JPS6361431A - Optical pickup - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、光ディスク等の光記録媒体に記録されている
信号を読み取るための光ピックアップ、特に詳細には先
導波路を用いた光ピックアップに関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to an optical pickup for reading signals recorded on an optical recording medium such as an optical disk, and particularly relates to an optical pickup using a guiding waveguide. It is.
(従来の技術)
近時、画像信号や音声信号等の記録媒体として、光ディ
スク等の光記録媒体が広く実用に供されている。この光
記録媒体にピットや反射率の差等(以下の説明は、ピッ
トの場合を例にとって行なう)の形で記録されている信
号は、光学式のピックアップ、いわゆる光ピックアップ
によって読みセられる。この光ピックアップは、例えば
レーザ光等の光を光記録媒体表面に照射し、該記′B媒
体において反射した光のレベルを検出して上記ピットの
有無を検出するようにしたちである。(Prior Art) In recent years, optical recording media such as optical disks have been widely used as recording media for image signals, audio signals, and the like. Signals recorded on this optical recording medium in the form of pits, differences in reflectance, etc. (the following explanation will be given using pits as an example) are read by an optical pickup, a so-called optical pickup. This optical pickup irradiates the surface of an optical recording medium with light, such as a laser beam, and detects the level of the light reflected on the recording medium to detect the presence or absence of the pits.
このような光ピックアップにおいては、上述のようにし
て記録情報読取りを行なうとともに、トラッキングエラ
ー検出、つまりピッ]−検出のための光ビームが所定の
ビット列(トラック)中心から左右どちら側にずれて照
射されているかを検出するための11能、およびフォー
カスエラー検出、つまり上記光ビームの焦点が光記録媒
体の反射面よりも近くにあるかあるいは遠くにあるかを
検出するための機能を備えることが求められる。すなわ
らこのトラッキングエラー、フォーカスエラーの検出信
号は、該信号が打ち消されるようにトラッキング制御、
フォーカス制御をかけて、光ビームを所定のトラックに
正しく照射するため、また該光ビームを光記録媒体の反
射面上で正しく合焦させるために利用される。なお従来
より、トラッキングエラー検出方法としてはプッシュプ
ル法、ヘテロゲイン法、vr器間差検出法が知られてお
り、一方フオーカスエラー検出方法としては、非点収差
法、臨W角検出法、フーコー法等が知られている。In such an optical pickup, recorded information is read as described above, and the optical beam for tracking error detection (in other words, beep) is irradiated with a deviation to the left or right from the center of a predetermined bit string (track). and a focus error detection function, that is, a function for detecting whether the focus of the light beam is closer or farther than the reflective surface of the optical recording medium. Desired. In other words, the tracking error and focus error detection signals are controlled by tracking control so that the signals are canceled.
It is used to apply focus control to correctly irradiate a predetermined track with a light beam, and to properly focus the light beam on a reflective surface of an optical recording medium. Conventionally, the push-pull method, heterogain method, and VR inter-instrument difference detection method are known as tracking error detection methods, while the astigmatism method, W angle detection method, and Foucault method are known as focus error detection methods. The law is known.
上述のような11貫能を備えるために従来の光ピックア
ップは、光記録媒体において反射したビームを該媒体に
向けて照射されている光ビームから分離するだめのビー
ムスプリッタや、この反射ビームをフォトダイオード等
の光検出器の近傍で集束させるためのレンズや、さらに
は上記トラッキングエラー検出方法およびフォーカスエ
ラー検出方法を実行するためのプリズム、シリンドリカ
ルレンズ等の微小光学素子から構成されていた。In order to provide the above-mentioned 11-penetration capability, conventional optical pickups require a beam splitter to separate the beam reflected by the optical recording medium from the light beam directed toward the medium, or a photo-optical device to convert this reflected beam. It consisted of a lens for focusing near a photodetector such as a diode, and micro optical elements such as a prism and a cylindrical lens for carrying out the tracking error detection method and focus error detection method described above.
(発明が解決しようとする問題点)
しかし上記のような微小光学素子は精密な加工を要し、
またピックアップ組立てに際しての相互の位置調整も面
倒であるので、このような光学素子を用いる光ピックア
ップは必然的に高価なものとなっていた。さらにこのよ
うな構成の光ピックアップは、大型で重いものとなるの
で、読取装置の小型打倒化や、アクセスタイム短縮化の
点で不利なものとなっていた。(Problem to be solved by the invention) However, the above-mentioned microscopic optical elements require precise processing;
Further, since mutual position adjustment is troublesome when assembling the pickup, an optical pickup using such an optical element has inevitably become expensive. Furthermore, the optical pickup having such a configuration is large and heavy, which is disadvantageous in terms of downsizing the reading device and shortening the access time.
上記の不具合を解消するため従来より、例えば非球面レ
ンズ等の特殊な光学素子を用いてピックアップの構成を
簡素化する試みも種々なされている。しかしこの種の光
学素子は特に高価であるので、このような素子を用いる
光ピックアップは、構成は簡素化されても、コストの点
では前述のような光ピックアップとさほど変わり無いも
のとなっている。In order to solve the above-mentioned problems, various attempts have been made to simplify the configuration of the pickup by using special optical elements such as aspherical lenses. However, this type of optical element is particularly expensive, so even if the configuration of an optical pickup using such an element is simplified, it is not much different from the optical pickup described above in terms of cost. .
本発明は上記のような事情に鑑みてなされたものであり
、小型軽量で、しかも極めて安価に形成されうる光ピッ
クアップを提供することを目的とするものである。The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide an optical pickup that is small, lightweight, and can be formed at extremely low cost.
(問題点を解決するための手段)
本発明の光ピックアップは、先に述べたビームスプリッ
タ、レンズおよびプリズム等が果たす作用を、1つのグ
レーティングレンズによって1りるようにしたものであ
り、
光ディスク等の光記録媒体の表面に光ビームを照射する
光源と、上記光ビームを光記録媒体の反射面上で集束さ
せる対物レンズと、光記録媒体で反射した反射ビームを
一表面で受けるような向きに配置され、該反射ビームを
光記録媒体に向かう光ビームの光路から分岐させて集束
させるグレーティングレンズと、このグレーティングレ
ンズを通過した反射ビームを、記録情報読取り、トラッ
キングエラー検出、フォーカスエラー検出を行なえるよ
うに検出する光検出器とから構成されたことを特徴とす
るものである。(Means for Solving the Problems) The optical pickup of the present invention is one in which the functions performed by the beam splitter, lens, prism, etc. described above are performed by one grating lens, and the optical pickup can be used for optical disks, etc. a light source that irradiates a light beam onto the surface of the optical recording medium; an objective lens that focuses the light beam on the reflective surface of the optical recording medium; and an objective lens oriented such that one surface receives the reflected beam reflected by the optical recording medium. A grating lens is arranged to branch and focus the reflected beam from the optical path of the light beam toward the optical recording medium, and the reflected beam that has passed through the grating lens can be used to read recorded information, detect tracking errors, and detect focus errors. The device is characterized in that it is comprised of a photodetector that detects as follows.
上記グレーティングレンズは、透明部材の表面に曲りと
チャープ、または曲りを右する回折格子が形成されたも
のであり、入射光を回折し、またこの回折された光を集
束させる。The grating lens has a curved and chirped or curved diffraction grating formed on the surface of a transparent member, and diffracts incident light and focuses the diffracted light.
(作 用)
光記録媒体からの反射ビームはグレーティングレンズの
回折作用により、光記録媒体に向かう光ビームの光路か
ら分離される。これは前述のビームスプリッタが果たす
作用と同じである。またグレーティングレンズは反射ビ
ームを集束させるが、これは前述のレンズが果たす作用
と同じである。(Function) The reflected beam from the optical recording medium is separated from the optical path of the light beam heading toward the optical recording medium by the diffraction effect of the grating lens. This is the same effect as the beam splitter described above. The grating lens also focuses the reflected beam, which is the same function performed by the lenses described above.
さらにこのようなグレーティングレンズを2個配置して
、トラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出のた
めに、光記録媒体からの反射ビームを互いにトラッキン
グ方向に2系統に分岐させることもできる。またグレー
ティングレンズを非点収差レンズとすることにより、ト
ラッキングエラー検出、フォーカスエラー検出のために
反射ビームに非点収差を作り出すこともできる。これは
前述のプリズムやシリンドリカルレンズが果たす作用と
同じである。Furthermore, by arranging two such grating lenses, the reflected beam from the optical recording medium can be branched into two systems in the tracking direction for tracking error detection and focus error detection. Furthermore, by using an astigmatism lens as the grating lens, astigmatism can be created in the reflected beam for tracking error detection and focus error detection. This is the same effect as the prism and cylindrical lens described above.
(実 施 例)
以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail based on an example shown in the drawings.
第1図は本発明の第1実施例による光ピックアップを示
すものであり、第2図はこの光ピックアップのグレーテ
ィングレンズの平面形状と電気回路を示すものである。FIG. 1 shows an optical pickup according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows the planar shape and electric circuit of a grating lens of this optical pickup.
第1図に示されるようにこの光ピックアップは、紙面に
略垂直な方向に延びるロッド11.11に沿って移動自
在とされたブロック12を有している。このブロック1
2はビット列(トラック〉に追随するために、例えば精
密送りネジと光学系送りモータ等により、光ディスク1
3のビット2組の並び方向くビーム照射位置において矢
印U方向)に直角な方向、あるいはそれに近い方向に移
動されるようになっている。As shown in FIG. 1, this optical pickup has a block 12 that is movable along a rod 11.11 extending in a direction substantially perpendicular to the plane of the paper. This block 1
In order to follow the bit string (track), the optical disc 2 is moved by, for example, a precision feed screw and an optical system feed motor.
It is arranged to be moved in a direction perpendicular to the direction in which the two sets of bits No. 3 are lined up (in the direction of arrow U at the beam irradiation position), or in a direction close to it.
上記ブロック12には、光ディスク13の反射面14に
向りで光ビーム(レーザビーム)15を発する半導体レ
ーザ16と、該半導体レーザ16から発せられた発散ビ
ームを平行ビームにするコリメータレンズ17と、平行
ビームとされた光ビーム15を上記反射面14上で集束
させる対物レンズ18とが取り付(プられている。この
対物レンズ18は後に詳述するトラッキング制御、フォ
ーカス制御のために、トラッキング方向く矢印U方向に
直角な方向)およびフォーカス方向く矢印V方向)に移
動可能に支持され、トラッキングコイル19、フォーカ
スコイル20によりそれぞれ上記の方向に移動されるよ
うになっている。The block 12 includes a semiconductor laser 16 that emits a light beam (laser beam) 15 toward the reflective surface 14 of the optical disk 13, and a collimator lens 17 that converts the diverging beam emitted from the semiconductor laser 16 into a parallel beam. An objective lens 18 that focuses the parallel light beam 15 on the reflecting surface 14 is attached. It is supported so as to be movable in the direction perpendicular to the direction of arrow U (direction perpendicular to the direction of arrow U) and the direction of arrow V (direction of focus), and is moved in the above-mentioned directions by tracking coil 19 and focus coil 20, respectively.
上記コリメータレンズ17と対物レンズ18との間には
、光ディスク13で反射した反射ビーム15′ を表面
で受けるような向きにして、グレーティングレンズ22
が^で置されている。このグレーティングレンズ22は
透明部材23上に、第1.第2の集光性回折格子(以下
、FGと称する>31.32を相隣接して設けてなるも
のである。これらのFG31,32は曲りとチャーブ、
あるいは曲りを有する回折格子であり、それぞれが反射
ビーム15°を回折させ、そしてグレーティングレンズ
22外の一点で集束させるように形成されている。そし
てこれらのFG31、32は、前述のトラッキング方向
に対して直角で反射ビーム15′のほぼ中心を通るレン
ズ表面上の軸(第2図のy軸)をはさんで並設され、ま
たそれぞれが、このy軸を通りレンズ表面に垂直な面を
はさんで互いに離れた位置に反射ビーム15゛を集束さ
せるように形成されている。このような作用を果たすF
G31,32のm番目の格子パターン形状式は、空間座
標を上記y軸と第2図図示のX軸(トラッキング方向軸
)および第1図図示の2軸とによって規定してFG31
,32によるビーム集束位置の座標をそれぞれ(−Fx
、 FV 、 Fz )、(Fx、FV、FZ)とし
、そして反射ビーム15′の光波長をλとすると、
−mλ−+const、(x?01’複号同類)で与え
られる。A grating lens 22 is provided between the collimator lens 17 and the objective lens 18, with the grating lens 22 oriented such that its surface receives the reflected beam 15' reflected by the optical disk 13.
is placed with ^. This grating lens 22 is placed on a transparent member 23 such that the first. The second condensing diffraction grating (hereinafter referred to as FG) is provided with >31.32 adjacent to each other.
Alternatively, it may be a curved diffraction grating, each formed to diffract the reflected beam by 15 degrees and focus it at a point outside the grating lens 22. These FGs 31 and 32 are arranged in parallel across an axis on the lens surface (the y-axis in Fig. 2) that is perpendicular to the tracking direction and passes approximately through the center of the reflected beam 15', and each , are formed so as to focus the reflected beams 15' at positions separated from each other across a plane that passes through the y-axis and is perpendicular to the lens surface. F that performs this kind of action
The m-th lattice pattern shape formula of G31 and G32 is defined by defining the spatial coordinates by the above y-axis, the X-axis (tracking direction axis) shown in FIG. 2, and the two axes shown in FIG.
, 32, respectively (−Fx
.
上記のようなFG31,32は、透明部材23上に5i
−NをPCVDにて装膜し、電子ビーム直接描画により
レジストパターンを形成した後、RIEで5i−N膜に
転写する、等の方法によって形成することができる。The above FGs 31 and 32 are placed on the transparent member 23 with 5i
It can be formed by a method such as depositing -N by PCVD, forming a resist pattern by electron beam direct writing, and then transferring it to a 5i-N film by RIE.
一方ブロック12には、前述のようにして回折、集束さ
れた反射ビーム15′をそれぞれ検出するように、第1
組の光検出器24J3よび第2組の光検出器25が固定
されている。第1相の光検出器24は一例としてギャッ
プで2分割されたフォトダイオードPD1.PD2から
なり、また第2組の光検出器25も同様のフォトダイオ
ードPD3.PD4からなる。これらのフォトダイオー
ドPDI〜4は支持体28上に固定されている。On the other hand, in the block 12, a first
The set of photodetectors 24J3 and the second set of photodetectors 25 are fixed. The first phase photodetector 24 is, for example, a photodiode PD1. PD2, and the second set of photodetectors 25 also include similar photodiodes PD3. Consists of PD4. These photodiodes PDI~4 are fixed on a support 28.
第2図に示すようにフォトダイオードPD1゜PD2の
出力は加算アンプ33で加算され、またフォトダイオー
ドPD3.PD4の出力も同様に加算アンプ36で加算
され、そして第1組、第2組の光検出器24.25それ
ぞれの外側のフォトダイオードPD1.PD4の出力が
加算アンプ34で加算され、内側のフォトダイオードP
D2.PD3の出力が加算アンプ35で加算される。ま
た上記加算アンプ33.36の出力は加算アンプ37お
よび差動アンプ39に入力され、そして加算アンプ34
.35の出力は差動アンプ38に入力される。上記加算
アンプ37の出力S1、差動アンプ38の出力$2、お
よび差動アンプ39の出力S3はそれぞれ、読取回路4
0、フォーカスコイル駆動制御回路41およびトラッキ
ングコイル駆動制御回路42に入力される。As shown in FIG. 2, the outputs of the photodiodes PD1 and PD2 are added together by an adding amplifier 33, and the outputs of the photodiodes PD3. The outputs of PD4 are similarly summed by the summing amplifier 36, and the outputs of the photodiodes PD1 . The output of PD4 is added by the addition amplifier 34, and the inner photodiode P
D2. The outputs of the PD3 are added by the adding amplifier 35. Further, the outputs of the summing amplifiers 33 and 36 are input to the summing amplifier 37 and the differential amplifier 39, and the summing amplifier 34
.. The output of 35 is input to a differential amplifier 38. The output S1 of the summing amplifier 37, the output $2 of the differential amplifier 38, and the output S3 of the differential amplifier 39 are respectively output to the reading circuit 4.
0 is input to the focus coil drive control circuit 41 and the tracking coil drive control circuit 42.
次に、上記構成の光ピックアップの作動について説明す
る。半導体レーザ16から発せられ平行ビームとされた
光ビーム(レーザビーム)15はグレーディングレンズ
22を透過し、光ディスク13の反射面14上で合焦す
るように対物レンズ18によって集束される。光ディス
ク13は図示しない回転駆動手段により、上記光ビーム
15の照射位置においてビット2組の列(トラック)が
矢印U方向に移動するように回転される。周知の通り上
記ビット21は、画像信号や音声信号等を担持するもの
であり、光ディスク13からの反射ビーム15°は、こ
のビット2組の無い部分においては高レベル、ビット2
組の存在部分においては低レベルとなる。この反射ビー
ム15′は対物レンズ18を通過し、グレーティングレ
ンズ22FG31.32によって前述のように回折され
る。回折して光ビーム15の光路から分離された反射ビ
ーム15′は、FG31,32それぞれのビーム集束作
用により、y軸を通りレンズ表面に垂直な面をはさんだ
2点で集束するようになる。FG31で集束された反射
ビーム15’の光量はフォトダイオードPDI、PD2
で検出され、−万FG32で集束された反射ビーム15
′の光量はフォトダイオードPD3.PD4で検出され
るので、加算アンプ33.36の各出力を加算する加算
アンプ37の出力S1は、光ディスク13において反射
した反射ビーム15゛の全体的な光量を示すもの、つま
りビット2組の有無を示すものとなる。この出力S1は
読取回路40において読取処理を受け、光ディスク13
に記録されている情報が読み取られる。Next, the operation of the optical pickup having the above configuration will be explained. A parallel light beam (laser beam) 15 emitted from the semiconductor laser 16 passes through the grading lens 22 and is focused by the objective lens 18 so as to be focused on the reflective surface 14 of the optical disc 13 . The optical disk 13 is rotated by a rotation driving means (not shown) so that the rows (tracks) of two sets of bits move in the direction of arrow U at the irradiation position of the light beam 15. As is well known, the bit 21 carries image signals, audio signals, etc., and the reflected beam 15° from the optical disk 13 has a high level in the part where these two sets of bits are not present, and the bit 21 carries an image signal, an audio signal, etc.
The level is low in the part where the set exists. This reflected beam 15' passes through the objective lens 18 and is diffracted by the grating lens 22FG31.32 as described above. The reflected beam 15', which has been diffracted and separated from the optical path of the light beam 15, comes to be focused at two points sandwiching a plane that passes through the y-axis and is perpendicular to the lens surface, due to the beam focusing action of each of the FGs 31 and 32. The light intensity of the reflected beam 15' focused by FG31 is determined by the photodiodes PDI and PD2.
The reflected beam 15 detected at -10,000 FG32
'The amount of light is determined by the photodiode PD3. Since it is detected by the PD 4, the output S1 of the summing amplifier 37 that adds the respective outputs of the summing amplifiers 33 and 36 indicates the overall light amount of the reflected beam 15' reflected on the optical disk 13, that is, the presence or absence of two sets of bits. This will indicate the following. This output S1 is subjected to reading processing in the reading circuit 40, and is then read out from the optical disc 13.
The information recorded in is read.
ブロック12は先に述べたように光学系送りモータの駆
動によって矢印U方向と直角な方向、あるいはそれに近
い方向に送られ、それにより光デイスフ13上の光ビー
ム15の照射位置(ディスク径方向位置)が変えられて
、ビット21が連続的に読み取られる。ここで上記光ビ
ーム15は、所定のビット列(トラック)の中心に正し
く照射されなければならない。以下、このように光ビー
ム15の照射位置を正しく維持する制御、すなわちトラ
ッキング制御について説明する。反射ビーム15′の中
心がちょうど[G31とPO32との間に位置するとき
、第1組の光検出器24(フォトダイオードPD1とP
O2)によって検出される光量と、第2組の光検出器2
5(フォトダイオードPD2とPO4)によって検出さ
れる光量とは一致する。したがってこの場合は差動アン
プ39の出力S3はO(ゼロ)となる。一方光ビーム1
5の照射位置が不正になって、反射ビーム15′の中心
が第2図中上方側に変位すると、第1組の光検出器24
の検出光量が第2組の光検出器25の検出光量を上回る
。したがって差動アンプ39の出力S3は+(プラス)
となる。As mentioned earlier, the block 12 is driven by the optical system feed motor in a direction perpendicular to the direction of the arrow U, or in a direction close to it, so that the irradiation position of the light beam 15 on the optical disk 13 (disc radial direction position ) is changed and bit 21 is read successively. Here, the light beam 15 must be correctly irradiated onto the center of a predetermined bit string (track). Hereinafter, control for maintaining the correct irradiation position of the light beam 15 in this manner, ie, tracking control, will be described. When the center of the reflected beam 15' is located exactly between [G31 and PO32, the first set of photodetectors 24 (photodiodes PD1 and P
O2) and the amount of light detected by the second set of photodetectors 2
5 (photodiodes PD2 and PO4) coincide with each other. Therefore, in this case, the output S3 of the differential amplifier 39 becomes O (zero). On the other hand, light beam 1
5 becomes incorrect and the center of the reflected beam 15' shifts upward in FIG.
The amount of light detected exceeds the amount of light detected by the second set of photodetectors 25. Therefore, the output S3 of the differential amplifier 39 is + (plus)
becomes.
反対に反射ビーム15°の中心が第2図中下方側に変位
すると、差動アンプ39の出力S3は−(マイナス)と
なる。つまり差動アンプ39の出力S3は、トラッキン
グエラーの方向(第2図の矢印X方向)を示すものとな
る。この出力S3はトラッキングエラー信号としてトラ
ッキングコイル駆動制御回路42に送られる。なおこの
ようにフォトダイオードPD1〜4の出力を処理してト
ラッキングエラーを検出する方法は、プッシュプル法と
して従来から確立されているものである。トラッキング
コイル駆動制御回路42は上記トラッキングエラー信号
S3を受け、該信号S3が示すトラッキングエラーの方
向に応じた電流Itをトラッキングコイル19に供給し
、このトラッキングエラーが解消される方向に対物レン
ズ18を移動さける。それにより光ビーム15は、常に
ビット列の中心に正しく照射されるようになる。On the other hand, when the center of the reflected beam 15° is displaced downward in FIG. 2, the output S3 of the differential amplifier 39 becomes - (minus). In other words, the output S3 of the differential amplifier 39 indicates the direction of the tracking error (the direction of the arrow X in FIG. 2). This output S3 is sent to the tracking coil drive control circuit 42 as a tracking error signal. Note that the method of detecting tracking errors by processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD4 in this manner has been conventionally established as a push-pull method. The tracking coil drive control circuit 42 receives the tracking error signal S3, supplies a current It to the tracking coil 19 according to the direction of the tracking error indicated by the signal S3, and moves the objective lens 18 in the direction in which the tracking error is eliminated. Avoid moving. As a result, the light beam 15 is always correctly irradiated onto the center of the bit string.
次にフォーカス制御、すなわち光ビーム15を光ディス
ク13の反射面14上に正しく集束させる制御について
説明する。光ビーム15が光ディスク13の反射面14
上で合焦しているとき、「G31により集束される反射
ビーム15′はフォトダイオードPD1とPO2との中
間位置で集束する。このとき同様にPO32により集束
される反射ビーム15′は、フォトダイオードPO3と
PO4との中間位置で集束する。したがって加痒アンプ
34の出力と加算アンプ35の出力は等しくなり、差動
アンプ38の出力S2はO(ゼO)となる。一方光ビー
ム15が上記反射面14よりも近い位置で集束している
ときは、PO31,32に入射する反射ビーム15′は
収束ビームとなり、光検出器24.25の各々における
反射ビーム15′のり、(刃位置はそれぞれ内側(フォ
トダイオードPD2側およびフォトダイオードPDa側
)に変位する。したがってこの場合は加算アンプ34の
出力が加ロアンプ35の出力を下回り、差動アンプ38
の出ノ]S2は−(マイナス)となる。反対に光ビーム
15が反射面14よりも遠い位置で集束しているときは
、PO31,32に入射する反射ビーム15′は発散ビ
ームとなり、光検出器24.25の各々における反射ビ
ーム15°の照射位置はそれぞれ外側〈フォトダイオー
ドPDI側a3よびフォトダイオードPDJ側〉に変位
する。したがってこの場合は加算アンプ34の出力が加
算アンプ35の出力を上回り、差動アンプ38の出力$
2は+(プラス)となる。このように差動アンプ38の
出力$2は、フォーカスエラーの方向を示すものとなる
。この出力S2は、フォーカスエラー信号としてフォー
カスコイル駆動制すロ回路41に送られる。なおこのよ
うにフォトダイオードPD1〜4の出力を処理してフォ
ーカスエラーを検出する方法は、従来より、フーコープ
リズムを用いるフーコー法において実行されているもの
である。フォーカスコイル駆動制御回路41は上記フォ
ーカスエラー信号S2を受け、該信号S2が示すフォー
カスエラーの方向に応じた電流Ifをフォーカスコイル
20に供給し、このフォーカスエラーが解消される方向
に対物レンズ18を移動させる。それにより光ビーム1
5は、常に光ディスク13の反射面14上に正しく集束
づるようになる。Next, focus control, that is, control for correctly focusing the light beam 15 on the reflective surface 14 of the optical disk 13 will be explained. The light beam 15 hits the reflective surface 14 of the optical disc 13
When the above is focused, the reflected beam 15' focused by G31 is focused at an intermediate position between the photodiodes PD1 and PO2.At this time, the reflected beam 15' also focused by PO32 is focused by the photodiode It is focused at an intermediate position between PO3 and PO4.Therefore, the output of the pruritic amplifier 34 and the output of the summing amplifier 35 become equal, and the output S2 of the differential amplifier 38 becomes O (ZO).On the other hand, the light beam 15 When focused at a position closer than the reflecting surface 14, the reflected beam 15' incident on the POs 31 and 32 becomes a convergent beam, and the reflected beam 15' on each of the photodetectors 24 and 25 (the blade position is is displaced inward (to the photodiode PD2 side and the photodiode PDa side). Therefore, in this case, the output of the addition amplifier 34 is lower than the output of the addition amplifier 35, and the differential amplifier 38
] S2 becomes - (minus). On the other hand, when the light beam 15 is focused at a position farther than the reflecting surface 14, the reflected beam 15' incident on the POs 31 and 32 becomes a diverging beam, and the reflected beam 15° at each of the photodetectors 24 and 25 becomes a divergent beam. The irradiation positions are respectively displaced to the outside (photodiode PDI side a3 and photodiode PDJ side). Therefore, in this case, the output of the summing amplifier 34 exceeds the output of the summing amplifier 35, and the output of the differential amplifier 38 $
2 becomes + (plus). In this way, the output $2 of the differential amplifier 38 indicates the direction of the focus error. This output S2 is sent as a focus error signal to a focus coil driving control circuit 41. Note that the method of detecting focus errors by processing the outputs of the photodiodes PD1 to PD4 in this way has been conventionally implemented in the Foucault method using a Foucault prism. The focus coil drive control circuit 41 receives the focus error signal S2, supplies the focus coil 20 with a current If according to the direction of the focus error indicated by the signal S2, and moves the objective lens 18 in the direction in which the focus error is eliminated. move it. Thereby light beam 1
5 is always correctly focused on the reflective surface 14 of the optical disc 13.
なおこの実流例において2つのPO31,32は、それ
ぞれの格子が連続して互いに密接した状態に形成されて
いるが、これら2つのPO31,32は少しの距離をJ
3いて互いに独立に形成されてもよい。In this actual flow example, the two POs 31 and 32 are formed so that their respective lattices are continuous and close to each other, but these two POs 31 and 32 are separated by a short distance.
3 may be formed independently from each other.
これは以下に説明する実施例においても同様である。This also applies to the embodiments described below.
またFG31,32によってそれぞれ集束される反射ビ
ーム15′を互いに交差させる、つまり第2図で説明す
ればFG31によるビーム集束位置がy軸の下側に、F
G32によるビーム集束位置がy軸の−V側に位置する
ようにFG31,32を形成しても構わない。In addition, the reflected beams 15' focused by FG31 and 32 are made to intersect with each other. In other words, referring to FIG. 2, the beam focusing position by FG31 is below the y axis,
The FGs 31 and 32 may be formed so that the beam focusing position by the G 32 is located on the −V side of the y-axis.
次に第3図を参照して本発明の第2実施例について説明
する。なおこの第3図において、前記第1図中の要素と
同等の要素には同香りを付し、それらについては特に必
要の無い限り説明を省略する(以下、同様)。この第2
実施例の光ピックアップにおいては、第1図の装置にお
いて設けられたコリメータレンズ17が省かれ、光ディ
スク13からの反射ビーム15゛は集束ビームの状態で
グレーディングレンズ22を通過するようになっている
。Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 3, the same elements as those in FIG. 1 are labeled with the same scent, and the description thereof will be omitted unless it is particularly necessary (the same applies hereinafter). This second
In the optical pickup of this embodiment, the collimator lens 17 provided in the apparatus shown in FIG. 1 is omitted, and the reflected beam 15' from the optical disk 13 passes through the grading lens 22 in the form of a focused beam.
このようにしても、とにかくグレーティングレンズ22
の作用で集束する2系統の反射ビーム15′を、第2図
図示のような第1.第2の光検出器24.25で検出す
れば、トラッキングエラー、フォーカスエラーを検出で
きる。Even if you do this, the grating lens 22
The two systems of reflected beams 15' focused by the action of the first beam 15' as shown in FIG. Tracking errors and focus errors can be detected by detecting with the second photodetectors 24 and 25.
この場合、FG31,32のm番目の格子パターン形状
式は、空間座標およびl’:(331,32によるビー
ム集束位置の座標を前記第1実施例の場合と同様に規定
し、また光源の座標を(0,O,Lz )と現定すると
、
=mλ+const、(x<Oで復号同順)で与えられ
る。In this case, the m-th grating pattern shape equation of FG31, 32 defines the spatial coordinates and the coordinates of the beam focusing position by l':(331, 32 in the same way as in the first embodiment), and also defines the coordinates of the light source. When expressed as (0, O, Lz), it is given by =mλ+const, (x<O, decoding same order).
次に第4図を参照して本発明の第3実施例について説明
する。この第3実施例の光ピックアップにおいては、透
明部材23が十分屈折率の大きい材料から形成され、光
ビーム15はこの透明部材23の表面で反射して光デイ
スク13側に進行するようになっている。この場合も光
ディスク13からの反射ビーム15′は、2つの「Q3
1.32によって回折、集束される。Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the optical pickup of the third embodiment, the transparent member 23 is made of a material with a sufficiently high refractive index, and the light beam 15 is reflected on the surface of the transparent member 23 and travels toward the optical disk 13. There is. In this case as well, the reflected beam 15' from the optical disk 13 is divided into two "Q3
It is diffracted and focused by 1.32.
第5図は本発明の第4実施例による光ピックアップを示
ずものである。この実施例にJ3いては、¥導体レーザ
1Gから発せられた光ビーム15を発散ビームの状態の
まま透明部材23の表面において反111)1させ、光
ディスク13に向けて進行させるようにしている。FIG. 5 shows an optical pickup according to a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, in J3, the light beam 15 emitted from the conductor laser 1G is deflected 111)1 on the surface of the transparent member 23 while remaining in a diverging beam state, and is made to travel toward the optical disk 13.
次に第6図を参照して本発明の第5実施例について説明
する。この実施例にd5いては、グレーティングレンズ
22と対1勿レンズ18とが1つのヘッド60に固定さ
れて一体化され、このヘッド60がブロック12に対し
てトラッキング方向およびフォーカス方向に移動自在に
支持されている。そしてこのヘッド60は、トラッキン
グコイル19、フォーカスコイル20によって移動され
る。つまり本例ではトラッキング制御、フォーカス制御
のために、グレーティングレンズ22が対物レンズ18
とともに移動される。このようにすれば、対物レンズ1
8のみを移動させる場合のようにトラッキング制御によ
って対物レンズ18がグレーティングレンズ22に対し
てオフセットすることが無くなり、l−ツラキング制御
をより精度良く行なえるようになる。Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, in d5, the grating lens 22 and the pair of lenses 18 are fixed and integrated into one head 60, and this head 60 is supported movably in the tracking direction and the focusing direction with respect to the block 12. has been done. This head 60 is moved by a tracking coil 19 and a focusing coil 20. In other words, in this example, the grating lens 22 is used as the objective lens 18 for tracking control and focus control.
will be moved along with the In this way, objective lens 1
The objective lens 18 is no longer offset with respect to the grating lens 22 due to tracking control, unlike the case where only the grating lens 8 is moved, and the l-tracing control can be performed with higher accuracy.
なおこの第6図に示した実施例においては、グレーティ
ングレンズ22の表面で反射した光ビーム15を光ディ
スク13に照射させるようにしているが、上述のように
グレーティングレンズ22と対物レンズ18とを一体的
に移動させる場合においても、グレーティングレンズ2
2を透過した光ビーム15を光ディスク13に照射させ
ることも可能であるし、また光ビーム15が発散ビーム
の状態でグレーティングレンズ22を透過あるいは該グ
レーティングレンズ22で反射するようにしてもよいこ
とは勿論である。また、半導体レーザ16およびコリメ
ータレンズ17もヘッド60に固定して、先導波路22
および対物レンズ18と一体的に移動させることも可能
である。In the embodiment shown in FIG. 6, the optical disc 13 is irradiated with the light beam 15 reflected on the surface of the grating lens 22, but as described above, the grating lens 22 and the objective lens 18 are integrated. Even when moving the grating lens 2
It is also possible to irradiate the optical disk 13 with the light beam 15 that has passed through the grating lens 22, or the light beam 15 may be transmitted through the grating lens 22 or reflected by the grating lens 22 in the form of a diverging beam. Of course. Further, the semiconductor laser 16 and the collimator lens 17 are also fixed to the head 60, and the leading waveguide 22 is
It is also possible to move it integrally with the objective lens 18.
以上説明した5つの実施例においては、FG31゜32
によって反射ビーム15′を2系統に分岐し、プッシュ
プル法によりトラッキングエラー検出を、そしてフーコ
ー法によりフォーカスエラー検出を行なうようにしてい
るが、その他の方法によって上記両エラー検出を行なう
ことも可能である。fZJえば第7図に示す第6実施例
においては、1つのFG71からなるグレーティングレ
ンズ70が用いられ、該FQ7組の設定によりこのグレ
ーティングレンズ70は非点収差レンズとされている。In the five embodiments described above, FG31°32
The reflected beam 15' is branched into two systems, and the push-pull method is used to detect the tracking error, and the Foucault method is used to detect the focus error, but it is also possible to detect both of the above errors using other methods. be. fZJ For example, in the sixth embodiment shown in FIG. 7, a grating lens 70 consisting of one FG 71 is used, and by setting the FQ 7 set, this grating lens 70 is an astigmatic lens.
したがって該グレーティングレンズ70を通過しノζ反
射ビーム15°は非点収差を持つことになるので、この
反射ビーム15′を4分割フォトダイオードからなる光
検出器72で検出することにより、従来より公知のヘテ
ロダイン法、非点収差法によってそれぞれトラッキング
エラー、フォーカスエラーを検出することができる。Therefore, the ζ reflected beam 15° that passes through the grating lens 70 has astigmatism. Therefore, by detecting this reflected beam 15' with a photodetector 72 consisting of a 4-split photodiode, it is possible to Tracking errors and focus errors can be detected using the heterodyne method and astigmatism method, respectively.
なお上記のようにしてトラッキング−エラー、フォーカ
スエラーを検出する場合においても、光ビーム15が発
散ビームの状態でグレーディングレンズ70を通過する
ようにしてもよいし、グレーティングレンズ22の表面
で光ビーム15を反射させて光デイスク13側に進行さ
せてもよいし、さらにトラッキング制御、フォーカス制
御は対物レンズ18のみを移動させて行なっても、ある
いは対物レンズ18とグレーティングレンズ70とを一
体的に移動させて行なってもよい。Note that even when detecting tracking errors and focus errors as described above, the light beam 15 may pass through the grading lens 70 in a diverging beam state, or the light beam 15 may pass through the grading lens 70 in a diverging beam state, or the light beam 15 may may be reflected and advanced toward the optical disk 13, or tracking control and focus control may be performed by moving only the objective lens 18, or by moving the objective lens 18 and grating lens 70 integrally. You may do so.
またグレーティングレンズ22.7()は、先に述べた
!′I造方法に限らず、公知のフォトリソ法、ホログラ
フィック転写法等によりづ゛べてブレーナ技術で形成可
能であり、容易に大酒複製可能である。Also, the grating lens 22.7 () was mentioned earlier! It can be formed not only by the Brenna technique but also by the known photolithography method, holographic transfer method, etc., and can be easily reproduced.
(発明の効果)
以上詳細に説明した通り本発明の光ピックアップにおい
ては、従来の光ピックアップにJ5いてビームスプリッ
タ、レンズおよびプリズム等の光゛戸素子が果たしてい
た作用がグレーティングレンズのみによって得られるよ
うになっている。したがって本発明の光ピックアップは
、部品点数が極めて少なく小形軽量に形成されるので、
従来装首に比べて大幅なコストダウンが可能となり、ま
たアクセスタイムの短縮も可能となる。(Effects of the Invention) As explained above in detail, in the optical pickup of the present invention, the functions that were performed by optical elements such as beam splitters, lenses, and prisms in the J5 of conventional optical pickups can be obtained only by the grating lens. It has become. Therefore, the optical pickup of the present invention has an extremely small number of parts and is made small and lightweight.
Compared to conventional neck mounting, it is possible to significantly reduce costs and also shorten access time.
そして本発明の光ピックアップは、その主要部分がブレ
ーナ技術により容易に大量生産されうるので、この点か
らも大幅なコストダウンを実現できるものとなる。Further, since the main parts of the optical pickup of the present invention can be easily mass-produced using brainer technology, a significant cost reduction can also be achieved from this point of view.
さらに本発明の光ピックアップにおいては、上記のよう
な光学素子の位置調整は勿論不要であるから、この点で
もコストダウンが達成される。Furthermore, in the optical pickup of the present invention, since the above-mentioned position adjustment of the optical element is of course unnecessary, cost reduction can also be achieved in this respect.
第1図は本発明の第1実f・へ例装置を示す側面図、第
2図は上記第1実施例装置のグレーティングレンズの平
面形状と電気回路を示す概略図、第3.4,5d5よび
6図はそれぞれ、本発明の第2.3.4および5実施例
装首を示づ側面図、第7図は本発明の第6実施例装置を
示す概略斜視図である。
13・・・光ディスク 14・・・光ディスクの
反射面15・・・光ビーム 15′・・・反射
ビーム16・・・半導体レーザ 17・・・コリメ
ークレンズ18・・・対物レンズ 19・・・ト
ラッキングコイル20・・・フォーカスコイル 21・
・・ビット22、70・・・グレーティングレンズ24
、25.72・・・光検出器 31.32.71・・・
FG33、34.35.3[3,37・・・加ロアンブ
38、39・・・差動アンプ 40°゛°読取回路4
1・・・フォーカスコイル駆動制御20回路42・・・
トラッキングコイル駆動制御回路60・・・ヘッド
PD1〜4・・・フォトダイオード(自 発)手わデ
ネ市正書
特許庁長官 殿 昭和61年10月2
8日特願昭61−206258号
2、発明の名称
光ピックアップ
3、補正をする者
事件との関係 特訂出;頭人
住 所 神奈川県南足柄市中沼210番地名 称 富
士写真フィルム株式会社
4、代理人
〒106 東京都港区六本木5−2−1はうらいやビ
ル 7階 口(479) 2367(7318) 弁
理士 柳 1)征 史 (ほか2名)5、補正命令の日
付 な し
6、補正により則加する発明の数 な し8、補
正の内容
1)明細占用4頁第5行
「光導波路」を「グレーティングレンズ」と訂正する。
2〉同頁第17行
「もである。jを「ものである。」と訂正する。
3)同第15頁第11行
r P D 2 JをrPD3jと訂正する。
4)同頁第15行および第19行
「中心」を「光強度分布」と訂正する。
5)同第19頁第17行
「集束Jを「収束Jと訂正する。
6)同第20口第9行
f’ (Z −LZ )2 JをrLz”Jと訂正する
。Fig. 1 is a side view showing the first embodiment of the device according to the present invention, Fig. 2 is a schematic diagram showing the planar shape and electric circuit of the grating lens of the above-mentioned first embodiment device, and Fig. 3.4, 5d5. 2.3.4 and 6 are side views respectively showing neck straps according to 2.3.4 and 5th embodiments of the present invention, and FIG. 7 is a schematic perspective view showing a device according to a 6th embodiment of the present invention. 13... Optical disc 14... Reflective surface of optical disc 15... Light beam 15'... Reflected beam 16... Semiconductor laser 17... Collimating lens 18... Objective lens 19... Tracking Coil 20... Focus coil 21.
...Bits 22, 70...Grating lens 24
, 25.72... Photodetector 31.32.71...
FG33, 34.35.3 [3, 37... Addition amplifier 38, 39... Differential amplifier 40°゛° reading circuit 4
1... Focus coil drive control 20 circuit 42...
Tracking coil drive control circuit 60...head
PD1-4... Photodiode (self-initiated) Mr. Tewadene City Official Director General of the Patent Office October 2, 1986
Patent Application No. 8, No. 61-206258 2, Title of the invention: Optical pickup 3, Relationship with the amended person's case Special edition: Address: 210 Nakanuma, Minamiashigara City, Kanagawa Prefecture Name: Fuji Photo Film Co., Ltd. 4; Agent address: 7th floor, Uraiya Building, 5-2-1 Roppongi, Minato-ku, Tokyo, 106 Japan (479) 2367 (7318) Patent attorney Yanagi 1) Seishi (and 2 others) 5. Date of amendment order: None 6. Number of inventions added by amendment None 8 Contents of amendment 1) "Optical waveguide" in line 5 of page 4 of the specification is corrected to "grating lens."2> On the same page, line 17, ``Momo desu.'' Correct j to ``Modo desu.'' 3) On page 15, line 11, r PD 2 J is corrected to rPD3j. 4) Correct "center" in lines 15 and 19 of the same page to read "light intensity distribution." 5) Correct "Convergence J" in line 17 of page 19 to "convergence J." 6) Correct "f' (Z - LZ ) 2 J" in line 9 of page 20 to "rLz"J.
Claims (7)
対物レンズと、 前記光記録媒体で反射した反射ビームを一表面で受ける
向きに配置され、該反射ビームを前記光記録媒体に向か
う光ビームの光路から分岐させて集束させるグレーティ
ングレンズと、 このグレーティングレンズを通過した前記反射ビームを
、記録情報読取り、トラッキングエラー検出、フォーカ
スエラー検出を行なえるように検出する光検出器とから
なる光ピックアップ。(1) A light source that irradiates a light beam onto the surface of an optical recording medium, an objective lens that focuses the light beam on a reflective surface of the optical recording medium, and a surface that receives the reflected beam reflected by the optical recording medium. a grating lens that is arranged in the same direction as the optical recording medium and branches the reflected beam from the optical path of the optical beam toward the optical recording medium and focuses the reflected beam; An optical pickup consisting of a photodetector that performs detection.
略中心を通りかつトラッキング方向に略直角に延びる軸
をはさんで並設され、それぞれ該反射ビームを互いに離
れた位置に各々集束させる第1、第2のグレーティング
レンズからなり、前記光検出器が、トラッキングエラー
検出、フォーカスエラー検出をそれぞれプッシュプル法
、フーコー法で行なえるように、前記第1、第2のグレ
ーテイングレンズで各々集束された反射ビームをそれぞ
れ検出する第1組、第2組の2分割光検出器からなるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光ピックア
ップ。(2) The grating lenses are arranged in parallel across an axis that passes approximately through the center of the reflected beam and extends approximately perpendicular to the tracking direction, and each of the first and second grating lenses focuses the reflected beam at positions separated from each other. The photodetector consists of two grating lenses, and the reflections are focused by the first and second grating lenses so that the photodetector can detect tracking errors and focusing errors using the push-pull method and the Foucault method, respectively. 2. The optical pickup according to claim 1, comprising a first set and a second set of two-split photodetectors that respectively detect the beams.
なり、前記光検出器が、トラッキングエラー検出、フォ
ーカスエラー検出をそれぞれヘテロダイン法、非点収差
法で行なえるように配置された4分割光検出器からなる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光ピック
アップ。(3) The grating lens is an astigmatism lens, and the photodetector is a four-segment photodetector arranged so that tracking error detection and focus error detection can be performed by a heterodyne method and an astigmatism method, respectively. The optical pickup according to claim 1, characterized in that:
ンズとの間に配置されていることを特徴とする特許請求
の範囲第1項から第3項いずれか1項記載の光ピックア
ップ。(4) The optical pickup according to any one of claims 1 to 3, wherein the grating lens is disposed between the light source and the objective lens.
られた光ビームを反射させて、前記光記録媒体に向けて
進行させるように配置されていることを特徴とする特許
請求の範囲第1項から第3項いずれか1項記載の光ピッ
クアップ。(5) The grating lens is arranged so as to reflect the light beam emitted from the light source and make it travel toward the optical recording medium. The optical pickup according to any one of item 3.
に独立して配設され、該対物レンズのみがトラッキング
制御およびフォーカス制御のために移動されるようにな
っていることを特徴とする特許請求の範囲第1項から第
5項いずれか1項記載の光ピックアップ。(6) The grating lens and the objective lens are arranged independently of each other, and only the objective lens is moved for tracking control and focus control. The optical pickup according to any one of Items 1 to 5.
体化され、トラッキング制御およびフォーカス制御のた
めに該対物レンズとともに移動されるようになっている
ことを特徴とする特許請求の範囲1項から第5項いずれ
か1項記載の光ピックアップ。(7) Claims 1 to 5, characterized in that the grating lens is integrated with the objective lens and is moved together with the objective lens for tracking control and focus control. The optical pickup according to any one of the items.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206258A JPS6361431A (en) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | Optical pickup |
US07/092,256 US4885732A (en) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | Optical pickup apparatus for detecting and correcting focusing and tracking errors in detected recorded signals |
EP87112831A EP0258890B1 (en) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | Optical pickup apparatus |
DE8787112831T DE3785118T2 (en) | 1986-09-02 | 1987-09-02 | OPTICAL PLAY HEAD. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61206258A JPS6361431A (en) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | Optical pickup |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6361431A true JPS6361431A (en) | 1988-03-17 |
Family
ID=16520352
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61206258A Pending JPS6361431A (en) | 1986-09-02 | 1986-09-02 | Optical pickup |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6361431A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02124435A (en) * | 1988-07-06 | 1990-05-11 | Kuraray Co Ltd | Peak wavelength detector, light-source selecting apparatus provided with said detector and peak-wavelength detecting method |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5010151A (en) * | 1973-05-24 | 1975-02-01 |
-
1986
- 1986-09-02 JP JP61206258A patent/JPS6361431A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5010151A (en) * | 1973-05-24 | 1975-02-01 |
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