KR0178974B1

KR0178974B1 - 전기 접점 활동도를 감시하기 위한 장치

Info

Publication number: KR0178974B1
Application number: KR1019900012858A
Authority: KR
Inventors: 마아치 요콤 토마스
Original assignee: 브레트 지. 코너; 에이비비 파우어 티 앤드 디 캄파니
Priority date: 1989-08-21
Filing date: 1990-08-21
Publication date: 1999-05-15
Also published as: KR910005533A; CA2023596A1; US5031110A

Abstract

내용 없음.

Description

전기 접점 활동도를 감시하기 위한 장치

제1도는 본 발명의 전기 접점 활동도를 감시하기 위한 장치에 사용된 보호 계전기를 포함한 전력 배전장치 일부를 도시한 개략도.

제2도는 제1도에 도시된 전기 접점 활동도를 감시하는 장치에 대한 개략적인 다이아그램.

제3a도 및 제3b도는 본 발명을 수행하도록 제2도의 장치에 사용되는 적합한 컴퓨터 프로그램을 도시한 순서도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 전력 배전 장치 3,5,7 : 도선

9-19n : 보호 계전기 13 : 계기용 변압기

15,23 : 코일 17 : 차단 계전기

19,27 : 접점 21 : 전원 장치

25 : 차단기 29-29n : 접점 활동도 모니터

31 : 통신 회선 33 : 중앙 처리국

43 : 전파 정류 브리지 45 : 전압 조정기

47 : 광학 절연체 49 : LED

51 : 광전 다이오우드 55 : 고정 저항기

57 : 배타 논리합 회로(XOR) 63 : 마이크로 컴퓨터

67 : 입력/출력 공유 영역

본 발명은 반발하기 쉬운 전기 접점 상태에서 실제 변화를 감정하고, 이와같은 변화를 시간에 따라 스탬프하는 장치에 관한 것이다. 특히 본 발명은 전력 배전장치에서 보호 계전기의 접점 상태에 대한 실제 변화를 감정하고 시간에 따라 스탬프 하는데 응용된다.

대다수의 응용에서는 시간에 따라 스탬프 하는 것과 같이 전기 접점의 활동도를 시간에 따라 기록하는 것이 바람직하다. 접점이 반발하게 되면 시간에 따라 스탬프 하는데 문제가 발생한다. 시간에 따라 스탬프 하기전에 접점이 안정해 질때까지 기다리게 되면 어떤 응용에서는 너무 부정확하게 되고, 비록 시간 순차적으로 정확하다고 하더라도 초기 접점 활동도를 시간에 따라 스탬프를 하게 되면 단접점 토글(toggle)에 적합한 다양한 시간에 따른 스탬프 뿐만 아니라 시간에 따라 스탬프 하는데 잡음이 발생하게 된다.

접점 반발이 특히 문제가 되는 장치의 한 형태로는 전력배전 장치용 보호 계전기가 있다. 이러한 계전기에는 전력선의 보호용 부품에서 누전 탐지에 응하여 차단기를 열도록 차단 회로를 작동시키는 접점이 있고, 또한 때때로 경보 회로, 감시 회로 및 기타 기능에 적합한 접점이 포함된다. 이와같은 접점은 개폐시 모두 반발하려는 경향이 있고, 점등에 의해 야기되는 것과 같은 방해에 응하여 개폐되어진다.

이와같이 다수의 보호 계전기 접점의 상태를 정확히 알고 있고, 접점 상태의 어떤 변화 시간을 밀리세컨드내에서 알고 있는 것이 바람직하다.

그러므로 반발하기 쉬운 전기 접점 상태를 정확하고 확실하게 결정하는 장치가 요구된다.

또한 접점 활동도를 시간에 따라 정확하고 확실하게 스탬프 하는 장치가 요구된다.

이외에도 여러 다른 특성을 가진 접점용으로 쉽게 응용할 수 있고 가요성인 장치가 요구된다.

상기 요구는 개폐시 반발하기 쉬운 전기 접점의 활성 및 비활성 상태를 결정하기 위한 장치와 관련된 본 발명으로 충족된다. 상기 장치에는 접점의 순간 상태를 표시하는 상태 신호를 발생시키는 회로가 포함되어 있다. 마이크로 컴퓨터는 반복하여 상기 신호의 샘플을 만들고 접점에 대한 저장 상태에서 상기 신호를 비교한다. 접점의 저장 상태와 다른 순간 접촉상태를 지시하는 제1샘플에 응하여 마이크로 컴퓨터는 상태 신호 샘플의 총수를 어떤 상태를 가진 샘플에 알맞은 방향 및 상기와 다른 상태를 가진 샘플에 알맞은 상기와 다른 방향에서 계산되기 시작한다. 만일 상기 총수가 접점의 저장 상태와 다른 상태를 가진 샘플에 대해 미리 예정된 순 총수에 이른다면, 마이크로 컴퓨터는 접점의 저장 상태를 변화시킨다.

또한 본 발명의 장치는 일시적인 시간으로서 보관되며, 제1샘플의 시간은 접점의 저장 상태와 다른 상태를 갖는다. 만일 미리 예정된 순 총수에 도달한다면 상기 일시적인 시간은 접점 상태에서 변화에 알맞은 유효 시간으로서 저장된다.

한편 총수가 접점의 저장 상태와 동일한 상태를 가진 샘플의 미리 예정된 순 총수에 이른다면, 접점은 안정한 상태변화를 달성하지 못하고 일시적인 시간이 제거된다.

본 발명의 바람직한 실시형태에서, 마이크로 컴퓨터는 언제나 활성 샘플, 즉 접점의 순간 활성 상태를 표시하는 샘플에 대해서는 총계하고, 비활성 샘플에 대해서는 카운트 다운한다.

그러므로 저항된 접점 상태가 비활성일때는 총수가 미리 예정된 높은 총수가 도달하기만 하면 상태는 활성으로 변한다.

유사하게, 총수가 미리 예정된 낮은 총수에 도달했을 때만 저장 상태는 활성에서 비활성으로 변한다. 초기에 총수는 카운트가 시작되기 전에 미리 예정된 높고 낮은 총수 사이의 출발값으로 고정된다. 만일 저장 상태가 비활성이고 총수가 미리 예정된 낮은 총수에 도달하도록 비활성 샘플이 우세하다면, 일시적인 시간은 제거된다. 그렇지 않으면 저장 상태가 활성이고 총수가 미리 예정된 높은 총수에 도달했을 때 일시적인 시간이 제거된다. 이와같은 모든 경우에 접점의 상태변화는 유효하지 못하고, 장치는 초기 새로운 카운트에서 저장된 접점 상태와는 다른 다음 샘플을 기다린다.

마이크로 컴퓨터는 저장 상태의 접점이 활성인 것과 비활성인 것의 리스트를 유지하고 있으며, 접점의 수를 검사할 수 있다. 이외에도 분리 카운트가 감시된 각각의 접점을 위해 유지된다.

본 발명은 전력 배전 장치에서 보호 계전기상의 전기 접점에 응용되는 것으로서 설명될 것이나, 이외에도 본 발명은 기타 응용에서 접점 활동도를 감시하는데 유용하며, 특히 이 분야에 숙련된 자에 의해 확실하게 응용될 수 있다.

제1도에서, 전력 배전 장치(1)에는 보호 계전기(9)에 의해 보호되는 위상 전력선 분절의 세 개 도선(3), (5), (7)이 포함된다. 이와같은 보호 계전기(9)는 이 분야에 공지된 것이다.

전형적으로 (9)와 같은 보호 계전기는 전류 감지기(11)를 통해 도선(3), (5), (7)상의 전류를 감시하고 계기용 변압기(13)를 통해 전압을 감시한다. 다양한 형태의 보호 계전기는 다른 계전기로부터 부가된 정보를 사용하는 계전기의 경우에 배전 장치의 비정상적인 조건을 탐지하도록 전류와 전압을 분석한다. 만일 탐지된 조건이 미리 예정한 기준을 충족시킨다면, 보호 계전기(9)는 접점(19)이 닫힐 때 도선(3), (5), (7)을 통한 전류의 흐름을 중단시키도록 접점(27)이 열리는 차단기(25)의 거치용 축전기(21)로부터 코일(23)까지 전류를 제공하는 접점(19)을 가지고 있는 차단 계전기(17)의 코일(15)을 에너지화 한다.

차단기(25)의 상태를 지시하는 접점(19)의 상태는 본 발명의 접점 활동도 모니터(29)에 의해 감시된다. 또한 접점 활동도 모니터(29)는 보호 계전기(9)의 (19n)까지 기타 접점 출력을 감시할 수 있다. 접점 활동도 모니터(29), 원한다면 모니터(29n)와 같은 기타 다른 보호 계전기와 관련된 부가적인 접점 활동도 모니터는 국부 회로망과 같은 통신 회선(31)을 통해 모든 접점상의 정보를 시간에 따라 스탬프하고 상태를 추측하는 중앙 처리국(33)까지 연결될 수 있다.

제2도에 도시한 바와같이, 한쌍의 도선(35), (37)은 감시되어질 접점(19)을 가로질러서 전압을 측정하도록 연결되어 있다. 접점(19)은 젖어있다. 즉, 축전지(21)에 의해 제공된 것과 같은 전력이 연속하여 접점(19)을 가로질러서 인가되므로, 접점이 열리면 전원 장치(21)의 전압이 도선(35), (37)상에 나타난다. 접점(19)이 닫히게 되면, 실제로 부하(23)를 따라 모든 전압이 강하된다.

전압은 접점(19)을 가로질러 도선(35), (37)에 의해 접속기(39), (41)를 통해 접점 활동도 모니터(29)까지 인가된다. 전파(全波) 정류 브리지(43)는 직류 전압의 고유 극성을 보장하고 교류를 제어하는 접점과 함께 사용되어질 모니터를 부여한다. 선형 전압 제한기 형태의 전압 조정기(45)는 정류 신호의 크기를 제한한다. 정류되고 조정된 전압은 LED(49) 입력단과 광전 다이오우드(51) 출력단을 가지고 있는 광학 절연체(47)에 인가된다. 광학 절연체(47)의 출력 도선(53)은 고정 저항기(55)를 통해 전압원(V+)까지 연결된다. 접점(19)이 열리면서 LED(49)는 본래 접지되도록 아래쪽으로 도선(53)을 잡아끄는 광전 다이오우드(51)를 향하여 방출된다. 접점(19)이 닫히면서 광전 다이오우드(51)는 정지되어 있고 전압(V+)은 출력 도선(53) 상에 나타난다.

출력 도선(53)은 배타 논리합 회로(XOR)(57)의 한쪽 입력에 연결된다. (57)의 다른쪽 입력은 저항기(59)를 통해 V+ 전압원까지 연결된다. XOR(57)의 출력은 접점(19)이 닫힐때는 높고, 상기 접점이 열릴때는 낮다. 원한다면 스위치(61)는 XOR(57)까지 제2입력을 접지시키는데 사용할 수 있다. 스위치(61)가 닫히면서, XOR출력은 접점(19)이 열릴 경우 높아지고 접점이 닫힐 경우 낮아진다. 상기 배열은 접점(19)이 스위치(61)를 열므로써 닫힐 경우, 혹은 접점(19)이 스위치(61)를 닫으므로써 열릴 경우 활성 상태(XOR 출력 높음)를 선택적으로 발생시키는데 사용할 수 있다. 다르게는 도선(53)이 마이크로 컴퓨터(63)의 입력에 직접 연결될 수 있다.

통상적인 마이크로 컴퓨터(63)에는 모선(75)에 의해 CPU(69), 읽기 전용 기록기(ROM)(71) 및 등속 호출 기억장(RAM)(73)으로 상호 연결된 입력/출력 공유 영역(67)이 포함된다. ROM(71)은 XOR(57)로부터 수신한 신호를 처리하도록 CPU(69)에 의해 사용된 프로그램을 저장하며, RAM(73)은 처리된 데이타와 다른 파라미터를 저장한다.

본 발명에 따르면, 마이크로 컴퓨터(63)는 접점(19)의 순간 상태를 표시하는 애널로그 신호의 샘플을 연속하여 만들어낸다. 샘플링 속도는 접점(19)의 특성 및 접점이 응용된 것에 의존한다. 전형적인 장치에서 접점(19)은 매 1.14428 밀리세컨드당 애널로그 신호의 샘플을 만드는 전력 배전 장치용 보호 계전기의 일부분이다. 이와같은 장치에서, 차단 회로를 제어하는 것과 같은 특정 접점이 16.7 밀리세컨드 전력 사이클의 몇분의 1내에서 상태를 변화시키는 경우를 알고 있는 것은 중요하다. 그러나 접점은 개폐시 모두 반발하려는 경향이 있다. 접점이 안정될때까지 기다리면 접점 상태의 변화가 부적절하게 타이밍 될 수 있다. 한편 상태의 초기 변화에 응하면 상태의 단일 변화에 대한 잡음과 다양한 지시가 기록될 수 있다.

본 발명은 감시하려는 각각의 접점 상태의 리스트를 유지시키므로써 상기 문제점을 해결하며, 저장 상태와 다른 상태를 갖는 애널로그 신호 샘플에 의해 지시된 것처럼 상태 변화가 처음 지시되면 카운트가 시작된다. 전형적인 장치에서, 마이크로 컴퓨터는 접점에 대해 순간 활성 상태를 지시하는 샘플은 총계하며, 비활성 상태를 지시하는 샘플은 카운트다운 한다. 카운트는 점점의 저장 상태가 비활성일 때 K값을 고정하며, 제1활성 샘플이 탐지된다. 이어서 나타나는 모든 활성 샘플에 대해서는 카운트가 증대되고, 각각의 비활성 샘플에 대해서는 카운트가 감소된다.

연속된 활성 및 비활성 샘플은 반발하는 접점의 진동 주파수 및 샘플링 속도의 기능이 있다. 만일 순총수가 카운트 L에 도달하게 되면, 접점은 활성 상태를 변화시키고자 하는 것과 관련있게 되고, 접점의 저장 상태는 활성으로 변화된다. 접점의 상태 변화를 시간에 따라 스탬프하기 위해서 활성 샘플의 처음 산출 시간이 일시적인 시간으로서 저장된다. 카운트가 L에 도달하고 접점의 상태가 활성으로 변화할 때, 일시적인 시간은 접점의 상태 변화에 대한 유효시간으로서 저장된다.

접점 상태의 정확한 변화가 나타나지 않는다고 지시되면 비활성 샘플이 우세하고 카운트는 0에 이르러야 되며, 일시적인 시간은 처리된다.

접점의 저장 상태가 활성일 때, 제1비활성 샘플은 카운트를 M에 고정시키고 시간은 일시적으로 저장된다. 만일 순총수가 0에 도달되면, 접점의 저장 상태는 비활성으로 변하고 일시적인 시간은 접점 상태의 변화에 대한 유효 시간으로서 기록된다. 그러나 순 총수가 L에 도달하기만 하면, 일시적인 시간은 제거되고 저장 상태는 활성으로 남게 된다.

전형적인 장치에서, 변수 K, L, M은 각각 3, 7, 3으로 고정된다. 또한 이러한 값은 감시하려는 접점의 특징에 따라 선택되고, 원한다면 이러한 파리미터의 다른값이 동일한 장치로 감시된 동일한 계전기상 혹은 다른 계전기상의 다른 접점을 고정시킬 수 있도록 프로그램이 가능하다. 카운트를 위한 출발값 K와 M은 접점의 저장 상태와 다른 상태를 가진 제1샘플이 저장 상태와 동일한 상태의 샘플에 의해 발견된다면 일시적인 시간이 제거되지 않도록 L과 0 사이 범위에서 고정된다. 저장 접점 상태와 다른 상태를 가진 샘플이 산출되면 카운트가 K 혹은 M으로 재고정되므로, 윗쪽으로 L까지 카운트되거나 아래쪽으로 0까지 카운트되거나 그것은 문제가 되지 않는다. 샘플의 상태가 안정한 조건을 지시하는 접점의 저장 상태와 동일하게 남아있는 한은 카운트가 관련되지 않는다.

본 발명은 바람직한 실시형태에서, 활성 샘플이 K 이하의 수로 탐지된다면 카운트는 K로 재고정된다. 유사하게 비활성 샘플이 M 이상의 수로 탐지된다면 카운트는 M으로 재고정된다. 이것은 L-K 연속 활성 샘플만이 접점의 저장 상태를 비활성에서 활성으로 변화시키기 위해 필요하고, M개의 연속 비활성 샘플만이 저장 상태를 활성에서 비활성으로 변화시키기 위해 필요한 것이다. 물론 상기 배열에서 적어도 K개의 연속 비활성 샘플은 일시적인 시간을 제거하고 접점의 비활성 저장 상태를 유지하기 위해 필요한 반면, 적어도 L 내지 M개의 연속 활성 샘플은 접점의 활성 저장 상태를 유지하고 일시적인 시간을 제거하기 위해 필요하다.

본 발명에 따르면, 마이크로 컴퓨터는 보호 계전기(9) 상의 감시 접점 각각에 대한 애널로그 순간 접점의 샘플을 주기적으로 만들며, 이와같은 각각의 접점에 대해 분리된 접점을 유지시킨다. 이미 언급한 바와같이, 파라미터 K, L, M 값은 원한다면 각각의 접점을 분리하여 고정시킬 수 있다.

마이크로 컴퓨터에 의해 본 발명을 실행하는데 적합한 프로그램에 대한 순서도가 제3a도 및 제3b도에 도시되어 있다. 프로그램의 초기 기입 항목상에서 개개의 접점을 동일화 하는 지수 i는 (77)에서 1로 고정된다. 접점(i)에 관한 순간 접점 상태의 애널로그 신호는 (79)에서 샘플을 만든다. 접점(i)이 (81)에서 결정된 것처럼 활성이지만(83)에서 결정된 바와같은 활성 리스트상에 존재하지 않고, 카운트 Aci는 비활성 저장 상태를 가진 접점(i)이 활성을 테스트하는 제1샘플을 지시하는 (85)에서 결정된 바와같이 0 혹은 그 이하인 샘플이 지시된다면, 이때 시간은 일시적인 시간처럼 (87)에서 보관되고 카운트는 (89)에서 K로 고정된다. 이때 지수(i)는 (91)에서 증대되고, 이것은 (93)에서 결정된 것과 같은 몇몇 접점중 첫 번째 것만이므로 프로그램은 동일한 방식으로 (79)에서 다음에 오는 접점의 샘플을 만들도록 왕복된다. 각각의 접점에 대한 순간 접점 상태의 애널로그 신호는 유사하게 샘플로 만들어진다.

이제 프로그램이 진행되고, 또한 접점(i)에 대한 샘플이 (81)에서 결정된 바와같이 활성이라고 가정한다. (83), (85), (95), (97) 각각에서 결정된 바와같이 활성 리스트상에 존재하지 않으며, 0 혹은 그 이하가 아니며, (정확히 K로 고정되었으므로) K 이하가 아니며, L과 동일하지 않다. 결과적으로 총수는 (99)에서 증대된다. 또한 이어서 진행되는 프로그램 상에서 접점(i)이 활성이고 (97)에서 총수가 L개에 이른다고 가정하면, 접점(i)이 활성 리스트에 부가되고 활성으로 상태별화를 기록하는 것에 의해 (101)에서 비활성 리스트로부터 제거되고, 일시적인 시간은 (103)에서 접점 상태의 변화를 유효 시간 스탬프로서 보관하게 된다. 총수가 L개에 이르기전에 (95)에서 결정된 바와같이 총수를 K개 이하로 감소시켜야만 하며, 이미 논의된 바대로 L 내지 K개의 연속 활성 샘플이 저장 상태를 변화시키도록 (89)에서 K로 재고정시킨다.

상기 접점의 다음에 오는 샘플 또한 활성이라고 가정하면, (83)에서 결정된 바와같이 활성 리스트상에 존재하고 되고, (105)에서 결정한 바와같이 총수가 L개 이하가 아니므로 일시적인 시간은 (107)에서 제거되어진다.

이제 이어서 진행되는 프로그램상에서 접점(i)에 대한 순간 접점 상태의 애널로그 신호가 (81)에서 결정된 바와 같이 비활성인 것을 생각해보자.

접점(i)이 (109)에서 결정된 바와같이 활성 리스트상에 있고, 활성 리스트상의 접점에 대한 제1비활성 샘플을 지시하는 (111)에서 결정된 바와같이 총수가 L개 혹은 그 이상이므로, 시간은 (113)에서 일시적인 시간으로 보관되고 (115)에서 총수는 M개로 고정된다.

(81)에서 결정된 바와같이 접점(i)의 다음 샘플이 활성이라고 가정하자. 상기 접점이 활성 리스트상에 있고 (83)(105) 각각에서 결정된 바와같이 총수가 L개 이하이므로, 총수는 (117)에서 증대된다. (105)에서 결정된 바와같이 총수가 L개에 이르도록 접점이 이어서 나타나는 샘플에 관해 또한 활성이라면, 초기 비활성 시료는 잡음을 고려해야 하고 일시적인 시간은 (107)에서 제거된다. 그러나 총수가 L개에 이르기전에 비활성 샘플이 (81)에서 탐지된다면, 총수는 (119)에서 M개 이하가 되며 (115)에서 M개로 재고정된다. 만일 다음 샘플의 접점이 비활성으로 지시된다면 총수는 M개가 될 것이므로, (121)에서 테스트했을 때 영과 같지 않고 총수는 (123)에서 감소하게 된다. 만일 부가한 비활성 샘플이 (121)에서 테스트했을 때 0까지 카운트다운 된다면, 접점(i)은 비활성 리스트에 첨가되고 (125)에서 활성 리스트로부터 제거되며, 일시적인 시간은 (127)에서 접점 상태의 변화를 유효시간으로서 보관시킨다. (81)에서 다음 샘플이 만들어질 때 접점이 또한 비활성이라고 가정하면, (109)에서 결정한 바와같이 접점은 활성 리스트상에 존재하지 않고, 일시적인 시간이 (131)에서 제거되도록 (129)에서 테스트했을 때 총수는 0보다 크지 않다.

비활성 리스트상의 접점에서, 이어서 나타나는 활성 샘플은 이미 기술한 바와같이 총수가 K개에서 증대될 것이다. 접점이 샘플상의 비활성을 테스트하면, (129)에서 총수는 0 이상이고 (133)에서는 감소하게 된다. 연속 비활성 (129)에서 0까지 카운트다운 된다면, 상태 변화에 대한 이전의 지시는 잘못된 것이고 일시적인 시간은 (131)에서 제거된다.

본 발명에서는 반발 혹은 진동하는 전기 접점의 상태를 결정하고, 접점의 상태변화가 유효할때의 시간을 기록하기 위한 가요성이고 정확한 장치를 제공한다.

본 발명의 특수한 실시형태로 상세히 설명되었을 지라도 본 발명의 범주내에서 다양한 변경 및 변화가 이 분야에 숙련된 자에게 이해될 것이다.

Claims

전기 접점의 활성 상태 및 비활성 상태를 결정하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치가 접점이 활성 상태에 있을때 활성 상태를 가지고 접점이 비활성 상태에 있을때 비활성 상태를 가지는 접점에 대해 순간 상태의 신호를 발생시키는 수단(57), 상기 접점의 저장 상태를 유지하는 수단(83, 109), 상기 순간 상태 신호의 샘플을 반복하여 만들고 상태 신호의 샘플을 발생시키는 수단(81), 상태 신호 샘플의 상태가 상기 접점의 처음 저장 상태와 다를 때 상기 상태 신호 샘플을 카운트하기 시작하며, 상태 신호 샘플의 한 상태에 대해 한 방향으로 카운트되고 상태 신호 샘플의 상기와 다른 상태에 대해 상기와 다른 방향으로 카운트되는 수단(99, 123) 및 총수가 접점의 저장 상태와 다른 상태를 갖는 샘플의 미리 예정된 총수에 도달하기만 하면 접점의 저장 상태를 변화시키는 수단(101, 125)을 포함함을 특징으로 하는 전기 접점의 활성 상태 및 비활성 상태를 결정하기 위한 장치.
제1항에 있어서, 접점의 저장 상태와 다른 상태를 갖는 제1샘플의 일시적인 시간으로서 보관하는 수단(87, 113), 및 접점의 상태 변화에 대한 유효 시간으로서 상기 일시적인 시간을 저장하도록 접점의 저장 상태를 변화시키는 수단에 응하는 수단(103, 127)을 포함함을 특징으로 하는 장치.
제2항에 있어서, 총수가 상기 접점의 저장 상태와 동일한 상태를 갖는 샘플의 미리 예정된 순 총수에 도달하기만 하면, 상기 일시적인 시간을 저장하는 상기 수단(87, 113)을 제거하는 수단(107, 131)을 포함함을 특징으로 하는 장치.
전기 접점의 활성 상태 및 비활성 상태를 결정하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치가 접점이 활성 상태에 있을때 활성 상태를 가지고 접점이 비활성 상태에 있을때 비활성 상태를 가지는 접점에 대해 순간 상태의 신호를 발생시키는 수단(57), 및 상기 접점의 저장 상태를 유지하는 수단(83, 109)와, 상기 순간 상태 신호의 샘플을 반복하여 만들고 상태 신호의 샘플을 발생시키는 수단(81)와, 상기 접점의 저장 상태와 다른 상태를 가지며, 활성 상태를 갖는 샘플에 대해 제1방향으로 카운트하고(99) 비활성 상태를 갖는 샘플에 대해 제2방향으로 카운트하는(123) 제1샘플에 응하여 상기 상태 신호 샘플의 카운트를 시작하는 단계(99, 123)와, 접점의 저장 상태가 활성인 경우에 총수가 비활성 샘플의 미리 예정된 순 총수에 도달하기만 하면 저장 상태를 비활성으로 변화시키는 단계(125)와, 접점의 저장상태가 비활성인 경우에 총수가 활성 상태를 가진 샘플의 미리 예정된 순 총수에 도달하기만 하면 저장 상태를 활성으로 변화시키는 단계(101)로 프로그램화된 디지틀 컴퓨터(63)를 포함함을 특징으로 하는 전기 접점의 활성 상태 및 비활성 상태를 결정하기 위한 장치.
제4항에 있어서, 상기 디지틀 컴퓨터(63)가 접점의 저장 상태와 다른 제1샘플의 일시적인 시간으로서 일시적으로 저장하는 단계(87, 113)와, 상기 접점의 저장상태가 변화할 때 상기 일시적인 시간을 유효시간으로서 기록하는 단계(103, 127)로 프로그램화된 것임을 특징으로 하는 장치.
제5항에 있어서, 상기 디지틀 컴퓨터(63)가 접점의 저장 상태가 활성이고 총수가 활성 상태를 가진 샘플의 상기 미리 예정된 순 총수에 도달했을 때 상기 저장된 일시적인 시간을 제거하는 단계(107)와, 접점의 저장 상태가 비활성이고 상기 총수가 비활성 상태를 가진 샘플의 상기 미리 예정된 순 총수에 도달했을때 상기 저장된 일시적인 시간을 제거하는 단계(131)로 프로그램화 된 것임을 특징으로 하는 장치.
제4항에 있어서, 상기 디지틀 컴퓨터(63)가 접점의 저장 상태가 활성인 경우에 제1출발 총수로 총수(115)를 고정시킴으로써 카운트를 시작하는 단계와, 접점의 저장 상태가 비활성인 경우에 제2출발 총수에서 상기 카운트(89)를 시작하는 단계로 프로그램화된 것임을 특징으로 하는 장치.
제7항에 있어서, 상기 제1카운트는 커지는 방향이고 상기 제2카운트는 작아지는 방향이며, 비활성 상태를 갖는 샘플의 상기 미리 예정된 순 총수는 상기 제1과 제2출발 총수 이하이고 활성 샘플의 미리 예정된 순 총수는 상기 제1과 제2출발 총수 이상이며, 상기 디지틀 컴퓨터(63)는 접점의 저장 상태가 활성이고 총수가 상기 제1출발 총수 이상일 경우 비활성 상태를 갖는 샘플에 응하여 총수를 상기 제1출발 총수로 재고정 시키는 단계(119, 115)와, 상기 접점의 저장 상태가 비활성이고 총수가 상기 제2출발 총수의 이하일 경우 활성 상태를 갖는 샘플에 응하여 총수를 상기 제2출발 총수로 재고정 시키는 단계(95, 89)로 프로그램화 된 것임을 특징으로 하는 장치.
제8항에 있어서, 상기 디지틀 컴퓨터(63)가 저장 접점 상태는 활성이고 총수는 적어도 활성 상태를 가진 샘플의 미리 예정된 순 총수만큼 클 경우에 제1비활성 샘플의 저장 접점 상태와 다른 상태를 가진 제1샘플로 감응하는 단계(111)와, 비활성 샘플의 미리 예정된 순 총수만큼 적은 총수를 가진 저장 상태가 비활성일 경우 활성 상태를 가진 제1샘플로서 감응하는 단계(85)로 프로그램화 된 것임을 특징으로 하는 장치.
제4항에 있어서, 장치가 상기 접점 각각에 대해 순간 상태 신호를 발생시키는 수단(57)을 포함하며, 상기 디지틀 컴퓨터(63)는 상기 각 접점의 저장 상태에 대한 리스트(79, 83, 109)를 유지하고, 상기 각 접점에 대해 분리된 총수(79, 99, 123)를 유지하며, 총수가 접점의 저장 상태와 다른 샘플의 미리 예정된 순 총수에 이르기 위해 각 접점의 저장 상태(79, 101, 125)를 변화시키도록 프로그램화 되었음을 특징으로 하는 장치.
제10항에 있어서, 상기 디지틀 컴퓨터(63)가 접점의 저장 상태와 다른 상기 접점에 대한 제1샘플의 시간을 상기 접점에 대한 일시적인 시간으로서 상기 접점(79, 87, 113) 각각에 대해 일시적으로 저장시키고, 상기 접점의 상태가 변화될 경우, 상기 접점의 상태 변화에 대한 유효 시간으로서 각 접점에 대해 일시적인 시간(179, 103, 127)을 기록하도록 프로그램화 되었음을 특징으로 하는 장치.