KR100215968B1 - Subscriber-line test panel structure of full-electronic telephone exchange - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전전자교환기에 할당된 가입자라인의 테스트를 위해 단일의 테스트패널을 구비하고, 테스트케이블을 통한 다수의 가입자채널과 단일의 테스트패널과의 통합적인 채널연결에 의해 가입자라인에 대한 용이한 테스트점검이 가능하도록 하는 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조를 제공한다.The present invention includes a single test panel for testing a subscriber line assigned to an all-electronic exchange, and facilitates the subscriber line by integrating a channel connection with a single test panel and a plurality of subscriber channels through a test cable. It provides subscriber line test panel structure of all electronic switchboard to enable test inspection.
그에 따라 본 발명은 복수의 가입자라인에 대한 채널과 복수의 채널별로 각각 통합적으로 연결된 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)와, 상기 복수의 가입자채널에 대해 통합적으로 연결된 가입자 채널컨넥터의 Tip,Ring단자에 따른 컨넥터핀수에 대응하는 복수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)을 갖추고, 그 복수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)과 통합적으로 연결된 테스트컨넥터(18)를 갖춘 테스트패널(100) 및, 일단의 제 1케이블컨넥터(20)가 상기 테스트패널(100)의 테스트컨넥터(18)에 접속되고서, 다른단의 제 2케이블컨넥터(22)가 상기 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)에 선택적으로 접속되는 테스트케이블(200)을 구비하여 구성된 것을 특징으로 한다.Accordingly, the present invention provides a plurality of upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn, which are connected to each channel and a plurality of channels, respectively, and are connected to the plurality of subscriber channels. A plurality of test channels (2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16) corresponding to the number of connector pins according to the Tip and Ring terminals of the subscriber channel connector are provided, and the plurality of test channels (2, 4, 6) A test panel 100 having a test connector 18 integrally connected to the terminals 8, 10, 12, 14, and 16, and one end of the first cable connector 20 are connected to the test connector 18 of the test panel 100. And a test cable 200 connected to the second cable connector 22 of the other end selectively connected to the plurality of upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn. It features.
Description
본 발명은 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전전자교환기에 할당된 다수의 가입자에 대한 가입자라인의 테스트점검을 단일의 테스트패널을 이용하여 용이하게 행할 수 있도록 하는 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조에 관한 것이다.The present invention relates to a subscriber line test panel structure of an electronic switchgear, and more particularly, to easily test a subscriber line of a plurality of subscribers assigned to the electronic switchgear using a single test panel. The present invention relates to a subscriber line test panel structure of an electronic switching system.
주지된 바와 같이, 정보통신 분야의 근간이라 할수 있는 공중전화망 상에서 디지털교환기능과 분산제어구조를 갖는 호교환기능을 충족시키기 위한 일환으로서 전자교환기가 개발되어 채용되고 있는 바, 이러한 전자교환기에 따르면 전전자교환기로서 TDX계열의 TDX-1교환기가 개발된 상태에서 최근에는 보다 다양한 통신망의 특성을 고려하면서 대용량의 서비스가입자를 수용할 수 있는 TDX-10교환기가 개발되어 이용되고 있다.As is well known, an electronic exchange has been developed and adopted as a part of meeting the call exchange function having a digital switching function and a distributed control structure on a public telephone network, which is the basis of the information and communication field. As the TDX-based TDX-1 exchanger has been developed as an electronic exchanger, a TDX-10 exchanger capable of accommodating a large number of service subscribers has been developed and used in consideration of the characteristics of various communication networks.
이러한 전전자교환기(예컨대 TDX-10교환기)에 따르면, 최대 100,000라인의 가입자와 60,000트렁크(Trunk)의 디지털 중계선의 용량을 수용할 수 있고, 26,000어랑(Erlang)의 트래픽처리용량을 갖추고 있으며, 1,200,000BHCA(Busy Hour Call Attemps)의 호 처리용량을 갖추고 있을 뿐만 아니라, T-S-T방식의 스위치네트워크 구조를 갖고서 8,192회선의 타임스위치(Time-Switch)와 63×63의 매트릭스 형태로 이루어진 공간스위치(Space-Switch)를 갖춘 그룹스위치구조를 보유하고 있다.According to these electronic switchboards (such as TDX-10 switches), it can accommodate up to 100,000 subscribers and 60,000 trunks of digital trunk lines, and has 26,000 Erlang traffic handling capacity, 1,200,000. It not only has BHCA (Busy Hour Call Attemps) call processing capacity but also has a TST-type switch network structure, which has 8,192 time-switch and 63 × 63 matrix-type space-switch. It has a group switch structure with).
또한, 이러한 전전자교환기에서는 일반적인 전화기의 음성교환 서비스뿐만 아니라, 화상 등과 같은 비음성교환 서비스도 더불어 제공가능하고, 최대 6인까지의 가입자가 동시에 통화할 수 있는 회의(6인)통화기능과, 운용자가 기능등록과 착신번호를 입력하게 되면 가입자의 후크-오프(Hook-Off)시에 등록되어 있는 착신번호로 호를 자동적으로 발신시키는 즉시 직통통화기능, 가입자가 소정의 호에 대해 통화중 대기기능을 수행하지 못하도록 교환기로 통보하여 서비스를 거부할 수 있도록 하는 통화중 대기거부기능 등과 같은 다양한 적용범위를 갖고 있다.In addition, such an electronic switchboard can provide not only the voice exchange service of a general telephone but also a non-voice exchange service such as a video, and a conference (6 person) call function for up to 6 subscribers to talk simultaneously. When the operator inputs the function registration and the called number, the direct call function automatically sends a call to the called number registered at the time of the subscriber's hook-off, and the subscriber waits for the call. It has a wide range of applications, such as a call waiting deny function, which informs the exchange not to perform a function and thus denies service.
한편, 이러한 전전자교환기에서는 그에 대해 가입되어 할당된 다수의 가입자에 대한 가입자라인을 통해 여러 가지 다양한 기능테스트를 행하게 되는 바, 예컨대 특수서비스 호처리와 운용시험, 아날로그가입자의 시험, 중계호 기능시험 및, 가입시험 등이 있다.On the other hand, in the electronic switchboard, various functional tests are performed through subscriber lines for a plurality of subscribers assigned to it, for example, special service call processing and operation test, analog subscriber test, and relay call function test. And subscription tests.
즉, 전전자교환기의 다수의 가입자라인에 대해 기능테스트를 행하기 위해, 가입자와 교환기간의 호연결을 절단하고 가입자선로에 전화기 등과 같은 시험장비를 연결하여 Tip선과 Ring선으로 구분하여 Tip-Ring선간이나, Tip-Ground선간 및, Ring-Ground선간의 직류전압과, 교류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등과 같은 테스트항목에 대한 테스트를 행하거나 오프훅검출 등의 테스트를 행하여 가입자선로에 대한 정상서비스 여부를 체크할 수 있도록 하고 있다.In other words, in order to perform a functional test on a large number of subscriber lines of an electronic switchgear, the call connection between the subscriber and the exchange period is cut off, and test equipment such as a telephone is connected to the subscriber line and divided into tip and ring lines. DC line voltage between line, Tip-Ground line and Ring-Ground line, test items such as AC voltage, loop resistance, insulation resistance, capacitance, etc. It is possible to check the normal service status.
여기서, 이러한 가입자라인의 테스트에 있어서는 전전자교환기의 백보드에 설치된 가입자블럭에서 각 가입자라인에 대한 Tip,Ring단자에 테스트용 전화기를 직접 연결하여 오프훅검출 등과 같은 테스트를 행하게 되는데, 테스트용 전화기를 각 가입자라인의 개별채널에 구비된 Tip,Ring단자에 각각 연결하는 상태에서는 부주의하게 비정상적으로 접속되는 경우에 발생되는 시험검증시의 불안정성과, 합선으로 인한 통화불능 등이 유발될 가능성이 상존하게 되고, 이러한 각 채널별 Tip,Ring단자에 테스트용 전화기를 정확히 연결하기 위해 세심한 주의를 기울여야 함에 따른 장시간의 테스트시간이 소요된다는 문제점이 있었다.Here, in the test of the subscriber line, the test phone is directly connected to the tip and ring terminals for each subscriber line in the subscriber block installed on the back board of the electronic switchboard, and the off-hook detection is performed. In the state of connecting to the Tip and Ring terminals provided to individual channels of each subscriber line, there is a possibility of instability during test verification caused by inadvertently connected abnormally and the inability to call due to short circuits. However, there was a problem that it takes a long test time due to careful attention to accurately connect the test phone to the tip and ring terminals of each channel.
따라서, 이러한 문제점을 해결하기 위해 최근에는 전전자교환기의 백보드에 설치된 가입자블럭의 각 채널별 Tip,Ring단자에 일정길이의 신호선을 매개로 복수의 채널별 컨넥터가 갖추도록 하고, 그 신호선이 일정길이의 케이블내부를 통하도록 하는 가입자라인의 시험패널이 제안되어 있다.Therefore, in order to solve such a problem, recently, a plurality of channel-specific connectors have to be provided on the tip and ring terminals of each channel of the subscriber block installed on the back board of the electronic switchboard through a certain length of signal lines, and the signal lines have a certain length. A test panel of subscriber lines is proposed which allows the inside of the cable to pass through.
그러나, 이러한 가입자라인의 시험패널의 경우에는 각 채널별 Tip,Ring단자와 연결되는 복수의 채널별 컨넥터가 설치되어 테스트용 전화기의 컨넥터를 원하는 가입자라인의 채널에 대응하는 컨넥터의 핀과 연결할 수 있도록 하여 라인의 오접속이나 장시간의 테스트시간을 절감시키도록 하고 있지만, 각각의 가입자라인의 채널을 통합하여 연결하는 컨넥터가 복수개로 구비되기 때문에, 그 복수개의 채널별 컨넥터에 설치된 컨넥터핀을 일일이 확인하여 테스트용 전화기와 정확하게 연결시키도록 하여야 함에 따라, 다소의 시간소요와 오접속의 문제점에 대한 해결이 여전히 이루어지지 않고 있는 실정이다.However, in the case of the test panel of such a subscriber line, a plurality of channel-specific connectors are installed to connect the tip and ring terminals of each channel so that the connector of the test phone can be connected to the pins of the connector corresponding to the channel of the desired subscriber line. In order to reduce misconnection of a line and test time for a long time, but there are a plurality of connectors that integrate and connect channels of each subscriber line, so check the connector pins installed in the connectors for each channel individually. As it should be correctly connected to the test phone, there is still no solution to the problem of time-consuming and incorrect connection.
따라서, 본 발명은 상기한 사정을 감안하여 이루어진 것으로, 전전자교환기에 할당된 가입자라인의 테스트를 위해 단일의 테스트패널을 구비하고, 테스트케이블을 통한 다수의 가입자채널과 단일의 테스트패널과의 통합적인 채널연결에 의해 가입자라인에 대해 용이한 테스트점검이 가능하도록 하는 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조를 제공하는데 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above circumstances, and includes a single test panel for testing a subscriber line assigned to an all-electronic exchange, and integrates a plurality of subscriber channels and a single test panel through a test cable. It is an object of the present invention to provide a subscriber line test panel structure of an all-exchange electronic exchange that enables easy test checks on subscriber lines by connecting channels.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조에 의하면, 복수의 가입자라인에 대한 채널과 복수의 채널별로 각각 통합적으로 연결된 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터와, 상기 복수의 가입자채널에 대해 통합적으로 연결된 가입자 채널컨넥터의 Tip,Ring단자에 따른 컨넥터핀수에 대응하는 복수의 테스트채널을 갖추고, 그 복수의 테스트채널과 통합적으로 연결된 테스트컨넥터를 갖춘 테스트패널 및, 일단의 제 1케이블컨넥터가 상기 테스트패널의 테스트컨넥터에 접속되고서, 다른단의 제 2케이블컨넥터가 상기 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터에 선택적으로 접속되는 테스트케이블을 구비하여 구성된 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조를 제공한다.In order to achieve the above object, according to the subscriber line test panel structure of the electronic switch according to the present invention, a plurality of upper / lower subscriber channel connectors integrally connected to channels for a plurality of subscriber lines and a plurality of channels, respectively, A test panel having a plurality of test channels corresponding to the number of tip pins and ring pins of the subscriber channel connector integrated with a plurality of subscriber channels and a test connector integrated with the plurality of test channels. Subscriber line of an all-electronics exchanger comprising a test cable having a first cable connector connected to a test connector of the test panel and a second cable connector at the other end selectively connected to the plurality of upper / lower subscriber channel connectors. Provide a test panel structure.
바람직하게, 상기한 본 발명에 따르면 상기 테스트케이블의 제 2케이블컨넥터에 접속되어 상기 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터와의 접속핀에 대한 인터페이스를 행하는 인터페이스 컨넥터를 더 포함하여 구성된다.Preferably, the present invention further comprises an interface connector connected to a second cable connector of the test cable to interface with a plurality of upper / lower subscriber channel connectors.
상기한 바와 같이 구성된 본 발명에 따르면, 전전자교환기의 백보드측에 설치되어 다수의 가입자라인에 대한 채널을 복수의 채널별로 통합하여 연결하는 다수의 가입자 채널컨넥터중에 소정의 가입자 채널컨넥터를 RS-232C와 같은 연결케이블에 구비된 일단의 케이블컨넥터에 의해 선택적으로 접속하고, 그 다른단의 케이블컨넥터를 각각의 가입자 채널컨넥터의 Tip,Ring단자에 따른 접속핀수와 대응하도록 다수의 테스트채널을 갖춘 단일의 테스트패널의 테스트컨넥터에 접속할 수 있도록 하여, 다수의 가입자 채널컨넥터에 대한 선택적인 접속을 통해 가입자라인의 용이한 테스트점검이 가능하도록 하고 있다.According to the present invention configured as described above, RS-232C is connected to a predetermined subscriber channel connector among a plurality of subscriber channel connectors installed on the backboard side of the electronic switchboard and integrating and connecting channels for a plurality of subscriber lines by a plurality of channels. Selectively connected by one cable connector provided in the connecting cable such as a single cable having a plurality of test channels so as to correspond to the number of connection pins according to the Tip and Ring terminals of each subscriber channel connector. By connecting to the test connector of the test panel, it is possible to easily test the subscriber line through the selective connection to a plurality of subscriber channel connectors.
도 1은 본 발명에 따른 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조를 나타낸 정면도,1 is a front view showing a subscriber line test panel structure of an electronic switch according to the present invention;
도 2는 도 1에 도시된 테스트패널의 측면구조를 나타낸 측면도,2 is a side view showing the side structure of the test panel shown in FIG.
도 3은 전전자교환기의 백보드측의 가입자블럭에 테스트케이블의 단자가 선택적으로 접속되는 상태를 나타낸 도면이다.3 is a diagram showing a state in which a terminal of a test cable is selectively connected to a subscriber block on the backboard side of an electronic switchboard.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
2,4,6,8,10,12,14,16:테스트채널,2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16: test channels,
18:테스트컨넥터, 20:제 1케이블컨넥터,18: test connector, 20: first cable connector,
20A:제 1케이블 접속핀, 22:제 2케이블컨넥터,20A: first cable connecting pin, 22: second cable connector,
22A:제 2케이블 접속핀, 24:인터페이스컨넥터,22A: Second cable connecting pin, 24: Interface connector,
24A:인터페이스컨넥터 접속핀, A1∼An:상위 가입자 채널컨넥터,24A: Interface connector connecting pin, A1 to An: Upper subscriber channel connector,
B1∼Bn:하위 가입자 채널컨넥터.B1-Bn: lower subscriber channel connector.
이하, 상기한 바와 같이 구성된 본 발명에 대해 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention configured as described above will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
즉, 도 1은 본 발명에 따른 전전자교환기의 가입자라인 테스트패널구조를 나타낸 정면도로서, 동 도면에 따르면 별도로 구비된 단일의 테스트패널(100)에 후술하는 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)에 구비된 접속핀수(즉, 가입자라인의 복수의 Tip,Ring단자에 따른 채널의 수)에 대응하는 개수(즉, 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)가 각각 16핀(8개의 Tip단자와 8개의 Ring단자)인 경우에 8개)를 갖는 다수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)이 설치된다.That is, FIG. 1 is a front view showing a subscriber line test panel structure of an electronic switch according to the present invention. According to the same drawing, a plurality of upper / lower subscriber channel connectors (A1) described later on a single test panel 100 provided separately. The number corresponding to the number of connection pins (i.e., the number of channels according to a plurality of Tip and Ring terminals of the subscriber line) provided to the An, B1 to Bn (i.e., upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to A plurality of test channels (2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16) having 16 pins (8 in the case of 8 Tip terminals and 8 Ring terminals) are installed.
여기서, 상기 테스트패널(100)은 도 2에 도시된 바와 같이 그 측면 소정부위에 후술하는 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)에 설치되는 접속핀수와 대응하는 접속핀수를 갖는 수컨넥터(Male Connector)로 이루어진 단일의 테스트컨넥터(18)가 설치되고, 그 단일의 테스트컨넥터(18)의 접속핀(즉, Tip단자와 Ring단자)이 상기 다수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)의 Tip,Ring단자에 각각 대응되게 개별적으로 접속된다.Here, the test panel 100 has a number of connection pins corresponding to the number of connection pins provided in the upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn described later on a predetermined portion of the side as shown in FIG. 2. A single test connector 18 made of a male connector is installed, and a connecting pin (ie, a tip terminal and a ring terminal) of the single test connector 18 is connected to the plurality of test channels (2, 4, 6,8,10,12,14,16) are connected individually to the Tip and Ring terminals respectively.
또한, 도 2에 따르면 RS-232C케이블로 이루어진 테스트케이블(200)에 구비되는 암컨넥터(Female Connector)로 이루어진 일단의 제 1케이블컨넥터(20)에 따른 제 1케이블접속핀(20A)이 상기 테스트패널(100)의 테스트컨넥터(18)에 구비된 접속핀과 대응하는 핀수를 갖고서 그 테스트컨넥터(18)에 연결된다.In addition, according to FIG. 2, the first cable connection pin 20A according to one end of the first cable connector 20 made of a female connector provided in the test cable 200 made of the RS-232C cable is tested. The number of pins corresponding to the connection pins provided in the test connector 18 of the panel 100 is connected to the test connector 18.
도 3은 전전자교환기의 백보드측의 가입자블럭에 테스트케이블의 단자가 선택적으로 접속되는 상태를 나타낸 도면으로서, 동 도면에 따르면 전전자교환기의 백보드측에 설치되는 가입자블럭(300)에 다수의 가입자라인에 따른 각각의 채널이 예컨대 8채널단위로 통합적으로 연결된 Tip단자와 Ring단자를 갖는 다수의 상위 가입자 채널컨넥터(A1∼An)와 다수의 하위 가입자 채널컨넥터(B1∼Bn)가 설치된다.FIG. 3 is a view showing a state in which a terminal of a test cable is selectively connected to a subscriber block on the backboard side of an all-electronic exchange. According to the figure, a plurality of subscribers are provided on the subscriber block 300 installed on the backboard side of the all-electronic exchange. A plurality of upper subscriber channel connectors A1 to An and a plurality of lower subscriber channel connectors B1 to Bn, each having a tip terminal and a ring terminal, in which each channel along a line is integrally connected in units of eight channels, for example, are provided.
또한, 동 도면에 따르면 상기 테스트케이블(200)의 다른단에 구비되는 수컨넥터로 이루어진 제 2케이블컨넥터(22)의 제 2케이블접속핀(22A)이 인터페이스컨넥터(24)를 매개로 상기 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)에 선택적으로 연결될 수 있고, 상기 인터페이스컨넥터(24)는 그 후단이 상기 제 2케이블컨넥터(22)의 제 2케이블접속핀(22A)에 대응하는 접속핀수를 갖는 암컨넥터로 이루어지고 그 전단이 상기 각각의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)에 대응하는 핀위치를 갖는 인터페이스컨넥터(24A)를 갖추고 있다.In addition, according to the same figure, the second cable connecting pin 22A of the second cable connector 22 formed of the male connector provided at the other end of the test cable 200 is connected to the plurality of the connector 24 through the interface connector 24. It can be selectively connected to upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn, and the interface connector 24 has a rear end thereof connected to the second cable connecting pin 22A of the second cable connector 22. An interface connector 24A is formed of a female connector having a corresponding number of connecting pins and a front end thereof has pin positions corresponding to the respective upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn.
이어, 상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 동작에 대해 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.Next, the operation of the present invention made as described above will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
먼저, 운용자가 테스트패널(100)의 측면 소정부에 설치된 테스트컨넥터(18)에 테스트케이블(200)의 일단에 설치된 제 1케이블컨넥터(20)의 제 1케이블접속핀(20A)을 연결하고, 그 테스트케이블(200)의 다른단에 설치된 제 2케이블컨넥터(22)의 제 1케이블접속핀(22A)을 인터페이스컨넥터(24)의 인터페이스접속핀(24A)을 매개로 전전자교환기의 백보드에 설치된 가입자블럭(300)의 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)중에 예컨대 상위 가입자 채널컨넥터(A1)에 연결시키게 된다.First, the operator connects the first cable connecting pin 20A of the first cable connector 20 installed at one end of the test cable 200 to the test connector 18 installed at a predetermined side of the test panel 100, The first cable connecting pin 22A of the second cable connector 22 installed at the other end of the test cable 200 is installed on the back board of the electronic switchboard via the interface connecting pin 24A of the interface connector 24. Among the plurality of upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn of the subscriber block 300, for example, the subscriber block 300 is connected to the upper subscriber channel connector A1.
그 상태에서, 운용자에 의해 테스트패널(100)의 예컨대 8채널을 갖는 다수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)중에 예컨대 제 1테스트채널(2)에 테스트용 전화기의 Tip,Ring단자를 연결하게 되면, 상기 전전자교환기의 가입자블럭(300)에 설치된 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)중에 연결된 상위 가입자 채널컨넥터(A1)의 제 1가입자채널에 대한 오프훅검출 테스트나 Tip-Ring간의 직류전압, 교류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등과 같은 여러 가지 다양한 테스트점검이 가능하게 되고, 상기 다수의 테스트채널(2,4,6,8,10,12,14,16)중에 어느 테스트채널이라도 상기한 연결동작에 의해 그에 대응하는 가입자채널에 대한 테스트점검이 가능하게 된다.In this state, the operator tests, for example, the first test channel 2 among the plurality of test channels 2, 4, 6, 8, 10, 12, 14, 16 having 8 channels, for example, of the test panel 100. When the Tip and Ring terminals of the telephone for the telephone are connected, the upper subscriber channel connector A1 connected among the plurality of upper / lower subscriber channel connectors A1 to An and B1 to Bn installed in the subscriber block 300 of the electronic switchboard. Off-hook detection test of the first subscriber channel or various test checks such as DC voltage, AC voltage, loop resistance, insulation resistance, capacitance, etc. between tip-rings are possible, and the plurality of test channels (2, The test operation of any of the test channels 4, 6, 8, 10, 12, 14, and 16 can be performed by the connection operation described above.
또한, 상기 테스트케이블(200)의 제 2케이블컨넥터(22)가 인터페이스컨넥터(24)를 매개로 가입자블럭(300)에 구비된 다수의 상위/하위 가입자 채널컨넥터(A1∼An,B1∼Bn)중에 어느 가입자 채널컨넥터라도 선택적으로 연결하여 테스트점검이 가능하게 된다.In addition, a plurality of upper / lower subscriber channel connectors A1 to An, B1 to Bn provided in the subscriber block 300 by the second cable connector 22 of the test cable 200 via the interface connector 24. Any subscriber channel connector can be selectively connected to test.
상기한 바와 같이 이루어진 본 발명에 따르면, 전전자교환기에 할당되는 다수의 가입자라인의 가입자채널을 테스트케이블을 통해 통합적으로 연결하여 별도의 단일개로 이루어진 테스트패널을 통해 이상유무에 대한 테스트점검을 선택적으로 행할 수 있도록 함에 따라, 가입자라인에 대한 테스트점검이 보다 신속하고 용이하게 행해질 수 있게 되면서 테스트에 소요되는 시간이 단축될 수 있고, 보다 안정되고 정확한 테스트가 가능하다는 이점을 갖게 된다.According to the present invention made as described above, by selectively connecting the subscriber channels of the plurality of subscriber lines assigned to the all-electronic exchange through a test cable, the test check for abnormality through the separate single test panel selectively As it can be done, the test check for the subscriber line can be performed more quickly and easily, the time required for the test can be shortened, and the advantage that the more stable and accurate test is possible.
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