JPWO2006137332A1 - Method for producing diamond-like carbon film - Google Patents

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Abstract

実用性の高いDLC膜の製造方法を提供すること、具体的には、簡便な装置を使用し、低真空度で、基材への密着性が良好なDLC膜の製造方法を提供すること。基材上に、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を形成する第1工程と、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を、炭化水素ガスおよび/またはアルコールと水素ガスとを少なくとも含む混合ガスを導入ガスとして用いた、パルス放電−プラズマ化学気相成長法により還元して金属薄膜とするとともに、金属薄膜の少なくとも表層に存在する金属を金属炭化物に変化させて中間層とし、この中間層上にダイヤモンドライクカーボン膜を形成する第2工程とを有するダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法とする。To provide a method for producing a highly practical DLC film, specifically, to provide a method for producing a DLC film having a low degree of vacuum and good adhesion to a substrate using a simple apparatus. A first step of forming a metal oxide thin film or a metal nitride thin film on a substrate; and a mixed gas containing at least a hydrocarbon gas and / or an alcohol and a hydrogen gas in the metal oxide thin film or the metal nitride thin film. Reduced by the pulse discharge-plasma chemical vapor deposition method used as the introduced gas to form a metal thin film, and at least the surface layer of the metal thin film is changed to metal carbide to form an intermediate layer, on this intermediate layer A method for producing a diamond-like carbon film having a second step of forming a diamond-like carbon film.

Description

本発明は、ダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for producing a diamond-like carbon film.

ダイヤモンドライクカーボン膜(以下、「DLC膜」と略称する)は、ダイヤモンドのようなsp結合とグラファイト等のようなsp結合とをともに有するアモルファス状の膜である。このDLC膜は、その表面が極めて平滑であり、硬度が高く、優れた耐摩耗性および潤滑特性を有している。そのため、これらの特性を活かし、塑性加工用金型や冶具等における表面の硬質皮膜としての用途が期待されている。The diamond-like carbon film (hereinafter abbreviated as “DLC film”) is an amorphous film having both sp 3 bonds such as diamond and sp 2 bonds such as graphite. The DLC film has an extremely smooth surface, high hardness, and excellent wear resistance and lubrication characteristics. Therefore, taking advantage of these characteristics, it is expected to be used as a hard coating on the surface of plastic working dies and jigs.

しかしながら、DLC膜形成時の問題点として、基材との密着性が悪いという問題がある。特に、鉄系の基材に対してDLC膜を直接形成するのは困難である。これらの原因としては、DLC膜の内部応力が大きいこと、基材との炭素結合の安定性が十分でないこと等が考えられている。   However, as a problem at the time of forming the DLC film, there is a problem that the adhesion to the substrate is poor. In particular, it is difficult to directly form a DLC film on an iron-based substrate. As these causes, it is considered that the internal stress of the DLC film is large and the stability of the carbon bond with the substrate is not sufficient.

そこで、基材との密着性を改善する方法として、基材とDLC膜との間に中間層をはさむ方法が提案されている。この種の中間層としては、Ti膜、Cr膜、Si膜、SiC膜等が知られている。従来、これらの中間層は、いずれも物理的気相成長法(以下、「PVD法」と略称する)または化学的気相成長法(以下、「CVD法」と略称する)等による高真空度下にて形成されている(例えば特開2000−256850号公報参照)。そのため、DLC膜の生成速度が遅い、高コストである等の実用上の問題点が多かった。   Therefore, as a method for improving the adhesion to the base material, a method of sandwiching an intermediate layer between the base material and the DLC film has been proposed. As this kind of intermediate layer, a Ti film, a Cr film, a Si film, a SiC film and the like are known. Conventionally, all of these intermediate layers have a high degree of vacuum by a physical vapor deposition method (hereinafter abbreviated as “PVD method”) or a chemical vapor deposition method (hereinafter abbreviated as “CVD method”). It is formed below (see, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 2000-256850). For this reason, there are many practical problems such as a low DLC film generation rate and high cost.

ところで、本発明者らの一人である野田は、パルス放電−プラズマCVD法において、200Torrまでの低真空度下で、陽極側にDLC膜を形成できることを示した(特開2004−169183号公報)。   By the way, Noda, one of the present inventors, has shown that a DLC film can be formed on the anode side under a low vacuum level up to 200 Torr in the pulse discharge-plasma CVD method (Japanese Patent Laid-Open No. 2004-169183). .

ここで、パルス放電−プラズマCVD法とは、図1に示すように、直流電源と、その出力を断続させるインテリジェントパワーモジュールと、パルス発信器と、高圧トランスと、抵抗と、高圧トランスの高圧側から電圧を放電するためのダイオードと、を備えたパルス電源を用い、陰極および陽極よりなる放電電極からパルス放電することによりプラズマを生成し、原料ガスを分解して気相成長させる方法である。   Here, as shown in FIG. 1, the pulse discharge-plasma CVD method is a DC power supply, an intelligent power module for intermittently outputting the power, a pulse transmitter, a high voltage transformer, a resistor, and a high voltage side of the high voltage transformer. In this method, plasma is generated by pulse discharge from a discharge electrode composed of a cathode and an anode using a pulse power source including a diode for discharging a voltage from the cathode, and a source gas is decomposed to vapor-phase grow.

本発明が解決しようとする課題は、実用性の高いDLC膜の製造方法を提供すること、具体的には、簡便な装置を使用し、低真空度で、基材への密着性が良好なDLC膜の製造方法を提供することにある。   The problem to be solved by the present invention is to provide a highly practical method for producing a DLC film. Specifically, a simple apparatus is used, the degree of vacuum is low, and the adhesion to a substrate is good. The object is to provide a method of manufacturing a DLC film.

本発明者らは、上記課題を解決するため、鋭意検討を重ねた結果、基材上に金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を形成した後、パルス放電―プラズマCVD法を用い、この方法の特徴である水素のラジカルによる極めて高い還元雰囲気を利用して、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜をTi膜、Si膜等の金属薄膜に還元し、パルス放電―プラズマCVD法の反応過程で、少なくとも金属薄膜の表層に存在する金属をTiC、SiC等の金属炭化物に変化させ、この金属炭化物皮膜上に密着性の高いDLC膜を形成させうることを見出し、本発明に到達した。   As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventors have formed a metal oxide thin film or a metal nitride thin film on a substrate and then used a pulse discharge-plasma CVD method. Using a very high reducing atmosphere by hydrogen radicals, which is a feature, a metal oxide thin film or metal nitride thin film is reduced to a metal thin film such as a Ti film or Si film, and in the reaction process of pulse discharge-plasma CVD method, The present inventors have found that a metal present in at least the surface layer of a metal thin film can be changed to a metal carbide such as TiC or SiC, and a DLC film having high adhesion can be formed on the metal carbide film.

すなわち、本発明に係るDLC膜の製造方法は、基材上に、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を形成する第1工程と、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を、炭化水素ガスおよび/またはアルコールと水素ガスとを少なくとも含む混合ガスを導入ガスとして用いた、パルス放電−プラズマ化学気相成長法により還元して金属薄膜とするとともに、金属薄膜の少なくとも表層に存在する金属を金属炭化物に変化させて中間層とし、この中間層上にダイヤモンドライクカーボン膜を形成する第2工程とを有することを要旨とする。なお、薄膜とは、0.1mm〜1nmの膜厚の膜をいう。   That is, the method for producing a DLC film according to the present invention includes a first step of forming a metal oxide thin film or a metal nitride thin film on a substrate, a metal oxide thin film or a metal nitride thin film, a hydrocarbon gas, and / Or reduced by pulse discharge-plasma chemical vapor deposition using a mixed gas containing at least alcohol and hydrogen gas as an introduction gas to form a metal thin film, and at least the metal present in the surface layer of the metal thin film is a metal carbide And a second step of forming a diamond-like carbon film on the intermediate layer. The thin film refers to a film having a thickness of 0.1 mm to 1 nm.

ここで、上記パルス放電−プラズマCVD法は、基本的には、炭化水素ガスおよび/またはアルコールと、水素ガスとを少なくとも含む混合ガスを導入ガスとして用い、この導入ガスにより形成された雰囲気下において実施される。   Here, the pulse discharge-plasma CVD method basically uses a mixed gas containing at least a hydrocarbon gas and / or alcohol and hydrogen gas as an introduction gas, and in an atmosphere formed by the introduction gas. To be implemented.

導入ガスをパルス放電−プラズマCVD法の反応室に導入する前に、反応室を10−2Torr程度に排気するが、より低い真空度での実施も可能である。Before introducing the introduced gas into the reaction chamber of the pulse discharge-plasma CVD method, the reaction chamber is evacuated to about 10 −2 Torr. However, it is also possible to carry out with a lower degree of vacuum.

上記炭化水素ガスとしては、具体的には、メタンガス、アセチレンガスなどを例示することができるが必ずしもこれらに限定されるものではない。また、上記炭化水素ガスは、1種または2種以上混合されていても良い。   Specific examples of the hydrocarbon gas include methane gas and acetylene gas, but are not necessarily limited thereto. Moreover, the said hydrocarbon gas may be 1 type, or 2 or more types may be mixed.

上記パルス放電では、放電開始電圧は有効放電電圧の10倍程度と高くなり、これにより基材にプラズマが強く打ち込まれ、中間層と基材との密着性を高める効果がある。   In the pulse discharge described above, the discharge start voltage is as high as about 10 times the effective discharge voltage, and thus plasma is strongly injected into the base material, and there is an effect of improving the adhesion between the intermediate layer and the base material.

この際、上記基材としては、鉄、鉄合金、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金、チタン、チタン合金などの金属材料を用いることができる。これら金属材料は、1種または2種以上含まれていても良い。   At this time, as the base material, a metal material such as iron, iron alloy, aluminum, aluminum alloy, copper, copper alloy, titanium, titanium alloy or the like can be used. These metal materials may be contained in one kind or two or more kinds.

本発明は、特に、鉄合金へのDLC膜の形成に有用である。鉄合金は、工具材料、金型材料、磁性体メモリ材料などの実用材料としての用途が多く、DLC膜を形成することにより、上記実用材料の耐摩耗性、潤滑性が向上し、さらに付加価値を向上させることができるからである。   The present invention is particularly useful for forming a DLC film on an iron alloy. Iron alloys have many uses as practical materials such as tool materials, mold materials, and magnetic memory materials. By forming a DLC film, the wear resistance and lubricity of the above-mentioned practical materials are improved, and additional value is added. It is because it can improve.

また、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を構成する金属成分は、チタン、ケイ素、バナジウム、ジルコニウム、および、タングステンから選択される1種または2種以上であると良い。なお、ケイ素は、その性質上、金属と非金属との中間に属するので、いわゆる半金属と呼ばれるが、本発明では、便宜上、金属成分として取り扱う。   The metal component constituting the metal oxide thin film or metal nitride thin film is preferably one or more selected from titanium, silicon, vanadium, zirconium, and tungsten. Silicon is called a so-called semi-metal because it belongs to the middle of a metal and a non-metal due to its nature, but in the present invention, it is treated as a metal component for convenience.

これら金属成分は、基材である鉄合金とDLC膜との適合性に優れており、中間層にこれら金属成分が含まれていると、密着性の高いDLC膜を鉄合金に形成しやすくなる。   These metal components are excellent in compatibility between the iron alloy as the base material and the DLC film. When these metal components are contained in the intermediate layer, it becomes easy to form a DLC film having high adhesion on the iron alloy. .

また、上記金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を形成する方法としては、具体的には、例えば、CVD法、レーザーアブレーション法、液相析出法(LPD法)、電気泳動法(EPD法)、ゾルゲル法などの方法を例示することができる。   Further, as a method of forming the metal oxide thin film or metal nitride thin film, specifically, for example, CVD method, laser ablation method, liquid phase deposition method (LPD method), electrophoresis method (EPD method), A method such as a sol-gel method can be exemplified.

これら方法は、それぞれ一長一短があるので、基材の形状、必要とする膜特性、コストなどを勘案して選択すれば良い。例えば、CVD法は、比較的早い処理速度で緻密な薄膜を形成できるが、高価な装置が必要でありコストも高い。レーザーアブレーション法は、緻密な薄膜を比較的容易に形成できるが、処理速度が遅くコストも高い。LPD法は、大面積の薄膜形成に有利であり省エネルギーであるが、原料に金属フルオロ錯体を用いるため、溶液管理に注意が必要である。EPD法も大面積の薄膜形成に有利であるが、ランニングコストが高い。   Each of these methods has advantages and disadvantages, and may be selected in consideration of the shape of the base material, required film characteristics, cost, and the like. For example, the CVD method can form a dense thin film at a relatively high processing speed, but requires an expensive apparatus and is expensive. The laser ablation method can form a dense thin film relatively easily, but the processing speed is slow and the cost is high. The LPD method is advantageous for forming a thin film over a large area and saves energy. However, since a metal fluoro complex is used as a raw material, attention must be paid to solution management. The EPD method is also advantageous for forming a large area thin film, but has a high running cost.

これらに対し、ゾルゲル法は、金属アルコキシドを原料として用いるため、大気中の水分の影響を受けやすく溶液が不安定となる場合があり、溶液管理に注意が必要であるものの、比較的簡便な装置で大面積の金属酸化物薄膜を形成するのに適しており、ランニングコストも低い。そのため、本発明において好適に用いることができる。   On the other hand, the sol-gel method uses metal alkoxide as a raw material, so the solution is likely to be affected by moisture in the atmosphere and may become unstable. It is suitable for forming a large-area metal oxide thin film and has a low running cost. Therefore, it can be suitably used in the present invention.

また、上記パルス放電は、少なくとも、ガス圧力1〜800Torr、放電電流密度0.001〜1000A/cm、パルスの各周期における放電時間0.01〜10ms、放電停止時間0.01〜10msの放電条件を満たしていると良い。このような放電条件を満たしておれば、適正な膜形成速度となるため、密着性の高いDLC膜を形成しやすくなるからである。The pulse discharge is performed at least with a gas pressure of 1 to 800 Torr, a discharge current density of 0.001 to 1000 A / cm 2 , a discharge time of 0.01 to 10 ms in each cycle of the pulse, and a discharge stop time of 0.01 to 10 ms. It is good if the conditions are met. This is because, if such discharge conditions are satisfied, an appropriate film formation speed is obtained, and it becomes easy to form a DLC film with high adhesion.

従来のDLC膜の製造方法では、膜形成時に10−4Torr以上の高真空が必要であった。これに対し、本発明に係るDLC膜の製造方法では、基材への密着性が良好なDLC膜を得るのに、真空として10−2Torr程度までの排気で十分であり、パルス放電−プラズマCVD法の実施中は、1〜200Torr程度の低真空度であっても良い。また、直流(DC)プラズマ放電を用いることができるため、高周波(RF)スパッタ法などに比較して、装置が簡便となる。さらに、中間層の形成時にゾルゲル法を使用できるので、全体としてランニングコストを安価にすることができる。In the conventional method for manufacturing a DLC film, a high vacuum of 10 −4 Torr or more is required at the time of film formation. On the other hand, in the method for producing a DLC film according to the present invention, in order to obtain a DLC film having good adhesion to a substrate, exhaust up to about 10 −2 Torr as a vacuum is sufficient, and pulse discharge-plasma During the execution of the CVD method, a low vacuum degree of about 1 to 200 Torr may be used. In addition, since direct current (DC) plasma discharge can be used, the apparatus is simpler than radio frequency (RF) sputtering. Furthermore, since the sol-gel method can be used when forming the intermediate layer, the running cost can be reduced as a whole.

パルス放電−プラズマCVD法に使用される電源回路の概略図である。It is the schematic of the power supply circuit used for a pulse discharge-plasma CVD method. パルス放電−プラズマCVD法によりDLC膜を形成するための装置構成を示した概略図である。It is the schematic which showed the apparatus structure for forming a DLC film by a pulse discharge-plasma CVD method. パルス放電−プラズマCVD法における、放電波形を示した図である。It is the figure which showed the discharge waveform in the pulse discharge-plasma CVD method. 塗工液によるコーティング処理をおこなっていない未処理品(Bare)についての引っかき試験後の光学顕微鏡写真である。It is an optical microscope photograph after the scratch test about the untreated goods (Bare) which has not performed the coating process by a coating liquid. 希釈率10%の塗工液(チタンアルコキシド使用)によるコーティング処理をおこなった処理品についての引っかき試験後の光学顕微鏡写真である。It is an optical microscope photograph after the scratch test about the processed goods which performed the coating process by the coating liquid (use of titanium alkoxide) of the dilution rate 10%. 紡績針へのDLC膜の形成において、中間層無しの場合につき、その表面状態を示したSEM写真である。It is the SEM photograph which showed the surface state about the case where there is no intermediate layer in formation of a DLC film to a spinning needle. 紡績針へのDLC膜の形成において、中間層有りの場合につき、その表面状態を示したSEM写真である。It is the SEM photograph which showed the surface state about the case where an intermediate layer exists in formation of a DLC film to a spinning needle. 紡績針へのDLC膜の形成において、中間層無しの場合のラマン分光分析の結果を示した図である。It is the figure which showed the result of the Raman spectroscopic analysis in the case of no intermediate | middle layer in formation of the DLC film | membrane to a spinning needle. 紡績針へのDLC膜の形成において、中間層有りの場合のラマン分光分析の結果を示した図である。It is the figure which showed the result of the Raman spectroscopic analysis in case of an intermediate | middle layer in formation of the DLC film | membrane to a spinning needle.

本発明では、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を表面に形成した基材を、パルス放電−プラズマCVD法による処理のために反応室に移動し、その後、この反応室に、導入ガスとして、炭化水素ガスおよび/またはアルコールと、水素ガスとを少なくとも含む混合ガスを導入する。   In the present invention, the substrate on which the metal oxide thin film or the metal nitride thin film is formed is moved to the reaction chamber for the treatment by the pulse discharge-plasma CVD method, and then introduced into the reaction chamber as an introduced gas. A mixed gas containing at least hydrocarbon gas and / or alcohol and hydrogen gas is introduced.

この際、上記混合ガスを導入する前に、先ず水素ガスのみを導入して放電させても良い。この場合には、金属酸化物または金属窒化物をより完全に金属に還元することができる。反応室に混合ガスが導入され、パルス放電−プラズマCVD処理により金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜が還元されて生成した金属薄膜は、少なくともその表層に存在する金属がTiC、SiC等の金属炭化物に変化して中間層となり、その上に密着性の高いDLC膜が形成される。   At this time, before introducing the mixed gas, first, only hydrogen gas may be introduced and discharged. In this case, the metal oxide or metal nitride can be more completely reduced to the metal. A metal thin film formed by introducing a mixed gas into the reaction chamber and reducing the metal oxide thin film or metal nitride thin film by pulse discharge-plasma CVD processing is a metal carbide such as TiC or SiC at least in the surface layer. The DLC film with high adhesion is formed on the intermediate layer.

なお、上記中間層は、その表面から基材方向に向かって、傾斜的に金属炭化物が存在していても良いし、段階的に金属炭化物が存在していても良い。さらには、中間層全体に金属炭化物が存在していても良い。   In the intermediate layer, metal carbide may be present in a gradient from the surface toward the substrate, or metal carbide may be present in stages. Furthermore, metal carbide may exist in the entire intermediate layer.

中間層の前駆体となる金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を、ゾルゲル法で形成する場合、その原料となる金属アルコキシドとしては、具体的には、例えば、少なくとも一つのM−O−C(M:金属、O:、C:炭素を表す)結合を有しており、アルコールのR−O−HのHが金属と置換した金属有機化合物などを例示することができる。以下に、金属アルコキシドをより具体的に例示するが、必ずしもこれらに限定されるものではない。また、これらは1種または2種以上混合して用いることも可能である。   When the metal oxide thin film or metal nitride thin film that is the precursor of the intermediate layer is formed by the sol-gel method, as the metal alkoxide that is the raw material, specifically, for example, at least one M-O-C ( M: metal, O :, C: represents carbon), and an organic metal compound in which H of alcohol R—O—H is substituted with metal can be exemplified. Hereinafter, metal alkoxides are illustrated more specifically, but are not necessarily limited thereto. Moreover, these can also be used 1 type or in mixture of 2 or more types.

ケイ素アルコキシドとしては、具体的には、例えば、オルトケイ酸メチル、オルトケイ酸エチル、オルトケイ酸ブチル、フェニルトリエトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、シクロペンチルトリエトキシシランなどを例示することができる。   Specific examples of the silicon alkoxide include methyl orthosilicate, ethyl orthosilicate, butyl orthosilicate, phenyltriethoxysilane, allyltriethoxysilane, methyltriethoxysilane, and cyclopentyltriethoxysilane. .

チタン系アルコキシドとしては、具体的には、例えば、チタンテトライソプロポキシド、チタンテトラエトキシド、チタンテトラブトキシド、シクロペンタジニエルチタントリイソプロポキシドなどを例示することができる。   Specific examples of the titanium-based alkoxide include titanium tetraisopropoxide, titanium tetraethoxide, titanium tetrabutoxide, and cyclopentadinier titanium triisopropoxide.

バナジウムアルコキシドとしては、具体的には、例えば、バナジウムアセチルアセテート、バナジウムオキシトリエトキシド、バナジウムトリイソプロポキシドなどを例示することができる。   Specific examples of vanadium alkoxides include vanadium acetyl acetate, vanadium oxytriethoxide, vanadium triisopropoxide, and the like.

ジルコニウムアルコキシドとしては、具体的には、例えば、ジルコニウムエトキシド、ジルコニウムテトラエトキシド、ジルコニウムテトラプロポキシド、ジルコニウムテトラブトキシドなどを例示することができる。   Specific examples of the zirconium alkoxide include zirconium ethoxide, zirconium tetraethoxide, zirconium tetrapropoxide, zirconium tetrabutoxide and the like.

タングステンアルコキシドとしては、具体的には、例えば、タングステンペンタエトキサイドなどを例示することができる。   Specific examples of the tungsten alkoxide include tungsten pentaethoxide.

また、上記ゾルゲル法は、上記金属アルコキシドをトルエンやジクロロエチレンなどの溶媒で希釈してコーティング液を作製し、このコーティング液を基材上に大気中などで塗工するなどして行えば良い。この際、基材への塗工方法としては、具体的には、例えば、ディッピング法、吹き付け法、スピンコート法などを例示することができる。基材の形状、目標膜厚などを考慮して適宜選択すれば良い。   The sol-gel method may be performed by diluting the metal alkoxide with a solvent such as toluene or dichloroethylene to prepare a coating solution, and coating the coating solution on the substrate in the air. In this case, specific examples of the coating method on the substrate include a dipping method, a spraying method, and a spin coating method. What is necessary is just to select suitably considering the shape of a base material, a target film thickness, etc.

その後、金属アルコキシドが塗工された基材を、10−2Torr以下の低真空度に保持された装置中に移動し、パルス放電―プラズマCVD処理を実施する。パルス放電―プラズマCVD処理による加熱と還元性雰囲気とにより、金属酸化物が先ずTi、Si等の金属に還元され、さらに、TiC、SiCなどの金属炭化物に変化し、DLC膜の生成に好適な中間層となる。Thereafter, the substrate coated with the metal alkoxide is moved into an apparatus maintained at a low vacuum of 10 −2 Torr or less, and a pulse discharge-plasma CVD process is performed. Pulse discharge-Heating by a plasma CVD process and a reducing atmosphere reduce the metal oxide to a metal such as Ti and Si first, and then change it into a metal carbide such as TiC and SiC, which is suitable for forming a DLC film. It becomes an intermediate layer.

以下に本発明の好適な一実施の形態を実施例によって説明する。本発明は、下記の実施例によって限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲内で、種々の改変を行って実施することが可能なものである。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to examples. The present invention is not limited to the following examples, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention.

図2に、本実験に用いた装置概略図を示す。真空チャンバーは、ロータリポンプによって10−2Torr程度まで排気された後、CHとHとの混合ガス(CH4 濃度=3vol%)が所定のガス圧力まで注入される。ガスの流量は、20sccm(standard cc/min 1atm (大気圧760Torr))である。FIG. 2 shows a schematic diagram of the apparatus used in this experiment. The vacuum chamber is evacuated to about 10 −2 Torr by a rotary pump, and then a mixed gas of CH 4 and H 2 (CH 4 concentration = 3 vol%) is injected to a predetermined gas pressure. The flow rate of the gas is 20 sccm (standard cc / min 1 atm (atmospheric pressure 760 Torr)).

図1に、電源部を示す。インテリジェントパワーモジュール(IPM)によってスイッチングされた電圧は、高電圧トランスで昇圧され、高電圧ダイオードによって整流された後、陰極に印加される。ここで、放電は、基材である基板(陽極側)と陰極との間に生じ、基板上にDLC膜が生成する。   FIG. 1 shows a power supply unit. The voltage switched by the intelligent power module (IPM) is boosted by a high voltage transformer, rectified by a high voltage diode, and then applied to the cathode. Here, the discharge is generated between the substrate (anode side) which is the base material and the cathode, and a DLC film is generated on the substrate.

基板にかかる高電圧および電流は、図3に示すような波形となる。ここで、Ipは放電電流、Tdは放電時間、Tnは放電休止時間、Vpは放電開始時のピーク電圧、Vgは放電電圧である。また、以下では、DTを製膜時間とする。   The high voltage and current applied to the substrate have waveforms as shown in FIG. Here, Ip is the discharge current, Td is the discharge time, Tn is the discharge pause time, Vp is the peak voltage at the start of discharge, and Vg is the discharge voltage. In the following, DT is a film forming time.

チタンアルコキシドとしてテトラ−i−プロポキシチタン(5N高純度化学製)を、ケイ酸アルコキシドとしてテトラエトキシシラン(3N関東化学製)を、それぞれトルエンで希釈し、各塗工液を作製した。各塗工液の希釈率は体積比でそれぞれ50%、10%、5%、2%、1%とした。これらの塗工液をスピンコータ(回転数3000rpm〜1000rpm、遠心力2000G〜200G)で基板上に塗工した。使用した基板(縦5mm×横5mm×厚み0.5mm)は、硬鋼線(SW−B;80C)を焼入れ処理したもので、そのビッカース硬度Hvは850〜870である。DLC膜処理後の基板の硬度は、マイクロビッカースで最低823、最高982であり、処理前後での基板の硬度変化はほとんどなく、本処理による温度上昇は、基板の焼きなまし温度にまで至らなかった(180℃以下)ことを確認した。   Tetra-i-propoxytitanium (made by 5N high-purity chemical) as titanium alkoxide and tetraethoxysilane (made by 3N Kanto Chemical) as silicate alkoxide were each diluted with toluene to prepare each coating solution. The dilution ratio of each coating solution was 50%, 10%, 5%, 2%, and 1%, respectively, in volume ratio. These coating liquids were coated on the substrate with a spin coater (rotation speed 3000 rpm to 1000 rpm, centrifugal force 2000 G to 200 G). The used substrate (length 5 mm × width 5 mm × thickness 0.5 mm) is obtained by quenching a hard steel wire (SW-B; 80C), and has a Vickers hardness Hv of 850 to 870. The substrate hardness after the DLC film treatment was at least 823 and a maximum of 982 in micro Vickers, and there was almost no change in the hardness of the substrate before and after the treatment, and the temperature rise by this treatment did not reach the annealing temperature of the substrate ( 180 ° C. or lower).

試料としてSK5(焼き入れ鋼 C−0.85wt%、Cr−0.13wt%)よりなる基板を用意した。また、チタンアルコキシドとしてテトラ−i−プロポキシチタン(5N高純度化学製)をトルエンで希釈し、塗工液を作製した。塗工液の希釈率は体積比でそれぞれ10%、2%、1%とした。また、ケイ酸アルコキシドとしてテトラエトキシシラン(3N関東化学製)をトルエンで希釈し、塗工液を作製した。塗工液の希釈率は体積比2%とした。   A substrate made of SK5 (quenched steel C-0.85 wt%, Cr-0.13 wt%) was prepared as a sample. Further, tetra-i-propoxy titanium (5N high-purity chemical) was diluted with toluene as a titanium alkoxide to prepare a coating solution. The dilution ratio of the coating solution was 10%, 2%, and 1%, respectively, in volume ratio. Further, tetraethoxysilane (manufactured by 3N Kanto Chemical Co., Ltd.) as a silicate alkoxide was diluted with toluene to prepare a coating solution. The dilution rate of the coating solution was 2% by volume.

次いで、上記試料表面に、各塗工液をスピンコータにより塗布した。また、比較のため、各塗工液を塗布しなかった未処理(Bare)のものも準備した。   Subsequently, each coating liquid was apply | coated to the said sample surface with the spin coater. For comparison, an untreated (Bare) solution in which each coating solution was not applied was also prepared.

次いで、これらを、パルス放電−プラズマCVD法によりそれぞれ処理した。パルス放電−プラズマCVD法の条件は、メタン濃度Cm=3%、ガス圧力Pg=10Torr、放電電流Ip=1A、放電時間Td=0.5msec、放電休止時間Tn=1.7msec、製膜時間DT=2hrとした。   Subsequently, these were each processed by the pulse discharge-plasma CVD method. The conditions of the pulse discharge-plasma CVD method are: methane concentration Cm = 3%, gas pressure Pg = 10 Torr, discharge current Ip = 1 A, discharge time Td = 0.5 msec, discharge pause time Tn = 1.7 msec, film formation time DT = 2 hr.

得られた各試料に対してダイヤモンド針によって引っかき試験を行なった。この際、ダイヤモンド針に対する荷重は最大70Nであり、1mmあたり10Nの荷重増加とした。   Each of the obtained samples was scratched with a diamond needle. At this time, the load on the diamond needle was 70 N at maximum, and the load was increased by 10 N per 1 mm.

図4および図5は、引っかき試験により、中間層の形成有無による影響を示した図である。図4は、塗工液によるコーティング処理をおこなっていない未処理品(Bare)についての引っかき試験後の光学顕微鏡写真である。また、図5は、希釈率10%の塗工液(チタンアルコキシド使用)によるコーティング処理をおこなった処理品についての引っかき試験後の光学顕微鏡写真である。   4 and 5 are diagrams showing the influence of the presence or absence of the intermediate layer formed by the scratch test. FIG. 4 is an optical micrograph after a scratch test on an untreated product (Bare) that has not been coated with a coating solution. FIG. 5 is an optical micrograph after a scratch test on a treated product that has been coated with a coating solution (using titanium alkoxide) at a dilution rate of 10%.

処理品は、DLC膜が硬く、70NでもDLC膜の剥離は見られなかった。一方、未処理品は、DLC膜の密着性が悪く、10N〜20N程度の負荷荷重により、下地の鉄層が露出してしまうことが確認された。   The treated product had a hard DLC film, and no peeling of the DLC film was observed even at 70N. On the other hand, it was confirmed that the untreated product had poor adhesion of the DLC film and the underlying iron layer was exposed by a load of about 10N to 20N.

試料としてSUS301Hよりなる基板を用意した。また、チタンアルコキシドとしてテトラ−i−プロポキシチタン(5N高純度科学製)をトルエンで希釈し、塗工液を作製した。塗工液の希釈率は体積比でそれぞれ10%、2%、1%とした。   A substrate made of SUS301H was prepared as a sample. Further, tetra-i-propoxytitanium (manufactured by 5N High-Purity Science) was diluted with toluene as a titanium alkoxide to prepare a coating solution. The dilution ratio of the coating solution was 10%, 2%, and 1%, respectively, in volume ratio.

次いで、上記試料表面に、各塗工液をスピンコータにより塗布した。また、比較のため、各塗工液を塗布しなかった未処理(Bare)のものも準備した。   Subsequently, each coating liquid was apply | coated to the said sample surface with the spin coater. For comparison, an untreated (Bare) solution in which each coating solution was not applied was also prepared.

次いで、得られた各試料を絶縁ビニルテープで一部分覆い、膜厚測定用試料を作製した。   Next, each of the obtained samples was partially covered with an insulating vinyl tape to produce a film thickness measurement sample.

次いで、これら試料を、パルス放電−プラズマCVD法によりそれぞれ処理した。パルス放電−プラズマCVD法の条件は、メタン濃度Cm=3%、ガス圧力Pg=15Torr、放電電流Ip=0.6A、放電時間Td=0.3msec、放電休止時間Tn=1.2msec、製膜時間DT=2hrとした。   Next, these samples were each processed by a pulse discharge-plasma CVD method. The conditions of the pulse discharge-plasma CVD method are: methane concentration Cm = 3%, gas pressure Pg = 15 Torr, discharge current Ip = 0.6 A, discharge time Td = 0.3 msec, discharge pause time Tn = 1.2 msec, film formation Time DT = 2 hr.

次いで、得られた各DLC膜について、接触型表面粗さ計を用いて、同条件で膜厚測定を行ったところ、各膜厚は0.9μmであった。   Next, for each of the obtained DLC films, the film thickness was measured under the same conditions using a contact-type surface roughness meter. As a result, each film thickness was 0.9 μm.

紡績針(中川製作所製、製品番号855、焼き入れ鋼SK5 C−0.85wt%、Cr−0.13wt%)の表面に希釈率5%のチタンアルコキシドを含む塗工液をスプレー塗布した試料と、未処理(Bare)の試料とを、パルス放電−プラズマCVD法によりそれぞれ処理した。パルス放電−プラズマCVD法の条件は、メタン濃度Cm=3%、ガス圧力Pg=5Torr、放電電流Ip=1.5A、放電時間Td=0.3msec、放電休止時間Tn=1.2msec、製膜時間DT=1hrとした。   A sample in which a coating liquid containing a titanium alkoxide having a dilution rate of 5% is spray-coated on the surface of a spinning needle (manufactured by Nakagawa Seisakusho, product number 855, quenched steel SK5 C-0.85 wt%, Cr-0.13 wt%) The untreated (Bare) samples were each treated by a pulse discharge-plasma CVD method. The conditions of the pulse discharge-plasma CVD method are methane concentration Cm = 3%, gas pressure Pg = 5 Torr, discharge current Ip = 1.5 A, discharge time Td = 0.3 msec, discharge pause time Tn = 1.2 msec, film formation Time DT was set to 1 hr.

図6、図7に、紡績針へのDLC膜の形成において、中間層の有無によるその表面状態の違いを示したSEM写真を示す。また、図8、図9に、紡績針へのDLC膜の形成において、中間層の有無によるラマン分光分析の結果を示す。   6 and 7 show SEM photographs showing the difference in surface state depending on the presence or absence of the intermediate layer in the formation of the DLC film on the spinning needle. 8 and 9 show the results of Raman spectroscopic analysis with and without an intermediate layer in the formation of the DLC film on the spinning needle.

ラマン分光分析結果からわかるように、未処理品(Bare)は膜厚が非常に薄く、SEMによる観察像では、部分的にしかDLC膜が付着していないことがわかる。一方、中間層を形成した処理品は、sp3結合(ダイヤモンド構造)による1350cm-1のピークと、sp2結合(グラファイト構造)による1550cm-1のピークとが確認され、良質の均質なDLC膜が形成されていることが確認された。As can be seen from the Raman spectroscopic analysis results, the untreated product (Bare) has a very thin film thickness, and the SEM observation image shows that the DLC film is only partially attached. On the other hand, the processed product in which the intermediate layer was formed was confirmed to have a peak at 1350 cm −1 due to sp 3 bonding (diamond structure) and a peak at 1550 cm −1 due to sp 2 bonding (graphite structure). It was confirmed that was formed.

Claims (4)

基材上に、金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を形成する第1工程と、
前記金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を、
炭化水素ガスおよび/またはアルコールと水素ガスとを少なくとも含む混合ガスを導入ガスとして用いた、パルス放電−プラズマ化学気相成長法により還元して金属薄膜とするとともに、前記金属薄膜の少なくとも表層に存在する金属を金属炭化物に変化させて中間層とし、
この中間層上にダイヤモンドライクカーボン膜を形成する第2工程と、
を有することを特徴とするダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法。
A first step of forming a metal oxide thin film or a metal nitride thin film on a substrate;
The metal oxide thin film or metal nitride thin film,
Reduced by a pulse discharge-plasma chemical vapor deposition method using a mixed gas containing at least hydrocarbon gas and / or alcohol and hydrogen gas as an introduction gas to form a metal thin film, and exists in at least the surface layer of the metal thin film Change the metal to metal carbide to make an intermediate layer,
A second step of forming a diamond-like carbon film on the intermediate layer;
A method for producing a diamond-like carbon film, comprising:
前記基材は、鉄合金よりなり、かつ、
前記金属酸化物薄膜または金属窒化物薄膜を構成する金属成分は、チタン、ケイ素、バナジウム、ジルコニウム、および、タングステンから選択される1種または2種以上であることを特徴とする請求項1に記載のダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法。
The substrate is made of an iron alloy, and
2. The metal component constituting the metal oxide thin film or metal nitride thin film is one or more selected from titanium, silicon, vanadium, zirconium, and tungsten. Method for producing a diamond-like carbon film.
前記金属酸化物薄膜の形成は、金属アルコキシドを原料とするゾルゲル法によることを特徴とする請求項1または2に記載のダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法。   The method for producing a diamond-like carbon film according to claim 1 or 2, wherein the metal oxide thin film is formed by a sol-gel method using a metal alkoxide as a raw material. 前記パルス放電は、少なくとも、ガス圧力1〜800Torr、放電電流密度0.001〜1000A/cm、パルスの各周期における放電時間0.01〜10ms、放電停止時間0.01〜10msの放電条件を満たすことを特徴とする請求項1〜3の何れかに記載のダイヤモンドライクカーボン膜の製造方法。The pulse discharge has at least discharge conditions of a gas pressure of 1 to 800 Torr, a discharge current density of 0.001 to 1000 A / cm 2 , a discharge time of 0.01 to 10 ms in each cycle of the pulse, and a discharge stop time of 0.01 to 10 ms. The method for producing a diamond-like carbon film according to claim 1, wherein the diamond-like carbon film is satisfied.
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