JPS6390878A - Laser device - Google Patents

Laser device

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JPS6390878A
JPS6390878A JP23600986A JP23600986A JPS6390878A JP S6390878 A JPS6390878 A JP S6390878A JP 23600986 A JP23600986 A JP 23600986A JP 23600986 A JP23600986 A JP 23600986A JP S6390878 A JPS6390878 A JP S6390878A
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孝 楡
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Abstract

PURPOSE:To obtain a small-sized and simple-structure laser device by surrounding the remaining surfaces except two opposing surface of a light emitting layer with a dielectric having a refractive index smaller than the light emitting layer, said light emitting layer having an impurity becoming the light emitting center added into a semiconductor, and applying a voltage to the light emitting layer through this dielectric to cause light emission, thereby causing laser resonance using said two surfaces as the reflecting surfaces. CONSTITUTION:Except two opposing surfaces of a light emitting layer 5 having an impurity becoming the light emitting center added into a semiconductor as the parent material, the remaining surfaces are surrounded with a dielectric 4 having a refractive index smaller than the light emitting layer 5, and a predetermined voltage is applied to the light emitting layer 5 through the dielectric 4 to cause light emission, thereby causing laser resonance using said two surfaces as the reflecting surfaces. For instance, the light emitting layer 5 comprised of a striped pattern of a ZnS:1wt%Tb thin film and covered with a dielectric layer 4 consisting of a SiO2 film in the four surfaces along the longitudinal direction is sandwiched by a first electrode 2 composed of an Al thin film formed on a glass substrate 1 and a second electrode 3 similarly comprised of a striped pattern of an Al thin film. And, both end surfaces of the light emitting layer 5 are coated with a mirror film, respectively constituting totally reflective or semitransparent mirror surfaces 6a, 6b.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) 本発明は、レーザ装置に係り、特に発振源として発光中
心不純物を含む半導体膜を用いた小型の固体レーザに関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a laser device, and more particularly to a small solid-state laser using a semiconductor film containing an emission center impurity as an oscillation source.

(従来技術およびその問題点〕 レーザは、その直進性とコヒーレント性とからさまざま
な分野での利用が注目されている。
(Prior Art and its Problems) Lasers are attracting attention for use in various fields because of their straightness and coherent properties.

レーザの発振源としては、いろいろなものが用いられる
が、例え、ばルビーを用いたルビーレーザは、第5図に
示す如くルビー棒100の周りをらせん状のフラッシュ
ランプ101で囲み、フラッシュランプの点灯によって
ルビーに含まれるクロム原子が励起され光子の誘導放出
を生ぜしめるようにしたもので、ルビー棒の両端に形成
された外部ミラーによってビームを振動させ、その1部
を外部にとり出すように構成されている。
Various types of laser oscillation sources are used, but for example, a ruby laser using a ruby is made by surrounding a ruby rod 100 with a spiral flash lamp 101 as shown in FIG. When lit, the chromium atoms contained in the ruby are excited, causing stimulated emission of photons.The beam is vibrated by external mirrors formed at both ends of the ruby rod, and a portion of it is taken out to the outside. has been done.

ところで、ルビーレーザでは、励起源としてフラッシュ
ランプ等のボンピング(注入)用ランプを使用している
。このため、直接変調を行うことはできず装置が大型化
してしまうという問題があった。
By the way, a ruby laser uses a bombing (injection) lamp such as a flash lamp as an excitation source. For this reason, there is a problem in that direct modulation cannot be performed and the device becomes large in size.

また、反射鏡として外部ミラーを用いていることも装置
が大型となる原因の1つであった。
Furthermore, the use of an external mirror as a reflecting mirror was also one of the reasons why the device became large.

ぞこて、装置の小型化を求めてさまざまな研究が進めら
れている。pn接合を用いた電流注入によって励起する
ようにした半導体レーザもその1つで、急速に開発が進
められているデバイスである。しかしながらpn接合を
用いているため、接合面の形成あるいは後続工程におい
て良好に接合面を維持すること等いろいろな問題がある
。また、発光波長の選択にも制限がある。
A variety of research efforts are underway to make devices more compact. One such device is a semiconductor laser that is excited by current injection using a pn junction, and is a device that is being rapidly developed. However, since a pn junction is used, there are various problems such as forming a bonding surface and maintaining the bonding surface well in subsequent steps. There are also restrictions on the selection of emission wavelengths.

本発明は、前記実情に鑑みてなされたもので更に小型で
かつ構造の簡単なレーザ装置を提供することを目的とす
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and an object of the present invention is to provide a laser device that is smaller and has a simpler structure.

(問題を解決するための手段〕 そこで本発明では、硫化亜鉛(ZnS)、硫化カルシウ
ム(Cab)、硫化ストロンチウム(SrS)等の半導
体からなる母材層中に発光中心となる不純物を注入して
なる発光層の相対向する2面を除いて他の面をこの発光
層よりも屈折率の小さい誘電体で囲み、この誘電体を介
して所望の電圧を印加し発光を生じしめるようにしてお
り、前記2面を反射面としてレーザ共撮が行なわれる。
(Means for solving the problem) Therefore, in the present invention, an impurity that becomes a luminescence center is injected into a base material layer made of a semiconductor such as zinc sulfide (ZnS), calcium sulfide (Cab), or strontium sulfide (SrS). The light emitting layer is surrounded by a dielectric material having a refractive index smaller than that of the light emitting layer except for two facing surfaces, and a desired voltage is applied through this dielectric material to cause light emission. , laser co-photography is performed using the two surfaces as reflective surfaces.

〔作用〕[Effect]

このレーザ装置は、エレクトロルミネッセンス(EL)
現象を利用しており、発光原理は薄膜EL素子と全く同
一であり、構造が極めて簡単で小型化が可能である。ま
た反射ミラーを発光層の両端を鏡面加工することによっ
て構成すれば、外部ミラーの配設が不要となり大幅な小
型化が達成される。
This laser device uses electroluminescence (EL)
The light emitting principle is exactly the same as that of a thin film EL element, and the structure is extremely simple and can be miniaturized. Further, if the reflecting mirror is constructed by mirror-finishing both ends of the light emitting layer, it becomes unnecessary to provide an external mirror, and a significant reduction in size can be achieved.

発光層についても、半導体レーザのように接合を形成す
る必要はなく、また必ずしも単結晶を用いる必要はない
ため製造が容易である。
The light-emitting layer is also easy to manufacture because there is no need to form a junction unlike in a semiconductor laser, and there is no need to necessarily use a single crystal.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について、図面を参照しつつ詳細
に説明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は、本発明実施例の薄膜レーザの41造を示す図
である。
FIG. 1 is a diagram showing a structure 41 of a thin film laser according to an embodiment of the present invention.

この薄膜レーザは、ガラス基板1上に形成されたアルミ
ニウム薄膜からなる第1電極2と、同じくアルミニウム
薄膜のストライブ状パターンからなる第2電極3とによ
って、長手方向に沿う4面を酸化シリコン膜からなる誘
電体層/I (4a。
This thin film laser has four longitudinal surfaces covered with a silicon oxide film by a first electrode 2 made of an aluminum thin film formed on a glass substrate 1 and a second electrode 3 made of a striped pattern of the aluminum thin film. Dielectric layer/I (4a.

4b、4C,4d)で覆われたZnS:1wt%Tb 
 (テルビウム)薄膜のストライブ状パターンからなる
発光層5を挟んだもので、該発光層5の両端部はガラス
基板1に対して垂直な端面を有しており、銀膜が塗布さ
れ、夫々全反射および半透明の鏡面6a、6bを構成し
、半透明の鏡面6bからレーザ光が出力せしめられるよ
うになっている。
4b, 4C, 4d) ZnS covered with: 1 wt% Tb
A light-emitting layer 5 consisting of a striped pattern of (terbium) thin film is sandwiched between the light-emitting layer 5. Both ends of the light-emitting layer 5 have end faces perpendicular to the glass substrate 1, and are coated with a silver film, respectively. Total reflection and semi-transparent mirror surfaces 6a and 6b are configured, and laser light is output from the semi-transparent mirror surface 6b.

次にこの薄膜レーザの製造方法について説明する。Next, a method for manufacturing this thin film laser will be explained.

まず、第2図(a)に示す如く、ガラス基板1上に、電
子ビーム蒸着法によりアルミニウムiWHからなる第1
電極2を形成する。
First, as shown in FIG. 2(a), a first film made of aluminum iWH is deposited on a glass substrate 1 by electron beam evaporation.
Electrode 2 is formed.

次いで、第2図(b)に示す如くスパッタリング法によ
り酸化シリコン膜を成摸し、下層側の誘電体4aを形成
する。
Next, as shown in FIG. 2(b), a silicon oxide film is formed by sputtering to form the lower dielectric 4a.

続いて、第2図[C)に示す如く、スパッタリング法に
よりZnS:1wt%Tb層を成映した後、フォトリソ
法を用いて、ストライブ状にバターニングし、発光層5
を形成する。
Subsequently, as shown in FIG. 2 [C], a ZnS:1wt%Tb layer was formed by sputtering, and then patterned into stripes by photolithography to form the light emitting layer 5.
form.

そして第5図(d)に示す如く、スパッタリングジ入に
より、前記発光層の側面および上面を覆うように酸化シ
リコン腹を成膜し、誘電体層4b。
Then, as shown in FIG. 5(d), a silicon oxide layer is formed by sputtering to cover the side and top surfaces of the light emitting layer, thereby forming a dielectric layer 4b.

4c、4dを形成する。4c and 4d are formed.

この後、メタルマスクを介して、アルミニウム薄膜を電
子ビーム蒸着法によって成膜し第2電極3を形成する。
Thereafter, a thin aluminum film is formed by electron beam evaporation through a metal mask to form the second electrode 3.

(第2図(e)) そして、最後に、発光層5を積層面に対して垂直となる
ように切断し、切断面を鏡面研磨した後、銀膜を塗布し
、反射面としての鏡面6a、6bを形成して第1図に示
した薄膜レーザが完成する。
(FIG. 2(e)) Finally, the light-emitting layer 5 is cut perpendicular to the laminated surface, the cut surface is mirror-polished, and a silver film is applied to form a mirror surface 6a as a reflective surface. , 6b are formed to complete the thin film laser shown in FIG.

この薄膜レーザは、構造が簡単で極めて小形(10朋角
程度)であり、製造も容易で信頼性の高いものとなって
いる。
This thin film laser has a simple structure, is extremely small (about 10 mm square), is easy to manufacture, and is highly reliable.

また、電気信号を直接光信号に変換することができ、周
辺回路も極めて簡単なものとなっている。
Furthermore, electrical signals can be directly converted into optical signals, and the peripheral circuitry is extremely simple.

そして、出力信号の波長については、発光層の構成材料
を選択することにより、極めて自由に変化することが可
能である。
The wavelength of the output signal can be changed extremely freely by selecting the constituent material of the light emitting layer.

次に、本発明の他の実施例について説明する。Next, other embodiments of the present invention will be described.

第3図は、発光層15をガリウムヒ基 (GaAs)ウェハ11上に成膜したZnS:1wt%
Tb単結晶薄膜で構成すると共に、発光層の端面を勇界
した鏡面16a、16bで構成した薄膜レーザを示すも
のである。
FIG. 3 shows a light-emitting layer 15 formed on a gallium arsenide (GaAs) wafer 11 using ZnS: 1wt%.
This figure shows a thin film laser made of a Tb single crystal thin film and made up of mirror surfaces 16a and 16b with rounded end faces of a light emitting layer.

このWjWAレーザでは、前記実施例のガラス基板1に
代えてGaAsウェハ11を用いており、第1電極12
は、このGaAsウェハ11の裏面側に形成し、発光層
15は側面および上面を酸化シリコン膜からなる誘電体
層14b、14c。
In this WjWA laser, a GaAs wafer 11 is used in place of the glass substrate 1 of the above embodiment, and the first electrode 12
is formed on the back side of the GaAs wafer 11, and the light emitting layer 15 has side and top surfaces covered with dielectric layers 14b and 14c made of silicon oxide films.

14dで囲まれており、この誘電体層の上層に形成され
たアルミニウムのストライブ状パターンからなる第2電
極13と前記第1電極12との間に電圧が印加され、発
光が生じこの光が鏡面16a。
When a voltage is applied between the first electrode 12 and the second electrode 13 made of an aluminum striped pattern formed on the upper layer of this dielectric layer, light is emitted. Mirror surface 16a.

16bの間で共振せしめられとり出されるようになって
いる。
16b and is caused to resonate and be extracted.

製造に際しては、次のような方法がとられる。The following method is used for manufacturing.

まずGaAsウェハ11上に、スパッタリング法によっ
てZnS:1wt%Tb層をエピタキシャルに成長せし
め、これをフォトリソ法によりバターニングする。(第
4図(a)) そして、この上層にスパッタリング法により酸化シリコ
ン膜を成膜し、誘電体層(14b。
First, a ZnS:1 wt % Tb layer is epitaxially grown on the GaAs wafer 11 by sputtering, and this is patterned by photolithography. (FIG. 4(a)) Then, a silicon oxide film is formed on this upper layer by a sputtering method, and a dielectric layer (14b) is formed.

14c、14d)を形成する。(第4図(b))この後
、この誘電体層上およびGaASウェハの裏面に、電子
ビーム蒸着法によりアルミニウム薄膜を成膜した後、誘
電体層側のみをストライブ状にバターニングし、第1お
よび第2電極12゜13を得る(第4図(C)) そして最後に、発光層の積層面に垂直となるように、両
端を切断し、この端面を鏡面加工し、銀膜を塗布して鏡
面16a、16bを得、第3図に示した7t119レー
ザが完成する。ここで発光層は、単結晶薄膜であるため
、切断時に、舅界面に沿った断面を形成し、この面は良
好な反射面として動く。
14c, 14d). (FIG. 4(b)) After that, a thin aluminum film was formed on the dielectric layer and on the back surface of the GaAS wafer by electron beam evaporation, and only the dielectric layer side was patterned into stripes. First and second electrodes 12° 13 are obtained (Fig. 4(C)).Finally, both ends are cut perpendicular to the laminated surface of the light emitting layer, the end faces are mirror-finished, and a silver film is formed. By coating mirror surfaces 16a and 16b, the 7t119 laser shown in FIG. 3 is completed. Here, since the light emitting layer is a single crystal thin film, when it is cut, it forms a cross section along the leg interface, and this surface acts as a good reflective surface.

なお、実施例では、発光層どしてZ n S : M 
nを用いたが、これに限定されることなく、Zns。
In addition, in the example, the light emitting layer is Z n S : M
n, but is not limited to, Zns.

Cab、SrS等のカルコゲナイド系半導体等のの半導
体からなる発光母材中に、Tb、Tll1゜Sl等の希
土類元素Cr等の遷移金属元素あるいはこれらの化合物
からなる発光中心不純物を0.1〜1%程度添加したも
のから適宜選択して使用すれば、所望の発光波長のレー
ザ光を得ることができる。
A luminescent center impurity consisting of a transition metal element such as a rare earth element Cr such as Tb, Tll1°Sl, or a compound thereof is added to a luminescent base material consisting of a semiconductor such as a chalcogenide semiconductor such as Cab or SrS, or a luminescent center impurity of 0.1 to 1%. By appropriately selecting and using those added with about 100%, laser light with a desired emission wavelength can be obtained.

また、誘電体層、電極、基板等の構成材料については実
施例に限定されることなく適宜変更可能である。
Furthermore, the constituent materials of the dielectric layer, electrodes, substrate, etc. are not limited to the embodiments and can be changed as appropriate.

加えて、実施例では、反射鏡を、発光層の端面を鏡面加
工して構成したが、外部ミラーを設置してもよいことは
いうまでもない。
In addition, in the embodiment, the reflecting mirror was constructed by mirror-finishing the end face of the light-emitting layer, but it goes without saying that an external mirror may be provided.

〔発明の効果] 以上説明してきたように、本発明によれば、母材として
の半導体中に発光中心となる不純物を添加してなる発光
層の相対向する2面を除く他の面をこの発光層よりも屈
折率の小さい誘電体で囲み、この誘電体を介して前記発
光層に所定の電圧を印加して発光せしめ、前記2面を反
射面としてレーザ共振を生ぜしめるようにしているため
、製造が容易で、小形のレーザ装置を提供することがで
きる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the other surfaces of the light-emitting layer, which is formed by adding an impurity that becomes a light-emitting center into a semiconductor as a base material, are The light emitting layer is surrounded by a dielectric having a refractive index lower than that of the light emitting layer, and a predetermined voltage is applied to the light emitting layer through the dielectric to cause it to emit light, and the two surfaces are used as reflecting surfaces to cause laser resonance. , it is possible to provide a small laser device that is easy to manufacture.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本3発明実施例のR9vレーザを示す図、第
2図(a)乃至(e)は、第1図に示した薄膜レーザの
製造工程図、第3図は、本発明の他の実施例の薄膜レー
ザを示す図、第4図(a)乃至fc)は第3図に示した
薄膜レーザの製造工程図、第5図は従来の固体レーザを
示す図である。 100・・・ルビー棒、101・・・フラッシュランプ
、102・・・外部ミラー、1・・・ガラス基板、2,
12・・・第1電極、3.13・・・第2電橿、4,1
4・・・誘電体層、5.15−・・発光層、6a、6b
、16a。 16b・・・鏡面、11・・・GaAsウェハ。 第1図 第2図(0) 第2図(b) 第2図(C) 第2図(d) 第2図(e)
FIG. 1 is a diagram showing the R9v laser according to the third embodiment of the present invention, FIGS. 2(a) to (e) are manufacturing process diagrams of the thin film laser shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram showing the R9v laser according to the third embodiment of the present invention. 4(a) to fc) are diagrams showing the manufacturing process of the thin film laser shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a diagram showing a conventional solid-state laser. 100... Ruby rod, 101... Flash lamp, 102... External mirror, 1... Glass substrate, 2,
12...First electrode, 3.13...Second electric rod, 4,1
4... Dielectric layer, 5.15-... Light emitting layer, 6a, 6b
, 16a. 16b...Mirror surface, 11...GaAs wafer. Figure 1 Figure 2 (0) Figure 2 (b) Figure 2 (C) Figure 2 (d) Figure 2 (e)

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)母材としての半導体中に発光中心となる不純物を
添加してなる発光層の相対向する2面を除く他の面をこ
の発光層よりも屈折率の小さい誘電体で囲み、 この誘電体を介して前記発光層に所定の電圧を印加し、
発光せしめ、 前記2面を反射面としてレーザ共振を生ぜしめるように
したことを特徴とするレーザ装置。
(1) A light-emitting layer made by adding an impurity to become a light-emitting center into a semiconductor as a base material, and surrounding the other surfaces except two opposing faces with a dielectric material having a lower refractive index than that of the light-emitting layer; Applying a predetermined voltage to the light emitting layer through the body,
A laser device that emits light and causes laser resonance by using the two surfaces as reflective surfaces.
(2)前記反射面は、鏡面加工のなされた発光層の端面
であることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載
のレーザ装置。
(2) The laser device according to claim (1), wherein the reflective surface is a mirror-finished end face of the light emitting layer.
(3)前記発光層は、カルコゲナイド系半導体に希土類
元素又はその化合物を発光中心不純物として添加してな
る半導体薄膜からなることを特徴とする特許請求の範囲
第(1)項記載のレーザ装置。
(3) The laser device according to claim (1), wherein the light-emitting layer is a semiconductor thin film formed by adding a rare earth element or a compound thereof as a luminescent center impurity to a chalcogenide semiconductor.
(4)前記発光層はカルコゲナイド系半導体に遷移金属
元素を発光中心不純物として添加してなる半導体薄膜か
らなることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載
のレーザ装置。
(4) The laser device according to claim (1), wherein the light-emitting layer is made of a semiconductor thin film formed by adding a transition metal element as a light-emitting center impurity to a chalcogenide semiconductor.
(5)前記半導体薄膜は単結晶薄膜であることを特徴と
する特許請求の範囲第(3)項または第(4)項記載の
レーザ装置。
(5) The laser device according to claim (3) or (4), wherein the semiconductor thin film is a single crystal thin film.
(6)前記単結晶薄膜の劈開面が、発光層の端面を構成
するようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第(5
)項記載のレーザ装置。
(6) The cleavage plane of the single crystal thin film constitutes the end face of the light emitting layer.
) The laser device described in section 2.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0351868A2 (en) * 1988-07-21 1990-01-24 Sharp Kabushiki Kaisha Electroluminescent device of compound semiconductor
US6480516B1 (en) 1999-03-31 2002-11-12 Japan As Represented By Secretary Of Agency Of Industrial Science And Technology Surface semiconductor optical amplifier with transparent substrate

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5749286A (en) * 1980-09-10 1982-03-23 Hitachi Ltd Laser device

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5749286A (en) * 1980-09-10 1982-03-23 Hitachi Ltd Laser device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0351868A2 (en) * 1988-07-21 1990-01-24 Sharp Kabushiki Kaisha Electroluminescent device of compound semiconductor
US6480516B1 (en) 1999-03-31 2002-11-12 Japan As Represented By Secretary Of Agency Of Industrial Science And Technology Surface semiconductor optical amplifier with transparent substrate

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