KR0167460B1

KR0167460B1 - 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로

Info

Publication number: KR0167460B1
Application number: KR1019920025938A
Authority: KR
Inventors: 신익현
Original assignee: 황선두; 삼성전자주식회사
Priority date: 1992-12-29
Filing date: 1992-12-29
Publication date: 1999-03-20
Also published as: KR940015516A

Abstract

이 발명은 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리회로에 관한 것으로서, 생산 라인에서 제품의 전기적 신호를 측정하여 제품의 양·불량을 판정할 때 접촉단자로 입력된 신호를 증폭하여 증폭된 신호를 아날로그/디지탈 변환기에서 기준값과 비교하여 제품의 양·불량을 판정했는데 종래의 이 방법은 제품불량으로 인해 불량품으로 판정되는 경우도 있지만, 양품인데도 접촉불량으로 인해 불량품으로 판정되는 문제점이 있었기 때문에, 이를 해결하기 위해 접촉단자의 접촉불량의 경우를 체크하는 회로를 첨가하고 이런 경우의 보상회로를 구현하였다. 이 회로의 구성은 연산증폭기와 리플신호를 클램프하는 다이오드로 구성되는 보상회로와, 상기 보상회로에 연결되는 아날로그/디지탈 변환기와, 연산증폭기와 리플신호만을 읽기 위해 제품의 입력신호를 클램프하는 다이오드로 구성되는 접촉단자의 접촉불량 체크회로와, 상기 접촉단자의 접촉불량 체크회로에 연결되고 리플신호의 갯수를 읽는 카운터로 이루어진다.

Description

제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로

제1도는 종래 기술에 따른 제품 검사를 위한 회로의 블럭도.

제2도는 이 발명에 따른 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로의 일실시예를 나타내는 회로도.

제3도는 이 발명의 각 부분에 대한 파형도.

(a)는 접촉단자의 입력파형.

(b)는 보상회로의 출력파형.

(c)는 접촉단자의 접촉불량 체크회로의 출력파형도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

10 : 보상회로 20 : 아날로그/디지탈 변환기

30 : 접촉불량 체크회로 40 : 카운터

OP1, OP2 : 연산증폭기 C1 : 콘덴서

D1~D3 : 다이오드 R1~R9 : 저항

Q : 트랜지스터

이 발명은 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 생산 라인에서 제품의 전기적 신호 측정시 접촉단자의 접촉불량에 의한 신호인지 제품자체의 불량에 의한 신호인지를 분리함으로써 양품이 접촉불량으로 인해 불량품으로 판정되는 것을 막는 제품 검사시 접촉신호와 제품 자체 신호분리 체크회로에 관한 것이다.

종래 제품 검사의 블록도를 제1도에 도시한 바와같이 제품의 전기적 특성을 읽기 위한 접촉단자와, 상기 접촉단자로부터 입력된 소신호를 측정기에서 측정할 수 있는 범위로 증폭하는 증폭기(5)와, 상기 증폭기(5)에 연결되고 증폭기(5)에서 증폭된 신호와 기준값을 비교해서 제품이 불량품인지 양품인지 판단하는 아날로그/디지탈 변환기(20)로 구성되어 있다.

이와같이 구성된 종래 회로는 콘덴서와 같은 제품을 접촉단에서 콘덴서의 전기적 특성을 입력으로 받으면 증폭기(5)에서는 작은 신호를 증폭하여 측정기로 출력한다. 측정기인 아날로그/디지탈변환기(20)에서는 미리 설정된 기준값과 증폭기로부터 입력된 신호를 비교하여 제품의 양·불량을 판정한다.

이 회로는 입력된 신호를 판정하는데는 문제가 없으나 접촉 불량으로 발생하는 잘못된 신호에 대한 처리방법이 미흡하므로 양품의 경우도 접촉불량으로 인해 불량품으로 판정되는 문제점이 있었다.

상기 문제점을 해결하기 위한 이 발명의 목적은 생산 라인에서 제품의 전기적 신호 측정시 접촉불량과 제품자체의 결함의 불분명한 판정으로 양품이 불량품으로 판정되는 것을 막기 위해 접촉신호와 제품자체의 신호를 분리하는 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로를 제공함에 있다.

상기 목적을 달성하기 위한 이 발명의 특징은 접촉단자로부터 입력되는 제품의 전기적 신호에서 제품신호 이외의 리플신호를 클램프하는 보상회로와, 상기 보상회로에 연결되고 보상회로의 출력신호와 기준값을 비교해서 제품의 양·불량을 판정하도록 하는 아날로그/디지탈 변환기와, 상기 접촉단자로부터 입력되는 제품의 전기적 신호인 파형의 음의 부분을 클램프해서 리플값만 읽어내는 접촉단자의 접촉불량 체크회로와, 상기 접촉불량 체크회로에 연결되고 리플수를 헤아려 평균값 이상이면 제품불량이고 평균값 이하이면 접촉불량임을 판단하기 위해 리플수를 카운트하는 카운터로 구성되는 제품 검사시 접촉신호와 제품 신호분리 체크회로에 있다.

이하 이 발명의 바람직한 일실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한면 다음과 같다.

제2도는 이 발명에 따른 제품 검사시 측정단자의 접촉불량 체크회로를 도시한 것으로서 접촉단자로부터 입력되는 제품의 전기적 신호를 보상하기 위한 회로(10)는 반전 증폭하는 연산증폭기(OP1)와, 어노드는 상기 연산증폭기(OP1)의 반전 입력단에 연결되고 캐소드는 연산증폭기(OP1)의 출력단에 연결되는 다이오드(D2)와, 상기 연산증폭기(OP1)의 반전 입력단과 다이오드(D2)사이의 접점에 연결된 저항(R3)과 저항(R4)이 카운터(20)에 연결되고, 상기 다이오드(D2)와 연산증폭기(OP1)의 출력단 사이의 접점에 어노드가 연결되고 캐소드는 상기 저항(R3)과 저항(R4)사이의 접점에 연결되어 있다.

그리고 접촉단자의 접촉불량 체크회로(30)는 상기 접촉단자로부터 입력되는 신호가 비반전 입력단자로 입력되는 연산증폭기(OP2)와, 상기 연산증폭기(OP2)의 출력단에는 다이오드(D3)와 가변저항(R8)이 트랜지스터(Q)의 베이스에 연결되어 있고, 일측단자는 상기 연산증폭기의 반전 입력단에 연결되고 타측단자는 다이오드(D3)의 캐소드에 연결되어 있다. 일측단자는 상기 연산증폭기(OP2)의 입력단과 저항(R6) 사이의 접점에 연결되고 타측단자는 연산증폭기(OP2)의 출력단과 다이오드(D3)사이의 접점에 연결되어 있다. 상기 다이오드(D3)와 저항(R8) 사이의 접점에 저항(R7)이 연결되어 있고, 상기 트랜지스터(Q)의 콜렉터에는 저항(R9)이 연결되며, 상기 트랜지스터(Q)와 저항(R9) 사이의 접점에 카운터(40)가 연결되어 있다.

이와같이 구성된 이 발명의 작용을 설명한다.

제2도를 참조하면, 접촉단자로부터 입력되는 제품인 콘덴서의 전기적 신호는 제3도의 (a)와 같은 파형으로 입력된다. 입력신호는 보상회로(10)에 입력되어 보상되고 아날로그/디지탈변환기(20)로 입력된다. 보상회로(10)에서는 접촉단자로부터 입력된 신호가 연산증폭기(OP1)의 반전 입력단으로 입력되어 입력신호의 반전 파형이 연산증폭기(OP1)의 출력단에 나타난다. 그리고 입력신호인 제3도의 (a)와 같은 파형이 아닌 리플이 심한 파형으로 출력되므로 연산증폭기(OP1)의 출력단에 연결된 다이오드(D1)에서는 리플신호를 없애고 본래의 신호와 같은 파형을 구하기 위해 보상해준다(제3도 (b)), 리플신호는 다이오드(D1)에 의해 클램프되어 아날로그/디지탈 변환기(20)로 입력된다. 아날로그/디지탈 변환기(20)에서는 미리 설정한 기준값과 비교하여 출력하면 제품의 양·불량을 마이크로 컴퓨터에서 판정한다.

또한, 접촉단자의 접촉불량 체크회로(30)에서는 접촉단자로부터 입력된 신호를 입력으로 받아 입력된 신호의 리플수를 체크해서 카운터(40)에서 카운트하도록 한다. 마이크로컴퓨터 시스템에서 리플수의 평균값을 기준으로 입력된 신호의 리플수가 평균값 이상이면 제품의 불량으로 판정하고, 평균값 이하이면 접촉불량으로 판정하게 된다.

여기서 접촉단자의 접촉불량 체크회로의 동작은, 접촉단자로부터 입력된 신호가 연산증폭기(OP2)의 비반전 입력단으로 입력된다. 연산증폭기(OP2)의 출력신호는 입력신호와 같으므로 다이오드(D3)에 의해 음(-)의 부분이 클램프되면 제3도의 (c)와 같이 리플신호만 최종적으로 출력되어 카운터로 입력된다.

이상에서 설명한 바와같이 이 발명에 따른 제품 검사시 측정단자의 접촉불량 체크회로에 의하면, 측정기에서 제품의 합, 부를 판정하기 이전 제품 고유의 신호와 측정단자간의 영향을 사전에 분석하기 때문에 접촉에 관련된 불량인지 제품자체의 결함인지를 미연에 체크하여 보다 발전된 검사방법이 될 수 있는 효과가 있다.

Claims

접촉단자로부터 입력되는 제품의 전기적 신호에서 제품신호 이외의 리플신호를 클램프하는 보상회로(10)와, 상기 보상회로(10)에 연결되고 보상회로(10)의 출력신호와 기준값을 비교해서 제품의 양·불량을 판정하도록 하는 아날로그/디지탈 변환기(20)와, 상기 접촉단자로부터 입력되는 제품의 전기적 신호인 파형의 음의 부분을 클램프해서 리플값만 읽어내는 접촉단자의 접촉불량 체크회로(30)와, 상기 접촉불량 체크회로에 연결되고 리플수를 헤아려 평균값이상이면 제품불량이고 평균값 이하이면 접촉불량임을 판단하기 위해 리플수를 카운트하는 카운터(40)로 구성된 것을 특징으로 하는 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로.
제1항에 있어서, 상기 보상회로(10)는 반전 입력단에는 접촉단자의 신호가 저항(R2)을 통해 입력되고 비반전 입력단에는 저항(R1)을 통해 접지되어 입력신호를 반전 증폭하는 연산증폭기(OP1)와, 어노드는 상기 연산증폭기(OP1)의 반전 입력단에 연결되고 캐소드는 상기 연산증폭기(OP1)의 출력단에 연결되는 다이오드(D2)와, 상기 연산증폭기(OP1)의 반전 입력단과 다이오드(D2)사이의 접점에 연결된 저항(R3)과 저항(R4)과, 어노드는 상기 연산증폭기(OP1)의 출력단과 다이오드(D2)의 캐소드가 만나는 접점에 연결되고 캐소드는 저항(R3)과 저항(R4)사이의 접점에 연결되고 정류하는 다이오드(D1)로 구성되는 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로.
제1항에 있어서, 상기 접촉단자의 접촉불량 체크회로(30)는 비반전 입력단으로 접촉단자의 신호가 입력되는 연산증폭기(OP2)와, 상기 연산증폭기(OP2)의 출력단에 연결된 다이오드(D3)와, 상기 다이오드(D3)의 캐소드는 저항(R8)을 거쳐 연결된 트랜지스터(Q1)와, 상기 연산증폭기(OP2)의 반전 입력단과 다이오드(D3)의 캐소드에 연결된 저항(R6)과, 일측단자는 상기 연산증폭기(OP2)의 반전 입력단과 저항(R6)사이의 접점에 연결되고 타측단자는 연산증폭기(OP2)의 출력단에 연결된 콘덴서(C1)로 구성된 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로.
제3항에 있어서, 상기 저항(R8)은 가변저항으로 된 것을 특징으로 하는 제품 검사시 접촉신호와 제품자체의 신호분리 체크회로.