JPS63289412A - Rangefinder for camera - Google Patents

Rangefinder for camera

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Publication number
JPS63289412A
JPS63289412A JP12419287A JP12419287A JPS63289412A JP S63289412 A JPS63289412 A JP S63289412A JP 12419287 A JP12419287 A JP 12419287A JP 12419287 A JP12419287 A JP 12419287A JP S63289412 A JPS63289412 A JP S63289412A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
distance
subject
slit
receiving element
Prior art date
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Pending
Application number
JP12419287A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toru Matsui
徹 松井
Takamoto Nabeshima
孝元 鍋島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Minolta Co Ltd filed Critical Minolta Co Ltd
Priority to JP12419287A priority Critical patent/JPS63289412A/en
Publication of JPS63289412A publication Critical patent/JPS63289412A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To accurately measure a distance even when an object is present at any position on a photographing picture and to prevent photographing in a focus mismatching state, by projecting a plurality of slit like beams on the object and allowing the reflected beams from the object to be incident to photoreceptors arranged in a matrix form to perform predetermined close range processing. CONSTITUTION:A beam projecting part and a beam receiving part are arranged to the front surface of a camera body so as to be separated by a predetermined base line length from each other and beam is projected on an object from the beam projecting part while the reflected beam from the object is received by the beam receiving part to measure the distance between the beam receiving part and the object. At this time, the reflected beams 5A'-5C' of slit images 5A-5C, which has the width in the direction perpendicular to the base line length and are spread over the almost whole of a photographing picture, from the light source part 1 in the beam projecting part through the slit holes 2A-2C of a slit plate 2 are incident on the photoreceptor 9 of the beam receiving part arranged in a matrix form. The respective lines 9A-9C thereof output signals showing the beam receiving positions thereof. Further, when the output of the photoreceptor 9 is definite or more, it is judged that the object is present at a distance nearer than a distance measurable range to perform alarm processing.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、カメラの被写係路111111定装欝に係り
、特に測距の誤動作防止と、被写体が測距可能範囲より
も近い距離にあるときの対策に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to fixing the subject of a camera, and particularly to preventing malfunctions in distance measurement and preventing the subject from reaching a distance closer than the measurable range. Concerning countermeasures in certain situations.

(従来技術) 被写体距離測定装置を内蔵したカメラが広く知られてい
るが、従来の装置では撮影画面の中央に被写体をもって
来なければ、す扱けが起こり、正しい測距ができないも
・のが多い。これを改良したものとして光束を横長また
は4文字にすることにより、測距エリアを広げようとし
たものがある。
(Prior art) Cameras with built-in subject distance measuring devices are widely known, but with conventional devices, unless the subject is brought to the center of the shooting screen, it is often mishandled and cannot measure the distance correctly. . As an improvement on this, there is a method that attempts to widen the distance measurement area by making the light beam horizontally long or four characters long.

すなわち、例えば特開昭61−246612号公報、特
開昭61−246613号公報などに示されるように、
基線長に対して垂直あるいは斜め方向に幅をもったスリ
ット状光束を被写体に投光し、その反射光を、複数のビ
クセルをマトリックス状に配置したエリアセン勺で受光
し、近距離側の被写体にピントを合わせるようにしたも
の、あるいはスリットまたは液晶により1文字あるいは
X字型の光束を被写体に投光し、その反射光を、複数の
ピクセルをマトリックス状に配置したセンサで受光し、
その受光状態から被写体距離を測定するものがある。
That is, as shown in, for example, JP-A-61-246612 and JP-A-61-246613,
A slit-shaped light beam with a width perpendicular or diagonal to the base line length is projected onto the subject, and the reflected light is received by an area sensor with multiple pixels arranged in a matrix to capture the subject at a close distance. A slit or liquid crystal is used to project a single character or X-shaped beam of light onto the subject, and the reflected light is received by a sensor with multiple pixels arranged in a matrix.
There is a method that measures the distance to the subject based on the light reception state.

これらの従来装置は何れも光束の幅を−・方向あるいは
二方向に広げて被写体に投光し、測距1リアを広げよう
とするものであるが、撮影画面に対する測距エリアのv
1合が小さく画面全体をカバーしているとはいえず、被
写体によっては、す扱けが起き、未だ1分な解決策とは
いえなかった。
All of these conventional devices aim to widen the range of distance measurement by widening the width of the light flux in the - direction or in two directions and projecting light onto the subject.
The 1-minute resolution is too small to cover the entire screen, and depending on the subject, it can be difficult to shoot, so it still cannot be said to be a one-minute solution.

ざらに、被写体が測距可能範囲よりも近い距離にあると
きであっても、従来では最小1ifi?lなわち、最短
距離を読み取って、被写体に焦点が合っていない状態で
撮影してしまい、ピントの合っていない写真ができると
いった問題があった。
Roughly speaking, even when the subject is closer than the measurable range, conventional methods have a minimum of 1ifi? In other words, there was a problem in that the shortest distance was read and the photograph was taken without the subject being in focus, resulting in an out-of-focus photograph.

(発明の目的) 本発明は、上記従来の問題を解消するもので、スリット
状光束の投光状態に工夫を施し、かつ、測距結果に基い
て適切な処理を(jなうことにより、測距1す7を広げ
、撮影画面のどの位置に被写体があっても正確な測距を
行なうことができ、しか・ も、焦点の合っていない状
態での撮影を未然に防止し得るカメラの被写体距離測定
装置を提供づることを目的とする。
(Object of the Invention) The present invention solves the above-mentioned conventional problems by devising the projection state of the slit-shaped light beam and performing appropriate processing based on the distance measurement result. This is a camera that can widen the distance measurement system and measure the distance accurately no matter where the subject is on the shooting screen, while also preventing shooting when the subject is out of focus. The purpose of this invention is to provide a subject distance measuring device.

(発明の構成) 本発明は、カメラボディの前面に投光部と受光部とを所
定の基線長だけ離して配置し、この投光部から投光され
被写体で反射して戻ってきた反射光を受光部で受光し、
その受光位置から被写体距離を測定するカメラの被写体
距離測定装置において、上記投光部は基線長に対して垂
直方向に幅をもち、かつ複数のスリット状光束が投光さ
れるように構成され、上記受光部は複数の受光素rがマ
トリックス状に配置されるとともに、その各行がスリッ
ト状光束とほぼ平行になるように配置され、かつ一つの
スリット状光束に対して一つの受光素子を、測距可能距
離範囲内にある被写体からの反射光が対応する受光素f
に入射されるように配置し、さらに被写体が測距可能距
離範囲よりも近い距離にあると判定されたとき所定の至
近距離処理を行なう手段を設けたものである。
(Structure of the Invention) The present invention has a light emitter and a light receiver arranged on the front surface of a camera body, separated by a predetermined baseline length, and reflected light emitted from the light emitter, reflected by a subject, and returned. is received by the light receiving section,
In the subject distance measuring device for a camera that measures the subject distance from the light receiving position, the light projecting section is configured to have a width in a direction perpendicular to the base line length and to project a plurality of slit-shaped light beams, In the light-receiving section, a plurality of light-receiving elements r are arranged in a matrix, each row of which is arranged substantially parallel to the slit-like light beam, and one light-receiving element is used for measurement with respect to one slit-like light beam. The light receiving element f corresponds to the reflected light from the subject within the possible distance range.
The sensor is arranged so that the object is incident on the object, and is further provided with means for performing predetermined close-range processing when it is determined that the object is closer than the measurable distance range.

この構成により、スリット状光束は撮影画面に全体的に
広がって投射され、撮影画面に対する測距1リアの割合
が大きくなり、被写体が撮影画面のどの位置にあっても
、す抜けを生じることが低減され、しかも、被写体が測
距可能距離範囲よりも近いときに、焦点が、合っていな
い状態のまま撮影するといったことがなくなる。
With this configuration, the slit-shaped light beam is projected to spread across the entire shooting screen, increasing the ratio of one rear distance measurement to the shooting screen, and preventing the subject from falling through the shooting screen, no matter where it is located. Moreover, when the subject is closer than the measurable distance range, it is no longer possible to take a picture with the subject out of focus.

(実施例) 第1図は本発明のカメラの被写体距離測定装置の概略構
成を示す。
(Embodiment) FIG. 1 shows a schematic configuration of an object distance measuring device for a camera according to the present invention.

本装置はカメラボディの前面に所定の基線長だけ離して
配置された投光部と受光部を基本構成としている。
The basic configuration of this device is a light projecting section and a light receiving section, which are arranged on the front of the camera body with a predetermined baseline length apart.

第1図において光源部1は近赤外発光ダイオードや閃光
放電管等が用いられ、この光源部1の前方にはスリット
板2と投光レンズ3が配置され、また必要に応じてシリ
ンドリカル凹レンズ4が配Uされる。スリット板2は、
投光レンズ3のピント面に配置されており、基線長と垂
直方向に幅広のスリット穴2A、28.2Cが基線長方
向に隣り合わせて複数本(ここでは3本)、撮影画面に
対して広がりをも)で配されたものを用い、そのスリッ
ト穴以外の部分は遮光するようになっている。
In FIG. 1, a near-infrared light emitting diode, a flash discharge tube, etc. are used as a light source section 1, and a slit plate 2 and a floodlight lens 3 are arranged in front of this light source section 1, and a cylindrical concave lens 4 is arranged as necessary. will be distributed. The slit plate 2 is
A plurality of wide slit holes 2A and 28.2C are arranged on the focal plane of the light projecting lens 3 in a direction perpendicular to the base line length, and are arranged side by side in the base line length direction (three in this case), and are spread out with respect to the photographing screen. ), and the area other than the slit hole is designed to block light.

また、光束の収差を減少させるためにスリット板2は図
示のように僅かに湾曲させている。
Further, in order to reduce the aberration of the light beam, the slit plate 2 is slightly curved as shown in the figure.

光源部1より投射された光束は、スリット板2を通り基
線長と垂直方向に幅をもつ3本の光束に分割される。こ
のスリット光束は投光レンズ3を通り被写体に向けて投
射される。5A、5B、5Cはそのスリット像を示すも
のである。
The light beam projected from the light source section 1 passes through the slit plate 2 and is divided into three beams having widths perpendicular to the base line length. This slit light beam passes through the projection lens 3 and is projected toward the subject. 5A, 5B, and 5C show the slit images.

ここにスリット像5A、5B、5Gの点線部は、カメラ
の撮影レンズが2焦点あるいはズームレンズ等の場合に
広角レンズで撮影するとき撮影画面における測距1す7
の割合が小さくなるので、それを補うために、スリット
光束の幅を広げた状態を示す。このスリット光束の幅を
広げることは、シリンドリカル凹レンズ4を投光レンズ
3の前方にシリンドリカル面の回転軸がスリット穴の幅
広方向と垂直になるように置くことにより達成できる。
Here, the dotted line portions of the slit images 5A, 5B, and 5G are the distance measurement points on the shooting screen when shooting with a wide-angle lens when the shooting lens of the camera is a bifocal or zoom lens.
Since the ratio of 1 to 2 is small, the width of the slit luminous flux is widened to compensate for this. Increasing the width of the slit light beam can be achieved by placing the cylindrical concave lens 4 in front of the projection lens 3 so that the axis of rotation of the cylindrical surface is perpendicular to the wide direction of the slit hole.

そして、被写体に向けて投射されたスリット光束の反射
光5A’ 、5B’ 、5C’ は受光レンズ7、収差
補正用凹レンズ8を通り、位置センサ(PSD)等の受
光素子9に入射される。ここで、スリット光束の幅を引
き伸ばすために投光レンズ3の前方にシリンドリカル凹
レンズ4を入れた場合には、その引き伸ばした部分を補
正するため、受光レンズ7の前方にもシリンドリカル凹
レンズ6をシリンドリカル面の回転軸が反射光の幅広方
向と垂直になるように置く。
The reflected lights 5A', 5B', and 5C' of the slit luminous flux projected toward the subject pass through the light receiving lens 7 and the aberration correction concave lens 8, and are incident on a light receiving element 9 such as a position sensor (PSD). Here, if a cylindrical concave lens 4 is inserted in front of the light emitting lens 3 in order to expand the width of the slit light beam, a cylindrical concave lens 6 is also inserted in front of the light receiving lens 7 on the cylindrical surface in order to correct the expanded portion. Place it so that the axis of rotation is perpendicular to the wide direction of the reflected light.

第2図は受光素子9およびこの受光素子9に入射した反
射像を示す。
FIG. 2 shows the light-receiving element 9 and the reflected image incident on the light-receiving element 9.

同図において斜線部の反射像5A’ 、5B’ 。In the figure, reflected images 5A' and 5B' are shown in the shaded areas.

5G’ にそれぞれ対応して受光%F9A、9B。Light reception %F9A, 9B corresponding to 5G' respectively.

9Cが配置されている。この受光素子9A、9B。9C is placed. These light receiving elements 9A and 9B.

9Cは、反射像5A’ 、5B’ 、5G’の幅広方向
にn個に分割され、それぞれの受光素子9A1〜9An
19B1〜9Bn19C1〜9Cnは独立してその受光
位置を示す信号を出力する。
9C is divided into n pieces in the wide direction of the reflected images 5A', 5B', and 5G', and each of the light receiving elements 9A1 to 9An
19B1 to 9Bn19C1 to 9Cn independently output a signal indicating the light receiving position.

いまここで受光素F (If?センサ)の構成について
第16図により説明する。
The configuration of the light receiving element F (If? sensor) will now be explained with reference to FIG.

同図において受光素子の表向には抵抗体50が形成され
ており、この抵抗体50に光が入射すると、その光の入
射位置から多電tfj51A、51Bに対してそれぞれ
電流IA、IBが流れる。ここで電極51A、518間
の長さを11抵抗をRLlまた電極51Aと光の入射位
置との長さをχ、その抵抗をR工とすると、受光素子上
のある位置に光が入射したときの出力電流IAおよびI
Bの関係は次のようになる。
In the figure, a resistor 50 is formed on the surface of the light receiving element, and when light is incident on this resistor 50, currents IA and IB flow from the incident position of the light to the multi-current TFJs 51A and 51B, respectively. . Here, if the length between the electrodes 51A and 518 is 11 and the resistance is RLl, the length between the electrode 51A and the light incident position is χ, and the resistance is R, then when light enters a certain position on the light receiving element The output currents IA and I
The relationship between B is as follows.

I   To  (RR)/RL。I To (RR)/RL.

A      L   χ 1B=IO’R,c/RL (ただし、I o = I A+ l B)ここで、長
さと抵抗値が比例すると、 IA=Io (1,−χ)/L、IB=lo *、z/
l−、’、IA/IB=(L−χ)/χ したがって、上式より出力電流I およびIBの比を求
めることにより、入射1ネルギーに関係なく、受光素子
上の光の入射位置がわかることになる。
A L χ 1B=IO'R, c/RL (However, I o = I A + l B) Here, if the length and resistance value are proportional, IA=Io (1, -χ)/L, IB=lo * ,z/
l-,', IA/IB=(L-χ)/χ Therefore, by finding the ratio of the output currents I and IB from the above equation, the incident position of the light on the photodetector can be determined regardless of the incident energy. It turns out.

次に本発明装置の原理について説明する。Next, the principle of the device of the present invention will be explained.

第3図、第4図は本装置の機能構成を示し、同図におい
て、スリット穴2A、2B、2Gより投射されたスリッ
ト状光束は投光レンズ3を通り、被写体20.21.2
2により反射され、その反射光は受光レンズ7を通り、
受光素子9A、9B。
3 and 4 show the functional configuration of this device. In the figures, slit-shaped light beams projected from slit holes 2A, 2B, and 2G pass through the projection lens 3, and the objects 20, 21, 2
2, the reflected light passes through the light receiving lens 7,
Light receiving elements 9A, 9B.

9C上に入射される。ここで被写体20.21゜22が
自動焦点(AF)測距可能距離範囲(被写体までの距離
を測定できる最近接距離から無限遠までの範囲)にある
とき、そのスリット穴2A。
It is incident on 9C. Here, when the subject 20.21° 22 is within the autofocus (AF) measurable distance range (the range from the closest distance to infinity where the distance to the subject can be measured), the slit hole 2A.

28.2Cより投射されたスリット状光束の反射光はそ
れぞれ対応する受光素子9A、9B、9Cに入射される
。スリット像は被写体までの距離に応じて受光素子上を
移動するので、それぞれの測距1リアごとに三角測距の
原理に基いて被写体距離を測定することができる。この
測定後、たとえば最近接被写体にピントを合わせる等の
指示が出されるようになっている。ここに被写体がAF
測測距能能距離範囲内あるとき、被写体からの反射像が
それぞれ対応する受光素子以外の受光素子に入射するこ
とのないようにスリットの数とその間隔が設計されてい
る。
The reflected light of the slit-shaped light beam projected from 28.2C is incident on the corresponding light receiving elements 9A, 9B, and 9C, respectively. Since the slit image moves on the light-receiving element according to the distance to the subject, the subject distance can be measured for each distance measurement based on the principle of triangulation. After this measurement, an instruction is issued to, for example, focus on the closest subject. The subject is AFed here.
The number of slits and the spacing between them are designed so that when the distance is within the measurable distance range, the reflected image from the subject will not enter any light receiving element other than the corresponding light receiving element.

第3図は被写体がAFF距可能距離範囲内にあるときで
あり、第4図は被写体がAFF距可能距離範囲よりも近
距離側にある場合を示す。第4図においで、スリット穴
2Bより投射されたスリット状光束は投光レンズ3を通
りAF測距可能距離範囲より近距離側にある被写体21
に当たり、その反射光は受光レンズ7を通り受光素fに
入射される。
FIG. 3 shows a case where the subject is within the possible AFF distance range, and FIG. 4 shows a case where the subject is closer than the possible AFF distance range. In FIG. 4, the slit-shaped light beam projected from the slit hole 2B passes through the projection lens 3 and reaches the subject 21, which is closer than the AF measurable distance range.
At this time, the reflected light passes through the light receiving lens 7 and enters the light receiving element f.

ここで本来、スリット穴2Bからの光束の反射光はそれ
に対応する受光素子9Bに入射する筈であるが、被写体
21がAF測距機可能距離範囲より6近距離側にあるた
め、受光素子9Bには入射せず、隣りの受光素子9Cに
入射する。この場合受光素子9の出力は通常よりも大き
くなるので出力がある一定値以上の値の場合には撮影レ
ンズの最短撮影距離よりも近い距離に被写体があるとし
て、たとえば別のエリアの被写体にピントを合わせると
か、あるいは近距離警告を行なうといった処理を行なう
Here, the reflected light from the slit hole 2B should originally be incident on the corresponding light receiving element 9B, but since the subject 21 is on the 6 nearer side than the AF rangefinder possible distance range, the light receiving element 9B The light does not enter into the adjacent light receiving element 9C. In this case, the output of the light-receiving element 9 will be larger than normal, so if the output is above a certain value, it is assumed that the subject is closer than the shortest shooting distance of the photographing lens, and the subject is in a different area, for example. It performs processing such as adjusting the distance or issuing a short-range warning.

第5図は受光素子上の受光光量と距離の関係を示し、同
図に示すように、受光素子上の受光光量25i近距離側
程大きくなるので上記のように被写体がAF測距可能距
離範囲よりも近距離側にあるため、本来受光素子9Bに
入射すべき反射光が受光素子9Cに入射したとしても受
光素r90の出力が通常よりも大きくなるので、ある一
定値以上になると、被写体が最短撮影距離より近い位置
にあると判断し処理できる。
Figure 5 shows the relationship between the amount of light received on the light receiving element and the distance.As shown in the figure, the amount of light received on the light receiving element 25i increases as the closer the distance, so the subject falls within the AF distance range as described above. Because the distance is closer than that, even if the reflected light that should originally enter the light receiving element 9B enters the light receiving element 9C, the output of the light receiving element r90 will be larger than normal, so if the output exceeds a certain value, the subject will be It is possible to judge that the object is closer than the shortest shooting distance and process it.

次に第6図および第7図を用いて、スリット間隔χと受
光素子上の反射像の位置りの関係を説明する。
Next, the relationship between the slit interval χ and the position of the reflected image on the light receiving element will be explained using FIGS. 6 and 7.

第6図において、スリット穴2A、2B、2Gより投光
されたスリット状光束は、投光レンズ3を通り被写体2
0.21.22で反射され、その反射光は受光レンズ7
を通り、受光素子9に入射する。
In FIG. 6, the slit-shaped luminous fluxes projected from the slit holes 2A, 2B, and 2G pass through the projection lens 3 to the subject 2.
0.21.22, and the reflected light passes through the light receiving lens 7.
and enters the light receiving element 9.

また、第7図には受光レンズ7、受光素f−9、反射光
束、受光素子9上の受光光量25の関係を示している。
Further, FIG. 7 shows the relationship among the light receiving lens 7, the light receiving element f-9, the reflected light flux, and the amount of light received on the light receiving element 9 25.

これらの図において、 χニスリット穴の間隔 y=反射像の受光素子上の位置 Il:基線長(投・受光レンズ中心軸間の距離)f:投
・受光レンズの焦点距離 り二段・受光レンズより被写体までの距離とすると、反
射像の受光素子上の移動量γは次式により求められる。
In these figures, χ Nislit hole spacing y = position of the reflected image on the light receiving element Il: base line length (distance between the center axes of the projecting and receiving lenses) f: focal length of the projecting and receiving lenses; Assuming that the distance to the subject is γ, the amount of movement γ of the reflected image on the light-receiving element is determined by the following equation.

’F−11−f/L+χ    ・・・・・・・・・(
1)上記(1)式より具体的に数値を入れて受光素子上
の位置γを求める。いま、仮に基線長ρ=301’am
]、投・受光レンズの焦点距1f=171mlとする。
'F-11-f/L+χ ・・・・・・・・・(
1) Determine the position γ on the light-receiving element by entering specific values from equation (1) above. Now, suppose the baseline length ρ=301'am
], the focal length of the projection/reception lens is 1f=171ml.

第6図において、投光レンズの光軸上に位置するスリッ
ト穴2Bより無限遠の距離にある被写体に向けて投射さ
れた光束の反射光の受光素子上の位置をgoとすると、
スリット穴2Bは投光レンズの光軸上に位置するので、
χ−〇1また無限遠の距離の被写体に投射するので、l
 −>oo。
In FIG. 6, if go is the position on the light receiving element of the reflected light of the luminous flux projected toward the subject at an infinite distance from the slit hole 2B located on the optical axis of the light projecting lens,
Since the slit hole 2B is located on the optical axis of the projection lens,
χ−〇1 Also, since the image is projected onto an object at an infinite distance, l
->oo.

これらを (1)式に代入すると、γ0=0が得られる
。この位置をYoとする。
Substituting these into equation (1) yields γ0=0. Let this position be Yo.

次に同じスリット穴2Bよりの光束が5mの距離にある
被写体により反射したとき、受光素子上の位置Yoから
の、その反射光の移動量を4N’とすると、 411 ’  =30X1 715x103 +0  
=0. 102[a+s+1 つまり、被写体が無限遠から5mの距離まで近付くに−
)れて受光素子上の反射光の位置はYOの位置から基線
長方向の投光部より遠ざかる方向に91’ =0.10
2 [sl移動する。
Next, when the light flux from the same slit hole 2B is reflected by an object at a distance of 5 m, and if the amount of movement of the reflected light from the position Yo on the light receiving element is 4N', then 411' = 30X1 715x103 +0
=0. 102[a+s+1 In other words, when the subject approaches from infinity to a distance of 5m -
), the position of the reflected light on the light receiving element is 91' = 0.10 in the direction away from the light emitting part in the baseline length direction from the YO position.
2 [move sl.

同様に同じスリット穴2Bよりのスリット状光束がAF
測距可能最近接距離(測距できる被写体までの最短距離
。仮にり、=0.5[mlとする)にある被写体により
反射したとき受光素子上の位19Yoからの反射光の移
動量をlylとJると、り1=30X1710.5X1
03 モO−1゜02[m:1 したがって、被写体が無限遠の距離からA’F測距可能
最知距離(仮にL =0.5 [ml )までのAF測
距可能距離範囲内にあるとき、その被写体からの反射光
は、受光素1士の位置Yoから基線長方向の投光部より
遠ざかる方向に1 、02 [、#l#l]の位置まで
の範囲内で被写体の距離に応じて移動する。
Similarly, the slit-shaped light beam from the same slit hole 2B is AFed.
The amount of movement of the reflected light from position 19Yo on the light receiving element when reflected by the subject at the closest measurable distance (the shortest distance to the subject that can be measured, assuming = 0.5 [ml) is lyl and J, ri1=30X1710.5X1
03 MO-1゜02[m:1 Therefore, the subject is within the AF measurable distance range from infinity to the closest A'F measurable distance (temporarily L = 0.5 [ml]). At this time, the reflected light from the subject is within the range of 1,02[,#l#l] from the position Yo of the light receiving elements to the position 1,02 [, #l#l] in the direction away from the light emitting part in the baseline length direction. Move accordingly.

次に、スリッI−穴2Bより基線長方向に距離χ頗れた
スリット穴2A、2Cより無限遠の被写体に向けて投射
されたスリット状光束の反射光は、受光素子上の位1t
Yoより4/2だけ頗れた位置に入射する。(1)式よ
りg2を求めると被写体距離I−→■であるので、g2
=χが得られる。
Next, the reflected light of the slit-shaped light flux projected toward the subject at infinity from the slit holes 2A and 2C, which are a distance χ in the base line length direction from the slit I-hole 2B, is reflected at a position 1t on the light receiving element.
The beam is incident at a position 4/2 wider than Yo. If g2 is calculated from equation (1), the subject distance I-→■, so g2
= χ is obtained.

同様に被写体がAF測距可能最近接距離(L=0.5 
[m]とする)にある場合も反射光は受光素子上の位置
YOより (1)式で求められる値だけ離れた位置に入
射する。その値を求めると、(1)式より /!/2 =30X1710.5x103+χ−χ+1
.02[a] これらのことから第7図に示すように最近接距離から無
限遠までの被写体に対する反01像の受光素子上での移
動間はスリット光源の位置に関係なく、’!11=1.
02 [m]である。
Similarly, the closest distance that the subject can be measured by AF (L = 0.5
[m]), the reflected light also enters a position separated from the position YO on the light-receiving element by the value determined by equation (1). When calculating the value, from equation (1), /! /2 =30X1710.5x103+χ-χ+1
.. 02[a] From these facts, as shown in FIG. 7, the movement of the anti-01 image of the object from the closest distance to infinity on the light receiving element is '!', regardless of the position of the slit light source. 11=1.
02 [m].

いま、ここで、AF測距可能距離範囲において隣り合う
スリット穴からのスリット状光束の被写体からの反射光
が受光素子上で重なり合うことがないようにするために
スリット間隔χが次の条イ′1を満足しなければならな
い。
Now, in order to prevent the reflected light from the subject of the slit-shaped light beams from adjacent slit holes from overlapping on the light receiving element in the AF distance measurable distance range, the slit interval χ is set as follows: 1 must be satisfied.

まず、第7図において受光素子上で重なり合わないため
には Y2 >4N →y3+d+α   ・・・・・・・・
・ (2)ただし、/y3 :受光素1間の間隔 dニスリット穴の幅 α:レンズ収差やスリットのボケによって発生する反射
光の広がり の関係でなければならない。ここで、LT11=1゜0
2[鯉]、92−χであるので、 (2)式は次のよう
になる。
First, in Fig. 7, in order not to overlap on the light receiving element, Y2 > 4N → y3 + d + α ・・・・・・・・・
(2) However, /y3: Distance between light receiving elements 1 d Width of slit hole α: The relationship must be the spread of reflected light caused by lens aberration or blurring of the slit. Here, LT11=1゜0
2 [carp], 92-χ, so equation (2) becomes as follows.

χ>1.02 [1111111−1q3 +d−+α
 −−−−−−(3)正しい測距を行なうためには上記
(3)式の条件を満足しなければならない、。
χ>1.02 [1111111-1q3 +d-+α
--------(3) In order to perform accurate distance measurement, the condition of equation (3) above must be satisfied.

次に第8図〜第15図に上記の条件を満足するように、
スリット穴間隔を設定し、す抜けが起こらないようにス
リット形状を工夫し、より一層測距エリアを広げた実施
例を示す。
Next, in order to satisfy the above conditions in Figures 8 to 15,
An example will be shown in which the distance measurement area is further expanded by setting the slit hole interval and devising the slit shape to prevent the slit from passing through.

第8図にスリット板40上のスリット穴の配置を示し、
第9図に受光素子41とその受光素子上の反射像を示す
FIG. 8 shows the arrangement of slit holes on the slit plate 40,
FIG. 9 shows the light receiving element 41 and the reflected image on the light receiving element.

第8図、第9図においてスリット穴40A〜4ONは撮
影画面のほぼ全体に面的に広がりをもつように、たとえ
ば千鳥状に配列されており、これらのスリット穴のそれ
ぞれから投光されたスリット状光束の反射像40A’〜
4ON’ はそれぞれ対応する受光素子41A〜41N
上を被写体の距離に応じて移動する。
In FIGS. 8 and 9, the slit holes 40A to 4ON are arranged, for example, in a staggered manner so as to cover almost the entire photographing screen, and the slits emitted from each of these slit holes Reflection image 40A' of shaped luminous flux
4ON' are corresponding light receiving elements 41A to 41N, respectively.
Move above according to the distance of the subject.

次に第10図から第15図を用いて実際の撮影シーンを
想定して撮影画面とスリット状光束の受光素子上の反射
像の位置を具体的に説明する。
Next, the photographing screen and the position of the reflected image of the slit-shaped light beam on the light receiving element will be specifically explained using FIGS. 10 to 15, assuming an actual photographic scene.

第10図において泥影画面45の中央よりやや右に被写
体へがある。この撮影画面内に図示するようにスリット
状光束42A〜42Nが投射される。この投射されたス
リット状光束の被写体からの反射光の受光素子上の入射
位置を第11図に示す。被写体Aは数メートルの近距離
にあるので被写体Aにより反射されたスリット状光束の
反It像401’ 、40J’ はそれぞれ対応する受
光素子411.41J上の近距離側に入射する。それ以
外のスリット状光束は被写体が無限遠の距離にあるので
、その反射光は返ってこない。したがって、受光素子上
の反射光の位置から被写体Aの距離を測定し、撮影レン
ズ系にその信号を伝える。
In FIG. 10, the subject is located slightly to the right of the center of the shadow screen 45. Slit-shaped light beams 42A to 42N are projected onto this photographic screen as shown in the figure. FIG. 11 shows the incident position on the light receiving element of the reflected light of the projected slit-shaped light beam from the subject. Since the object A is at a short distance of several meters, the anti-It images 401' and 40J' of the slit-shaped light beam reflected by the object A are incident on the short distance side of the corresponding light receiving elements 411 and 41J, respectively. For other slit-shaped light beams, the subject is at an infinite distance, so the reflected light does not return. Therefore, the distance to the subject A is measured from the position of the reflected light on the light receiving element, and the signal is transmitted to the photographic lens system.

また、第12図に示す例は被写体Aの後方に被写体Bが
ある場合で、上記と同様に撮影画面45内に、図示のよ
うにスリット状光束を投射する、。
Further, the example shown in FIG. 12 is a case where the subject B is behind the subject A, and a slit-shaped light beam is projected onto the photographing screen 45 as shown in the figure in the same manner as above.

この投射されたスリット状光束はそれぞれ被写体に当た
り反射され、その反射光は第13図に示すようにそれぞ
れ対応する受光素子上に被写体の距離に応じた位置に入
射する。被写体A、Bに当たらなかったスリット状光束
の反射光は上記と同様に被写体距離が無限遠であるので
返って来ない。
Each of the projected slit-shaped light beams hits the subject and is reflected, and the reflected light is incident on the corresponding light receiving element at a position corresponding to the distance from the subject, as shown in FIG. The reflected light of the slit-shaped light beams that did not hit the subjects A and B does not return because the subject distance is infinite, as described above.

それぞれの受光素子は反射像の位置よりそれぞれの測距
エリアごとに被写体距離を求める。そして、各受光素f
の出力を比較し、最も近い被写体にピントを合わせるよ
うに信号を伝える。
Each light receiving element determines the subject distance for each distance measurement area from the position of the reflected image. And each photodetector f
It compares the output of the two and sends a signal to focus on the closest subject.

次に被写体がAF測距可能距離範囲よりも近距離側にあ
るときの例を第14図、第15図に示す。
Next, FIGS. 14 and 15 show examples when the subject is closer than the AF measurable distance range.

第14図において、被写体Cが測距可能距離範囲よりも
近距離側にある被写体である。この場合、第15図に示
すように、被写体A、Bからの反射像はト記例と同様に
それぞれ対応する受光素子上に入射する。ところが、ス
リット状光束42Dが被写体Cにより反射された反射光
像400’ は対応する受光素子41Dには入射せず、
近側隣りにある受光素子41Eに入射する。したがって
、受光素子41Eにはスリット状光束42Fの反射光像
40E′と1記反射光像40D′の2つの反射光が入射
され、この受光素子41の出力は前述したように通常よ
りも大きくなるので被写体が最短撮影距ll1ltより
も近い位貿にあるとして処理が行なわれる。
In FIG. 14, a subject C is a subject that is closer than the measurable distance range. In this case, as shown in FIG. 15, the reflected images from the subjects A and B are incident on the corresponding light receiving elements, as in the example described above. However, the reflected light image 400' in which the slit-shaped light beam 42D is reflected by the subject C does not enter the corresponding light receiving element 41D.
The light is incident on the adjacent light receiving element 41E. Therefore, two reflected lights, the reflected light image 40E' and the first reflected light image 40D', of the slit-shaped light beam 42F are incident on the light receiving element 41E, and the output of this light receiving element 41 becomes larger than normal as described above. Therefore, processing is performed on the assumption that the subject is closer than the shortest photographing distance ll1lt.

次に本発明装置のIII御手順について第17図に示す
ノロ−チャートを用いて説明する。
Next, the III control procedure of the apparatus of the present invention will be explained using the flowchart shown in FIG.

同図において#101の動作開始(スタート)の後、被
写体からの反射光を受光素子で受光し、#102で各測
距エリアの被写体距離を篩用する。
In the figure, after the start of the operation in #101, the light receiving element receives reflected light from the subject, and in #102, the subject distance of each distance measurement area is determined.

そして、#103で各受光素子出力、つまり各受光素子
への入射光量が全て被写体距離に応じた基準レベル以下
であるかどうかを判定する。
Then, in #103, it is determined whether the output of each light receiving element, that is, the amount of light incident on each light receiving element is all below a reference level according to the subject distance.

もし、全ての受光素子の出力が基準レベル以下であれば
、#104で各測距■リア中、被写体距離が最至近のも
のをセレクトし、#105で撮影レンズ駆動モータを駆
動させる。しかし#103の判定でどれか一つでも受光
素子の出力が基準レベルよりも大きいものがあれば#1
06で撮影者に近距離警告を行なう。
If the outputs of all the light-receiving elements are below the reference level, the one with the closest subject distance is selected during each distance measurement rear in step #104, and the photographing lens drive motor is driven in step #105. However, if the output of any one of the light receiving elements is higher than the reference level in the judgment of #103, it becomes #1.
At step 06, a short distance warning is given to the photographer.

ここで#103の判定に用いる基準レベルについて第1
8図を用いて説明する。
Here, regarding the reference level used for the determination of #103, the first
This will be explained using Figure 8.

同図は被写体距離と受光素f出力基準レベルの関係を示
すグラフである。被写体からの反射光量は一般に距離の
2乗に反比例して減少するので受光素fの出力も被写体
距離に応じて減少する。したがって、被写体距離がわか
ればおおよその受光素子出力がわかるので、そのレベル
を予め設定しておき、もし受光素子の出力がAF測距可
能最近接距離に対応する基準レベルより大きい場合、前
述のように隣の測距Jリアで測距されるべき被写 20
一 体でありAF測距可能距離範囲よりも近くにあると判断
するのである。
This figure is a graph showing the relationship between the subject distance and the light receiving element f output reference level. Since the amount of light reflected from the object generally decreases in inverse proportion to the square of the distance, the output of the light receiving element f also decreases according to the distance to the object. Therefore, if you know the subject distance, you can roughly know the output of the light receiving element, so you can set the level in advance, and if the output of the light receiving element is larger than the reference level corresponding to the closest distance that can be used for AF distance measurement, use the method described above. 20 subjects to be measured using the adjacent distance measuring J rear
It is determined that they are in one piece and that they are closer than the AF measurable distance range.

次に上記第17図のフローチャートを実行する本装置の
ブロック構成を第19図に示す。
Next, FIG. 19 shows a block configuration of this apparatus that executes the flowchart shown in FIG. 17 above.

同図においてレリーズスイッチ61をONすると、トリ
ガー回路62が作動し、マイ」ン63より発光素子駆動
回路64に信号を送り、光源部1の発光素fを発光させ
る。光源部1より投光された光束は被写体(図示せず)
により反射され、受光素子41A〜41Nに入射する。
In the figure, when the release switch 61 is turned on, the trigger circuit 62 is activated and a signal is sent from the microphone 63 to the light emitting element drive circuit 64, causing the light emitting element f of the light source section 1 to emit light. The light beam emitted from the light source 1 is the subject (not shown).
The light is reflected by the light receiving elements 41A to 41N.

受光素子41A〜41Nに光が入射すると、その出力端
子に光の入射位置に対応して流れる電流II  は受A
・ B 光素子処理回路65によりlA/■8(距離)、IA+
IB(入射光量)の形で出力され、光源部1の発光のタ
イミングでサンプルホールド回路66によりホールドさ
れる。
When light enters the light-receiving elements 41A to 41N, a current II flows through the output terminals corresponding to the light incident position.
・B: 1A/■8 (distance), IA+ by optical element processing circuit 65
It is output in the form of IB (incidence light intensity) and held by the sample and hold circuit 66 at the timing of light emission from the light source section 1.

リンプルホールド回路66によりホールドされた各受光
素子処理回路65の出力lA/■Bはンルヂプレク1ノ
ロ7を介して順次A/DJンバータ68によりA/D変
換され、そのA/D変換されたデータに基づいて、各測
距1リアごとの被写体距離をマイ」ン63により算出す
る。
The output lA/■B of each light-receiving element processing circuit 65 held by the ripple hold circuit 66 is sequentially A/D-converted by the A/DJ converter 68 via the nurujiprek 1/noro 7, and converted into the A/D-converted data. Based on this, the microphone 63 calculates the object distance for each distance measurement.

そして、その後、各測距エリアごとに、それぞれ受光素
子処理回路65の出力i A+ I Bをフルヂプレク
4ノロ9を介して順次読み出し、RAM70に配憶され
たAF測距可能最近接距離に応じた基準レベルと比較す
る。そして全ての受光素子処理回路65の出力IA+I
Bが最近接距離に応じた基準レベル以下であれば、各測
距エリア中、被写体距離が最至近のものを選択する。そ
して、マイコン63よりレンズ駆動モータ駆動回路72
に信号を送り撮影レンズを駆動させ、被写体に合焦した
ときに顕彰レンズを停止させる。
Thereafter, for each distance measurement area, the outputs iA+IB of the light receiving element processing circuit 65 are sequentially read out through the full diplexer 4noro 9, and the distance is determined according to the nearest possible distance for AF distance measurement stored in the RAM 70. Compare with reference level. And the output IA+I of all the light receiving element processing circuits 65
If B is less than the reference level corresponding to the closest distance, the one with the closest subject distance is selected from among the distance measurement areas. Then, the lens drive motor drive circuit 72 is controlled by the microcomputer 63.
A signal is sent to drive the photographic lens, and when the subject is in focus, the photographic lens is stopped.

もしここで、各受光素f処理回路65の出力IA + 
I aの中で各被写体距離に応じた基準レベル以上のも
のがあれば、マイコン63は前述のように被写体がAF
測距可能距1範囲よりも近い距離にあると判断し、警告
ランプ点灯回路71に信号を送り、近距離警告を行なう
。これが、被写体が測距可能距離範囲よりも近い距離に
あるときの至近距離処理の第1の例である。この処理に
より、ピントの合っていない状態での撮影を未然に防止
することができる。
If here, the output IA + of each light receiving element f processing circuit 65
If there is a value at or above the standard level corresponding to each subject distance in Ia, the microcomputer 63 determines that the subject is in AF as described above.
It is determined that the distance is closer than the measurable distance range 1, and a signal is sent to the warning lamp lighting circuit 71 to issue a short distance warning. This is the first example of close-range processing when the subject is closer than the measurable distance range. This processing can prevent photographing in an out-of-focus state.

次に別の実施例を第20図のフローチャートを用いて説
明する。
Next, another embodiment will be described using the flowchart of FIG. 20.

本実施例も前記実施例と同様に#111の動作量!i8
(スタート)の後、被写体からの反射光を、受光素子で
受光し、#112で各測距エリアの被写体距離を算出す
る。そして#113で各受光素子出力、つまり各受光素
子への入射光量が全て最近接距離に応じた基準レベル以
下であるがどうかを判定する。
This example also has a movement amount of #111 like the previous example! i8
After (start), the light receiving element receives reflected light from the subject, and in step #112, the subject distance of each distance measurement area is calculated. Then, in #113, it is determined whether the output of each light receiving element, that is, the amount of light incident on each light receiving element is all below a reference level according to the closest distance.

もし全ての受光素子の出ノ〕がMjII−レベル以下で
あれば、#114で各測距エリア中被写体距離が最至近
距離のものを選択し、#115で撮影レンズ駆動モータ
を駆動させる。しかし、#113の判定でどれか一つで
も受光素rの出力が基準レベルよりも大きいものがあれ
ば、#116で各測距工り7中、受光素子出力が基準レ
ベル以下のものから被写体距離が最至近のものを選択し
、#115でその測距1す7の被写体に合焦するように
撮影レンズ駆動モータを駆動させる。これが至近距離処
理の第2の例である。これによって前述と同様に撮影ミ
スを未然に防止することかできる。
If the output of all the light receiving elements is below the MjII- level, in step #114 the one with the closest object distance in each distance measurement area is selected, and in step #115 the photographing lens drive motor is driven. However, if the output of any one of the light receiving elements r is larger than the reference level in the judgment in #113, then in #116, select the object from the one whose light receiving element output is below the reference level in each distance measurement process 7. The object with the closest distance is selected, and in step #115, the photographing lens drive motor is driven so as to focus on the object of distance measurement 1-7. This is a second example of close range processing. This makes it possible to prevent photographing errors in the same way as described above.

また、以上のような実施例の他にもマクロ領域までも撮
影可能なカメラにおいては、被写体がAF測距可能距離
範囲よりも近い距離にあるとき、撮影レンズをマクロ領
域に持っていくことも可能である。これによって撮影者
の意図する被写体に正確にピントを合わせることができ
る。
In addition to the above-mentioned embodiments, in a camera that can take pictures even in the macro area, when the subject is closer than the AF distance measurable distance range, it is also possible to move the photographing lens to the macro area. It is possible. This allows the camera to accurately focus on the subject intended by the photographer.

この実施例の70=ヂヤートを第21図に示す。The 70=diat of this example is shown in FIG.

同図において前述と同様に#121の動作開始(スター
ト)の後、被写体からの反射光を受光素子で受光し、#
122で各測距エリアの被写体距離を算出する。そして
、#123で各受光素子出力、つまり各受光素子への入
射光量が全て基準レベル以下であるかどうかを判定する
。もし、全ての受光素子出力が基準レベル以下であれば
、#124で各測距1す7中、被写体距離が最至近のも
のを選択し、#125で踊彰レンズ駆動モータを駆動さ
せる。
In the same figure, after the start of operation #121 as described above, the light receiving element receives the reflected light from the subject, and #
At step 122, the subject distance for each distance measurement area is calculated. Then, in step #123, it is determined whether the outputs of each light receiving element, that is, the amount of light incident on each light receiving element are all below the reference level. If the outputs of all the light-receiving elements are below the reference level, in #124 the one with the closest subject distance is selected from among the distance measuring units 1 to 7, and in #125 the Odori lens drive motor is driven.

ここでもし、#123のレベル判定でどれか一つでも受
光素子の出力が被写体距離に応じた基準レベルを越えて
いる場合、#126で被写体がAF測距可能距離範囲よ
り近い距離にあると判断し、#127で基準レベルを越
えた測距エリアにおいて、受光素子出力より得られた距
離出力に成る変換係数kを掛けAF測距機可能距離範囲
より近い被写体の距離に変換する。そして#128で各
エリア中、最至近のものを選択し、#129でレンズを
マクロ領域に持っていき、#125でレンズ駆動モータ
を駆動させる。
Here, if any one of the light receiving element outputs exceeds the reference level according to the subject distance in the level judgment in #123, then in #126 it is determined that the subject is closer than the AF measurable distance range. Then, in step #127, in the distance measurement area exceeding the reference level, the distance output obtained from the light receiving element output is multiplied by a conversion coefficient k to convert the distance of the object closer than the AF rangefinder possible distance range. Then, in #128, the closest one is selected from each area, the lens is brought to the macro area in #129, and the lens drive motor is driven in #125.

ここで被写体がAF測距可能距離範囲より近い距離にあ
る場合の被写体距離の算出法を第22図を用いて説明す
る。
Here, a method of calculating the subject distance when the subject is at a distance closer than the AF measurable distance range will be explained using FIG. 22.

本来、被写体がAF測距可能距離範囲にある場合、被写
体からの反射光はそれぞれ対応する受光素子9A、9B
、9Gに入射する筈であるが、前述のように、被写体が
AF測距可能距離範囲より近い距離にある場合、本来、
受光素子9Aに入射する反射光は隣りの受光素7−98
に入射する。その結果、第23図に示すように、受光素
子9Bには本来対応している反射光25Aと上記受光素
子9Aに対応する反射光25Bが同時に入射する。
Originally, when the subject is within the AF distance range, the reflected light from the subject is reflected by the corresponding light receiving elements 9A and 9B.
, 9G, but as mentioned above, if the subject is closer than the AF measurable distance range,
The reflected light incident on the light receiving element 9A is reflected from the neighboring light receiving element 7-98.
incident on . As a result, as shown in FIG. 23, reflected light 25A originally corresponding to the light receiving element 9B and reflected light 25B corresponding to the light receiving element 9A are simultaneously incident on the light receiving element 9B.

したがって、受光素子9Bの出力としては、受光素子9
Aに入射する筈の反射光25Bが本来対応する反射光2
5Aに対して極めて強いため、本来対応する反射光25
Aの影響を殆ど受けずに反射光25Bの入射位置よりや
や反射光25Aの入射位置寄りの位置(第23図の点線
で示した位置)に反射光が入射したものとして出りする
Therefore, as the output of the light receiving element 9B, the output of the light receiving element 9B is
Reflected light 2 that originally corresponds to reflected light 25B that should be incident on A
Because it is extremely strong against 5A, the reflected light that originally corresponds to 25
The reflected light is hardly affected by the reflected light 25B and exits at a position slightly closer to the incident position of the reflected light 25A (the position indicated by the dotted line in FIG. 23).

しかし、この状態では通常の受光素′f9Bに対応する
反射光が入射したのと同じ出力が出るので、この出力に
ある変換係数kを掛けた値を出ノ〕することにより、受
光素子9Aに対応する測距1リア内の被写体距離を算出
することができる。なお、上記のある変換係数にはそれ
ぞれの受光素子の位置により多少異なったものとする。
However, in this state, the same output as when the reflected light corresponding to the normal light receiving element 'f9B is incident is output, so by multiplying this output by a certain conversion coefficient k, the output is outputted to the light receiving element 9A. The object distance within one corresponding distance measurement rear can be calculated. It should be noted that the above-mentioned conversion coefficient differs somewhat depending on the position of each light-receiving element.

また、複数のスリット状光束を投光し得るよう構成して
いるので、撮影画面に全体的にスリット状光束を投射で
きるようになり、よって小さな被写体であっても、また
カメラを横位置から縦位置に変更して撮影したとしても
、す汰けが生じることが低減され、また、従来のように
画面中央のフォーカスマークを被写体に合わせる必要は
なく、構図のみに専念して撮影を行なうことができる。
In addition, since the structure is configured to project multiple slit-shaped light beams, it is possible to project the slit-shaped light beams onto the shooting screen as a whole. Even if you change the position and take a picture, there will be fewer pauses, and there is no need to align the focus mark in the center of the screen with the subject as in the past, allowing you to focus only on the composition. .

(発明の効果) 以上のように本発明によれば、基線長に対して垂直り向
に幅を持ち、複数のスリット状光束が投光され、かつマ
トリックス状に配置された複数の受光素子が各々のスリ
ット状光束に対応して測距可能距離範囲内にある被写体
からの反射光が対応する受光素子に入射されるように配
置されているので、測距■リアが広がり撮影画面のどの
位置に被写体があっても、また比較的小さな被写体であ
っても、す抜けを生じることが低減され、正確な測距を
行なうことができ、しかも一つのスリット状光束に対し
て一つの受光素子(位置センサ)が対応しであるので、
それぞれのスリット状光束でもって独立して測距を行え
、測距誤差が少なくなる。 さらには、被写体が測距可
能距離範囲よりも近い距離にあると判定されたとき、所
定の至近距離処理を行なうようにしているので、ピント
の合っていない状態で撮影することを未然に防止でき、
撮影ミスがなくなる。
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, a plurality of slit-shaped light beams are emitted, each having a width perpendicular to the base line length, and a plurality of light receiving elements arranged in a matrix. Each slit-shaped light beam is arranged so that the reflected light from the subject within the measurable distance range is incident on the corresponding light-receiving element. Even if there is a subject in the frame or a relatively small subject, the occurrence of missing objects is reduced, accurate distance measurement is possible, and one light receiving element ( position sensor) is corresponding, so
Distance measurement can be performed independently using each slit-shaped light beam, and distance measurement errors are reduced. Furthermore, when it is determined that the subject is closer than the measurable distance range, predetermined close-range processing is performed, which prevents taking pictures out of focus. ,
No more shooting mistakes.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明のカメラの被写体距離測定装置の一実施
例による概略基本構成を示す斜視図、第2図は同装置に
おける受光素子および同素子に入射した反射像を示す図
、第3図、第4図は本発明装置の除却を説明するための
平面図、第5図は受光素子上の受光光量と距離の関係図
、第6図はスリット穴間隔と受光素子上の反射像の位置
の関係を示す図、第7図は第6図の場合の受光素子上の
受光位置および受光光量の関係を示す図、第8図は他の
実施例によるスリット穴の配置形状を示す図、第9図は
第8図のスリット形状の場合の受光素子と同素子上の反
射像を示す図、第10図は撮影画面の−・例を示す図、
第11図は第10図の撮影画面の場合の受光素子と同素
子上の反射像を示す図、第12図は他の撮影画面の例を
示す図、第13図は第12図の撮影画面の場合における
受光素子と同素子上の反射像を示す図、第14図は一部
の被写体が測距可能側1Ilt範囲よりも近距離側にあ
る時の撮影画面の図、第15図は第14図の撮影画面の
場合の受光素子と同素子上の反射像を示す図、第16図
は受光素子の断面構成図、第17図は本発明装置の制御
手順の一例を示すフローチャート、第18図は被写体距
離と受光素子出力レベルの関係図、第19図は本発明装
置の具体的回路構成の−・例を示すブロック図、第20
図は制御手順の他の例を示すフローチャート、第21図
は制御手順のさらに他の例を示すフローチャート、第2
2図、第23図はそれぞれ一部の被写体が測距可能距離
範囲より近い距離にある場合の被写体距離の算出要領を
説明するための図である。 1・・・光源部、2・・・スリット板、3・・・投光レ
ンズ(以上は投光部を構成)、7・・・受光レンズ、9
・・・受光素子(以上は受光部を構成)、2A、2B。 2C・・・スリット穴、5A’ 、5B’ 、5G’・
・・反射光、20.21.22・・・被写体、40・・
・スリット板、40A〜4ON・・・スリット穴、41
・・・受光素子、41A〜41N・・・受光素子、40
A′〜4ON’ ・・・反射像、45・・・撮影画面、
42A〜42N・・・スリット状光束、Ω・・・基線長
、63・・・マイコン、65・・・受光素子処理回路、
71・・・警告ランプ点灯回路、72・・・レンズ駆動
モータ駆動回路、。 特許出願人   ミノルタカメラ株式会社代  理  
人     弁理士  小  谷  悦  旬間   
  弁理士 長 1)  正 向     弁理士 板 谷 康 夫 手続補正書(自発) 昭和62年 7月14日 1、事件の表示    □ 昭和62年特許願第124192号 2、発明の名称 カメラの被写体距離測定装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 名  称   (6071ミノルタカメラ株式会社4、
代理人 5、補正命令の日付 自発補正 6、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 7、補正の内容 (1)明細書第3頁第10行、第15行の「ピクセル」
を「受光素子」と補正します。 (2)同第6頁第19行の「光束の収差」を「投光レン
ズ3の収差による軸外でのスリット反射像のぼけ」と補
正します。 (3)同第6頁第20行の「図示のように」を「上記は
けを補正する方向に例えば凹面状に」と補正します。
[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] Fig. 1 is a perspective view showing the general basic configuration of an embodiment of the object distance measuring device for a camera according to the present invention, and Fig. 2 shows a light receiving element in the device and a reflected image incident on the device. Figures 3 and 4 are plan views for explaining the removal of the device of the present invention, Figure 5 is a diagram showing the relationship between the amount of light received on the light receiving element and the distance, and Figure 6 is a diagram showing the relationship between the slit hole spacing and light reception. FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the position of the reflected image on the element, FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the light receiving position on the light receiving element and the amount of light received in the case of FIG. 6, and FIG. A diagram showing the arrangement shape, FIG. 9 is a diagram showing the light receiving element in the case of the slit shape in FIG. 8, and a reflected image on the same element, and FIG. 10 is a diagram showing an example of the photographing screen.
Fig. 11 is a diagram showing the light receiving element and the reflected image on the same element in the case of the photographing screen of Fig. 10, Fig. 12 is a diagram showing an example of another photographing screen, and Fig. 13 is the photographing screen of Fig. 12. Figure 14 is a diagram showing the light-receiving element and the reflected image on the same element in the case of , Figure 14 is a diagram of the shooting screen when some subjects are closer than the measurable side 1Ilt range, and Figure 15 is 14 is a diagram showing a light receiving element and a reflected image on the same element in the case of the photographing screen, FIG. 16 is a cross-sectional configuration diagram of the light receiving element, FIG. 17 is a flowchart showing an example of the control procedure of the device of the present invention, and FIG. 18 19 is a diagram showing the relationship between the subject distance and the output level of the light receiving element, FIG. 19 is a block diagram showing an example of the specific circuit configuration of the device of the present invention, and FIG.
21 is a flowchart showing another example of the control procedure, FIG. 21 is a flowchart showing still another example of the control procedure, and FIG.
2 and 23 are diagrams for explaining the procedure for calculating object distances when some objects are located at a distance closer than the measurable distance range, respectively. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Light source part, 2... Slit plate, 3... Light projecting lens (the above constitutes a light projecting part), 7... Light receiving lens, 9
... Light-receiving elements (the above constitute a light-receiving section), 2A, 2B. 2C...Slit hole, 5A', 5B', 5G'.
...Reflected light, 20.21.22...Subject, 40...
・Slit plate, 40A~4ON...Slit hole, 41
... Light receiving element, 41A to 41N... Light receiving element, 40
A'~4ON'... Reflected image, 45... Shooting screen,
42A to 42N...Slit-shaped light flux, Ω...Base line length, 63...Microcomputer, 65...Light receiving element processing circuit,
71... Warning lamp lighting circuit, 72... Lens drive motor drive circuit. Patent applicant Minolta Camera Co., Ltd. Representative
People Patent Attorney Etsu Kotani Shunma
Chief Patent Attorney 1) Masamukai Patent Attorney Yasuo Itaya Procedural Amendment (Spontaneous) July 14, 1988 1. Display of the case □ 1988 Patent Application No. 124192 2. Name of the invention Camera object distance measurement Device 3, relationship with the person making the amendment Patent applicant name (6071 Minolta Camera Co., Ltd. 4,
Agent 5, Date of amendment order Voluntary amendment 6, Detailed explanation of the invention column 7 of the specification subject to amendment, Contents of amendment (1) “Pixels” in lines 10 and 15 of page 3 of the specification
is corrected as "light receiving element". (2) Correct the "aberration of the light beam" on page 6, line 19 of the same page to "blurring of the slit reflected image off-axis due to the aberration of the projection lens 3." (3) On page 6, line 20, correct "as shown" to "for example, in a concave shape in the direction that corrects the above-mentioned brush."

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、カメラボディの前面に投光部と受光部とを所定の基
線長だけ離して配置し、この投光部から投光され被写体
で反射して戻ってきた反射光を受光部で受光し、その受
光位置から被写体距離を測定するカメラの被写体距離測
定装置において、上記投光部は基線長に対して垂直方向
に幅をもち、かつ複数のスリット状光束が投光されるよ
うに構成され、上記受光部は複数の受光素子がマトリッ
クス状に配置されるとともに、その各行がスリット状光
束とほぼ平行になるように配置され、かつ一つのスリッ
ト状光束に対して一つの受光素子を、測距可能距離範囲
内にある被写体からの反射光が対応する受光素子に入射
されるように配置し、さらに被写体が測距可能距離範囲
よりも近い距離にあると判定されたとき所定の至近距離
処理を行なう手段を設けたことを特徴とするカメラの被
写体距離測定装置。 2、上記投光部は、光源とスリット板とレンズからなり
、一回の発光で全スリット状光束を投射することを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のカメラの被写体距離
測定装置。 3、上記投光部にスリット状光束の幅を引き伸ばすシリ
ンドリカル凹レンズを装備自在としたことを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のカメラの被写体距離測定装
置。 4、被写体が測距可能距離範囲よりも近い距離にあるか
どうかの判定は受光素子の出力で行なうようにしたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載のカメラの被写
体距離測定装置。
[Claims] 1. A light emitter and a light receiver are arranged on the front of the camera body with a predetermined baseline length apart, and the reflected light emitted from the light emitter, reflected by the subject, and returned is collected. In a camera subject distance measuring device that receives light at a light receiving part and measures a subject distance from the light receiving position, the light projecting part has a width in a direction perpendicular to the base line length, and a plurality of slit-shaped light beams are projected. The light-receiving section has a plurality of light-receiving elements arranged in a matrix, each row of which is arranged substantially parallel to the slit-like light beam, and one light-receiving element per slit-like light beam. When the light-receiving elements are arranged so that reflected light from a subject within the measurable distance range is incident on the corresponding light-receiving element, and it is determined that the subject is closer than the measurable distance range. A subject distance measuring device for a camera, characterized in that it is provided with means for performing predetermined close distance processing. 2. The object distance measuring device for a camera according to claim 1, wherein the light projecting section is composed of a light source, a slit plate, and a lens, and projects the entire slit-shaped light beam in one light emission. 3. The object distance measuring device for a camera according to claim 1, wherein the light projecting section can be equipped with a cylindrical concave lens for extending the width of the slit-shaped light beam. 4. The object distance measuring device for a camera according to claim 1, wherein the determination as to whether or not the object is at a distance closer than the measurable distance range is made based on the output of the light receiving element.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02272313A (en) * 1989-04-14 1990-11-07 Asahi Optical Co Ltd Range finder
JPH02284019A (en) * 1989-04-25 1990-11-21 Asahi Optical Co Ltd Distance measuring instrument

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JPH02284019A (en) * 1989-04-25 1990-11-21 Asahi Optical Co Ltd Distance measuring instrument

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