JPS6326160A - Picture reader - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、ファクシミリ、複写機などの事務機器等に
おいて、原稿などを読み取らせるのに用いて好適な画像
読取装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION "Field of Industrial Application" The present invention relates to an image reading device suitable for use in reading documents, etc. in office equipment such as facsimiles and copying machines.
「従来の技術」
近年、原稿などを読み取る画像読取装置として、ＣＣＤ
（Ｃｈａｒｇｅ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｄｅｖｉｃｅ）イ
メージセンサを用いたものが開発されている。"Conventional technology" In recent years, CCD has been used as an image reading device for reading manuscripts, etc.
(Charge Coupled Device) A device using an image sensor has been developed.
第３図はこの種の画像読取装置の構成を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing the configuration of this type of image reading device.
この図において、Ｉ−１〜に、は１次元のＣＣＤイメー
ジ・センサ（ラインセンサ）であり、これらＣＣＤイメ
ージ・センサｌ−１〜Ｉ、は直線状に配置され、これに
より原稿読取部Ｒが構成されている。各ＣＣＤイメージ
・センサ１−１〜１−ｎは、１列のフォト・ダイオード
群からなる光電変換部と、前記フォト・ダイオード群に
対応して設けられたフォト・ゲート群からなる電荷蓄積
部と、この電荷蓄積部に蓄積された電荷をＣＣＤアナロ
グ・シフトレジスタに一括転送するフォト・トランスフ
ァーゲートと、転送された蓄積電荷を出力端まで移送す
る前記ＣＣＤアナログ・シフトレノスタとを有している
。そして、図示せぬ駆動回路から供給される電荷転送パ
ルスによって前記フォト・トランスファーゲートを開き
、各画素の蓄積電圧をＣＣＤアナログ・シフトレジスタ
に一括転送する。また、前記駆動回路から供給されるク
ロックパルスによって、ＣＣＤアナログ・シフトレジス
タ内の電荷が出力端へ送られ、前記フォト・ダイオード
群から転送された画素信号（アナログ信号）が出力信号
Ｓ１として逐次直列に出力される。In this figure, I-1 to I are one-dimensional CCD image sensors (line sensors), and these CCD image sensors l-1 to I are arranged in a straight line, so that the document reading section R is It is configured. Each of the CCD image sensors 1-1 to 1-n includes a photoelectric conversion section consisting of a row of photodiodes, and a charge storage section consisting of a photogate group provided corresponding to the photodiode group. , a photo transfer gate that transfers the charges accumulated in the charge storage section to the CCD analog shift register in a batch, and the CCD analog shift register that transfers the transferred accumulated charges to the output terminal. Then, the photo transfer gate is opened by a charge transfer pulse supplied from a drive circuit (not shown), and the accumulated voltage of each pixel is transferred all at once to the CCD analog shift register. In addition, the charge in the CCD analog shift register is sent to the output terminal by the clock pulse supplied from the drive circuit, and the pixel signals (analog signals) transferred from the photodiode group are serially serialized as the output signal S1. is output to.
ここで、各ＣＣＤイメージセンサ１．〜ｌ−７の出力信
号Ｓｌは、第４図に示すように上限が一定（４，５〜６
．５Ｖ）に保たれ、この上限を基準に下方に画素信号（
最小０．８ Ｖ）Ｌ、、Ｌ！、Ｌ３・・・が生じている
。また、１ライン期間の始めには、読み取りに関係のな
いダミー信号が送られ、このダミー信号の中には、受光
面がシールドされ光が完全に入らない部分から出力され
る光シールド画素信号Ａが２４画素分含まれている。そ
して、このダミー信号の後に、原稿読み取りに基づく有
効画素信号Ｂが送出されるようになっている。この場合
、第４図の波形の上限電圧レベルは、各ＣＣＤイメージ
センサ１−７〜ｔ−ｎ毎にバラツキがあり、有効画素信
号Ｂの各レベルＬｌ、Ｌ２．・・・をそのままデジタル
信号に変換すると、各ＣＣＤイメージセンサ１−．〜ｔ
−ｎＦｈにバラツキが生じてしまう。Here, each CCD image sensor 1. The upper limit of the output signal Sl of ~l-7 is constant (4, 5~6
．． 5V), and the pixel signal (
Minimum 0.8 V) L,,L! , L3... are occurring. Also, at the beginning of one line period, a dummy signal unrelated to reading is sent, and this dummy signal includes a light shield pixel signal A that is output from a portion where the light receiving surface is shielded and no light enters. contains 24 pixels. After this dummy signal, an effective pixel signal B based on document reading is sent out. In this case, the upper limit voltage level of the waveform in FIG. 4 varies for each CCD image sensor 1-7 to tn, and the levels L1, L2, . . . are converted directly into digital signals, each CCD image sensor 1-. ~t
- Variations occur in nFh.
そこで、第３図に示すように、各ＣＣＤイメージセンサ
ｌ−ｔ〜ｌ−０毎に、サンプル・ホールド回路３−８〜
３−ｎと、差動アンプ４−、〜４−ｎと、Ａ／Ｄ変換回
路５−１〜５−ｎとが各々設けられている。Therefore, as shown in FIG. 3, for each CCD image sensor l-t to l-0, sample and hold circuits
3-n, differential amplifiers 4-, to 4-n, and A/D conversion circuits 5-1 to 5-n, respectively.
各サンプル・ホールド回路１．〜３−０は各ＣＣＤイメ
ージ・センサ１−３〜ｌ−ｎの出力の内の光シールド信
号ＡのレベルＬｒを基準電圧としてサンプル・ホールド
するもので、また、各差動アンプ４−１〜４−ｎは各サ
ンプル・ホールド回路３−０〜３−ｎから出力される基
準電圧Ｌｒと各ＣＣＤイメージセンサｌ、〜１−ｎから
出力される有効画素信号ＢのレベルＬ 、、Ｌ ！＋・
・・との差を取るものである。そして、各差動アンプ４
□〜＋−ｎの出力はＡ／Ｄ変換回路５−、〜５−ｎによ
って各々デジタル信号に変換され、さらにパスバッファ
６−３〜６−ｎを各々介して、パスラインに出力され、
コンピュータによって画像処理されるようになっている
。この場合、各パスバッファ６−１〜６−、に対して順
次選択信号を供給する切替回路７が設けられており、各
パスバッファ６−１〜６−ｎは切換回路７から選択信号
が供給された場合に、各Ａ／Ｄ変換回路５−１〜５−。Each sample/hold circuit1. ~3-0 is for sampling and holding the level Lr of the optical shield signal A among the outputs of each CCD image sensor 1-3~l-n as a reference voltage, and each differential amplifier 4-1~ 4-n is the reference voltage Lr output from each sample-and-hold circuit 3-0 to 3-n and the level L,,L! of the effective pixel signal B output from each CCD image sensor l, to 1-n. +・
It takes the difference between... And each differential amplifier 4
The outputs of □ to +-n are respectively converted into digital signals by A/D conversion circuits 5- and 5-n, and further output to the path lines via path buffers 6-3 to 6-n, respectively.
The image is now processed by a computer. In this case, a switching circuit 7 is provided that sequentially supplies a selection signal to each of the path buffers 6-1 to 6-, and a selection signal is supplied from the switching circuit 7 to each of the path buffers 6-1 to 6-n. each A/D conversion circuit 5-1 to 5-.
から出力された画像信号をパスラインに各々出力するよ
うになっている。The image signals output from the two are output to the respective pass lines.
「発明が解決しようとする問題点」
ところで、上述した従来の画像読取装置においては、サ
ンプル・ホールド回路３−１〜３−ｎと、差動アンプ４
−、〜４−ｎと、Ａ／Ｄ変換回路５−、〜５−ｎと、パ
スバッファ６−１〜６−ｎとが、ＣＣＤイメージ・セン
サｌ−３〜Ｉ−ｎと同数設けられる構成となっていた。"Problems to be Solved by the Invention" By the way, in the conventional image reading device described above, the sample-and-hold circuits 3-1 to 3-n and the differential amplifier 4
-, ~4-n, A/D conversion circuits 5-, ~5-n, and pass buffers 6-1 to 6-n are provided in the same number as CCD image sensors l-3 to I-n. It became.
しかしながら、上記差動アンプ４−、〜４−０およびＡ
／Ｄ変換回路５−１〜５−ｎは、一般的に高価なＩＣに
よって構成されるため、ＣＣＤイメージ・センサｌ−１
〜１−、の個数が多くなる程、画像読取装置の価格が高
価となってしまう欠点があった。However, the differential amplifiers 4-, ~4-0 and A
Since the /D conversion circuits 5-1 to 5-n are generally constructed of expensive ICs, the CCD image sensor l-1
There is a drawback that the larger the number of .about.1-, the higher the price of the image reading device becomes.
この発明は上述した事情に鑑みてなされたもので、ＣＣ
Ｄイメージ・センサの個数が多い場合においても、安価
に構成することができる画像読取装置を提供することを
目的としている。This invention was made in view of the above-mentioned circumstances, and CC
It is an object of the present invention to provide an image reading device that can be constructed at low cost even when the number of D image sensors is large.
「問題点を解決するための手段」
この発明は、複数個のＣＣＤイメージ・センサによって
構成された読取部と、前記複数個のＣＣＤイメージ・セ
ンサに各々対応して設けられ、前記各ＣＣＤイメージ・
センサから各々出力される信号の内、基準となる信号を
抽出して保持するサンプル・ホールド回路と、前記複数
のＣＣＤイメージ・センサおよびサンプル・ホールド回
路の各出力を順次選択する選択手段と、前記選択手段に
よって選択されたＣＣＤイメージ・センサの出力とサン
プル・ホールド回路の出力との差を取る差動アンプと、
前記差動アンプの出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ
変換回路とを具備することを特徴としている。"Means for Solving the Problems" The present invention includes a reading unit constituted by a plurality of CCD image sensors, and a reading section provided corresponding to each of the plurality of CCD image sensors, and a reading unit configured by a plurality of CCD image sensors, and a reading section configured by a plurality of CCD image sensors, and a reading section configured by a plurality of CCD image sensors.
a sample-and-hold circuit that extracts and holds a reference signal from among the signals output from each sensor; a selection means that sequentially selects each output of the plurality of CCD image sensors and the sample-and-hold circuit; a differential amplifier that takes the difference between the output of the CCD image sensor selected by the selection means and the output of the sample and hold circuit;
A/D converting the output of the differential amplifier into a digital signal
It is characterized by comprising a conversion circuit.
「作用」
各ＣＣＤイメージ・センサの出力およびサンプル・ホー
ルド回路の出力が選択手段によって順次選択されて差動
アンプに供給され、この差動アンプの出力がＡ／Ｄ変換
回路でデジタル信号に変換されるので、ＣＣＤイメージ
・センサの個数が多い場合においても、単一の差動アン
プおよびＡ／Ｄ変換回路で構成することができる。"Operation" The output of each CCD image sensor and the output of the sample and hold circuit are sequentially selected by the selection means and supplied to the differential amplifier, and the output of this differential amplifier is converted into a digital signal by the A/D conversion circuit. Therefore, even if there are a large number of CCD image sensors, it can be configured with a single differential amplifier and A/D conversion circuit.
「実施例」
以下、図面を参照し、この発明の実施例について説明す
る。"Embodiments" Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図で
あり、第３図の各部に対応する部分には同一の符号が付
されている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, and parts corresponding to those in FIG. 3 are given the same reference numerals.
この図において、１２はアナログ・マルチプレクサであ
り、切替回路１１から供給される選択信号に基づいて、
次に述べる■〜■の各組の信号を順次選択して差動アン
プ４へ供給するものである。In this figure, 12 is an analog multiplexer, and based on the selection signal supplied from the switching circuit 11,
Each set of signals (1) to (2) described below is sequentially selected and supplied to the differential amplifier 4.
すなわち、アナログ・マルチプレクサ１２は、■減衰器
８−１を介して供給されるＣＣＤイメージ・センサ１−
１の出力信号Ｓ１とサンプル・ホールド回路３−１の出
力信号Ｓ２の組と、■減衰器８−３を介して供給される
ＣＣＤイメージ・センサＩ−７の出力信号Ｓ１とサンプ
ル・ホールド回路３−！の出力信号Ｓ２の組と、■減衰
器８−０およびアナログ・ディレィ回路１０−３を介し
て供給されるＣＣＤイメージ・センサｌ−１の出力信号
Ｓ＋とサンプル・ホールド回路３−３の出力信号Ｓ２の
組と、■減衰器８−３およびアナログ・ディレィ回路ｌ
０−４を介して供給されるＣＣＤイメージ・センサｌ−
，の出力信号Ｓｌとサンプル・ホールド回路３．−４の
出力信号Ｓ２の組の、以上４つの組の中から１つの組を
順次選択して差動アンプ４へ供給する。この場合、アナ
ログ・ディレィ回路ｌ０−３および１〇−４は、減衰器
８−１および８−４を介して各々供給されるＣＣＤイメ
ージ・センナｌ−３およびＩ−４の各出力信号Ｓｉを３
３３ ｎ５ｅｃの期間遅延するものである。この３３３
ｎ５ｅｃの期間は、各出力信号ｓ１の半周期分に相当
する時間である。また、各ＣＣＤイメージ・センサｌ、
〜Ｉ−，は、図示せぬ駆動回路から供給されるクロック
パルス？ご同期して出力信号Ｓ１を出力するようになっ
ており、同タロツクパルスは切替回路１１に対しても供
給されるようになっている。That is, the analog multiplexer 12 receives the CCD image sensor 1- supplied via the attenuator 8-1.
1 output signal S1 of sample and hold circuit 3-1 and output signal S2 of sample and hold circuit 3-1; -! a set of output signals S2, and (1) an output signal S+ of the CCD image sensor l-1 supplied via the attenuator 8-0 and the analog delay circuit 10-3, and an output signal of the sample-and-hold circuit 3-3. S2 set, ■Attenuator 8-3 and analog delay circuit l
CCD image sensor l- supplied via 0-4
, and the sample/hold circuit 3. One set is sequentially selected from the above four sets of output signals S2 of -4 and supplied to the differential amplifier 4. In this case, analog delay circuits l0-3 and 10-4 output signals Si from CCD image sensors l-3 and I-4, which are supplied via attenuators 8-1 and 8-4, respectively. 3
33 n5ec period. This 333
The period n5ec is a time corresponding to a half period of each output signal s1. In addition, each CCD image sensor l,
~I-, is a clock pulse supplied from a drive circuit (not shown)? The output signal S1 is output in synchronization with the output signal S1, and the same tarok pulse is also supplied to the switching circuit 11.
以上の構成において、ＣＣＤイメージ・センサｌ−１お
よび１−ｔの各出力信号Ｓ１は、減衰器８−１および８
−、を各々介してアナログ・マルチプレクサ１２に供給
され、またＣＣＤイメージ・センサＩ−，および１−４
の各出力信号Ｓ＋は、減衰器８−１および８−７を各々
介し、さらにアナログ・ディレィ回路１Ｏ−３およびｌ
ｏ−４によって３３３ ｎ５ｅｃの期間遅延されてアナ
ログ・マルチプレクサ１２に供給される。これら、アナ
ログ・マルチプレクサ１２に供給される各出力信号Ｓ１
の時間的関係を示せば、第２図（イ）〜（ニ）に示す通
りである。すなわち、ＣＣＤイメージ・センサ１−１お
よび１−４の各出力信号Ｓｌの画素信号Ｌｎ、Ｌｎ＋＋
、・・・（ｎは整数）は、ＣＣＤイメージ・センサＩ−
，およびｌ。In the above configuration, each output signal S1 of the CCD image sensors l-1 and 1-t is transmitted through attenuators 8-1 and 8
-, respectively to analog multiplexer 12, and CCD image sensors I-, and 1-4.
The respective output signals S+ of
o-4 is delayed by a period of 333 n5ec and provided to analog multiplexer 12. These output signals S1 are supplied to the analog multiplexer 12.
The temporal relationships are shown in Figures 2 (a) to (d). That is, the pixel signals Ln, Ln++ of each output signal Sl of the CCD image sensors 1-1 and 1-4
, ... (n is an integer) is a CCD image sensor I-
, and l.
の各出力信号Ｓ１の画素信号Ｌ ｎ、Ｌ ｎ＋＋ 、・
・・に対して３３３ ｎ５ｅｃの期間、言い替えればリ
セットノイズ期間Ｔｒだけ遅延してアナログ・マルチプ
レクサ１２に供給される。そして、アナログ・マルチプ
レクサ１２は切替回路１１から供給される選択信号に基
づいて以下のように動作する。Pixel signals L n, L n++ , . of each output signal S1 of
... is delayed by a period of 333 n5ec, in other words, by the reset noise period Tr, and then supplied to the analog multiplexer 12. The analog multiplexer 12 operates as follows based on the selection signal supplied from the switching circuit 11.
■第２図（イ）に示す期間Ｔ１、すなわちＣＣＤイメー
ジ・センサ１−２の出力信号Ｓｔの画素信号Ｌ０の始め
８３ ｎ５ｅｃに対応した期間ｊこおいは、このＣＣＤ
イメージ・センサ１−１の出力信号Ｓｌとサンプル・ホ
ールド回路３−２の出力信号Ｓ２を差動アンプ４に供給
する。■The period T1 shown in FIG.
The output signal Sl of the image sensor 1-1 and the output signal S2 of the sample-and-hold circuit 3-2 are supplied to the differential amplifier 4.
■第２図（ロ）に示す期間’Ｉ’２％すなわちＣＣＤイ
メージ・センサ１−７の出力信号Ｓｔの画素信号ｔ、ｎ
の終わり８３ ｎ５ｅｃに対応した期間においは、この
ＣＣＤイメージ・センサＩ−ｔの出力信号Ｓｌとサンプ
ル・ホールド回路３−２の出力信号Ｓ２を差動アンプ４
に供給する。■Period 'I' 2% shown in FIG.
During the period corresponding to the end 83 n5ec, the output signal Sl of the CCD image sensor It and the output signal S2 of the sample and hold circuit 3-2 are input to the differential amplifier 4.
supply to.
■第２図（ハ）に示す期間Ｔ３、すなわちＣＣＤイメー
ジ・センサｌ−３の出力信号Ｓ１の画素信号Ｌｎの始め
８３ ｎ５ｅｃに対応した期間においは、このＣＣＤイ
メージ・センサｌ−３の出力信号Ｓｔとサンプル・ホー
ルド回路３−１の出力信号Ｓ２を差動アンプ４に供給す
る。■ During the period T3 shown in FIG. St and the output signal S2 of the sample/hold circuit 3-1 are supplied to the differential amplifier 4.
■第２図（ニ）に示す期間Ｔ４、すなわちＣＣＤイメー
ン・センサＩ−，の出力信号Ｓｌの画素信号Ｌｎの終わ
り８３ ｎ５ｅｃに対応した期間においは、このＣＣＤ
イメージ・センサ１．の出力信号Ｓｔとサンプル・ホー
ルド回路３−４の出力信号Ｓ２を差動アンプ４に供給す
る。■ During the period T4 shown in FIG.
Image sensor 1. The output signal St of the sample-and-hold circuit 3-4 and the output signal S2 of the sample-and-hold circuit 3-4 are supplied to the differential amplifier 4.
このようにして、各出力信号Ｓｌの１周期、６６６ ｎ
５ｅｃの期間内で、４個のＣＣＤイメージ・センサｌ−
ｒ〜１−．の各出力信号Ｓｔとサンプル・ホールド回路
３−１〜３−４の各出力信号Ｓ２の組が、順次差動アン
プ４に供給される。In this way, one period of each output signal Sl, 666 n
Within a period of 5ec, 4 CCD image sensors l-
r~1-. A set of each output signal St and each output signal S2 of the sample and hold circuits 3-1 to 3-4 is sequentially supplied to the differential amplifier 4.
「発明の効果」
以上説明したように、この発明によれば、複数個のＣＣ
Ｄイメージ・センサによって構成された読取部と、前記
複数個のＣＣＤイメージ・センサに各々対応して設けら
れ、前記各ＣＣＤイメージ・センサから各々出力される
信号の内、基準となる信号を抽出して保持するサンプル
・ホールド回路と、前記複数のＣＣＤイメージ・センサ
およびサンプル・ホールド回路の各出力を順次選択する
選択手段と、前記選択手段によって選択されたＣＣＤイ
メージ・センサの出力とサンプル・ホールド回路の出力
との差を取る差動アンプと、前記差動アンプの出力をデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路と設けたので、Ｃ
ＣＤイメージ・センサの個数が多い場合においても、単
一の差動アンプおよびＡ／Ｄ変換回路で構成することが
でき、したがって、ＣＣＤイメージ・センサの個数が多
い画像読取装置を安価に構成することができるという効
果が得られる。"Effects of the Invention" As explained above, according to the present invention, a plurality of CC
A reading unit constituted by a D image sensor is provided corresponding to each of the plurality of CCD image sensors, and a reference signal is extracted from among the signals output from each of the CCD image sensors. a sample-and-hold circuit for holding the outputs of the plurality of CCD image sensors and the sample-and-hold circuit; a selection means for sequentially selecting each output of the plurality of CCD image sensors and the sample-and-hold circuit; and an output of the CCD image sensor selected by the selection means and the sample-and-hold circuit. A differential amplifier that takes the difference between the output of the differential amplifier and an A/D conversion circuit that converts the output of the differential amplifier into a digital signal is provided.
Even when the number of CD image sensors is large, it can be configured with a single differential amplifier and an A/D conversion circuit, and therefore an image reading device with a large number of CCD image sensors can be configured at low cost. This has the effect of being able to.
第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図（イ）〜（ニ）は同実施例の動作を説明するため
のタイミングチャート、第３図は従来の画像読取装置の
構成を示すブロック図、第４図は同画像読取装置におけ
るＣＣＤイメージ・センサの出力信号を示す図である。
Ｒ・・・・・・原稿読取部、１−、〜１−４・・・・・
・ＣＣＤイメージ・センサ、３−１〜３−４・・・・・
・サンプル・ホールド回路、４・・・・・・差動アンプ
、５・・・・・・Ａ／Ｄ変換回路、１０−３．１０−、
・・・・・・アナログ・ディレィ回路、１１・・・・・
・切替回路、１２・・・・・・アナログ・マルチプレク
サ（選択手段）。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
2(a) to 2(d) are timing charts for explaining the operation of the same embodiment, FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of a conventional image reading device, and FIG. 4 is a CCD in the same image reading device. FIG. 3 is a diagram showing an output signal of an image sensor. R...Original reading section, 1-, ~1-4...
・CCD image sensor, 3-1 to 3-4...
・Sample/hold circuit, 4...Differential amplifier, 5...A/D conversion circuit, 10-3.10-,
...Analog delay circuit, 11...
-Switching circuit, 12...analog multiplexer (selection means).
Claims (1)
取部と、前記複数個のＣＣＤイメージ・センサに各々対
応して設けられ、前記各ＣＣＤイメージ・センサから各
々出力される信号の内、基準となる信号を抽出して保持
するサンプル・ホールド回路と、前記複数のＣＣＤイメ
ージ・センサおよびサンプル・ホールド回路の各出力を
順次選択する選択手段と、前記選択手段によって選択さ
れたＣＣＤイメージ・センサの出力とサンプル・ホール
ド回路の出力との差を取る差動アンプと、前記差動アン
プの出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路とを
具備することを特徴とする画像読取装置。A reading section constituted by a plurality of CCD image sensors, and a signal provided corresponding to each of the plurality of CCD image sensors and serving as a reference among the signals output from each of the CCD image sensors. a sample and hold circuit that extracts and holds the outputs of the CCD image sensors and the samples selected by the selection means; - An image reading device comprising: a differential amplifier that takes the difference from the output of a hold circuit; and an A/D conversion circuit that converts the output of the differential amplifier into a digital signal.
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|---|---|---|---|
| JP61169404A JPH0666887B2 (en) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Image reader |
Applications Claiming Priority (1)
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| JPS6326160A true JPS6326160A (en) | 1988-02-03 |
| JPH0666887B2 JPH0666887B2 (en) | 1994-08-24 |
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Family Applications (1)
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| JP61169404A Expired - Lifetime JPH0666887B2 (en) | 1986-07-18 | 1986-07-18 | Image reader |
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| JP (1) | JPH0666887B2 (en) |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0666887B2 (en) | 1994-08-24 |
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