JPS63284447A - Testing method for characteristic evaluation of light beam path - Google Patents

Testing method for characteristic evaluation of light beam path

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JPS63284447A
JPS63284447A JP11712987A JP11712987A JPS63284447A JP S63284447 A JPS63284447 A JP S63284447A JP 11712987 A JP11712987 A JP 11712987A JP 11712987 A JP11712987 A JP 11712987A JP S63284447 A JPS63284447 A JP S63284447A
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JP
Japan
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connector
optical
test
connectors
coupler
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Pending
Application number
JP11712987A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisaharu Yanagawa
柳川 久治
Kazuo Kamiko
神子 一男
Mikio Kokayu
小粥 幹夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR

Abstract

PURPOSE:To test characteristic evaluation economically by connecting the connector of an optical coupler with the connector of a light beam path at the time of a test, and inserting a test system into the light beam path. CONSTITUTION:A test system 6 is independent of the optical fiber 4 and inserted in some part of the optical fiber 4 only at the time of the test. An area encircled with a broken line A is a switching area and connectors 13 and 14 of the optical fiber 4 are connected normally to connectors 10 and 11 of a jumper line 12. When the test is conducted, on the other hand, the connector 10 of the jumper line 12 connected to the connector 13 of the optical fiber 4 is switched to the connector 8 of the optical coupler of a test system 5 and the connector 11 of the optical jumper line 12 connected to the connector 14 of the optical fiber 4 is switched similarly to the connector 9 of the optical coupler 7 of the test system 5. Consequently, there is no need to provide an expensive testing optical parts in the light beam path as usual, so the characteristic evaluation of the light beam path is tested very economically.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光ファイバ等の光線路の特性評価試験方法に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a method for testing the characteristics of an optical line such as an optical fiber.

(従来の技術) 近年、光ファイバを光線路として使用した光通信システ
ムが盛んに用いられている。かかる光通信システムにお
いては、光線路における種々の光損失を監視するために
当該光線路途中に試験系を挿入配設することが一般に行
われている0通常は、第1θ図に示すように、電気・光
変換器(Elo) 1と光・電気変換器(0/E) 2
とが光ファイバ4にょ′り接続されている場合、この光
ファイバ4の途中に光カプラ3を常設しておき、試験時
にはこの先カブラ3を試験装置、例えばパルス試験器(
OTDR)5に接続することにより光フアイバ4途中の
光損失を測定している。
(Prior Art) In recent years, optical communication systems using optical fibers as optical lines have been widely used. In such optical communication systems, it is common practice to insert a test system in the middle of the optical line in order to monitor various optical losses in the optical line. Electrical/optical converter (Elo) 1 and optical/electrical converter (0/E) 2
When an optical coupler 3 is connected to an optical fiber 4, an optical coupler 3 is permanently installed in the middle of the optical fiber 4, and during testing, the coupler 3 is connected to a testing device, such as a pulse tester (
By connecting to the optical fiber (OTDR) 5, optical loss in the middle of the optical fiber 4 is measured.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、従来の試験方法にあっては、上述したよ
うに実際の通信には不要でしかも高価な光カプラ3を光
線路途中に常設しているという経済的な不利益がある。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the conventional test method, as mentioned above, the optical coupler 3, which is unnecessary for actual communication and is expensive, is permanently installed in the optical path. There are disadvantages.

とくに、多芯の光ファイバの場合はその芯の数だけ光カ
ブラ3を必要とする(例えば、100芯ケーブルの場合
は100個の光カプラが必要である)ため、そのコスト
の上昇は著しい。
In particular, in the case of multi-core optical fibers, the number of optical couplers 3 required is equal to the number of cores (for example, in the case of a 100-core cable, 100 optical couplers are required), so the cost increases significantly.

本発明は上記従来の問題点に鑑みてなされたもので、光
通信に使用される光線路の試験方法において、この光線
路中に通信に不要で且つ高価な光部品を常設する必要が
なく、経済的に光損失試験等の特性評価試験を実施する
ことが可能な光線路の試験方法を提供することを目的と
する。
The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and is a method for testing optical lines used in optical communication, which eliminates the need to permanently install expensive optical components that are unnecessary for communication in the optical line. The purpose of this invention is to provide an optical line testing method that enables economical performance of characteristic evaluation tests such as optical loss tests.

(問題点を解決するための手段) 本発明は、光線路途中に試験・用光部品例えば光結合器
を常設するのではなく、試験装置に接続された光結合器
を試験時のみに光線路中に挿入することとすれば、光結
合器は1個で足りるため経済的に試験を行いうるという
認識に基づくものである。
(Means for Solving the Problems) The present invention does not permanently install an optical component for testing and use, such as an optical coupler, in the middle of the optical path, but instead connects the optical coupler connected to the test equipment to the optical path only during testing. This is based on the recognition that if the optical coupler is inserted inside, one optical coupler is sufficient and the test can be carried out economically.

即ち上記目的を達成するために本発明によれば、被試験
光線路中に試験系を挿入して前記光線路の特性評価を行
う試験方法において、前記試験系を試験装置と該試験装
置に接続され且つ両端にコネクタを有する光結合器とか
ら構成するとともに、前記光線路の少なくとも一箇所に
コネクタを配設し、試験時に、前記光結合器のコネクタ
と前記光線路のコネクタとを接続することにより前記光
線路中に試験系を挿入することとしたものである。
That is, in order to achieve the above object, according to the present invention, in a test method for inserting a test system into an optical line under test and evaluating the characteristics of the optical line, the test system is connected to a test device and the test device. and an optical coupler having connectors at both ends, and a connector is provided at at least one location on the optical line, and the connector of the optical coupler and the connector of the optical line are connected during testing. Therefore, we decided to insert a test system into the optical path.

(作用) 試験系を試験装置とこれに接続された光結合器例えば光
カブラとで構成し、一方、光線路の少なくとも1箇所に
一対のコネクタを配設して分υト可能としておき、試験
時に光線路のコネクタ間に上記の光カプラを挿入してそ
の両端のコネクタを光線路のコネクタと夫々接続する。
(Function) The test system consists of a test device and an optical coupler, such as an optical coupler, connected to the test device, and a pair of connectors is provided at least at one location on the optical path to enable splitting. At times, the above optical coupler is inserted between the connectors of the optical line, and the connectors at both ends are connected to the connectors of the optical line, respectively.

この時、コネクタ切替装置を使用するとコネクタ同士の
切替接続を極めて短時間で行うことができるため、切替
時の作業性も向上する。
At this time, if a connector switching device is used, the switching connection between the connectors can be performed in an extremely short time, so that the work efficiency at the time of switching is also improved.

(実施例) 以下、本発明の一実施例を添付図面に基づいて詳述する
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail based on the accompanying drawings.

第1図及び第2図は本発明の光線路の試験方法の第1の
実施例である測定系を模式的に表したものである。なお
、図中、第1O図と同一の構成要素には同一の符号を付
して示しである。
FIGS. 1 and 2 schematically represent a measurement system which is a first embodiment of the optical line testing method of the present invention. In addition, in the figure, the same components as in FIG. 1O are denoted by the same reference numerals.

図において、光損失を測定するための試験系6は試験装
置であるパルス試験器(OTDR)5及び光カプラ7と
から構成される。そして、この光カプラ7のボー)7a
及び7bには夫々コネクタ8.9が接続され、当該光力
ブラフの分岐ポート7cには0TDR5が接続されてい
る。一方、光ファイバ4の途中には、両端にコネクタ1
0.11を有する光ジャンパ線12が介在されている。
In the figure, a test system 6 for measuring optical loss is composed of a pulse tester (OTDR) 5, which is a test device, and an optical coupler 7. Then, the bow of this optical coupler 7) 7a
and 7b are connected to connectors 8.9, respectively, and 0TDR5 is connected to the branch port 7c of the optical power bluff. On the other hand, there are connectors 1 at both ends in the middle of the optical fiber 4.
An optical jumper line 12 having a diameter of 0.11 is interposed.

具体的には、当該光ファイバ4に配設された2個のコネ
クタ13.14のうちコネクタ1jが前記光ジャンパ線
12のコネクタ10と、光ファイバ4のコネクタ14が
光ジャンパ線12のコネクタ11と夫々接続されている
Specifically, among the two connectors 13 and 14 arranged on the optical fiber 4, the connector 1j is the connector 10 of the optical jumper line 12, and the connector 14 of the optical fiber 4 is the connector 11 of the optical jumper line 12. are connected to each other.

かかる測定系の構成において、試験系6は光ファイバ4
とは独立しており、試験時に限り当該光フアイバ4途中
に挿入されるものである。即ち、図中、破線Aで囲まれ
た領域が切替領域であり、通常は第1図に示した如く光
ファイバ4のコネクタ13.14ハシヤンハvA12ノ
コネクタ10.11と夫々接続されている。一方、試験
時には、第2図に示したように、光ファイバ4のコネク
タ13と接続されていた光ジャンパ線12のコネクタ1
0を試験系5の光カプラのコネクタ8と切り°替え、同
様に、光ファイバ4のコネクタ14と接続されていた光
ジャンパ線12のコネクタ11を試験系5の光力ブラフ
のコネクタ9と切り替える。この時、上記各°コネクタ
8.9.10、比13.14として一第3図(a)及び
ら)に示す嵌合ピン方式のものを使用し、且つ第4図に
示すコネクタ切替装置を使用すると上記した切り替え操
作を極めて短時間で行うことができるため、切替時の作
業性が向上する。
In the configuration of such a measurement system, the test system 6 includes an optical fiber 4
It is independent from the optical fiber 4, and is inserted into the optical fiber 4 only during testing. That is, in the figure, the area surrounded by the broken line A is the switching area, and is normally connected to the connectors 13, 14, and 10, 11 of the optical fiber 4, respectively, as shown in FIG. On the other hand, during the test, as shown in FIG.
0 to the connector 8 of the optical coupler of the test system 5, and similarly, switch the connector 11 of the optical jumper wire 12 connected to the connector 14 of the optical fiber 4 to the connector 9 of the optical power bluff of the test system 5. . At this time, as the above-mentioned connectors 8.9.10 and ratio 13.14, the fitting pin type shown in Fig. 3 (a) and 3) is used, and the connector switching device shown in Fig. 4 is used. When used, the switching operation described above can be performed in an extremely short time, improving work efficiency during switching.

第3図は、−例として嵌合ピン方式の5芯コネクタ15
を示し、当該コネクタ15の基部15aの端部両側壁に
は2個の嵌合部15bが延出形成され、これらの嵌合部
15bには夫々嵌合ピン16を嵌挿するためのピン孔1
5cが穿設されている。又、嵌合部15bの前方端面(
図中右側端面)15b”は、基部15aの端面15a’
よりも長さXだけ後方に後退している。又、嵌合部15
bの後方にはピン16の長さ!よりも長い(長さL>f
f1)空間が形成されている。
Figure 3 shows an example of a mating pin type five-core connector 15.
Two fitting portions 15b are formed extending from both side walls of the end portion of the base portion 15a of the connector 15, and each of these fitting portions 15b has a pin hole for fitting a fitting pin 16 thereinto. 1
5c is drilled. In addition, the front end surface of the fitting portion 15b (
15b" is the end surface 15a' of the base 15a.
It is retreating backwards by a length X. Moreover, the fitting part 15
The length of pin 16 is behind b! longer than (length L>f
f1) A space is formed.

第4図は第1図に示したコネクタ13とコネクタ10と
が接続されている状態から、第2図に示したコネクタ1
3とコネクタ8とが接続された状態へと切り替えるため
のコネクタ切替装置20を示している。尚、コネクタ8
.10及び13としては上記第3図に示したコネクタ1
5と同一の構造のものを使用している0図において、コ
ネクタ切替装置20は基台2 、lと該基台21に装着
されたピン押出機構22及びコネクタ移動機構23とか
ら構成されている。基台21には、その−側21aから
他側21bに延びるコネクタ収容溝24が形成されてい
る。この溝24は、基台21の中央位置から一側21a
に延び、コネクタ13が嵌挿されるだけの溝幅を有する
溝24aと、他側21bに延び、コネクタ3個分の溝幅
を有し、溝24の長手方向に沿って中心軸に対称形状の
溝24bとからなる。そして、当該溝24bには、後述
するように溝24aに嵌挿されるコネクタ13に対向し
てコネクタ10、及びコネクタ10の後述するコネクタ
移動機構23側の一側面に密着重合してコネクタ8が装
着され、コネクタ10の他側面側には、更にコネクタ1
個を収容可能な空間が残されている。ピン押出機構22
は押出ブロック22aと駆動装ff22bとから構成さ
れ、上記溝24aに連通ずる空間21c内に配設されて
いる。押出ブロック22aは、一体に形成された腕22
a゛を有し、その腕22a゛の先端部を空間21cから
溝24aに突出させている。押出ブロック22aは駆動
装置22bにより溝24aの長手方向に沿って移動可能
であり、後述するように、腕22a。
FIG. 4 shows the connector 1 shown in FIG. 2 from the state in which the connector 13 and connector 10 shown in FIG.
A connector switching device 20 for switching the state in which the connector 3 and the connector 8 are connected is shown. In addition, connector 8
.. 10 and 13 are the connectors 1 shown in FIG. 3 above.
In Figure 0, which uses the same structure as 5, the connector switching device 20 is composed of bases 2 and 1, a pin pushing mechanism 22 and a connector moving mechanism 23 mounted on the base 21. . A connector accommodating groove 24 is formed in the base 21 and extends from the minus side 21a to the other side 21b. This groove 24 is formed on one side 21a from the center position of the base 21.
A groove 24a extends to the other side 21b and has a groove width sufficient for fitting the connector 13, and a groove 24a extends to the other side 21b and has a groove width for three connectors, and is symmetrical about the central axis along the longitudinal direction of the groove 24. It consists of a groove 24b. Then, in the groove 24b, the connector 10 is installed opposite to the connector 13 that is inserted into the groove 24a, as will be described later, and the connector 8 is installed in close contact with one side of the connector 10 on the side of the connector moving mechanism 23 (described later). On the other side of the connector 10, there is further a connector 1.
There is still space left to accommodate individuals. Pin extrusion mechanism 22
is composed of an extrusion block 22a and a driving device ff22b, and is arranged in a space 21c communicating with the groove 24a. The extrusion block 22a has an integrally formed arm 22.
The distal end of the arm 22a' projects from the space 21c into the groove 24a. The extrusion block 22a is movable along the longitudinal direction of the groove 24a by a drive device 22b, and as described later, the arm 22a.

の先端部をコネクタ13のピン孔(第3図のコネクタ1
5のピン孔15cに対応する孔)に一端部を嵌挿された
ピン26の他端部に係合させて当該ピン26をピン孔に
押し込む方向に移動させる。
Connect the tip of the connector 13 to the pin hole (connector 1 in Figure 3).
One end of the pin 26 is engaged with the other end of the pin 26 inserted into the hole (corresponding to the pin hole 15c of No. 5), and the pin 26 is moved in the direction of being pushed into the pin hole.

一方、コネクタ移動機構23は溝24bの下方にこれと
連通して形成された空間21d内に配設され、コネクタ
8と密着可能な移動台23aと、前記空間21d底面と
移動台23aとの間に介在され、この移動台23aを図
中上方(光ファイバ4の光軸に直交する方向)へ付勢す
る弾性部材例えば圧縮バネ23bとから構成されている
。又、上記移動台23aは、前記圧縮バネ23bの伸張
時即ち上方移動時にその上面が前記溝24aの底面と面
一をなす位置で停止するように、その底部に係止部23
a°が形成されている。
On the other hand, the connector moving mechanism 23 is disposed in a space 21d formed below the groove 24b in communication with the groove 24b, and between a moving table 23a that can come into close contact with the connector 8, and the bottom surface of the space 21d and the moving table 23a. It is comprised of an elastic member, for example, a compression spring 23b, which is interposed between and urges the moving table 23a upward in the figure (in a direction perpendicular to the optical axis of the optical fiber 4). Furthermore, the movable table 23a has a locking portion 23 at its bottom so that when the compression spring 23b is expanded, that is, moved upward, the movable table 23a stops at a position where its upper surface is flush with the bottom surface of the groove 24a.
a° is formed.

かかる装置を使用したコネクタの切替操作を第4図及び
第5図を参照して説明する。即ち、先ず、当初ピン25
により嵌合されていたコネクタ13及び10を切替装置
20の治具21の溝24a及び24b内に配設する。こ
の時、コネクタ10の下部に切り替えるべきコネクタ8
を一体に固定しておき、移動台23aを圧縮バネ23b
に抗して下方に押し下げ、コネクタ10及び8を同時に
溝24b内に配設することとすると切替作業の効率が向
上する。このようにコネクタlO及び8を溝24b内に
配設した後、移動台23aの上面はコネクタ8の下部に
密着した状態となる0次いで、コネクタ13とコネクタ
8との嵌合に使用するピン26をコネクタ13の嵌合部
13bの後方からピン押出機構22によりピン孔13c
に挿入する。
A connector switching operation using such a device will be explained with reference to FIGS. 4 and 5. That is, first, the initial pin 25
The connectors 13 and 10 that have been fitted together are placed in the grooves 24a and 24b of the jig 21 of the switching device 20. At this time, the connector 8 to be switched to the lower part of the connector 10
are fixed together, and the moving table 23a is attached to the compression spring 23b.
If the connectors 10 and 8 are simultaneously placed in the groove 24b by pushing down against the pressure, the efficiency of the switching operation will be improved. After the connectors 10 and 8 are disposed in the groove 24b in this way, the upper surface of the moving table 23a comes into close contact with the lower part of the connector 8.Next, the pin 26 used for fitting the connector 13 and the connector 8 The pin hole 13c is inserted into the pin hole 13c by the pin pushing mechanism 22 from the rear of the fitting part 13b of the connector 13.
Insert into.

即ち、駆動装!22bによりピン26の端部と係合する
押出ブロック22aを、第5図の矢線A方向(図中、右
方向)に移動させて、ピン25を押し出しながらピン2
6を移動させる。そして、ピン25と26との突き合わ
せ面27がコネクタ13の光フアイバ挿入部13aの端
面13a°と面一をなした時点で、コネクタ13とコネ
クタ10との保合が解除される。この時、移動機構23
の移動台23aは圧縮バネ23bの伸張によりコネクタ
10及び8を上方に押し上げ、コネクタ8がコネクタ1
3と一直線をなした位置で停止する。ピン25はコネク
タ10のピン孔10cに挿入された状態で当該コネクタ
10と共に上昇し、満24bの上部空間内に収納される
。一方、このコネクタ10及び8の上昇時にもピン26
は右方への移動を続ける。そして、コネクタ8の基部8
aの端面8a’がコネクタ13の端面13a゛と整合し
た時点で、当該ピン26がコネクタ8の嵌合部8bのピ
ン孔8Cの開口端に達するように上記上昇速度を決定す
ることが好ましい。具体的には、移動台23aによるコ
ネクタ1個分の移動時間をΔt、ピン26の右方への移
動速度をVとすると、次式:%式% を満足するように、移動速度Vの値を決定すればよい、
但し、上式において、Δtは移動機構23における移動
台23aの自重と圧縮バネ23bのバネ定数等により決
定される値である。尚、上式はピン26が第5図に示し
た距M2xを移動する間の速度であり、それ以外の領域
での速度はこの式を逸脱しても構わない。
In other words, the driving equipment! The push-out block 22a, which engages with the end of the pin 26 by the push-out block 22b, is moved in the direction of the arrow A in FIG.
Move 6. Then, when the abutting surface 27 between the pins 25 and 26 becomes flush with the end surface 13a° of the optical fiber insertion portion 13a of the connector 13, the engagement between the connector 13 and the connector 10 is released. At this time, the moving mechanism 23
The moving table 23a pushes up the connectors 10 and 8 by the expansion of the compression spring 23b, and the connector 8 moves to the connector 1.
Stop at a position that is in line with 3. The pin 25 is inserted into the pin hole 10c of the connector 10 and rises together with the connector 10, and is housed in the upper space 24b. On the other hand, when the connectors 10 and 8 are raised, the pin 26
continues moving to the right. And the base 8 of the connector 8
It is preferable to determine the rising speed so that the pin 26 reaches the open end of the pin hole 8C of the fitting portion 8b of the connector 8 when the end surface 8a' of the connector 13 is aligned with the end surface 13a' of the connector 13. Specifically, if the moving time for one connector by the moving base 23a is Δt, and the moving speed of the pin 26 to the right is V, then the value of the moving speed V is set so as to satisfy the following formula: % formula % All you have to do is decide
However, in the above equation, Δt is a value determined by the weight of the moving table 23a in the moving mechanism 23, the spring constant of the compression spring 23b, etc. Note that the above equation is the speed while the pin 26 moves over the distance M2x shown in FIG. 5, and the speed in other areas may deviate from this equation.

尚、上記第4図では、第1図に示した切替領域Aにおい
てコネクタ13と結合していたコネクタIOをコネクタ
8と切り替える際の操作を説明したが、同じく切替領域
Aにおいてコネクタ14と結合していたコネクタ11を
コネクタ9と切り替える操作も上記と同様のコネクタ切
替装置を使用して行うことができる。これらのコネクタ
切替作業は同時に行うことが能率的である。
In addition, in FIG. 4 above, the operation for switching the connector IO connected to the connector 13 in the switching area A shown in FIG. 1 to the connector 8 was explained. The operation of switching the previously used connector 11 to the connector 9 can also be performed using the same connector switching device as described above. It is efficient to perform these connector switching operations at the same time.

第6図は本発明の光線路の試験方法の第2の実施例を示
す測定系の模式図であり、第1図に示した光力ブラフに
替えて2×2光カプラ30を使用している。この場合、
第1図のような光ジャンパ線12は不要であり、光フア
イバ4途中にはコネクタ13及び14による接続点が1
箇所形成されていればよい、2×2カプラ30は、例え
ば2本の光ファイバをその一部において融着結合させて
7形成したもので、4つのポー)30a〜30dを有す
るものである。そして、ボート30a及び30bにはコ
ネクタ31及び32が配設されている。更にボート30
cはパルス試験器(OTDR)5に接続され、ポー)3
0dの端面には全反射面33が形成されている。
FIG. 6 is a schematic diagram of a measurement system showing a second embodiment of the optical line testing method of the present invention, in which a 2×2 optical coupler 30 is used in place of the optical power bluff shown in FIG. There is. in this case,
The optical jumper wire 12 as shown in FIG.
The 2×2 coupler 30, which may be formed at any location, is, for example, formed by fusion-bonding two optical fibers at a portion thereof, and has four ports 30a to 30d. Connectors 31 and 32 are provided on the boats 30a and 30b. 30 more boats
c is connected to the pulse tester (OTDR) 5,
A total reflection surface 33 is formed on the end face 0d.

かかる試験系を光フアイバ4途中に挿入する場合、第7
図に示したように、光ファイバ4のコネクタ13と光カ
ブラ30のコネクタ31、及び光ファイバ4のコネクタ
14と光カプラ30のコネクタ32とを夫々接続する。
When inserting such a test system in the middle of the optical fiber 4, the seventh
As shown in the figure, the connector 13 of the optical fiber 4 and the connector 31 of the optical coupler 30 are connected, and the connector 14 of the optical fiber 4 and the connector 32 of the optical coupler 30 are connected, respectively.

このコネクタ切替操作も上記したようなコネクタ切替装
置を使用することにより、容易且つ短時間で行うことが
できる。
This connector switching operation can also be performed easily and in a short time by using the connector switching device as described above.

第7図において、試験時には、電気・光変換器(Elo
) 1の信号は光ファイバ4を通ってコネクタ13及び
31を介して光カプラ30のボート30aに導入され、
その後、カプラ30の融着部でボート30cと30dと
に分岐し、ボート30cから0TDR5に入力される。
In Figure 7, during the test, an electrical-to-optical converter (Elo
) 1 is introduced into the boat 30a of the optical coupler 30 through the optical fiber 4 and the connectors 13 and 31,
Thereafter, the signal branches into boats 30c and 30d at the fused portion of the coupler 30, and is inputted from the boat 30c to the 0TDR5.

一方、ボート30dに分岐した信号は全反射面33で全
反射して今度はカプラ30の融着部でボート30aと3
0bとに分岐してボート30bからコネクタ32およ−
びコネクタ14を介して光・電気変換器(0/E)2に
伝達される。この時、2×2カプラ30として1:1分
岐比のものを使用した場合、第8図(a)に示すように
、ボート30aから導入された信号を1とすると、ボー
ト30c及び30dへは夫々0.5ずつ伝達される。そ
して、第8図(b)に示すように、全反射面33で全反
射した信号はボート30aと30bとに1:1の比で分
岐される。従って、電気・光変換器(Elo)1から光
・電気変換器(0/E)2に伝達される信号は0.25
となり、入力時に比べて1/4に減衰される。従って、
第1図に示したtriカプラ7を使用した場合と比べる
と、ジャンパ線が不要であるという利点を有するものの
、反面、信号の減衰率が比較的大きくなることは避は難
い。
On the other hand, the signal branched to the boat 30d is totally reflected by the total reflection surface 33, and is then reflected between the boats 30a and 3 by the fused part of the coupler 30.
0b and from the boat 30b to the connector 32 and -
and is transmitted to the optical/electrical converter (0/E) 2 via the connector 14. At this time, when a 1:1 branching ratio is used as the 2×2 coupler 30, as shown in FIG. 0.5 of each is transmitted. Then, as shown in FIG. 8(b), the signal totally reflected by the total reflection surface 33 is branched to the boats 30a and 30b at a ratio of 1:1. Therefore, the signal transmitted from the electrical/optical converter (Elo) 1 to the optical/electrical converter (0/E) 2 is 0.25
The signal is attenuated to 1/4 compared to the input signal. Therefore,
Compared to the case where the tri coupler 7 shown in FIG. 1 is used, this has the advantage of not requiring jumper wires, but on the other hand, it is unavoidable that the signal attenuation rate becomes relatively large.

第9図は本発明の第3の実施例を示し、多芯ケーブルに
本発明の試験方法を適用した場合の測定系を模式的に表
したものである。この実施例に°おいて、試験系40は
0TDR5に接続されたl×5スキャンスイッチ(5芯
のうち1芯のみを選択する機能を有する)41.5芯テ
ープ42.5芯先合波分波器43、及び5芯テープ42
の両端に配設された5芯コネクタ44.45とから構成
される。
FIG. 9 shows a third embodiment of the present invention, and schematically represents a measurement system when the test method of the present invention is applied to a multicore cable. In this embodiment, the test system 40 consists of a 1×5 scan switch (having the function of selecting only one of the five cores) connected to the TDR5, a 41.5-core tape, and a 42.5-core combined waveform. Corrugator 43 and 5-core tape 42
5-core connectors 44 and 45 arranged at both ends of the connector.

一方、電気・光変換器(Elo)51と光・電気変換器
(0/E)52とが5芯光フアイバ53により接続され
ており、光フアイバ53途中には両端に5芯コネクタ5
4.55を有する5芯光ジヤンパ線56が、光ファイバ
53の途中に配設された5芯コネクタ57.58の間に
介在されている。
On the other hand, an electrical/optical converter (Elo) 51 and an optical/electrical converter (0/E) 52 are connected by a 5-core optical fiber 53, and 5-core connectors 5 are connected at both ends of the optical fiber 53.
A five-core optical jumper wire 56 having a diameter of 4.55 is interposed between five-core connectors 57 and 58 disposed in the middle of the optical fiber 53.

尚、図中破線Bで囲まれた領域はコネクタ切替領域であ
る。
Note that the area surrounded by the broken line B in the figure is the connector switching area.

このような構成において、試験時には、コネクタ切替領
域Bにおいて、光ジャンパ線56の両端のコネクタ54
.55を試験系40のコネクタ44.45に夫々切り替
えることにより、試験系40を光フアイバ53途中に挿
入する。この切替時にも前述したようなコネクタ切替装
置を使用することが可能である。
In such a configuration, during testing, the connectors 54 at both ends of the optical jumper wire 56 are connected in the connector switching area B.
.. 55 to the connectors 44 and 45 of the test system 40, the test system 40 is inserted midway through the optical fiber 53. It is possible to use the connector switching device as described above at the time of this switching as well.

上記の多芯ケーブルの試験系において、光カプラに代え
て光合波分波器を使用することにより、試験光に対する
挿入損失をゼロとしている。また、光スキヤンスイッチ
により5芯中の1芯を選択的に測定することができ、1
個の0TDRにより多芯のケーブルを順次測定すること
が可能となる。
In the multicore cable test system described above, the insertion loss for the test light is made zero by using an optical multiplexer/demultiplexer instead of an optical coupler. In addition, it is possible to selectively measure 1 out of 5 cores using an optical scan switch.
The 0TDR makes it possible to sequentially measure multi-core cables.

(発明の効果) 以上説明したように本発明によれば、被試験光線路中に
試験系を挿入して前記光線路の特性評価を行う試験方法
において、前記試験系を試験装置と該試験装置に接続さ
れ且つ両端にコネクタを有する光結合器とから構成する
とともに、前記光線路の少なくとも一箇所に一対のコネ
クタを配設し、試験時に、前記光結合器のコネクタと前
記光線路のコネクタとを接続することにより前記光線路
中に試験系を挿入することとしたので、従来の如く光線
路中に高価な試験用光部品を常設する必要がないため、
極めて経済的に光線路の特性評価試験を実施することが
できる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, in a test method for inserting a test system into an optical line under test and evaluating the characteristics of the optical line, the test system is connected to a test device and the test device. and an optical coupler that is connected to a Since the test system is inserted into the optical line by connecting the
Optical line characteristic evaluation tests can be carried out extremely economically.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図及び第2図は本発明の第1の実施例である光線路
の特性評価試験方法に使用する試験系の模式図、第3図
は本発明において使用するコネクタの構造を示す概念図
、第4図はコネクタ切替装置概念的構成図、第5図はコ
ネクタの切替操作を説明するための説明図、第6図及び
第7図は本発明の第2の実施例である光線路の特性評価
試験方法に使用する試験系の模式図、第8図は上記第2
の実施例における2×2カプラの試験時の動作を示す説
明図、第9図は本発明の第3の実施例である光線路の特
性評価試験方法に使用する試験系の模式図、第10図は
従来の光線路の特性評価試験方法に使用する試験系の模
式図である。 4・・・光ファイバ、5・・・パルス試験1m (OT
OR)、6・・・試験系、7・・・光カプラ、8.9.
10.11.13.14.15・・・コネクタ、16.
25.26・・・嵌合ビン、20・・・コネクタ切替装
置、30・・・2×2光カブラ、44.45.54.5
5.57.58・・・5芯コネクタ。
Figures 1 and 2 are schematic diagrams of a test system used in the optical line characteristic evaluation test method according to the first embodiment of the present invention, and Figure 3 is a conceptual diagram showing the structure of a connector used in the present invention. , FIG. 4 is a conceptual configuration diagram of a connector switching device, FIG. 5 is an explanatory diagram for explaining the connector switching operation, and FIGS. 6 and 7 are diagrams of an optical line according to a second embodiment of the present invention. The schematic diagram of the test system used in the characteristic evaluation test method, Figure 8, is the same as the above-mentioned 2.
FIG. 9 is a schematic diagram of the test system used in the optical line characteristic evaluation test method according to the third embodiment of the present invention. The figure is a schematic diagram of a test system used in a conventional optical line characteristic evaluation test method. 4...Optical fiber, 5...Pulse test 1m (OT
OR), 6... Test system, 7... Optical coupler, 8.9.
10.11.13.14.15... Connector, 16.
25.26...Mating bin, 20...Connector switching device, 30...2x2 optical coupler, 44.45.54.5
5.57.58...5-core connector.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被試験光線路中に試験系を挿入して前記光線路の
特性評価を行う試験方法において、前記試験系を試験装
置と該試験装置に接続され且つ両端にコネクタを有する
光結合器とから構成するとともに、前記光線路の少なく
とも一箇所に一対のコネクタを配設し、試験時に、前記
光結合器のコネクタと前記光線路のコネクタとを接続す
ることにより前記光線路中に試験系を挿入することを特
徴とする光線路の特性評価試験方法。
(1) In a test method in which a test system is inserted into an optical line under test to evaluate the characteristics of the optical line, the test system is connected to a test device and an optical coupler connected to the test device and having connectors at both ends. At the same time, a pair of connectors is disposed at at least one location on the optical path, and a test system is installed in the optical path by connecting the connector of the optical coupler and the connector of the optical path during the test. A test method for evaluating the characteristics of an optical line, which is characterized by inserting an optical line.
(2)前記光線路の一箇所に配設された一対のコネクタ
と前記光結合器のコネクタとを接続させる際に、予め前
記一対のコネクタの一方に隣接して前記光結合器のコネ
クタを配設しておき、前記一方のコネクタと、これと係
合する他方のコネクタとの係合を解除し、該一方のコネ
クタを前記他方のコネクタから前記光線路の光軸に直角
に離反する方向に、前記光結合器のコネクタと一体に移
動させ、前記光結合器のコネクタを前記一方のコネクタ
の移動前の位置まで移動させることにより、前記他方の
コネクタと前記光結合器のコネクタとを係合接続するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光線路の特
性評価試験方法。
(2) When connecting a pair of connectors arranged at one location of the optical path and a connector of the optical coupler, the connector of the optical coupler is arranged in advance adjacent to one of the pair of connectors. disengaging the one connector from the other connector that engages with it, and moving the one connector away from the other connector at right angles to the optical axis of the optical path. , by moving the connector of the optical coupler together with the connector of the optical coupler and moving the connector of the optical coupler to the position before the movement of the one connector, thereby engaging the other connector and the connector of the optical coupler. 2. The optical line characteristic evaluation test method according to claim 1, wherein the optical line is connected.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02151816A (en) * 1988-12-05 1990-06-11 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Optical fiber coupler
JPH02259709A (en) * 1989-03-31 1990-10-22 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Method for connecting optical fiber coupler

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