JPS6427641U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6427641U JPS6427641U JP12199787U JP12199787U JPS6427641U JP S6427641 U JPS6427641 U JP S6427641U JP 12199787 U JP12199787 U JP 12199787U JP 12199787 U JP12199787 U JP 12199787U JP S6427641 U JPS6427641 U JP S6427641U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- sample gas
- pressure
- analysis section
- adjusting
- Prior art date
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- 238000009434 installation Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12199787U JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1987-08-07 | 1987-08-07 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12199787U JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1987-08-07 | 1987-08-07 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6427641U true JPS6427641U (enrdf_load_stackoverflow) | 1989-02-17 |
JPH0531547Y2 JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1993-08-13 |
Family
ID=31369520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12199787U Expired - Lifetime JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1987-08-07 | 1987-08-07 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009109206A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Yokogawa Electric Corp | 分析計 |
JP4896267B1 (ja) * | 2011-07-28 | 2012-03-14 | 株式会社ベスト測器 | ガス分析装置 |
JP4925489B1 (ja) * | 2011-08-02 | 2012-04-25 | 株式会社ベスト測器 | ガス分析装置 |
JP2015105892A (ja) * | 2013-11-29 | 2015-06-08 | 株式会社四国総合研究所 | ガス濃度測定設備及び測定方法 |
JP2017505917A (ja) * | 2014-02-14 | 2017-02-23 | エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH | 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5562539B2 (ja) * | 2008-08-21 | 2014-07-30 | 矢崎総業株式会社 | 濃度測定装置 |
-
1987
- 1987-08-07 JP JP12199787U patent/JPH0531547Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009109206A (ja) * | 2007-10-26 | 2009-05-21 | Yokogawa Electric Corp | 分析計 |
JP4896267B1 (ja) * | 2011-07-28 | 2012-03-14 | 株式会社ベスト測器 | ガス分析装置 |
JP4925489B1 (ja) * | 2011-08-02 | 2012-04-25 | 株式会社ベスト測器 | ガス分析装置 |
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JP2017505917A (ja) * | 2014-02-14 | 2017-02-23 | エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH | 赤外吸光分光法によって試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を求める装置及び方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0531547Y2 (enrdf_load_stackoverflow) | 1993-08-13 |