JPS63257078A - ベクトル識別装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、文字その他の図形などの画像、各種の音声、
検索すべき技術情報などの所定の情報の特徴に対応した
単−又は複数のベクトル成分から成るベクトルに対しク
ラス分類、認識などの識別を行い、これによって画像、
音声、検索すべき技術情報などに対しクラス分類、認識
などの識別を行うようにしたベクトル識別装置に関する
ものである。

〔発明の概要〕

本発明は、文字などの所定の情報の特徴に対応したベク
トル成分から成るベクトルに対しクラス分類、認識など
の識別を行い、これによって、文字などに対しクラス分
類、認識などの識別を行うようにしたベクトル識別装置
において、上記ベクトル成分の大きさに対応した位置に
おいてディスプレイに表示された光学パターンをマルチ
化手段により光学的にマルチ化して、実質的に互いに同
一形状の光学パターン像を複数種類の参照マスクの近傍
にそれぞれ形成し、 これらの参照マスクに設けられている複数種類の参照パ
ターンと上記光学パターン像とのパターン整合をそれぞ
れとることにより、上記複数種類の参照マスクを介して
それぞれ得られる光を検出するように構成することによ
って、 ディスプレイに所定の光学パターンが表示された後は、
この光学パターンのマルチ化、パターン整合及び光検出
を光の伝播速度で以って並列的に行うことができ、この
ために、装置の構成が簡単で低コストであるにもかかわ
らず、文字などの所定の情報の特徴に対応したベクトル
成分から成るベクトルに対するクラス分類、認識などの
識別を高速度で以って行うことができる。

〔従来の技術〕

従来、文字、その他の図形などの画像を認識する画像認
識装置は、主としてエレクトロニクス技術を用いてデジ
タル的に処理するように構成されている。そして、認識
すべき画像の特徴に応じたデータがデータヘースに蓄え
られている多数の参照データ中のどの参照データに最も
整合しているかを相関演算により比較するようにしてい
る。

しかしながら、認識すべき画像が例えば文字である文字
認識の場合、字体の整っている印刷文字を認識する時で
も、平仮名は曲線部分が多いから画像認識装置による自
動的な認識には本来不向きであり、また漢字は画数が多
くて複雑な上に字種が何千もあり、しかも−口に印刷文
字と云ってもゴシック体、明朝体などの種々の書体があ
る。また手書き文字の場合には、その文字を書いた人に
応じているいろなバラツキがある。従って、何れにして
も、画像認識装置における画像認識動作は非常に複雑に
なり、また高速動作を保ったままで精度を上げるのは非
常に困難である。

一方、多数の文字のなかＬこはその全体が良くイ以てい
る文字や、その一部分が同−若しくは良く憤ている文字
が多くて、幾つかのクラスに分類することが可能である
。

従って画像認識装置において、従来から、まず、認識す
べき画像の特徴を射影などにより抽出し、次いでこの射
影特徴などの特徴を予め用意されているクラス分類用の
参照パターンの射影特徴などと比較することにより、ク
ラス分類を行うようにしている。そしてこのようにして
クラス分類された画像について、そのクラスに属する多
数の画像との相関をとるようにした相関演算工程により
、画像の特定、即ち画像認識を行うようにしている。

なお上述の相関演算工程においては、認識すべき画像の
射影特徴などを、予め用意されている多数の画像認識用
参照パターンの射影特徴などと比較することによって、
認識すべき画像が適合している程度に応じて多数の標準
パターンを順位付けし、この順位付けに応じて画像の特
定を行うようにしている。

以下において、主としてエレクトロニクス技術を用いて
デジタル的に処理するように構成された上述のような画
像認識装置の従来例についての説明を更に具体的に補足
すると、まず、原稿などに印刷などにより記載されてい
る画像認識されるべき画像パターンが、ＣＣＤ、ＭＯＳ
センザなどから成るイメージセンサの受光面に光学レン
ズにより結像される。そしてこのイメージセンサから画
像情報としての多値ディジタル信号が出力され、この多
値ディジタル信号は適当なしきい値で２値化されてから
（しきい値が複数の場合には必要に応じて上述の場合と
は異なる多値化を行ってから）、メモリに記憶される。

またこの２値化された画像情報は画像の整形を行うため
の前処理を必要に応じて施されてから、上記メモリ又は
別のメモリに記（、ｌされる。なお上記前処理によって
、ノイズ除去処理や、位置、大きさ、傾き、線幅などの
正規化処理などが行われる。

次に、このようにして上記メモリに記憶された画像情報
に対する射影特徴の抽出が射影処理部で行われる。

即ち、画像の成る方向軸（例えばＸ軸）への射影を行う
場合には、画像情報が記憶されている上述のメモリを上
記方向軸と一定の関係を有する方向（例えばＹ軸方向）
に走査して、このメモリから上記画像情報を時系列的又
は並列時系列的に読み出し、この読み出した画像情報を
射影処理部に転送し、次いでこれらの転送された画像情
報を上記射影処理部で順次積算する。そしてこのような
積算により順次得られる積算値を、上述のメモリまたは
更に別のメモリ中の上記酸る方向軸に対応した所定位置
にそれぞれ記憶さゼる。またこのようにして記憶された
積算量に基づいて、上記酸る方向軸についての射影特徴
が抽出された強度分布の波形が求められる。

このような画像の射影特徴の抽出操作は通常は複数の方
向軸について行われるので、同一の画像情報に対して複
数の強度分布波形が得られる。次いでこれらの強度分布
波形により示される画像の複数の射影特徴が、予め用意
されている参照パターンの射影特徴と比較されることに
よって、画像のクラス分類又は認識が行われる。

上述のような射影特徴処理をデジタル的に行うに際し、
入力データである上記積算値をそれぞれ一つのベクトル
成分と見做して、一つ又は複数の強度分布を多数のベク
トル成分を有する１つのベクトルとして取扱うようにし
ている。従って、一つの強度分布についてアドレス１〜
ｎに積算値が記憶されていれば、この強度分布はｎ次元
ベクトルとなる。

上述のような画像認識装置において、画像の認識率を上
げるためには、同一の画像情報に対して多数の方向軸に
ついて射影処理を行って、多数種類の射影特徴を抽出す
る必要がある。従って、認識されるべき画像は多数の多
次元ベクトルが集合している多次元ベクトルの集合体と
して取扱われる。

一方、既述のクラス分類用及び画像認識用の参照パター
ンも上述の場合と同様にしてベクトル化されている。そ
して、並列パイプライン型計算機などにおいて実用化さ
れているベクトル演算専用機によって、認識すべき画像
の特徴に対応したベクトルと多数の参照パターンのベク
トルとの間の相関演算が各ベクトル成分ごとに行われる
。

なお上記相関演算においては、相関の程度を表わす因子
として、例えば両ヘクトル間の距離、相関係数、類似度
などが算出される。そして相関程度の判定を行う際には
、射影特徴などの特徴のバラツキなどを考慮して最適な
相関を探す必要がある。このため、実際には、多数のヘ
クトル間の相関演算を時系列的なデジタル処理により多
数回行っている。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかしながら、既述のような従来の画像認識装置におい
ては、クラス分類用又は画像認識用の多数の参照パター
ンを予めベクトル化する必要がある。また認識すべき画
像の特徴に応じたベクトルとこれらのベクトル化された
多数の参照パターンとの間の相関演算を、既述のような
ベクトル演算専用機において時系列的なデジタル処理に
より各ベクトル成分ごとに多数回行う必要がある。

従って、上記ベクトル化及び上記相関演算のために多大
な処理時間を必要とすると共に、上記ベクトル演算専用
機には、専用ＬＳＩを用いた専用プロセッサを組み込む
必要があるため、装置の構成が複雑となってコスト高と
なるという問題がある。

本発明は、以上のような問題に鑑みてなされたものであ
って、文字などの所定の情報の特徴に対応したベクトル
成分からなるベクトルの識別に光学的な並列処理を導入
することによって、簡単な構成で以って高速度にベクト
ルの識別を行い得るようにしたものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、文字その他の図形などの画像、各種の音声、
検索すべき技術情報などの所定の情報の特徴に対応した
単−又は複数のベクトル成分から成るベクトルに対しク
ラス分類、認識などの識別を行うようにしだベクトル識
別装置において、識別すべきベクトルを構成するベクト
ル成分の太きさに対応した位置に輝線、光スポ・ノドな
どの所定の光学パターンを表示するディスプレイと、上
記所定の光学パターンとパターン整合をとるだめの参照
パターンをそれぞれ有する複数種類の参照マスクと、デ
ィスプレイに表示される所定の光学ツマターンを光学的
にマルチ化して、実質的に互いに同一形状の複数個の光
学パターン像を上記複数種類の参照マスクの近傍にそれ
ぞれ形成するマルチ化手段上記光学パターン像と上記参
照パターンとのパターン整合をとることにより、上記複
数種類の参照マスクを介してそれぞれ得られる光を検出
する光検出手段とをそれぞれ具備させたものである。

〔作用〕

以上のように構成された本発明によるベクトル識別装置
によれば、ベクトル成分の大きさに対応した位置におい
てディスプレイに所定の光学パターンが表示された後は
、この光学パターンのマルチ化、パターン整合及び光検
出が光の伝播速度で以って並列的に行われる。

〔実施例〕

次に本発明を画像認識装置に適用した実施例を図面に付
き説明する。

第１図〜第５図は本発明の一実施例を示すものであって
、まず、認識すべき画像から抽出された射影特徴などの
特徴に対応したベクトル成分から成るベクトルを、既述
のような従来の画像認識装置の場合と同様にして或いは
他の任意の方法により得るようにしている。なお第２図
（ａ）及び（ｂ）は、文字“山゛から抽出したＸ軸方向
射影及びＹ軸方向射影による強度分布波形をそれぞれ示
している。そしてこの場合、文字“山”の射影特徴に対
応したベクトルは、Ｘ軸方向射影特徴の各射影データに
対応した５つのベクトル成分１〜５と、Ｙ軸方向射影特
徴の各射影データに対応した５つのベクトル成分６〜１
０とから成っている。

そしてこれら１０個のベクトル成分がディスプレイ１１
に輝線パターンとしてそれぞれ表示される。

即ち、第１図に示すディスプレイ１１では、Ｘ軸方向及
びＹ軸方向への射影により得られる第２図（ａ）及び（
ｂ）に示す強度分布の頂点が多数の輝線パターンとして
画像表示される。このため、第３図及び第４図において
仮想線８で示すように、ディスプレイ１１の表示面は、
各ベクトル成分１〜１０にそれぞれ対応した長方形状の
所定数の領域２１〜３０に割付けられている。そして、
第４図に示すように、各ベクトル成分は、上記領域２１
〜３０においてその大きさに比例したレベルの位置に輝
線３１〜４０として表示される。なお第４図は、第２図
に示す文字“山”の射影データ１〜１０がディスプレイ
１１に表示された状態を示している。これらの射影デー
タ１〜ｌＯは１０次元ベクトルとしてベクトル化されて
おり、各ベクトル成分１〜１０の相対的な大きさ、即ち
規格値は次表の通りである。そして各ベクトル成分の番
号１〜１０にそれぞれ対応したディスプレイ１１の各領
域２１〜３０には、上記規格値に応した位置において各
ベクトル成分１〜１０が輝＆’ｉ！３１〜４０としてそ
れぞれ表示される。

次に、第１図に示すベクトル識別装置について更に説明
すると、ディスプレイ１１の表示面の前方には、その焦
点距離だけ離れて投影レンズ１２が配置されている。従
ってディスプレイ１１の表示面に表示されている輝線パ
ターン３１〜４０からの光は、投影レンズ１２によって
平行光線となる。そしてこの平行光線は第１のレンズア
レイ１３を介してマスクアレイ１５に導かれる。

マスクアレイ１５は全体としては＼パ平面的に配置され
た多数の参照マスク１５ａを備えている。

そして第１のレンズアレイ１３はこれらの参照７スフ１
５ａに対応する位置にそれぞれ結像用レンズ１３ａを備
えている。なお第１のレンズアレイ１３として、ガラス
、合成樹脂などから成る平板中に参照マスク１５ａと同
数のマイクロレンズ（例えば屈折率分布型レンズ）が形
成されている平板マイクロレンズを用いることができる
。また上記レンズアレイ１３として、参照マスク１５ａ
と同数の円柱状屈折率分布型レンズを束ねて構成した５
ＬＡ（商標：日本板硝子株式会社製）を用いることがで
き、この場合、個々の円柱状屈折率分布型レンズが結像
用レンズ１３ａの位置に配置されるように、レンズ間に
樹脂を充填させて一体化すればよい。

上述の投影レンズ１２とレンズアレイ１３とによって既
述のマルチ化手段１４が構成されている。

そして投影レンズ１２を介して第１のレンズアレイ１３
に導かれたディスプレイ１１の表示面上の輝線パターン
３１〜４０は、レンズアレイ１３の個々の結像用レンズ
１３ａによって、マスクアレイ１５の個々の参照用マス
ク１５ａ上にそれぞれ同時に結像される。これらの参照
マスク１５ａは、第５図において仮想線９で示すように
、ディスプレイ１１の領域２１〜３０にそれぞれ対応し
た長方形状の所定数の領域５１〜６０に割付けられてい
る。そしてこれらの領域５１〜６０には、輝線パターン
３１〜４０とはその明暗が同一極性で予め既知の参照パ
ターン４１〜５０がそれぞれ設けられている。なお参照
マスク１５ａの領域５１〜６０はディスプレイ１１の領
域２１〜３０とほぼ同一の大きさであってもよいし、大
きさが異なる相似形であってもよい。要は、何れの場合
でも、ディスプレイ１１の領域２１〜３０が参照マスク
１５ａの領域５１〜６０に一対一に対応していればよい
。

参照マスク１５ａとしてクラス分類、認識などの識別に
必要な数に相当する多数の種類のものが用いられている
。なお第１図においては、多数の参照マスク１５ａがそ
れぞれ個々に分離した状態に示されているが、共通のマ
スク基板上に多数の参照マスク１５ａのための参照パタ
ーンをそれぞれ形成することにより多数の参照マスク１
５ａを構成してもよいのは勿論である。そして第５図に
示す参照マスク１５ａは第４図に示す文字“ｌビの輝線
パターン３１〜４０に対応した参照パターン４１〜５０
を有しており、従って文字“山”を認識するためのもの
である。

なお参照マスク１５ａの参照パターン４１〜５０はグレ
ースケールとして構成されているが、これはいわゆる“
ぼけ”の思想を導入するためである。即ち、識別すべき
文字は印刷文字であってもその書体が多種であり、また
手書き文字の場合にはしばしば位置ずれが生している。

従って、参照マスク１５ａの参照パターン４１〜５０が
グレースケールとして構成されていなければ、識別すべ
き文字に対応した輝線パターン３１〜４０と、この文字
に対応した参照マスク５ａの参照パターン４１〜５０と
を確実にパターン整合することが困難になる。しかし、
この実施例におけるように、参照パターンをグレースケ
ールとして構成すれば、文字の書体や位置ずれに成る程
度順応したパターン整合を行うことが可能となる。

デ、イスプレイ１１に表示される輝線パターン３１〜４
０は、マルチ化手段１４によって多数種類の参照マスク
１５ａ上にそれぞれ結像されるが、この場合、ディスプ
レイ１１の各領域２１〜３０が参照マスク１５’ａの各
領域５１〜６０に一対一に対応するようＣミ結像される
。そして各参照マスク１’５ａを通過した光は、第２の
レンズアレイ１６に各参照マスク１５ａに一対一に対応
して配設されている多数の集光レンズ１６ａによりそれ
ぞれ集光されてから、光センサアレイ１７に導かれる。

なお第２のレンズアレイ１６は、第１のレンズアレイ１
３の場合と同様に構成された平板マイクロレンズ又はＳ
ＬＡであってよい。

光センサアレイ１７は、集光レンズ１６ａに一対一に対
応してこれらの集光レンズ１６ａの集光点付近に配設さ
れている多数の光センサ１７ａを備えている。従って各
参照マスク１５ａを通過した光が、集光レンズ１６ａに
よりそれぞれ集光されてから、それぞれの光センサ１７
ａによりその光量を検出される。この場合、光センサ１
７ａにより検出される光量が規格化光量に近い参照マス
ク１５ａ程、識別すべき画像の輝線パターン３１〜４０
と良く整合していることを意味している。

光センＪ°１７　ａの出力は、画像の識別を容易にする
ために、それぞれの参照マスク１５ａの最大通過光量に
応じて各参照マスク１５ａ毎に規格化される。そしてこ
れらの規格化された出力は最大値検出回路（図示せず）
においてそのレベルが比較されて、最大出力を与えた参
照マスク＋５２が判定される。そしてこの判定結果によ
って、識別すべき画像のクラス分類又は認識が行われる
。なお上記最大値検出回路にピーク検出器を何役して、
このピーク検出器のしきい値を上回るセンサ出力につい
てのみレベルを比較するようにすれば、比較すべきセン
サ出力の数を少なくすることができる。

以上のように構成されたベクトル識別装置によれば、各
射影データをベクトル成分として表わす輝線パターン３
１〜４０がディスプレイ１１に表示された後は、輝線パ
ターンのマルチ化、これらマルチ化された輝線パターン
と多数種類の参照マスク１５ａの参照パターン４１〜５
０との光学的整合、集光用レンズ１６ａによる参照マス
ク１５ａからの通過光の集光を光の伝播速度で以って行
うことができる。また集光された光を多数の光センサ１
’７ａにより高速応答性で以って並列的に検出すること
ができる。従って、識別すべき文字の特徴を表わす輝線
パターン（未知パターン）と参照マスクの参照パターン
（既知パターン）との上述のパターン整合により相関演
算を並列的にかつ高速度で行うことができる。

なお上述の実施例においては、ベクトル成分を５×２個
としたが、一般的にｍ　Ｘ　ｎ個（ｍ及びｎは１以上の
整数）であってよい。この場合には、第６図に示すよう
に、ｍ　ｘ　ｎ個の輝線パターン６１がディスプレイ１
１に形成されるから、輝線パターンはｎ個のｍ次元ベク
トルの集合体に対応したものとなる。そしてｎ＝１、ｍ
＝１であってもよく、この場合には、輝線パターンは一
次元ベクトルに対応したものとなる。

また上述の実施例に用いた参照マスク１５ａは、そこに
設けられている参照パターン４１〜５０が予め定められ
た所定の形状であって、この所定の形状が他の形状に変
化しない固定されたものであってもよいし、上記参照パ
ターンが空間変調素子によって構成されていてもよい。

即ち、後者の場合、表示媒体として液晶を用いた空間変
調素子が各参照マスク１５ａとして配置される。そして
、各参照パターンに対応した参照データがデータベース
に予めデジタル的にメモリファイルされる。

そして、必要に応じて上記参照データが上記データベー
スから上記空間変調素子に転送されて、参照データに応
じた多数種類の参照パターンが各空間変調素子により形
成される。

このように、参照マスク１５ａを空間変調素子を用いて
可変マスクとして構成するようにすれば、必要な参照デ
ータをデータベースに予めメモリファイルしておくこと
によって、所望する文字に対応する参照パターンを空間
変調素子により順次パターン化して、識別すべき文字に
対応する輝線パターンとの間でパターン整合をとること
ができる。

また上述の実施例においては、参照マスク１５ａの参照
パターン４１〜５０がディスプレイ１１に表示される輝
線パターン３１〜４０の明暗と同一の極性となるように
したが、反対の極性となるようにしてもよい。またディ
スプレイ１１に表示される光学パターンを輝線としたが
、光スポ・ノドなどの他の比較的簡単な光学パターンで
あってもよい。

また上述の実施例では、１つの参照マスク１５ａの多数
の参照パターン４１〜５０を通過する光の全量を、単一
の光センサ１７ａによりトータル的に検出するようにし
たが、個々の参照パターンをｉＪ１！遇する光の量を別
々の光センサにより個別に検出するようにしてもよい。

また参照マスク１５ａを通過する光を検出するようにし
たが、各参照マスクから反射する光や各参照マスクで吸
収される光を検出することも可能である。

また上述の実施例においては、多数の光センサ１７ａの
出力を最大値検出回路において比較して画像認識を行う
ようにしているが、一定のしきい値が設定されているク
ラス分類用判定回路においてレベル判定するようにすれ
ば、識別すべき文字をクラス分類することもできる。

また上述の実施例においては、ベクトル成分１〜１０の
数に対応した数の領域２１〜３０をディスプレイ１１上
に設け、上記ベクトル成分１〜ＩＯに対応した輝線パタ
ーン３１〜４０を各領域２１〜３０に１つずつ表示する
ようにしたが、１つの領域２１〜３０に複数の輝線パタ
ーン３１〜４０を同時に表示することも可能である。例
えば、第１図〜第５図に示す上述の実施例において、領
域２６〜３０を省略して、領域２１〜２５に輝線パター
ン３１〜４０を２つずつ表示してもよい。

そしてこの場合には、参照マスク１５ａについても領域
５６〜６０を省略して、残りの領域５１〜５５における
参照パターン４１〜４５を２つの輝線パターンに対応し
た形状にすればよい。

また上述の実施例においては、結像用レンズ１３ａと参
照マスク１５ａとの間に適当な間隙を設けるようにした
が、ディスプレイ１１の輝線パターンを結像用レンズ１
３ａによりこのレンズの参照マスク１５ａ側の端面に結
像させるようにすれば、結像用レンズ１３ａと参照マス
ク１５ａとを互いに接触させることができる。

また上述の実施例において、識別すべき画像として、ア
ルファヘット、算用数字などの英数記号、平仮名、片仮
名、漢字などを対象とすることができ、またこの場合、
ゴシック体、明朝体などの種々の書体の印刷文字又は手
書き文字であってよい。

また文字以外の図形、各種の音声、検索すべき技術情報
などのベクトル化し得る各種の情報に対するクラス分類
、認識などにも本発明を適用することができる。

〔発明の効果〕

本発明は、上述のように、所定の情報の特徴に対応した
ベクトル成分の大きさに対応した位置においてディスプ
レイに表示された光学パターンをマルチ化手段により光
学的にマルチ化して、実質的に互いに同一形状の光学パ
ターン像を複数種類の参照マスクの近傍にそれぞれ形成
し、これらの参照マスクに設けられている複数種類の参
照ノ々ターンと上記光学パターン像とのパターン整合を
それぞれとることにより、上記複数種類の参照マスクを
介してそれぞれ得られる光を検出するように構成した。

従って、ディスプレイに所定の光学）＜ターンが表示さ
れた後は、この光学パターンのマルチ化、これらのマル
チ化された光学パターンと複数種類の参照マスクの参照
パターンとの整合及びこれらの整合結果に応じた光の光
検出手段への導入を光の伝播速度で以って並列的に行う
ことができ、このために、装置の構成が簡単で低コスト
であるにもかかわらず、所定の情報の特徴に対応したベ
クトル成分から成るベクトルに対するクラス分類、認識
などの識別を高速度で以って行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図〜第５図は本発明を画像認識装置に適用したＬ実
施例を示すものであって、第１図はベクトル識別装置の
概要図、第２図はＸ軸方向及びＹ軸方向への射影により
それぞれ得られる強度分布波形図、第３図は第２図に示
す強度分布の各射影データに対応するベクトル成分にそ
れぞれ割り付けられたディスプレイ上の領域を示すディ
スプレイの正面図、第４図は文字“山”の特徴を示す輝
線パターンが形成された状態におけるディスプレイの正
面図、第５図は文字“山”の特徴を示す輝線パターンに
対応する参照パターンを有する参照マスクの正面図であ
る。また第６図は別の実施例における第４図に相当する
図であって、部分的に切欠した状態で示されている。 なお図面に用いた符号において、 １１−＝−＝−−−一・−ディスプレイ１２−−−−一
−＝−−投影レンズ １３ａ−−−−−−−−−結像用レンズ１４−−−−−
−−−−−−マルチ化手段１５−−＝−−−−−−−−
−−マスクアレイ１５ａ−−−−−−−−−一＝−参照
マスク１６ａ　−一−−−−−−−−−−−−−集光用
レンズ１７−−−−−−＝−＝−＝−光センサアレイ１
７ａ　−−−−−−−−−−光センサである。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、所定の情報の特徴に対応したベクトル成分から成る
   ベクトルを識別するようにしたベクトル識別装置におい
   て、 識別すべきベクトルを構成するベクトル成分の大きさに
   対応した位置に所定の光学パターンを表示するディスプ
   レイと、 上記所定の光学パターンとパターン整合をとるための参
   照パターンをそれぞれ有する複数種類の参照マスクと、 ディスプレイに表示される所定の光学パターンを光学的
   にマルチ化して、実質的に互いに同一形状の複数個の光
   学パターン像を上記複数種類の参照マスクの近傍にそれ
   ぞれ形成するマルチ化手段上記光学パターン像と上記参
   照パターンとのパターン整合をとることにより、上記複
   数種類の参照マスクを介してそれぞれ得られる光を検出
   する光検出手段とをそれぞれ具備するベクトル識別装置
   。 ２、上記参照マスクに設けられている上記参照パターン
   が予め定められた所定の形状であって、この所定の形状
   が他の形状に変化しないように構成されている特許請求
   の範囲第１項に記載の装置。 ３、上記参照マスクに設けられている上記参照パターン
   が空間変調素子によって構成され、この空間変調素子に
   よって構成される上記参照パターンがデータベースから
   転送される参照データに応じて複数種類に変化し得るよ
   うに構成されている請求項１記載の装置。 ４、上記参照パターンがグレースケールとして構成され
   ている請求項１、２又は３記載の装置。 ５、上記所定の情報が文字、その他の図形から成る画像
   であり、上記所定の情報の特徴が上記画像から抽出され
   た射影特徴である請求項１、２、３又は４記載の装置。