KR0183836B1 - Deck assembly test system of cd-rom drive - Google Patents

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Abstract

씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템이 개시된다.A deck assembly test system of a CD-ROM drive is disclosed.

본 발명의 데크 어셈블리 테스트 시스템은 소정의 테스트 항목에 대응되어 온/오프 스위칭 동작을 하는 스위치부와, 그 스위치부의 동작에 따라 입력된 소정 진수의 신호를 진수변환하여 출력하는 제1진수변환부와, 제1진수변환부의 출력 신호를 입력받아 소정 시간동안 기억시켜두는 대치부와, 상기 제1진수변환부의 출력신호를 입력받아 원래의 진수로 변환하여 출력하는 제2진수변환부와, 제2진수변환부의 출력신호에 대응하여 소정 상태를 표시하는 표시부를 구비한다.The deck assembly test system of the present invention includes a switch unit for on / off switching operation corresponding to a predetermined test item, a first decimal conversion unit for converting and outputting a signal of a predetermined decimal number according to the operation of the switch unit; A replacement unit for receiving the output signal of the first decimal conversion unit and storing it for a predetermined time; a second binary conversion unit for receiving the output signal of the first decimal conversion unit and converting the original decimal number to output the original decimal number; And a display unit for displaying a predetermined state in response to the output signal of the converter.

이와 같은 본 발명의 데트 어셈블리 테스트 시스템은 테스트를 수행하기 위한 소정의 프로그램을 씨디-롬 드라이브 내의 CPU에 미리 저장해 놓고, 상기 래치부의 출력포트를 상기 CPU의 미사용 포트에 접속하여 전체적인 테스트를 수행하게 되므로, 종래의 컴퓨터를 이용한 방식에서와 같은 컴퓨터 다운에 수반되는 문제와 트랙킹 서보 구동단자와 슬레드 서보 구동단자의 단락에 따른 부품의 불량 발생을 방지할 수 있다.Such a dead assembly test system of the present invention stores a predetermined program for performing a test in a CPU in a CD-ROM drive in advance, and performs an overall test by connecting an output port of the latch unit to an unused port of the CPU. In addition, it is possible to prevent a problem caused by computer down as in the conventional computer-based system and a failure of components due to short circuits of the tracking servo drive terminal and the sled servo drive terminal.

Description

씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템Deck Assembly Test System for CD-ROM Drives

제1도는 종래 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템의 개략적인 구성도.1 is a schematic diagram of a deck assembly test system of a conventional CD-ROM drive.

제2도는 본 발명에 따른 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템의 개략적인 구성도.2 is a schematic diagram of a deck assembly test system of a CD-ROM drive according to the present invention.

제3도는 본 발명에 따른 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템에 사용되는 기능별 테스트 모드 테이블.Figure 3 is a functional test mode table used in the deck assembly test system of the CD-ROM drive according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

11 : 컴퓨터 11k : 키보드11: computer 11k: keyboard

12 : 테스트용 PCB 어셈블리 13 : 접속용 지그12 PCB Assembly for Test 13 Jig for Connection

14 : 데크 어셈블리 21 : 스위치부14 deck assembly 21 switch unit

22 : 제1진수변환부 23 : 래치부22: first decimal conversion unit 23: latch unit

24 : 제2진수변환부 25 : 표시부24: binary conversion unit 25: display unit

본 발명은 씨디-롬(CD-ROM) 드라이브에 관한 것으로서, 더 상세히는 씨디-롬 드라이브의 CPU의 포트를 이용하여 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리의 기능을 테스트하기 위한 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a CD-ROM drive, and more particularly to a deck assembly of a CD-ROM drive for testing the function of the deck assembly of the CD-ROM drive using a port of the CPU of the CD-ROM drive. It is about a test system.

씨디-롬은 일반 음악용 CD와 마찬가지로 레이저광을 이용하여 재생만을 할 수 있는 지름 12cm(물론, 지름 8cm의 CD도 있지만 본 명세서에서는 12cm CD의 경우를 예로 들어 설명함), 680MB의 대용량 기억매체를 말한다. 이와 같은 씨디-롬을 실질적으로 구동시키는 씨디-롬 드라이브는 하드 디스크 드라이브와 마찬가지로 컴퓨터 시스템과의 데이터 전송 방식에 따라 AT-BUS 방식, SCSI(Small Computers System interface)방식 및 Enhanced IDE(Integrated Development Enviroment)방식과 같은 3가지 인터페이스 방식으로 나눌 수 있다.CD-ROM is a large-capacity storage medium of 12cm in diameter that can only be played using laser light as in general music CDs. Say. Like a hard disk drive, a CD-ROM drive that substantially drives such a CD-ROM has an AT-BUS method, a Small Computers System interface (SCSI) method, and an Enhanced Integrated Development Enviroment (IDE) method, depending on a data transmission method with a computer system. It can be divided into three interface methods such as method.

한편, 이와 같은 씨디-롬 드라이브는, 그 생산과정에 있어서, PCB 어셈블리와 데크 어셈블리를 소정의 테스트 항목에 따라 각각 테스트한 후, 상호 조립하여 하나의 완제품으로 완성된다.Meanwhile, in the production process of the CD-ROM drive, the PCB assembly and the deck assembly are each tested according to a predetermined test item, and then assembled to each other to complete a finished product.

제1도는 종래 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리를 테스트하기 위한 시스템의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic diagram of a system for testing a deck assembly of a conventional CD-ROM drive.

제1도에 도시된 바와 같이, 데크 어셈블리(14)를 기구적인 지그(jig : 13)에 의해 테스트용 PCB 어셈블리(12)와 접속하고, 그 테스트용 PCB 어셈블리(12)는 다시 컴퓨터(11)와 연결한 후, 키보드(11k)의 조작에 의해 소정의 테스트(예컨대, 홀 센서 검사, 트랙킹 밸런스 검사, 편향 및 편심검사, 지터(jitter)검사 등)를 수행하였다.As shown in FIG. 1, the deck assembly 14 is connected to the test PCB assembly 12 by a mechanical jig 13, and the test PCB assembly 12 is again connected to the computer 11. After connection with the control panel, predetermined tests (e.g., hall sensor test, tracking balance test, deflection and eccentric test, jitter test, etc.) were performed by operating the keyboard 11k.

그런데, 이와 같은 종래 데크 어셈블리 테스트 방식은 컴퓨터를 이용하여 테스트를 수행하기 때문에, 테스트 진행중에 컴퓨터가 다운되면 테스트 프로그램을 다시 부팅(booting)하여 정상 상태로 복귀한 후 테스트를 진행하게 되므로 그 작업이 번거롭고 많은 시간이 소요된다. 또한, 트랙킹 에러와 위상(phase)검사시, 트랙킹 서보와 슬레드 서보가 동작하지 못하도록 하기 위하여 트랙킹 서보 구동단자와 슬레드 서보 구동단자를 강제적으로 단락(short)시킴에 따라 2.5V전압이 트랙킹 서보 회로부품, 슬레드 서보 회로부품 및 픽업에 인가되어 충격을 줌으로써 부품의 불량을 초래하게 되는 문제점이 있다.However, since the conventional deck assembly test method performs a test using a computer, if the computer is down during the test, the test program is rebooted and returned to the normal state, and then the test is performed. It is cumbersome and time consuming. In addition, the tracking servo and the sled servo are forced to short the tracking servo and the sled servo in order to prevent the tracking servo and the sled servo from operating during the tracking error and phase checking. There is a problem that the parts are defective by being applied to the circuit parts, the sled servo circuit parts, and the pick-up to give an impact.

본 발명은 상기와 같은 문제점들을 감안하여 창출된 것으로서, 테스트에 소요되는 시간을 감축하고, 부품의 불량발생을 방지할 수 있는 씨디-롬 드라이브의 데트 어셈블리 테스트 시스템을 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a test assembly test system for a CD-ROM drive, which can reduce the time required for testing and prevent the occurrence of component defects.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템은, 소정의 테스트 항목에 대응되어 온/오프(on/off) 스위칭 동작을 하는 스위치부와, 상기 스위치부의 동작에 따라 입력된 소정 진수의 신호를 진수변환하여 출력하는 제1진수변환부와, 상기 제1진수변환부의 출력 신호를 입력받아 소정 시간 동안 기억시켜두는 래치(latch)부와, 상기 제1진수변환부의 출력 신호를 입력받아 원래의 진수로 변환하여 출력하는 제2진수변환부와, 상기 제2진수변환부의 출력 신호에 대응하여 소정 상태를 표시하는 표시부를 구비하여 된 점에 특징이 있다.In order to achieve the above object, a deck assembly test system of a CD-ROM drive according to the present invention includes a switch unit for performing an on / off switching operation corresponding to a predetermined test item, and an operation of the switch unit. A first decimal converting unit for converting a signal of the predetermined decimal number inputted according to the decimal number, and outputting the binary signal; a latch unit for receiving the output signal of the first decimal converting unit and storing the signal for a predetermined time; A second binary conversion unit which receives an output signal and converts it into an original binary number and outputs the output signal, and a display unit which displays a predetermined state in response to the output signal of the second binary conversion unit are provided.

이와 같은 본 발명의 데크 어셈블리 테스트 시스템에 의하면, 테스트를 수행하기 위한 소정의 프로그램을 씨디-롬 드라이브 내의 CPU에 미리 저장해 놓고, 상기 래치부의 출력포트를 상기 CPU의 미사용 포트에 접속하여 전체적인 테스트를 수행하게 되므로, 종래의 방식에서와 같은 컴퓨터 다운에 수반되는 문제와 트랙킹 서보 구동단자와 슬레드 서보 구동단자의 단락에 따른 부품의 불량 발생을 방지할 수 있다.According to the deck assembly test system of the present invention, a predetermined program for performing a test is stored in advance in a CPU in the CD-ROM drive, and the output port of the latch unit is connected to an unused port of the CPU to perform a whole test. As a result, it is possible to prevent a problem caused by computer down as in the conventional method and the occurrence of defects in components due to short circuits of the tracking servo drive terminal and the sled servo drive terminal.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제2도는 본 발명에 따른 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템의 개략적인 구성도이다.2 is a schematic diagram of a deck assembly test system of a CD-ROM drive according to the present invention.

제2도를 참조하면, 본 발명의 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템은 소정의 테스트 항목에 대응되어 온/오프 스위칭 동작을 하는 스위치부(21)와, 그 스위치부(21)의 동작에 따라 입력된 소정 진수의 신호를 진수변환하여 출력하는 제1진수변환부(22)를 구비한다. 여기에서, 상기 스위칭부(21)는 8개의 온/오프 스위치(21a~21h)로 구성되고, 제1진수변환부(22)는 8진수의 신호를 2진수의 신호로 변환하여 출력하는 집적회로(IC)로 구성된다.Referring to FIG. 2, the deck assembly test system of the CD-ROM drive according to the present invention includes a switch unit 21 for performing on / off switching operation corresponding to a predetermined test item and an operation of the switch unit 21. And a first decimal conversion unit 22 for converting and outputting the signal of the predetermined decimal number inputted accordingly. Here, the switching unit 21 is composed of eight on / off switches (21a ~ 21h), the first decimal conversion unit 22 is an integrated circuit for converting the octal signal into a binary signal and outputs it. It consists of (IC).

또한, 본 발명의 시스템은 상기 제1진수변환부(22)의 출력 신호를 입력받아 소정 시간 동안 기억시켜 두는 래치부(23)와, 제1진수변환부(22)의 출력 신호를 입력받아 원래의 진수로, 즉 2진수에서 8진수의 신호로 변환하여 출력하는 제2진수변환부(24)와, 그 제2진수변환부(24)의 출력 신호에 대응하여 현재 진행되고 있는 소정 테스트 항목을 표시하는 표시부(25)를 구비한다. 여기에서, 이 표시부(25)는 8개의 발광다이오드(LED)로 구성되고, 상기 제2진수변환부(24)도 집적회로로 구성된다.In addition, the system of the present invention receives the output signal of the first decimal conversion section 22 and the latch unit 23 for storing for a predetermined time, and the output signal of the first decimal conversion section 22, the original A binary test unit 24 for converting a binary number to an octal signal and outputting a predetermined test item that is currently being processed in response to the output signal of the second binary converter 24. The display part 25 to display is provided. Here, the display section 25 is composed of eight light emitting diodes (LEDs), and the second binary number conversion section 24 is also composed of an integrated circuit.

한편 상기 래치부(23)의 3개의 출력포트(M1,M2,M3)는 씨디-롬 드라이브 내의 CPU(미도시)의 3개의 미사용 포트와 전기적으로 각각 접속되며, 각 출력포트에는 그 출력포트의 'High'(이때의 2진수 값은 1) 혹은 'Low'(이때의 2진수 값은 0)의 입력신호 상태를 표시하기 위한 발광다이오드가 설치된다.Meanwhile, the three output ports M1, M2, and M3 of the latch unit 23 are electrically connected to three unused ports of a CPU (not shown) in the CD-ROM drive, and each output port is connected to each of the output ports. A light emitting diode is provided for indicating an input signal state of 'High' (binary value is 1) or 'Low' (binary value is 0).

그러면, 이상과 같은 구성을 가지는 본 발명의 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템에 의해 데크 어셈블리를 테스트하는 과정에 대해 간략히 설명해 보기로 한다. 예를 들어, 제4번 스위치(21d)를 온(ON)하면, 제1진수변환부(22)의 출력단자에는 제3도의 테스트 모드 테이블에 나타난 바와 같이 '1 1 0'이 출력되고, 래치부(23)를 통하여 M1, M2, M3에 '1 1 0'이 출력되면서 M1, M2에 대응되는 발광다이오드가 발광한다. 또한, 상기 '1 1 0'은 M1, M2, M3와 접속되어 있는 씨디-롬 드라이브 내의 CPU의 3개의 포트를 통해 CPU에 입력되고, 그에 따라 CPU는 테스트 모드, 즉 '외주 플레이'를 수행하게 된다. 여기서, 상기 씨디-롬 드라이브 내의 CPU에는 상기 제3도의 테스트 모드 테이블 및 각 테스트 모드를 수행시키는 소정의 프로그램이 사용자에 의해 미리 메모리된다.Then, the process of testing the deck assembly by the deck assembly test system of the CD-ROM drive of the present invention having the above configuration will be briefly described. For example, when the fourth switch 21d is turned on, '1 1 0' is output to the output terminal of the first decimal conversion section 22 as shown in the test mode table of FIG. The LEDs corresponding to M1 and M2 emit light while '1 1 0' is output to M1, M2 and M3 through the unit 23. In addition, the '1 1 0' is input to the CPU through the three ports of the CPU in the CD-ROM drive connected to M1, M2, M3, thereby allowing the CPU to perform the test mode, that is, 'outsourcing play' do. Here, the test mode table of FIG. 3 and a predetermined program for performing each test mode are previously stored in the CPU in the CD-ROM drive by the user.

한편, 제2진수변환부(24)는 상기 제4번 스위치(21d)의 온(ON)에 대응하여 제4번 발광다이오드를 점등시키게 되며, 따라서 현재 '외주 플레이'가 동작되고 있음을 알 수 있게 된다. 이상과 같은 일련의 과정에 의해 모든 테스트 모드의 수행이 완료되면 하나의 데크 어셈블리에 대한 테스트는 완료된다.Meanwhile, the second binary conversion unit 24 turns on the fourth light emitting diode in response to the ON of the fourth switch 21d. Therefore, it can be seen that the 'outsourcing play' is currently operating. Will be. When all the test modes are completed by the above series of procedures, the test on one deck assembly is completed.

이상의 설명에서와 같이 본 발며에 따른 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템은 테스트를 수행하기 위한 소정의 프로그램을 씨디-롬 드라이브 내의 CPU에 미리 저장해 놓고, 상기 래치부의 출력포트를 상기 CPU의 미사용 포트에 접속하여 전체적인 테스트를 수행하게 되므로, 종래의 컴퓨터를 이용한 방식에서와 같은 컴퓨터 다운에 수반되는 문제와 트랙킹 서보 구동단자와 슬레드 서보 구동단자의 단락에 따른 부품의 불량 발생을 방지할 수 있다. 뿐만 아니라, 테스트에 소요되는 시간이 월등히 단축되어 제품의 생산성을 향상시킬 수 있다.As described above, the deck assembly test system of the CD-ROM drive according to the present invention stores a predetermined program for performing a test in a CPU in the CD-ROM drive in advance, and outputs the output port of the latch portion to an unused port of the CPU. Since the overall test is performed by connecting to the control panel, it is possible to prevent a problem caused by computer down and short circuit of the tracking servo drive terminal and the sled servo drive terminal as in the conventional computer system. In addition, the time required for testing can be significantly shortened, improving product productivity.

Claims (6)

소정의 테스트 항목에 대응되어 온/오프 스위칭 동작을 하는 스위치부와, 상기 스위치부의 동작에 따라 입력된 소정 진수의 신호를 진수변환하여 출력하는 제1진수변환부와, 상기 제1진수변환부의 출력 신호를 입력받아 소정 시간 동안 기억시켜두는 래치부와, 상기 제1진수변환부의 출력 신호를 입력받아 원래의 진수로 변환하여 출력하는 제2진수변환부와, 상기 제2진수변환부의 출력 신호에 대응하여 소정 상태를 표시하는 표시부를 구비하여 된 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.A switch unit for performing on / off switching operation corresponding to a predetermined test item, a first decimal conversion unit for converting an output signal of a predetermined decimal number according to an operation of the switch unit, and outputting the first decimal conversion unit; A latch unit for receiving a signal and storing the signal for a predetermined time, a second binary conversion unit for receiving an output signal of the first decimal conversion unit, converting the original decimal number, and outputting the original decimal number, and an output signal of the second binary conversion unit Deck assembly test system of the CD-ROM drive, characterized in that the display unit for displaying a predetermined state. 제1항에 있어서, 상기 스위치부는 8개의 온/오프 스위치로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.The deck assembly test system of claim 1, wherein the switch unit comprises eight on / off switches. 제1항에 있어서, 상기 제1진수변환부는 8진수의 신호를 2진수의 신호로 변환하여 출력하는 집적회로로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.The deck assembly test system of claim 1, wherein the first decimal conversion unit comprises an integrated circuit which converts an octal signal into a binary signal and outputs the binary signal. 제1항에 있어서, 상기 제2진수변환부는 2진수의 신호를 8진수의 신호로 변환하여 출력하는 집적회로로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.The deck assembly test system of claim 1, wherein the second binary conversion unit comprises an integrated circuit converting a binary signal into an octal signal and outputting the binary signal. 제1항에 있어서, 상기 래치부의 출력포트에는 각 출력포트의 'High' 혹은 'Low'의 입력신호 상태를 표시하기 위한 발광다이오드가 각각 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.The deck assembly test of the CD-ROM drive according to claim 1, wherein the output port of the latch unit is provided with light emitting diodes for indicating an input signal state of 'high' or 'low' of each output port. system. 제1항에 있어서, 상기 표시부는 8개의 발광다이오드로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 씨디-롬 드라이브의 데크 어셈블리 테스트 시스템.The deck assembly test system of claim 1, wherein the display unit comprises eight light emitting diodes.
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