KR100210598B1 - Sample supply apparatus for testing particle counter - Google Patents

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Abstract

반도체장치 제조 라인 및 공정설비 등의 파티클 분포 상태를 확인하기 위한 파티클 계수기를 손쉽게 검교정하도록 개선시킨 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치 및 샘플 제조 방법에 관한 것이다.And more particularly, to a standard sample supply device and a sample manufacturing method for particle counter calibration, which are improved to easily calibrate a particle counter for confirming the particle distribution state of a semiconductor device manufacturing line and a process facility.

본 발명은, 소정 용량의 용기를 공기로 세정하는 제 1 단계, 소정 수준의 청정도 이하 분위기에서 일정 양의 표준시료를 상기 용기로 주입시키는 제 2 단계, 상기 표준시료가 주입된 용기에 공기를 충진시키는 제 3 단계 및 상기 표준시료 및 공기로 충진된 용기를 밀봉시키는 제 4 단계를 거쳐서 샘플을 제작한 후, 샘플을 상기 파티클 계수기와 연결하도록 구성되어 있다.The present invention relates to a method for preparing a standard sample, comprising: a first step of cleaning a container of a predetermined volume with air; a second step of injecting a predetermined amount of standard sample into the container in an atmosphere of a predetermined degree of cleanliness or lower; A third step of filling the sample, and a fourth step of sealing the standard sample and the container filled with air, and then connecting the sample to the particle counter.

따라서, 본 발명에 의하면 파티클 계수기의 검정 및 교정 작업이 간단해져서 작업성이 향상되며, 항상 일정 농도 및 일정 밀도의 표준입자를 이용한 검정작업이 가능하므로 검정작업의 결과에 대한 신뢰도가 향상되고, 교정이 적확히 이루어지는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, it is possible to improve the workability by simplifying the calibration and calibration work of the particle counter, and it is possible to perform the calibration work using the standard particles of constant density and constant density at all times, There is an effect that can be surely done.

Description

파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치 및 샘플 제조 방법Standard sample feeder for sample particle counter and sample preparation method

본 발명은 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치 및 샘플 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체장치 제조 라인 및 공정설비 등의 파티클 분포 상태를 확인하기 위한 파티클 계수기를 검교정하기 위한 표준입자를 손쉽게 공급하도록 개선시킨 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치 및 샘플 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a standard sample supply device for sample particle counting and a method of manufacturing a sample, and more particularly, to a method and apparatus for easily supplying standard particles for calibrating a particle counter for confirming the particle distribution state of a semiconductor device manufacturing line, And more particularly, to a standard sample supply apparatus for particle counter calibration and a sample preparation method.

통상, 반도체장치를 제조하는 공장의 제조설비와 클린룸(Clean Room)은 공기가 고청정 상태를 유지하도록 관리되어야 하며, 제조설비 및 클린룸의 공기중에 포함된 입자는 주로 광산란 방식을 이용한 파티클 계수기로 단위 체적당 수량이 체크되고 있다.Generally, the manufacturing facilities and the clean room of a factory for manufacturing a semiconductor device must be managed such that the air is maintained in a highly clean state, and the particles contained in the air of the manufacturing facility and the clean room are mainly used in a particle counter The quantity per unit volume is checked.

광산란 방식 계수기는 대개 내부의 광원으로 헬륨-네온 또는 아르곤 방전등을 주로 사용하며, 최근에는 반도체 레이저의 성능향상으로 이를 채용하는 사례가 늘고 있다. 그러나, 고정밀을 요구하지 않는 경우에는 기존의 할로겐 광원을 이용한 계수기가 많이 이용되고 있다.The light scattering type counter usually uses a helium-neon or an argon discharge lamp as an internal light source. Recently, semiconductor lasers have been used to improve the performance thereof. However, when high precision is not required, a conventional counter using a halogen light source is widely used.

공기 중에 포함되어 있는 파티클의 계수는 계수기의 광원 라이프 타임(Life Time)과 렌즈 및 반사경(Reflector) 등의 오염 유무에 따라 그 신뢰도가 좌우되며, 계측 상태가 급격하게 변하면 계수기는 검정되고, 검정결과로서 파티클 계수기의 효율이 정해진 수준 이하일 때는 이를 교정해야 한다.The coefficient of particles contained in the air depends on the life time of the light source of the counter and the presence or absence of pollution such as a lens and a reflector. When the measurement state changes abruptly, the counter is checked, If the efficiency of the particle counter is below a certain level, it should be corrected.

도1에 종래의 파티클 계수기의 검교정을 수행하기 위한 시스템이 나타나 있다.FIG. 1 shows a system for performing calibration of a conventional particle counter.

종래의 파티클 계수기(10)는 계수결과를 디스플레이 및 분석하기 위한 신호분석기(12)와 연결되고, 프로브(도시되지 않음)와 연결되어 공기를 수집하는 공기유입구로 표준시료가 유입되도록 구성된다.The conventional particle counter 10 is connected to a signal analyzer 12 for displaying and analyzing the result of the counting and is configured to be connected to a probe (not shown) to introduce a standard sample into the air inlet for collecting air.

표준시료는 표준입자 발생장치(14)와 퍼지 필터(16) 및 퍼지 펌프 어셈블리(18)로 구성된 장치에 의하여 발생 및 공급될 수 있다.The standard sample may be generated and supplied by a device composed of a standard particle generator 14, a purge filter 16 and a purge pump assembly 18.

여기에서 표준입자 발생장치(14)는 내부적으로 드라이어(Dryer)(20)와 분무기(22) 및 농도조절밸브(24)가 순차적으로 연결되어 있으며, 분무기(22)로는 분무를 위한 초순수가 공급되도록 구성되어 있다. 그리고, 농도조절밸브(24)는 퍼지 펌프 어셈블리(18)에서 펌핑되어 퍼지 필터(16)에서 필터링되어 유입되는 공기의 양을 조절하여 파티클 계수기(10)로 공급되는 불순물의 농도를 조절하도록 구성되어 있다.Here, the standard particle generator 14 is internally connected with a dryer 20, a sprayer 22, and a concentration control valve 24 in sequence, and the sprayer 22 is supplied with ultrapure water for spraying Consists of. The concentration control valve 24 is configured to control the concentration of impurities supplied to the particle counter 10 by adjusting the amount of air that is pumped in the purge pump assembly 18 and filtered in the purge filter 16 have.

그러나, 전술한 종래의 시스템은 설치 및 이용에 있어서 여러 가지 문제점들이 도출되었다.However, the above-described conventional system has various problems in installation and use.

첫째, 검교정을 위해서는 최소한 클래스(Class) 1000(0.1㎛의 입자가 1입방 피트 당 1000개 이하로 존재하는 수준) 이하의 청정한 실험실이 필요하였고, 둘째, 검교정을 위해서는 분무(Atomizer)원리를 이용하여 종래에 상품화되어 있는 파티클 발생기를 도1과 같이 복잡하게 설치하여야 하며, 셋째, 도1과 같이 장치를 설치한 후 검정 조건을 설정하기 위해서 소요되는 시간이 숙련된 작업자의 경우라도 약 2 시간 이상이 소요되고, 넷째, 파티클 계수기에 문제점이 있어서 검교정을 하고자 할 경우 이를 실험실로 옮겨야하는 불편함이 있었다.First, for calibration, a clean laboratory of at least Class 1000 (a level where particles of 0.1 μm existed at less than 1000 per cubic foot) was required. Second, for calibration, the atomic principle was used A commercially available particle generator should be installed as complicated as shown in FIG. 1; and third, even if a skilled worker takes time to set a verification condition after installing the apparatus as shown in FIG. 1, Fourth, there was a problem in the particle counter, and there was an inconvenience to transfer it to the laboratory if the user wanted to calibrate the particle.

그리고, 다섯째, 고농도의 표준시료인 폴리스틸렌 라텍스(Polystyrene Latex)를 저농도화 시켜야 하고 외부의 오염을 피하여 필요로하는 고유의 표준입자만을 분사하기 위해서 초순수를 준비해야하는 등의 복잡한 예비작업이 요구되었다.Fifth, a complicated preliminary work such as preparing polystyrene latex as a standard sample at a high concentration and preparing ultrapure water for spraying only the required standard particles in order to avoid external contamination was required.

또한, 여섯째, 검교정 작업은 미세한 입자에 의한 광학신호를 전기신호로 변환되는 과정을 거치고 이를 작업자의 숙련된 눈에 의존하므로 측정기기에 투입하는 표준입자의 농도에 따라서 전기 펄스 값이 잘못 바뀌게 되어 정확한 교정결과를 얻기 어려웠으며, 마지막으로 일곱째, 검정하고자 하는 크기의 입자를 바꿀 때 분무기를 분리하고 초순수로 깨꿋이 세정한 다음 초순수와 검정하고자 하는 표준시료를 주입해야하는 번거로운 작업을 거쳐야 했다.Sixth, the calibration process depends on the operator's skilled eyes after optical signals are converted into electrical signals by fine particles. Therefore, the electric pulse value is changed inaccurately according to the concentration of the standard particles applied to the measuring apparatus, It was difficult to obtain the calibration result. Finally, when changing particle size to be tested, it was necessary to separate the atomizer, clean it with ultrapure water, and then inject the standard sample to be tested with ultrapure water.

전술한 바와 같이 종래의 파티클 계수기의 검교정을 수행하기 위한 시스템의 구성, 작업환경설정 및 계수과정이 상당히 복잡하였으므로, 이용에 상당한 불편함이 따랐으며, 그에 따라서 작업효율이 저하되는 문제점이 있었다.As described above, since the configuration of the system, the work environment setting and the counting process for performing the calibrating of the conventional particle counter have been considerably complicated, considerable inconvenience has arisen and the work efficiency has been reduced accordingly.

본 발명의 목적은, 검교정할 파티클 계수기로 손쉽게 표준시료를 공급하여 간단하게 검교정을 수행하기 위한 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide a standard sample supply device for particle counter calibration for easily calibrating by supplying a standard sample with a particle counter to be calibrated.

본 발명의 다른 목적은, 파襁클 계수기의 검교정 작업을 용이하게 수행할 수 있도록 미리 일정 농도의 표준시료를 용기에 저장할 수 있는 파티클 계수기 검정용 표준시료 샘플 제조 방법을 제공하는 데 있다.It is another object of the present invention to provide a method of preparing a standard sample for assaying a particle counter capable of storing a standard sample of a predetermined concentration in a container in advance so as to facilitate the calibrating operation of a wave counter.

도1은 종래의 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치를 나타내는 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a view showing a conventional standard sample supply device for particle counter calibration. FIG.

도2는 본 발명에 따른 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치의 실시예를 나타내는 도면이다.2 is a view showing an embodiment of a standard sample feeding device for particle counter assay according to the present invention.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS

10 : 파티클 계수기 12 : 신호분석기10: Particle counter 12: Signal analyzer

14 : 표준입자 발생장치 16 : 퍼지 필터14: Standard particle generator 16: Purge filter

18 : 퍼지 펌프 어셈블리 20 : 드라이어18: purge pump assembly 20: dryer

22 : 분무기 24 : 농도조절밸브22: atomizer 24: concentration control valve

30 : 용기 32 : 마개30: container 32: stopper

34, 42 : 밸브 36, 40 : 배관34, 42: valve 36, 40: piping

38 : 튜브 44 : 필터38: tube 44: filter

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치는, 공기 중의 파티클을 계측하는 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치에 있어서, 상기 표준시료가 공기에 포함되어 소정 농도로 충진된 후 밀봉된 소정 용량의 제 1 용기를 상기 파티클 계수기와 연결하도록 이루어진다.According to an aspect of the present invention, there is provided a standard sample supply device for particle counter measurement for measuring particles in an air, the standard sample supply device comprising: And a post-sealed volume of the first container is connected to the particle counter.

그리고, 상기 제 1 용기의 밀봉부분에 제 1 밸브가 구성됨으로써 공급량을 조절하도록 구성되고, 상기 제 1 용기와 파티클 계수기를 연결하는 배관에 분기된 분기관에 농도 조정용 필터가 구비됨이 바람직하다.It is preferable that the concentration adjusting filter is provided in the branch pipe branching to the piping connecting the first container and the particle counter, and is configured to adjust the supply amount by constituting the first valve in the sealing portion of the first container.

그리고, 상기 배관의 단부는 복수로 분기되고, 상기 분기된 단부에 상기 제 1 용기와 압축공기가 충진된 제 2 용기를 병렬로 연결하여 복수의 기체를 상기 파티클 계수기로 혼합공급하도록 구성될 수 있다.The end portion of the pipe may be branched into a plurality of pipes, and the first container and the second container filled with the compressed air may be connected in parallel to the branched end, and a plurality of gases may be mixed and supplied to the particle counter .

그리고, 상기 농도 조정용 필터는 최소 0.1㎛ 이상 직경의 파티클을 필터링할 수 있는 것으로 구성됨이 바람직하고, 상기 분기관에 제 2 밸브가 구성됨이 바람직하다.It is preferable that the concentration-adjusting filter is configured to be capable of filtering particles having a diameter of at least 0.1 탆 or more, and it is preferable that the branch valve is provided with a second valve.

또한, 5 리터(Litter) ∼ 15 리터 용량의 상기 제 1 용기에 0.5㎜ 리터 ∼ 1.5㎜ 리터의 상기 표준시료를 투입할 수 있고, 상기 표준시료는 0.1㎛ 내지 0.3㎛ 범위 내의 직경을 갖는 폴리스틸렌 라텍스(Polystyrene Latex) 임이 바람직하다.Further, the standard sample of 0.5 mm liters to 1.5 mm liters can be introduced into the first container having a capacity of 5 liters to 15 liters, and the standard sample is a polystyrene latex having a diameter within a range of 0.1 m to 0.3 m (Polystyrene latex).

본 발명에 따른 파티클 계수기의 검정용 표준시료 샘플 제조 방법은, 공기 중의 파티클을 계측하는 파티클 계수기의 검정용 표준시료 샘플 제조 방법에 있어서, 소정 용량의 용기를 공기로 세정하는 제 1 단계, 소정 수준의 청정도 이하 분위기에서 일정 양의 표준시료를 상기 용기로 주입시키는 제 2 단계, 상기 표준시료가 주입된 용기에 공기를 충진시키는 제 3 단계 및 상기 표준시료 및 공기로 충진된 용기를 밀봉시키는 제 4 단계를 포함하여 이루어진다.A method of manufacturing a standard sample sample for assaying a particle counter according to the present invention is a method for preparing a standard sample sample for assaying a particle counter for measuring particles in air, comprising the steps of: A second step of injecting a predetermined amount of standard sample into the container in a cleanliness of the standard sample, a third step of filling the container into which the standard sample is injected, and a third step of sealing the standard sample and the container filled with air It consists of four steps.

그리고, 상기 제 2 단계는 단위 입방 피트당 1000개 이하로 불순물이 존재하는 청정분위기에서 수행됨이 바람직하고, 상기 제 3 단계는 필터로 일정 수준 이하의 오염도를 갖도록 필터링된 공기를 상기 용기로 충진시킴이 바람직하다.Preferably, the second step is performed in a clean environment in which impurities are present in an amount of not more than 1000 per unit cubic feet, and the third step is to fill the filter with air filtered to have a degree of contamination of a certain level or less with the filter .

이하, 본 발명의 구체적인 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도2를 참조하면, 본 발명에 따른 실시예는 파티클 계수기로 표준입자를 공급하기 위하여 일정 용량의 용기에 소정 용량의 폴리스틸렌 라텍스를 주입시킨 샘플을 파티클 계수기에 장착시키도록 구성되어 있다.Referring to FIG. 2, an embodiment of the present invention is configured to mount a sample in which a predetermined volume of polystyrene latex is injected into a particle counter to supply a standard particle to a particle counter.

샘플의 제작 방법은 먼저 세정된 10ℓ 용량의 용기(30)를 준비한 뒤 고순도 공기로 내부를 세정시킨 후 클래스 10 이하의 오염도를 갖는 청정실로 이동하여서 폴리스틸렌 라텍스를 표준입자로 약 1㎜ℓ 정도 주입시킨다. 그런 후 필터링되어 고청정도를 갖는 고압 공기로 내부가 충진된 후, 용기를 마개(32)로 밀봉한다.The method of preparing the sample is as follows: First, a cleaned 10-liter container 30 is prepared, and then the inside is cleaned with high-purity air and then moved to a clean room having a degree of contamination of less than class 10 and polystyrene latex is injected with about 1 mmℓ as standard particles . Thereafter, the inside is filled with high-pressure air that has been filtered and has high cleanliness, and then the container is sealed with a stopper 32.

마개(32)에는 배출량을 조절하기 위한 밸브(34)가 설치된 배관(36)이 연결되어 있다.The plug 32 is connected to a pipe 36 provided with a valve 34 for controlling the discharge amount.

전술한 바와 같은 방법으로 0.1㎛ 또는 0.3㎛와 같이 서로 다른 크기의 직경을 갖는 표준입자를 포함하는 샘플을 다수개 제조한 후 보관한다.A plurality of samples including standard particles having diameters of different sizes such as 0.1 탆 or 0.3 탆 are prepared and stored as described above.

그리고, 전술한 샘플을 이용한 본 발명에 따른 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치는 샘플, 샘플에 연결되는 튜브(38) 그리고 튜브(38)와 파티클 계수기(10) 사이에 연결되는 배관(40)으로 구성되며, 배관(40)은 밸브(42)가 중간에 설치된 분기관을 가지고, 분기관의 단부에는 0.1㎛ 이상 크기의 파티클에 대한 필터링을 위한 필터(44)가 구성되어 있다.The standard sample supply device for assaying a particle counter according to the present invention using the above-described sample includes a sample, a tube 38 connected to the sample, and a pipe 40 connected between the tube 38 and the particle counter 10 And the pipe 40 has a branch pipe in which a valve 42 is installed at an intermediate portion and a filter 44 for filtering particles having a size of 0.1 μm or more is formed at the end of the branch pipe.

따라서, 공기중의 파티클을 계측하는 파티클 계수기를 검교정하는 경우, 미리 준비된 샘플중 적정 크기의 표준입자가 충진된 샘플을 선택하여 파티클 계수기(10)에 연결시킨다.Therefore, when a particle counter for measuring particles in the air is calibrated, a sample filled with a standard particle of an appropriate size among a sample prepared in advance is selected and connected to the particle counter 10.

즉, 용기(30)의 마개(32)에 연결된 배관(36)의 단부에 튜브(38)를 연결하고, 튜브(38)와 파티클 계수기(10) 사이에 배관(40)을 구성한다.That is, the tube 38 is connected to the end of the pipe 36 connected to the plug 32 of the container 30, and the pipe 40 is formed between the tube 38 and the particle counter 10.

그리고, 밸브(34)로 표준입자의 공급량을 조절하면, 표준입자가 파티클 계수기(10)로 공급되며, 공급되는 표준입자의 농도는 밸브(42)의 개폐 정도에 따라 필터(44)를 통하여 혼입되는 공기의 양에 따라 좌우된다.When the supply amount of the standard particles is adjusted by the valve 34, the standard particles are supplied to the particle counter 10, and the concentration of the supplied standard particles is mixed through the filter 44 according to the opening / closing degree of the valve 42 Depending on the amount of air being blown.

그러므로, 표준입자가 적정농도로 파티클 계수기(10)로 공급되고, 파티클 계수기(10)가 동작됨에 따라 계수되는 결과는 신호분석기(12)를 통하여 디스플레이된다. 작업자는 신호분석기(12)를 통하여 디스플레이되는 결과를 판단하여 파티클 계수기(10)의 상태를 판단하고 이상이 체크되는 경우 교정작업을 수행한다.Therefore, the standard particle is supplied to the particle counter 10 at an appropriate concentration, and the result that is counted as the particle counter 10 is operated is displayed through the signal analyzer 12. [ The operator judges the result of the display through the signal analyzer 12, judges the state of the particle counter 10, and performs a correction operation when an abnormality is checked.

실시예는 샘플로 종래의 분무기와 드라이어를 구성한 표준입자 발생장치, 퍼지 필터 및 퍼지 펌프 어셈블리의 기능을 대신하면서, 항상 필요한 경우에 저장된 샘플 중 파티클의 크기가 적당한 것을 선택하여 검정을 실시할 수 있다.The embodiment can replace the functions of a standard particle generator, a purge filter and a purge pump assembly constituting a conventional atomizer and a dryer as a sample, and can always perform a test by selecting an appropriate particle size among the stored samples when necessary .

그리고, 배관(40)을 단부가 복수로 분기된 것을 이용하면, 각 단부에 서로 다른 내용물의 파티클 또는 서로 다른 크기의 파티클이 수용된 샘플을 결합하여서 다양한 검정을 실시할 수 있다.When a plurality of end portions of the pipe 40 are used, it is possible to perform various tests by combining samples containing different contents of particles or particles of different sizes at each end.

따라서, 파티클 계측기의 검교정 작업이 간단해지고, 일정압 및 일정 밀도로 충진된 표준시료를 정확한 양으로 공급할 수 있으므로 파티클 계측기의 검정 작업에 대한 신뢰도가 극대로 향상된다.Therefore, it is possible to simplify the calibration work of the particle measuring instrument, and to supply precise amount of the standard sample filled with the constant pressure and constant density, the reliability of the calibration work of the particle measuring instrument is greatly improved.

그리고, 압력계와 유량계를 배관(40)에 구성하면, 표준시료의 유량이 적절하게 제어될 수 있다.When the pressure gauge and the flow meter are constructed in the pipe 40, the flow rate of the standard sample can be appropriately controlled.

따라서, 본 발명에 의하면 파티클 계수기의 검정 및 교정 작업이 간단해져서 작업성이 향상되며, 항상 일정 농도 및 일정 밀도의 표준입자를 이용한 검정작업이 가능하므로 검정작업의 결과에 대한 신뢰도가 향상되고, 교정이 적확히 이루어지는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, it is possible to improve the workability by simplifying the calibration and calibration work of the particle counter, and it is possible to perform the calibration work using the standard particles of constant density and constant density at all times, There is an effect that can be surely done.

이상에서 본 발명은 기재된 구체예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.While the invention has been shown and described with reference to certain exemplary embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims.

Claims (11)

공기 중의 파티클을 계측하는 파티클 계수기의 검정용 표준시료 공급장치에 있어서,A standard sample feeding device for assaying a particle counter for measuring particles in air, 상기 표준시료가 공기에 포함되어 소정 농도로 충진된 후 밀봉된 소정 용량의 제 1 용기를 상기 파티클 계수기와 연결하도록 이루어짐을 특징으로 하는 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the reference sample is filled with air at a predetermined concentration, and then the sealed first container having a predetermined volume is connected to the particle counter. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 제 1 용기의 밀봉부분에 제 1 밸브가 구성됨으로써 공급량을 조절하도록 구성됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the first valve is configured to adjust the amount of supply supplied to the sealing portion of the first container. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 제 1 용기와 파티클 계수기를 연결하는 배관에 분기된 분기관에 농도 조정용 필터가 구비됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein a concentration adjusting filter is provided in a branch pipe branching to a pipe connecting the first container and the particle counter. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 배관의 단부는 복수로 분기되고, 상기 분기된 단부에 상기 제 1 용기와 압축공기가 충진된 제 2 용기를 병렬로 연결하여 복수의 기체를 상기 파티클 계수기로 혼합공급하도록 구성됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the end of the pipe is divided into a plurality of parts and the first container and the second container filled with the compressed air are connected in parallel to the branched end to mix and supply the plurality of gases to the particle counter. Standard sample feeder for particle counter calibration. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 농도 조정용 필터는 최소 0.1㎛ 이상 직경의 파티클을 필터링할 수 있는 것으로 구성됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the concentration adjusting filter is capable of filtering particles having a diameter of at least 0.1 mu m or more. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 분기관에 제 2 밸브가 구성됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.And a second valve is provided in the branch pipe. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 5 리터(Litter) ∼ 15 리터 용량의 상기 제 1 용기에 0.5㎜ 리터 ∼ 1.5㎜ 리터의 상기 표준시료를 투입함을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the standard sample is fed into the first container having a capacity of 5 liters to 15 liters and the standard sample is fed with 0.5 mm liters to 1.5 mm liters of the standard sample. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 표준시료는 0.1㎛ 내지 0.3㎛ 범위 내의 직경을 갖는 폴리스틸렌 라텍스(Polystyrene Latex) 임을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 공급장치.Wherein the standard sample is a polystyrene latex having a diameter within a range of 0.1 mu m to 0.3 mu m. 공기 중의 파티클을 계측하는 파티클 계수기의 검정용 표준시료 샘플 제조 방법에 있어서,A method of producing a standard sample for assaying a particle counter for measuring particles in air, 소정 용량의 용기를 공기로 세정하는 제 1 단계;A first step of cleaning the container of a predetermined capacity with air; 소정 수준의 청정도 이하 분위기에서 일정 양의 표준시료를 상기 용기로 주입시키는 제 2 단계;A second step of injecting a predetermined amount of a standard sample into the vessel in a below-cleanliness atmosphere at a predetermined level; 상기 표준시료가 주입된 용기에 공기를 충진시키는 제 3 단계; 및A third step of filling air into the container into which the standard sample is injected; And 상기 표준시료 및 공기로 충진된 용기를 밀봉시키는 제 4 단계;A fourth step of sealing the container filled with the standard sample and the air; 를 포함함을 특징으로 하는 파티클 계수기 검정용 표준시료 샘플 제조 방법.Wherein the method comprises the steps of: 제 9 항에 있어서,10. The method of claim 9, 상기 제 2 단계는 단위 입방 피트당 1000개 이하로 불순물이 존재하는 청정분위기에서 수행됨을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 샘플 제조 방법.Wherein the second step is performed in a clean atmosphere in which impurities exist in 1000 or less per unit cubic feet. 제 9 항에 있어서,10. The method of claim 9, 상기 제 3 단계는 필터로 일정 수준 이하의 오염도를 갖도록 필터링된 공기를 상기 용기로 충진시킴을 특징으로 하는 상기 파티클 계수기 검정용 표준시료 샘플 제조 방법.Wherein the third step comprises filling the filtered air with the filter so as to have a degree of contamination below a predetermined level by the filter.
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KR102390910B1 (en) * 2021-11-11 2022-04-26 류준호 Method and apparatus for calibration of light scattering sensor for measuring fine dust concentration

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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