JPWO2020243700A5 - - Google Patents

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Claims (21)

第1の表面、及び対向する第2の表面を有する基板と、
前記基板の前記第1の表面に取り付けられた、1つ又は複数のCMOS回路を備えるCMOSデバイスと、
前記CMOSデバイスの外面に取り付けられた、1つ又は複数の圧電トランスデューサと、
を含む、トランシーバ装置であって、
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの各々は、前記基板の前記第2の表面に向かって超音波を放出するように構成されている、
電圧を最大化するためのトランシーバ装置。
a substrate having a first surface and an opposing second surface;
a CMOS device comprising one or more CMOS circuits attached to the first surface of the substrate;
one or more piezoelectric transducers attached to the outer surface of the CMOS device;
A transceiver device comprising:
each of the one or more piezoelectric transducers is configured to emit ultrasonic waves toward the second surface of the substrate;
Transceiver device for maximizing voltage.
前記超音波は、位相調整される、請求項1に記載の装置。 2. The apparatus of claim 1, wherein the ultrasound waves are phased. 前記基板が、可撓性の伸縮性材料から構成される、請求項1に記載の装置。 2. The device of claim 1, wherein the substrate is constructed from a flexible stretchable material. 前記基板は、シリコンウエハ、SiCウエハ、及びシリカウエハの少なくとも1つから構成される、請求項1に記載の装置。 2. The apparatus of claim 1, wherein said substrate comprises at least one of a silicon wafer, a SiC wafer, and a silica wafer. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサは、AlN又はAlScNから構成される、請求項1に記載の装置。 2. The apparatus of claim 1, wherein the one or more piezoelectric transducers are composed of AlN or AlxScyN . 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの少なくとも1つは、前記基板の前記第2の表面に向けて固定超音波を放射するように構成される、請求項1に記載の装置。 2. The apparatus of claim 1, wherein at least one of said one or more piezoelectric transducers is configured to emit stationary ultrasonic waves toward said second surface of said substrate. 第1の表面、及び対向する第2の表面を有する基板と
前記基板の前記第1の表面に取り付けられた、1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層と、
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層に取り付けられた、バッファ層と、
前記バッファ層が前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び第2の層の間となるよう、前記バッファ層に取り付けられた、1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層と、
を含む、電圧を最大化するためのトランシーバ装置であって、
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層は、電気コネクタを介してカスケード構成で接続される、
トランシーバ装置。
a substrate having a first surface and an opposing second surface; a first layer of one or more piezoelectric transducers attached to the first surface of the substrate;
a buffer layer attached to the first layer of the one or more piezoelectric transducers;
a second layer of one or more piezoelectric transducers attached to the buffer layer such that the buffer layer is between the first and second layers of the one or more piezoelectric transducers; ,
A transceiver device for maximizing voltage, comprising:
the first layer of the one or more piezoelectric transducers and the second layer of the one or more piezoelectric transducers are connected in a cascade configuration via an electrical connector;
transceiver device.
前記1つ又は複数の圧電層の第2の層の外面に取り付けられた、上部絶縁層と、を更に備える、請求項に記載の装置。 8. The device of claim 7 , further comprising a top insulating layer attached to the outer surface of the second layer of the one or more piezoelectric layers. 1つ又は複数のCMOS回路を含むCMOSデバイスと、を更に含み、
前記CMOSデバイスは、前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層と前記基板との間に接続される、
請求項に記載の装置。
a CMOS device comprising one or more CMOS circuits;
the CMOS device is connected between a first layer of the one or more piezoelectric transducers and the substrate;
8. Apparatus according to claim 7 .
前記CMOSデバイスは、BEOL層及びFEOL層を含み、
前記BEOL層は、メタライゼーション層であり、前記FEOL層は、前記BEOL層と前記基板との間に接続されたトランジスタ層である、
請求項に記載の装置。
the CMOS device includes a BEOL layer and a FEOL layer;
wherein the BEOL layer is a metallization layer and the FEOL layer is a transistor layer connected between the BEOL layer and the substrate;
10. Apparatus according to claim 9 .
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層と前記CMOSデバイスとの間に接続された絶縁層と、を更に備える、請求項に記載の装置。 10. The apparatus of claim 9 , further comprising an insulating layer connected between the first layer of said one or more piezoelectric transducers and said CMOS device. 前記電気コネクタと前記CMOSデバイスとを接続する金属ビアと、を更に備える、請求項に記載の装置。 10. The apparatus of claim 9 , further comprising metal vias connecting said electrical connector and said CMOS device. 前記電気コネクタに接続され、前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、又は前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層の少なくとも外面まで延在する電気パッドと、を更に備える、請求項に記載の装置。 an electrical pad connected to the electrical connector and extending to at least an outer surface of the first layer of the one or more piezoelectric transducers or the second layer of the one or more piezoelectric transducers; 8. Apparatus according to claim 7 . 前記基板は、パターンを有する裏面を有する、請求項に記載の装置。 8. The device of claim 7 , wherein the substrate has a patterned back surface. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層は、前記1つ又は複数の圧電トランスデューサのうちの2つの間に、少なくとも1つの空間を備える、請求項に記載の装置。 8. The apparatus of claim 7 , wherein a second layer of said one or more piezoelectric transducers comprises at least one space between two of said one or more piezoelectric transducers. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層の少なくとも1つは、1つの大型トランスデューサである、請求項に記載の装置。 8. The apparatus of claim 7 , wherein at least one of the first layer of one or more piezoelectric transducers and the second layer of one or more piezoelectric transducers is one large transducer. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層の少なくとも1つにおいて、前記圧電トランスデューサは、直列に接続される、請求項に記載の装置。 8. The method of claim 7 , wherein in at least one of the first layer of the one or more piezoelectric transducers and the second layer of the one or more piezoelectric transducers the piezoelectric transducers are connected in series. device. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層の少なくとも1つにおいて、前記圧電トランスデューサは、並列に接続される、請求項に記載の装置。 8. The method of claim 7 , wherein in at least one of the first layer of the one or more piezoelectric transducers and the second layer of the one or more piezoelectric transducers, the piezoelectric transducers are connected in parallel. device. 前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、又は前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層うちの少なくとも1つは、前記基板に向かって超音波を放射し、
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの少なくとも1つは、異方性波集中によって決定される波の焦点に基づいて位置決めされる、
請求項に記載の装置。
at least one of the first layer of the one or more piezoelectric transducers or the second layer of the one or more piezoelectric transducers radiates ultrasonic waves toward the substrate;
at least one of the one or more piezoelectric transducers is positioned based on a wave focus determined by an anisotropic wave concentration;
8. Apparatus according to claim 7 .
第1の表面、及び対向する第2の表面を有する基板と、
前記基板の前記第1の表面に取り付けられた、1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層と、
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層に取り付けられた、バッファ層と、
前記バッファ層が前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び第2の層の間となるよう、前記バッファ層に取り付けられた、1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層と、
を含む、電圧を最大化するためのトランシーバ装置であって
前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第1の層、及び前記1つ又は複数の圧電トランスデューサの第2の層は、第1の構成と第2の構成との間を再構成可能性に達成できるようオン又はオフ可能な1つ又は複数のトランジスタスイッチを有する回路内で接続されている、
トランシーバ装置。
a substrate having a first surface and an opposing second surface;
a first layer of one or more piezoelectric transducers attached to the first surface of the substrate;
a buffer layer attached to the first layer of the one or more piezoelectric transducers;
a second layer of one or more piezoelectric transducers attached to the buffer layer such that the buffer layer is between the first and second layers of the one or more piezoelectric transducers; ,
wherein the first layer of the one or more piezoelectric transducers and the second layer of the one or more piezoelectric transducers have a first configuration and connected in a circuit having one or more transistor switches that can be turned on or off to achieve reconfigurability between a second configuration;
transceiver device.
前記第1の構成において、前記第1の層、及び前記第2の層の少なくとも1つの前記1つ又は複数の圧電トランスデューサは、並列に送信し、
前記第2の構成において、前記第1の層、及び前記第2の層の少なくとも1つの前記1つ又は複数の圧電トランスデューサは、直列に送信する、
請求項20に記載の装置。
In the first configuration, the one or more piezoelectric transducers of at least one of the first layer and the second layer transmit in parallel;
In the second configuration, the one or more piezoelectric transducers of the first layer and at least one of the second layer transmit in series.
21. Apparatus according to claim 20 .
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