KR100256561B1 - 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보저장/확인 방법 - Google Patents

전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보저장/확인 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법에 관한 것으로, 프로세서에서 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하면, 장애 메시지를 정리한후, 불휘발성 램에 장애 내역을 수록하기 위해 먼저 장애 코드를 조회하고, 장애 코드가 정상이면, 장애 코드에 따른 장애 종류를 분석하여 장애 발생 카운트를 증가시키며, 장애 종류별 통계 데이터의 수록과 장애 발생 시간을 보관하기 위해 년/월/일/시/분/초/미리초까지 확인하여 수록하며 프로세서가 재시작했을 경우 최종 마지막으로 저장된 에러 내역이 장애를 발생시킨 원인으로 간주할 수 있도록 각종 모든 장애 메시지를 불휘발성 램에 라이트하므로 라이트된 장애 정보를 분석 및 프로세서의 운용 상황을 한눈에 확인하므로, 사후 처리 입장에서 좀더 신속하고 정확하게 조치할 수 있다는 효과가 있다.

Description

전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법
본 발명은 전전자 교환기(Full Electronic Telephone eXchange)에 관한 것으로, 특히 프로세서(Processor)에서 장애(Fault)가 발생하면, 불휘발성(Nonvolatile) 램(Random Access Memory : 이하, RAM이라 약칭함)을 이용하여 프로세서의 장애 정보를 저장하고, 저장된 장애 정보를 확인하여 신속하게 복구 조치할 수 있도록 한 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 전전자 교환기는 모든 상/하위 프로세서와 물리 계층이 기본적으로 셋-업(Set-Up)이 완료되고, 운용 시스템이 시작되어 오랜 시간동안 특별한 장애가 발생되지 않고 운용이 되어야 하며 간혹 상/하위 프로세서의 불량에 의한 수리가 이루어 짐에 따라 장시간 동안 운용되어야 할 분산 시스템의 경우 각종 장애 및 장애 내역이 발생할때마다 불 휘발성 메모리에 저장된 장애 내역 통계 데이터 및 중요 정보를 신속히 확인하여 정확한 조치를 하고자 한다.
종래 전전자 교환기에서 내부 프로세서들의 장애 발생시 맨 머신 통신(Man ＆ Marchine Communication : 이하, MMC라 약칭함) 포트(Port)에 관련된 메시지를 출력시키면, 운용자에 의해서 조치가 이루어 지도록 기본 기능이 구현된다.
그러나, 특정 장애가 발생되어 조치를 하고자 할 경우 프로세서 마다의 모든 장애 내역 정보가 관리되어 있지 않고 관리하기가 어려우므로, 프로세서 장애에 대한 조치가 지연되거나, 정확한 조치가 되지 못하는 경우가 많으며, 또한 이전의 운용 상태를 확인하기 위해서 MMC 포트로 출력시킨 출력물을 모두 확인해야 하는 문제점이 있었다.
본 발명은 이러한 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 그 목적은 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용하여 내부 하드웨어적인 각종 장애 및 장애 정보의 이력을 계속해서 보관하므로, 온라인(Online) 상황에서 각종 하드웨어 및 소프트웨어에 대한 장애가 발생되어 하드웨어 및 소프트웨어적인 조치를 하려고 할 경우 불휘발성 램에 보관된 각종 장애 정보를 분석하여 신속하게 해결할 수 있도록 한 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법을 제공하는데 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법에 관한 것으로, 프로세서에서 정보 처리중 각종 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하는 단계와; 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하면, 장애 발생 시간과 장애 발생 위치에 대한 장애 메시지를 정리하는 단계와; 장애 메시지가 정리되면, 정리된 장애 메시지를 라이트 하는데, 불휘발성 램에 장애 내역을 수록하기 위해 먼저 장애 코드를 조회하는 단계와; 장애 코드를 조회한후, 장애 코드가 정상인가를 판단하는 단계와; 장애 코드가 정상이 아니면, 에러 출력을 하고 끝내는 단계와; 장애 코드가 정상이면, 장애 코드에 따른 장애 종류를 분석하는 단계와; 장애 코드에 따른 장애 종류가 분석된후, 장애 코드의 장애 발생 카운트를 증가하는 단계와; 장애 종류별 통계 데이터를 수록 및 각 장애별 중요 데이터와, 장애 발생 시간을 보관하기 위해 년/월/일/시/분/초/미리초까지 확인하여 수록하고, 프로세서가 재시작했을 경우 최종 마지막으로 저장된 에러 내역이 장애를 발생시킨 원인으로 간주할 수 있도록 각종 모든 장애 메시지를 불휘발성 램에 라이트하는 단계와; 불휘발성 램에 장애별 중요 데이터가 라이트된후, 임시 버퍼에는 디테일한 장애 정보 내용을 불휘발성 메모리의 장애 이력 관리 영역으로 저장하는 단계를 포함한다.
도 1은 본 발명에 의한 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법의 블록 구성도,
도 2는 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 보관하기 위한 처리 흐름도,
도 3은 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 불휘발성 램에 저장하는 흐름도,
도 4는 전전자 교환기에서 내부 프로세서의 다운시 재 시작했을 경우에 대한 흐름도,
도 5는 도 3에 도시된 불휘발성 램에 저장된 각종 장애 내역을 확인하는 흐름도.
〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉
10 : 프로세서간의 통신망 20 : 유지보수 프로세서
30 : MMC 40 : DKU
50 : MTU 60 : CTU
70 : RDKU
이하, 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 본 발명의 실시예로부터 본발명의 목적 및 특징이 보다 명확하게 이해될 수 있도록 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 의한 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법의 블록 구성도로서, 프로세서간의 통신망(10)과, 유지 보수 프로세서(20)와, MMC(30)와, 하드 디스크(Disk Unit : 이하, DKU라 약칭함)(40)와, 마그네틱 테이프(Magnetic Tape Unit : 이하, MTU라 약칭함)(50)와, 카드리지 테이프(Cartridge Tape Unit : 이하, CTU라 약칭함)(60)와, 리무블 디스크(Removable Disk Unit : 이하, RDKU라 약칭함)(70)로 구성된다.
프로세서간의 통신망(10)은 내부적으로 프로세서간 통신 패브릭을 중심으로 메인 프로세서와 하위 프로세서가 케이블(Cable)로 연결되어 있고, 하위 프로세서 밑으로 트리구조를 갖는 각종 디바이스(Device)를 포함하며, 유지 보수 프로세서(20)와 양방향으로 각종 정보를 통신한다.
유지 보수 프로세서(20)는 프로세서간의 각종 통신망(10)과 양방향으로 연결되어 각종 정보를 통신하며, 각종 정보를 처리하는 도중에 장애가 발생하면, 장애 정보를 신속하게 MMC 포트로 메시지를 출력하여 운용자가 조치할 수 있도록 기본 환경을 제공하는 프로세서이다.
또한, 유지 보수 프로세서(20)는 MMC(30)와 인터페이스되어 있고, DKU(40)와, MTU(50)와, CTU(60)와, RDKU(70)와도 양방향으로 인터페이스되어 프로세서 처리를 한다.
상술한 바와 같이 전전자 교환기 시스템의 구성도로서, 프로세서간의 통신망(10)을 중심으로 모든 프로세서들은 기본적으로 보드 내부의 불휘발성 램이 탑재되어 운용되고 있는 상태에서 양방향 통신이 이루어지는 것이다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 의한 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법의 블록 구성도에 대하여 설명하였고, 도 2는 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 보관하기 위한 전체적인 처리 흐름도를 설명한다.
프로세서간의 통신망(10) 내부적으로 정보 처리를 하는중 각종 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생(단계 200)하였다는 가정하에 설명한다.
하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하면, 장애 내역(장애 발생 시간과 장애 발생 위치(주변 보드, 특정 하드웨어 모듈))에 대한 장애 메시지를 정리한다(단계 201).
장애 메시지를 정리하고, 정리된 장애 메시지를 불휘발성 램(임시 버퍼)에 라이트(Write)한다(단계 202).
또한, 장애 발생 시간을 보관하기 위해 년/월/일/시/분/초/미리초까지 확인하여 수록하고, 프로세서가 재시작했을 경우 최종 마지막으로 저장된 에러 내역이 장애를 심각하게 발생시킨 원인으로 간주하도록 각종 모든 장애 메시지를 정리하여 불휘발성 램에 라이트 한다.
상기와 같이 구성된 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 보관하기 위한 전체적인 처리 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 3은 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 불휘발성 램에 저장하는 세부적인 흐름도를 설명한다.
불휘발성 램에 장애 내역을 수록하기 위해 먼저 장애 코드를 조회한다(단계 300).
장애 코드를 조회한후, 장애 코드가 정상인가를 판단한다(단계 301).
상기 판단(단계 301)에서 장애 코드가 정상이 아니면, 에러 출력을 하고 멈춘다(단계 302).
상기 판단(단계 302)에서 장애 코드가 정상이면, 장애 코드에 따른 장애 종류를 분석한다(단계 303).
장애 코드에 따른 장애 종류가 분석된후, 장애 코드의 장애 발생 카운트를 증가한다(단계 304).
장애 종류별 통계 데이터를 수록 및 각 장애별 중요 데이터를 불휘발성 램에 저장한다(단계 305).
불휘발성 램에 장애별 중요 데이터가 저장된후, 임시 버퍼에는 디테일(Detail)한 장애 내용을 저장한다(단계 306).
따라서, 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생하는 장애 내역을 불휘발성 램에 저장하게 된다.
상기와 같이 구성된 전전자 교환기의 내부 프로세서에서 발생되는 각종 장애 내역을 불휘발성 램에 저장하는 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 4는 전전자 교환기에서 내부 프로세서의 다운시 재 시작했을 경우에 대한 흐름도를 설명한다.
프로세서의 다운시 재시작을 했을 경우 운영 시스템이 진행하는 과정에서 재시작 카운터를 증가시킨다(단계 400).
기존에 저장해 놓았던 임시 버퍼의 내용을 저장용 버퍼로 이동한다(단계 401).
이렇게, 임시 버퍼에 저장되 있던 장애 내용은 프로세서가 다운되기 직전에 발생한 장애이므로, 저장용 버퍼에 저장된 내용과 장애 정보를 조합하여 확인하면 문제점 조치시 정확한 조치가 이루어지게 되는 것이다(단계 402).
상기와 같이 구성된 전전자 교환기에서 내부 프로세서의 다운시 재 시작했을 경우에 대한 흐름도에 대하여 설명하였고, 도 5는 도 3에 도시된 불휘발성 램에 저장된 각종 장애 내역을 확인하는 흐름도를 설명한다.
불휘발성 램에 저장된 각종 장애 내역을 확인하기 위하여 MMC(30)에서 프로세서별 장애 정보를 조회하고자 요구하면(단계 500), 조회의 내용을 파악한다.
프로세서가 현재 상태로 살아나기 전에 무슨일이 발생했었는지 장애 정보를 확인하기 위해서 재시작 횟수 및 장애 원인에 대한 조회인가를 판단한다(단계 501).
상기 판단(단계 501)에서 재시작 횟수 및 가장 최근 장애 원인에 대한 조회이고, 운용자로부터 요구가 들어오면, 불휘발성 램에 수록된 재시작 카운트 및 가장 최근에 수록된 메시지를 출력하고 끝낸다(단계 502).
한편, 가장 최근에 수록된 메시지를 확인하면, 이전에 무슨일이 발생하였고, 어떤 조치가 이루어져야 하는지를 판단할 수 있다.
상기 판단(단계 501)에서 재시작 횟수 및 장애 원인에 대한 조회가 아니면, 지금까지 저장된 장애 통계 정보에 대한 조회 요구가 입력되었는가를 판단한다(단계 503).
상기 판단(단계 503)에서 장애 통계 정보에 대한 조회가 들어오면, 불휘발성 램에 수록된 장애 통계 정보를 장애 코드별로 장애 발생 갯수 및 최근 10개까지의 중요 정보를 출력시켜 줌으로서 누적된 장애 코드를 이용하여 프로세서가 안정적인지 확인이 가능하고, 카운트가 "1" 이상인 정보를 출력하고 끝낸다(단계 504).
상기 판단(단계 503)에서 장애 정보에 대한 조회가 아니면, 지금까지 저장된 모든 장애 메시지인가를 판단한다(단계 505).
상기 판단(단계 505)에서 지금까지 저장된 장애 메시지에 대한 출력이면, 불휘발성 램에 저장된 모든 정보에 대하여 출력 및 원인을 파악하고 끝낸다(단계 506).
상기 판단(단계 505)에서 최근에 저장된 장애 메시지에 대한 출력이 아니면, 끝낸다.
결론적으로, 상기 프로세서별 장애 통계 정보에 대한 조회 요구와, 재시작 횟수 및 원인 조회를 서로 연관해서 파악하면, 효율적으로 장애 정보를 해결할 수 있다.
이상, 상기와 같이 설명한 본 발명은 전전자 교환기에서 프로세서 장애시 불휘발성 램에 장애 정보를 저장하며, 저장된 장애 정보를 분석 및 프로세서의 운용 상황을 한눈에 확인하므로, 사후 처리 입장에서 좀더 신속하고 정확하게 조치하 수 있다는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법에 있어서,
    상기 프로세서에서 정보 처리중 각종 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하는 단계;
    상기 하드웨어와 소프트웨어적인 장애가 발생하면, 장애 발생 시간과 장애 발생 위치에 대한 장애 메시지를 정리하는 단계;
    상기 장애 메시지가 정리되면, 정리된 장애 메시지를 라이트 하는데, 불휘발성 램에 장애 내역을 수록하기 위해 먼저 장애 코드를 조회하는 단계;
    상기 장애 코드를 조회한후, 상기 장애 코드가 정상인가를 판단하는 단계;
    상기 장애 코드가 정상이 아니면, 에러 출력을 하고 끝내는 단계;
    상기 장애 코드가 정상이면, 장애 코드에 따른 장애 종류를 분석하는 단계;
    상기 장애 코드에 따른 장애 종류가 분석된후, 상기 장애 코드의 장애 발생 카운트를 증가하는 단계;
    상기 장애 종류별 통계 데이터의 수록과 상기 장애 발생 시간을 보관하기 위해 년/월/일/시/분/초/미리초까지 확인하여 수록하고, 상기 프로세서가 재시작했을 경우 최종 마지막으로 저장된 에러 내역이 장애를 발생시킨 원인으로 간주할 수 있도록 각종 모든 장애 메시지를 불휘발성 램에 라이트하는 단계;
    상기 불휘발성 램에 장애별 중요 데이터가 라이트된후, 임시 버퍼에는 디테일한 장애 정보 내용을 별도의 저장 영역에 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 프로세서의 장애 정보는 :
    상기 프로세서의 장애 발생시 재시작 카운터를 증가시키고, 기존에 저장해 놓았던 임시 버퍼의 내용을 저장용 버퍼로 이동하므로, 상기 임시 버퍼에 저장되 있던 장애 내용은 프로세서가 다운되기 직전에 발생한 장애이기 때문에 저장용 버퍼에 저장된 내용과 장애 정보를 확인하면 정확한 조치가 이루어져 내부 프로세서의 쟁애 정보가 신속하게 재시작할 수 있는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 불휘발성 램에 저장된 각종 장애 내역 조회 방법은 :
    상기 불휘발성 램에 저장된 각종 장애 내역을 확인하기 위하여 상기 프로세서별 장애 정보를 요구에 의해 상기 프로세서의 재시작 횟수와 장애 원인에 대한 조회와, 지금까지 저장된 장애 통계 정보 조회와, 지금까지 저장된 장애 히스토리 저장 버퍼 조회를 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 프로세서의 재시작 횟수와 장애 원인에 대한 조회이면 :
    상기 불휘발성 램에 수록된 재시작 카운트와 제일 마지막에 수록된 메시지를 출력하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 지금까지 저장된 장애 통계 정보 조회이면 :
    상기 불휘발성 램에 수록된 장애 정보를 장애 코드별로 장애 발생 갯수에 대한 중요 정보를 출력시켜 줌으로서 누적된 장애 코드를 이용하여 상기 프로세서가 안정적인지 확인이 가능한 정보를 출력하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
  6. 제 3 항에 있어서,
    상기 지금까지 저장된 모든 장애 내역 조회이면 :
    상기 불휘발성 램에 저장된 모든 장애 내역 정보를 출력하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기의 불휘발성 램을 이용한 프로세서 장애 정보 저장/확인 방법.
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