JPS6327988A - パタ−ン識別装置 - Google Patents

パタ−ン識別装置

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JPS6327988A
JPS6327988A JP61172406A JP17240686A JPS6327988A JP S6327988 A JPS6327988 A JP S6327988A JP 61172406 A JP61172406 A JP 61172406A JP 17240686 A JP17240686 A JP 17240686A JP S6327988 A JPS6327988 A JP S6327988A
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JP
Japan
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contour
image
curvature
pattern
average
Prior art date
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Pending
Application number
JP61172406A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunihiko Edamatsu
枝松 邦彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の属する技術分野】
本発明はテレビカメラなどの撮像手段を用い物体の形状
を検出する装置に関する。 なお以下各図において同一の符号は同一または相当部分
を示す。
【従来技術とその問題点】
従来、この種の形状識別方法としては、パターンマツチ
ング法や特徴抽出法などがある。 パターンマツチング法は識別対象物体のパターンの全体
または一部に関するデータを全て取り出し、これを標準
のものと照合して、識別する方法である。しかしながら
、この方法は対象物体の姿勢1位置を一定の条件に揃え
る必要がある。 対象物体の位置、姿勢をランダムにすると、膨大な標準
パターンを揃えて比較する必要がある。 そのため位置、姿勢の正規化を行って標準パターンと比
較することも考えられているが、完全ではない。 特徴抽出法は、対象物体のパターンの面積1周囲長、穴
の数、穴の面積1重心から輪郭までの半径の最大値およ
び最小値、X軸への投影最大値および最小値、Y軸への
投影最大値および最小値などを標準値と比較し判定する
方法である。この方法は各識別対象物体のパターンの形
状差が太き(ないと識別できない欠点がある。
【発明の目的] この発明は識別対象物体のパターン間の形状差が余り大
きくな(ても識別でき、また対象物体の位置、姿勢がラ
ンダムでも識別できるようなパターン識別装置を提供す
ることを目的とする。 【発明の要点] 本発明の要点は、対象物体の画像をラスター走査して画
像信号を出力する撮像手段(101)と、該画像信号を
2値化信号に変換する2値化手段(102)と、該2値
化信号を画像データとして記憶する画像メモリ(103
)と前記データをもとに、前記画像の輪郭画素を前記画
像の全輪郭にわたって順次追跡し、各輪郭画素の座標値
と、追跡方向コード(θ)とを出力する輪郭画素追跡手
段(輪郭点追跡手段201)と、前記画像の輪郭上で順
次隣接する所定の数の輪郭画素からなる区間(ΔS)に
おける、先頭の輪郭画素と後尾の輪郭画素との追跡方向
コード差(Δθ)に基づく輪郭曲率(μ)を求め、さら
に順次隣接する前記区間順の前記輪郭曲率の移動平均に
よる平均輪郭曲率(μ)を求める手段(輪郭曲率演算手
段202)と、前記区間順の前記平均輪郭曲率で表され
る平均輪郭曲率のパターンを特徴点を基準として正規化
する手段(正規化手段301)と、この正規化された平
均輪郭曲率パターンのデータと各種の標準の輪郭曲率パ
ターンデータとを対応する区間毎に比較し対象物体の形
状を特定する手段(類似度演算手段401)と、を備え
るようにした点にある。 【発明の実施例】・ 以下第1図〜第6図に基づいて本発明の詳細な説明する
。第1図は本発明装置の一実施例としての要部構成を示
すブロック図、第2図は追跡方向コードの説明図、第3
図は対象物体の輪郭パターンの例を示す図、第4図は第
3図に対応する輪郭曲率パターンの演算手順の説明図、
第5図は第3図に対応する輪郭曲率パターンを示す図、
第6図は各種の対象物体の形状とその輪郭曲率パターン
とを対比して示す図である。 第1図において、101は対象物体を1像するテレビカ
メラなどの撮像手段、102は↑造像手段101からラ
スター走査により送られる連続濃淡の画像信号を所定の
しきい値レベルによって2値化信号に変換する2値化手
段、103は前記2値化信号に基づいて画面内の各座標
別の画素データ(対象物体の画像パターンデータ)を−
時記憶する画像メモリで、第1図の後段部における演算
処理において、(造像手段101の画像走査のタイミン
グに無関係に、画像データの読出しを可能とするもので
ある。画像メモリ103には前記の演算処理を容易にす
るために、さらに撮像手段101の走査方向における、
対象物体の画像のランすなわち1走査線上に連続して並
ぶ前記画像の画素の数(また換言2すれば画像を1走査
線で切った時の画像部の長さ)、該走査線が最初に前記
画像に入る入口の画素(輪郭点の1つであり、ここでは
第3図のように輪郭追跡開始点POと呼ぶ)の座標など
も記憶されている。201は画像の輪郭に沿って輪郭点
を追跡しつつ、各輪郭点の座標と、該輪郭点から該輪郭
点に隣接する次の輪郭点に向う追跡方向を示す追跡方向
コードとを出力する輪郭点追跡手段である。 輪郭点の追跡は最初Y座標の値が最も小さく、かつその
中でX座標の値の最も小さい輪郭点としての前記輪郭追
跡開始点PO(第3図)から開始するものとし、画像の
輪郭(周)を反時計方向に追跡するものとする。このよ
うな輪郭点の追跡方法としては、本願出願人による特開
昭59−135579号「パターンの輪郭追跡方法」の
提案における方法を用いる。 この場合隣接の輪郭点の追跡方向と追跡方向コードθと
の関係は、第2図(B)で示され、追跡方向の角度の変
化(反時計方向の角度の増加を(+)、時計方向の角度
の増加を(−)とする。)と、追跡方向コード変化量Δ
θとの関係は第2図(A)に示される。 第3図は上述のような方法で外周の一部に“コ”の字状
の突起部Eを有する円形物体の画像の輪郭点を全輪郭に
わたって追跡した場合の輪郭パターンの例である。第3
図では各輪郭点における追跡方向と追跡方向コードθの
値が示されている。また5o−329は輪郭特徴点とし
ての前記突起部Eの前後を含む輪郭点を示す。 202は前記輪郭点追跡手段201から順次出力される
画像の輪郭点の座標値と追跡方向コードθからなる輪郭
点情報りから輪郭曲率を演算する輪郭曲率演算手段であ
る。 第4図はこの輪郭曲率演算手段202の演算処理の手順
の例の説明図であり、第3図における前記輪郭点5o−
329についての前記輪郭点情報りと、これに基づいて
、所定数の順次隣接する輪郭点で作られる区間(基準輪
郭区間ΔSと呼ぶ)あたりの追跡方向コード変化量Δθ
、つまり Δθ と定義される値の算出方法とその結果を示している。 ここで前記(11,(2)式は具体的には次のように表
わすことができる。即ち前記区間ΔSの中心の輪郭点の
番号を一般にiとしこの輪郭点に対応する輪郭曲率をμ
8.同じく平均輪郭曲率をU、とするとき、 輪郭曲率:μ、=θ(i+v+  −θ(i−%’) 
’−・(3)平均輪郭曲率ニア7、= 但しこの(31,(41弐において一般にθ、は番号j
の輪郭点の追跡方向コードθを意味しており、同じく式
(31,(41中のΔS、ΔS1は前記基準輪郭区間Δ
Sとして選んだ区間の先頭部と後尾部の各輪郭番号の差
を意味している。なお第4図の例ではΔS=4.Δ51
=2に選ばれている。 ここで第4図について説明すると、基準輪郭区間ΔSの
中央部の輪郭点としての輪郭点S2の原輪郭曲率μ2は
2つの単位輪郭区間(つまり1つの輪郭点から隣接の輪
郭点までの区間をいう)だけ先行する輪郭点S4の追跡
方向コードθ4の値6から、2つの単位輪郭区間だけ遅
れる輪郭点SOの追跡方向コードθ。の値6を差引いた
Oの値となる。同様にして輪郭点S3の原輸郭曲率μユ
は輪郭点S5の追跡方向コードθ5の値6から輪郭点S
1の追跡方向コードθ1の値6を差引いて0の値となり
、また輪郭点S8の原輪郭曲率μ。 は輪郭点SIOと86の追跡方向コードθ1゜とθ。 との差から−2が得られ、このようにして輪郭点82〜
S27の原輪郭曲率μ2〜μ27が順次求められる。 第5図はこのような輪郭の追跡に沿った前記第4図の原
輪郭曲率μの変化のパターンを破線カーブで示す。図の
横軸には輪郭点SO〜S29の番号0〜29がとられて
いる。図から明らかなようにこの破線カーブは折れ曲り
や凹凸が激しくそのままでは後述の類似度の相関演算等
には使えないので移動平均によりカーブを滑らかにした
ものが実線カーブの平均輪郭曲率μである。 この平均輪郭曲率μは第4図の原輪郭曲率μの値におい
て、成る輪郭点の原輪郭曲率μの値に、この例では、前
後1つづつの原輪郭曲率μの値を加えた3個の値の平均
値を各輪郭点について求めたものである。すなわち輪郭
点S3の平均輪郭曲率π3は、輪郭点S3とその前後の
輪郭点S4、S2の各原輪郭曲率μ3.μ4.μ2の平
均値である、従って 平均輪郭曲率μ3 = (0+1+0)/3=0.3と
して求められ、このようにして各輪郭点83〜S26の
平均輪郭曲率IJ3〜7i2.が順次求められる。 ところで対象物体の姿勢によって同一の対象物体でも第
5図のような平均輪郭曲率μのパターンの開始点は様々
となる。そこで正規化手段301を介し、輪郭上の特徴
点を原点として前記のような平均輪郭曲率パターンを正
規化する。前記特徴点としては、第3図に示すように全
輪郭点の座標値から求めた重心Gを求め、次にこの全輪
郭の形状を近似する楕円の前記重心Gを通る長軸方向M
を周知の方法によって求め、この方向Mにある輪郭点の
うち重心Gより遠い側にある輪郭点314もしくは31
5を特徴点として用いたり、あるいは重心位置から最遠
となる輪郭点316などを利用することができる。 次に第5図の平均輪郭曲率パターンの縦軸方向の値を正
規化するには、例えばこのパターン内の平均輪郭曲率i
の最大値を100としてパターン内各部の平均輪郭曲率
の値を比例的に置き換えればよい。 また前記平均輪郭曲率パターンの横軸方向の値を正規化
するには、例えば、各輪郭点と前記重心Gを結ぶ直線が
前記近似楕円長軸方向Mにおける突起部E側の方向とな
す角度を求め、この単位角度が単位基準長に対応するよ
うに第5図の横軸を置換える方法、あるいは第3図の全
輪郭点を1周したときの全周長が基準長に対応する形で
第5図の横軸を置き換える方法等がある。 次に第1図の類似度演算手段401は、前記のようにし
て求めた対象物体の正規化後の平均輪郭曲率μ0のパタ
ーンと、予め定められた各種の標準の形状についての正
規化された平均輪郭曲率μ。 のパターンとの相関を求め類似度Eを計算する。 即ち標準形状mに対する類似度Emは、次式(5)の但
しiは輪郭点の番号、1lsaiは標準形状mについて
の輪郭点iにおける正規化された平均輪郭について演算
(累計)を行うことをそれぞれ意味する。 類似度演算手段401は(5)式の類イ以度Emを番号
lxmの各標準形状について求め、さらにこのようにし
て求めたR4Q度E t、 E t、−・、Emの中で
最小となる類似度Elを求める。このようにして類似度
演算手段401は対象物体の形状が番号lの形状である
と識別する。
【発明の効果】
本発明によれば対象物体の画像パターンの輪郭点を追跡
して輪郭曲率の周方向の推移を求め、さらにこの輪郭曲
率の周方向の移動平均を求めて平均輪郭曲率パターンを
得たのち、このパターンを正規化し、次にこの正規化パ
ターンと各種の標準形状についての正規化された平均輪
郭曲率パターンとの相関値としての類似度を求め、この
類似度の大きさで対象物体の形状を特定することとした
ので、識別対象パターン間の形状差が余り大きくなくて
もその対象パターンを識別することができる。 例えば形状差が大きくないパターンの例を第6図に示す
。同図は基準輪郭区間ΔSの値を一定としたままで円形
部の一部にそれぞれ中挟および巾広の突起と溝のある形
状を左側に、その平均輪郭曲率μの検出パターンを右側
にまとめて対比したものである。この図から各識別対象
物体の形状は似ているがその平均輪郭曲率パターンは大
きく異なっていることがわかる。 また本発明では特徴点を原点として正規化を行った後、
相関演算を行っているので対象物体の位置、姿勢がラン
ダムでも識別が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一実施例としての要部構成を示す
ブロック図、第2図は追跡方向コードの説明図、第3図
は対象物体の輪郭パターンの例を示す図、第4図は第3
図に対応する輪郭曲率パターンの演算手順の説明図、第
5図は第3図に対応する輪郭曲率パターンを示す図、第
6図は各種の対象物体と、その輪郭曲率パターンとを対
比して示す図である。 101:撮像手段、102:2値化手段、103  :
画像メモIJ、201:輪郭点追跡手段、202:輪郭
曲率演算手段、301:正規化手段、401:類似度演
算手段、θ:追跡方向コード、ΔS二基準輪郭区間、μ
: (原)輪郭曲率、Ti:平均輪郭曲率、E第2図 輪郭追跡宅誌・憇 シtイふ“人才噴円長岸由idη 第3囚 第4図 Cつ    〜    −0+     (へ)yJ2
R?訃+−1至 ←−− 對コ=社←[ r−輪郭追跡方向 オ6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)対象物体の画像をラスター走査して画像信号を出力
    する撮像手段と、該画像信号を2値化信号に変換する2
    値化手段と、該2値化信号を画像データとして記憶する
    画像メモリと前記データをもとに、前記画像の輪郭画素
    を前記画像の全輪郭にわたって順次追跡し、各輪郭画素
    の座標値と、追跡方向コードとを出力する輪郭画素追跡
    手段と、前記画像の輪郭上で順次隣接する所定の数の輪
    郭画素からなる区間における、先頭の輪郭画素と後尾の
    輪郭画素との追跡方向コード差に基づく輪郭曲率を求め
    、さらに順次隣接する前記区間順の前記輪郭曲率の移動
    平均による平均輪郭曲率を求める手段と、前記区間順の
    前記平均輪郭曲率で表される平均輪郭曲率のパターンを
    特徴点を基準として正規化する手段と、この正規化され
    た平均輪郭曲率パターンのデータと各種の標準の輪郭曲
    率パターンデータとを対応する区間毎に比較し対象物体
    の形状を特定する手段と、を備えたことを特徴とするパ
    ターン識別装置。
JP61172406A 1986-07-22 1986-07-22 パタ−ン識別装置 Pending JPS6327988A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007172409A (ja) * 2005-12-22 2007-07-05 Matsushita Electric Works Ltd 画像処理方法

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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