JPS6381919A - Superlattice structure and manufacture of multilayer film - Google Patents

Superlattice structure and manufacture of multilayer film

Info

Publication number
JPS6381919A
JPS6381919A JP22627886A JP22627886A JPS6381919A JP S6381919 A JPS6381919 A JP S6381919A JP 22627886 A JP22627886 A JP 22627886A JP 22627886 A JP22627886 A JP 22627886A JP S6381919 A JPS6381919 A JP S6381919A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
growth
crystal
solution
raw material
seed crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP22627886A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH07115987B2 (en
Inventor
Tokuzo Sukegawa
助川 徳三
Masakazu Kimura
雅和 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP61226278A priority Critical patent/JPH07115987B2/en
Publication of JPS6381919A publication Critical patent/JPS6381919A/en
Publication of JPH07115987B2 publication Critical patent/JPH07115987B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Abstract

PURPOSE:To inexpensively, economically end safely manufacture a superlative structure, in which an ideal quantum size effect appears, and a multilayer film, by changing temperatures of an atomic crystal substrate, raw crystal or alloy, and solution, periodically up and down within a temperature range. CONSTITUTION:Growth solution 3 is interposed in a sandwitch shape between a seed crystal 1 substrate and raw crystal or alloy 2, which is of superlattice structure aiming at growth and which has components of a multilayer film. Then, temperatures in this growth system are changed uniformly in this space and changed periodically up and down within a temperature range. Concentration of the solute becomes high in the gravitational direction on the side of the seed crystal, and it becomes low on the side of the raw crystal or raw alloy. When an solid-liquid interface between the seed crystal substrate and the solution is held flatly and horizontally, the solute concentration becomes uniform. During a down period in the periodical temperature cycles, the solute is precipitated on the side of the seed crystal coming from this solution 3, and growth layers 4 and 5 can be formed in uniform composition and thickness. Besides, a distance between the seed crystal 1 substrate and the raw crystal or alloy 2 is made sufficiently small.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は超構造および多層膜の製作法に関し、詳細には
現在新電子デバイス等への応用が急速に研究開発されて
いる半導体結晶、金属結晶による超格子構造および多層
膜の製作方法に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for manufacturing superstructures and multilayer films, and in particular, to semiconductor crystals and metals, which are currently being rapidly researched and developed for application to new electronic devices, etc. The present invention relates to a superlattice structure using crystals and a method for manufacturing multilayer films.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

現在、半導体結晶あるいは金属結晶の薄膜による超格子
や多層膜はその組み合わせによってもとの材料とは異っ
た新しい性質を示すものとして注目を集めている。19
70年に江崎らによシ超薄膜の2種類の半導体結晶を交
互に規則正しく配列した超格子構造結晶は半導体内に存
在する周期ポテンシャルに加えて超格子構造の周期性に
よる人工的な周期ポテンシャルの制約が電子あるいは正
孔の波動関数に影響を与えてこれまでにない新しい物性
を持つ可能性があると指摘した。数年後、分子線エピタ
キシー法(MBE法)によって成長した超格子結晶によ
ってこの提案が実証されている。
Currently, superlattices and multilayer films made of thin films of semiconductor crystals or metal crystals are attracting attention as they exhibit new properties different from those of the original materials depending on their combination. 19
In 1970, Ezaki et al. devised a superlattice structure crystal in which two types of ultra-thin semiconductor crystals are alternately and regularly arranged. He pointed out that constraints may affect the wave function of electrons or holes, giving rise to new physical properties never seen before. Several years later, this proposal was substantiated by superlattice crystals grown by molecular beam epitaxy (MBE).

又同時に最近では金属結晶の超格子、多層膜の研究も盛
んに行われておシ、界面の状態あるいは超薄膜化による
物質状態の低次元化によって異った磁気的状態や超伝導
体においては臨界温度、臨界磁場が変化する等の興味深
い現象が観察されている。
At the same time, research on superlattices and multilayer films of metal crystals has been actively conducted recently. Interesting phenomena such as changes in critical temperature and critical magnetic field have been observed.

特に半導体結晶においては人工的な周期Iテンシャル以
外にも界面における童子的なポテンシャルにより従来と
は異った2次元的な性格の電子を作シ出すことが可能で
ある。これらの量子論的効果を利用したデバイスとして
半導体量子井戸レーデ−や2次元電子の振舞を利用した
HEMT (HighElectron Mobili
ty Transistor )等の研究開発が現在活
発に行われている。これらの超格子構造あるいは多層膜
を成長する方法としては有機金属を用いた気相成長法(
MOCVD法)、分子線エビタキンー(MBE法)、液
相成長法(LPE法)が用いられているが、主としては
MBE法あるいはMOCVD法によっている。MOCV
D法はI−V化合物半導体を例にとると、■族元素の原
料である有機金属と■族元素の原料である水素化物を気
相中で熱分解、あるいは反応を起こさせ基板上1−V族
化合物半導体を析出させる方法で、減圧された雰囲気中
では単分子居の成長制御が可能と言われている。しかし
原料に有機金属を用いているために成長層中への炭素の
混入があり、伝導型の制御ましてや不純物濃度の制御が
大変困難である。またV族元素の原料である水素化物、
例えばアルシン(AsH3)、ホスフィン(PH3)等
は大変毒性の強い物質なので、工業的には危険な成長方
法である。また気相中での反応により、大半の析出は基
板以外の部分で起るので収率も低く、安価でデバイスを
製作することは不可能である。MBE法は成長させる構
成分子を分子線の形で基板に供給するために、微量な供
給量の調整が容易で、超薄膜の成長には最も適している
と言われている。当然のことながら分子の基板への到達
率を上げるために、成長槽内は超高真空に引かれている
。又、成長層の伝導型、不純物濃度を制御するためには
このバックグランドの真空度が重要な問題となるが、現
在の真空技術においては10”−” Torrが限界で
あるので、精度良く不純物濃度を制御するのが困難な上
にMBE法による薄膜成長層の表面にはオーバル・ディ
フェク) (oval defect )と称される欠
陥が多数発生する。有機金属を原料に用いることにより
改善化が行われてはいるが、未だ実用には至っていない
。また、超高真空を用いているために、真空系の維持等
によりやはり安価にデバイスを製作することは不可能で
ある。LPE法はMOCVD法、MBE法と比較して成
長速度が大きいこと、あるいは通常の徐令法では混晶の
成長を行う場合、冷却とともに成長層の組成が変化して
しまう等の理由で超格子および多層膜等への試みはほと
んど行われていないが、高品位な結晶層が得られること
はよく知られたことである。
In particular, in semiconductor crystals, in addition to the artificial periodic I-tension, it is possible to create electrons with a two-dimensional character that is different from the conventional one by using the Doji-like potential at the interface. Devices that utilize these quantum theoretical effects include semiconductor quantum well radar and HEMT (High Electron Mobili) that utilizes the behavior of two-dimensional electrons.
ty Transistor), etc., is currently being actively researched and developed. The method for growing these superlattice structures or multilayer films is the vapor phase growth method using organic metals (
MOCVD method), molecular beam epitaxy (MBE method), and liquid phase epitaxy (LPE method) are used, but MBE method or MOCVD method is mainly used. MOCV
Taking an IV compound semiconductor as an example, method D involves thermally decomposing or reacting an organic metal, which is a raw material for group Ⅰ elements, and a hydride, which is a raw material for group Ⅰ elements, in a gas phase to form a 1- It is said that it is possible to control the growth of monomolecular molecules in a reduced pressure atmosphere using a method of depositing group V compound semiconductors. However, since organic metals are used as raw materials, carbon is mixed into the grown layer, making it very difficult to control not only the conductivity type but also the impurity concentration. In addition, hydrides, which are raw materials for group V elements,
For example, arsine (AsH3), phosphine (PH3), etc. are highly toxic substances, so this is an industrially dangerous growth method. Furthermore, due to the reaction in the gas phase, most of the precipitation occurs in areas other than the substrate, resulting in low yields and making it impossible to manufacture devices at low cost. Since the MBE method supplies the constituent molecules to be grown to the substrate in the form of molecular beams, it is easy to adjust the minute amount of supply, and is said to be most suitable for growing ultra-thin films. Naturally, in order to increase the rate at which molecules reach the substrate, the inside of the growth chamber is drawn to an ultra-high vacuum. In addition, the degree of vacuum in this background is an important issue in controlling the conductivity type and impurity concentration of the growth layer, but the current vacuum technology has a limit of 10"-" Torr, so it is possible to control the impurity concentration with high precision. Not only is it difficult to control the concentration, but also a large number of defects called oval defects occur on the surface of the thin film grown layer by the MBE method. Although improvements have been made by using organic metals as raw materials, they have not yet been put into practical use. Furthermore, since ultra-high vacuum is used, it is impossible to manufacture devices at low cost due to maintenance of the vacuum system, etc. The LPE method has a higher growth rate than the MOCVD and MBE methods, and when growing mixed crystals in the normal gradual method, the composition of the grown layer changes with cooling. Although few attempts have been made to create films, it is well known that high-quality crystal layers can be obtained.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

前述したように、一般に半導体の超格子構造、多層膜を
製作する場合にはMOCVD法あるいはMBE法が用い
られている。これらの結晶成長法は薄膜成長を行うには
適しているが、熱力学的な平衡状態から逸脱した状態で
成長を行っているので高品位な成長層を得ることはでき
ない。さらにこれらの結晶成長法は本質的に不純物濃度
の制御が困難であるために、実際に超格子構造のデバイ
スを製作した場合に理想的な量子サイズ効果が得にくい
As mentioned above, the MOCVD method or the MBE method is generally used to fabricate semiconductor superlattice structures and multilayer films. These crystal growth methods are suitable for growing thin films, but because growth is performed in a state that deviates from a thermodynamic equilibrium state, it is not possible to obtain a high-quality grown layer. Furthermore, since it is essentially difficult to control the impurity concentration in these crystal growth methods, it is difficult to obtain an ideal quantum size effect when actually fabricating a device with a superlattice structure.

又用いる原料の危険性、成長装置の保持、真空システム
の保持、用いた原料の量に対する成長層の収率な考慮す
ると、将来的にも工業的な方法とは言えない。LPE法
は熱力学的に平衡状態に近い状態で成長が行われるので
大変高品質の成長が得られ、さらに偏析係数を考慮する
ことにより、適当なドナー不純物あるいはアクセグタ不
純物を添加して、所望の伝導形(pあるいはn)の所望
の不純物濃度を有する成長を行うことが可能である。
Furthermore, considering the danger of the raw materials used, the maintenance of the growth equipment, the maintenance of the vacuum system, and the yield of the growth layer relative to the amount of raw materials used, this method cannot be considered as an industrial method in the future. In the LPE method, growth is performed in a thermodynamically close to equilibrium state, so very high quality growth can be obtained. Furthermore, by considering the segregation coefficient, appropriate donor impurities or accessor impurities can be added to achieve the desired growth. It is possible to perform growth with a desired impurity concentration of conductivity type (p or n).

しかし従来のLPE法では成長速度が大きくて薄膜の成
長に向かないことや徐令法では冷却する温度幅で析出量
が決定されてしまうことや、混晶の場合冷却にともなう
組成変化は免れないことであった。
However, in the conventional LPE method, the growth rate is high and it is not suitable for growing thin films, in the gradual method, the amount of precipitation is determined by the cooling temperature range, and in the case of mixed crystals, composition changes due to cooling are inevitable. there were.

本発明の目的は上述の問題点を解決し、現在用いられて
いる成長法よりも安価で経済的にしかも安全な方法で、
理想的な量子サイズ効果の現われる超格子構造および多
層膜の製作方法を提供するものである。
The purpose of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a method of growth that is cheaper, more economical and safer than the currently used growth methods.
The present invention provides a method for manufacturing a superlattice structure and multilayer film that exhibits an ideal quantum size effect.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明の方法は重力場と溶液の比重が当該溶液中に含ま
れる溶質の濃度に依存することを利用したものである。
The method of the present invention utilizes the fact that the gravity field and the specific gravity of a solution depend on the concentration of solute contained in the solution.

具体的には種子結晶基板と成長を目的とする超構造およ
び多層膜の成分を持つ原料結晶あるいは原料合金との間
に成長溶液をサンドイッチ状に挿入する。このとき溶質
濃度が高くなる種溶液の比重が増加する場合には種子結
晶基板を溶液の下側になるように、また逆に比重が減少
する場合には溶液の上側に配置して、結晶成長系を構成
する。そしてこの成長系の温度を空間的には均一になる
ように、また時間的には周期的に上下に、ある温度幅で
変化させる。このような周期的温度サイクルの昇温時に
原料結晶あるいは原料合金から溶液へ溶質が供給される
。そして比重差により溶液の重力方向に種子結晶基板側
で溶質の濃度が高く、原料結晶あるいは原料合金側では
濃度が低くなるような濃度分布が形成される。ここで、
重力の作用で溶質の水平方向の濃度分布は均一となる。
Specifically, a growth solution is inserted in a sandwich-like manner between a seed crystal substrate and a raw material crystal or raw material alloy having components of a superstructure and multilayer film to be grown. At this time, if the solute concentration increases and the specific gravity of the seed solution increases, the seed crystal substrate is placed below the solution, and conversely, if the specific gravity decreases, the seed crystal substrate is placed above the solution to allow crystal growth. Configure the system. The temperature of this growth system is then changed spatially uniformly and temporally up and down periodically over a certain temperature range. During the temperature increase in such periodic temperature cycles, solute is supplied from the raw material crystal or raw material alloy to the solution. Due to the difference in specific gravity, a concentration distribution is formed in which the concentration of solute is high on the side of the seed crystal substrate in the direction of gravity of the solution, and the concentration is low on the side of the raw material crystal or raw material alloy. here,
Due to the action of gravity, the horizontal concentration distribution of the solute becomes uniform.

したが・って種子結晶基板と溶液との固液界面を平坦に
かつ水平に保持することにより固液界面近傍の溶質濃度
は均一となる。周期的温度サイクルの降温時にはこの均
一な溶液から溶質が種子結晶側に析出して均一組成で均
一厚みの成長層が形成される。さらに、重要なことは溶
液の厚さ、すなわち種子結晶基板と原料結晶あるいは原
料合金との距離を充分に小さくすることである。
Therefore, by keeping the solid-liquid interface between the seed crystal substrate and the solution flat and horizontal, the solute concentration near the solid-liquid interface becomes uniform. When the temperature decreases during periodic temperature cycles, solutes are precipitated from this uniform solution onto the seed crystal side, forming a growth layer with a uniform composition and uniform thickness. Furthermore, what is important is to make the thickness of the solution, that is, the distance between the seed crystal substrate and the raw material crystal or raw material alloy, sufficiently small.

溶液の量をでき得る限り少なくすることによって溶液中
に溶解する溶質の絶対量を減少し結果として温度サイク
ルの1周期に成長させる量を減少させ薄膜成長を可能と
するわけである。また、同様の理由から溶液中の溶解度
を下げるためにできる限り低温で成長するのが望ましい
By reducing the amount of solution as much as possible, the absolute amount of solute dissolved in the solution is reduced, and as a result, the amount grown during one temperature cycle is reduced, allowing thin film growth. Furthermore, for the same reason, it is desirable to grow at as low a temperature as possible in order to lower the solubility in the solution.

原料結晶あるいは原料合金から種子結晶側への溶質の輸
送は重力で加速された拡散作用あるいは比重差に起因す
る自然対流によるため高速でおこなわれる。しかし、溶
液の厚さが薄く々シ、すなわち溶液相の代表的な長さが
小さくなシ、拡散長以内になってくると自然対流は起き
ず重力によって加速された拡散によってのみ溶質の供給
はおこなわれる。また、自然対流が生じていても、対流
がおきるのは低濃度側の溶液層中のみである。この溶質
の輸送によって種子結晶近傍に形成された高い溶質濃度
の溶液層は成層圏として作用するから、この高濃度溶液
層には対流の影響はない。
Transport of solute from the raw material crystal or raw material alloy to the seed crystal side is carried out at high speed due to diffusion action accelerated by gravity or natural convection caused by the difference in specific gravity. However, when the thickness of the solution is thin, that is, the typical length of the solution phase is small, and the length is within the diffusion length, natural convection does not occur and solutes are supplied only by diffusion accelerated by gravity. It is carried out. Further, even if natural convection occurs, convection occurs only in the solution layer on the low concentration side. Since the solution layer with a high solute concentration formed near the seed crystal by this solute transport acts as a stratosphere, this high concentration solution layer is not affected by convection.

以上よυ本発明の成長方法により液相成長でありながら
成長層の組成を変化することなく、しかも温度サイクル
の緑シ返しによシ任意の層数の多層膜の成長が可能であ
ることが明かである。また溶液の厚さ、成長温度、温度
の振シ幅を考慮することによって、量子サイズ効果が現
われるような超薄膜による超格子構造、および多層膜を
製作することが可能である。勿論、本発明の方法は液相
成長であるので成長層の伝導型および不純物濃度は容易
に制御できることは言うまでもない。
From the above, it is possible to grow a multilayer film with an arbitrary number of layers by using the growth method of the present invention, which uses liquid phase growth without changing the composition of the grown layer, and without changing the composition of the growth layer due to temperature cycles. It's obvious. Furthermore, by considering the thickness of the solution, the growth temperature, and the amplitude of temperature fluctuations, it is possible to fabricate superlattice structures and multilayer films made of ultrathin films that exhibit quantum size effects. Of course, since the method of the present invention uses liquid phase growth, it goes without saying that the conductivity type and impurity concentration of the grown layer can be easily controlled.

以上よジ、本発明の方法により前記目的を全て達成され
ることが明かとなった。
From the above, it has become clear that all of the above objects can be achieved by the method of the present invention.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の超構造および多層膜の製作法の具体的実
施例図面に基づいて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments of the superstructure and multilayer film manufacturing method of the present invention will be described below with reference to drawings.

実施例1 1−V族化合物あるいはl−V族化合物混晶の場合、両
性不純物であるSt、Ge、Sn等を用いることによっ
て1回の成長によりn、pを周期的にドープした超格子
構造を実現することができる。この1−V族化合物半導
体による選択ドーグ型超格子構造は興味深い光学データ
が得られており、現在、有機金属を用いた気相成長法あ
るいは分子線エピタキシー法によって製作されている。
Example 1 In the case of a 1-V group compound or a l-V group compound mixed crystal, a superlattice structure in which n and p are periodically doped in one growth by using amphoteric impurities such as St, Ge, Sn, etc. can be realized. Interesting optical data have been obtained on this selective Dogg type superlattice structure made of 1-V group compound semiconductors, and it is currently being manufactured by vapor phase epitaxy or molecular beam epitaxy using organic metals.

しかし、現状においてはこれらの成長法においては高品
位な成長は不可能である。以下両性不純物を用いること
によって選択ドープ型の周期構造を製作した実施例を示
す。GaAs 、GaSb 、AtGaAs等ではSt
、Sn、Ge等の両性不純物をドープした成長で成長温
度、冷却速度、不純物濃度を考慮することにより、不純
物の入り込む位置を■族側からV族側に変化させて一回
の成長によってpn接合を作ることは良く知られた技術
である。本発明の成長法により温度プロセスを繰り返す
ことによってこの周期構造を所望の数だけ作ることが可
能である。第1図は成長温度による伝導形の変化を利用
した伝導形の周期構造を有する成長を説明するだめのも
のである。
However, at present, high-quality growth is not possible using these growth methods. An example in which a selectively doped periodic structure was fabricated by using an amphoteric impurity will be shown below. For GaAs, GaSb, AtGaAs, etc., St
By considering the growth temperature, cooling rate, and impurity concentration in growth doped with amphoteric impurities such as Sn, Ge, etc., the position where the impurity enters can be changed from the group II side to the group V side, and a pn junction can be formed in one growth. It is a well-known technique to make . By repeating the temperature process using the growth method of the present invention, it is possible to create a desired number of periodic structures. FIG. 1 is a diagram useful in explaining the growth of a periodic structure of conduction type using the change in conduction type depending on the growth temperature.

ここでは溶液中の溶質の濃度が増加する程、溶液の比重
が減少する場合を示す。したかつ−で種子結晶1は溶液
3の上に、原料結晶2は溶液3の下に配置されている。
Here, a case is shown in which the specific gravity of the solution decreases as the concentration of solute in the solution increases. Then, the seed crystal 1 is placed above the solution 3, and the raw material crystal 2 is placed below the solution 3.

ここで溶液、および原料結晶中に両性不純物原子を適量
、混入させであることはいうまでもない。第1図(d)
において、Th、Ttは成長の温度サイクルの上限、下
限を示しており、Tcは伝導形のタイプ反転が起る温度
を示している。
Needless to say, an appropriate amount of amphoteric impurity atoms should be mixed into the solution and raw material crystal. Figure 1(d)
, Th and Tt indicate the upper and lower limits of the growth temperature cycle, and Tc indicates the temperature at which type reversal of conductivity occurs.

まず種子結晶1、溶液3となる溶液および原料結晶2を
一定の温度に保ったまま温度Thよシ数度高い温度まで
昇温して一定時間保持した後一定速度で冷却を開始し温
度Thとなる時刻t81で溶液を種子結晶1と原料結晶
2の間に入れる。第1図(、)がこの状態を示している
。温度がTcとなるまでの間の成長層4の伝導形は温度
Tc以上で成長した場合の伝導形、すなわちp形あるい
はn形のいずれか一方である。この状態を示すのが第1
図(b)である。
First, the seed crystal 1, the solution that will become the solution 3, and the raw material crystal 2 are heated to a temperature several degrees higher than the temperature Th while being kept at a constant temperature, held for a certain period of time, and then cooled at a constant rate. At time t81, the solution is put between the seed crystal 1 and the raw material crystal 2. FIG. 1(,) shows this state. The conductivity type of the grown layer 4 until the temperature reaches Tc is the conductivity type when grown above the temperature Tc, that is, either p-type or n-type. This state is shown in the first
It is figure (b).

温度がTc以下に降下すると成長層のタイプ反転が起り
、成長層5の伝導形は成長温度Te以上の成長層の伝導
形とは異ったものとなる。この状態な示昇温しで次のサ
イクルに入る。このプロセスを繰シ返すことにより、伝
導形の周期構造を有する成長を実現することが可能であ
る。ここでは1例としてGaAaの成長について述べる
。GaAsをGa溶媒から成長する場合、溶液中のSi
濃度が0.15 atm %のとき、800°Cで成長
層のタイプ反転が生じる。
When the temperature drops below Tc, type reversal of the grown layer occurs, and the conductivity type of the grown layer 5 becomes different from the conductivity type of the grown layer above the growth temperature Te. The next cycle begins with the temperature rising in this state. By repeating this process, it is possible to achieve growth having a conductive periodic structure. Here, growth of GaAa will be described as an example. When growing GaAs from Ga solvent, Si in the solution
At a concentration of 0.15 atm %, type reversal of the grown layer occurs at 800°C.

すなわち800°C以上ではn形の成長層が得られ、8
00°C以下ではp形の成長層となる。ゆえにTeと丁
に して800℃、←、Ttはそれぞれ810℃、790℃
に設定した。810℃でGaAsを飽和溶解するGa溶
液中に、Stを0.15atm%溶解させ10分保持し
た後にGaAs種子結晶と原料結晶との間に挿入して1
°0/minで降温した。用いているGaAs結晶はZ
nドープのp形の(111)B1.5XL5cTL2−
?l’あり溶液の厚さは約3朋である。790℃まで降
温した後に10分保持し、2 ’0 / rninで8
10℃まで昇温して10分保持した。この温度サイクル
を5回繰り返した後に降温し、取り出した基板を骨間し
た後にスティンエツチングしたところ、n形10μm、
p形7μmの5周期の構造が観察された。成長温度およ
び冷却速度を考慮することによってさらに薄膜の周期構
造を実現することが可能である。また、GaSb等の他
のI−V族化合物やAtGaAs等のI−V族化合物混
晶についても成長温度、冷却速度、具体的には徐冷の途
中で冷却速度を変える。あるいはSi。
That is, at temperatures above 800°C, an n-type growth layer is obtained;
At temperatures below 00°C, it becomes a p-type growth layer. Therefore, Te and Tt are 800℃, ←, Tt are 810℃ and 790℃, respectively.
It was set to 0.15 atm% of St was dissolved in a Ga solution that saturates GaAs at 810°C, held for 10 minutes, and then inserted between a GaAs seed crystal and a raw material crystal.
The temperature was lowered at a rate of 0°/min. The GaAs crystal used is Z
n-doped p-type (111)B1.5XL5cTL2-
? The thickness of the l' solution is approximately 3 mm. After lowering the temperature to 790℃, hold for 10 minutes and reduce to 8 at 2'0/rnin.
The temperature was raised to 10°C and held for 10 minutes. After repeating this temperature cycle 5 times, the temperature was lowered, and the removed substrate was placed between the bones and then subjected to stain etching.
A p-type 7 μm five-period structure was observed. By considering the growth temperature and cooling rate, it is possible to further realize a periodic structure of the thin film. Further, for other IV group compounds such as GaSb and IV group compound mixed crystals such as AtGaAs, the growth temperature and cooling rate, specifically, the cooling rate is changed during slow cooling. Or Si.

Ge、Sn等の両性不純物濃度の選択によって選択ドー
プ型超格子構造の作製が可能なのは言うまでもない。さ
らに用いる不純物はSi、Ge、Sn等の■族元素に限
らず、Zn−Teの2重ドーピングによる補償効果を利
用してこの構造を作製することが可能である。又、II
−Vl族化合物半導体に見られるような成長温度によっ
て結晶構造が変化する材料ではその臨界温度を中心に温
度を上下させることによって異った結晶構造のレオタキ
シャル成長が可能である。
Needless to say, it is possible to fabricate a selectively doped superlattice structure by selecting the concentration of amphoteric impurities such as Ge and Sn. Furthermore, the impurities to be used are not limited to group Ⅰ elements such as Si, Ge, Sn, etc., and it is possible to fabricate this structure by utilizing the compensation effect of double doping of Zn-Te. Also, II
-For materials whose crystal structures change depending on the growth temperature, such as those found in Vl group compound semiconductors, it is possible to rheotaxially grow different crystal structures by increasing and decreasing the temperature around the critical temperature.

実施例2 Ge−GaSb等の固溶しない■族元素半導体と■−V
族化合物また相分離を生じる領域を有する、いわゆるm
1seibility gapの存在するm−■族化合
物混晶、■−■族化合物混晶においてはそれぞれの構成
要素からなる成長層による周期的ペテロ接合構造が実現
される。ここでは−例としてGe−GaSbについて述
べる。溶媒としてGaを用いることからそれぞれの溶液
中の比重を考慮して種子結晶が溶液の下、原料合金が溶
液の上に配置される。
Example 2 Group III element semiconductor that does not form a solid solution such as Ge-GaSb and ■-V
Group compounds also have a region where phase separation occurs, so-called m
In the m-■ group compound mixed crystal and the ■-■ group compound mixed crystal in which there is a safety gap of 1, a periodic Peter junction structure is realized by growth layers made of the respective constituent elements. Here, Ge-GaSb will be described as an example. Since Ga is used as a solvent, the seed crystal is placed below the solution and the raw material alloy is placed above the solution, taking into account the specific gravity of each solution.

Ge−GaSbの合金を作ることが不可能なので、Ge
:Garb = 1 : 3の原料を1000″Cで融
解し、2・1時間充分にかくはんし、クエンチしたもの
を原料合金として用いている。この合金中のGe 、G
aSbのそれぞれの粒径は約100μm程度であった。
Since it is impossible to make a Ge-GaSb alloy, Ge
:Garb=1:3 raw material is melted at 1000''C, thoroughly stirred for 2.1 hours, and quenched to be used as the raw material alloy.Ge, G in this alloy
The particle size of each aSb particle was about 100 μm.

Ge 、GaSbを飽和溶解したGa溶液を510°C
でn形Ge (1,]、]、)面種子結晶および原料合
金の間に挿入し10分間保持した後に、0.5°C/m
inの冷却速度で490°Cマで冷却した。その温度で
10分間保持した後に1°O/ minの昇温速度で5
10℃まで昇二し10分間保持した。この温度サイクル
を5回縁シ返した後に降温し、取9出した種子結晶を切
断した後に研摩、エツチングした結果、まず約10μm
のGe層続いて20μmのGaSb層の5周期構造が観
察された。すなわち、冷却中に偏析係数の大きいGeが
まず成長するが、そのときGe中にGaSbが固溶しな
いためにGaSbの成長が起きず、基板近傍でのG。
A Ga solution containing saturated Ge and GaSb was heated at 510°C.
After inserting between the n-type Ge (1,], ],)-plane seed crystal and the raw material alloy and holding for 10 minutes,
It was cooled at 490° C. with a cooling rate of 100° C. After holding at that temperature for 10 minutes, increase the temperature by 5°C at a heating rate of 1°O/min.
The temperature was raised to 10°C and held for 10 minutes. After repeating this temperature cycle five times, the temperature was lowered, and the seed crystals removed were cut, polished, and etched.
A 5-periodic structure consisting of a Ge layer of 20 μm followed by a 20 μm GaSb layer was observed. That is, during cooling, Ge with a large segregation coefficient grows first, but at that time, GaSb does not form a solid solution in Ge, so no growth of GaSb occurs, and G grows near the substrate.

の過飽和度が低下したのちにGaSbの成長が起り、温
度プロセスの繰シ返しによシ、第2図に示すように連続
的に周期構造を形成することが可能となっている。
Growth of GaSb occurs after the degree of supersaturation of GaSb decreases, and by repeating the temperature process, it is possible to continuously form a periodic structure as shown in FIG.

ここで15はGe種子結晶基板、16はGe−GaSb
原料合金、17はGa−Ge−8b溶液、18はGe成
長層、19はGaSb成長層を示している。これがCd
5−CdTeのような固溶しないIf−VI族化合物あ
るいはm1scibility gapを有するQaA
sSbのような■−V族三元混晶やAtxGa、−xA
sySb、−、、GaxInl−xAsySbl−。
Here, 15 is a Ge seed crystal substrate, 16 is Ge-GaSb
The raw material alloy, 17 is a Ga-Ge-8b solution, 18 is a Ge growth layer, and 19 is a GaSb growth layer. This is Cd
If-VI group compounds that do not dissolve in solid solution such as 5-CdTe or QaA with m1scability gap
-V group ternary mixed crystals such as sSb, AtxGa, -xA
sySb,-,,GaxInl-xAsySbl-.

In(PxA3.−x)ySb、−ア9等のm−v族四
元混晶系に適用される。すなわち、m1scibili
ty gap内では混晶の要素は固溶しないので、それ
ぞれの成分な交互にヘテロエピタキシャル成長が可能と
なるのである。
It is applied to m-v group quaternary mixed crystal systems such as In(PxA3.-x)ySb and -A9. That is, m1scibili
Since the elements of the mixed crystal do not form a solid solution within the ty gap, heteroepitaxial growth of each component becomes possible.

実施例3 本発明の方法により2種類の超薄膜の半導体結晶を交互
に規則正しい周期で積み重ねた例を示す。
Example 3 An example is shown in which two types of ultra-thin semiconductor crystals are alternately stacked at regular intervals using the method of the present invention.

第3図に用いるスライドデーヂの一例を示す。第3図に
おいて8,8′はそれぞれ成長温度においてそれぞれ異
った半導体結晶を析出するように調整された溶液7,7
′は成長しようとする半導体結晶を成分とする原料結晶
あるいは原料合金である。
An example of the slide stage used in FIG. 3 is shown. In FIG. 3, 8 and 8' are solutions 7 and 7 that are adjusted to precipitate different semiconductor crystals at respective growth temperatures.
' is a raw material crystal or raw material alloy whose component is the semiconductor crystal to be grown.

種子結晶基板6はスライドすることによって両側の原料
の上に配置することが可能で、そのときに原料結晶ある
いは原料合金上の微少な隙間に溶液が残っているので、
フタ11によって下に押された種子結晶6は溶液と接触
して、種子結晶基板と原料結晶あるいは原料合金によっ
て溶液をはさんだサンドインチ構造が実現する。基板を
いずれかの原料側にコンタクトさせて1周期分の成長を
行った後にスライドして他方の原料側とコンタクトさせ
1周期分の成長を行う。これを繰り返すことによって2
種類の半導体結晶あるいは混晶を交互に成長できること
は明かである。ここで、溶液の厚さはフタの重さ等によ
って調整されるが、〜数十μm程度までせまくすること
が可能である。第3図は溶質の比重が溶液よシも小さい
場合の例であるが、逆の場合でも同様の方法で超格子構
造を実現できることは言うまでもない。
The seed crystal substrate 6 can be placed on the raw material on both sides by sliding, and at this time, the solution remains in the minute gap on the raw material crystal or raw material alloy.
The seed crystal 6 pushed downward by the lid 11 comes into contact with the solution, and a sandwich structure is realized in which the solution is sandwiched between the seed crystal substrate and the raw material crystal or raw material alloy. After the substrate is brought into contact with one of the raw material sides to perform growth for one cycle, it is slid and brought into contact with the other raw material side to perform growth for one cycle. By repeating this, 2
It is clear that different types of semiconductor crystals or mixed crystals can be grown alternately. Here, the thickness of the solution is adjusted by the weight of the lid, etc., but it can be made as thin as several tens of micrometers. Although FIG. 3 shows an example where the specific gravity of the solute is smaller than that of the solution, it goes without saying that a superlattice structure can be realized by the same method even in the opposite case.

ここでInAs、GaAsによる超格子構造を製作した
例を示す。G ILCL47 I n Q、s 5 A
8はInPと格子整合し、良いエピタキシャル成長層が
得られ、長波長レーザー用の材料として注目を集めてい
る一方、室温での移動度10,000cm2/v、s以
上の大きな値が得られていることから超高速、高周波素
子の材料としての期待がもたれている。第3図に示ト した様な高純度カーボンボーゼを用い、原料はGaAs
およびI nAsの(111) B面を周込た。温度サ
イクルの上限は600℃、下限は597℃、すなわち温
度の振シ幅は3℃である。溶液は600℃においてGa
Asを飽和溶解したGa溶液およびI nAsを飽和溶
解したIn溶液を準備する。n形InP基板(111)
B面、lX1crrt2をどちらの溶液とも接触させな
いでコート全体を電気炉によって昇温し600℃よりも
数℃高い温度で保持する。その後、0,2°Q/min
の冷却速反で冷却し600℃となった温度、すなわち第
4図(a)で時刻ts、でInP基板をスライドしてI
nAsを飽和溶解したIn溶液と接触させる。第4図(
a)がこの状態を示す。20がInP基板、21がIn
As原料結晶、22がIn溶液である。597°C′!
で冷却した後に時刻ts2からtllまで10分間その
状態で保持する。この状態を第4図(b)が示している
。23はInAsの成長層である。時刻t11において
InP基板をスライドして再びどちらとの溶液とも接触
しない位置に移動し時刻t1.から0.2°C/min
で昇温を開始する。その後時刻t2.からt3゜まで6
00℃で保持し時刻t51において冷却を開始すると同
時にGa側の溶液に接触させてGaAsを成長させる。
Here, an example will be shown in which a superlattice structure made of InAs and GaAs was manufactured. G ILCL47 I n Q, s 5 A
8 has a lattice match with InP and a good epitaxial growth layer can be obtained, and is attracting attention as a material for long wavelength lasers, while a large value of mobility of 10,000 cm2/v, s or more at room temperature has been obtained. Therefore, it is expected to be used as a material for ultra-high-speed, high-frequency devices. High-purity carbon bose as shown in Figure 3 is used, and the raw material is GaAs.
and wrapped around the (111) B-face of InAs. The upper limit of the temperature cycle is 600°C and the lower limit is 597°C, that is, the temperature amplitude is 3°C. The solution is Ga at 600℃
A Ga solution in which As is saturatedly dissolved and an In solution in which InAs is saturatedly dissolved are prepared. N-type InP substrate (111)
The entire coat is heated in an electric furnace without contacting the B side, lX1crrt2, with either solution and held at a temperature several degrees higher than 600°C. After that, 0.2°Q/min
At a temperature of 600°C, that is, at time ts in FIG. 4(a), the InP substrate was slid and the I
It is brought into contact with an In solution in which nAs is saturatedly dissolved. Figure 4 (
a) shows this state. 20 is InP substrate, 21 is In
As raw material crystal, 22 is an In solution. 597°C'!
After cooling at , the state is maintained for 10 minutes from time ts2 to tll. FIG. 4(b) shows this state. 23 is a growth layer of InAs. At time t11, the InP substrate is slid and moved again to a position where it does not come into contact with either solution, and at time t1. from 0.2°C/min
Start heating up. Then time t2. to t3°6
The temperature is maintained at 00° C., and cooling is started at time t51, and at the same time, GaAs is grown by contacting the solution on the Ga side.

第4図(c)がこの状態を示し24はGaAsの成長層
を示し25はQaAs原料結晶、26はGa溶液を示し
ている。ここでGa溶液およびIn溶液ともに約100
μm程度噂になっている。この操作をくり返し、それぞ
れの成長を30回づつ行った。
FIG. 4(c) shows this state, 24 is a GaAs growth layer, 25 is a QaAs raw material crystal, and 26 is a Ga solution. Here, both the Ga solution and the In solution are about 100%
It is rumored that it is about μm. This operation was repeated, and each growth was performed 30 times.

成長後のこのサンプルを襞間して適当なエツチングを行
った後に電子顕微鏡を用いて観察した結果、約500 
X GaAs薄膜層と約700 XInAs薄膜層が交
互に30層づつ積み重った周期構造が観察された。
After the growth, this sample was folded and etched appropriately, and then observed using an electron microscope.
A periodic structure in which 30 X GaAs thin film layers and approximately 700 XInAs thin film layers were stacked alternately was observed.

この(InAs)n(GaAs)rr、の超格子構造は
バルクの約5、111mの厚さのGa O,43I n
 o、57Asに対応している。さらに溶液の厚さを薄
くすることや成長温度を下げること、温度幅を減少する
ことあるいはそれぞれの成長における温度の振り幅を変
えることにより、それぞれの薄膜の厚さ、すなわちそれ
ぞれの分子の層数な任意に変化ししかも量子サイズ効果
が顕著に現われる超格子構造を実現することが可能なこ
とは明かである。又、成長中にドーピングガスを導入し
て成長層の伝導型を変化す、ることにより、超格子構造
を有しながら全体としてはpn接合のバンド構造を有し
た構造も実現可能である。勿論、2種類の半導体結晶の
成長において、基板結晶と原料結晶との位置が反転する
場合、例えばGa溶液によるGaAs成長とAt溶液に
よるAtA sの成長の場合、yl?−トな反転できる
構造にすることによって超格子構造を実現できることは
明かであろう。
This superlattice structure of (InAs)n(GaAs)rr is composed of GaO,43In with a bulk thickness of about 5,111 m.
o, 57As. Furthermore, by reducing the thickness of the solution, lowering the growth temperature, reducing the temperature width, or changing the temperature amplitude during each growth, the thickness of each thin film, that is, the number of layers of each molecule, can be increased. It is clear that it is possible to realize a superlattice structure that changes arbitrarily and exhibits remarkable quantum size effects. Furthermore, by introducing a doping gas during growth to change the conductivity type of the grown layer, it is possible to realize a structure that has a pn junction band structure as a whole while having a superlattice structure. Of course, when the positions of the substrate crystal and the source crystal are reversed in the growth of two types of semiconductor crystals, for example, in the case of GaAs growth using a Ga solution and AtAs growth using an At solution, yl? It is clear that a superlattice structure can be realized by creating a structure that can be inverted.

また3種類以上の半導体結晶の組み合わせによる超格子
構造も号?−トの溶液だめを増やすことによって容易に
達成され、半導体混晶による超格子構造も成長を目的と
する組成を有する原料合金を用いることによって実現さ
れる。本実施例によって、半導体結晶、混晶あるいは金
属結晶の2種類以上の超薄膜の超格子構造が容易にしか
も安価に製作できることが明かになった。
Also, is a superlattice structure created by combining three or more types of semiconductor crystals a problem? This can be easily achieved by increasing the amount of solution in the substrate, and a superlattice structure with a semiconductor mixed crystal can also be realized by using a raw material alloy having a composition intended for growth. This example has revealed that a superlattice structure of two or more types of ultrathin films, such as semiconductor crystals, mixed crystals, or metal crystals, can be manufactured easily and at low cost.

特に半導体結晶においては、GaAs/AtAs系、G
aAs/AtGaAs系InAs/GaAs系InGa
As/InP系、GaAs/Garb系等の全てのI−
V族化合物半導体、あるいはP b S nT e/P
bT e系、Z n S e/Z n S系、等の全て
のII−Vl族化合物半導体に適用される。
Especially in semiconductor crystals, GaAs/AtAs system, G
aAs/AtGaAs-based InAs/GaAs-based InGa
All I- such as As/InP system, GaAs/Garb system, etc.
Group V compound semiconductor or PbSnTe/P
It is applied to all II-Vl group compound semiconductors such as bTe type, ZnSe/ZnS type, etc.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明の方法によシ温度サイクル
のくり返しにより理想的な量子サイズ効果の現われる超
格子構造および多層膜を安価で経済的にしかも安全に製
作することが可能であシ、この方法を用いて蓋子井戸レ
ーデやHEMT等を製造した場合にその製造コストを下
げることができる。
As explained above, by the method of the present invention, it is possible to fabricate superlattice structures and multilayer films exhibiting ideal quantum size effects inexpensively, economically, and safely by repeating temperature cycles. When a lid well radar, a HEMT, etc. are manufactured using this method, the manufacturing cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の方法による選択ドーグによる超構造製
作の実施例を説明する図、第2図はm1scibtli
ty gapを利用することによるGe/Garbの超
構造の実施例を示す図、第3図は2種類の異った半導体
結晶薄膜による超格子構造を製作するト ためのスライドゴーゼの一例図、第4図は1.nAs/
GaAsの超格子構造製作の実施例を示すものである。 1・・・種子結晶、2・・・原料結晶あるいは原料合金
、3・・・成長用溶液、4・・・成長層、5・・・成長
層、6・・・種子結晶、7,7′・・・原料合金あるい
は原料結晶、8.8′・・・成長用溶液、9・・・成長
用スライドボート、10・・・スライダ、11・・・フ
タ、12 、12’・・・操作棒、13・・・石英管、
14・・・電気炉、15・・・Ge iM子結晶基板、
16− Ge−GaSb合金、17− Ga−Ge−8
b溶液、18・・・Ga成長層、19・・・Garb成
長層、20・・・InP基板、21・・・InAs原料
結晶、22・・・In−As溶液、23− InAs薄
膜成長層、24− GaAs薄膜成長居、25・・・G
aAs原料結晶、26・・・Ga−As溶液、g・・・
重力加速度。
Figure 1 is a diagram illustrating an example of fabricating a superstructure using selective dougs according to the method of the present invention, and Figure 2 is a diagram illustrating an example of fabricating a superstructure using a selective doug method according to the method of the present invention.
Figure 3 shows an example of a Ge/Garb superstructure using the ty gap. Figure 3 is an example of a slide goze for producing a superlattice structure using two different types of semiconductor crystal thin films. Figure 4 The diagram is 1. nAs/
This figure shows an example of fabricating a GaAs superlattice structure. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Seed crystal, 2... Raw material crystal or raw material alloy, 3... Growth solution, 4... Growth layer, 5... Growth layer, 6... Seed crystal, 7, 7' ... Raw material alloy or raw material crystal, 8.8'... Growth solution, 9... Slide boat for growth, 10... Slider, 11... Lid, 12, 12'... Operation rod , 13...quartz tube,
14... Electric furnace, 15... Ge iM child crystal substrate,
16-Ge-GaSb alloy, 17-Ga-Ge-8
b solution, 18... Ga growth layer, 19... Garb growth layer, 20... InP substrate, 21... InAs raw material crystal, 22... In-As solution, 23- InAs thin film growth layer, 24- GaAs thin film growth, 25...G
aAs raw material crystal, 26...Ga-As solution, g...
gravitational acceleration.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  種子結晶基板と成長を目的とする超構造および多層膜
の成分を持つ原料結晶あるいは原料合金との少なくとも
一つを上側にまた他の一つを下側に配置し、結晶成長開
始時に当該種子結晶基板と原料結晶との間を成長を目的
とする超構造および多層膜を成分に持つ固相を析出する
溶液で満たし、種子結晶基板、原料結晶あるいは原料合
金および溶液の温度をある温度幅で周期的に上下させる
ことによって原料結晶あるいは合金側から溶解させた溶
質を種子結晶側へ輸送させ、その溶質を種子結晶基板上
に析出させることを特徴とする超構造および多層膜の製
作方法。
At least one of a seed crystal substrate and a raw material crystal or raw material alloy having components of a superstructure and multilayer film to be grown is arranged on the upper side and the other one on the lower side, and when the crystal growth starts, the seed crystal is The space between the substrate and the raw material crystal is filled with a solution that precipitates a solid phase containing superstructures and multilayer films for the purpose of growth, and the temperatures of the seed crystal substrate, raw material crystal or raw material alloy, and solution are periodically adjusted in a certain temperature range. A method for producing superstructures and multilayer films, characterized by transporting dissolved solute from the raw material crystal or alloy side to the seed crystal side by vertically moving the solute up and down, and depositing the solute on the seed crystal substrate.
JP61226278A 1986-09-26 1986-09-26 Fabrication of superstructures and multilayers Expired - Fee Related JPH07115987B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61226278A JPH07115987B2 (en) 1986-09-26 1986-09-26 Fabrication of superstructures and multilayers

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61226278A JPH07115987B2 (en) 1986-09-26 1986-09-26 Fabrication of superstructures and multilayers

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6381919A true JPS6381919A (en) 1988-04-12
JPH07115987B2 JPH07115987B2 (en) 1995-12-13

Family

ID=16842702

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61226278A Expired - Fee Related JPH07115987B2 (en) 1986-09-26 1986-09-26 Fabrication of superstructures and multilayers

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07115987B2 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4918264A (en) * 1972-06-09 1974-02-18
JPS5414669A (en) * 1977-07-05 1979-02-03 Siemens Ag Method of growing monocrystal layer by slide liquid phase epitaxy
JPS56149399A (en) * 1980-04-16 1981-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid phase epitaxial growing method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4918264A (en) * 1972-06-09 1974-02-18
JPS5414669A (en) * 1977-07-05 1979-02-03 Siemens Ag Method of growing monocrystal layer by slide liquid phase epitaxy
JPS56149399A (en) * 1980-04-16 1981-11-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid phase epitaxial growing method

Also Published As

Publication number Publication date
JPH07115987B2 (en) 1995-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4116733A (en) Vapor phase growth technique of III-V compounds utilizing a preheating step
US3933538A (en) Method and apparatus for production of liquid phase epitaxial layers of semiconductors
Isshiki et al. Wide-bandgap II-VI semiconductors: growth and properties
JPS63240012A (en) Iii-v compound semiconductor and formation thereof
Potts et al. Tuning growth direction of catalyst-free InAs (Sb) nanowires with indium droplets
WO2022005398A1 (en) Method of growing monolayer transition metal dichalcogenides via sulfurization and subsequent sublimation
Singer et al. Self‐organizing growth of erbium arsenide quantum dots and wires in gallium arsenide by molecular beam epitaxy
JPS63230599A (en) Production of znse single crystal
US4642142A (en) Process for making mercury cadmium telluride
JPS6381919A (en) Superlattice structure and manufacture of multilayer film
US4487640A (en) Method for the preparation of epitaxial films of mercury cadmium telluride
CN112760714B (en) Method for preparing single crystal two-dimensional transition metal chalcogenide
US3530011A (en) Process for epitaxially growing germanium on gallium arsenide
JPH02258688A (en) Method for epitaxial growth of compound semiconductor
US4238252A (en) Process for growing indium phosphide of controlled purity
JPS58156598A (en) Method for crystal growth
JP2533760B2 (en) Mixed crystal manufacturing method
JP3202405B2 (en) Epitaxial growth method
Kato et al. Effect of solution thickness on ZnSe crystals grown from Se/Te mixed solutions
US3344002A (en) Method of producing epitaxial layers on semiconductor monocrystals
Palmstrøm et al. Buried Metal/III-V Semiconductor Heteroepitaxy: Approaches to Lattice Matching
Yanka et al. A novel technique for the MBE growth of twin-free HgCdTe
JPS62176988A (en) Method and device for vapor phase growth of compound semiconductor
JPH0193497A (en) Production of znse single crystal
JPH0710671A (en) Method for forming compound semiconductor thin film

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees