JPWO2016167141A1 - 信号処理装置、信号処理方法、およびプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
1.最小分散ビームフォーマの説明
2.本実施の形態に係る信号処理装置のブロック図
3.ビームフォーミング処理のフローチャート
4.本ビームフォーミング処理の特徴
5.その他の簡易射影方法1
6.その他の簡易射影方法2
7.コンピュータ構成例
初めに、最小分散ビームフォーマについて説明する。
図1は、最小分散ビームフォーマにおいて、観測信号として目的音が含まれている信号を用いつつ、目的音の影響を抑えるようにした信号処理装置の構成例を示すブロック図である。
図2のフローチャートを参照して、信号処理装置1が実行するビームフォーミング処理について説明する。
図3は、マイクロホンの個数Mが3、かつ、雑音源の個数Nが2である場合の、信号処理装置1におけるベクトルpの概念を説明する図である。
目的音の強調効果は、上述したように、目的音のステアリングベクトルa(ω,θs)のうち、N個の雑音のステアリングベクトルa(ω,θn1),a(ω,θn2),・・,a(ω,θnN)が張る部分空間Wに直交する成分(ベクトルp)に直交する部分空間に射影する射影行列Pを生成する方法(以下、本射影手法という。)よりも劣るが、より簡易的な2つの射影方法について説明する。
第2の簡易射影方法は、目的音のステアリングベクトルa(ω,θs)の方向に射影する方法である。
上述した一連の処理は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。ここで、コンピュータには、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータや、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどが含まれる。
(1)
目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出する共分散行列演算部と、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出するステアリングベクトル生成部と、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出する射影行列生成部と、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出するフィルタ生成部と
を備える信号処理装置。
(2)
前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルと前記雑音のステアリングベクトルの両方を算出し、
前記射影行列生成部は、前記目的音のステアリングベクトルのうち、前記雑音のステアリングベクトルが張る部分空間に直交する成分を求め、その成分に直交する部分空間に射影する前記射影行列を算出する
前記(1)に記載の信号処理装置。
(3)
前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルと前記雑音のステアリングベクトルの両方を算出し、
前記射影行列生成部は、前記雑音のステアリングベクトルが張る部分空間を求め、その部分空間に射影する前記射影行列を算出する
前記(1)または(2)に記載の信号処理装置。
(4)
前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルを算出し、
前記射影行列生成部は、前記目的音のステアリングベクトルの方向に射影する前記射影行列を算出する
前記(1)乃至(3)のいずれかに記載の信号処理装置。
(5)
前記フィルタ生成部により算出された前記フィルタを用いて、前記観測信号に対して前記最小分散ビームフォーマのビームフォーミング処理を実行するビームフォーミング処理部をさらに備える
前記(1)乃至(4)のいずれかに記載の信号処理装置。
(6)
前記射影行列生成部は、前記共分散行列の持つ空間的性質の情報のうち、前記雑音に関する情報を保存しつつ、前記目的音に関する情報のみを排除する前記射影行列を算出する
前記(1)乃至(5)のいずれかに記載の信号処理装置。
(7)
信号処理装置が、
目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出し、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出し、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出し、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出する
ステップを含む信号処理方法。
(8)
コンピュータを、
目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出する共分散行列演算部と、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出するステアリングベクトル生成部と、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出する射影行列生成部と、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出するフィルタ生成部
として機能させるためのプログラム。
Claims (8)
- 目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出する共分散行列演算部と、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出するステアリングベクトル生成部と、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出する射影行列生成部と、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出するフィルタ生成部と
を備える信号処理装置。 - 前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルと前記雑音のステアリングベクトルの両方を算出し、
前記射影行列生成部は、前記目的音のステアリングベクトルのうち、前記雑音のステアリングベクトルが張る部分空間に直交する成分を求め、その成分に直交する部分空間に射影する前記射影行列を算出する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルと前記雑音のステアリングベクトルの両方を算出し、
前記射影行列生成部は、前記雑音のステアリングベクトルが張る部分空間を求め、その部分空間に射影する前記射影行列を算出する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記ステアリングベクトル生成部は、前記目的音のステアリングベクトルを算出し、
前記射影行列生成部は、前記目的音のステアリングベクトルの方向に射影する前記射影行列を算出する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記フィルタ生成部により算出された前記フィルタを用いて、前記観測信号に対して前記最小分散ビームフォーマのビームフォーミング処理を実行するビームフォーミング処理部をさらに備える
請求項1に記載の信号処理装置。 - 前記射影行列生成部は、前記共分散行列の持つ空間的性質の情報のうち、前記雑音に関する情報を保存しつつ、前記目的音に関する情報のみを排除する前記射影行列を算出する
請求項1に記載の信号処理装置。 - 信号処理装置が、
目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出し、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出し、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出し、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出する
ステップを含む信号処理方法。 - コンピュータを、
目的音が含まれる時間区間の観測信号から、最小分散ビームフォーマで用いる共分散行列を算出する共分散行列演算部と、
前記目的音のステアリングベクトルまたは雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を算出するステアリングベクトル生成部と、
算出された前記目的音のステアリングベクトルまたは前記雑音のステアリングベクトルの少なくとも一方を用いて、前記共分散行列を加工する射影行列を算出する射影行列生成部と、
前記射影行列により前記共分散行列を加工して得られた加工共分散行列を用いて、前記最小分散ビームフォーマのフィルタを算出するフィルタ生成部
として機能させるためのプログラム。
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