control device 2 are connected by various signal lines. In addition, the measurement control device 2 and the personal computer 3 are connected with a communication cable such as the GP-IB standard. The material tester 1 drives a ram (hydraulic cylinder) or the like to apply a load to a test piece to perform a tensile test, a compression test, a bending test, and the like. During the test, measurement data such as a load and a ram stroke is used. It is output from the tester 1 to the measurement control apparatus 2.
계측제어장치(2)는 CPU(21) 등으로 이루어지는 마이크로 컴퓨터로 구성되어 있고, CPU(21)는 ROM(22)에 격납되어 있는 제어프로그램에 의거하여 계측제어장치(2) 자체의 각부의 제어를 행함과 동시에, ROM(22)에 격납되어 있는 자동제어프로그램에 의거하여 재료시험기(1)를 제어한다. 게다가, 퍼스널 컴퓨터(3)와의 사이에서 데이터 통신을 행한다. 또한, 키보드(27)의 입력처리와 디스플레이(26)의 표시처리를 행함으로써, 시험조건에 따라서 키보드(27)에서 입력된 패러미터를 디스플레이(26)에 표시하고, 동시에 EEPROM(23)에 기억한다.The measurement control device 2 is composed of a microcomputer composed of a CPU 21 and the like, and the CPU 21 controls each part of the measurement control device 2 itself based on a control program stored in the ROM 22. At the same time, the material tester 1 is controlled based on the automatic control program stored in the ROM 22. In addition, data communication is performed with the personal computer 3. In addition, by performing input processing of the keyboard 27 and display processing of the display 26, the parameters input from the keyboard 27 are displayed on the display 26 according to the test conditions, and are simultaneously stored in the EEPROM 23. .
한편, 뒤에 설명하는 바와 같이 퍼스널 컴퓨터(3)에 기억되어 있는 조건파일의 패러미터가 I/F(인터페이스)(24)를 통해 전송되면 그 패러미터를 디스플레이(26)에 표시하고, 동시에 EEPROM(23)에 기억한다. 또한, 이 EEPROM(23)으로의 패러미터의 기억시에는 전(前)의 패러미터가 전송된 패러미터로 변경되어 기록된다. 그리고, CPU(21)는 이 EEPROM(23)에 기억된 패러미터에 의거하여 I/F(28)로부터 재료시험기에 각종 제어신호를 출력함과 동시에, 재료시험기(1)로부터의 계측데이터를 수취하면서 재료시험기(1)의 동작을 제어한다.On the other hand, when the parameters of the condition file stored in the personal computer 3 are transmitted through the I / F (interface) 24 as described later, the parameters are displayed on the display 26, and at the same time, the EEPROM 23 Remember to. At the time of storing the parameter to the EEPROM 23, the previous parameter is changed to the transferred parameter and recorded. The CPU 21 outputs various control signals from the I / F 28 to the material tester based on the parameters stored in the EEPROM 23 and receives the measurement data from the material tester 1. The operation of the material tester 1 is controlled.
또한, 키보드(27)로부터의 입력지시에 의해 재료시험기(1)의 동작제어를 개시하는 것도 가능하지만, 퍼스널 컴퓨터(3)에서 패러미터를 설정하는 모드일 때는 계측제어장치(2)는 퍼스널 컴퓨터(3)에서의 시험스타트신호에 의거하여 재료시험기(1)의 동작제어를 개시하여 시험을 행한다. 또한, 키보드(27)로부터 입력된 동작명령, 또는 퍼스널 컴퓨터(3)에서 커맨드(command)로서 전송된 동작명령은 모두, ROM(22)이 해석하고, 디스플레이(26)에 상태표시된다.In addition, it is also possible to start operation control of the material tester 1 by input instruction from the keyboard 27. However, when the personal computer 3 is in a mode for setting parameters, the measurement control device 2 is a personal computer ( Based on the test start signal in 3), the operation control of the material tester 1 is started and the test is performed. In addition, both the operation command input from the keyboard 27 or the operation command transmitted as a command from the personal computer 3 are interpreted by the ROM 22 and displayed on the display 26.
도 2는 퍼스널 컴퓨터(3)에 기억되어 있는 패러미터의 데이터의 구조를 나타내는 도면이고, 시험의 종류에 대응하는 복수의 조건파일(이 예에서는 (A)∼(E))로 이루어지는 조건파일군으로 구성되어 있다. 각 조건파일은 시험조각의 개수에 대응하는 복수의 레코드((1)∼(X))의 데이터로 구성되어 있다. 각 조건파일((A)∼(E))은 각각이 복수 종류의 형상이나 특성이 다른 시험조각에 대하여 시험조각을 변경하면서 연속적으로 시험하는 일련의 시험에 대응하고 있고, 레코드(1)∼(X)의 데이터는 그 일련의 시험중의 각 시험조각에 대응하고 있다.FIG. 2 is a diagram showing the structure of the data of the parameters stored in the personal computer 3, and is a condition file group composed of a plurality of condition files ((A) to (E) in this example) corresponding to the type of test. Consists of. Each condition file is composed of data of a plurality of records ((1) to (X)) corresponding to the number of test pieces. Each of the condition files ((A) to (E) corresponds to a series of tests in which each test piece is continuously tested while changing test pieces for test pieces having different shapes or characteristics, and records (1) to ( The data in X) corresponds to each test piece in the series of tests.
즉, 각 레코드는 일회의 시험을 행하기 위해 필요한 패러미터의 집합이고, 크게 나누어 제어조건의 패러미터, 시험조각 조건의 패러미터, 데이터처리 조건의 패러미터의 3종류의 패러미터로 구성되어 있다. 그리고, 이 레코드의 데이터를 구성하는 제어조건의 패러미터, 시험조각 조건의 패러미터 및 데이터처리조건의 패러미터에 의해 하나의 시험조각에 대한 시험조건이 결정된다.In other words, each record is a set of parameters required to perform one test, and is largely divided into three types of parameters: a parameter of a control condition, a parameter of a test piece condition, and a parameter of a data processing condition. Then, the test conditions for one test piece are determined by the parameters of the control condition, the parameters of the test piece condition and the parameters of the data processing condition constituting the data of this record.
한편, 이들의 패러미터 및 파일구성은 조작자에 의해 퍼스널 컴퓨터(3) 또는 그 외의 퍼스널 컴퓨터로 미리 작성된 것이고, 조건파일군으로서 퍼스널 컴퓨터(3)의 하드디스크에 기억되어 있다.On the other hand, these parameters and file structure are previously created by the operator with the personal computer 3 or other personal computer, and are stored in the hard disk of the personal computer 3 as a group of condition files.
또, 각 패러미터의 일례를 다음의 표 1 ∼ 3에 나타낸다.Moreover, an example of each parameter is shown to the following Tables 1-3.
도 3은 실시형태에서의 시험 순서를 나타내는 도면, 도 4는 시험시의 패러미터, 신호 및 데이터의 흐름을 개념적으로 나타내는 도면이고, 상기 도면에 의거하여 시험의 순서와 동작을 설명한다. 우선, 계측제어장치(2)를 온라인으로 하여 퍼스널 컴퓨터(3)와의 통신을 가능하게 하고, 퍼스널 컴퓨터(3)에 있어서, 시험자가 조건파일군 중에서 소망하는 조건파일을 선택한다. 다음에, 이 선택된 조건파일 중의 시험 대상으로 되는 시험조각에 대응하는 레코드의 패러미터를 계측제어장치(2)로 전송한다. 이것에 의해, 계측제어장치(2)에 있어서 전송되어 온 패러미터가 EEPROM(23)에 기억됨과 동시에 디스플레이(26)에 표시된다. 또한, 이 사이에, 시험자는 재료시험기(1)와 계측제어장치(2)에서의 계기의 0조정이나 재료시험기(1)로의 시험조각의 세트를 행한다.FIG. 3 is a diagram showing a test procedure in the embodiment, FIG. 4 is a diagram conceptually showing the flow of parameters, signals, and data during testing, and illustrates the procedure and operation of the test based on the drawing. First, the measurement control device 2 is brought online to enable communication with the personal computer 3, and in the personal computer 3, the tester selects a desired condition file from the condition file group. Next, the parameter of the record corresponding to the test piece to be tested in the selected condition file is transmitted to the measurement control device 2. As a result, the parameters transmitted by the measurement control device 2 are stored in the EEPROM 23 and displayed on the display 26. In the meantime, the tester performs zero adjustment of the instrument in the material tester 1 and the measurement control device 2 and a set of test pieces to the material tester 1.
다음에, 시험자가 퍼스널 컴퓨터(3)로 시험 스타트를 지시한다. 이것에 의해 퍼스널 컴퓨터(3)에서 계측제어장치(2)에 대하여 시험스타트신호가 출력되고, 계측제어장치(2)는 EEPROM(23)에 기억되어 있는 패러미터에 의거하여 재료시험기(1)를 구동제어한다. 그리고, 퍼스널 컴퓨터(3)에 의해, 계측제어장치(2)를 통해 전송되어 오는 계측데이터를 수집하고, 시험이 종료하면, 데이터의 수집을 종료하여 데이터를 해석한다. 또한, 데이터의 해석시에는 통계처리조건에 따른 통계처리등도 행한다. 시험의 대상으로 되는 시험조각 및 이것에 대응하는 레코드 데이터)이 있다면 상기 패러미터의 전송 이후의 순서를 반복한다.Next, the tester instructs the personal computer 3 to start the test. As a result, a test start signal is output from the personal computer 3 to the measurement control device 2, and the measurement control device 2 drives the material tester 1 based on the parameters stored in the EEPROM 23. To control. And the personal computer 3 collects the measurement data transmitted via the measurement control apparatus 2, and when a test is complete | finished, data collection is complete | finished and data is analyzed. At the time of data analysis, statistical processing according to statistical processing conditions is also performed. If there is a test piece to be tested and the record data corresponding thereto, the procedure after the transmission of the parameter is repeated.
이것에 의해, 소량 단위의 시험조각을 대상으로 하여 형상이나 특성이 다른 시험조각에 대하여 연속적으로 시험하는 경우라도, 시험조각에 대응하는 패러미터(레코드)를 선택하는 것만으로 다음 시험을 곧 바로 속행할 수 있다.As a result, even in the case of continuously testing a test piece having a small amount of test pieces with different shapes or characteristics, the next test can be immediately performed simply by selecting a parameter (record) corresponding to the test piece. Can be.
이와 같이, 조건파일의 구조를 채용하는 것에 의해, 작업순서 즉, 일련의 시험에 따른 시험조건을 그대로 작성할 수 있고, 시험자는 조건파일을 선택하고, 시험조각에 대응하는 레코드 데이터의 패러미터를 선택하여 전송하는 것만으로 계측제어장치(2)의 제어동작을 설정할 수 있다. 따라서, 시험자에 의한 패러미터의 설정실수 등도 없게 되고 시험실시작업을 정확하게 행할 수 있다. 또한, 간단한 조작으로 시험을 행할 수 있다.In this way, by adopting the structure of the condition file, the work order, that is, the test condition according to the series of tests can be created as it is, and the examiner selects the condition file and selects the parameter of the record data corresponding to the test piece. The control operation of the measurement control device 2 can be set only by transmitting. Therefore, there is no mistake in setting parameters, etc. by the tester, and the test execution work can be performed accurately. In addition, the test can be performed by a simple operation.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 재료시험기용 제어장치에 의하면, 재료시험기에서의 제어조건, 시험조각의 시험조각 조건 및 계측데이터의 데이터처리 조건에 따른 각 패러미터에 의거하여 재료시험기를 제어하는 계측제어장치와, 시험조각마다 상기 각 패러미터를 하나의 세트로 함과 동시에, 복수의 시험조각에 대응하는 복수 세트의 패러미터를 하나의 조건파일로 하여 복수의 상기 조건파일을 축적하고 있는 조건파일 축적수단과, 상기 조건파일 축적수단에 축적된 조건파일에서 임의의 조건파일을 지정하는 조건파일 지정수단을 구비하고, 상기 조건파일 지정수단으로 지정된 조건파일에서 시험대상의 시험조각에 대응하는 패러미터를 판독하여 상기 계측제어장치로 전송함으로써, 상기 계측제어장치의 패러미터를 시험조각에 따라서 순차적으로 설정하도록 했기 때문에, 조건파일중의 패러미터를 선택하는 것만으로 충분하기 때문에, 시험실시작업을 정확하게 행할 수 있음과 동시에, 간단한 조작으로 시험을 행할 수 있다.As described above, according to the control device for a material tester of the present invention, the measurement control for controlling the material tester based on each parameter according to the control condition in the material tester, the test piece condition of the test piece and the data processing condition of the measurement data. An apparatus and condition file accumulating means for accumulating a plurality of said condition files by making one set of said parameters for each test piece and a plurality of sets of parameters corresponding to a plurality of test pieces as one condition file; And condition file designation means for designating an arbitrary condition file in the condition file accumulated in the condition file accumulating means, and reading a parameter corresponding to a test piece of a test object from the condition file designated by the condition file designation means, By transmitting to the measurement control device, the parameters of the measurement control device are sequentially processed according to the test pieces. Since that is set to, since sufficient to select the parameter in the condition file, the test operation carried out at the same time and can be exactly performed, it is possible to test a simple operation.
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| KR19980079657A (en) | 1998-11-25 |
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