KR0166242B1 - Hoe tilt inspection device of optical pick-up base - Google Patents
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Abstract
본 발명은 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것으로, 특히 홀로그램소자설치부에 삽입되는 패럴렐 미러가 레이저로부터 발광된 레이저빔을 전반사시켜 좌표판에 도달되게 함으로써 홀로그램소자설치부의 틸트각을 간단히 측정하여 감사할 수 있는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a hologram element mounting unit tilt inspection apparatus of an optical pickup base, and in particular, a parallel mirror inserted into the hologram element mounting unit totally reflects the laser beam emitted from the laser to reach the coordinate plate. It relates to a tilt inspection apparatus of the holographic element installation unit of the optical pickup base that can be easily measured and audited.
Description
제1도는 광픽업 베이스의 평면도.1 is a plan view of an optical pickup base.
제2도는 광픽업 베이스의 측면도.2 is a side view of the optical pickup base.
제3도는 레이저를 정렬시키는 것을 보여주는 정면도.3 is a front view showing alignment of the laser.
제4도(a), (b)는 패럴렐미러의 정면도 및 이의 단면도.(A), (b) is a front view of a parallel mirror and its sectional drawing.
제5도는 레이저를 정렬시킬 때 사용되는 직각프리즘의 사시도.5 is a perspective view of a rectangular prism used when aligning a laser.
제6도는 레이저에 부착되는 좌표판의 정면도.6 is a front view of a coordinate plate attached to a laser.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
11 : 홀로그램소자설치부 12 : 패럴렐미러11: hologram element installation unit 12: parallel mirror
20 : 메인 베이스 21 : 보스20: main base 21: boss
42 : 좌표판 50 : 직각프리즘42: coordinate plate 50: right angle prism
본 발명은 광픽업 베이스의 홀로그램소자(HOLOGRAPHIC OPTICAL ELEMENT)설치부 틸트검사장치에 관한 것으로, 특히 광픽업 베이스의 미러부착면에 평행광을 입사시키기 위해 홀로그램소자설치부에 삽입되는 패럴렐 미러가 레이저로부터 발광된 레이저빔을 전반사시켜 좌표판에 도달되게 함으로써 홀로그램소자설치부의 틸트각을 간단히 측정하여 검사할 수 있는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a holographic element mounting part tilt inspection device of an optical pickup base. In particular, a parallel mirror inserted into the hologram element installation part for injecting parallel light to the mirror attachment surface of the optical pickup base is provided from a laser. The present invention relates to a holographic element mounting unit tilt inspection apparatus of an optical pickup base capable of simply measuring and inspecting the tilt angle of the hologram element mounting unit by totally reflecting the emitted laser beam to reach the coordinate plate.
일반적으로, 광픽업 베이스는 알루미늄이나 아연을 주재료로 다이캐스팅하여 제작하였으나, 알루미늄재 광픽업 베이스는 가볍고, 비용이 적게 드는 대신에 열처리후 소정치수로 후가공을 정밀하게 하였기 때문에 금형제조시에만 정밀하게 측정하여 검사하였다.In general, the optical pick-up base is manufactured by die-casting aluminum or zinc as the main material, but the optical pick-up base of aluminum is light and inexpensive. The test was carried out.
반면에, 아연재 광픽업 베이스는 제품특성상 알루미늄재 광픽업 베이스에 비하여 치수안정성이 우수(후가공이 필요없음을 의미함)하나 무거운 단점이 있고, 고열·고압으로 가공하여 큰 잔존응력을 제거하기 위하여 수개월동안 방치한 후 다시 풀림 열처리를 하여 사용하였으나 후가공을 하지 않기 때문에 검사가 필요하였다.On the other hand, zinc-based optical pick-up base has superior dimensional stability (meaning no need for post-processing) compared to aluminum-based optical pick-up base due to its characteristics, but has a heavy disadvantage, and is processed to remove large residual stress by processing at high temperature and high pressure After being left for several months, the annealing heat treatment was used again, but no post-processing was required.
제1도 (a), (b)에 도시된 바와같이, 광픽업 베이스(a)의 홀로그램소자설치부(b)는 홀로그램소자(HOE)가 삽입되는 곳으로서, 이를 통해 입사된 레이저 빔은 미러부착면(c)에 부착된 풀 미러로 평행하게 입사된다.As shown in FIG. 1 (a), (b), the hologram element mounting portion (b) of the optical pick-up base (a) is the place where the hologram element (HOE) is inserted, the laser beam incident through the mirror It enters in parallel with the full mirror attached to the attachment surface c.
그러나, 홀로그램소자설치부(b)가 틸트되어 있는 경우, 레이저 빔이 풀 미러에 반사된 후 대물렌즈가 디스크에 빔을 제대로 포커싱시키지 못하므로 레이저 빔이 코마(COMA)를 유발하여 큰 수차를 산출하게 되고, 결국에는 조립제품에 큰 악영향을 미치게 된다.However, when the hologram element mounting portion (b) is tilted, since the objective lens does not properly focus the beam on the disk after the laser beam is reflected on the full mirror, the laser beam causes a coma, resulting in large aberration. In the end, it will have a big negative effect on the assembled product.
따라서, 본 발명은 홀로그램소자가 취부되는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부에 패럴렐 미러를 설치하여 소정의 레이저 빔의 파장을 전반사시키고, 반사된 레이저 빔이 좌표판에 도달되는 것을 보고 합격 또는 불합격을 판단함으로써 제품의 홀로그램소자설치부의 틸트를 용이하게 검사할 수 있는 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치를 제공하는 것이 목적이다.Therefore, in the present invention, a parallel mirror is installed on the hologram element mounting portion of the optical pickup base on which the hologram element is mounted, total reflection of the wavelength of a predetermined laser beam, and the result of passing or failing when the reflected laser beam reaches the coordinate plate is determined. It is an object of the present invention to provide a hologram element mounting portion tilt inspection apparatus of an optical pickup base that can easily inspect the tilt of the hologram element mounting portion of a product by judging.
상기의 이와 같은 목적은 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치를 광픽업 베이스를 지지하도록 상면에 한쌍의 보스를 형성하고, 보스에 지지된 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부에 탄성적으로 삽입되도록 스프링으로 지지되어 있는 패럴렐 미러와, 패럴렐 미러를 홀로그램소자설치부로 이동시켜 장착하는 에어실린더와, 패럴렐 미러에 레이저 빔을 방출하도록 삼차원조정되게 스테이지에 설치된 레이저와, 레이저의 전방에 설치되어 패럴렐 미러에 반사된 레이저 빔이 도달되어 제품의 홀로그램소자설치부의 틸트각이 공차범위내에 있는지를 표시해주는 좌표판의 구성함으로써 달성된다.The above object is to form a pair of bosses on the upper surface of the optical pickup base holographic element installation unit tilt inspection apparatus of the present invention to support the optical pickup base, burned in the hologram element installation unit of the optical pickup base supported by the boss A parallel mirror supported by a spring to be inserted sexually, an air cylinder for moving the parallel mirror to the hologram element mounting portion, a laser mounted on the stage so that the parallel mirror emits a laser beam, and installed in front of the laser The laser beam reflected by the parallel mirror is reached to achieve the configuration of the coordinate plate indicating whether the tilt angle of the hologram element mounting portion of the product is within the tolerance range.
이하, 본 발명의 구성을 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the configuration of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제2도에 도시된 바와같이, 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트 검사장치는 광픽업 베이스(10)가 끼워져서 회전되지 않도록 한쌍의 보스(21)가 메인 베이스(20)의 상면(22)에 형성되어 있다.As shown in FIG. 2, in the holographic element mounting unit tilt inspection apparatus of the optical pick-up base of the present invention, a pair of bosses 21 are disposed on the upper surface of the main base 20 so that the optical pick-up base 10 is not inserted and rotated. It is formed at 22.
상기 광픽업 베이스(10)는 패럴렐미러(31)를 이송하는 에어실린더(30)가 설치되고, 또한 광픽업 베이스(10)에 레이저를 발광시키는 레이저(40)가 설치되어 있다.The optical pickup base 10 is provided with an air cylinder 30 for transporting the parallel mirror 31, and a laser 40 for emitting a laser to the optical pickup base 10.
제3도에 도시된 바와같이, 보스(21)에 끼워진 광픽업 베이스(10)에 레이저 빔을 방출하도록 메인 베이스(20)의 단턱부(23)에 설치되 있는 스테이지(41)에 삼차원으로 조정되도록 고정된 레이저(40)가 보스(21)에 소정간격으로 이격 설치되 있고, 이의 전방부에 방출된 레이저 빔이 홀로그램소자설치부(11)에 설치된 패럴렐 미러(12)에 반사되어 되돌아올 때 홀로그램소자설치부(11)가 소정의 틸트 각 범위내에 있는지를 표시해주는 좌표판(42)이 레이저(40)의 전방에 부착되 있다.As shown in FIG. 3, three-dimensional adjustment is performed on the stage 41 installed on the stepped portion 23 of the main base 20 so as to emit a laser beam to the optical pickup base 10 fitted to the boss 21. When the laser 40 fixed so as to be spaced apart from the boss 21 at predetermined intervals, and the laser beam emitted in the front portion thereof is reflected back to the parallel mirror 12 installed in the hologram element mounting portion 11 A coordinate plate 42 which indicates whether the hologram element mounting portion 11 is within a predetermined tilt angle range is attached to the front of the laser 40.
제4도 (a), (b)에 도시된 바와같이, 패럴렐 미러(12)는 에어실린더(30)에 의해 이동될 때 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 탄성적으로 접촉되어 조립되도록 판스프링(16)에 의해 에어실린더(30)에 고정된 지지체(15)에 매달려 있게 지지되 있다.As shown in FIGS. 4A and 4B, the parallel mirror 12 is elastically mounted to the hologram element mounting portion 11 of the optical pickup base 10 when moved by the air cylinder 30. It is supported by being suspended from the support 15 fixed to the air cylinder 30 by the leaf spring 16 to be contacted and assembled.
그리고, 패럴렐 미러(12)의 웨지(WEDGE)는 5초 이하로 형성되 있고, 레이저 빔이 입사되는 하면부(13)는 레이저(40)의 파장에서 100% 반사가 일어나도록 코팅되었으며, 홀로그램소자설치부(11)에 끼워지는 패럴렐 미러(12)의 상면이 조립면에 먼저 닿지 않게 높게 설계되 있다. 즉, 홀로그램소자설치부(11)의 기준면에 끼워지는 상면부(14)는 코팅된 하면부(13)의 상면이 접촉되지 않도록 상면부(14)의 하부와 하면부(14)의 상부사이에 경사부(15)가 형성되 있다.In addition, the wedge (WEDGE) of the parallel mirror 12 is formed in 5 seconds or less, and the lower surface 13 to which the laser beam is incident is coated so that 100% reflection occurs at the wavelength of the laser 40, and the hologram device is installed. The upper surface of the parallel mirror 12 fitted to the portion 11 is designed so as not to touch the assembly surface first. That is, the upper surface portion 14 fitted to the reference surface of the hologram element mounting portion 11 is disposed between the lower portion of the upper surface portion 14 and the upper portion of the lower surface portion 14 so that the upper surface of the coated lower surface portion 13 does not contact. The inclined portion 15 is formed.
한편, 메인 베이스(20)의 상면에 형성된 한쌍의 보스(21)와 메인 베이스(20)가 수직을 이루고 있을 때 레이저 빔이 수평으로 방출되는 것을 조정하기 위하여 각 면이 초(SEC) 단위로 조정된 마스터프리즘을 필요로 한다.On the other hand, when the pair of bosses 21 formed on the upper surface of the main base 20 and the main base 20 are perpendicular to each other, each surface is adjusted in seconds (SEC) units to adjust the laser beam emitted horizontally. Requires master prisms.
제5도에 도시된 바와같이, 마스터프리즘은 직각프리즘(50)으로 형성되 있고, 레이저 빔이 입사되는 직각면(51)의 반대측인 변부면의 모서리가 보스(21)에 접촉되어 지지되도록 직각면(51)과 평행하게 작은 직각면(52)이 형성되 있다.As shown in FIG. 5, the master prism is formed of a rectangular prism 50, and the rectangular prism is formed such that the edges of the side faces opposite to the rectangular plane 51 on which the laser beam is incident are contacted and supported by the boss 21. As shown in FIG. A small perpendicular surface 52 is formed in parallel with 51.
제6도에 도시된 바와 같이, 좌표판(42)의 합격라인거리 X는 광픽업 베이스(10)의 설계공차에 따라 레이저와 홀로그램소자설치부(11)까지의 거리 L를 계산한 다음 허용틸트각(θ)의 탄젠트값을 곱해주면 정해진다. 즉, tan θ = X/L이 된다.As shown in FIG. 6, the pass line distance X of the coordinate plate 42 calculates the distance L between the laser and the hologram element mounting unit 11 according to the design tolerance of the optical pickup base 10, and then the allowable tilt. It is determined by multiplying the tangent of the angle θ. That is, tan θ = X / L.
그리고, 패럴렐 미러(12)를 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)에 삽입시키도록 패럴렐 미러(12)를 지지하는 에어실린더(30)가 메인 베이스(20)의 상면(22)에 설치되 있다. 미설명부호 43은 레이저 빔이 통과되는 구멍이다.The air cylinder 30 supporting the parallel mirror 12 to insert the parallel mirror 12 into the hologram element mounting portion 11 of the optical pickup base 10 includes an upper surface 22 of the main base 20. It is installed on. Reference numeral 43 is a hole through which the laser beam passes.
이하, 본 발명의 작용·효과를 첨부도면에 의거하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the operation and effects of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
메인 베이스(20)의 상면(22)에 형성된 한 쌍의 보스(21)에 한쪽이 절단된 직각프리즘(각 면이 초(SEC)단위로 만들어진 마스터프리즘임)(50)을 보스(21)에 접촉시키고, 이의 직각면(51)이 레이저(40)를 향하게 한 다음 레이저(40)를 발광시키면, 레이저빔이 직각프리즘(50)의 직각면(51)에 입사된 후 다시 100% 반사되어 발광소스인 레이저(40)로 되돌아오도록 스테이지(41)에 설치된 레이저(40)를 삼차원으로 조정시켜 세팅시킨다.The boss 21 has a rectangular prism (one of which is a master prism made of a second (SEC) unit) 50 having one side cut to a pair of bosses 21 formed on the upper surface 22 of the main base 20. After contacting the light, the right angle 51 faces the laser 40 and then emits the laser 40. The laser beam is incident on the right angle 51 of the right angle prism 50 and then reflected 100% again to emit light. The laser 40 provided in the stage 41 is adjusted in three dimensions so as to return to the source of the laser 40.
즉, 레이저(40)를 한쌍의 보스(21)에 대해 직각으로 세팅시킨다.That is, the laser 40 is set at right angles to the pair of bosses 21.
이와같이 레이저(40)가 세팅되었을 때, 레이저(40)에 좌표판(42)을 붙이고, 광픽업 베이스(10)를 메인 베이스(20)의 상면(22)에 올려놓아 세팅시키면, 광픽업 베이스(10)는 한 쌍의 보스(21)에 끼워지기 때문에 회동되지 않게 된다.When the laser 40 is set in this way, the coordinate plate 42 is attached to the laser 40, and the optical pickup base 10 is placed on the upper surface 22 of the main base 20 to be set. 10) is not rotated because it is fitted to the pair of bosses 21.
그리고, 에어 실린더(30)로 패럴렐 미러(12)를 이동시켜 홀로그램소자설치부(11)에 상면부(14)를 끼울 때 판스프링(16)에 의해 지지체(17)에 매달려있게 지지되어 있는 패럴렐 미러(12)는 탄성적으로 결합된다.Then, the parallel mirror 12 is moved to the air cylinder 30 to parallelly hold the upper surface portion 14 to the hologram element mounting portion 11. The parallel spring supported by the spring 17 is suspended from the support 17. The mirror 12 is elastically coupled.
이와같이, 광픽업 베이스(10)를 메인 베이스(20)에 세팅시킨 후 클램핑장치(도시되지 않음)로 광픽업 베이스(10)를 눌러서 고정시킨다.As such, after setting the optical pickup base 10 to the main base 20, the optical pickup base 10 is pressed and fixed with a clamping device (not shown).
그리고, 레이저(40)를 발광시키면 발광된 레이저 빔이 패럴렐 미러(12)의 코팅면에 100% 반사되어 레이저(40)의 전방에 부착된 좌표판(42)으로 반사된다.When the laser 40 is emitted, the emitted laser beam is reflected to the coating surface of the parallel mirror 12 by 100% and reflected by the coordinate plate 42 attached to the front of the laser 40.
이때, 좌표판(42)의 합격라인내에 도달하는지를 확인하여 합격 또는 불합격을 판단한다.At this time, it is checked whether it reaches the pass line of the coordinate board 42, and it judges pass or fail.
상기 좌표판(42)의 합격라인거리 X를 벗어나는 경우 탄젠트각을 계산하면 홀로그램소자설치부(11)의 틸트각이 어느정도인지를 판단할 수 있다.If the tangent angle is calculated when the pass line distance X of the coordinate plate 42 is out of the range, it may be determined how much the tilt angle of the hologram element mounting unit 11 is.
만일 틸트각이 큰 경우 디스크를 읽는 빔이 코마(COMA)를 유발(대수차를 산출)하므로 제품에 큰 악영향을 미친다.If the tilt angle is large, the beam that reads the disc causes a coma (produces algebra), which greatly affects the product.
이와같이 구성되어 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11) 틸트각을 측정하는 본 발명의 광픽업 베이스의 홀로그램소자설치부 틸트검사장치는 광픽업 베이스(10)의 회전을 방지하는 보스(21)와, 상기 보스(21)에 끼워진 광픽업 베이스(10)를 상부로부터 눌러서 메인 베이스(20)에 고정하는 클램핑장치와, 레이저 빔을 수평으로 발광시키도록 삼차원으로 조정되게 설치된 레이저(40)와, 반사된 레이저 빔이 표시되도록 상기 레이저(40)의 전방에 부착된 좌표판(42)과, 상기 레이저(40)를 수평으로 조정하도록 보스(21)에 지지되는 부분이 직각면(51)과 평행하게 형성된 직각프리즘(50)으로 구성하여 상기 광픽업 베이스(10)의 홀로그램소자설치부(11)의 정확한 틸트각을 측정할 수 있고, 틸트각의 합격, 불합격을 판단히는 시간을 단축시키며, 간편하게 사용할 수 있는 효과를 갖는 유용한 검사장치이다.The hologram element mounting unit tilt inspection apparatus of the optical pick-up base of the present invention configured to measure the tilt angle of the hologram element mounting unit 11 of the optical pick-up base 10 includes a boss for preventing rotation of the optical pick-up base 10 ( 21, a clamping device for pressing the optical pick-up base 10 fitted to the boss 21 from the top and fixed to the main base 20, and a laser 40 installed to be adjusted in three dimensions so as to emit a laser beam horizontally. And a coordinate plate 42 attached to the front of the laser 40 so that the reflected laser beam is displayed, and a portion supported by the boss 21 to adjust the laser 40 horizontally at right angles 51. By configuring the right angle prism 50 formed in parallel with the optical pick-up base 10 can measure the exact tilt angle of the hologram element mounting portion 11, and shorten the time for determining the pass and reject of the tilt angle Easy to use It is a useful diagnostic apparatus having an effect.
Claims (4)
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| KR1019950043821A KR0166242B1 (en) | 1995-11-27 | 1995-11-27 | Hoe tilt inspection device of optical pick-up base |
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| KR970029435A KR970029435A (en) | 1997-06-26 |
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Family Applications (1)
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| KR970029435A (en) | 1997-06-26 |
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