KR0152889B1 - Simple function inspection method for digital protection relay - Google Patents

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KR0152889B1 KR1019950005957A KR19950005957A KR0152889B1 KR 0152889 B1 KR0152889 B1 KR 0152889B1 KR 1019950005957 A KR1019950005957 A KR 1019950005957A KR 19950005957 A KR19950005957 A KR 19950005957A KR 0152889 B1 KR0152889 B1 KR 0152889B1
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Abstract

본 발명은 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법에 관한 것으로, 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수등과 같은 각종정보를 마이크로프로세서에 입력해 주는 제1과정과; 상기 제1과정의 각종정보에 따라 상기 마이크로프로세서에서 테스트용 데이타를 생성하는 제2과정과; 상기 제2과정의 테스트용 데이타를 메모리에 저장해 둔 후 테스트용 데이타에 대한 전송명령이 있으면 저장해 둔 상기 테스트용 데이타를 테스트신호로 변환하여 디지탈보호계전기에게로 전송하는 제3과정과; 상기 제3과정에서의 전송후 상기 디지탈보호계전기의 입력접점의 동작상태를 확인하여 정상동작여부를 판단하는 제4과정으로 이루어져서, 디지탈보호계전기의 측정대상이 바뀌더라도 디지탈보호계전기의 성능을 제대로 검사할 수 있고, 테스트신호로서 변압기 여자 돌입전류와 3상의 전류,전압을 발생할 수 있도록 함으로써 3상 테스트에 있어 검사과정이 매우 편리해 지도록 한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a simple performance test method for a digital protective relay. The present invention relates to a first process for inputting various information such as signal size, frequency and period, number of sampling and input contact number of a digital protective relay, etc. and; A second process of generating test data in the microprocessor according to the various information of the first process; A third step of storing the test data of the second process in a memory and converting the stored test data into a test signal and transmitting the stored test data to a digital protection relay if there is a transmission command for the test data; After the transmission in the third step, the fourth step of determining the normal operation by checking the operation state of the input contact of the digital protection relay, and properly checks the performance of the digital protection relay even if the measurement target of the digital protection relay changes. It is possible to generate transformer excitation inrush current, three-phase current and voltage as test signals, making the inspection process very convenient in three-phase testing.

Description

디지탈보호계전기의 간이성능검사방법.Simplified performance test method of digital protective relay.

제1도는 종래 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법의 실시에 이용되는 장치 블럭도.1 is a block diagram of an apparatus used for carrying out a simple performance test method of a conventional digital protective relay.

제2도는 본 발명 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법의 실시에 이용되는 장치 블럭도.2 is a block diagram of an apparatus used for carrying out the simple performance test method of the digital protective relay of the present invention.

제3도는 제2도에서의 동작흐름도.3 is a flow chart of operation in FIG.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 키입력부 20 : 디스플레이부10: key input unit 20: display unit

200 : 퍼스널컴퓨터 201 : 마이크로프로세서200: personal computer 201: microprocessor

202 : 램 203 : 디지탈/아날로그변환기202 RAM 203 Digital / Analog Converter

204 : 저역통과필터 205 : 증폭기204: low pass filter 205: amplifier

206 : 제어논리부 207 : 플립플롭206: control logic unit 207: flip-flop

본 발명은 디지탈보호계전기가 정상적으로 동작하는지를 검사하기 위한 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법에 관한 것으로, 특히 디지탈보호계전기의 측정대상이 바뀌어 디지탈계전기로부터 입력되는 신호의 크기, 주파수 및 주기 그리고 디지탈/아날로그변환기의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등에 변동이 있더라도 디지탈보호계전기의 정상동작여부를 제대로 검사할 수 있는 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a simple performance test method of a digital protective relay for checking whether the digital protective relay is operating normally, in particular, the magnitude, frequency and period of the signal input from the digital relay by changing the measurement target of the digital protective relay and the digital / analog The present invention relates to a simple performance test method of a digital protection relay that can properly check whether the digital protection relay operates normally even if the number of sampling for the input of the converter and the number of input contacts of the digital protection relay vary.

일반적으로 디지탈보호계전기에 있어서 측정대상이 바뀌게 되면 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등에 변동이 있게 되며, 이 변동하에서도 디지탈보호계전기의 정상동작여부를 제대로 검사하기 위해서는, 위와같은 변동을 적응할 수 있는 테스트신호의 발생이 필수적이다할 것이다.In general, when the measurement target is changed in the digital protective relay, there are variations in the signal size, frequency and period, the number of sampling for the input of the digital / analog converter, and the number of input contacts of the digital protective relay. In order to properly check the digital protection relay for normal operation, it is necessary to generate a test signal that can adapt to the above fluctuations.

제1도는 종래 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법의 실시에 이용되는 디지탈보호계전기의 성능검사장치의 블럭도이다.1 is a block diagram of a performance testing apparatus for a digital protection relay used in the practice of a simple performance testing method of a conventional digital protection relay.

이 디지탈보호계전기의 성능검사장치를 이용하여 디지탈보호계전기가 정상적으로 동작하는지를 검사하는 방법은, 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기(103)의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등의 변동에 무관하게 마이크로프로세서(201)의 내부함수에 따라 일정한 테스트용 데이타를 발생하는 제1과정과, 상기 제1과정에서 발생한 테스트용 데이타를 램(RAM)(102)에 저장해 두는 제2과정과, 키입력부(10)를 통해 외부로부터 테스트용 데이타에 대한 전송명령이 있으면 상기 제2과정에서 램(102)에 저장해 둔 테스트용 데이타를 일정한 테스트신호로 변환하여 디지탈보호계전기(미도시)에게로 전송하는 제3과정과, 이 제3과정에서의 전송 후 상기 디지탈보호계전기의 입력접점의 동작상태를 확인하여 정상동작여부를 판단하는 제4과정과, 이 제4과정에서의 판단결과를 디스플레이(display)부(20)에 표시하는 제5과정으로 이루어진다.The method for checking whether the digital protective relay operates normally by using the performance tester of the digital protective relay includes the magnitude, frequency, and period of the signal, and the number of sampling for the input of the digital / analog converter 103 and the digital protective relay. Regardless of the variation in the number of input contacts, the first process of generating constant test data according to the internal function of the microprocessor 201 and the test data generated in the first process are stored in the RAM 102. If there is a second process to store and a transmission command for test data from the outside through the key input unit 10, the test data stored in the RAM 102 in the second process is converted into a predetermined test signal and the digital protection relay A third process of transmitting to the second circuit; and an operation state of an input contact of the digital protection relay after the transmission in the third process, A fourth process for determining the operation status and, comprises a fifth step of displaying the determination result in the fourth step on the display (display) unit 20.

이하, 작용을 설명한다.The operation will be described below.

마이크로프로세서(101)에는 소정의 내부함수가 존재하게 되며, 이 내부함수에 따라 마이크로프로세서(101)는 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기(103)의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수등의 변동에 무관한 일정한 테스트용 데이타를 만들어서 데이타버스(B1)를 통해 이를 램(102)에게로 전송하여 저장해 둔다.The microprocessor 101 has a predetermined internal function, and according to the internal function, the microprocessor 101 performs signal magnitude, frequency, and period, and the number and sampling numbers for the input of the digital / analog converter 103. The test data is generated regardless of the variation of the number of input contacts of the protection relay, and is transmitted to the RAM 102 through the data bus B1 and stored therein.

이와같이 테스트용 데이타를 램(102)에 저장해 둔 후, 외부의 키입력부(10)로부터 테스트용 데이타의 전송을 알리는 전송명령이 마이크로프로세서(101)에 입력되면, 마이크로프로세서(101)는 앞서 램(102)에 저장해 둔 테스트용 데이타를 읽어와서 디지탈/아날로그변환기(103)에 입력하게 된다.After the test data is stored in the RAM 102 as described above, when a transfer command for notifying the transfer of the test data from the external key input unit 10 is input to the microprocessor 101, the microprocessor 101 previously stores the RAM ( The test data stored in 102 is read out and input to the digital / analog converter 103.

디지탈/아날로그변환기(103)는 입력받은 테스트용 데이타를 아날로그신호로 변환하고 이를 저역통과필터(104)에 입력하며, 저역통과필터(104)는 그 아날로그 신호에 포함되어 있는 고조파신호를 제거해서 테스트신호를 만들어 증폭기(105)에 입력하고, 증폭기(105)는 입력받은 테스트신호를 적절히 증폭하여 출력단자(OUT)를 통해 출력해서 테스트대상인 디지탈보호계전기측으로 전송한다.The digital / analog converter 103 converts the received test data into an analog signal and inputs it to the low pass filter 104. The low pass filter 104 removes the harmonic signal included in the analog signal to test it. A signal is generated and input to the amplifier 105. The amplifier 105 amplifies the input test signal appropriately, outputs it through the output terminal OUT, and transmits the signal to the digital protection relay under test.

테스트신호를 전송받은 디지탈보호계전기에서는 입력접점이 동작하게 되며, 마치크로프로세서(101)는 이 입력접점의 동작상태를 확인하여 디지탈보호계전기의 정상동작여부를 판단한 다음에 이 판단결과를 디스플레이부(20)에 표시하게 된다.In the digital protection relay receiving the test signal, the input contact is operated, and the microprocessor 101 checks the operation state of the input contact to determine whether the digital protection relay is in normal operation, and then displays the determination result. 20).

이와같은 종래 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법은, 디지탈보호계전기의 측정대상이 바뀌어 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등에 변동이 있게 되면 이에 적응을 못하여 디지탈보호계전기의 성능을 제대로 검사할 수 없게 되고, 그리고 일정한 테스트용 데이타를 발생해서 검사하는 단상 테스트에 적합한 것이기 때문에 3상 테스트에 있어서는 각상에 대해 개별적으로 검사를 해야하는 번거로움이 따르는 문제점이 있었다.Such a simple performance test method of the conventional digital protective relay is to change the measurement target of the digital protective relay to change the signal size, frequency and period, the number of sampling for the input of the digital / analog converter and the number of input contacts of the digital protective relay If there is a change, it cannot adapt to the performance of the digital protective relay, and it is suitable for the single-phase test that generates and checks the test data. There was a problem with the hassle.

본 발명은, 이와같은 종래의 문제점을 감안하여, 디지탈보호계전기의 측정대상이 바뀌어 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등에 변동이 있더라도 디지탈보호계전기의 성능을 제대로 검사할 수 있는 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법을 제공함에 목적이 있다.In view of such a conventional problem, the present invention changes the measurement target of a digital protective relay to change the signal size, frequency and period, the number of sampling for input of the digital / analog converter, the number of input contacts of the digital protective relay, and the like. It is an object of the present invention to provide a simple performance test method of a digital protective relay that can properly inspect the performance of the digital protective relay even if there is a change.

본 발명의 다른 목적은 지락회선 선택 계전기(Selective Ground Relay)와 같이 6상(전압3상,전류3상) 테스트가 요구되는 계전기의 성능검사에 적합한 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법을 제공함에 있다.상기 목적들에 따른 본 발명 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법은, 본 발명의 실시에 이용되는 디지탈보호계전기의 성능검사장치를 보인 제2도를 참조하면, 퍼스널컴퓨터(200)를 이용하여 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등과 같은 각종정보를 마이크로프로세서(201)에 입력해 주는 제1과정과; 상기 제1과정의 각종정보에 따라 상기 마이크로프로세서(201)에서 테스트용 데이타를 생성하는 제2과정과; 상기 제2과정의 테스트용 데이타를 메모리인 램(202)에 저장해 둔 후 외부의 키입력부(10)로부터 테스트용 데이타에 대한 전송명령이 있으면 저장해 둔 상기 테스트용 데이타를 테스트신호로 변환하여 디지탈보호계전기에게로 전송하는 제3과정과; 상기 제3과정에서의 전송 후 상기 디지탈보호계전기의 입력접점의 동작상태를 확인하여 정상동작여부를 판단하는 제4과정으로 이루어진다.It is another object of the present invention to provide a simple performance test method of a digital protective relay suitable for performance testing of a relay requiring a six-phase (voltage three-phase, current three-phase) test, such as a ground fault selective relay. In the simplified performance test method of the digital protective relay of the present invention according to the above objects, referring to FIG. 2 showing the performance test apparatus of the digital protective relay used in the practice of the present invention, a signal is generated using the personal computer 200. A first step of inputting various types of information such as the size, the frequency and the period, and the number of sampling and the number of input contacts of the digital protection relay to the microprocessor 201; A second process of generating test data in the microprocessor 201 according to the various information of the first process; After storing the test data of the second process in the RAM 202 which is a memory and converting the stored test data into a test signal when there is a transmission command for the test data from the external key input unit 10, the digital signal is protected. Transmitting to a relay; After the transmission in the third process, a fourth process of determining whether or not normal operation is performed by checking the operation state of the input contact of the digital protection relay.

이하, 작용을 상세히 설명한다.Hereinafter, the operation will be described in detail.

제3도를 참조한다.See FIG. 3.

먼저, 외부의 퍼스널컴퓨터(200)에서는 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기(203)의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등과 같은 각종정보를 생성,편집해서(ST1), 직렬통신인터럽트부(SCI ; Serial Communication Interrupt)를 통해 직렬전송하여 디지탈보호계전기의 간이성능검사장치의 마이크로프로세서(201)에 입력해 주게 된다(ST2).First, the external personal computer 200 generates and edits various kinds of information such as signal size, frequency and period, sampling number for input of the digital / analog converter 203 and the number of input contacts of the digital protection relay. (ST1), the serial transmission is carried out via a serial communication interrupt (SCI; Serial Communication Interrupt) and input to the microprocessor 201 of the simplified performance inspection apparatus of the digital protective relay (ST2).

이에 마이크로프로세서(201)는 위의 각종정보로부터 테스트용 데이타를 생성하며, 그리고 제어논리부(206)를 통해 램인에이블신호()를 램(202)에 입력해 줌과 아울러 라이트신호()를 입력하여 데이타버스(B1)를 통해 상기 테스트용 데이타를 램(202)에게로 전송하여 저장해 둔다.Accordingly, the microprocessor 201 generates test data from the above various information, and the RAM enable signal ( ) Is input to the RAM 202 and the light signal ( ) Is stored and transmitted to the RAM 202 via the data bus B1.

이와같이 테스트용 데이타를 램(202)에 저장해 둔 후, 외부의 키입력부(10)부로부터 테스트용 데이타의 전송을 알리는 전송명령이 마이크로프로세서(201)에 입력되면, 마이크로프로세서(201)는 리드신호()를 출력하여 앞서 램(202)에 저장해 둔 테스트용 데이타를 읽어와서 디지탈/아날로그변환기(203)에 입력하게 된다(ST3).After the test data is stored in the RAM 202 as described above, when a transfer command for notifying the transfer of the test data from the external key input unit 10 is input to the microprocessor 201, the microprocessor 201 reads a read signal. ( ), The test data stored in the RAM 202 is read and input to the digital / analog converter 203 (ST3).

한편, 마이크로프로세서(201)는 제어논리부(206)를 통해 램인에이블신호()와 반대의 신호상태를 가지는 변환기인에이블신호()를 출력하여 상기 디지탈/아날로그변화기(203)에 입력하고, 그리고 주소신호(A1)(A2)를 출력하여 함께 입력해 주게 되며, 이에따라 디지탈/아날로그변환기(203)는 앞서 마이크로프로세서(201)가 입력해 준 테스트용 데이타를 아날로그신호로 변환하여 저역통과필터(204)에 입력하게 된다.On the other hand, the microprocessor 201 is a RAM enable signal (through the control logic unit 206) Converter enable signal with signal state opposite to ) Is inputted to the digital / analog converter 203, and the address signals A1 and A2 are outputted and input together. Accordingly, the digital / analog converter 203 is previously used by the microprocessor 201. The input test data is converted into an analog signal and input to the low pass filter 204.

이때, 램인에이블신호()와 변환기인에이블신호()(또는 플립플롭(207))는 서로 반대의 상태를 가지므로 램(202)의 액세스시기와 디지탈/아날로그변환기(203)의 액세스시기는 반대가 되게 된다.At this time, the RAM enable signal ( ) And the converter enable signal ( (Or flip-flop 207) have opposite states, so the access timing of the RAM 202 and the access timing of the digital / analog converter 203 are reversed.

한편, 저역통과필터(204)는 디지탈/아날로그변환기(203)로부터 입력된 아날로그신호에 일정차수(일예로,'10')이상의 고조파신호가 포함되어 있게 되면 이를 제거하여 테스트신호를 발생하고, 증폭기(205)는 이 테스트신호를 증폭해서 출력단자(OUT)를 통해 출력하여 테스트대상인 디지탈보호계전기측으로 전송한다(ST4).Meanwhile, the low pass filter 204 generates a test signal by removing a harmonic signal having a predetermined order (for example, '10') or more in the analog signal input from the digital / analog converter 203 and generating an test signal. Reference numeral 205 amplifies the test signal, outputs it through the output terminal OUT, and transmits the signal to the digital protective relay side under test (ST4).

마이크로프로세서(201)는 테스트신호의 전송이 완료된 후, 디지탈 계전기 동작시간 측정을 위한 대기상태에 있게 된다(ST5)(ST6).After the transmission of the test signal is completed, the microprocessor 201 is in a standby state for measuring the digital relay operation time (ST5) (ST6).

한편, 테스트신호를 전송받은 상기 디지탈보호계전기에서는 입력접점이 동작하게 되며, 마이크로프로세서(101)는 이 입력접점의 동작상태를 확인하여 디지탈보호계전기의 정상동작여부를 판단한 다음에 판단결과를 디스플레이부(20)에 표시하게 된다(ST7)(ST8).On the other hand, in the digital protection relay receiving the test signal, an input contact is operated, and the microprocessor 101 checks the operation state of the input contact to determine whether the digital protection relay is normally operated, and then displays the determination result. (20) (ST7) (ST8).

한편, 본 발명은 퍼스널컴퓨터(200)에서 변압기 여자 돌입전류(inrush current) 또는 3상의 전류,전압 발생용 정보를 상기 마이크로프로세서(201)에 입력해 주고, 마이크로프로세서(201)에서 이를 이용하여 소정의 테스트용 데이타를 생성하도록 함으로써 변압기보호계전기 또는 지락회선 선택 계전기의 정상동작여부까지도 검사할 수 있다.On the other hand, the present invention inputs the information for generating the transformer inrush current (inrush current) or three-phase current, voltage in the personal computer 200 to the microprocessor 201, by using the microprocessor 201 predetermined By generating the test data for the test, it is possible to check whether the transformer protection relay or the ground circuit selection relay is in normal operation.

특히, 지락회선 선택 계전기의 검사시, 상기 디지탈/아날로그변환기(203)는 마이크로프로세서(201)가 6상의 테스트용 데이타를 입력해 주면 내부레지스터에 그 6상의 테스트용 데이타를 래치시켜 두고, 이들 각각을 아날로그신호로 변환해서 상기 마이크로프로세서(201)로부터 제어신호()가 입력되면 동시에 출력하여 저역통과필터(204)에 입력해 주도록 되어 있다. 이때, 물론 디지탈/아날로그변환기(203)의 출력채널(Output Channel)의 갯수는 다수개이며, 이들의 선택은 마이크로프로세서(201)에서 출력되는 주소(A1)(A2)에 의해서 이루어진다.In particular, when inspecting the ground line selection relay, the digital / analog converter 203 latches the test data of the six phases in the internal register when the microprocessor 201 inputs the test data of the six phases. Is converted into an analog signal to control signals from the microprocessor 201. ) Is inputted at the same time and inputted to the low pass filter 204. At this time, of course, the number of output channels of the digital / analog converter 203 is plural, and the selection thereof is made by the addresses A1 and A2 output from the microprocessor 201.

이상에서 상세히 설명한 바와같이, 본 발명은 신호의 크기, 주파수 및 주기, 그리고 디지탈/아날로그변환기의 입력을 위한 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등에 따라 테스트신호를 발생하기 때문에 디지탈보호계전기의 측정대상이 바뀌더라도 디지털보호계전기의 성능을 제대로 검사할 수 있고, 테스트신호로서 돌입전류와 3상의 전류,전압을 동시에 발생할 수도 있기 때문에 3상테스트에 있어 검사과정이 매우 편리하다는 효과를 갖는다.As described in detail above, the present invention generates a test signal according to the size, frequency and period of the signal, the number of sampling for input of the digital / analog converter and the number of input contacts of the digital protection relay. Even if the measurement object is changed, the performance of the digital protection relay can be properly inspected, and the inrush current and the three-phase current and voltage can be generated at the same time as the test signal, so the inspection process is very convenient in the three-phase test.

Claims (2)

신호의 크기,주파수 및 주기 그리고 샘플링갯수 및 디지탈보호계전기의 입력접점의 갯수 등과 같은 각종정보를 마이크로프로세서에 입력해 주는 제1과정과;상기 제1과정의 각종정보에 따라 상기 마이크로프로세서에서 테스트용 데이타를 생성하는 제2과정과;상기 제2과정의 테스트용 데이타를 메모리에 저장해 둔 후 외부로부터 테스트용 데이타에 대한 전송명령이 있으면 저장해 둔 상기 테스트용 데이타를 테스트신호로 변환하여 디지탈보호계전기에게로 전송하는 제3과정과;상기 제3과정에서의 전송 후 상기 디지탈보호계전기의 입력접점의 동작상태를 확인하여 디지탈보호계전기의 정상동작여부를 판단하는 제4과정으로 이루어진 것을 특징으로 하는 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법.A first step of inputting a variety of information, such as the size, frequency and period of the signal, the number of sampling and the number of input contacts of the digital protection relay to the microprocessor; for testing in the microprocessor according to the information of the first process A second process of generating data; and storing the test data of the second process in a memory and converting the stored test data into a test signal if the transfer command for the test data is received from the outside to the digital protection relay. And a fourth process of determining whether the digital protection relay is normally operated by checking an operation state of an input contact of the digital protection relay after the transmission in the third process. Simple performance test method of relay. 제1항에 있어서, 제1과정은 변압기보호계전기 또는 지락회선 선택계전기의 정상동작여부까지 검사할 수 있도록 변압기 여자 돌입전류 또는 3상의 전류, 전압 발생용 정보를 상기 마이크로프로세서에 입력해 주는 것을 특징으로 하는 디지탈보호계전기의 간이성능검사방법.The method of claim 1, wherein the first process inputs information on transformer excitation inrush current or three-phase current and voltage generation to the microprocessor to inspect whether the transformer protection relay or the ground circuit selection relay is normally operated. Simple performance test method of digital protective relay.
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