JPS63279138A - Method and apparatus for measuring particle size distribution - Google Patents

Method and apparatus for measuring particle size distribution

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Publication number
JPS63279138A
JPS63279138A JP62115635A JP11563587A JPS63279138A JP S63279138 A JPS63279138 A JP S63279138A JP 62115635 A JP62115635 A JP 62115635A JP 11563587 A JP11563587 A JP 11563587A JP S63279138 A JPS63279138 A JP S63279138A
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JP
Japan
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particle size
size distribution
image
particulate material
linear sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP62115635A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuaki Ichinose
一瀬 康明
Nobuhiko Takeda
信彦 武田
Katsuaki Miyazawa
宮沢 克明
Masaaki Matsui
松井 正昭
Fumio Imai
今井 文雄
Takashi Nakamori
中森 孝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIREKO KK
Nireco Corp
Nippon Steel Corp
Original Assignee
NIREKO KK
Nireco Corp
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NIREKO KK, Nireco Corp, Nippon Steel Corp filed Critical NIREKO KK
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Publication of JPS63279138A publication Critical patent/JPS63279138A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0227Investigating particle size or size distribution by optical means using imaging; using holography

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)

Abstract

PURPOSE:To achieve an on-line application in the measurement of a particle size distribution, by performing a 2-D accumulation of an optical image of particle material moving in a space to analyze. CONSTITUTION:A bar-like light source is arranged in front of a linear sensor camera 1. Particulate material 3 is conveyed with a sample supply conveyor 4, drops naturally at the tip of the conveyor and passes a measuring point within a field of view of the linear sensor camera 1. 1-D information corresponding to the width of each particle from the linear sensor camera 1 is written into image memories 5, 5', 5''... sequentially to obtain 2-D information as plane image of each particle. Information per screen on a memory is transferred to a large-capacity recorder 6 sequentially. The large-capacity recorder 6 transfers information in dispersion per screen to a plurality of image analyzers 7, 7', 7''... after recording for specified screens to perform a calculation of a classification data. The data thus obtained is transmitted to a controller 8 to be displayed on a printer 9 and a CRT 10 as particle size distribution data.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は鉱石、コークス、ペレット等の粒子材料を搬送
コンベア等により落下供給する際に光学的に各粒子材料
の粒度分布を測定するシステム及び装置に関するもので
ある。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention relates to a system for optically measuring the particle size distribution of each particulate material such as ore, coke, pellets, etc. when the particulate material is supplied by a conveyor or the like. It is related to the device.

[従来の技術] 従来、この種の粒子材料の粒度分布を測定する装置とし
ては、各分級点に対応して造った篩があり、これにより
、その篩目に応じて機械的に篩分けした粒子材料を各分
級毎に重量測定し、その粒度分布を算出するようにして
いた。
[Prior Art] Conventionally, as a device for measuring the particle size distribution of this type of particulate material, there is a sieve made corresponding to each classification point. The weight of the particle material was measured for each classification, and the particle size distribution was calculated.

[93明が解決しようとする問題点] かように粒子材料を手作業で篩分けして各分級毎にその
重量測定を行ない粒度分布を算出する場合には測定に長
時間を必要とし、従って、オンライン的な測定は不可源
であった。
[Problems that 93 Mei attempts to solve] When calculating the particle size distribution by manually sieving the particulate material and measuring the weight of each classification, it takes a long time to measure, and therefore it takes a long time. , online measurements were not possible.

本発明は、上述した欠点を排除し、オンライン上で各粒
子材料の粒度分布を光学的に測定し、その測定結果を各
装置の制御ファクタとして有効に利用し得るようにして
システムの自動化及び簡略化を計るようにした粒子材料
の粒度分布測定システム及び装置を提供することを目的
とするものである。
The present invention eliminates the above-mentioned drawbacks, and enables automation and simplification of the system by optically measuring the particle size distribution of each particle material online and effectively using the measurement results as a control factor for each device. It is an object of the present invention to provide a system and apparatus for measuring the particle size distribution of particulate materials.

[問題点を解決するための手段及び作用]本発明粒度分
布4X定システムは、粒子状材料が空間を落下又は移動
する過程において光学手段により一次元イメージの粒子
状材料の像を得ると共にこの粒子状材料像を複数個の画
像メモリに順次記録し、1画面の形成を完了した画像メ
モリから順次大容量記録装置に転送し、所定の画面をこ
の記録装置に連続して録画することを特徴とする。
[Means and effects for solving the problem] The particle size distribution 4X determination system of the present invention obtains a one-dimensional image of the particulate material by optical means during the process of the particulate material falling or moving in space, and It is characterized by sequentially recording images of the shaped material in a plurality of image memories, sequentially transferring images from the image memory in which one screen has been formed to a large-capacity recording device, and continuously recording a predetermined screen on this recording device. do.

前記大容量記録装置に録画された画像を複数の画像解析
装置に1画面づつ転送し分散解析し得るようにする。
Images recorded in the large-capacity recording device are transferred one screen at a time to a plurality of image analysis devices for distributed analysis.

本発明粒度分布測定装置は、空間を落下又は移動する粒
子状材料の光学像を取り出す光学装置と、この光学装置
からの粒子状材料像を2次元的に蓄積する画像メモリと
、この画像メモリの出力を記録する大容量記録装置と、
この記録装置のデータを解析する画像解析装置と、この
画像解析装置のデータを総合して粒度分布データをプリ
ンタ及び表示装置又はコンピュータに供給するコントロ
ーラとを具備することを特徴とする。
The particle size distribution measuring device of the present invention includes an optical device that takes out an optical image of particulate material falling or moving in space, an image memory that two-dimensionally stores images of the particulate material from this optical device, and a a large-capacity recording device that records the output;
It is characterized by comprising an image analysis device that analyzes data from this recording device, and a controller that integrates the data from this image analysis device and supplies particle size distribution data to a printer, a display device, or a computer.

以下図面により本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to the drawings.

第1図は本発明のシステムを実施する装置の基本構成ブ
ロック図を示す0図中1はリニアセンサカメラで後述の
測定点における粒度材料の落下速度に対応した走査間隔
で常時走査を行なうようにしている。このリニアセンサ
カメラlの前方に棒状光fi2を配設する。この光源2
として蛍光釘等、棒状ハロゲンランプ等を使用すること
ができる0粒子状材料3は、材料供給コンベア4により
搬送されてコンベアー先端で自然落下し、リニアセンサ
カメラl及び棒状光源2より形成するリニアセンサカメ
ラlの視野内の測定点を通過し得るようにする。すなわ
ち、リニアセンサカメラlは各走査毎に粒子の幅に対応
する一次元情報を得ることができる。この−次元情報を
順次画像メモリ5.5’、5’・・・に書き込むことに
より各粒子の平面像としての2次元情報を得ることがで
きる。
Figure 1 shows a basic configuration block diagram of a device implementing the system of the present invention. In Figure 0, 1 is a linear sensor camera that constantly scans at scan intervals corresponding to the falling speed of the granular material at the measurement point, which will be described later. ing. A rod-shaped light fi2 is arranged in front of this linear sensor camera l. This light source 2
The particulate material 3 is conveyed by a material supply conveyor 4 and naturally falls at the tip of the conveyor, and a linear sensor formed by a linear sensor camera l and a rod-shaped light source 2 is used as a particulate material 3. It is possible to pass through the measurement point within the field of view of camera l. That is, the linear sensor camera l can obtain one-dimensional information corresponding to the particle width for each scan. By sequentially writing this -dimensional information into the image memories 5.5', 5', . . . , two-dimensional information as a planar image of each particle can be obtained.

かかるシステムの原理はすでに特願昭57−19080
9号明細書に記載されているが念のため視野幅、落下速
度、走査間隔の関係を以下に示す。
The principle of such a system has already been proposed in Japanese Patent Application No. 57-19080.
Although it is described in the specification of No. 9, the relationship among the field of view width, falling speed, and scanning interval is shown below just in case.

リニアセンサカメラlの操作間隔は分解能の縦横比が等
しくなるように決定する必要がある0例えばりニアセン
サカメラとして512ビツトのりニアセンサを使用し測
定視野幅を512m/腸に設定した場合には横方向の分
解tbはビット当り1mmとなり、従って縦方向の分解
f蔚を1履履/スキヤンにするためには測定点における
粒子材料の落下速度に対し、操作間隔Tを、対象物が1
mm移動する時間とする必要がある9例えば測定点にお
ける対象物落下測定を5■11+/secとすると操作
間隔T = 5xlo3= 0.0002sec = 
2001Lseeリニアセンサカメラlからの映像信号
の概念を第2図に示す。
The operation interval of the linear sensor camera l must be determined so that the aspect ratio of the resolution is equal. The directional resolution tb is 1 mm per bit, and therefore, in order to reduce the longitudinal resolution f to 1 foot/scan, the operating interval T must be set to 1 for the falling velocity of the particle material at the measurement point.
It is necessary to take the time to move mm.9 For example, if the falling measurement of the object at the measurement point is 5■11+/sec, the operation interval T = 5xlo3 = 0.0002sec =
The concept of the video signal from the 2001Lsee linear sensor camera I is shown in FIG.

走査No、0においては対象物である粒子はまだカメラ
の撮像位tに達していないためカメラからの映像信号は
フラット状態である。走査No、1では粒子の下部が撮
像位δに達し、これにより棒状光源2からの光をさえぎ
るためリニアセンサー上の対応するビットの出力レベル
は低下している。
At scan No. 0, the particle as the object has not yet reached the imaging position t of the camera, so the video signal from the camera is in a flat state. In scan No. 1, the lower part of the particle reaches the imaging position δ, and this blocks the light from the rod-shaped light source 2, so the output level of the corresponding bit on the linear sensor is reduced.

走査No、2.3.4となるに従って粒子位置が移動し
、これにともなって対応ビット数は増加し、走査No、
6で粒子の上限が撮像され、走査No、7で再びリニア
センサカメラlの視野内から粒子が流出し映像信号はフ
ラット状態になる。
The particle position moves as the scan number becomes 2.3.4, and the number of corresponding bits increases accordingly.
At scan No. 6, the upper limit of particles is imaged, and at scan No. 7, the particles flow out again from within the field of view of the linear sensor camera l, and the video signal becomes flat.

第1図において、5.5’、5”・・・は互に独立した
複数の画像メモリを示す、カメラlからの映像信号は画
面毎に画像メモリ5.5’、5″・・・のIInに書き
込まれメモリ上で一画面分の書き込みが完了したメモリ
はディスクレコーダ等の大容量記録袋δ6へ順次データ
伝送を行い次の書き込みに対し備えることになる。
In Fig. 1, 5.5', 5''... indicate a plurality of mutually independent image memories, and the video signal from camera l is sent to the image memory 5.5', 5''... for each screen. The memory that has been written to IIn and has completed writing for one screen on the memory will sequentially transmit data to a large-capacity recording bag δ6 such as a disk recorder to prepare for the next writing.

ディスクレコーダ等の大容量記録袋δ6は所定画面の録
画後視数の画像解析装置7.7’。
A large-capacity recording bag δ6 such as a disk recorder is an image analysis device 7.7' for recording and viewing a predetermined screen.

7″・・・に画面毎に分散転送し、最適ソフトにより分
級データ算出を行い、このデータをコントローラ8へ伝
送する。コントローラ8は各画像解析装置7.7’、7
″・・・からのデータを総合して粒度分布データーとし
てプリンター9.CRTIO等へ表示すると共に上位コ
ンピュータへ伝送する。
7''..., the classification data is calculated using the optimal software, and this data is transmitted to the controller 8.The controller 8 is connected to each image analysis device 7, 7', 7
The data from ``...'' are combined and displayed as particle size distribution data on a printer 9.CRTIO, etc., and also transmitted to a host computer.

CRTIO上に表示された粒度分4jデータの一例を第
1図に10′として示す。
An example of the granularity 4j data displayed on the CRTIO is shown as 10' in FIG.

上述したように本発明システムによれば粒度分布の測定
をオンライン化することができる。
As described above, according to the system of the present invention, particle size distribution can be measured online.

[実施例] 本発明装置の実施例を第3図により説明する。[Example] An embodiment of the device of the present invention will be described with reference to FIG.

カメラlより取り込まれた映像信号に対しシェーディン
グ補正回路11により照明ムラによる映像信号の不均衡
を補正するためのシェーディング補正信号を走査位置に
合せて加算回路12に出力する。加算回路12はカメラ
lからの映像信号とシェーディング補正信号とを加算し
カメラ視野内に粒子のない場合はフラットな映像信号を
出力し得るようにする。
A shading correction circuit 11 outputs a shading correction signal for correcting the imbalance of the video signal due to uneven illumination to the video signal taken in from the camera l to the addition circuit 12 in accordance with the scanning position. The adding circuit 12 adds the video signal from the camera 1 and the shading correction signal so that a flat video signal can be output when there are no particles within the field of view of the camera.

A/D変換器13はアナログレベルの映像信号をディジ
タル化する。スレッシオルトレベル設定器14はディジ
タル化された映像信号に対し2値化のためのスレッショ
ルド設定を行う、従って比較器15は設定器14からの
スレッショルドレベルとA/D変換器13の出力とを比
較し、映像信号レベルが高い時は2値化信号“1″を出
力し、逆に映像信号レベルが低い時はz値化信号“0”
を出力する。
The A/D converter 13 digitizes the analog level video signal. The threshold level setter 14 sets a threshold for binarizing the digital video signal. Therefore, the comparator 15 compares the threshold level from the setter 14 with the output of the A/D converter 13. By comparison, when the video signal level is high, a binary signal “1” is output, and conversely, when the video signal level is low, a z-value signal “0” is output.
Output.

クロック発振器16はリニアセンサカメラlのシフトク
ロックに等しいメモリ書き込みクロックと、標準TVス
キャンに等しいメモリ読み出しクロックを発生する。ク
ロック切換回路17及び18は後述のメモリ制御回路2
5により書き込みクロックと読み出しクロックとを1画
面毎に交互に選択出力するようにコントロールされる。
A clock oscillator 16 generates a memory write clock equal to the shift clock of the linear sensor camera l and a memory read clock equal to a standard TV scan. Clock switching circuits 17 and 18 are memory control circuit 2, which will be described later.
5, the write clock and the read clock are controlled to be selectively output alternately for each screen.

アドレスカウンター19及び20は、クロック切換回路
17及び18より出力されるクロックをカウントし、出
力としてメモリアドレス19′。
Address counters 19 and 20 count the clocks output from clock switching circuits 17 and 18, and output memory address 19'.

20’を出力し、画像メモリ21及び22に夫々供給す
る。これら画像メモリ21.22は互に独立した画像メ
モリで一方が書き込みモードの時は他方は読み出しモー
ドになるようにメモリ制御回路25により制御されてい
る。書き込みモードに設定されたメモリに対しては該当
するアドレスカウンタ19又は20の指定するメモリア
ドレスに対し、比較器15の出力が書き込まれていく0
例えば映像信号レベルがスレッシボルドレベルより低い
場合は粒子像と判断されメモリ上にθレベルが書き込ま
れる。メモリ制御回路25は水平同期信号27、垂直同
期信号28のタイミングに合せクロック切換回路17及
び18の制御並びに画像メモリ21及び22の書き込み
モード又は読み出しモードの設定を行う、すなわち一方
の画像メモリが書き込みモードに設定された時は対応す
るアドレスカウンターは書き込みクロックが与えられ、
他方のメモリは読み出しモードに設定され、対応するア
ドレスカウンタは標準TVスキャンに等しい読み出しク
ロックが与えられ、1フレームサイクル前に書き込まれ
たデータを読み出し、このデータをメモリ切換回路23
を介して同期信号加算回路24に入力する。
20' is output and supplied to image memories 21 and 22, respectively. These image memories 21 and 22 are independent image memories, and are controlled by the memory control circuit 25 so that when one is in the write mode, the other is in the read mode. For a memory set to write mode, the output of the comparator 15 is written to the memory address specified by the corresponding address counter 19 or 20.
For example, if the video signal level is lower than the threshold level, it is determined that it is a particle image, and the θ level is written in the memory. The memory control circuit 25 controls the clock switching circuits 17 and 18 in accordance with the timing of the horizontal synchronization signal 27 and the vertical synchronization signal 28, and sets the write mode or read mode of the image memories 21 and 22. That is, one image memory is in the write mode. When set to mode, the corresponding address counter is given the write clock,
The other memory is set to read mode, and the corresponding address counter is given a read clock equal to a standard TV scan, reads the data written one frame cycle ago, and transfers this data to the memory switching circuit 23.
The signal is inputted to the synchronization signal addition circuit 24 via.

同期信号加算回路24は2値化映像性号に水平同期信号
27及び垂直同期信号28を加算し複合映像信号として
ディスクレコーダ29に対し出力し、録画する。ディス
クレコーダ29に対しては、コントローラ30により記
録、 i’f’L、早送り、早戻し、正転、逆転、アド
レスセット、アドレスサーチ等のモード設定を行うよう
にする0例えばコントローラ30はメモリ制御回路25
よりメモリ占き込み完了信号を受けると正転、記録モー
ドをディスクレコーダ29に出力し、同期信号加算回路
24から出力される複合映像信号を記録し得るようにす
る。所定画面数録画後コントローラ30は録画開始時の
先頭アドレスをセットし、サーチモードにより再生開始
アドレスを探し出し第1画面より画像解析型2131及
び32に交互に解析完了信号を待って映像信号を送り出
す。
A synchronization signal addition circuit 24 adds a horizontal synchronization signal 27 and a vertical synchronization signal 28 to the binarized video signal and outputs the result as a composite video signal to a disk recorder 29 for recording. For the disk recorder 29, the controller 30 performs mode settings such as recording, i'f'L, fast forward, fast reverse, forward rotation, reverse rotation, address set, and address search. For example, the controller 30 performs memory control. circuit 25
When it receives a memory allocation completion signal, it outputs the normal rotation and recording mode to the disk recorder 29, so that the composite video signal output from the synchronization signal addition circuit 24 can be recorded. After recording a predetermined number of screens, the controller 30 sets the top address at the start of recording, searches for a playback start address in a search mode, and sends a video signal from the first screen to the image analysis types 2131 and 32 alternately after waiting for an analysis completion signal.

画像解析型2131及び32は最適ソフトにより各々所
定画面数の分級データを算出し、その結果をコントロー
ラ30に伝送する。コントローラ30は両解析装置31
及び32の結果を総合し粒度分布データとして表示装置
であるCRT9及び記録装置であるプリンタlO等へ出
力すると共に上位コンピューターへも結果を伝送する。
The image analysis types 2131 and 32 each calculate classification data for a predetermined number of screens using optimal software, and transmit the results to the controller 30. The controller 30 is connected to both analysis devices 31
The results of steps 32 and 32 are combined and output as particle size distribution data to a display device such as a CRT 9 and a recording device such as a printer 10, and the results are also transmitted to a host computer.

[°発明の効果] 上述したように木発IIによれば、オンライン上での粒
子材料の粒度分布all定を行なうことができ、従って
測定の自動化を計ることができる。
[°Effects of the Invention] As described above, according to Kiba II, all particle size distributions of particle materials can be determined online, and therefore measurement can be automated.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明粒度分布測定システムを実施する装置を
示すブロック図、 第2図はリニアセンサカメラの出力映像信号の状fEi
を示す説明図、 第3図は本発明粒度分布測定装置の詳細な構成を示すブ
ロック図である。 1・・・リニアセンサカメラ 2・・・棒状光源 3・・・粒子状材料 4・・・材料搬送コンベア 5.5’、5“、21.22・・・画像メモリ6.29
・・・ディスクレコーダ 7.7’、7″、31.32・・・画像解析装置8.3
0・・・コントローラ 11・・・シェーディング補正回路 12・・・加算回路 13・・・A/D変換器 14・・・スレッショルド設定器 15・・・比較器 16・・・クロック発振器 17.18・・・クロック切換回路 19.20・・・アドレスカウンタ 23・・・メモリ切換回路 24・・・周期信号加算回路 25・・・メモリ制御回路 26・・・同期信号発生器 27・・・水平同期信号 28・・・垂直同期信号
[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a block diagram showing an apparatus for implementing the particle size distribution measuring system of the present invention, and Fig. 2 shows the state of the output video signal fEi of the linear sensor camera.
FIG. 3 is a block diagram showing the detailed configuration of the particle size distribution measuring device of the present invention. 1... Linear sensor camera 2... Rod-shaped light source 3... Particulate material 4... Material conveyor 5.5', 5", 21.22... Image memory 6.29
...Disk recorder 7.7', 7'', 31.32...Image analysis device 8.3
0...Controller 11...Shading correction circuit 12...Addition circuit 13...A/D converter 14...Threshold setter 15...Comparator 16...Clock oscillator 17.18... ... Clock switching circuit 19.20 ... Address counter 23 ... Memory switching circuit 24 ... Periodic signal addition circuit 25 ... Memory control circuit 26 ... Synchronization signal generator 27 ... Horizontal synchronization signal 28...Vertical synchronization signal

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)粒子状材料が空間を落下又は移動する過程におい
て光学手段により一次元イメージの粒子状材料の像を得
ると共にこの粒子状材料像を複数個の画像メモリに順次
記録し、1画面の形成を完了した画像メモリから順次大
容量記録装置に転送し、所定の画面をこの記録装置に連
続して録画することを特徴とする粒度分布測定方法。
(1) In the process of the particulate material falling or moving in space, a one-dimensional image of the particulate material is obtained by optical means, and this particulate material image is sequentially recorded in multiple image memories to form one screen. A particle size distribution measuring method characterized by sequentially transferring images from an image memory that has completed the process to a large-capacity recording device, and continuously recording predetermined screens on this recording device.
(2)前記大容量記録装置に録画された画像を複数の画
像解析装置に1画面づつ転送し分散解析することを特徴
とする特許請求の範囲 第1項に記載の粒度分布測定方法。
(2) The particle size distribution measuring method according to claim 1, wherein the images recorded in the large-capacity recording device are transferred one screen at a time to a plurality of image analysis devices for dispersion analysis.
(3)光学装置は棒状光源と、リニアセンサカメラとを
備えることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
粒度分布測定方法。
(3) The particle size distribution measuring method according to claim 1, wherein the optical device includes a rod-shaped light source and a linear sensor camera.
(4)大容量記録装置をディスクレコーダとしたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の粒度分布測定
方法。
(4) The particle size distribution measuring method according to claim 1, wherein the large-capacity recording device is a disk recorder.
(5)空間を落下又は移動する粒子状材料の光学像を取
り出す光学装置と、この光学装置からの粒子状材料像を
1次的に蓄積する画像メモリと、この画像メモリの出力
を記録する大容量記録装置と、この記録装置のデータを
解析する画像解析装置と、この画像解析装置の データを総合して粒度分布データをプリンタ及び表示装
置又はコンピュータに供給するコントローラとを備える
ことを特徴とする粒度分布測定装置。
(5) An optical device that takes out an optical image of particulate material falling or moving in space, an image memory that primarily stores images of the particulate material from this optical device, and a large memory that records the output of this image memory. It is characterized by comprising a capacitance recording device, an image analysis device that analyzes data of this recording device, and a controller that integrates the data of this image analysis device and supplies particle size distribution data to a printer, a display device, or a computer. Particle size distribution measuring device.
(6)光学装置は棒状光源と、リニアセンサカメラとを
備えることを特徴とする特許請求の範囲に第5項記載の
粒度分布測定装置。
(6) The particle size distribution measuring device according to claim 5, wherein the optical device includes a rod-shaped light source and a linear sensor camera.
JP62115635A 1987-05-12 1987-05-12 Method and apparatus for measuring particle size distribution Pending JPS63279138A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5074158A (en) * 1990-08-03 1991-12-24 Hajime Industries Ltd. Powder granule sample inspection apparatus
US5157976A (en) * 1990-07-27 1992-10-27 Hajime Industries Ltd. Powder granule sample inspection apparatus

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