JPS6394755A - Function confirming system for supervisory test equipment - Google Patents
Function confirming system for supervisory test equipmentInfo
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- JPS6394755A JPS6394755A JP23936686A JP23936686A JPS6394755A JP S6394755 A JPS6394755 A JP S6394755A JP 23936686 A JP23936686 A JP 23936686A JP 23936686 A JP23936686 A JP 23936686A JP S6394755 A JPS6394755 A JP S6394755A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 31
- 238000004092 self-diagnosis Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 9
- 101100364962 Arabidopsis thaliana STE1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 101000930354 Homo sapiens Protein dispatched homolog 1 Proteins 0.000 abstract description 2
- 102100035622 Protein dispatched homolog 1 Human genes 0.000 abstract description 2
- 101100096884 Rattus norvegicus Sult1e1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 101100219191 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) byr1 gene Proteins 0.000 abstract description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 101000930348 Homo sapiens Protein dispatched homolog 2 Proteins 0.000 description 1
- 102100035637 Protein dispatched homolog 2 Human genes 0.000 description 1
- 101100001471 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) alm1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 1
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、交換システムを監視する監視試験装置の監視
機能確認方式に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a monitoring function confirmation method for a monitoring test device that monitors a switching system.
（従来の技術）
第２図は、従来の監視試験システムのブロック図である
。同図において、ＳＹＳは交換装置、８丁Ｆ２は監視試
験装置、Ａ１ＭＣ２は障害制御装置、ＤＩＳＰ２は障害
表示部、ＡＬＭ２０〜ＡＬＭ２ｎは各障害表示ランプ、
ＧＫ２はランプチェック用のスイッチである。(Prior Art) FIG. 2 is a block diagram of a conventional monitoring test system. In the same figure, SYS is a replacement device, 8-gun F2 is a monitoring test device, A1MC2 is a fault control device, DISP2 is a fault display section, ALM20 to ALM2n are fault display lamps,
GK2 is a switch for checking the lamp.
監視試験装置５ＴＥ２は、その障害制御装置ＡＬＭＣ２
が交換装置ＳＹＳの障害を収集して、障害表示部ＤＩＳ
Ｐ２の該当する障害表示ランプＡＬ Ｍ２Ｏ〜Ａ Ｌ
Ｍ２ｎを点灯させる。The monitoring test equipment 5TE2 has its failure control device ALMC2.
collects the faults of the switching device SYS and displays the fault display section DIS.
Corresponding fault indicator lamp of P2 AL M2O~A L
Turn on M2n.
複数の障害が発生した場合は、障害表示ランプＡＬＭ２
０〜ＡＬＭ２０のそれぞれ該当のランプが点灯覆るので
、保守マニュアルにより修復の優先順位に従って処置し
ている。If multiple failures occur, the failure indicator lamp ALM2
Since the corresponding lamps of 0 to ALM20 are turned on and off, treatment is carried out according to the priority order of repair according to the maintenance manual.
スイッチＣＫ２はその押操作により、障害表示ランプΔ
ＬＭ２０〜ＡＬＭ２ｎの１べＣを点灯させて、全部点灯
ならばランプが良好であると判断し、ぞして、消灯して
いるランプは不良であるとして良品と取換えるようにし
ている。When the switch CK2 is pressed, the fault indicator lamp Δ
The lamps LM20 to ALM2n are turned on, and if all of them are turned on, the lamps are judged to be in good condition.If the lamps are turned off, the lamps are judged to be defective and replaced with good ones.
（発明が解決しようとする問題点）
しかしながら、前記の監視試験装置は自己診断機能を有
しておらず、ランプチェック用のスイッチを操作して障
害表示ランプの良否はチェック出来るが、監視試験装置
の障害監視機能が正常かどうかについてはチェックし得
ないので、障害の不検出あるいは誤検出等が生じて障害
の早期発見、早期修復に支障を来たすことがあった。(Problem to be Solved by the Invention) However, the above-mentioned monitoring test device does not have a self-diagnosis function, and although it is possible to check whether the fault indicator lamp is good or not by operating the lamp check switch, the monitoring test device does not have a self-diagnosis function. Since it is not possible to check whether the fault monitoring function of the system is normal, faults may not be detected or may be erroneously detected, which may impede early detection and repair of faults.
本発明は上記の問題点を解決するために、監視試験装置
に自己診断機能を持たせ、適時にチェックを指定すると
、各表示器が確認のために表示されるとともに、監視機
能についての診断結果が該表示器に表示されて、その良
否が確認されるようにすることを目的とする。In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a monitoring test device with a self-diagnosis function, and when a check is specified in a timely manner, each display is displayed for confirmation, and the diagnosis result regarding the monitoring function is displayed. is displayed on the display so that its quality can be confirmed.
（問題点を解決するための手段）
本発明は前記問題点を解決するために、交換装置の障害
を障害制御装置によって監視してその障害発生内容を複
数の表示器にそれぞれ表示する監視試験装置において、
前記障害制御装置は自己診断機能を備え、確認スイッチ
が操作されたとき前記各表示器をその表示機能確認のた
めに所定の時間にわたって表示駆動させ、前記自己診断
の結果に基づいて監視機能の正常あるいは異常なるを前
記表示器によって所定の時間にわたって表示駆動させる
ようにしたものである。(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a monitoring test device that monitors faults in a switching device using a fault control device and displays the details of the fault occurrence on a plurality of display units. In,
The fault control device has a self-diagnosis function, and when the confirmation switch is operated, drives each of the display devices for a predetermined period of time to confirm the display function, and determines whether the monitoring function is normal based on the result of the self-diagnosis. Alternatively, if an abnormality is detected, the display is driven to display for a predetermined period of time.
（作用）
本発明によれば、確認スイッチが操作されると、障害発
生を表示するための各表示器が所定の時間にわたって確
認表示され、そし−（監視試験装置の監視機能が自己診
断されて、その結果が前記表示器によって所定の時間に
わたって表示される。(Function) According to the present invention, when the confirmation switch is operated, each display for indicating the occurrence of a failure is displayed for a predetermined period of time, and (the monitoring function of the monitoring test device is self-diagnosed). , the results are displayed by the display over a predetermined period of time.
（実施例）
第１図は本発明の一実施例を示す監視試験システムのブ
ロック図である。(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram of a monitoring test system showing an embodiment of the present invention.
同図において、ＳＹＳは第２図におけると同一の交換装
置、５ＴＥＩは監視試験装置、ＡＬＭＣｌは障害制御装
置、ＤＩＳＰｌは障害発生を表示する表示部、ＣＫ１は
監視試験装置５ＴＥＩが正常かどうかをチェックする確
認スイッチである。In the figure, SYS is the same switching device as in Figure 2, 5TEI is a monitoring test device, ALMCl is a fault control device, DISP1 is a display unit that displays the occurrence of a fault, and CK1 is a monitoring test device that checks whether 5TEI is normal. This is a confirmation switch.
ＭＰはマイクロプロセッサで、監視試験装置５ＴＥ１を
統括してプログラム制御する。ＤＴＰは障害検出回路で
、マイクロプロセッサＭＰによって制御されて、交換装
置ＳＹＳの障害の発生とその内容と、確認スイッチＣＫ
Ｉの操作を検出する。MP is a microprocessor that centralizes and program-controls the monitoring test equipment 5TE1. DTP is a fault detection circuit, which is controlled by the microprocessor MP and detects the occurrence and content of faults in the switching device SYS, as well as the confirmation switch CK.
Detect I operation.
Ｍは記憶回路で、障害検出回路ＤＴＥの各検出結果等を
一時記憶Ｊる。ＩＮＴは割込み制御回路、ＴＩＭはタイ
マ回路で、確認スイッチＣＫ１がＯＮとなると、割込み
制御回路ＩＮＴによつ−（後記の第３図によるプログラ
ム実行させ、そしてタイマ回路ＴＩＭによって主プログ
ラムに戻るための所定時間が設定される。ＡＬＭ１０〜
ＳＬＭ１ｎは障害種別表示器で、障害制御装置へＬＭＣ
Ｉによって収集、分類された交換装置ＳＹＳの障害情報
の種別を、その種別毎にランプ表示する、Ｋ１は障害内
容表示器で、発生した障害の最も重要な障害内容を電光
表示する。Ｋ２は障害発生数表示器で、発生した障害数
を電光表示する。ＤＩＳＰＣは表示制御回路で、障害制
御装置ＡＬＭＣＩの情報に基づいて、各表示器ＡＬＭ１
０〜ＡＬＭ１１１を表示駆動する。M is a memory circuit that temporarily stores each detection result of the failure detection circuit DTE. INT is an interrupt control circuit, and TIM is a timer circuit. When the confirmation switch CK1 is turned on, the interrupt control circuit INT executes the program according to FIG. A predetermined time is set.ALM10~
SLM1n is a fault type indicator, and LMC is sent to the fault control device.
The types of failure information of the switching device SYS collected and classified by I are displayed by lamps for each type.K1 is a failure content display that displays the most important failure details of the failure that has occurred. K2 is a fault occurrence number indicator that displays the number of faults that have occurred electronically. DISPC is a display control circuit that controls each display ALM1 based on information from the failure control device ALMCI.
0 to drive the ALM 111 for display.
以上の構成において、第３図のフローチャートに従って
その動作を説明する。The operation of the above configuration will be explained according to the flowchart shown in FIG.
確認スイッチＣＫ１が操作（ＯＮ）されると、障害制御
装置ＡＬＭＣＩ 、割込み制御回路ＩＮＴに起動がかか
る（ステップＳ１）。割込み制御回路ＩＮＴは、割込み
があったことをマイクロプロセッサＭＰに知らせる。マ
イクロプロセッサＭＰは割込みレベルに応じてスイッチ
ＣＫ１のＯＮを認識すると、記憶回路Ｍをクリアする（
Ｓ２）。When the confirmation switch CK1 is operated (ON), the fault control device ALMCI and the interrupt control circuit INT are activated (step S1). The interrupt control circuit INT notifies the microprocessor MP of the occurrence of an interrupt. When the microprocessor MP recognizes that the switch CK1 is ON according to the interrupt level, it clears the memory circuit M (
S2).
タイマ回路ＴＩＭは所定の時間にレットし起動され（Ｓ
３）、障害検出回路ＤＴＥは走査によりスイッチＣＫ１
の状態を調べる（３４ 、８５ ＞。スイッチＣＫ１の
ＯＮが読取れないときは、記憶回路Ｍはクリアされてお
り、表示制御回路ＤＩＳＰＣの駆動により障害内容表示
器に１に「診断不良」であるとして、ｒＣＨＫ ＮＧ
Ｊのメツセージが表示され（Ｓ６）、監視試験装置５Ｔ
Ｅ１は主動作を停止したままで終了（ＥＮＤ）−Ｊ−る
（Ｓ７）。The timer circuit TIM is let and activated at a predetermined time (S
3) The fault detection circuit DTE detects the switch CK1 by scanning.
Check the status (34, 85>. If the ON status of switch CK1 cannot be read, the memory circuit M is cleared, and the display control circuit DISPC is driven to display 1 on the failure details display. ``Diagnosis failure'') As, rCHK NG
J's message is displayed (S6), and the monitoring test device 5T
E1 ends (END) with the main operation stopped (S7).
スイッチＣＫ１のＯＮが読取れたときはその読取り結果
が記憶回路Ｍに記憶され（Ｓ８）、該記憶されたことに
よって、各表示部ＤＩＳＰＩの良否をチェックするため
に、各表示器ＡＬＭＩＯ〜Ａ！ Ｍｌｎ、に１ 、に２
の全てが数秒間にわたって点灯される（Ｓ９）。When the ON state of the switch CK1 is read, the reading result is stored in the memory circuit M (S8), and based on the storage, each display ALMIO~A! is used to check the quality of each display unit DISPI. Mln, ni1, ni2
are all lit for several seconds (S9).
つぎに、マイクロプロセッサＭＰのプログラムタイマに
よって、タイマ回路ＴＩＭより若干長い時間（プログラ
ムタイム）が設定されて（Ｓ １０）、タイマ回路ＴＩ
Ｍから、割込回路ＩＮＴを経て、設定された時間にマイ
クロプロセッサＭＰに割込んでくることを監視しく５１
１）、プログラムタイマがタイムオーバーになる前に割
込んできた場合正常に動作していると判断しく５１２）
、前記のスイッチＣＫ１のＯＮが記憶回路Ｍに記憶され
ることを条件に、監視試験装置Ｓ Ｔ Ｅ １が１診断
良好」であると判定して、各表示器ＡＬＭ１０〜ＡＬＭ
１ｎ、Ｋ１ 、に２ ｎを消灯した後（Ｓ１３）、障害
内容表示器に１にｒｃＨＫ ＯＫｊのメツセージが表
示され（Ｓ１４）、交換装置ＳＹＳの診断に戻って（Ｓ
１５）、終了する。Next, a time (program time) slightly longer than the timer circuit TIM is set by the program timer of the microprocessor MP (S10), and the timer circuit TI
51 to monitor the interrupt from M to the microprocessor MP at a set time via the interrupt circuit INT.
1) If the program timer interrupts before it times out, it is assumed that it is operating normally.512)
, on the condition that the ON state of the switch CK1 is stored in the memory circuit M, the monitoring test device STE1 determines that the 1 diagnosis is good, and each of the indicators ALM10 to ALM
After turning off 1n, K1, and 2n (S13), the message rcHK OKj is displayed on the failure details display (S14), and the process returns to the diagnosis of the replacement device SYS (S13).
15), end.
プログラムタイマがタイムオーバーになったときは（８
１１）、「診断不良」であると判定して各表示器ＡＬＭ
１０〜ＡＬＭ１ｎを消灯した後（８１６）障害表示器に
１にｒｃＨＫ ＮＧＩが表示されて（Ｓ６）、前記同
様に主動作が停止されたままで終了する（Ｓ７）。When the program timer times out (8
11) It is determined that the diagnosis is “defective” and each display ALM
After turning off the lights from 10 to ALM1n (816), rcHK NGI is displayed at 1 on the fault display (S6), and the process ends with the main operation being stopped as described above (S7).
なお、ステップＳ１５によって戻された交換装置ＳＹＳ
の診断制御のプログラムは省略しているが、マイクロプ
ロセッサＭＰを中心としたプログラム制御により、障害
検出回路ＤＴＰの障害検出データに基づいて、その分類
、集計、表示などの制御がなされる。Note that the exchange device SYS returned in step S15
Although the diagnostic control program is omitted, the classification, aggregation, display, etc. of the fault detection data from the fault detection circuit DTP are controlled by program control centered on the microprocessor MP.
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、監視試験装置は
確認スイッチの操作により、各表示器の確認を行うとと
もに、監視機能がプログラム制御によって自己診断され
て、その結果が本来の障害監視のための表示器によって
表示されるｂのであるから、操作が簡単であり、そして
特別な表示部や装置を追加する必要もなく、監視試験装
置の障害の早期発見、早期修復に寄与し得る。(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, the monitoring test device checks each display by operating the confirmation switch, and the monitoring function performs self-diagnosis under program control, and the results are displayed. Because it is displayed on the original display for fault monitoring, it is easy to operate, and there is no need to add any special display or equipment, allowing for early detection and early repair of faults in monitoring test equipment. can contribute.
第１１ｉＩは本発明の実施例を示す監視試験システムの
ブロック図、第２図は従来の監視試験システムのブロッ
ク図、第３図は本発明の実施例を示す監視試験機能確認
制御のフローヂャートである。
ＳＹＳ・・・交換装置
５ＴＥ１・・・監視試験装置
ＡＬＭ１０〜ＡＬＭＩｎ・・・障害種別表示器に１・・
・障害内容表示器
に２・・・障害発生数表示器
ＤＩＳＰＣ・・・表示制御回路
ＭＰ・・・マイクロプロセッサ
ＣＫ１・・・確認スイッチ
特許出願人 沖電気工業株式会社
日本電信電話株式会社11iI is a block diagram of a monitoring test system showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a block diagram of a conventional monitoring test system, and FIG. 3 is a flowchart of monitoring test function confirmation control showing an embodiment of the present invention. . SYS...Exchange device 5TE1...Monitoring test device ALM10 to ALMIn...fault type display 1...
・Fault content display 2...Fault number display DISPC...Display control circuit MP...Microprocessor CK1...Confirmation switch Patent applicant: Oki Electric Industry Co., Ltd. Nippon Telegraph and Telephone Corporation
Claims (1)
害発生内容を複数の表示器にそれぞれ表示する監視試験
装置において、 前記障害制御装置は自己診断機能を備え、 確認スイッチが操作されたとき前記各表示器をその表示
機能確認のために所定の時間にわたって表示駆動させ、 前記自己診断の結果に基づいて監視機能の正常あるいは
異常なるを前記表示器によって所定の時間にわたって表
示させることを特徴とする 監視試験装置の機能確認方式。[Scope of Claims] A monitoring test device in which a failure in a replacement device is monitored by a failure control device and the content of the failure is displayed on a plurality of displays, wherein the failure control device has a self-diagnosis function, and a confirmation switch is configured to When operated, each of the indicators is driven for a predetermined period of time to confirm its display function, and based on the result of the self-diagnosis, the display device displays whether the monitoring function is normal or abnormal for a predetermined period of time. A method for confirming the function of a monitoring test device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61239366A JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61239366A JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6394755A true JPS6394755A (en) | 1988-04-25 |
| JPH07101903B2 JPH07101903B2 (en) | 1995-11-01 |
Family
ID=17043695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61239366A Expired - Fee Related JPH07101903B2 (en) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Function confirmation method for monitoring test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07101903B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012109688A (en) * | 2010-11-15 | 2012-06-07 | Todentu Corp | Inspection device |
-
1986
- 1986-10-09 JP JP61239366A patent/JPH07101903B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012109688A (en) * | 2010-11-15 | 2012-06-07 | Todentu Corp | Inspection device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07101903B2 (en) | 1995-11-01 |
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