JPS63244845A - Processing device - Google Patents

Processing device

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JPS63244845A
JPS63244845A JP7917587A JP7917587A JPS63244845A JP S63244845 A JPS63244845 A JP S63244845A JP 7917587 A JP7917587 A JP 7917587A JP 7917587 A JP7917587 A JP 7917587A JP S63244845 A JPS63244845 A JP S63244845A
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injection
temperature
chemical solution
processing
processing chamber
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Tomohide Watanabe
渡辺 智英
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Abstract

PURPOSE:To remove fluctuation in temperature of liquid chemicals and to upgrade processing stability, by connecting two or more nozzles with pipes in which the liquid chemicals always circulate and concurrently holding the liquid medicines at prescribed temperature to exactly control injection time of the liquid chemicals from the nozzles in accordance with temperature in a processing chamber. CONSTITUTION:When the amount of injection is corrected in accordance with fluctuation in temperature in a processing chamber 1, the fluctuation in temperature in the processing chamber 1 is detected by receiving an output signal of a temperature sensor 23 in the processing chamber 1. Since a process controlling device 52 has process reaction temperature dependence which is dissimilar in accordance with liquid chemicals for use, injection times of the liquid chemicals are increased/decreased so that the injection amount of the liquid chemicals required for optimum processing reactions can be obtained for the respective liquid chemicals. The increase/decrease in the injection amount of the liquid chemicals is performed by increasing/decreasing the quantity of pulses of injection signals and changing the injection time per unit injection. The liquid medicines can be injected always at optimum temperature in accordance with the temperature in the processing chamber 1, and two or more species of liquid chemicals can be mixed with high precision. Hence, stable processing is enabled on a surface of a substrate 2 for surface treatment.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は処理装置に係り、特に被表面処理基板の表面、
に現像液等の薬液を塗布するための処理装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Field of Application) The present invention relates to a processing apparatus, and in particular, the surface of a substrate to be surface-treated,
The present invention relates to a processing device for applying a chemical solution such as a developer to a surface.

(従来の技術) 第4図は従来の処理装置を示したもので、処理室1の内
部中央には、被表面処理基板2を吸着保持するスピンチ
ャック3が配設され、このスピンチャック3の回転軸に
は、回転モータ4が接続されており、この回転モータ4
の駆動により上記スピンチャック3を回転駆動するよう
にしている。
(Prior Art) FIG. 4 shows a conventional processing apparatus, in which a spin chuck 3 for suctioning and holding a substrate 2 to be surface-treated is disposed in the center of a processing chamber 1. A rotary motor 4 is connected to the rotary shaft, and this rotary motor 4
The spin chuck 3 is rotationally driven by the drive of the spin chuck 3.

また、上記処理室1の外部には、上下に配置された2本
のガイドシャフト5.5に沿って往復動自在とされたス
ライダ6が配設され、このスライダ6の上端部には、上
記処理室1の側面を貫通して延びるアーム7が固着され
ており、このアーム7の先端部には、現像液等の薬液を
噴射するノズル8が斜め下方に指向するように配設され
ている。
Further, a slider 6 is disposed outside the processing chamber 1 and is capable of reciprocating along two guide shafts 5.5 arranged above and below. An arm 7 extending through the side surface of the processing chamber 1 is fixed, and a nozzle 8 for spraying a chemical solution such as a developer is disposed at the tip of the arm 7 so as to face diagonally downward. .

また、上記スライダ6の一面側には、カムフォロア9が
突出形成され、このカムフォロア9は、回転自在とされ
たカム]0に偏心して形成された円形溝11に係合して
おり、上記カム10の回転駆動により上記スライダ6お
よびアーム7を、図中矢印で示すように、往復動作させ
るようにしている。
A cam follower 9 is formed protruding from one side of the slider 6, and this cam follower 9 engages with a circular groove 11 eccentrically formed in the rotatable cam 0. The rotational drive causes the slider 6 and arm 7 to reciprocate as shown by arrows in the figure.

また、現像液等の薬液を貯留する加圧タンク12が設け
られ、この加圧タンク12には、恒温水槽13内の熱交
換部14を有し、途中開閉バルブ15を介して上記アー
ム7内を通ってノズル8に送られる薬液導入配管16が
接続されている。
Further, a pressurized tank 12 for storing a chemical solution such as a developer is provided. A chemical liquid introduction pipe 16 is connected therethrough to be sent to the nozzle 8.

上記恒温水槽13には、図示しない検知器により検出し
た薬液の温度に基づいて温度を一定に保つ温調器17が
接続されている。
A temperature regulator 17 is connected to the constant temperature water tank 13 to keep the temperature constant based on the temperature of the chemical solution detected by a detector (not shown).

上記装置においては、図示しない回転駆動装置によりカ
ム10を回転させると、円形溝11が偏心回転し、これ
により、カムフォロア9を介してスライダ6およびアー
ム7がガイドシャフト5゜5に沿って往復動する。その
ため、アーム7のノズル8は、被表面処理基板2の上方
を往復運動することになり、この状態で、開閉バルブ1
5を開いて薬液をノズル8の先端から被表面処理基板2
に均一にかつ一定の温度で噴射するようにしている。
In the above device, when the cam 10 is rotated by a rotary drive device (not shown), the circular groove 11 rotates eccentrically, and the slider 6 and the arm 7 reciprocate along the guide shaft 5°5 via the cam follower 9. do. Therefore, the nozzle 8 of the arm 7 reciprocates above the surface-treated substrate 2, and in this state, the on-off valve 1
5 is opened and the chemical solution is applied from the tip of the nozzle 8 to the substrate 2 to be surface treated.
This ensures that the fuel is sprayed evenly and at a constant temperature.

(発明が解決しようとする問題点) しかし、上記装置においては、薬液の噴射停止時に恒温
水槽13から噴射ノズル8までの配管経路内の薬液が停
滞するため、周囲の温度の影響を受けて変化してしまい
、処理の安定性が良好でないという問題を有している。
(Problem to be Solved by the Invention) However, in the above device, when the injection of the chemical solution is stopped, the chemical solution in the piping route from the constant temperature water tank 13 to the injection nozzle 8 stagnates, so it changes due to the influence of the surrounding temperature. The problem is that the stability of the process is not good.

また、処理室1の温度変動により最適処理条件が変化し
てしまい、さらに、ノズル8が1つであるため、2以上
の薬液を混合することができないという問題を存してい
る。
Further, there are problems in that the optimum processing conditions change due to temperature fluctuations in the processing chamber 1, and furthermore, since there is only one nozzle 8, two or more chemical solutions cannot be mixed.

本発明は上記した点に鑑みてなされたもので、処理安定
性を向上させることができ、かつ、2以−1−の薬液を
混合することのできる処理装置を提供することを目的と
するものである。
The present invention has been made in view of the above points, and an object of the present invention is to provide a processing device that can improve processing stability and mix two or more chemical solutions. It is.

(問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するため本発明に係る処理装置は、処理
室内に設けられた被表面処理基板を回転自在に保持する
スピンチャックと、上記処理室の内部上方に上記被表面
処理基板に指向するように配設された複数の薬液噴射ノ
ズルと、上記各噴射ノズルの内部に摺動自在に設けられ
電磁コイルへの通電により噴射口を開閉するプランジャ
と、上記各噴射ノズルにそれぞれ接続され上記噴射口が
閉塞状態のときに連通ずる薬液の導入配管および排出配
管と、上記導入配管および排出配管が接続され上記薬液
を所定温度で循環供給させる薬液供給装置と、内部にク
ロックパルス信号を内蔵し、このパルス信号を上記各噴
射ノズルに出力し、各噴射ノズルに対する上記パルス数
の比を変えることにより薬液の噴射時間を制御して単位
時間当りの各噴射ノズルからの薬液噴射量を制御すると
ともに、上記処理室内の温度に応じて上記薬液供給装置
における薬液温度を制御する処理制御装置とを有するこ
とをその特徴とするものである。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, a processing apparatus according to the present invention includes a spin chuck that rotatably holds a substrate to be surface treated, which is provided in a processing chamber, and an upper part of the inside of the processing chamber. a plurality of chemical liquid injection nozzles disposed so as to be directed toward the substrate to be surface-treated; a plunger slidably provided inside each of the injection nozzles and opening and closing the injection port by energizing an electromagnetic coil; A chemical liquid introduction pipe and a discharge pipe that are connected to each injection nozzle and communicate with each other when the injection port is in a closed state; and a chemical liquid supply device that is connected to the introduction pipe and the discharge pipe and circulates and supplies the chemical liquid at a predetermined temperature; A clock pulse signal is built in, and this pulse signal is output to each of the above injection nozzles, and by changing the ratio of the number of pulses to each injection nozzle, the injection time of the chemical liquid is controlled, and from each injection nozzle per unit time. The present invention is characterized in that it has a processing control device that controls the injection amount of the chemical solution and also controls the temperature of the chemical solution in the chemical solution supply device according to the temperature inside the processing chamber.

(作 用) 本発明によれば、複数の噴射ノズルを設け、この各ノズ
ルに薬液を供給する供給装置をそれぞれ独立して設けて
おり、処理制御装置からのパルス信号により上記ノズル
からの薬液噴射時間を正確に制御することができるので
、2以上の薬液を任意の混合比で噴射させることができ
、また、ノズルの噴射口が閉塞しているときに、薬液が
導入配管、排出配管および供給装置を介して常時循環し
ているので、薬液の温度変動が生ずることがなく、処理
安定性を著しく高めることができるものである。
(Function) According to the present invention, a plurality of injection nozzles are provided, and a supply device for supplying a chemical solution to each nozzle is provided independently, and a pulse signal from a processing control device causes the chemical solution to be ejected from the nozzles. Since the time can be controlled accurately, two or more chemical solutions can be injected at any mixing ratio, and when the nozzle injection port is blocked, the chemical solution can be sprayed from the inlet pipe, the discharge pipe, and the supply pipe. Since the chemical solution is constantly circulated through the device, the temperature of the chemical solution does not fluctuate, and processing stability can be significantly improved.

(実施例) 以下、本発明の実施例を第1図乃至第3図を参照し、第
4図と同一部分には同一符号を付して説明する。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 3, and the same parts as in FIG. 4 are given the same reference numerals.

第1図は本発明の一実施例を示したもので、処理室1の
内部下方には、被表面処理基板2を吸着するスピンチャ
ック3が配設され、このスピンチャック3には、回転モ
ータ4およびこのモータ4の回転数を検出する回転検出
器18が接続されており、この回転検出器18の検出信
号を人力して」二記回転モータ4を制御する回転制御装
置19が設けられている。また、上記処理室lの上面に
は、2つの薬液の噴射ノズル8a、8bが上記被表面処
理基板2の回転中心に指向するように取付けられており
、これら各ノズル8a、8bには、薬液の導入配管20
および排出配管21がそれぞれ接続されている。上記処
理室1の下面には、排気および廃液を行なう開口22が
形成されており、処理室1の内部には、処理室1の内部
温度を検出する温度センサ23が配設されている。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention, in which a spin chuck 3 for sucking a substrate 2 to be surface-treated is disposed in the lower part of a processing chamber 1, and this spin chuck 3 is equipped with a rotary motor. 4 and a rotation detector 18 for detecting the rotation speed of this motor 4 are connected, and a rotation control device 19 is provided for controlling the rotation motor 4 by manually inputting the detection signal of this rotation detector 18. There is. Further, two chemical liquid injection nozzles 8a and 8b are attached to the upper surface of the processing chamber l so as to be oriented toward the rotation center of the surface-treated substrate 2, and each of these nozzles 8a and 8b has a chemical liquid spray nozzle 8a and 8b. Introductory pipe 20
and discharge piping 21 are connected to each other. An opening 22 is formed in the lower surface of the processing chamber 1 for evacuation and waste liquid, and a temperature sensor 23 for detecting the internal temperature of the processing chamber 1 is disposed inside the processing chamber 1.

上記ノズル8は、第2図に示すように、先端部に薬液の
噴射口24が形成され、このノズル8の内部には、プラ
ンジャ25が長手方向に沿って摺動自在に配設されてい
る。上記プランジャ25の後端には、ばね26が取付け
られ、上記プランジャ25をその先端が上記噴射口24
を閉塞するように付勢している。また、上記ノズル8の
内側であって上記プランジャ25の外周部分には、電磁
コイル27が周設されており、この電磁コイル27への
通電により上記プランジャ25をばね26の付勢力に抗
して図において左方向に移動させて上記噴射口24を開
放するようにしている。
As shown in FIG. 2, the nozzle 8 has a chemical liquid injection port 24 formed at its tip, and a plunger 25 is disposed inside the nozzle 8 so as to be slidable along the longitudinal direction. . A spring 26 is attached to the rear end of the plunger 25, and the tip of the plunger 25 is connected to the injection port 25.
is biased to occlude. Further, an electromagnetic coil 27 is provided around the outer circumference of the plunger 25 inside the nozzle 8, and by energizing the electromagnetic coil 27, the plunger 25 is moved against the biasing force of the spring 26. The injection port 24 is opened by moving it to the left in the figure.

上記プランジャ25の後端側には、薬液の導入配管20
が接続された薬液導入室28が配置され、この導入室2
8とプランジャ25部分との間には、両面を網板29に
より支持された濾過フィルタ30が配設されている。さ
らに、上記プランジャ25の内部には、後端から先端寄
り側面に連通ずる連通路31が形成され、上記ノズル8
の先端寄り側面には、薬液の排出配管21が接続されて
いる。
At the rear end side of the plunger 25, a chemical solution introduction pipe 20 is provided.
A chemical solution introduction chamber 28 is arranged, and this introduction chamber 2
A filter 30 supported on both sides by mesh plates 29 is disposed between the plunger 8 and the plunger 25 portion. Furthermore, a communication passage 31 is formed inside the plunger 25 and communicates from the rear end to the side surface near the tip, and the nozzle 8
A chemical liquid discharge pipe 21 is connected to the side surface near the tip.

上記ノズル8の薬液導入配管20および排出配管21は
、それぞれ薬液供給装置32a、32bに接続されてい
る。これら各薬液供給装置32a。
The chemical liquid introduction pipe 20 and the discharge pipe 21 of the nozzle 8 are connected to chemical liquid supply devices 32a and 32b, respectively. Each of these chemical liquid supply devices 32a.

32bは、構成が同一であるため、一方の薬液供給装置
32aについて説明する。この薬液供給装置32aの内
部には、恒温水槽33が配設されており、この恒温水槽
33の内部には、恒温水34が貯留されている。この恒
温水槽33の上方には、恒温水34の循環配管35が接
続され、この循環配管35は、途中循環ポンプ36を介
して恒温水槽33の下方内部に開口する恒温水噴出口3
7に接続されている。上記循環配W35の途中には、半
導体熱交換器38が設置されており、この半導体熱交換
器38は、上記恒温水槽33の内部に設けられた恒温水
34の温度センサ39からの検出温度を入力して温度制
御信号を送る恒温水温度制御装置40に接続されている
。そして、上記半導体熱交換器38は、上記温度センサ
39の温度に基づいて恒温水34が所定の温度になるよ
うに半導体熱交換器38により恒温水34を加熱または
冷却するようにしている。さらに、この恒温水34の半
導体熱交換器38には、半導体熱交換器38からの放熱
を除去するため、内部に冷却水が導通される冷却水管4
1が接触して配設されている。
32b have the same configuration, so one chemical liquid supply device 32a will be described. A constant temperature water tank 33 is disposed inside the chemical supply device 32a, and a constant temperature water 34 is stored inside the constant temperature water tank 33. A circulation pipe 35 for constant temperature water 34 is connected above this constant temperature water tank 33, and this circulation pipe 35 has a constant temperature water spout 3 that opens into the lower interior of the constant temperature water tank 33 via a circulation pump 36 in the middle.
7 is connected. A semiconductor heat exchanger 38 is installed in the middle of the circulation distribution W35, and this semiconductor heat exchanger 38 detects the temperature detected by the temperature sensor 39 of the constant temperature water 34 provided inside the constant temperature water tank 33. It is connected to a constant temperature water temperature control device 40 which inputs and sends a temperature control signal. The semiconductor heat exchanger 38 heats or cools the constant temperature water 34 so that the constant temperature water 34 reaches a predetermined temperature based on the temperature of the temperature sensor 39. Further, the semiconductor heat exchanger 38 for the constant temperature water 34 is provided with cooling water pipes 4 through which cooling water is conducted in order to remove heat radiation from the semiconductor heat exchanger 38.
1 are arranged in contact with each other.

また、上記恒温水槽33の内部には、薬液が導通される
熱交換配管42が配設され、この熱交換配管42の出口
側には、途中圧力ポンプ43および濾過フィルタ44を
介してノズル8の導入配管20が接続されるとともに、
該入口側には、途中圧力調整器45を介してノズル8の
排出配管21が接続されている。上記恒温水槽33の内
部には、内部に複数の仕切板46が多段に設けられた薬
液タンク47が収容されており、この薬液タンク47の
上部には、外部に延びる薬液の補給口48が接続され、
該下部には、途中逆上弁49を介して上記熱交換配管4
2の入口側に接続される薬液補給管50が設けられてい
る。
Further, inside the constant temperature water tank 33, a heat exchange pipe 42 through which a chemical solution is conducted is disposed, and the nozzle 8 is connected to the outlet side of the heat exchange pipe 42 via a pressure pump 43 and a filtration filter 44. While the introduction pipe 20 is connected,
The discharge pipe 21 of the nozzle 8 is connected to the inlet side via a pressure regulator 45 midway. Inside the constant temperature water tank 33, a chemical liquid tank 47 is housed, in which a plurality of partition plates 46 are provided in multiple stages, and a chemical liquid supply port 48 extending to the outside is connected to the upper part of the chemical liquid tank 47. is,
The heat exchange pipe 4 is connected to the lower part through a reverse valve 49 in the middle.
A chemical solution supply pipe 50 connected to the inlet side of 2 is provided.

また、データの入出力装置51が接続され、処理室1の
温度センサ23からの信号を入力して、上記各ノズルg
 a 、  8 b s回転制御装置19および各薬液
供給装置32a、32bの恒温水温度制御装置40にそ
れぞれ制御信号を出力する処理制御装置52が設けられ
ており、この処理制御装置52により、各ノズル8a、
8bの電磁コイル27への通電による薬液の噴射時間、
スピンチャック3の回転モータ4の回転数および薬液の
温度をそれぞれ制御するようになされている。
In addition, a data input/output device 51 is connected, and a signal from the temperature sensor 23 of the processing chamber 1 is inputted to each nozzle g.
A processing control device 52 is provided that outputs a control signal to the rotation control device 19 and the constant temperature water temperature control device 40 of each chemical liquid supply device 32a, 32b. 8a,
The injection time of the chemical solution by energizing the electromagnetic coil 27 of 8b,
The rotational speed of the rotary motor 4 of the spin chuck 3 and the temperature of the chemical solution are controlled respectively.

次に、本実施例の作用について説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

まず、スピンチャック3」二に半導体基板2を載置固定
し、モータ4の駆動によりスピンチャック3を回転制御
装置19により所定の回転数で回転させる。このとき、
恒温水槽33内の恒温水34は、循環ポンプ36の作動
により常に循環配管35内を通り、恒温水温度制御装置
40による制御信号に基づいて恒温水34を所定温度に
保持している。そして、薬液は、薬液タンク47から補
給管48および逆止弁49を介して熱交換配管42内に
送られ、この熱交換配管42において恒温水34と熱交
換して薬液の温度を一定に保ち、圧力ポンプ43の動作
により薬液は、導入配管20を通って各ノズル8a、8
bに送られる。非噴射時は、ノズル8内のプランジャ2
5により噴射口24が閉塞されているので、導入配管2
0からノズル8の導入室28に入った薬液は、プランジ
ャ25内の連通路31を通り、排出配管21から圧力調
整器45を介して薬液供給装置32の熱交換配管42に
戻され、常に一定の温度で循環している。そして、上記
処理制御装置52からの噴射信号により電磁コイル27
にm電してプランジャ25を駆動し、噴射口24を開く
ことにより、薬液を回転している波表面処理基板2上に
所定時間噴射するものである。この場合に、ノズル8は
両方同時に噴射させてもよいし、いずれか一方のみから
あるいは交互に噴射させるようにしてもよい。 次に、
各薬液タンク47に別の薬液を貯留して各ノズル8a、
8bから異なる薬液を噴射させ、2N類の薬液を混合し
て使用する場合について、第3図を参照して説明する。
First, the semiconductor substrate 2 is mounted and fixed on the spin chuck 3, and the spin chuck 3 is rotated at a predetermined rotation speed by the rotation control device 19 by driving the motor 4. At this time,
The constant temperature water 34 in the constant temperature water tank 33 always passes through the circulation pipe 35 due to the operation of the circulation pump 36, and the constant temperature water 34 is maintained at a predetermined temperature based on a control signal from the constant temperature water temperature control device 40. The chemical solution is sent from the chemical tank 47 through the supply pipe 48 and the check valve 49 into the heat exchange piping 42, where it exchanges heat with the constant temperature water 34 to keep the temperature of the chemical solution constant. By the operation of the pressure pump 43, the chemical liquid passes through the introduction pipe 20 and enters each nozzle 8a, 8.
sent to b. When not injecting, the plunger 2 in the nozzle 8
5, the injection port 24 is blocked by the inlet pipe 2.
The chemical liquid that entered the introduction chamber 28 of the nozzle 8 from 0 passes through the communication path 31 in the plunger 25, is returned from the discharge pipe 21 to the heat exchange pipe 42 of the chemical liquid supply device 32 via the pressure regulator 45, and is always maintained at a constant level. It circulates at a temperature of Then, the electromagnetic coil 27 is activated by the injection signal from the processing control device 52.
By driving the plunger 25 and opening the injection port 24, the chemical solution is sprayed onto the rotating wave surface treatment substrate 2 for a predetermined period of time. In this case, both nozzles 8 may eject at the same time, or may eject only from one of them or alternately. next,
A different chemical solution is stored in each chemical solution tank 47 and each nozzle 8a,
A case where different chemical solutions are injected from 8b and a mixture of 2N chemical solutions is used will be described with reference to FIG.

処理制御装置52は、内部に薬液の噴射時間の基準とな
るクロックパルス信号CPを内蔵しており、このクロッ
クパルス信号CPの周波数は10KHzである。そのた
め、その周期は、0.1m5ecであり、各ノズル8a
、8bに出力するnl[91A、I Bは、このクロッ
クパルスCPを増幅したものであり、薬液の混合比可変
は、ノズル8に出力する噴射信号IA、IBのパルス数
の比を変えることにより行なう。例えば、混合噴射比を
3ニアとする場合、一方のノズル8aへの噴射信号IA
のパルス数を300、他方のノズル8bへの噴射信号I
Bのパルス数を700とすれば、一方のノズル8aの噴
射時間TAI −300t1他方のノズル8bへの噴射
時間TA2−700tであり、TAI =30ms e
c、Ta2−70msecとなる。薬液の噴射量は、薬
液の圧力と噴射時間との積に比例するため、各薬液の圧
力を同一にすれば、薬液の混合比を3=7に制御するこ
とができる。
The processing control device 52 has a built-in clock pulse signal CP that serves as a reference for the injection time of the chemical liquid, and the frequency of this clock pulse signal CP is 10 KHz. Therefore, the period is 0.1 m5ec, and each nozzle 8a
, 8b are amplified clock pulses CP, and the mixing ratio of the chemical liquid can be varied by changing the ratio of the number of pulses of the injection signals IA and IB output to the nozzle 8. Let's do it. For example, when the mixing injection ratio is 3 near, the injection signal IA to one nozzle 8a is
The number of pulses is 300, and the injection signal I to the other nozzle 8b is
If the number of pulses B is 700, the injection time for one nozzle 8a is TAI -300t1, the injection time for the other nozzle 8b is TA2 -700t, and TAI = 30ms e
c, Ta2-70 msec. Since the injection amount of the chemical liquid is proportional to the product of the pressure of the chemical liquid and the injection time, if the pressure of each chemical liquid is made the same, the mixing ratio of the chemical liquids can be controlled to 3=7.

また、連続的に薬液の混合噴射を行なうためには、噴射
信号IAおよび噴射信号IBを周期T1でくり返し薬液
のノズルに出力する。周期T1の1回当りの薬液噴射を
単位噴射とすると、薬液の総噴射量は、その単位噴射の
くり返しnで決まる。
Further, in order to continuously perform mixed injection of the chemical liquid, the injection signal IA and the injection signal IB are repeatedly outputted to the chemical liquid nozzle at a period T1. If the chemical liquid injection per cycle T1 is a unit injection, the total injection amount of the chemical liquid is determined by the number of repetitions n of the unit injection.

このように、薬液の混合比は、各噴射信号IA。In this way, the mixing ratio of the chemical liquid is determined by each injection signal IA.

IBのパルス数の比を変えることにより、任意に可変す
ることが可能であり、単位噴射毎にパルス数の比を変化
させれば、時間経過に伴って薬液混合比を変化させるこ
ともできる。なお、単位時間当りの薬液噴射量は、非噴
射時間TD1.TD2を変えることにより行なうように
してもよく、この場合、TDlを小さくすると、単位時
間当りの薬液噴射量は増大し、逆にTD2を大きくする
と減少することになる。
By changing the ratio of the number of IB pulses, it is possible to arbitrarily vary the ratio, and by changing the ratio of the number of pulses for each unit injection, it is also possible to change the chemical mixture ratio over time. Note that the amount of chemical liquid injection per unit time is determined by the non-injection time TD1. This may be done by changing TD2; in this case, if TDl is decreased, the amount of chemical liquid injection per unit time will increase, and conversely, if TD2 is increased, it will be decreased.

また、処理室1の温度変動により噴射量を補正する場合
は、処理室1の温度センサ23の出力信号を受けて処理
室1の温度変化を検出し、処理制御装置52は、使用す
る薬液により処理反応の温度依存性が異なるため、それ
ぞれの薬液ごとに最適処理反応に必要な薬液噴射量とす
るように薬液噴射時間を増減制御する。薬液噴射量の増
減は、噴射信号IAとIBのパルス数の増減することに
より、単位噴射ごとの噴射時間TAI、TBIを変化さ
せることにより行なう。
In addition, when correcting the injection amount based on temperature fluctuations in the processing chamber 1, the temperature change in the processing chamber 1 is detected by receiving the output signal of the temperature sensor 23 in the processing chamber 1, and the processing control device 52 adjusts the amount depending on the chemical liquid to be used. Since the temperature dependence of the treatment reaction is different, the chemical injection time is controlled to be increased or decreased so that the injection amount of the chemical liquid is the amount necessary for the optimum treatment reaction for each chemical liquid. The amount of chemical liquid injection is increased or decreased by changing the injection times TAI and TBI for each unit injection by increasing or decreasing the number of pulses of the injection signals IA and IB.

したがって、本実施例においては、常に最適温度でかつ
処理室1の温度に応じて薬液を噴射させることができ、
しかも、2以上の薬液を高精度で混合制御することがで
きるので、被表面処理基板2表面の安定した処理を行な
うことができ、被表面処理基板2の品質の向上および精
度の向上を図ることが可能となる。
Therefore, in this embodiment, it is possible to always inject the chemical liquid at the optimum temperature and according to the temperature of the processing chamber 1.
Moreover, since the mixing of two or more chemical solutions can be controlled with high precision, the surface of the substrate 2 to be surface-treated can be stably treated, and the quality and precision of the substrate 2 to be surface-treated can be improved. becomes possible.

なお、上記実施例では、ノズルを2つ設けたが、ノズル
を3つ以上設けるようにしてもよいし、また、スピンチ
ャックを回転駆動ではなく水平移動させるようにしても
よい。
In the above embodiment, two nozzles are provided, but three or more nozzles may be provided, or the spin chuck may be moved horizontally instead of being driven rotationally.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上述べたように本発明に係る処理装置は、2つ以上の
ノズルを設け、これら各ノズルに薬液が常に循環する配
管を接続するとともに、上記薬液を所定温度に保持し上
記ノズルからの薬液噴射時間を処理室温度に応じて正確
に制御する処理制御装置を設けるようにしたので、2以
上の薬液を任意の混合比でかつ高精度で噴射させること
ができ、また、ノズルの噴射口が閉塞しているときに、
薬液が常時循環しているので、薬液の温度変動が生ずる
ことがなく、処理安定性を著しく高めることができる。
As described above, the processing device according to the present invention is provided with two or more nozzles, each of which is connected to a pipe through which a chemical solution is constantly circulated, the chemical solution is maintained at a predetermined temperature, and the chemical solution is sprayed from the nozzle. Since we have installed a process control device that accurately controls the time according to the process chamber temperature, it is possible to inject two or more chemical solutions at any mixing ratio and with high precision, and it also prevents the nozzle injection port from becoming clogged. When you are doing
Since the chemical solution is constantly circulated, temperature fluctuations of the chemical solution do not occur, and processing stability can be significantly improved.

その結果、被表面処理基板表面の安定した処理を行なう
ことができ、被表面処理基板の品質の向上および精度の
向上を図ることが可能となる等の効果を奏する。
As a result, the surface of the substrate to be surface-treated can be stably processed, and the quality and precision of the substrate to be surface-treated can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は第1
図のノズル部分の縦断面図、第3図は2つの薬液を混合
する場合の出力信号を示す説明図、第4図は従来の処理
装置を示す構成図である。 1・・・処理室、2・・・被表面処理基板、3・・・ス
ピンチャック、8・・・ノズル、19・・・回転制御装
置、20・・・薬液導入配管、21・・・薬液排出配管
、23.39・・・温度センサ、24・・・噴射口、2
5・・・プランジャ、32・・・薬液供給装置、33・
・・恒温水槽、38・・・半導体熱交換器、40・・・
温度制御装置、42・・・熱交換配管、47・・・薬液
タンク、52・・・処理制御装置。
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
FIG. 3 is an explanatory diagram showing an output signal when two chemical solutions are mixed, and FIG. 4 is a configuration diagram showing a conventional processing device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Processing chamber, 2... Substrate to be surface treated, 3... Spin chuck, 8... Nozzle, 19... Rotation control device, 20... Chemical solution introduction piping, 21... Chemical solution Discharge piping, 23.39...Temperature sensor, 24...Injection port, 2
5... Plunger, 32... Chemical solution supply device, 33.
... Constant temperature water tank, 38... Semiconductor heat exchanger, 40...
Temperature control device, 42... Heat exchange piping, 47... Chemical tank, 52... Processing control device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、処理室内に設けられた被表面処理基板を回転自在に
保持するスピンチャックと、上記処理室の内部上方に上
記被表面処理基板に指向するように配設された複数の薬
液噴射ノズルと、上記各噴射ノズルの内部に摺動自在に
設けられ電磁コイルへの通電により噴射口を開閉するプ
ランジャと、上記各噴射ノズルにそれぞれ接続され上記
噴射口が閉塞状態のときに連通する薬液の導入配管およ
び排出配管と、上記導入配管および排出配管が接続され
上記薬液を所定温度で循環供給させる薬液供給装置と、
内部にクロックパルス信号を内蔵し、このパルス信号を
上記各噴射ノズルに出力し、各噴射ノズルに対する上記
パルス数の比を変えることにより薬液の噴射時間を制御
して単位時間当りの各噴射ノズルからの薬液噴射量を制
御するとともに、上記処理室内の温度に応じて上記薬液
供給装置における薬液温度を制御する処理制御装置とを
有することを特徴とする処理装置。 2、上記各噴射ノズルに異なる薬液を供給し、上記処理
制御装置により、各噴射ノズルからの噴射時間比を変化
させて各薬液の混合比を制御させることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の処理装置。 3、上記処理制御装置により、時間経過に伴ない各噴射
ノズルからの薬液噴射時間を変化させ、薬液の混合比を
時間経過に伴ない可変させることを特徴とする特許請求
の範囲第2項記載の処理装置。 4、上記処理室の温度変化に応じて、薬液の最適反応時
間となるように薬液の噴射時間を制御させることを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の処理装置。
[Scope of Claims] 1. A spin chuck that rotatably holds the substrate to be surface-treated provided in the processing chamber, and a plurality of spin chucks disposed above the inside of the processing chamber so as to face the substrate to be surface-treated. a chemical liquid injection nozzle; a plunger that is slidably provided inside each of the injection nozzles and opens and closes the injection port by energizing an electromagnetic coil; An inlet pipe and a discharge pipe for a chemical solution that communicate with each other, and a chemical solution supply device to which the introduction pipe and the discharge pipe are connected to circulate and supply the chemical solution at a predetermined temperature;
A clock pulse signal is built in, and this pulse signal is output to each of the above injection nozzles, and by changing the ratio of the number of pulses to each injection nozzle, the injection time of the chemical liquid is controlled, and from each injection nozzle per unit time. 1. A processing device comprising: a processing control device that controls the injection amount of a chemical solution, and controls the temperature of a chemical solution in the chemical solution supply device according to the temperature inside the processing chamber. 2. Different chemical solutions are supplied to each of the injection nozzles, and the mixing ratio of each chemical solution is controlled by the processing control device by changing the injection time ratio from each injection nozzle. Processing equipment described in Section 1. 3. Claim 2, characterized in that the processing control device changes the chemical liquid injection time from each injection nozzle over time, and changes the mixing ratio of the chemical liquid over time. processing equipment. 4. The processing apparatus according to claim 1, wherein the injection time of the chemical solution is controlled in accordance with temperature changes in the processing chamber so as to provide an optimum reaction time for the chemical solution.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013207268A (en) * 2012-03-29 2013-10-07 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate processing device and substrate processing method

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