KR100233661B1

KR100233661B1 - Micro defect compensating circuit in a disc driver

Info

Publication number: KR100233661B1
Application number: KR1019950026957A
Authority: KR
Inventors: 노윤종
Original assignee: 윤종용; 삼성전자주식회사
Priority date: 1995-08-28
Filing date: 1995-08-28
Publication date: 1999-12-01
Also published as: KR970012609A

Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명에 속한 기술분야1. TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION

디스크 드라이브에 있어서 마이크로 결함처리회로에 관함.Regarding micro fault handling circuit in disk drive.

2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제2. The technical problem to be solved by the invention

마이크로 손실을 좀더 효과적인 추정을 위해 비터비 디텍터에 의해 일련의 처리를 행하여 좀 더 향상된 에러율(Error Rate)를 줄일 수 있도록 하고자 하는 방법을 제공함.Provides a way to reduce the error rate further by performing a series of processing by the Viterbi detector to more effectively estimate the micro loss.

3. 발명의 해결 방법의 요지3. Summary of the Solution of the Invention

디스크 드라이브의 마이크로 결함처리 회로에 있어서, FIR필터(100)와, 상기 FIR필터(100)의 출력으로부터 마이크로 손실을 처리하는 마이크로 결함 처리부(200)와, 상기 결함처리부(200)의 출력으로부터 에러율을 검출하는 비터비 디텍터(300)로 구성됨을 특징으로 하는 디스크 드라이브에 있어서 마이크로 결함 처리회로.In the micro-defect processing circuit of the disk drive, the error rate is determined from the output of the FIR filter 100, the micro defect processing unit 200 that processes the micro loss from the output of the FIR filter 100, and the output of the defect processing unit 200. And a Viterbi detector (300) for detecting the micro-defect processing circuit.

4. 발명의 중요한 용도4. Important uses of the invention

디스크 드라이브의 마이크로 결함처리회로.Micro Fault Handling Circuit in Disk Drive.

Description

Micro Defect Handling Circuit in Disk Drives

제1도는 본 발명에 따른 블록도.1 is a block diagram according to the present invention.

제2도는 제1도의 마이크로 결함처리부(200)의 구체회로도.2 is a detailed circuit diagram of the micro defect processing unit 200 of FIG.

제3도는 정상일때의 입력파형과 FIR필터의 출력상태도.3 is a diagram showing the input waveform and the output state of the FIR filter when it is normal.

제4도는 마이크로 결함이 있을 때 입력파형과 FIR필터의 출력상태도.4 is a diagram showing an input waveform and an output state of an FIR filter when a micro defect is present.

제5도는 본 발명에 따른 결함밴드를 만들어 비터비 디렉터(300)의 에러확률을 낮춘 예시도.5 is an exemplary view of lowering the error probability of the Viterbi director 300 by making a defect band according to the present invention.

제6도는 본 발명에 따른 전체 입력파형과 결함처리부 출력 예시도.6 is a view illustrating the entire input waveform and output of a defect processing unit according to the present invention.

제7도는 종래의 회로도.7 is a conventional circuit diagram.

본 발명은 디스크 드라이브에 있어서 마이크로 결함처리회로에 관한 것이다.The present invention relates to a micro defect processing circuit in a disk drive.

일반적으로 오랫동안 피이크 디텍션(PD: Peak Defection)방식이 디스크 드라이브들의 리드/라이트의 주된 방식이었다. 상기 PD방식은 어느 정도의 선밀도(linear density)까지는 구현회로를 단순화시키는 등 여러장점(예, 빠른 리드백 신호의 처리)들로 인하여 디스크 드라이버들의 리드/라이트 채널에 애용되어 왔었다. 그러나 소비자의 고용량과 저가에 대한 욕구가 동일 크기의 드라이브에 대해 좀더 높은 기록밀도를 요구하게 됐다. 이에 기록 채널기술은 60년대말부터 디지털 통신에 유행했던 제7도와 같은 구성의 PRML 채널을 기록분야에 적용하기 시작했다.In general, Peak Defection (PD) has long been the main method of read / write of disk drives. The PD method has been favored for read / write channels of disk drivers due to several advantages (e.g., processing of fast readback signals) to a certain degree of linear density. But consumers' high capacity and low cost demands higher recording densities for drives of the same size. As a result, the recording channel technology has begun to apply the PRML channel of the configuration shown in FIG.

제7도에서 살펴보면, 먼저 전치증폭기(701)에서 헤드에 유기선 리드백신호를 증폭하고 저역통과필터(LPF)(702)에서 고주파 잡음을 제거한 후 디지털 FIR필터부(703)에서 너무 과도한 부스팅(boosting)에 S/N의 저하를 방지하는 적정선에서 선택토록하여 정교한 모양을 갖도록 한다.Referring to FIG. 7, first, the preamplifier 701 amplifies the organic wire readback signal to the head, removes the high frequency noise from the low pass filter (LPF) 702, and then excessively excessive boosting in the digital FIR filter unit 703. To have a precise shape by selecting from the appropriate line to prevent the degradation of S / N.

상기 디지털 FIR필터부(703)에서 이상적인 경우 제6도(6a)와 같이 직선이 되겠지만 헤드와 채널의 불안정으로 인하여 세직선의 주위에 폭이 좁은 밴드가 발생된다. 만약 디스크에 마이크로 결함이 발생되면(6b)와 같이 되어 비터비 디텍터(704)에서 잘못된 출력을 내보낼 확율이 높다.Ideally, the digital FIR filter 703 will be straight, as shown in FIG. 6A, but a narrow band is generated around the vertical lines due to instability of the head and channel. If a micro defect occurs in the disk (6b), then there is a high probability that the Viterbi detector 704 will output an incorrect output.

그러나 반도체 IC가 충분히 그 필요를 충족시키지 못하여 실제 제품이 나오지 못하다가 90년대 초부터 양산하는 회사가 등장하기 시작했다.However, since semiconductor ICs did not meet their needs sufficiently, actual products did not come out, and mass-producing companies began to appear in the early 90s.

PRML은 PD방식과는 다른 두가지 문제점을 가지고 있다. 첫째는 PR시그날링이 절연된 파형의 리니어 슈퍼 포지션(Linear Super positon)을 이용하기 때문에 비선형효과에 매우 민감하며, 둘째는 낮은 선형밀도를 갖는 PD방식에서는 대단치 않았던 마이크로 손실이 PRML에 있어서는 곧바로 에러로 연결될 수 있다는 것이다. 또한 상기 비터비 디텍터(704)는 노이즈(white Gausion)에 대해서는 최대 라이크후드(Likehood)라 할 수 있지만 손실의 확률적 추정에는 그리 큰 힘을 발휘하지 못하는 문제점이 있었다.PRML has two problems that differ from the PD method. Firstly, PR signaling is very sensitive to nonlinear effects because it uses linear superposition of isolated waveforms. Secondly, microloss, which was not significant in PDs with low linear density, is an error immediately in PRML. It can be connected to. In addition, the Viterbi detector 704 may be referred to as a maximum Likehood for white Gausion, but has a problem in that it does not exert a great force in stochastic estimation of loss.

따라서 본 발명의 목적은 상기 마이크로 손실의 좀 더 효과적인 추정을 위해 비터비 디텍터에 의해 일련의 처리를 행하여 좀더 향상된 에러율(Error Rate)를 줄일 수 있도록 하고자 하는 회로를 제공함에 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a circuit that can reduce the error rate further improved by performing a series of processing by a Viterbi detector for a more effective estimation of the micro loss.

본 발명의 다른 목적은 FIR필터와 비터비 디텍터 사이에 마이크로 결함 제거부를 두어 마이크로 결함으로 판단시 이를 처리한 후 비터비 디텍터 제공토록 하는 회로를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a circuit for providing a Viterbi detector after the micro-defect remover between the FIR filter and the Viterbi detector to determine the micro-defect.

이하 본 발명을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 발명에 따른 블록도로서,1 is a block diagram according to the present invention,

FIR필터(100)와,FIR filter 100,

상기 FIR필터(100)의 출력으로부터 마이크로 손실을 처리하는 마이크로 결함 처리부(200)와,A micro defect processing unit 200 for processing micro loss from the output of the FIR filter 100,

상기 결함처리부(200)의 출력으로부터 에러율을 검출하는 비터비 디렉터(300)로 구성된다.The Viterbi director 300 detects an error rate from the output of the defect processing unit 200.

제2도는 제1도의 마이크로 결함 처리부(200)의 구체회로도로서,2 is a detailed circuit diagram of the micro defect processing unit 200 of FIG.

상기 FIR필터(100)의 출력으로부터 결함대역을 판단하는 결함대역 판단부(201)와,A defect band determination unit 201 for determining a defect band from an output of the FIR filter 100;

상기 결함대역판단부(201)에서 마이크로 결함이라고 판정되었을 때 카운트하는 결함대역 카운터(202)와,A defect band counter 202 which counts when it is determined that the defect band determining unit 201 is a micro defect,

상기 결함대역 카운터(202)의 출력으로부터 정상일 때 3레벨의 일정대역내에서 통과되도록 하고 마이크로 결함이 있을시 일정대역에 속하지 못하고 -1에서 +1까지 연결되는 상,하위 결함대역처리부(203)와,The upper and lower defect band processing unit 203 connected to -1 to +1 and not belonging to a certain band when the micro defect is present, and passes through a predetermined band of three levels when the output from the defect band counter 202 is normal. ,

상기 상,하위 결함대역처리부(203)이 출력으로부터 에러확률을 구하는 비터비 디텍터(300)로 구성된다.The upper and lower defect band processing unit 203 includes a Viterbi detector 300 for obtaining an error probability from an output.

제3도는 본 발명에 따른 제2도의 정상일때의 예이고,3 is an example of the normality of FIG. 2 according to the present invention,

제4도는 본 발명에 따른 제2도의 마이크로 손실이 있을 때 리드백과 FIR필터의 출력을 도시한 예이다.4 is an example showing the output of the readback and FIR filter when there is the microloss of FIG. 2 according to the present invention.

제5도는 본 발명에 따른 비터비 디텍터(300)에서 결함 밴드를 만들어 에러 확률을 낮추고자 한 예를 도시한 것이다.5 illustrates an example of reducing a probability of error by making a defect band in the Viterbi detector 300 according to the present invention.

제6도는 본 발명에 따른 입력파형과 결함 처리부를 거친 출력예를 도시한 것이다.6 shows an example output through the input waveform and the defect processing unit according to the present invention.

따라서 본 발명의 구체적 일실시예를 제1도-제6도를 참조하여 상세히 설명하면,Therefore, a specific embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 6.

본 발명은 제1도와 같이 FIR필터(703)와 비터비 디텍터(704)사이에 마이크로 결함 처리부(200)를 두어 마이크로 결함이라고 판단되면 이를 처리하여 비터비 입력하는 디텍터(300)로 방법을 사용하여 에러를 줄일 수 있도록 함에 있다.According to the present invention, when the micro defect processing unit 200 is disposed between the FIR filter 703 and the Viterbi detector 704 and determined to be a micro defect, the present invention uses the method as a detector 300 for inputting the Viterbi. To reduce errors.

즉, 제1도의 마이크로 결함처리부(200)의 결함 대역판단부(201)에서 마이크로 결함을 판단하여 결함대역카운터(202)에서 카운트한다. 여기서 정상일 때 제3도의 예이고, 마이크로 결함이 있을시 제4도의 예로 리드백과 FIR필터(100)의 출력을 나타낼 수 있다. 즉, 제3,4도의 도시와 같이 마이크로 결함이 있을시 제4도와 같이 샘플값이 3레벨의 일정한 대역내에 속하지 못하고 +1에서 -1까지 연결되어지는 것처럼 보인다. 이것은 결국 비터비 디텍터(300)의 에러확률을 높여주는 결과가 된다.That is, the micro band is determined by the defect band determining unit 201 of the micro defect processing unit 200 of FIG. 1 and counted by the defect band counter 202. Here, it is an example of FIG. 3 when it is normal, and an example of FIG. 4 when the micro defect is present may represent the readback and the output of the FIR filter 100. In other words, when there are micro defects as shown in FIGS. 3 and 4, the sample values do not fall within a certain band of three levels as shown in FIG. 4 and appear to be connected from +1 to -1. This results in an increase in the error probability of the Viterbi detector 300.

그리고 정상적일 때 FIR필터(100)의 출력은 3레벨 대역에 포함된다고 가정하면 FIR(100)의 출력은 마이크로 결함 판단부(201)에서 마이크로 결함이 아니라고 결정되기 때문에 아무런 영향도 받지 않고 비터비 디텍터(300)의 입력으로 들어간다. 마이크로 결함이 있을때에는 마이크로 판단부(201)에서 마이크로 결함이라고 판단되고(즉, 결함대역에 속하는 것이 2개이상시) 상위 결함대역의 샘플값은 레벨 “+1”로 바뀌어서 출력되고 하위 결함대역의 샘플값은 레벨 “-1”로 바뀌어서 출력된다.In addition, if it is assumed that the output of the FIR filter 100 is included in the three-level band when it is normal, the output of the FIR 100 is not affected by the micro defect determination unit 201, and thus is not affected by the Viterbi detector. Enter the input of 300. When there is a micro defect, the micro determination unit 201 determines that the micro defect is present (that is, when two or more belong to the defect band), and the sample value of the upper defect band is changed to level "+1" and outputted. The sample value is output at the level "-1".

상술한 바와 같이 확률적으로 보면 결함은 하이-증폭을 로우=증폭으로 되는 결함이 있으므로 마이크로 결함처리부(200)를 FIR(100)와 비터비 디텍터(300) 사이에 삽입하여 마이크로 결함에 따른 에러를 줄일 수 있는 이점이 있다.As described above, since the defect has a defect in which the high-amplification is low = amplification, the micro-defect processing unit 200 is inserted between the FIR 100 and the Viterbi detector 300 to detect an error due to the micro-defect. There is an advantage to reduce.

Claims

In the micro-defect processing circuit of the disk drive, the error rate is determined from the output of the FIR filter 100, the micro defect processing unit 200 that processes the micro loss from the output of the FIR filter 100, and the output of the defect processing unit 200. And a Viterbi detector (300) for detecting the micro-defect processing circuit.

2. The defect band determining unit 201 for determining a defect band from the output of the FIR filter 100 and the defect band determining unit 201 have determined that the micro defect processing unit 200 is a micro defect. Defect band counter 202 to count when, and from the output of the defect band counter 202 to pass in a certain band of three levels when normal, and connect from -1 to +1 so as not to belong to a certain band when there is a micro defect And a Viterbi detector (300) for calculating an error probability from an output of the upper and lower defect band processing units (203).