JPS63243174A - Coating liquid for forming high-purity silica coating film - Google Patents

Coating liquid for forming high-purity silica coating film

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JPS63243174A
JPS63243174A JP7929487A JP7929487A JPS63243174A JP S63243174 A JPS63243174 A JP S63243174A JP 7929487 A JP7929487 A JP 7929487A JP 7929487 A JP7929487 A JP 7929487A JP S63243174 A JPS63243174 A JP S63243174A
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JP
Japan
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liquid
forming
coating liquid
silica film
coating
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Application number
JP7929487A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Niwa
健二 丹羽
Asao Oya
大屋 朝夫
Yutaka Suzuki
豊 鈴木
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Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To obtain the titled coating liquid giving a coating film having excellent crack resistance and suitable for insulation between wires on IC or surface- protection of IC, by compounding a polycondensation liquid of a specific tetraalkoxysilane compound and a polycondensation liquid of a specific dialkoxysilane compound. CONSTITUTION:The objective coating liquid having a crack-resistant film thickness of >=1mum can be produced by compounding (A) a reaction liquid (liquid A) obtained by polycondensation of a tetraalkoxysilane compound of formula I (R1-R4 are alkyl or aryl) or its low-condensation product (oligomer compound) in water and an organic solvent at 100-250 deg.C and (B) a reaction liquid (liquid B) produced by polycondensation of a dialkoxysilane compound of formula II (R5 and R6 are alkyl or aryl; R7 and R8 are H, alkyl or aryl; R7 and R8 are not H at the same time) in water and an organic solvent. The molar ratio of the Si in the liquid B to the Si in the liquid B is 0.1-1.3.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本願発明はシリカ被膜形成用塗布液に関する。[Detailed description of the invention] <Industrial application field> The present invention relates to a coating liquid for forming a silica film.

更に詳しくは、例えば半導体製造においてIC上の配線
間の絶縁或は表面保護用の新規なシリカ被膜形成用塗布
液に関するものである。
More specifically, the present invention relates to a coating liquid for forming a novel silica film for insulation between wirings on an IC or for surface protection in semiconductor manufacturing, for example.

〈従来の技術〉 半導体の技術は急速に進展して−a>)、配線多層化に
よる高集積比や三次元ICの開発が進められている。こ
の様な背景の中にあって平坦化、スムージング技術の重
要性がクローズアップされてきている。特に配線の多層
集積化、ポリシリコンとアルミ配線間の絶縁を如何にす
るかは重要な課題となっている。精度よく信頼性があっ
て安価に製造することが必要であるが、従来の気相法で
は平坦化、信頼性に問題が発生しつつあり、コストも高
い等の欠点がある。又塗布法に関しては素材としてポリ
イミド、シリカガラス等の提案がされているが、ポリイ
ミド系のものは耐熱性、加工性等に欠点を有し信頼性が
問題とされている。又、シリカガラス系のものは一般に
アルコキシシリケート又はその縮合物を用いることが知
られている(英国特許第1076109号明細書)。こ
れらアルコキシシリケート系は、酸やアルカリ触媒を用
いて脱水又は脱アルコール縮合させるものである。その
後これらの改良としてハロゲン化シランとカルボン酸と
アルコールとの反応生成物を用いる方法(特公昭52−
16488号公報、同52−20825号公報)や、ア
ルコキシシランを酸性触媒の存在下に反応させ生成物の
安定化剤として酢酸類を使用する方法(特開昭54−2
4881号公報)が提案されている。これらの方法によ
り得られた塗布膜のクラックの発生しない最高の膜厚は
(以下耐クラツク性と略す。)精々8゜000〜4,0
00人種度のものが限度であり、これより厚い膜を焼成
で得ようとすれば膜にクラックが発生し、層間絶縁膜或
は表面保護膜として適する耐クラック性5.000Å以
上の膜を得ることは困難であった。
<Prior Art> Semiconductor technology is progressing rapidly -a>), and progress is being made in the development of high integration ratios and three-dimensional ICs through multilayer wiring. Against this background, the importance of flattening and smoothing technology has been highlighted. In particular, multilayer integration of interconnects and how to insulate between polysilicon and aluminum interconnects are important issues. Although it is necessary to manufacture it accurately, reliably, and at low cost, conventional vapor phase methods have drawbacks such as problems with flattening and reliability, and high costs. Regarding coating methods, polyimide, silica glass, and other materials have been proposed as materials, but polyimide-based materials have drawbacks in heat resistance, workability, etc., and reliability is a problem. Furthermore, it is known that silica glass-based materials generally use alkoxy silicates or condensates thereof (UK Patent No. 1076109). These alkoxysilicates are subjected to dehydration or dealcoholization using an acid or alkali catalyst. Later, as an improvement on these methods, a method using a reaction product of a halogenated silane, a carboxylic acid, and an alcohol (Japanese Patent Publication No. 1987-
16488, 52-20825), a method in which alkoxysilane is reacted in the presence of an acidic catalyst and acetic acids are used as a stabilizer for the product (JP-A-54-2
No. 4881) has been proposed. The maximum film thickness without cracking of the coating film obtained by these methods (hereinafter abbreviated as crack resistance) is at most 8°000 to 4.0°.
The limit is 0.00 Å, and if you try to obtain a film thicker than this by firing, cracks will occur in the film, so it is necessary to create a film with a crack resistance of 5.000 Å or more that is suitable as an interlayer insulating film or a surface protection film. It was difficult to obtain.

これに対し、トリアルコキシシランの低縮合体をシード
として無触媒下にジアルコキシシランやテトラアルコキ
シシランと縮重合させる方法(特公昭61−854号公
報)の提案があるが、最終的にはゲル化防止剤として酢
酸が17%程度含有されており本発明の用途には使用で
きない。
On the other hand, a method has been proposed in which a low condensate of trialkoxysilane is used as a seed to undergo condensation polymerization with dialkoxysilane or tetraalkoxysilane in the absence of a catalyst (Japanese Patent Publication No. 854/1985), but the final result is a gel It contains about 17% of acetic acid as a chemical inhibitor and cannot be used for the purposes of the present invention.

斯かる状況において本願発明首等は、既にテトラアルコ
キシシラン化合物又はこれらの低縮合物を無触媒下に高
温で縮合させることにより、高純度で膜厚5,000Å
以上の塗布液の製造方法を提供している。(特願昭61
−290848号)しかし未だ十分満足できるものでは
ない。
Under such circumstances, the inventors of the present application have already condensed a tetraalkoxysilane compound or a low condensate thereof at high temperature in the absence of a catalyst, thereby producing a highly pure film with a thickness of 5,000 Å.
A method for manufacturing the above coating liquid is provided. (Special application 1986
(No.-290848) However, it is still not completely satisfactory.

〈発明が解決すべき問題点〉 そこで、本発明の目的は、従来の性能をより向上させた
耐クラツク性膜厚が1μtn以上のシリカ被膜形成用塗
布液を提供することにある。
<Problems to be Solved by the Invention> Therefore, an object of the present invention is to provide a coating liquid for forming a silica film having a crack-resistant film thickness of 1 μtn or more, which has improved performance compared to the conventional one.

く問題点を解決する為の手段〉 本願発明者等は、該先願の問題点に対し更に研究を重ね
た結果、触媒の存在又は無存在下に安定化剤等の成分を
加えることなく、高温で縮重合させた物がシリカ被膜形
成用塗布液として優れていることを見い出し、本発明を
完成するに至また。
As a result of further research into the problems of the earlier application, the inventors of the present application have found that, in the presence or absence of a catalyst, without adding any components such as a stabilizer, It was discovered that a product obtained by condensation polymerization at high temperature is excellent as a coating solution for forming a silica film, and this led to the completion of the present invention.

即ち、本発明は一般式(a) OR+ R40−8i −OR2(a)  Rs (式中R1、R2、R3及びR4はアルキル基又はアリ
ール基を示す。)で表わされるテトラアルコキシシラン
化合物又はこれらの低縮合物(オリゴマー化合物)を、
水及び有機溶剤の存在下に無触媒で100’Cから25
0 ’C!で縮重合させた反応液(以下A液というつ 
)と、一般式(b) R50−8i−OR6(b) (式中R5及び1り6はアルキル基又はアリール基を示
す。又R7及びR8は水素、アルキル基又はアリール基
を示す。但しR7及びR8がともに水素である場合を除
く。)で示されるジアルコキシシラン化合物を水及び有
機溶剤の存在下に縮重合(以下重合という。)させた反
応液(以下B液という。)とを、A液中のSiに対する
B液中のSiのモル比が0.1〜1,8.となるように
含有することを特徴とするシリカ被膜形成用塗布液であ
る。
That is, the present invention provides a tetraalkoxysilane compound represented by the general formula (a) OR+ R40-8i -OR2(a) Rs (wherein R1, R2, R3 and R4 represent an alkyl group or an aryl group) or a tetraalkoxysilane compound represented by the general formula (a) OR+ R40-8i -OR2(a) Low condensates (oligomer compounds),
from 100'C to 25°C without catalyst in the presence of water and organic solvents.
0'C! The reaction solution (hereinafter referred to as solution A) obtained by condensation polymerization is
) and the general formula (b) R50-8i-OR6(b) (In the formula, R5 and 16 represent an alkyl group or an aryl group. Also, R7 and R8 represent hydrogen, an alkyl group, or an aryl group. However, R7 and R8 are both hydrogen.) A reaction solution (hereinafter referred to as liquid B) obtained by condensation polymerization (hereinafter referred to as polymerization) of a dialkoxysilane compound represented by (except when R8 is hydrogen) in the presence of water and an organic solvent. The molar ratio of Si in liquid B to Si in liquid A is 0.1 to 1.8. This is a coating liquid for forming a silica film, characterized by containing the following:

以下本発明につき具体的に記述する。The present invention will be specifically described below.

本発明で使用される一般式(a)で表わされるアルコキ
シシリケート化合物とはテトラアルコキシシランを示す
。即ち一般式(a)においてR1〜R4はアルキル基又
はアリール基を表わし、アルキル基としては炭素数が1
〜5のものであり、中でも炭素数が1〜8のものが好ま
しい。R1〜R4は同一でも異っていても良い。具体的
にはメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基
、ブチル基、ペンチル基等を表わす。
The alkoxysilicate compound represented by the general formula (a) used in the present invention refers to tetraalkoxysilane. That is, in the general formula (a), R1 to R4 represent an alkyl group or an aryl group, and the alkyl group has 1 carbon number.
-5 carbon atoms, and those having 1 to 8 carbon atoms are particularly preferred. R1 to R4 may be the same or different. Specifically, it represents a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a pentyl group, etc.

好ましくメチル基、エチル基、イソプロピル基である。Preferred are methyl group, ethyl group, and isopropyl group.

アリール基としてはフェニル基、トリル基、キシリル基
等である。好ましくはフェニル基である。一般式(a)
で表わされるアルコキシシリケート化合物の例としては
テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ
プロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テト
ラブトキシシラン、テトラペントキシシラン、テトラフ
ェノキシシラン等が挙げられる。
Examples of the aryl group include phenyl group, tolyl group, and xylyl group. Preferably it is a phenyl group. General formula (a)
Examples of the alkoxysilicate compound represented by the above include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetraisopropoxysilane, tetrabutoxysilane, tetrapentoxysilane, and tetraphenoxysilane.

この中でもテトラメトキシシラン、テトラエトキシシラ
ンが特に好適に使用される。
Among these, tetramethoxysilane and tetraethoxysilane are particularly preferably used.

又これらのテトラアルコキシシランの低縮合物(オリゴ
マー化合物)としては平均縮合度n=5〜6のものであ
り、例えば市販されているコルコート社製のMS−51
((商品名)メチルシリケート縮合体)、ES−40(
(商品名)エチルシリケート縮合体)等を用いることが
できる。
Low condensation products (oligomer compounds) of these tetraalkoxysilanes have an average degree of condensation n=5 to 6, such as MS-51 manufactured by Colcoat Co., Ltd., which is commercially available.
((Product name) Methyl silicate condensate), ES-40 (
(trade name) ethyl silicate condensate), etc. can be used.

又、一般式(()で表されるアルコキシシリケート化合
物とはジアルコキシシランを示す。即ち、一般式(()
においてR5及びR6はアルキル基又はアリール基を表
わし、アルキル基としては炭素数が1〜5のものであり
、中でも炭素数が1〜3のものが好ましい。R5及びR
6は同一でも異っていても良い。具体的にはメチル基、
エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ペ
ンチル基等を表わす。好ましくはメチル基、エチル基、
イソプロピル基である。アリール基としてはフェニル截
、トリル基、キシリル基等である。好ましくはフェニル
基である。又R7とR8は水素族、アルキル基又はアリ
ール基を表わし、アルキル基としては炭素数が1〜5の
ものであり、中でも炭素数が1〜8のものが好ましい。
In addition, the alkoxysilicate compound represented by the general formula (()) refers to dialkoxysilane. That is, the alkoxysilicate compound represented by the general formula (()
In the formula, R5 and R6 represent an alkyl group or an aryl group, and the alkyl group has 1 to 5 carbon atoms, and preferably has 1 to 3 carbon atoms. R5 and R
6 may be the same or different. Specifically, methyl group,
Represents an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a pentyl group, etc. Preferably a methyl group, an ethyl group,
It is an isopropyl group. Examples of the aryl group include phenyl, tolyl, and xylyl groups. Preferably it is a phenyl group. Further, R7 and R8 represent a hydrogen group, an alkyl group, or an aryl group, and the alkyl group has 1 to 5 carbon atoms, preferably one having 1 to 8 carbon atoms.

R7、R8は同一でも異っていても良い。R7 and R8 may be the same or different.

但しR7及びR8がともに水素である場合は除く。However, the case where both R7 and R8 are hydrogen is excluded.

具体的には水素、メチル基、エチル基、プロピル基、イ
ソプロピル基、ブチル基、ペンチル基等を表わす。好ま
しくは水素、メチル基、エチル基、イソプロピル基等で
ある。アリール基としてはフェニル基、トリル基、キシ
リル基等であり好ましくはフェニル基である。
Specifically, it represents hydrogen, methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, butyl group, pentyl group, etc. Preferred are hydrogen, methyl group, ethyl group, isopropyl group, and the like. Examples of the aryl group include phenyl group, tolyl group, xylyl group, etc., and phenyl group is preferable.

一般式(b)で表わされるジアルコキシシリケート化合
物の例としてはメチルジメトキシシラン、ジメチルジメ
トキシシラン、メチルフェニルジメトキシシラン、ジフ
ェニルジメトキシシラン、メチルジェトキシシラン、ジ
メチルジェトキシシラン、メチルフェニルジメトキシシ
ラン、ジフェニルジメトキシシラン、メチルジプロポキ
シシラン、ジメチルジプロポキシシラン、メチルフェニ
ルジプロポキシシラン、ジフェニルジブトキシシラン、
メチルジイソプロポキシシラン、ジメチルジイソプロポ
キシシラン、メチルフェニルジイソプロポキシシラン、
ジフェニルジイソプロポキシシラン、メチルジブトキシ
シラン、ジメチルジブトキシシラン、メチルフてニルジ
ブトキシシラン、ジフェニルジブトキシシラン、メチル
ジベントキシシラン、ジメチルジベントキシシラン、メ
チルフェニルジペントキシシラン、シフ□ニルジベント
キシシラン、メチルジブトキシシラン、ジメチルシフ、
ツキジシラン、メチルフェニルジフェノキシシラン、ジ
フェニルジフェノキシシラン等が挙ケられる。これらの
中でもジメチルジメトキシシラン、ジメチルジェトキシ
シランが特に好適に使用される。
Examples of dialkoxysilicate compounds represented by general formula (b) include methyldimethoxysilane, dimethyldimethoxysilane, methylphenyldimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, methyljethoxysilane, dimethyljethoxysilane, methylphenyldimethoxysilane, and diphenyldimethoxysilane. Silane, methyldipropoxysilane, dimethyldipropoxysilane, methylphenyldipropoxysilane, diphenyldibutoxysilane,
Methyldiisopropoxysilane, dimethyldiisopropoxysilane, methylphenyldiisopropoxysilane,
Diphenyldiisopropoxysilane, methyldibutoxysilane, dimethyldibutoxysilane, methyldibutoxysilane, diphenyldibutoxysilane, methyldibentoxysilane, dimethyldibentoxysilane, methylphenyldipentoxysilane, Schifnil dibenoxysilane, methyldibutoxysilane, dimethylschiff,
Examples include tsukijisilane, methylphenyldiphenoxysilane, diphenyldiphenoxysilane, and the like. Among these, dimethyldimethoxysilane and dimethyljethoxysilane are particularly preferably used.

次に、使用する水の量は少いと反応が進行せず、多い場
合にはゲル化し易い等の問題が生じる。一般的にはA液
、B液共にSiに対してモル比で0.5〜5であり、好
ましくは0.5〜8.5である。A液はテトラアルコキ
シシランの重合物であるのでモル比は2に近い値が好ま
しく用有機溶媒はアルコキシシリケート化合物又はその
縮合生成ポリマーが可溶性のものであれば良い。例工ば
メタノール、エタノール、イソロバノール、ブタノール
、ペンタノール、ヘキサノール、シクロヘキサノール等
のアルコール類、THF、;エチルエーテル、エチルセ
ルソルブ等ノエーテル類、酢酸エチル等のエステル類、
又はベンゼン、トルエン等の芳香族炭化水素等である。
Next, if the amount of water used is small, the reaction will not proceed, and if it is large, problems such as gelation will occur. Generally, the molar ratio of both A liquid and B liquid to Si is 0.5 to 5, preferably 0.5 to 8.5. Since Part A is a polymer of tetraalkoxysilane, the molar ratio is preferably close to 2, and the organic solvent used may be any organic solvent in which the alkoxysilicate compound or its condensation polymer is soluble. Examples include alcohols such as methanol, ethanol, isolovanol, butanol, pentanol, hexanol, and cyclohexanol; THF; ethers such as ethyl ether and ethyl cellosolve; esters such as ethyl acetate;
Or aromatic hydrocarbons such as benzene and toluene.

このうち好ましいのはイソプロパツール、エタノール等
のアルコール類である。悪心終了後上記有機溶剤で希釈
することも可能である。有機溶剤の使用量は膜厚との関
係或は平坦性との関係で適宜決定される。
Among these, alcohols such as isopropanol and ethanol are preferred. It is also possible to dilute with the above organic solvent after the nausea has stopped. The amount of organic solvent used is appropriately determined in relation to film thickness or flatness.

一般的にはSiに対して3〜8倍molである。Generally, the mol is 3 to 8 times that of Si.

以下、A液及びB液を製造する方法について具体的に説
明する。
Hereinafter, a method for manufacturing liquid A and liquid B will be specifically explained.

A液の製造方法はガラス製又はガラスライニングをした
ステンレス製オートクレーブにアルコキシシラン又はそ
の低縮合物(オリゴマー)、有機溶剤、水を夫々所定量
加えた後、攪拌下に加熱重合する。反応温度は100〜
250“Cである。好ましくは120〜200℃である
The method for producing Solution A is to add predetermined amounts of alkoxysilane or its low condensate (oligomer), an organic solvent, and water to a glass or glass-lined stainless steel autoclave, and then heat and polymerize with stirring. The reaction temperature is 100~
250"C, preferably 120 to 200C.

100’C以下では非常に反応速度が遅く工業的には好
ましくない。又250 ’C以上の高温では高圧になり
装置上の問題からも好ましくない。
If the temperature is below 100'C, the reaction rate is very slow and it is not preferred industrially. Furthermore, a high temperature of 250'C or higher is undesirable due to high pressure, which causes equipment problems.

反応時間は反応温度により異なるが、通常好ましくは4
時間前後である。
The reaction time varies depending on the reaction temperature, but is usually preferably 4
It's around the time.

次に、B液の製造方法は無触媒で行う方法と触媒下に行
う方法のいずれでもよい。無触媒下に行う方法はA液の
製造方法と実質的に同じようにして行うことができる。
Next, the method for producing liquid B may be either a non-catalytic method or a catalytic method. The method carried out without a catalyst can be carried out in substantially the same manner as the method for producing liquid A.

一方、触媒下に行う方法は反応温度が150℃以下、好
ましくはθ〜100″Cで行う以外は無触媒の場合と同
じように製造することができる。触媒としては酸又はア
ルカリ触媒が使用される。酸触媒の代表的なものは塩酸
、硝酸、硫酸、酢酸等である。又アルカリ触媒で代表的
なものはカセイソーダ、水酸化カリウム、アンモニア、
テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド、ピリジ
ン等である。いずれの触媒を使用することもできるが、
半導体用途に使用するので高純度が求められることから
、後精製の容易な塩酸、酢酸、アンモニア等が好適に用
いられる。
On the other hand, in the method carried out under a catalyst, the production can be carried out in the same manner as in the case without a catalyst, except that the reaction temperature is 150°C or less, preferably θ~100"C. As the catalyst, an acid or alkali catalyst is used. Typical acid catalysts are hydrochloric acid, nitric acid, sulfuric acid, acetic acid, etc. Typical alkali catalysts are caustic soda, potassium hydroxide, ammonia,
These include tetramethylammonium hydroxide and pyridine. Although any catalyst can be used,
Since high purity is required for use in semiconductor applications, hydrochloric acid, acetic acid, ammonia, etc., which can be easily post-purified, are preferably used.

触媒を使用した場合には、触媒から混入する塩素等の不
純物を除去するために、一般的な精製方法即ち蒸溜によ
る精製やイオン交換胡脂による精製等によりこれらを除
去した後B[として使用するのが好ましい。尚、触媒か
らの不純物混入防止の点から無触媒下に行う方がより好
ましい。
When a catalyst is used, in order to remove impurities such as chlorine mixed in from the catalyst, these are removed by general purification methods, such as distillation or ion exchange sesame oil, before use as B. is preferable. Note that it is more preferable to carry out the reaction without a catalyst from the viewpoint of preventing contamination of impurities from the catalyst.

このようにして得られたアルコキシシランポリマーの重
量平均分子盪(GPC法、標準ポリスチレン換算)は2
,000〜50,000であり、好ましくはa 、oo
o〜ao、oooであるつじかもA液、B液のアルコキ
シシランポリマーが略同一のM量平均分子1を有する方
が好ましい。重量平均分子量が2.000以下では成膜
性悪化や残膜率の低下をきたすため好ましくない。50
.000以上であると塗布液の粘度が高すぎて実用的で
ない。
The weight average molecular weight of the alkoxysilane polymer thus obtained (GPC method, standard polystyrene conversion) is 2.
,000 to 50,000, preferably a,oo
It is preferable that the alkoxysilane polymers of liquid A and liquid B, which are o to ao and ooo, have substantially the same M weight average molecule 1. If the weight average molecular weight is less than 2.000, it is not preferable because the film forming property deteriorates and the residual film rate decreases. 50
.. 000 or more, the viscosity of the coating liquid is too high to be practical.

又、アルコキシシランポリマーの分散度(重量平均分子
量/数平均分子量)は20以下が好ましい。更に好まし
くは5以下である。より好ましくは8以下である。分散
度が20以上では均一な塗布膜が得がたくなるために不
適である。
Further, the degree of dispersion (weight average molecular weight/number average molecular weight) of the alkoxysilane polymer is preferably 20 or less. More preferably, it is 5 or less. More preferably it is 8 or less. If the degree of dispersion is 20 or more, it is unsuitable because it becomes difficult to obtain a uniform coating film.

次にA液とB液の混合方法について述べる。Next, a method of mixing liquids A and B will be described.

混合方法はいかなる方法によっても良い。例えばA液、
B液を室温下で攪拌によって混合することができる。又
B液は有機溶剤を取り除いても固まらないので、蒸留に
より有機溶剤や触媒を取り除き重合物(シロキサンポリ
マー)の液状物として用いても良い。
Any mixing method may be used. For example, liquid A,
Solution B can be mixed by stirring at room temperature. Furthermore, since the B liquid does not solidify even if the organic solvent is removed, the organic solvent and catalyst may be removed by distillation and used as a liquid polymer (siloxane polymer).

B液とA液のSiのモル比は、A液のSiのモル数を1
とした時に、0.5より小さい場合は。
The molar ratio of Si in liquid B and liquid A is as follows: the number of moles of Si in liquid A is 1
If it is smaller than 0.5.

1μm以上の厚膜を作る場合にクラックが入り易い等の
問題が生じる。又1.8より大きい場合には、成膜時に
油ではじかれた様な現象が生じきれいな膜は得がたい。
When making a thick film of 1 μm or more, problems such as easy cracking occur. If it is larger than 1.8, a phenomenon similar to oil repelling occurs during film formation, making it difficult to obtain a clean film.

よって好ましくは0.5〜1.8の領域が用いられる。Therefore, preferably a range of 0.5 to 1.8 is used.

シリカ被膜形成用塗布液は上記アルコキシシランポリマ
ーをメタノール、エタノール、イソプロパツール、ブタ
ノール、ペンタノール、ヘキサノール、シクロヘキサノ
ール等のアルコール類、THF、ジエチルエーテル、エ
チルセルソルブ等のエーテル類、酢酸エチル等のエステ
ル類、又はベンゼン、トルエン等の芳香族炭化水素類の
有機溶剤に溶解して得られる。アルコキシシランポリマ
ーと有機溶剤の混合物における該ポリマーの濃度は、所
望の膜厚が得られるように適宜決定されるが、一般的に
は4重量%以上であり、10重1%以上が好適である。
The coating solution for forming a silica film is the above alkoxysilane polymer, alcohols such as methanol, ethanol, isopropanol, butanol, pentanol, hexanol, cyclohexanol, ethers such as THF, diethyl ether, ethyl cellosolve, ethyl acetate, etc. or aromatic hydrocarbons such as benzene and toluene dissolved in an organic solvent. The concentration of the alkoxysilane polymer in the mixture of the organic solvent is appropriately determined so as to obtain the desired film thickness, but is generally 4% by weight or more, preferably 1% by weight or more. .

被膜形成方法は上記塗布液を一般に使用されるスピンコ
ード法又は浸漬法により塗布し、次いで風乾又は低温加
熱により溶剤を充分除去した後、400 ′C以上の温
度に加熱して未反応のアルコキシ基を分解させ、この部
分でシロキサン結合を形成させることにより行われるっ
この被膜形成に於て熱処理は熱処理温度にも依存するが
、10分間以上好ましくは80分間以上行われる。この
際、酸素の存在する雰囲気下で熱処理することが好まし
い。
The film formation method is to apply the above coating solution by a commonly used spin code method or dipping method, then air dry or low temperature heating to sufficiently remove the solvent, and then heat to a temperature of 400'C or higher to remove unreacted alkoxy groups. In forming this film, which is carried out by decomposing the siloxane bond and forming a siloxane bond in this part, the heat treatment is carried out for 10 minutes or more, preferably 80 minutes or more, although it depends on the heat treatment temperature. At this time, it is preferable to perform the heat treatment in an atmosphere containing oxygen.

〈実施例〉 以下本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明
は何等これらに限定されるものではない。物性値の測定
は次の如く行なった。
<Examples> The present invention will be specifically explained below using Examples, but the present invention is not limited to these in any way. The physical property values were measured as follows.

(1)重量平均分子量の測定・ GPC(ゲルパーミエーシ日ンクロマトグラフィー)法
により測定した値を、昭和電工(株) (7) 5ho
dex 5tandard S シリーズ(7)SL−
IO2を用いたポリスチレン(標準球)換算値で表わし
たつ GPC法の測定は装置として日本分光社のTRI R(
JTAR−1を使用し、カラムとして昭和電工(株) 
(D 5hodex A−80M(8φX500m) 
 及び/又ハKF−802 (8φxa 00!!II
)を接続し、横出器としてRI、溶離液として酢酸エチ
ルを使用した。又流量は1m/分とした。
(1) Measurement of weight average molecular weight - The value measured by GPC (gel permeability chromatography) method was measured using Showa Denko Co., Ltd. (7) 5ho.
dex 5 standard S series (7) SL-
The measurement using the GPC method using IO2 expressed as a polystyrene (standard sphere) equivalent value was carried out using JASCO Corporation's TRI R (
JTAR-1 was used and Showa Denko Co., Ltd. was used as the column.
(D 5hodex A-80M (8φX500m)
And/or HaKF-802 (8φxa 00!!II
) was connected, RI was used as the extractor, and ethyl acetate was used as the eluent. Further, the flow rate was 1 m/min.

所定の方法に基づきMN (数平均分子Q ) 、Mw
(重量平均分子量)、Q=lV1w/MN(分散度)を
求めた。
Based on a predetermined method, MN (number average molecule Q), Mw
(weight average molecular weight) and Q=lV1w/MN (dispersity) were determined.

(2)不純物の測定方法 反応生成物を白金皿に取り、ケイ素を過剰量の50¥フ
ツ酸で処理し四フッ化ケイ素に変えた後、湯浴上で蒸発
乾固する。残査を水に溶解し所定量のメフラスコに取り
試料とする。金属成分に関しては高滓社製の高周波誘導
結合プラズマ(ICP)分析器(ICPQ−1012)
を用いて分析を行った。
(2) Method for measuring impurities The reaction product is placed in a platinum dish, the silicon is treated with an excess of 50 yen of hydrofluoric acid to convert it into silicon tetrafluoride, and then evaporated to dryness on a hot water bath. Dissolve the residue in water and take a predetermined amount of it in a flask and use it as a sample. For metal components, we used a high-frequency inductively coupled plasma (ICP) analyzer (ICPQ-1012) manufactured by Takashisha Co., Ltd.
The analysis was performed using

(8)  膜厚の測定方法 上記の反応生成物をミカサ社のミカサスピンナーIH−
860型で数−をシリコンウェハー上に滴下して、50
0〜8.50 Or pmで15秒間回転塗布して塗布
膜を形成した。この塗布膜を100℃で10分間熱風循
還炉に入れ予備焼成した後、更に450 ℃で80分間
拡散炉に入れて焼成を行−だ。膜厚の測定方法はランク
テーラ−、ボブソン社製のタリスチップで膜厚を測定し
た。このようにして成膜した膜のピンホールの測定はア
トメル社製ピンホールディテクターで測定を行ったっ (4)接着性の測定 接着性の測定(ビーリングテスト)は焼成後の膜にナイ
フで51角になる様にキズを入れた後、市販のセロテー
プにチバン(株)登録商標)を貼りつけて急激に剥がし
剥れた量を求めた。
(8) Method for measuring film thickness The above reaction product was measured using Mikasa Spinner IH-
Drop a few drops onto a silicon wafer using an 860 model, and
A coating film was formed by spin coating at 0 to 8.50 Or pm for 15 seconds. This coated film was preliminarily baked at 100° C. for 10 minutes in a hot air circulation furnace, and then further baked at 450° C. for 80 minutes in a diffusion furnace. The film thickness was measured using a Talis chip manufactured by Rank Taylor and Bobson. Pinholes in the film formed in this way were measured using a pinhole detector manufactured by Atmel. After making scratches at the corners, a commercially available cellophane tape (registered trademark of Chiban Co., Ltd.) was applied and peeled off rapidly to determine the amount of peeling.

(5)使用水 水は比抵抗15megΩ−ω以上の超純水を用いた。(5) Water used The water used was ultrapure water with a specific resistance of 15 megΩ-ω or more.

実施例1 (1)A液合成法 蒸留し不純物を除去したテトラエチルオルソシリケート
(以下TEO3と略記する。)208g、イソプロパツ
ール(以下IPAと略記する。)800g及び水86f
をILガラスオートクレーブに取り加温する。反応温度
150℃!、反応圧1す/−で4時間攪拌下(400r
pm)に加熱を行い重合させた。
Example 1 (1) Liquid A synthesis method 208 g of tetraethyl orthosilicate (hereinafter abbreviated as TEO3) from which impurities were removed by distillation, 800 g of isopropanol (hereinafter abbreviated as IPA), and 86 f of water.
Place in an IL glass autoclave and warm. Reaction temperature 150℃! , under stirring for 4 hours at a reaction pressure of 1 s/- (400 r
pm) to polymerize.

冷却後反応器から重合体混合物を取り出し、重合物の分
子量を測定した。
After cooling, the polymer mixture was taken out from the reactor, and the molecular weight of the polymer was measured.

分子量はMw=6,100 MN=4,800  Q=
1.27であった。
The molecular weight is Mw=6,100 MN=4,800 Q=
It was 1.27.

(2)B液合成法 蒸留し不純物を除去したジメチルジメトキシシラン(以
下DMDMSと略記する。、)120g、IPA  8
00g及び水18gをILガラスオートクレーブに取り
、同様に加温する。反応温度150℃1反応圧IKg/
dで6時間攪拌下(400rpm)に加熱し重合させた
。冷却後反応器から重合体混合物を取り出し、重合物の
分子量を測定した。分子きはlVLw 5.800 、
MN4,100、Q= 1.41 であった。この反応
液を減圧下に50℃で溶媒を留去した液をB液とする。
(2) Liquid B synthesis method 120 g of dimethyldimethoxysilane (hereinafter abbreviated as DMDMS) distilled to remove impurities, IPA 8
00g and 18g of water were placed in an IL glass autoclave and heated in the same manner. Reaction temperature 150℃ 1 reaction pressure IKg/
The mixture was heated under stirring (400 rpm) for 6 hours at d for polymerization. After cooling, the polymer mixture was taken out from the reactor, and the molecular weight of the polymer was measured. The molecular weight is lVLw 5.800,
MN: 4,100, Q = 1.41. The solvent was distilled off from this reaction solution at 50° C. under reduced pressure, and the solution was designated as Solution B.

(8)被膜形成用塗布液の調製 A液100重屋部とB液15重量部(B液とA液のSi
モル比は0.95 ’)を室温下に攪拌、混合した。
(8) Preparation of coating liquid for film formation 100 parts by weight of liquid A and 15 parts by weight of liquid B (Si of liquid B and liquid A)
The molar ratio was 0.95') were stirred and mixed at room temperature.

(4)  物性測定 この混合液の純度を分析した結果は表−1の様であった
。この時のこの混合物の粘度は3、2 CPで、塩素イ
オンの濃度は検出限界(ippm)以下であった。
(4) Measurement of physical properties The purity of this mixture was analyzed and the results are shown in Table 1. The viscosity of this mixture at this time was 3.2 CP, and the concentration of chloride ions was below the detection limit (ippm).

表−1 この1合体混合物を用いシリコンウェハーに各柵回転速
度で15秒間スピンコードした後、200″0110分
子備焼成し更に450℃で80分焼成した時の膜厚の測
定結果を表−2に示す。表面は非常に滑らかな均質の膜
であった。又クラックの発生は認められず、ピーリング
テストの結果接着性も良好であり、ピンホール測定の2
5V耐圧テストの結果ピンホールは全く認められなかっ
た。
Table 1: Using this 1-coalescence mixture, a silicon wafer was spin-coded for 15 seconds at each bar rotation speed, then pre-fired for 200"0110 molecules, and further fired at 450°C for 80 minutes. Table 2 shows the measurement results of film thickness. The surface was a very smooth and homogeneous film. No cracks were observed, and the peeling test showed that the adhesion was good, and the pinhole measurement showed that the film had good adhesion.
As a result of the 5V withstand voltage test, no pinholes were observed.

表−2 実施例2 (1)  A液合成法 ES−40((商品名)エチルシリケート縮合体、縮合
度は5量体として計算した。)148.4 f、 IP
A800.5 fl、水21.6Fを1tのガラスオー
トクレーブに取り加温した。反応温度120 ′C1反
応圧1曝匂その他は実施例1と同様に反応を行った。こ
の溶液を分析した結果、粘度はaCPであり、分子量は
MW=11.200 MN=7,600 Q=1.47
であった。
Table 2 Example 2 (1) Liquid A synthesis method ES-40 ((trade name) ethyl silicate condensate, degree of condensation was calculated as a pentamer) 148.4 f, IP
800.5 fl of A and 21.6 F of water were placed in a 1 ton glass autoclave and heated. The reaction was carried out in the same manner as in Example 1 except for the reaction temperature: 120'C1, reaction pressure: 1 odor exposure. As a result of analyzing this solution, the viscosity was aCP, and the molecular weight was MW = 11.200 MN = 7,600 Q = 1.47
Met.

(2)B液合成法 DMDMS 1201、IPA80ON、水18fを1
tガラスオートクレーブに取り同様に加温する。反応温
度150℃1反応圧11Q/m、。
(2) B liquid synthesis method DMDMS 1201, IPA80ON, water 18f 1
Transfer to a T-glass autoclave and heat in the same manner. Reaction temperature: 150° C. Reaction pressure: 11 Q/m.

8時間攪拌下に加熱し重合させた。分子量Mw=12,
000 MN=8,700 Q=1.88であった。こ
の反応液を実施例1と同様に溶媒留去した液をB液とす
る。
The mixture was heated and polymerized with stirring for 8 hours. Molecular weight Mw=12,
000 MN=8,700 Q=1.88. The solvent of this reaction solution was distilled off in the same manner as in Example 1, and the solution was designated as Solution B.

(8)被膜形成用塗布液の調製 A液100重量部とB液15重量部(B液とA液のSi
モル比は0.95)を室温下に攪拌し混合した。
(8) Preparation of coating solution for film formation 100 parts by weight of solution A and 15 parts by weight of solution B (Si
The molar ratio was 0.95) were stirred and mixed at room temperature.

(4)  物性測定 この混合液の純度を分析した結果は表−8の様であった
。塩素イオンは検出限界(1p p ru )以下であ
った。実施例1と同様に成膜した成膜の試験結果を表−
4に示す。膜表面は非常に滑らかな均質の膜であり、ク
ラックの発生も認められず、接着性、ピンホールテスト
の結果も良好であった。
(4) Measurement of physical properties The purity of this mixture was analyzed and the results are shown in Table 8. Chlorine ions were below the detection limit (1p p ru ). The test results of the film formed in the same manner as in Example 1 are shown in the table.
4. The film surface was very smooth and homogeneous, no cracks were observed, and the adhesion and pinhole test results were also good.

表−8 表−4 実施例8 (1)A液合成法 MS−51((商品名)メチルシリケート縮合体)11
5.2g(平均5量体として計算χIPA800.5N
、水21.6Nをオートクレーブ中に取り、反応温度1
20℃で実施例1と同様に反応を行った。粘度及び分子
lはa、tcp%Mw=10,800 MN=7,80
0Q=1.88であった。
Table-8 Table-4 Example 8 (1) Liquid A synthesis method MS-51 ((trade name) methyl silicate condensate) 11
5.2g (calculated as average pentamer χIPA800.5N
, 21.6N of water was taken into an autoclave, and the reaction temperature was 1.
The reaction was carried out in the same manner as in Example 1 at 20°C. Viscosity and molecule l are a, tcp%Mw=10,800 MN=7,80
0Q=1.88.

(2)B液合成法 メチルジメトキシシラン(以後MDMSと略記するう 
)106g、IPA800.5g、水18gを加えて反
応温度150℃1反応圧1h/i、8時間攪拌下に加熱
し重合させた。分子量はMw=11 、000  MN
=7 、800  Q=1.41であった。この反応液
を減圧下に溶媒留去を行った液をB液とする。
(2) B liquid synthesis method Methyldimethoxysilane (hereinafter abbreviated as MDMS)
), 800.5 g of IPA, and 18 g of water were added, and the mixture was heated and polymerized with stirring at a reaction temperature of 150° C. and a reaction pressure of 1 h/i for 8 hours. Molecular weight is Mw=11,000 MN
=7,800Q=1.41. The solvent of this reaction solution was distilled off under reduced pressure, and the solution was designated as Solution B.

(8)  被膜形成用塗布液の調製 A液10 ONN郡部B液12.7重量部(A液とB液
の81モル比1,0)を室温下に攪拌し混合した。
(8) Preparation of Coating Solution for Film Formation Solution A 10 12.7 parts by weight of Solution B (81 mole ratio of Solution A and Solution B 1.0) were stirred and mixed at room temperature.

(4)物性測定 この混合液の純度分析の結果は表−5の様であった。塩
素イオンは検出限界(ippm)以下であった。実施例
1と同様に成膜した成膜の試験結果を表−6に示す。膜
表面は非常に滑らかな均質の膜であり、クラックの発生
も認められず、接着性、ピンホールテストの結果も良好
であった。
(4) Measurement of physical properties The results of purity analysis of this liquid mixture were as shown in Table 5. Chlorine ions were below the detection limit (ippm). Table 6 shows the test results of the film formed in the same manner as in Example 1. The film surface was very smooth and homogeneous, no cracks were observed, and the adhesion and pinhole test results were also good.

表−5 表−6 実5ai例4〜6、比較例1〜8 実施例2のA液とB液を用い、A液100Ii量部にB
液を0.5,10,15,25゜801!量部添加した
時の膜厚の耐クラツク性を比較検討した結果を表−7に
示す。
Table-5 Table-6 Actual 5ai Examples 4 to 6, Comparative Examples 1 to 8 Using liquids A and B of Example 2, B was added to 100Ii parts of liquid A.
Liquid 0.5, 10, 15, 25°801! Table 7 shows the results of a comparative study of the crack resistance of the film thickness when adding a certain amount.

表−7 実施例7 (1)A液合成法 実施例2で合成したA液を使用した。Table-7 Example 7 (1) A liquid synthesis method Solution A synthesized in Example 2 was used.

(2)B液合成法 DMDM5120g、I PA800 Q及び水11F
と、触媒として塩酸(86%) 0.1 ccをIPA
で10倍に希釈した液をlLのガラスオートクレーブに
取り加温した。反応温度は50″C1反応圧はIKt/
clIで攪拌下に2時間加熱を行い重合させた。
(2) B liquid synthesis method DMDM5120g, I PA800Q and water 11F
and 0.1 cc of hydrochloric acid (86%) as a catalyst to IPA.
The 10-fold diluted solution was placed in a 1L glass autoclave and heated. Reaction temperature is 50″C1 Reaction pressure is IKt/
Polymerization was carried out by heating for 2 hours with stirring using clI.

反応終了後触媒である塩酸を取り除く為蒸留法で溶媒留
去を繰返した。5回浴媒留去後塩素イオンを測定したと
ころ199m以下であった。また分子量はMw= 11
 、000  D、IN=7.400  Q=1.49
であった。
After the reaction was completed, the solvent was repeatedly distilled off to remove the catalyst, hydrochloric acid. After the bath medium was distilled off five times, chloride ions were measured and found to be 199 m or less. Also, the molecular weight is Mw = 11
, 000 D, IN=7.400 Q=1.49
Met.

この反応液をB液とした。This reaction solution was designated as Solution B.

(8)被膜形成用塗布液の調製 A液100重量部とB液1571量部を室温下に攪拌し
混合した。B液とA液のSiモル比は0.98であった
(8) Preparation of coating solution for film formation 100 parts by weight of liquid A and 1571 parts by weight of liquid B were stirred and mixed at room temperature. The Si molar ratio between liquid B and liquid A was 0.98.

(4)物性測定 この混合液の塩素イオン濃度の分析結果は検出限界以下
であった。
(4) Measurement of physical properties The analysis result of the chloride ion concentration of this mixed solution was below the detection limit.

成膜の試験結果を表−8に示す。The test results for film formation are shown in Table 8.

膜表面は非常に滑らかな均質の膜であり、クラックの発
生も認められず、接着性ピンホールテストの結果も良好
であった。
The film surface was very smooth and homogeneous, no cracks were observed, and the results of the adhesion pinhole test were also good.

表−8 〈発明の効果〉 本発明により、不純物が極めて少なく安定性の良い且つ
基材の腐食のより少い、厚膜でも耐クラツク性の良いシ
リカ被膜形成用塗布液ノ÷’444が提供される。この
塗布液は絶縁膜の他作護膜、パブシベーシ日ンの膜とし
ても使用できる。
Table 8 <Effects of the Invention> The present invention provides coating liquid No. 444 for forming a silica film, which has extremely low impurities, good stability, less corrosion of the base material, and good crack resistance even in thick films. be done. This coating solution can be used not only as an insulating film but also as a protective film and a public base film.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)一般式(a) ▲数式、化学式、表等があります▼(a) (式中R_1、R_2、R_3及びR_4はアルキル基
又はアリール基を示す。)で表わされるテトラアルコキ
シシラン化合物又はこれらの低縮合物(オリゴマー化合
物)を、水及び有機溶剤の存在下に無触媒で100℃か
ら250℃で縮重合させた反応液(以下A液という。)
と、一般式(b) ▲数式、化学式、表等があります▼(b) (式中R_5及びR_6はアルキル基又はアリール基を
示す。又R_7及びR_8は水素、アルキル基又はアリ
ール基を示す。但しR_7及びR_8がともに水素であ
る場合を除く。)で示されるジアルコキシシラン化合物
を水及び有機溶剤の存在下に縮重合させた反応液(以下
B液という。)とを、A液中のSiに対するB液中のS
iのモル比が0.1〜1.8となるように含有すること
を特徴とするシリカ被膜形成用塗布液。
(1) General formula (a) ▲There are mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼ (a) Tetraalkoxysilane compounds represented by (in the formula, R_1, R_2, R_3 and R_4 represent an alkyl group or an aryl group) or these A reaction solution obtained by condensing and polymerizing a low condensate (oligomer compound) at 100°C to 250°C in the presence of water and an organic solvent without a catalyst (hereinafter referred to as Solution A).
and general formula (b) ▲Mathematical formulas, chemical formulas, tables, etc.▼(b) (In the formula, R_5 and R_6 represent an alkyl group or an aryl group. Also, R_7 and R_8 represent hydrogen, an alkyl group, or an aryl group. However, this excludes the case where both R_7 and R_8 are hydrogen. S in liquid B relative to Si
A coating liquid for forming a silica film, characterized in that it contains i in a molar ratio of 0.1 to 1.8.
(2)B液がジアルコキシシラン化合物を無触媒下に1
00℃〜250℃で縮重合させて得ることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のシリカ被膜形成用塗布液。
(2) Liquid B contains dialkoxysilane compound without catalyst.
The coating liquid for forming a silica film according to claim 1, which is obtained by polycondensation at 00°C to 250°C.
(3)B液がジアルコキシシラン化合物を触媒の存在下
に0℃〜150℃で縮重合させて得ることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載のシリカ被膜形成用塗布液。
(3) The coating liquid for forming a silica film according to claim 1, wherein liquid B is obtained by polycondensing a dialkoxysilane compound at 0°C to 150°C in the presence of a catalyst.
(4)テトラアルコキシシラン化合物に対する水の使用
量が、Siに対してモル比で0.5〜5であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載のシリカ被膜形成用
塗布液。
(4) The coating solution for forming a silica film according to claim 1, wherein the amount of water used relative to the tetraalkoxysilane compound is 0.5 to 5 in molar ratio relative to Si.
(5)R_1〜R_6が炭素数1ないし5のアルキル基
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のシ
リカ被膜形成用塗布液。
(5) The coating liquid for forming a silica film according to claim 1, wherein R_1 to R_6 are alkyl groups having 1 to 5 carbon atoms.
(6)A液及びB液が重量平均分子量2,000〜50
,000のシロキサン系ポリマーを含有することを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のシリカ被膜形成用塗
布液。
(6) The weight average molecular weight of liquid A and liquid B is 2,000 to 50
The coating liquid for forming a silica film according to claim 1, characterized in that it contains a siloxane-based polymer of .
(7)A液及びB液が略同一の重量平均分子量を有する
シロキサン系ポリマーを含有することを特徴とする特許
請求の範囲第6項記載のシリカ被膜形成用塗布液。
(7) The coating liquid for forming a silica film according to claim 6, wherein liquid A and liquid B contain a siloxane polymer having substantially the same weight average molecular weight.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0424638A2 (en) * 1989-08-31 1991-05-02 Fujitsu Limited Fabrication of a semiconductor device including a step for prodiving a layer of insulating material formed from an organo-silica sol
WO1999021929A1 (en) * 1997-10-29 1999-05-06 Daikin Industries, Ltd. Coating material composition

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