JPS6379079A - 液体バ−イン装置 - Google Patents

液体バ−イン装置

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Publication number
JPS6379079A
JPS6379079A JP61224341A JP22434186A JPS6379079A JP S6379079 A JPS6379079 A JP S6379079A JP 61224341 A JP61224341 A JP 61224341A JP 22434186 A JP22434186 A JP 22434186A JP S6379079 A JPS6379079 A JP S6379079A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
burn
lid
lid body
liquid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61224341A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Yashima
八島 實
Takashi Fujii
孝 藤井
Tetsuo Sugaya
菅谷 哲夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
YASHIMA SEISAKUSHO KK
Original Assignee
YASHIMA SEISAKUSHO KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by YASHIMA SEISAKUSHO KK filed Critical YASHIMA SEISAKUSHO KK
Priority to JP61224341A priority Critical patent/JPS6379079A/ja
Publication of JPS6379079A publication Critical patent/JPS6379079A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2805Bare printed circuit boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は液体バーイン装置に係り、被試験回路基盤を液
体中に浸漬して通電試験を行なう装置に関する。
(従来の技術) 従来のこの種の液体バーイン装置は、被試験回路基盤を
ラックに支持してこのラックの昇降により被試験回路基
盤を恒温液槽の液中に浸漬し、またこの回路基盤を恒温
液槽から取出しを行なうようにし、ラックの上下動機構
の作動軸を恒温液槽の底部に配設し、また被試験回路基
盤を電気的に接続する」ネクタは恒温液槽の底部に設置
し、このコネクタに信号および電源などを供給するケー
ブルを恒温液槽の外部から接続した構造が採られていた
(発明が解決しようとする問題点) 上記従来の液体バーイン装置は、恒温液槽の底部に回路
基盤を支持したラックの上下動機構の作動軸を配設して
おり、また恒温液槽の液体は浸透性の高い液体が用いら
れているため、作動軸部のシール部の液漏れ防止に高度
の技術的考虞を払う必要があり、またコネクタに接続し
たケーブルは恒温液槽から外部に引出すため、被試験回
路基盤とバーイン回路との間を長いケーブルで接続する
必要があり、特にこの装置でダイナミックバーインをt
”xなうようにすると、13号のり1コストークが発生
し、また伝播速度の遅れ、ノイズの発生など電気的悪影
響が生じ易い問題を有している。
本発明は上記問題点に鑑みなされたもので、恒温液槽内
に被試験回路基盤を浸漬または取出しをするための上下
動tavSを設ける必要がなく、液漏れを考慮する必要
がなく、またケーブルの長さに起因する信号のクロスト
ーク宣伝!?Ii速度の遅れ、ノイズなどの電気的悪影
響の発生がなく、電気的特性を良好にできる液体バーイ
ン装置を提供するもの“Cある。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 本発明のバーイン装置は、恒温液槽と、この恒温液槽の
上面開口部を開閉自在に覆う蓋体と、この器体に設けら
れたマザーボード、ドライバーボード、クロックジェネ
レータ、パターンジェネレータなどからなるバーイン回
路と、前記蓋体に設けられこの蓋体の閉塞時に前記恒温
液槽の液中に没清される被試験回路基盤を挿抜自在に保
持しこの回路基盤を前記バーイン回路に電気的に接続す
るコネクタとを具備したことを特徴とするものである。
(作用) 本発明の液体バーイン装置は、蓋体を聞き、この蓋体に
設けられたコネクタに被試験回路基盤を装着接続して回
路基盤をバーイン装Z1に接続する。ついで蓋体を閉じ
ると被試験回路3!盤【よ恒温液槽の液中に浸漬され、
この状態でバーイン回路を駆動して被試験回路基盤試験
を行なう。この際被試験回路基盤とバーイン回路との間
の電気回路が短く、信号のクロストークや伝播速度の遅
れ、またはノイズの発生が少ない。そして試験終了後蓋
体を開くことにより、被試験回路基盤を恒温液槽から取
出される。
(実施例) 本発明の一実施例の構成を図面第1図および第2図につ
いて説明する。
1はバーイン装置本体で、上面を間口した恒温液槽2を
有し、この恒温液槽2にはシリコンオイルなどの電気絶
縁性液体33を収納する。またこの恒温液槽2の上面開
口部を開閉する蓋体3が設けられ、この蓋体3の後部に
延在したアーム部4の後端に下方に向けて突出した軸支
部5が、lN16にて前記恒温液槽2の後側においてこ
の恒温液槽2の開口面より下側位置にて前記バーイン装
置本体1に回動自在に取付けられている。この蓋体3の
内部にはバーイン回路7が内、taされている。このパ
ル1ン回路7はマザーボード8、このマザーボード8に
コネクタを介して接続されたドライバーボード9、クロ
ックジェネレータ10、パターンジェネレータ11など
にて構成されている。また前記マザーボート8には中継
ボード12がコネクタを介して接続され、この中継ボー
ト12に接続した複数の」ネクタ14が前記恒温液槽2
の開口部に対向する蓋体3の内面に設けられている、1
このコネクタ14には被試験回路M盤15が挿抜自在に
取何tノられている。
またバーイン装置本体1には1γi記恒渇Fi槽2の後
部に前記バーイン回路7に供給する電源などの収納室1
6が形成されている。
また前記バーイン装置本体1の前記恒温液槽2の開口面
の後部にはこの恒温液槽2のIti1口面をを開閉自在
に覆う透明フィルム17が巻回され、このフィルム17
を前方に引出し、この恒温液槽2の前部にこのフィルム
17の先端係止部18を係止することによりフィルム1
7は恒温液槽2の間口面を覆いこの恒温液槽2の液体の
蒸発を防ぐようになっている。またこのフィルム17は
係止部18の係止を解くことによりフィルム11は図示
しないばね装置により巻戻され、恒温液槽2の上面開口
部を開放するようになっている1、そしてこのフィルム
17に付着している液体をしごき落とすローラ19が前
記恒温液槽2の開口部の後側に設けられている。
また前記バーイン装置本体1の恒温液槽2の後部下側位
置と蓋体3とにこの蓋体3の開閉を容易にする開閉補助
ガススプリング200両端がそれぞれ係止されている。
また前記蓋体3の前部には開閉用ハンドル21が設けら
れている。。
つぎにこの実施例の作用を説明する。
蓋体3を開き、この蓋体3の内面に設けられている各コ
ネクタ14に半導体デバイスなどの試供品などを搭載し
た複数の被試験回路基盤15を装着してこの回路基盤1
5を中継ボード12を介してバーイン回路7の7ザーボ
ート8に電気的に接続する。
この状態で蓋体3を閉じると恒温液槽2の上面間1」部
が閉塞されるとともに被試験回路基盤15が恒温液槽2
の液体33に浸漬される。この際器体3は恒温液槽2の
上面開口部の後側下部にて軸支されているため、被試験
回路基盤15が恒温液槽2に接触することなく液体33
に浸漬される。
そして蓋体3にて恒温液槽2を開じ被試験回路基盤15
を液体33に浸漬した状態でバーイン回路7を駆動して
被試験回路基盤15を試験する。この試験時において被
試験回路基盤15は器体3に設けたバーイン回路7に直
接的に接続されているため、ケーブルの長さに起因する
信号のクロスストローク、伝播速度の遅れ、ノイズなど
の発生がない。
また試駆終了後に蓋体3を開くと、被試験回路基盤15
は恒温液槽2から取出され、この被試験回路基盤15を
コネクタ14から外す。この被試験回路11.115を
外した後フィルム11を前方に引出し、このフィルム1
7の前端を係止部18に係止して恒温液槽2の上面開口
部を閉塞し、液体の悉発を防止する。
また次の被試験回路基盤15を試験づる場合には、フィ
ルム17の係止を外すと、フィルム17はばね手段によ
り巻き取られ、恒温液槽2は開放されるとともにこのフ
ィルム11にイ」着していた液はローラ19にて搾り取
られる。
なお前記実施例では益体3を軸6にて装置本体1に軸着
した構造について説明したが、第3図、第4図に示すよ
うに°電動機35によって回転されるねじ軸36にて案
内軸37にて上下動自在に取(=j I′jられた昇降
台38を昇降させ、この昇降台38の上背位Vで蓋体3
を前方に向って回動させるようにすることもできる。
そしてこの蓋体3は電動機29にウオームギヤなどの連
動機構40を介して連動して回転される。
次に他の実施例の構成を第5図乃至第8図について説明
する。
バーイン装置本体1に左右に恒温液槽2a、 2bを並
列に設け、このバーイン装置本体1の上部に前記恒温液
槽2a、 2bの上面開口部を閉塞する蓋体3と蓋板2
2を左右方向に移動可能に設ける。この器体3は後部ア
ーム部4の軸支部5が@6に回動自在でかつ左右方向に
移動自在に支持され、この@6の前側に位置して蓋板2
2が軸23にて回動自在でかつ左右方向に移動自在に軸
支され、この益体3と蓋板22にはそれぞれ左右方向の
ラック休24゜25が取イ」けられ、この両ラック体2
4.25は電動機26にて回転される歯車27に噛合さ
れている。そしてこの電動機26の駆動で歯車21が回
動して両ラック体24.2bが左右方向に移動し、蓋体
3と蓋板22とは左右の恒温液槽2a、 2bとの開口
部を閉塞する位置に交Hに移動されるようになっている
また前記蓋体3は電a機28により駆動されるチェーン
29にて開閉回動されるようになっており、また前記蓋
板22は電動[30によって駆動されるチェーン31に
て開閉駆動されるようになっている1゜そしてこの両蓋
体3と蓋板22を電動1528.30にて駆動するチェ
ーン29.31にて開閉する機構は電動機28.30の
駆動軸に設けたスプロケットと、軸6゜23に設けたス
プロケットとにチェーン29.31を懸回し、軸6.2
3を回転させることにより、この軸6.23の軸方向に
移動自在でかつ回転力向に結合された益体3と蓋板22
とがそれぞれ回動されるようになっている。
なお蓋体2に設けられているバーイン回路7は前記実施
例と同一構造となっている。
そしてこの実施例の構造では恒温液槽2a、 2bには
それぞれ温度の異なる電気絶縁性液体33を収納する。
次にこの作用を説明する。
前記実施例と同様に蓋体3のコネクタ14に被試験回路
基盤15を装着し、蓋体3を電8機28の駆動でチェー
ン29を介して軸6を回転させ、益体3を閉じ、被試験
回路基盤15を・一方の恒温液槽2aの液体33に浸漬
させ1次いでバーイン回路7を駆動して試験を行なう1
.この際他方の恒温液槽2bは蓋板22にて閉塞されて
いる。
また試験終了後に電vI機28.30の駆動で蓋体3と
蓋板22とを開き、被試験回路基盤15を恒温液WI2
aから取出し、次いで電8機26を駆動すると歯車27
とラック体24.25との噛合で蓋体3は他方の恒温液
槽2b8閉塞する位置に、蓋板22は一方の恒温液槽2
aを閉塞する位置に移動され、この状態で、電動機28
.30を駆動し、蓋板3と蓋板22を閉じ、蓋体3に装
着されている被試験回路基盤15を他方の恒温液槽2b
の液体33に浸漬させ、バーイン回路7を駆動して試験
を行なう。また試験終了後に蓋体3の電動機28の駆動
で開きコネクタ14から被試験回路基盤15を取外す。
このようにして両恒温液槽2a、 2bにて熱的衝撃試
験を行なうことができる。
なお前記益体3と蓋板22を交Uに移動させる構造は前
記実施例の構造に限られるものではなく、無端ヂエーン
またはベルトなどにより交n位首に移動させるようにし
たH4造とし、さらに適宜の手段で蓋体3と蓋板22と
の位置を変更させるようにすることができる。
また前記両実施例では、バーイン回路7・に中継ボード
12を介して被試験回路基盤15を接続するコ」ネクタ
14を設けたが、このコネクタ14を直接バーイン回路
7のンザーボード8に接続することもできる。
(発明の効果〕 本発明によれば、恒温液槽を開開する蓋体にこの蓋体に
設けたバーイン回路に被試験回路基盤を接続するコネク
タを設けたので、蓋体の開閉により被試験回路基盤を恒
温液槽の液中に浸漬できるとともに恒温液槽からの取り
出しもでき操作性がよく、しかし被試験回路基盤とバー
イン回路との間に長いケーブルを必要とぜず、ケーブル
の長さに起因する信号のクロストーク、伝播速度の遅れ
、ノイズなどの発生がなく、電気特性を向上でき、また
恒温液槽内に被試験回路基盤を胃降させる装着を設ける
必要がないため、恒温液槽の水密構造を考慮する必要が
ないものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す液体バーイン装置の一
部を切り欠いた側面図、第2図は同上蓋体を開いた状態
を示す側面図、第3図は本発明の他の実tMVAを示す
液体バーイン装置の側面図、第4図は同上背面図、第5
図は本発明の他の実施例を示す液体バーイン装置の一部
を切り欠いた側面図、第6図は同上縦断正面図、第7図
は同上蓋体と蓋板とを問いた状態の側面図、第8図は同
上正面図である。 1・・バーイン装置本体、2 、2a、 2b・・恒温
液槽、3・・蓋体、7・・バーイン回路、14・・コネ
クタ、15・・被試験回路基盤。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)恒温液槽と、この恒温液槽の上面開口部を開閉自
    在に覆う蓋体と、 この蓋体に設けられたバーイン回路と、 前記蓋体に設けられこの蓋体の閉塞時に前記恒温液槽の
    液中に浸漬される被試験回路基盤を挿抜自在に保持しこ
    の回路基盤を前記バーイン回路に電気的に接続するコネ
    クタとを具備したことを特徴とする液体バーイン装置。
JP61224341A 1986-09-22 1986-09-22 液体バ−イン装置 Pending JPS6379079A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61224341A JPS6379079A (ja) 1986-09-22 1986-09-22 液体バ−イン装置

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JP61224341A JPS6379079A (ja) 1986-09-22 1986-09-22 液体バ−イン装置

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JPS6379079A true JPS6379079A (ja) 1988-04-09

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ID=16812237

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JP61224341A Pending JPS6379079A (ja) 1986-09-22 1986-09-22 液体バ−イン装置

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JP (1) JPS6379079A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3683588A1 (de) * 2019-01-17 2020-07-22 Lisa Dräxlmaier GmbH Verfahren und prüfvorrichtung zum prüfen eines elektrobauteils

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3683588A1 (de) * 2019-01-17 2020-07-22 Lisa Dräxlmaier GmbH Verfahren und prüfvorrichtung zum prüfen eines elektrobauteils

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