JPWO2017199517A1 - 試験選択装置 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (5)
- 第1のプログラムの内、変更された部分を示す差分情報を取得する差分取得手段と、
前記第1のプログラムによる機能を利用する第2のプログラムにおける、前記差分取得手段により取得された差分情報で示される影響箇所を特定する差分対応箇所特定手段と、
前記差分対応箇所特定手段により特定された影響箇所に対応する、第2のプログラムの試験を選択する試験選択手段と、
を備える試験選択装置。 - 試験で実行される実行箇所を含む試験情報を取得する試験情報取得手段をさらに備え、
前記試験選択手段は、前記試験情報取得手段により取得された試験情報に基づいて、前記差分対応箇所特定手段により特定された影響箇所に対応する試験を選択する、請求項1に記載の試験選択装置。 - 前記差分取得手段により取得された差分情報に基づいて、実行するために権限を要する差分情報による機能を特定する機能特定手段をさらに備え、
前記差分対応箇所特定手段は、前記機能特定手段により特定された機能に対応する第2のプログラムの影響箇所を特定する、請求項1又は2に記載の試験選択装置。 - 前記試験選択手段は、前記機能特定手段により特定された機能の権限に対応する権限を試験の実施に必要とする試験をさらに選択する、請求項3に記載の試験選択装置。
- 前記試験選択手段によって、前記影響箇所に対応する、第2のプログラムの試験が選択されなかった場合、その旨を出力する出力手段をさらに備える、請求項1から4の何れか一項に記載の試験選択装置。
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