KR0155157B1 - Transfer method and apparatus - Google Patents

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KR0155157B1
KR0155157B1 KR1019900009189A KR900009189A KR0155157B1 KR 0155157 B1 KR0155157 B1 KR 0155157B1 KR 1019900009189 A KR1019900009189 A KR 1019900009189A KR 900009189 A KR900009189 A KR 900009189A KR 0155157 B1 KR0155157 B1 KR 0155157B1
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카쓰미 이시이
요시토쿠 모치즈키
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카자마 젠쥬
도오교오 에레구토론 사가미 가부시끼가이샤
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Abstract

내용없음.None.

Description

반송방법 및 반송장치Transfer Method and Transfer Device

제1도는, 본 발명의 1 실시예를 설명하기 위한 종형 열처리 장치를 나타낸 사시도.1 is a perspective view showing a vertical heat treatment apparatus for explaining an embodiment of the present invention.

제2도는, 제1도의 수평 수직 변환 반송 장치의 요부를 나타낸 사시도.FIG. 2 is a perspective view showing the main parts of the horizontal-vertical conversion conveying apparatus of FIG. 1. FIG.

제3도는, 제2도의 Ⅲ-Ⅲ선에 따른 단면도.3 is a cross-sectional view taken along line III-III of FIG.

제4도는, 제2도의 Ⅳ-Ⅳ선에 따른 단면도.4 is a cross-sectional view taken along the line IV-IV of FIG.

제5도는, 제2도의 Ⅴ-Ⅴ선에 따른 단면도.5 is a cross-sectional view taken along the line VV of FIG. 2.

제6도는, 상부 보우트 핸드의 일부 절결 평면도.6 is a partially cutaway plan view of the upper boat hand.

제7도는, 하부 보우트 핸드의 일부 절결 평면도.7 is a partially cutaway plan view of the lower bolt hand.

제8도는, 본 발명의 다른 실시예를 설명하기 위한 멀티 챔버형 CVD 장치의 구성을 나타낸 도면.8 is a diagram showing the configuration of a multi-chamber type CVD apparatus for explaining another embodiment of the present invention.

제9도는, 본 발명의 또 다른 실시예를 설명하기 위한 레지스트 처리장치의 구성을 나타낸 도면.9 is a diagram showing the configuration of a resist processing apparatus for explaining another embodiment of the present invention.

제10도 및 제11도는, 반송아암의 변경예를 각각 나타낸 개략 평면도이다.10 and 11 are schematic plan views each showing a modification of the carrier arm.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1a 내지 1d : 상자체 2 : 크린룸1a to 1d: box 2: clean room

3 : 메인티넌스룸 4 : 웨이퍼 보우트3: Maintenance Room 4: Wafer Boat

4a : 위쪽 지지부 4b : 아래쪽 지지부4a: upper support 4b: lower support

4c : 플랜지부 5 : 이동적재장치4c: flange portion 5: mobile loading device

6 : 보우트 라이너 7 : 수평수직 변환 반송장치6: boat liner 7: horizontal and vertical conversion conveying device

12,32,112 : 기초부 14,34,114 : 로우터리 엑츄에이터12,32,112: Foundation 14,34,114: Rotary Actuator

16,36,116 : 샤프트 18,38 : 스톱퍼16,36,116 Shaft 18,38 Stopper

22,42 : 핸드본체 24a,24b,44a,44b : 오목부22, 42: hand body 24a, 24b, 44a, 44b: recessed portion

26,46 : 호울더 60 : 반송로26,46: holder 60: return path

61a,61b : 보우트 지지기구 62a,62b : 보우트 지지부61a, 61b: bolt support mechanism 62a, 62b: bolt support

70 : 기본대 71 : 가동대70: basic stage 71: movable platform

72 : 지주 73 : 변환아암72: prop 73: conversion arm

75 : 상부 보우트 핸드 76 : 하부 보우트 핸드75: upper boat hand 76: lower boat hand

77a,77b,78a,78b : 걸어멈춤부 79a,79b,79a' : 플랜지 걸어멈춤부77a, 77b, 78a, 78b: Hanging part 79a, 79b, 79a ': Flange hanging part

101 : 웨이퍼 반송실 102 : 웨이퍼 카셋트101: wafer transfer chamber 102: wafer cassette

103 : 로우드록실 104 : 챔버103: lock lock chamber 104: chamber

105,107 : 반송아암 105a,107a : 접촉부위105,107: Carrying arm 105a, 107a: Contact area

106 : 반도체 웨이퍼 122 : 앞끝단판106: semiconductor wafer 122: front end plate

124 : 오목부 128,134 : 웨이퍼 접촉부위124: recess 128,134: wafer contact region

132 : 아암본체 138 : 슬릿132: arm body 138: slit

144 : 슬라이드판 146 : 왕복 실린더144: slide plate 146: reciprocating cylinder

148 : 실린더 로드 152 : 바아148: cylinder rod 152: bar

154 : 핀 201 : 반송장치154: pin 201: conveying device

202 : 레지스트 도포장치 203 : 베이킹 장치202: resist coating apparatus 203: baking apparatus

204 : 노출장치 205 : 현상장치204: exposure apparatus 205: developing apparatus

본 발명은, 반송방법 및 반송장치에 관한 것이다.The present invention relates to a conveying method and a conveying apparatus.

근래에, 반도체장치는 급속하게 고집적화되고 있으며, 그 회로패턴은 미세화 되고 있다.In recent years, semiconductor devices are rapidly becoming highly integrated, and their circuit patterns are miniaturized.

이와같은 미세한 회로패턴 형성에 있어서는, 먼지의 존재가 큰 문제가 되기 때문에, 제조공정에 있어서는 분위기중의 먼지량을 될 수 있는 대로 적게 하는 노력이 행하여지고 있다.In the formation of such a fine circuit pattern, since the presence of dust is a big problem, efforts have been made to reduce the amount of dust in the atmosphere as much as possible in the manufacturing process.

그래서, 반도체 제조공정에 있어서는, 먼지 발생원이 되는 작업원의 수를 될 수 있는 대로 적게 하는 무인화가 진행되고 있으며, 예를들면, 반도체 웨이퍼, 웨이퍼 보우트, 액정 표시기용 기판 등의 반송에도 로봇 기술을 이용한 반송장치가 다수 이용되고 있다.Therefore, in the semiconductor manufacturing process, unmanning is being carried out to reduce the number of workers as dust sources as much as possible. For example, robot technology is also used to convey semiconductor wafers, wafer boats, and substrates for liquid crystal displays. Many used conveying apparatuses are used.

즉, 이와같은 반송장치로는, 예를들면, 진공척을 갖춘 지지아암으로 반도체웨이퍼를 지지하거나, 소정의 간격을 마련하여 배치된 2개의 지지핸드에 의하여 석영제의 웨이퍼 보우트의 양끝단을 걸어멈춤하여 지지하거나 하여 반송을 행한다.That is, as such a conveying apparatus, for example, the semiconductor wafer is supported by a support arm provided with a vacuum chuck, or both ends of the quartz wafer boat are held by two support hands arranged at predetermined intervals. It stops and supports, and conveys.

그렇지만, 본 발명자 등이 상세히 조사한 바로는, 이와같은 반송장치 가운데, 예를들면, 반도체 웨이퍼, 웨이퍼 보우트, 액정표시기용 기판등의 피처리물을 다수의 상이한 공정, 예를들면 CVD막 형성공정과 산화막 형성공정, 혹은 레지스트 도포공정과 현상공정등으로 반송하는 반송장치에 있어서는, 예를들면 지지아암이나 핸드등에 있어서의 피처리물과의 접촉부에, 각 공정에서 사용되는 약제, 생성물등이 부착하여, 다른 공정에서 이러한 물질이 오염물로서 유입되는, 이른바 상호 오염이 발생하고 있는 것이 판명되었다.However, the inventors have investigated in detail such materials, such as semiconductor wafers, wafer boats, substrates for liquid crystal displays, and the like in a number of different processes, such as CVD film forming processes. In the conveying apparatus conveyed by an oxide film forming process, a resist coating process, or a developing process, the chemical agent, product, etc. which are used at each process adhere to the contact part with the to-be-processed object in a support arm, a hand, etc. It has been found that so-called cross-contamination is occurring, in which these substances are introduced as contaminants in other processes.

본 발명은 이러한 종래의 사정에 대처하여 이루어지게 된 것으로 종류가 다른 공정간의 상호 오염의 발생을 방지할 수 있는 반송방법 및 장치를 제공하려고 하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a conventional situation, and an object thereof is to provide a conveying method and apparatus capable of preventing cross contamination between different types of processes.

본 발명의 반송방법은, 피처리물을 복수의 상이한 처리공정으로 반송하기 위하여 이 피처리물을 지지하는 지지기구에 있어서, 상이한 처리공정마다 상기 피처리물과 상기 지지기구와의 접촉부위를 변경하는 것을 특징으로 한다.The conveying method of this invention is a support mechanism which supports this to-be-processed object in order to convey a to-be-processed object to a several different process process WHEREIN: The contact part of the to-be-processed object and said support mechanism is changed for every different process process. Characterized in that.

이 방법은, 예를들면, 웨이퍼 보우트를 위한 수평수직 변환 반송장치, 웨이퍼 보우트를 위한 보우트 라이너(Liner), 웨이퍼의 반송아암등에 있어서 응용이 가능해진다.This method can be applied to, for example, a horizontal and vertical conversion transfer apparatus for a wafer boat, a boat liner for a wafer boat, a transfer arm of a wafer, and the like.

본 발명의 반송장치는, 웨이퍼 보우트를 위한 수평수직 변환 반송장치로서, 대체로 수직인 평면 내에서 적어도 90도 회전이 가능한 아암수단과, 아암수단의 한 끝단부에 형성된 상부핸드수단과, 상기 상부핸드수단이 수평 및 수직 겸용의 복수의 보우트 접촉부위를 가지고 있는 것과, 상기 상부핸드수단이, 상기 복수의 보우트 접촉 부위의 위치를 상호간에 전환할 수 있도록 회전이 가능한 것과, 아암수단의 다른 끝단부에 형성된 하부핸드수단과, 상기 하부핸드수단이 수평용의 복수의 보우트 접촉부위 및 수직용의 복수의 보우트 접촉부위를 가지는 것과, 상기 상부핸드수단이 상기 수평용 및 수직용의 복수의 보우트 접촉부위의 위치를 상호간에 전환할 수 있도록 회전이 가능한 것을 구비하는 것을 특징으로 한다.The conveying apparatus of the present invention is a horizontal and vertical conversion conveying apparatus for a wafer boat, comprising: arm means capable of rotating at least 90 degrees in a generally vertical plane, an upper hand means formed at one end of the arm means, and the upper hand The means having a plurality of horizontal and vertical boat contact portions, the upper hand means being rotatable to switch positions of the plurality of boat contact portions to each other, and at the other end of the arm means. The lower hand means formed, the lower hand means having a plurality of horizontal boat contact portions and the vertical plurality of bolt contact portions, and the upper hand means having a plurality of horizontal and vertical bolt contact portions. It is characterized in that it is provided with a rotatable so as to switch between positions.

상기 구성의 본 발명에서는, 피처리물을 반송하는 공정에 따라서, 적어도 피처리물을 지지하는 지지기구의 피처리물과의 접촉부위를 변경한다.In this invention of the said structure, the contact part with the to-be-processed object of the support mechanism which supports a to-be-processed object is changed according to the process of conveying a to-be-processed object.

따라서, 피처리물과의 접촉에 의하여, 피처리물을 지지하는 지지기구에 부착하는 약제, 생성물 등에 의한 다른 종류의 공정 간의 상호 오염의 발생을 방지 할 수가 있다.Therefore, the contact with the workpiece can prevent the occurrence of cross contamination between different kinds of processes by drugs, products, and the like that adhere to the support mechanism for supporting the workpiece.

[실시예]EXAMPLE

상자체(1a) 내지 (1d) 내에는, 각각 예를들면, 석영 등으로 원통형상으로 구성된 반응관 및 그 주위를 둘러싸도록 설치된 히이터, 균열관(均熱管), 단열재등으로 구성된 반응로(反應爐)(도시하지 않음)가 거의 수직으로 배열설치되어 있다.Inside the boxes 1a to 1d, for example, a reaction tube composed of a cylindrical shape made of quartz or the like, and a reactor composed of a heater, a crack tube, a heat insulating material, etc., installed to surround the periphery thereof. Iii) (not shown) are arranged almost vertically.

반응로의 하부에는 반응로 내에 피처리물, 예를들면, 웨이퍼 보우트 상에 배열된 반도체 웨이퍼를 로우드·언로우드 하기 위한 기구로서 보우트 엘리베이터(도시하지 않음)가 설치되어 있다.In the lower part of the reactor, a boat elevator (not shown) is provided as a mechanism for rolling and unloading a workpiece, for example, a semiconductor wafer arranged on a wafer boat.

상자체(1a) 내지 (1d)는, 예를들면, 크린룸(2)과 메인티넌스룸(3)과의 경계에 따라서 일렬로 복수개, 예를들면 4개가 나란하게 배열되어 있다.For example, the boxes 1a to 1d are arranged side by side, for example, four in parallel along the boundary between the clean room 2 and the maintenance room 3.

또한, 상자체(1a) 내지 (1d)의 전방, 즉 크린룸(2) 내에는 웨이퍼 카셋트 내에 수용된 반도체 웨이퍼를 제2도에 나타낸 것 같이 웨이퍼 보우트(4)상에 옮겨 얹어 놓기 위한 이동적재장치(5), 이 웨이퍼 보우트(4)를 각 상자체(1a) 내지 (1d)의 전방으로 반송하는 반송기구로서 보우트 라이너(6), 이동적재장치(5)로부터 웨이퍼 보우트(4)를 반송하여 보우트 라이너(6) 상에 거의 수직으로 얹어놓는 기구로서 수평수직 변환 반송장치(7)가 설치되어 있다.Further, in front of the boxes 1a to 1d, i.e., in the clean room 2, a mobile stacking device for placing and placing the semiconductor wafer contained in the wafer cassette on the wafer boat 4 as shown in FIG. 5) The wafer boat 4 is transported from the boat liner 6 and the mobile stacking device 5 as a transport mechanism for transporting the wafer boat 4 to the front of each box 1a to 1d. The horizontal and vertical conversion conveyance apparatus 7 is provided as a mechanism which mounts on the liner 6 almost vertically.

즉, 이동적재장치(5)는 주지한 바와 같이 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수평으로 배치한 상태에서, 웨이퍼 카셋트 내로부터 반도체 웨이퍼를 복수개, 예를들면 25매씩 이동적재하고, 처리완료된 반도체 웨이퍼를 같은식으로 하여 웨이퍼 보우트(4)로부터 웨이퍼 카셋트 내에 수용하도록 구성되어 있다.That is, the mobile loading apparatus 5 moves a plurality of semiconductor wafers from the wafer cassette, for example, 25 sheets in a state where the wafer boat 4 is almost horizontally arranged as is well known, and transfers the processed semiconductor wafers. In the same manner, the wafer boat 4 is configured to be accommodated in the wafer cassette.

또한, 보우트 라이너(6)는 상자체(1a) 내지 (1d)에 평행하도록 그 전방에 설치된 반송로(60)와, 예를들면, 벨트의 구동 등에 의하여 이 반송로(60)상을 이동가능하게 구성되고, 또한 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수직으로 유지하는 복수개, 예를들면 2개의 보우트 지지기구(61a),(61b)로서 구성되어 있다.Moreover, the boat liner 6 can move on this conveyance path 60 by the conveyance path 60 provided in front so that it may be parallel to the box bodies 1a to 1d, for example, drive of a belt. And a plurality of, for example, two boat support mechanisms 61a and 61b for holding the wafer boat 4 almost vertically.

그리고, 예를들면 CVD, 산화막 형성등의 공정의 상이함에 따라 웨이퍼 보우트(4)를 취급하는 지지기구(61a),(61b)가 변경이 가능하게 되어 있다.For example, the support mechanism 61a, 61b which handles the wafer boat 4 can be changed with the difference of processes, such as CVD and oxide film formation.

또한, 반송장치(7)는, 다음과 같이 구성되어 있다.In addition, the conveying apparatus 7 is comprised as follows.

즉, 상기 이동적재장치(5)와 보우트 라이너(6)와의 사이를 접속하도록 설치된 기본대(70)상에는, 이들의 장치 사이를 이동이 가능하도록 가동대(71) 및 지주(72)가 설치되어 있다.That is, on the base table 70 installed to connect the mobile device 5 and the boat liner 6, the movable table 71 and the support 72 are installed to enable movement between these devices. have.

지주(72)는, 가동대(71) 위에서 180도 이상 회동이 가능하게 구성되어 있다.The strut 72 is comprised so that rotation of 180 degree or more on the movable stand 71 is possible.

지주(72)의 측면에는 이 지주(72)의 측면에 거의 평행하는 면 내에서 거의 90도 이상 회동이 자유롭도록 구성되고, 동시에 상하 동작이 가능하게 구성된 변환아암(73)이 설치되어 있다.A side of the support 72 is provided with a conversion arm 73 configured so as to be freely rotated at least 90 degrees in a plane substantially parallel to the side of the support 72, and at the same time capable of vertical operation.

그리고, 이 변환아암(73)의 양끝단에는 제2도에도 나타낸 바와 같이, 웨이퍼 보우트(4)를 지지하기 위한 상부 보우트 핸드(75)와 하부 보우트 핸드(76)가 각각 설치되어 있다.At both ends of the conversion arm 73, as shown in FIG. 2, an upper boat hand 75 and a lower boat hand 76 for supporting the wafer boat 4 are provided, respectively.

이들 상부 보우트 핸드(75) 및 하부 보우트 핸드(76)는, 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수평한 상태 및 거의 수직한 상태의 어느쪽이든 지지가 가능하도록 다음과 같이 구성되어 있다.These upper and lower hand hands 75 and 76 are configured as follows so that the wafer boat 4 can be supported in either a substantially horizontal state or a substantially vertical state.

제3도에도 나타낸 바와같이 상부 보우트 핸드(75)에는, 이 상부 보우트 핸드(75)의 안쪽면에서 약간 돌출하도록, 예를들면 석영, 탄화규소 등의 재료로 이루어진 걸어멈춤부(77a),(77b)가 양면에 설치되어 있다.As shown in FIG. 3, the upper boat hand 75 includes a stop 77a made of a material such as quartz or silicon carbide so as to project slightly from the inner side of the upper boat hand 75, ( 77b) is provided on both sides.

이들 걸어멈춤부(77a),(77b)는, 그 어느 편에 의하여 웨이퍼 보우트(4)의 윗끝단부에 설치된 원주형상의 윗쪽 지지부(4a)의 측면을 걸어멈춤하도록 구성된다.These stop portions 77a and 77b are configured to stop the side surfaces of the columnar upper support portions 4a provided at the upper end portions of the wafer boat 4 by either of them.

걸어멈춤부(77a),(77b)는, 이 상부 보우트 핸드(75)를 제2도에 나타낸 화살표와 같이 회전시킴으로써 전환되어, 예를들면 CVD, 산화막 형성 등의 공정이 상이함에 따라 웨이퍼 보우트(4)와 접촉하는 걸어멈춤부(77a),(77b)의 변경이 가능해진다.The stop portions 77a and 77b are switched by rotating the upper boat hand 75 as shown by the arrow shown in FIG. 2, and for example, wafer wafers (such as CVD, oxide film formation, etc.) are different. The locking portions 77a and 77b in contact with 4 can be changed.

또한, 하부 보우트 핸드(76)에는, 제4도에도 나타낸 것 같이, 상기 상부 보우트 핸드(75)와 동일하게, 안쪽면에서 약간 돌출하도록, 석영, 탄화규소 등의 재료로 이루어지는 걸어멈춤부(78a),(78b)가 양면에 설치되어 있다.In addition, as shown in FIG. 4, the lower bolt hand 76 has a locking portion 78a made of a material such as quartz or silicon carbide so as to slightly protrude from the inner surface, similarly to the upper bolt hand 75. And (78b) are provided on both surfaces.

이들 걸어멈춤부(78a),(78b)는 그 어느 한편에 의하여, 웨이퍼 보우트(4)의 아래끝단부에 설치된 원주형상의 아래쪽 지지부(4b)의 측면을 걸어멈춤하도록 구성된다.These stops 78a and 78b are configured to stop the side surface of the cylindrical lower support 4b provided at the lower end of the wafer boat 4 by either of them.

이를 위하여, 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽 지지부(4b)는, 예를들면 하부 보우트 핸드(76)의 걸어멈춤부(78a)에서 이 아래쪽 지지부(4b)를 지지하고 있을 때는, 걸어멈춤부(78b)가 접촉하지 않도록, 아래쪽 부분의 지름이 위쪽부분(걸어멈춤부(78a)와의 접촉부분)보다 작은 지름으로 구성되어 있다.For this purpose, when the lower support part 4b of the wafer boat 4 is supporting this lower support part 4b in the locking part 78a of the lower boat hand 76, for example, the locking part 78b The diameter of the lower part is made smaller than the upper part (contact part with the stop part 78a) so that it may not contact.

또한, 이 하부 보우트 핸드(76)의 앞끝단 부근에도, 제5도에도 나타내고 있는 것 같이, 수직지지시에 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽에 설치된 플랜지부(4c)의 아래면을 지지하기 위한 플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)가 상하방향 양쪽으로 돌출하도록 설치되어 있다.In addition, as shown in FIG. 5 and near the front end of the lower bolt hand 76, a flange for supporting the lower surface of the flange portion 4c provided below the wafer boat 4 during vertical support. The locking portions 79a and 79b are provided so as to protrude in both the up and down directions.

플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)는 예를들면 석영, 탄화규소 등의 재료로 이루어진다.The flange stops 79a and 79b are made of a material such as quartz or silicon carbide, for example.

그리고, 이 하부 보우트 핸드(76)도, 제2도에 나타낸 화살표와 같이 회전시킴으로써, 예를들면 CVD, 산화막 형성 등의 공정의 상이함에 따라 웨이퍼 보우트(4)와 접촉하는 걸어멈춤부(78a),(78b) 및 플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)의 변경이 가능하게 된다.Then, the lower bolt hand 76 is also rotated in the same manner as the arrow shown in FIG. 2, so that, for example, the locking portion 78a which comes into contact with the wafer boat 4 in accordance with different processes such as CVD and oxide film formation. , 78b, and flange stops 79a, 79b can be changed.

즉, 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수평으로 유지할 경우는, 상부 보우트 핸드(75)의 걸어멈춤부(77a),(77b)의 어느 한편에서 웨이퍼 보우트(4)의 위쪽 지지부(4a)의 측면을 걸어멈춤하는 동시에, 하부 보우트 핸드(76)의 걸어멈춤부(78a),(78b)의 어느 한편에서 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽 지지부(4b)의 측면을 걸어멈춤한다.That is, when keeping the wafer boat 4 almost horizontal, the side surface of the upper support portion 4a of the wafer boat 4 is either one of the engaging portions 77a and 77b of the upper boat hand 75. At the same time, the side of the lower support portion 4b of the wafer boat 4 is stopped at either of the engaging portions 78a, 78b of the lower boat hand 76.

한편, 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수직으로 유지할 경우는, 상부 보우트 핸드(75)의 걸어멈춤부(77a),(77b)의 어느 한편에서 웨이퍼 보우트(4)의 위쪽 지지부(4a)의 측면을 걸어멈춤하는 동시에, 하부 보우트 핸드(76)의 플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)에서 웨이퍼 보우트(4)의 플랜지부(4c)의 아래쪽을 지지한다.On the other hand, when the wafer boat 4 is held almost vertically, the side surface of the upper support portion 4a of the wafer boat 4 is either one of the engaging portions 77a and 77b of the upper boat hand 75. At the same time, the lower portion of the flange portion 4c of the wafer boat 4 is supported by the flange engaging portions 79a and 79b of the lower boat hand 76.

이 경우, 플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)는 웨이퍼 보우트(4)의 긴쪽방향 중심축보다도 전방으로 옵셋트하고 있기 때문에, 걸어멈춤부(79a),(79b)상의 웨이퍼 보우트(4)에는 뒤쪽으로 넘어지려고 하는 회전 모우멘트가 작용한다.In this case, since the flange engaging portions 79a and 79b are offset forward from the longitudinal central axis of the wafer boat 4, the wafer bolts 4 on the engaging portions 79a and 79b are offset. The rotation moment acts to try to fall backwards.

이 회전 모우멘트는, 웨이퍼 보우트(4)의 상부에서, 위쪽 지지부(4a)의 측면에 접촉하는 상부 보우트 핸드(75)의 걸어멈춤부(77a),(77b)에 의하여 지지된다.This rotation moment is supported by the engaging portions 77a and 77b of the upper boat hand 75 in contact with the side surface of the upper support portion 4a at the upper portion of the wafer boat 4.

이에 의하여, 웨이퍼 보우트(4)의 안정된 수직지지상태가 얻어진다.As a result, a stable vertical support state of the wafer boat 4 is obtained.

제6도는 상부 보우트 핸드(75)의 일부 절결 평면도이다.6 is a partially cutaway plan view of the upper boat hand 75.

핸드(75)는 변환아암(73)(제1도 참조)에 대하여 제6도 화살표 방향으로 약간의 여유를 가질 수 있도록 착설된 기초부(12)를 포함하고, 여기에 로우터리 엑츄에이터(14)가 내장된다.The hand 75 includes a foundation 12 mounted so as to have some margin in the direction of the arrow of FIG. 6 with respect to the conversion arm 73 (see FIG. 1), wherein the rotary actuator 14 is provided. Is built.

액츄에이터(14)의 출력축과 결합되는 샤프트(16)는 기초부(12)에서 뻗어나와 핸드본체(22)에 접속된다. 핸드본체(22)에는 호울더(26)를 통하여 걸어멈춤부(77a),(77b)가 붙임고정된다. 핸드본체(22)는, 엑츄에이터(14)의 작용에 의하여 기초부(12)에 대하여 왕복 회전이 가능해진다. 핸드본체(22)의 밑부분 양측에는 오목부(24a),(24b)가 형성되고, 이것에 대하여 기초부(12)에는 스톱퍼(18)가 부착 설치된다.The shaft 16, which is coupled to the output shaft of the actuator 14, extends from the base 12 and is connected to the hand body 22. The hand parts 22 are secured with stops 77a and 77b through the holder 26. The hand body 22 is capable of reciprocating rotation with respect to the base 12 by the action of the actuator 14. Concave portions 24a and 24b are formed on both sides of the bottom of the hand body 22, while the stopper 18 is attached to the base portion 12.

핸드본체(22)가 기초부에 대하여 회전하고, 오목부(24a)가 스톱퍼(18)와 맞닿으면, 제2도, 제6도 등에 도시한 상태로 위치가 정해지고, 여기서 걸어멈춤부(77a)가 아래쪽으로 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 위쪽 지지부(4a)와 대향한다.When the hand main body 22 rotates with respect to the base part, and the recessed part 24a contacts the stopper 18, a position is set in the state shown in FIG. 2, FIG. 6, etc. 77a is positioned downward to oppose the upper support 4a of the wafer boat 4.

또한, 여기에서 핸드본체(22)가 역방향으로 180도 회전하여, 오목부(24b)가 스톱퍼(18)와 맞붙으면, 걸어멈춤부(77b)가 아래쪽에 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 위쪽 지지부(4a)와 대향하는 상태로 위치가 정하여진다.In addition, when the hand body 22 rotates 180 degrees in the reverse direction and the recessed part 24b engages with the stopper 18, the stop part 77b is located below and the upper support part of the wafer boat 4 is located here. The position is set in the state which opposes (4a).

제7도는, 하부 보우트 핸드(76)의 일부 절결 평면도이다.7 is a partially cutaway plan view of the lower bolt hand 76.

핸드(76)는 변환아암(73)(제1도 참조)에 대하여 고정 설치된 제7도의 화살표 방향으로 약간의 여유를 가질 수 있도록 붙임고정된 기초부(32)를 포함하고, 여기에 로우터리 엑츄에이터(3)가 내장된다.The hand 76 includes a base 32 fixed to be attached so as to have a slight clearance in the direction of the arrow of FIG. 7 fixedly installed with respect to the conversion arm 73 (see FIG. 1), wherein the rotary actuator (3) is built in.

엑츄에이터(34)의 출력축과 결합되는 샤프트(36)는 기초부(32)로부터 뻗어나와 핸드본체(42)에 접속된다. 핸드본체(42)에는 호울더(46)를 통하여 걸어멈춤부(78a),(78b)가 붙임고정된다. 핸드본체(42)의 앞끝단에는 플랜지 걸어멈춤부(79a),(79b)가 부착 설치된다. 원한다면, 제2의 플랜지 걸어멈춤부(79a')를 (뒷면에도 똑같은 제2의 플랜지 걸어멈춤부를) 설치할 수도 있다.The shaft 36, which is coupled with the output shaft of the actuator 34, extends from the base 32 and is connected to the hand body 42. The hand body 42 is secured with fastening portions 78a and 78b through the holder 46. Flange stop portions 79a and 79b are attached to the front end of the hand body 42. If desired, a second flange stop 79a 'may also be provided (the same second flange stop on the back side).

핸드본체(42)는, 실린더(34)의 작용에 의하여 기초부(32)에 대하여 왕복회전이 가능해진다. 핸드본체(42)의 밑부분 양쪽에는 오목부(44a),(44b)가 형성되고, 이것에 대하여 기초부(32)에는 스톱퍼(38)가 부착설치된다. 핸드본체(42)가 기초부에 대하여 회전하고, 오목부(44a)가 스톱퍼(38)와 맞붙이면, 제2도, 제7도 등에 도시한 상태대로 위치가 정하여지고, 여기서 걸어멈춤부(78a)가 위쪽에 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽 지지부(4b)의 큰 지름부와 대치하는 동시에, 걸어멈춤부(79a)가 위쪽으로 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 플랜지부(4c)를 지지한다.The hand body 42 is capable of reciprocating rotation with respect to the base portion 32 by the action of the cylinder 34. Concave portions 44a and 44b are formed at both bottom portions of the hand body 42, while a stopper 38 is attached to the base portion 32. When the hand body 42 rotates with respect to the base portion, and the recessed portion 44a engages with the stopper 38, the position is set as shown in FIG. 2, FIG. 7, and the like, and the stop portion 78a ) Is positioned upward to replace the large diameter portion of the lower support portion 4b of the wafer boat 4, while the stop portion 79a is positioned upward to support the flange portion 4c of the wafer boat 4. do.

또한, 여기에서 핸드본체(42)가 역방향으로 180도 회전하여, 오목부(44b)가 스톱퍼(38)가 맞붙으면, 걸어멈춤부(78b)가 위쪽에 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽 지지부(4b)의 큰 지름부와 대치하는 동시에, 걸어멈춤부(79b)가 위쪽에 위치하여 웨이퍼 보우트(4)의 플랜지부(4c)를 지지하는 상태로 위치가 정하여진다.If the hand body 42 is rotated 180 degrees in the reverse direction and the stopper 38 is engaged with the recess 44b, the stop portion 78b is positioned upward and the lower support portion of the wafer boat 4 is located here. While facing the large diameter part of (4b), the position is set in the state in which the locking part 79b is located upward and supports the flange part 4c of the wafer boat 4.

상기 구성의 본 실시예에서는, 이동적재장치(5)에 의하여, 웨이퍼 카셋트 내에 수용된 반도체 웨이퍼를 웨이퍼 보우트(4) 위에 이동적재한다. 이때, 수평수직 변환 반송장치(7)는, 미리 아암(73)을 이동적재장치(5) 위의 소정의 위치에 있는 웨이퍼 보우트(4)의 아래쪽에 삽입하고, 이 상태로 대기한다.In this embodiment of the above-described configuration, the semiconductor wafer accommodated in the wafer cassette is moved and stacked on the wafer boat 4 by the mobile loading device 5. At this time, the horizontal vertical conversion transfer apparatus 7 inserts the arm 73 below the wafer boat 4 at the predetermined position on the mobile loading apparatus 5, and waits in this state.

그리고, 이동적재장치(5)에 의한 반도체 웨이퍼의 이동적재가 종료하면, 변환아암(73)을 상승시켜 이동적재장치(5)로부터 웨이퍼 보우트(4)를 받는다.When the transfer of the semiconductor wafer by the transfer device 5 is completed, the conversion arm 73 is raised to receive the wafer boat 4 from the transfer device 5.

그 다음에, 가동대(71)를 이동시킴으로써 웨이퍼 보우트(4)를 이동적재장치(5)와 간섭하지 않는 위치까지 보우트 라이너(6) 방향으로 반송하고, 여기서 변환아암(73)을 수직평면 내에서 거의 90도 회전시킴으로써 웨이퍼 보우트(4)를 거의 수직으로 세운다.Then, by moving the movable table 71, the wafer boat 4 is conveyed in the direction of the boat liner 6 to a position which does not interfere with the moving device 5, where the conversion arm 73 is in the vertical plane. Rotate the wafer boat 4 almost vertically by rotating it approximately 90 degrees at.

그후에, 지주(72)를 수평 평면 내에서 거의 180도 회전시켜, 웨이퍼 보우트(4)를 보우트 라이너(6) 방향으로 향하게 하는 동시에, 가동대(71)를 보우트 라이너(6) 쪽으로 이동시켜, 웨이퍼 보우트(4)를 보우트 라이너(6)의 지지구(61a), 혹은 지지기구(61b) 위에 얹어놓는다.Thereafter, the strut 72 is rotated approximately 180 degrees in the horizontal plane to orient the wafer boat 4 in the direction of the boat liner 6, while the movable table 71 is moved toward the boat liner 6, and the wafer The boat 4 is placed on the support 61a of the boat liner 6 or the support mechanism 61b.

또한, 지지기구(61a),(61b)에는, 원형으로 도려낸 보우트 지지부(62a),(62b)가 형성되어 있고, 이 보우트 지지부(62a), (62b)에 웨이퍼 보우트(4) 아래쪽 끝단부가 삽입되도록 구성되어 있다.In addition, the support mechanisms 61a and 61b are provided with the boat support parts 62a and 62b cut out circularly, and the said boat support parts 62a and 62b have the lower end of the wafer boat 4 at the bottom. It is configured to be inserted.

이와 같이 하여, 웨이퍼 보우트(4)를 수평수직 변환하여 이동적재장치에서 보우트 라이너(6)로 받아 넘긴 뒤에는, 이 보우트 라이너(6)에 의하여 웨이퍼 보우트(4)를 각 상자체(1a) 내지 (1d)의 전방으로 반송하고, 보우트 엘리베이터에 의하여 반응로 내에 삽입하여, 예를들면, 열확산, 산화막 형성, CVD 등의 소정의 처리를 행한다.In this manner, after the wafer boat 4 is horizontally and vertically converted and transferred to the boat liner 6 by the mobile stacking device, the wafer boat 4 is transported by the box liner 6 to each box 1a to ( It conveys to the front of 1d), inserts in a reaction furnace by a boat elevator, and performs predetermined | prescribed processes, such as thermal diffusion, oxide film formation, and CVD, for example.

그리고, 처리가 끝나면, 상술한 순서와는 반대 순서로 웨이퍼 보우트(4)를 이동적재장치(5)로 반송하고, 이동적재장치(5)에 의하여 처리가 완료한 반도체 웨이퍼를 웨이퍼 카셋트 내에 수용한다.After the processing is completed, the wafer boat 4 is transferred to the mobile stacking device 5 in the reverse order to the above-described order, and the semiconductor wafer processed by the mobile stacking device 5 is stored in the wafer cassette. .

이때, 4개의 반응로에서 상이한 2종류의 처리를 병행하여 동시에 행하여야 할 경우, 예를들면 상자체(1a),(1b)내의 반응로에서 CVD를 행하고, 상자체(1c),(1d)내의 반응로에서 산화막 형성을 하여야 할 경우는, 보우트 라이너(6)에서는, 예를들면 상자체(1a),(1b)(CVD 공정)에 대한 반송에 대해서는, 지지기구(61a)를 사용하고, 상자체(1c),(1d)(산화막 형성공정)에 대한 반송에 대해서는, 지지기구(61b)를 사용함으로써, 웨이퍼 보우트(4)와 직접 접촉하는 부분을 공정에 따라 변경하고, 이들 공정 사이에서 상호 오염이 발생하는 것을 방지한다.At this time, when it is necessary to simultaneously perform two different kinds of treatments in four reactors, for example, CVD is performed in the reactors in boxes 1a and 1b, and boxes 1c and 1d. In the case where the oxide film should be formed in the reactor in the inside, in the boat liner 6, for example, the support mechanism 61a is used for conveyance to the boxes 1a and 1b (CVD process), As for the conveyance to the boxes 1c and 1d (oxide film forming step), by using the support mechanism 61b, the portion in direct contact with the wafer boat 4 is changed in accordance with the step, and between these steps. Prevent cross contamination.

또한, 수평 수직 반송장치(7)에 있어서는, 상부 보우트 핸드(75) 및 하부 보우트 핸드(76)를 회전시킴으로써, 예를들면 상자체(1a),(1b),(CVD 공정)에 대한 반송에 대해서는, 걸어멈춤부(77a), 걸어멈춤부(78a), 플랜지 걸어멈춤부(79a)를 사용하고, 상자체(1c),(1d)(산화막 형성공정)에 대한 반송에 대해서는, 걸어멈춤부(77b), 걸어멈춤부(78b), 플랜지 걸어멈춤부(79b)를 사용함으로써, 웨이퍼 보우트(4)와 직접 접촉하는 부분을 공정에 따라 변경하고, 이들 공정에서 상호 오염이 발생하는 것을 방지한다.In addition, in the horizontal vertical conveying apparatus 7, the upper boat hand 75 and the lower boat hand 76 are rotated, for example, to convey to the boxes 1a, 1b, and (CVD process). The fastening part 77a, the fastening part 78a, and the flange fastening part 79a are used for the conveyance to the boxes 1c and 1d (oxide film forming step). By using the 77b, the locking portion 78b, and the flange locking portion 79b, the portion in direct contact with the wafer boat 4 is changed in accordance with the process, and the mutual contamination is prevented from occurring in these processes. .

즉, 상기 실시예에서는, CVD 공정용의 웨이퍼 보우트(4)를 반송하는 경우와 산화막 형성 공정용의 웨이퍼 보우트(4)를 반송하는 경우등에 따라서 보우트 라이너(6) 및 수평수직 변환 반송장치(7)의 웨이퍼 보우트(4)와의 접촉부위를 변경한다.That is, in the above embodiment, the boat liner 6 and the horizontal vertical conversion transfer device 7 are suitable for conveying the wafer boat 4 for the CVD process and for conveying the wafer boat 4 for the oxide film forming process. Change the contact area with the wafer boat 4).

따라서, 웨이퍼 보우트(4)와의 접촉부위에 부착하는 약제, 생성물등에 의한 상이한 종류의 공정 간의 상호 오염의 발생을 방지할 수가 있다.Therefore, it is possible to prevent the occurrence of cross contamination between different kinds of processes due to chemicals, products, etc. adhering to the contact portion with the wafer boat 4.

또한, 상기 실시예에서는, 본 발명 방법 및 장치를 다수 연속되는 종형 열처리 장치에 적용한 예에 대하여 설명하였으나, 본 발명은 다른 장치, 예를들면 제8도에 나타낸 멀티챔버형 CVD 장치, 제9도에 나타낸 레지스트 처리장치 등에도 적용할 수가 있다.Further, in the above embodiment, an example in which the method and apparatus of the present invention is applied to a plurality of continuous longitudinal heat treatment apparatuses has been described, but the present invention is another apparatus, for example, the multichamber type CVD apparatus shown in FIG. 8, FIG. The present invention can also be applied to a resist processing apparatus and the like.

즉, 제8도에 나타낸 바와 같이, 멀티챔버형 CVD 장치에서는, 중앙부에 배치된 웨이퍼 반송실(101)의 한쪽에는 이것을 사이에 두고 양쪽에 웨이퍼 카셋트(102)를 수용하는 로우드록실(103)이 각각 배치되어 있으며, 또한 웨이퍼 반송실(101)의 다른편에는 웨이퍼 반송실(101)을 중심으로 하여 복수개, 예를들면, 3개의 챔버(104)가 동일 원주상에 배열 설치되어 있다.That is, as shown in FIG. 8, in the multi-chamber type CVD apparatus, the lock lock chamber 103 which accommodates the wafer cassettes 102 on both sides of the wafer transfer chamber 101 disposed in the center portion is disposed therebetween. Each of these chambers is arranged, and on the other side of the wafer transfer chamber 101, a plurality of, for example, three chambers 104 are arranged on the same circumference with the wafer transfer chamber 101 as the center.

그리고, 반송아암(105)에 의하여 소정의 반도체 웨이퍼(106)를 1장 뽑아내고 이것을 챔버(104)측의 반송아암(107)으로 받아 넘기고, 처리내용에 맞추어서 소정의 챔버(104)로 반송하고, 예를들면 제1의 챔버에서 표면의 자연 산화막의 에칭처리를 행한 뒤, 제2의 챔버에서 CVD막을 형성하고, 그 후에, 제3의 챔버에서 열처리로 행하는 등, 소정의 처리를 행하도록 구성되어 있다.Then, one of the predetermined semiconductor wafers 106 is taken out by the transfer arm 105, is transferred to the transfer arm 107 on the chamber 104 side, and transferred to the predetermined chamber 104 in accordance with the processing contents. For example, after the etching process of the natural oxide film on the surface is performed in the first chamber, the CVD film is formed in the second chamber, and then the predetermined treatment is performed, such as by heat treatment in the third chamber. It is.

그래서, 예를들면 반송아암(105),(107)의 앞끝단쪽을 판형상으로 구성하여 양면 어느것이든 반도체 웨이퍼(106)를 지지가능케 하고, 처리공정에 따라 접촉부위(105a),(107a)를 180도 회전시키도록 한다.Thus, for example, the front ends of the transfer arms 105 and 107 are formed in a plate shape to enable the semiconductor wafer 106 to be supported on both sides, and the contact portions 105a and 107a according to the processing process. Rotate 180 degrees.

혹은, 반송아암(105),(107)의 앞끝단에 반도체 웨이퍼(106)를 지지하기 위한 제2의 접촉부위를 나오고 들어가기가 가능하게 설치해두고, 처리공정에 따라 이들을 적절히 신축시켜서 반도체 웨이퍼(106)를 지지하도록 한다.Alternatively, a second contact portion for supporting the semiconductor wafer 106 is provided at the front end of the transfer arms 105 and 107 so that the second contact portion for entering and exiting can be inserted therein, and the semiconductor wafer 106 is properly stretched and contracted according to the processing step. Support).

이러한 구조를 사용하여, 반도체 웨이퍼(106)와의 접촉부위(105a),(107a)를 처리공정에 따라 변경하면 상술한 실시예와 같이 상호 오염의 발생을 방지할 수가 있다.By using this structure, if the contact portions 105a and 107a with the semiconductor wafer 106 are changed in accordance with the processing step, the occurrence of cross contamination can be prevented as in the above-described embodiment.

제10도는, 반송아암 앞끝단쪽을 180도 회전시킴으로써, 웨이퍼 접촉부위를 전환하도록 한 예를 나타낸 개략 평면도이다.10 is a schematic plan view showing an example in which the wafer contact portion is switched by rotating the front end side of the transfer arm 180 degrees.

본 반송아암은 기초부(112)와 앞끝단부(122)로 되어 있다.The carrier arm is composed of a base portion 112 and a front end portion 122.

기초부(112)에는 로우터리 엑츄에이터(114)가 내장되고, 이 샤프트(116)는 기초부(112)에서 뻗어나와, 앞끝단판(122)에 접속된다. 앞끝단판(122)에는 앞뒤에 웨이퍼 접촉부위(128)가 형성된다.The base 112 has a rotary actuator 114 embedded therein, and the shaft 116 extends from the base 112 and is connected to the front end plate 122. The front end plate 122 is formed with wafer contact portions 128 before and after.

앞끝단판(122)은, 로우터리 엑츄에이터(114)의 작용에 의하여 기초부(112)에 대하여 왕복회전이 가능해진다.The front end plate 122 is capable of reciprocating rotation with respect to the base portion 112 by the action of the rotary actuator 114.

앞끝단판(122)의 밑부분 양쪽에는 오목부(124)가 형성되어, 이에 대하여 기초부(12)에도 스톱퍼(18)가 부착 설치된다.Concave portions 124 are formed at both bottom portions of the front end plate 122, and a stopper 18 is attached to the base portion 12.

제6도 및 제7도에서의 기구와 같이, 앞끝단판(122)이 기초부(112)에 대하여 180도 왕복회전하고, 양 오목부(124)의 어느것이든 한편과 스톱퍼(118)가 맞붙음함으로써, 앞끝단판(122)의 회전방향위치가 결정되고, 이에 따라 앞뒤의 웨이퍼 접촉부위(128)가 전환이 가능해진다.As with the mechanism in FIGS. 6 and 7, the front end plate 122 rotates 180 degrees with respect to the base portion 112, and either of the recesses 124 and the stopper 118 engage. As a result, the rotational direction position of the front end plate 122 is determined, whereby the front and rear wafer contact portions 128 can be switched.

제11도는, 반송아암 앞끝단쪽에 나가고 들어오기가 가능한 제2의 접촉부위를 설치함으로써 웨이퍼 접촉부위를 전환이 가능케한 예를 나타낸 개략 평면도이다.FIG. 11 is a schematic plan view showing an example in which a wafer contact portion can be switched by providing a second contact portion that can be moved in and out of the front end of the transfer arm.

본 반송아암은, 아암본체(132)의 앞끝단부에 웨이퍼 접촉부위(134)가 형성되는 한편, 아암본체(132)에 지지된 슬라이드판(144)상에 제2의 웨이퍼 접촉부위가 형성된다.In the carrier arm, a wafer contact portion 134 is formed at the front end portion of the arm body 132, while a second wafer contact portion is formed on the slide plate 144 supported by the arm body 132.

아암본체(132)의 측부에는 왕복 실린더(146)가 배열설치되고, 이 실린더 로드(148)는 바아(152) 및 핀(154)을 통하여 슬라이드판(144)의 뒷면에 접속된다.A reciprocating cylinder 146 is arranged on the side of the arm body 132, and the cylinder rod 148 is connected to the rear surface of the slide plate 144 via the bars 152 and the pins 154.

슬라이드판(144)을 실린더(146)의 작용에 의하여, 아암본체(132)의 긴쪽방향으로 따라서 이동이 가능하며, 이때, 슬라이드판(144)의 양쪽부는 본체(132) 양쪽의 가이트(136)에 의해 안내되고, 핀(154)은 본체(132)의 긴쪽방향 중앙에 따르는 슬릿(138)에 의해 안내된다.By the action of the cylinder 146, the slide plate 144 can be moved along the longitudinal direction of the arm body 132, wherein both sides of the slide plate 144 are guides 136 on both sides of the main body 132. Guided by the slit 138 along the longitudinal center of the body 132.

따라서, 슬라이드판(144)의 나오고 들어감에 의해 웨이퍼 접촉부위(134),(144)가 전환이 가능해진다.Therefore, the wafer contact portions 134 and 144 can be switched by coming out of the slide plate 144.

또한, 제9도에 나타낸 레지스트 처리장치에서는, 중앙부에 반송장치(201)가 설치되어 있으며 이 반송장치(201)의 양쪽에, 예를들면, 반도체 웨이퍼 상에 레지스트를 떨어뜨린 후, 이 반도체 웨이퍼를 고속회전시켜서 반도체 웨이퍼 전체면에 레지스트를 균일하게 도포하는 레지스트 도포장치(202), 예를들면 레지스트 도포전, 레지스트 도포후 등에 반도체 웨이퍼를 가열하여 베이킹을 행하는 복수의 베이킹 장치(203), 노출장치(204), 현상장치(205) 증의 소정의 장치가 설치되어 있다.Moreover, in the resist processing apparatus shown in FIG. 9, the conveying apparatus 201 is provided in the center part, and after dropping a resist on a semiconductor wafer, for example on both sides of this conveying apparatus 201, this semiconductor wafer is carried out. A resist coating apparatus 202 for uniformly applying resist to the entire surface of the semiconductor wafer by rotating the substrate at high speed, for example, a plurality of baking apparatuses 203 for heating and baking the semiconductor wafer before the resist coating and after the resist coating, etc. The predetermined apparatus of the apparatus 204 and the developing apparatus 205 is provided.

따라서, 이와 같은 레지스트 처리장치에 있어서도, 상술한 멀티챔버형 CVD 장치와 동일하게, 반송장치(201)의 도시하지 않은 반송아암으로서, 제10도 및 제11도에 도시한 바와 같은 구조의 것을 사용하고 처리공정에 따라서 웨이퍼 접촉부위를 전환함으로써 상호 오염의 발생을 방지할 수가 있다.Therefore, also in such a resist processing apparatus, similarly to the above-mentioned multichamber type CVD apparatus, as a conveyance arm which is not shown in the conveying apparatus 201, the thing of the structure shown in FIG. 10 and 11 is used. By switching the wafer contact portions in accordance with the processing step, cross contamination can be prevented.

이상, 본 발명의 상세한 내용은, 첨부된 도면에 나타내고 있는 바람직한 실시예에 따라서 설명해왔으나, 이러한 실시예에 대하여서는, 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 여러 가지의 변경, 개량이 가능해지는 것은 명백한 것이다.As mentioned above, although the detail of this invention was described according to the preferred embodiment shown in the accompanying drawing, it is clear that various changes and improvement are possible for this embodiment without departing from the scope of the present invention. .

Claims (9)

지지기구로 피반송물의 소정부위를 지지하여 이 피반송물을 복수의 상이한 반도체 처리공정으로 반송하기 위한 반송방법에 있어서, 상기 어느 하나의 처리공정으로 피반송물을 반송할 때에 피반송물의 소정부위를 지지하는 상기 지지기구의 접촉부위와, 상기 처리공정과 상이한 처리공정으로 피반송물을 반송할 때에 피반송물의 소정부위를 지지하는 상기 지지기구의 접촉부위가 서로 달라지도록 상기 지지기구의 상기 피반송물과의 접촉부위를 변경시키는 것을 특징으로 하는 반송방법.A conveying method for supporting a predetermined portion of a conveyed object by a support mechanism and conveying the conveyed object to a plurality of different semiconductor processing steps, wherein the predetermined portion of the conveyed object is supported when the conveyed object is conveyed by any one of the above processing steps. The contact portion of the support mechanism and the contact portion of the support mechanism so as to be different from each other so that the contact portion of the support mechanism for supporting a predetermined portion of the transported object is different from the contact portion of the support mechanism. A conveying method characterized by changing the contact portion. 횡방향으로 직선상태로 배열되고, 복수의 반도체 웨이퍼를 지지하는 웨이퍼 보우트를 수직인 상태로 내부에 수용하여 열처리를 행하는 복수의 반응로와, 상기 반응로 열의 전방에 간격을 두고 배설되고, 수평상태의 상기 웨이퍼 보우트에 복수의 상기 반도체 웨이퍼를 옮겨 얹어 놓기 위한 이동적재장치와, 상기 반응로를 따라 배설되고, 상기 웨이퍼 보우트가 수직인 상태에서 수평방향으로 반송하여 상기 각 반응로에 공급하는 보우트 라이너와, 상기 보우트 라이너와 이동적재장치의 사이에 설치되고, 상기 웨이퍼 보우트를 수평,수직으로 자세를 변환하여 반송하고, 상기 보우트 라이너와 이동적재장치 사이에서 주고 받음을 행하는 수평수직 변환 반송장치를 구비한 종형 열처리장치에서 상기 웨이퍼 보우트를 복수의 반응로로 반송하는 방법에 있어서, 상기 어느 하나의 반응로로 웨이퍼 보우트를 반송할 때에 웨이퍼 보우트의 소정부위를 지지하는 상기 보우트 라이너 및 수평수직 변환 반송장치의 접촉부위와, 상기 반응로와 상이한 처리를 행하는 반응로로 웨이퍼 보우트를 반송할 때에 웨이퍼 보우트의 소정부위를 지지하는 상기 보우트 라이너 및 수평수직 변환 반송장치의 접촉부위가 서로 달라지도록 상기 보우트 라이너 및 수평수직 변환 반송장치의 상기 웨이퍼 보우트와의 접촉부위를 변경시키는 것을 특징으로 하는 반송방법.A plurality of reaction furnaces arranged in a horizontal direction in a straight line and receiving a wafer boat for supporting a plurality of semiconductor wafers in a vertical state therein and performing heat treatment; A mobile loading device for transferring a plurality of the semiconductor wafers to the wafer boat of the ship, and a boat liner disposed along the reactor and conveyed in a horizontal direction while the wafer boat is in a vertical position to be supplied to each reactor. And a horizontal and vertical conversion transfer device provided between the boat liner and the mobile stacking device, the posture of the wafer boat being horizontally and vertically converted to be transported, and transferred between the boat liner and the mobile stacking device. In a vertical heat treatment apparatus, the wafer boat is conveyed to a plurality of reactors. Then, when the wafer boat is conveyed to any one of the reactors, the contact portion of the boat liner and the horizontal-vertical conversion conveying apparatus supporting the predetermined portion of the wafer boat, and the reactor boat performing different processing from the reactor, The contact portion of the boat liner and the horizontal-vertical conversion transfer apparatus is changed so that the contact portion of the boat liner and the horizontal-vertical conversion transfer apparatus supporting the predetermined portion of the wafer boat is different from each other when conveying. Return method to be. 웨이퍼 보우트 반송용 수평수직 변환 반송장치로서, 대략 수직인 평면 내에서 적어도 90도 회전이 가능한 아암수단과, 수평 및 수직겸용의 복수의 보우트 접촉부위를 가지며, 상기 복수의 보우트 접촉부위의 위치를 상호간에 전환할 수 있도록 회전 가능하고, 상기 아암수단의 한끝단부에 형성되는 상부 핸드 수단과, 수평용의 복수의 보우트 접촉부위 및 수직용의 복수의 보우트 접촉부위를 가지며, 상기 수평용 및 수직용의 복수의 보우트 접촉부위의 위치를 상호간에 전환할 수 있도록 회전이 가능하고, 상기 아암수단의 다른 끝단부에 형성되는 하부 핸드 수단을 구비한 반송장치.A horizontal vertical conversion transfer apparatus for conveying wafer boats, comprising: arm means capable of rotating at least 90 degrees in a substantially vertical plane, and having a plurality of horizontally and vertically coupled bolt contacts, wherein the positions of the plurality of bolt contacts are mutually It is rotatable so that it can be switched to, and has an upper hand means formed at one end of the arm means, a plurality of horizontal boat contact portions and a plurality of vertical boat contact portions, the horizontal and vertical And a lower hand means which is rotatable so as to be able to switch positions of the plurality of bolt contact portions to each other and is formed at the other end of the arm means. 제3항에 있어서, 상기 상부 핸드 수단의 보우트 접촉부위는, 상기 상부 핸드 수단의 180도 회전에 의하여 위치를 상호간에 전환이 가능하도록 상하 위치관계로 존재하는 반송장치.4. The conveying apparatus according to claim 3, wherein the boat contacting portion of the upper hand means exists in an up-down position relationship so that the position can be mutually switched by a rotation of 180 degrees of the upper hand means. 제3항에 있어서, 상기 하부 핸드수단의 보우트 접촉부위는, 상기 수평용 및 수직용의 양쪽 모두가, 상기 상부 핸드 수단의 180도 회전에 의하여 위치를 상호간에 전환이 가능하도록 상하 위치 관계로 존재하는 반송장치.The boat contacting portion of the lower hand means is located in an up-down position relationship such that both the horizontal and vertical portions are capable of switching positions mutually by a 180 degree rotation of the upper hand means. Conveying device. 제3항에 있어서, 상기 하부 핸드 수단의 수직용 보우트 접촉부위가, 상기 보우트의 수직 중심축으로부터 옵셋트되고, 이 옵셋트에 의하여, 상기 보우트의 수직지지상태에서 상기 보우트에 회전 모우멘트가 작용하고, 이 모우멘트를 상기 상부 핸드 수단의 보우트 접촉부위가 받게되는 반송장치.4. The vertical boat contact portion of the lower hand means is offset from the vertical center axis of the boat, by which the rotation moment acts on the boat in the vertical support state of the boat. And a moment of receiving the moment from the boat contact portion of the upper hand means. 제3항에 있어서, 상기 웨이퍼 보우트는, 상부 돌출부, 하부 돌출부 및 하부 플랜지부를 포함하고, 상기 상부 핸드 수단의 수평 및 수직겸용 보우트 접촉부위가 상기 상부 돌출부와 끼워지지된 형상으로 걸어맞춤하고, 상기 하부 핸드수단의 수평용 보우트 접촉부위가 상기 하부 돌출부와 끼워지지된 형상으로 걸어맞춤하고, 상기 하부 핸드 수단의 수직용 보우트 접촉부위가 상기 하부 플랜지부의 아래면과 걸어맞춤하는 반송장치.4. The wafer boat according to claim 3, wherein the wafer boat includes an upper protrusion, a lower protrusion and a lower flange, and the horizontal and vertical bolt contact portions of the upper hand means are engaged with the upper protrusion. And a horizontal bolt contacting portion of the lower hand means engages in a shape fitted to the lower protrusion, and a vertical boat contacting portion of the lower hand means engages with a lower surface of the lower flange portion. 제3항에 있어서, 상기 각 보우트 접촉부위의 면적이, 상기 각 핸드 수단의 전표면적과 비교하여 충분히 작은 반송장치.4. The conveying apparatus according to claim 3, wherein the area of each of the boat contacting portions is sufficiently small compared with the total surface area of the respective hand means. 제3항에 있어서, 상기 각 보우트 접촉부위가 석영 또는 탄화규소로 이루어지는 반송장치.4. A conveying apparatus according to claim 3, wherein each of the boat contact portions is made of quartz or silicon carbide.
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