JPS6324108A - Shuttle position sensor - Google Patents

Shuttle position sensor

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JPS6324108A
JPS6324108A JP15032886A JP15032886A JPS6324108A JP S6324108 A JPS6324108 A JP S6324108A JP 15032886 A JP15032886 A JP 15032886A JP 15032886 A JP15032886 A JP 15032886A JP S6324108 A JPS6324108 A JP S6324108A
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JP
Japan
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receiving element
light receiving
light
print
mask
Prior art date
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Application number
JP15032886A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Makoto Takekoshi
竹越 誠
Satoshi Yoshino
吉野 悟志
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Control Of Position Or Direction (AREA)
  • Character Spaces And Line Spaces In Printers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To eliminate the influence of variation in the light emission quantity of a light emitting element by generating a threshold value for obtaining an edge detection signal from the output of a light receiving element for pint clock detection. CONSTITUTION:The area of a hole for edge detection is equalized to the total area of holes for print clock detection. Consequently, light receiving elements 5a and 5b are irradiated almost equally in the quantity of light when the holes of masks 22 and 4 meet each other. A print clock waveform detected by the light receiving element 5a has its DC component cut off by a capacitor C1 and the remaining variation component VHP is compared with the threshold value by a comparing circuit 20. An edge waveform detected by a light receiving element 5b is compared by a comparing circuit 21 with a threshold value including the DC component of the print clock waveform. The circuit 21 outputs its result edge detection signal.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 シャトルの位置を検出するシャトル位置センサにおいて
、温度変動等による発光素子の発光量の変動により、シ
ャトル位置を誤検出することを避けるため、プリントク
ロック検出用受光素子の出力から、エツジ検出信号を得
るための閾値を作り、発光素子の発光量変動の影響を防
止した。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] In the shuttle position sensor that detects the position of the shuttle, in order to avoid erroneously detecting the shuttle position due to fluctuations in the amount of light emitted from the light emitting element due to temperature fluctuations, a light receiving system for detecting the print clock is used. A threshold value for obtaining an edge detection signal was created from the output of the element to prevent the influence of fluctuations in the amount of light emitted from the light emitting element.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明はシャトル式プリンタに用いられ、シャトルの位
置を安定に検出するシャトル位置センサに関する。
The present invention relates to a shuttle position sensor that is used in a shuttle type printer and stably detects the position of the shuttle.

シャトル式プリンタは複数の印字ヘッドを持ち、高速に
印字が出来る構造となっているワイヤドツトプリンタの
一種であり、各印字ヘッドは等間隔に配置され、いずれ
の印字ヘッドも同時に水平方向に移動しながら印字を行
う。一つの印字ヘッドの印字領域は、隣の印字ヘッドと
の間隔距離であり、この距離を各印字ヘッドが往復運動
している。
A shuttle printer is a type of wire dot printer that has multiple print heads and is designed to print at high speed.The print heads are arranged at equal intervals, and all print heads simultaneously move horizontally and Perform printing. The printing area of one print head is the distance between it and the adjacent print head, and each print head reciprocates over this distance.

この複数の印字へ・ノドを搭載して上記往復運動を行わ
せるのがシャトルである。そして、このシャトルの位置
検出手段として、発光素子、二枚のマスク及び受光素子
を、この順に並べ、受光素子の光量変化を利用している
ものが多い。
The shuttle carries the gutter for printing multiple characters and makes the above reciprocating motion. As a position detection means for this shuttle, a light emitting element, two masks, and a light receiving element are often arranged in this order, and changes in the amount of light from the light receiving element are utilized.

しかし、発光素子の光量が温度等により変化し易いため
、シャトルの位置検出を誤ることの無いように、発光出
力の変化に対応した工夫が必要である。
However, since the amount of light from the light emitting element is likely to change due to temperature and other factors, it is necessary to devise measures to accommodate changes in the light emitting output so as not to make mistakes in detecting the position of the shuttle.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図はシャトル位置センサの一例を説明する斜視図で
ある。
FIG. 3 is a perspective view illustrating an example of a shuttle position sensor.

シャトル1は案内棒6に沿って矢印A又はBの方向に移
動して印字を行う、このシャトル1に取付けたマスク4
と固定台に取付けたマスク3とは発光素子2と受光素子
5の間にあり、発光素子2の光はマスク3と4に設けら
れた穴が重なった場合、この穴を経て受光素子5を照射
する。
The shuttle 1 prints by moving along a guide rod 6 in the direction of arrow A or B. A mask 4 attached to this shuttle 1
and a mask 3 attached to a fixed stand are located between the light emitting element 2 and the light receiving element 5, and when the holes provided in the masks 3 and 4 overlap, the light from the light emitting element 2 passes through this hole and reaches the light receiving element 5. irradiate.

マスク3と4にはシャトル1がA側で反転する位置を検
出するエツジ検出用の穴と、シャトル1がB側で反転す
る位置を検出するエツジ検出用の穴と、印字タイミング
を決定するプリントクロック検出用の穴とが設けられて
おり、受光素子5は夫々の穴から入る光を受光するため
、3個の受光素子から構成される。
Masks 3 and 4 have edge detection holes to detect the position where shuttle 1 is reversed on the A side, edge detection holes to detect the position where shuttle 1 is reversed on the B side, and a print that determines the print timing. A hole for clock detection is provided, and the light receiving element 5 is composed of three light receiving elements in order to receive light entering from each hole.

第4図はマスクの一例を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a mask.

マスク3にはエツジ検出用の穴10.12と、プリント
クロック検出用の穴11とがあり、マスク4には同様に
エツジ検出用の穴7.8と、プリントクロック検出用の
穴9とが設けられている。
The mask 3 has a hole 10.12 for edge detection and a hole 11 for detecting a print clock, and the mask 4 similarly has a hole 7.8 for edge detection and a hole 9 for detecting a print clock. It is provided.

マスク3の穴10とマスク4の穴7とが重なると、この
穴を通過して受光素子5に到達した発光素子2の光によ
り、シャトル1のB側エフジが検出され、マスク3の穴
12とマスク4の穴8が重なった場合は、シャトル1の
A側エツジが検出される。
When the hole 10 of the mask 3 and the hole 7 of the mask 4 overlap, the B side edge of the shuttle 1 is detected by the light from the light emitting element 2 that passes through this hole and reaches the light receiving element 5, and the hole 12 of the mask 3 is detected. When the hole 8 of the mask 4 overlaps with the hole 8 of the mask 4, the A side edge of the shuttle 1 is detected.

マスク3の穴11とマスク4の穴9とは、穴間隔は同一
ピッチで開けられており、この穴が重なることで、受光
素子5が印字タイミングを決定するプリントクロックを
発生する。
The holes 11 of the mask 3 and the holes 9 of the mask 4 are opened at the same pitch, and when these holes overlap, the light receiving element 5 generates a print clock that determines printing timing.

第5図は検出回路の一例を説明するブロック図である。FIG. 5 is a block diagram illustrating an example of a detection circuit.

受光素子5の出力からエツジ検出信号と、プリントクロ
ック検出信号を送出する回路には、−iに第5図fa)
 (b) (C)に示すような回路が用いられている。
The circuit that sends the edge detection signal and the print clock detection signal from the output of the light receiving element 5 includes a circuit shown in FIG.
(b) A circuit as shown in (C) is used.

第5図(a)は受光素子5の出力を演算増幅回路13で
増幅し、比較回路14で可変抵抗RVにより与えられる
閾値と比較し、この閾値を越えた電圧でエツジ又はプリ
ントクロック検出信号を送出する。
In FIG. 5(a), the output of the light-receiving element 5 is amplified by the operational amplifier circuit 13, compared with the threshold value given by the variable resistor RV by the comparison circuit 14, and an edge or print clock detection signal is detected at a voltage exceeding this threshold value. Send.

第5図fb)は受光素子5の出力を増幅回路15で増幅
し、コンデンサCにより直流分を阻止して交流分のみ比
較回路16に送出する。比較回路16は可変抵抗RVか
ら与えられる閾値と該交流分とを比較し、閾値を越える
電圧でエツジ又はプリントクロック検出信号を送出する
In FIG. 5fb), the output of the light receiving element 5 is amplified by an amplifier circuit 15, the DC component is blocked by a capacitor C, and only the AC component is sent to the comparator circuit 16. Comparison circuit 16 compares the alternating current component with a threshold value provided by variable resistor RV, and sends out an edge or print clock detection signal at a voltage exceeding the threshold value.

第5図(C)は受光素子5の出力を増幅回路15で増幅
し、ピークホールド回路17と比較回路16に送出する
。ピークホールド回路17はピーク値を可変抵抗RVに
送出し、比較回路16は可変抵抗RVから閾値を与えら
れ、閾値を越える電圧でエツジ又はプリントクロック検
出信号を送出する。
In FIG. 5(C), the output of the light receiving element 5 is amplified by the amplifier circuit 15 and sent to the peak hold circuit 17 and the comparison circuit 16. The peak hold circuit 17 sends the peak value to the variable resistor RV, and the comparator circuit 16 is given a threshold value from the variable resistor RV, and sends out an edge or print clock detection signal at a voltage exceeding the threshold value.

ところで、受光素子5の出力を第5図に示す検出回路の
演算増幅回路13又は増幅回路15で増幅すると、第6
図に示す波形図の如き出力が得られる。即ち、縦軸を電
圧、横軸を時間とすれば、第6図(a)はマスク3及び
4の穴9と11から得られるプリントクロフタ波形であ
り、第6図(b)はマスク3及び4の穴7と10又は8
と12から得られるエツジ波形である。
By the way, when the output of the light receiving element 5 is amplified by the operational amplifier circuit 13 or the amplifier circuit 15 of the detection circuit shown in FIG.
An output like the waveform diagram shown in the figure is obtained. That is, if the vertical axis is voltage and the horizontal axis is time, then FIG. 6(a) is the print crofter waveform obtained from holes 9 and 11 of masks 3 and 4, and FIG. 6(b) is the print crofter waveform obtained from masks 3 and 4. and 4 holes 7 and 10 or 8
This is the edge waveform obtained from and 12.

発光素子2 (第3図)がマスク3からある程度離れて
いれば、マスク3上の照度は略一定となり、第6図(a
l (b)の直流成分は殆ど同一で電圧■1となる。第
6図(al (blの波形を夫々閾値V、、V、と比較
し、矩形波とする場合、マスク3及び4の穴9と11の
内の一つの穴面積より、マスク3及び4の穴7と10又
は8と12の穴面積が大きい場合は、エツジ波形はプリ
ントクロック波形の一つより、幅が広くなりVt=V3
の時はT工P<THEとなる。
If the light emitting element 2 (Fig. 3) is a certain distance from the mask 3, the illuminance on the mask 3 will be approximately constant, and as shown in Fig. 6 (a).
The DC component of l(b) is almost the same, and the voltage is 1. FIG. 6 (al) Compare the waveforms of (bl) with the respective thresholds V, , V, and if the waveform is a rectangular wave, the hole area of one of the holes 9 and 11 of masks 3 and 4 is If the hole area of holes 7 and 10 or 8 and 12 is large, the edge waveform will be wider than one of the print clock waveforms and Vt = V3.
When , T-work P<THE.

ところで、S/N比を稼ぐためには、波形の変動11 
V HP及びVIIEを夫々増大する必要がある。しか
し、プリントクロフタ波形はマスク3の大数を増やせば
、波の周期を変えずに変動量VHFを増やせるが、エツ
ジ波形は変%JJ fit V )l Eを増やそうと
すると、穴を縦方向に伸ばさない限り、幅T−も増えて
しまう。
By the way, in order to increase the S/N ratio, waveform fluctuation 11
It is necessary to increase VHP and VIIE respectively. However, in the print crofter waveform, if you increase the number of masks 3, you can increase the variation amount VHF without changing the wave period, but the edge waveform changes. Unless it is extended to , the width T- will also increase.

従って、穴を縦方向に伸ばしたいが、受光素子5の大き
さに制限があり、この大きさに対応した寸法で押さえら
れ、エツジ波形の場合は、プリントクロック波形に比し
、幅T□が広(なっている。
Therefore, although we would like to extend the hole vertically, there is a limit to the size of the light-receiving element 5, and it is limited to a size corresponding to this size.In the case of an edge waveform, the width T Wide (wide)

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところで、前述したように発光素子2は周囲環境の温度
変動に伴って、その発光量が変動する。
Incidentally, as described above, the amount of light emitted by the light emitting element 2 fluctuates as the temperature of the surrounding environment fluctuates.

従って、可変抵抗RVを調整し、エツジ波形に対する閾
値■3を■3”の如く最適にして、THE=T肝となる
ようにしても、第5図(al、 (blに示す検出回路
では直流成分の変動又は■□、の変動により、エツジ検
出信号の立ち上がり位置が変動し、プリントクロック検
出信号との送出タイミングがずれるため、どのプリント
クロックがエツジの隣かが変わってしまうという欠点が
あった。
Therefore, even if the variable resistor RV is adjusted and the threshold value ■3 for the edge waveform is optimized to ■3'' so that THE=T, the detection circuit shown in FIGS. Due to component fluctuations or ■□ fluctuations, the rise position of the edge detection signal fluctuates, and the sending timing with the print clock detection signal is shifted, resulting in a change in which print clock is next to the edge. .

これにより、エツジの隣がどのプリントクロックか、常
に一定とならないため、印字がずれるという問題がある
As a result, which print clock is next to the edge is not always constant, which causes a problem in that the printing is misaligned.

又第5図(C)は受光素子5の受光量変動に伴う波形の
大きさの変化に就いては、ある程度影響を防止出来るが
、ピークホールドするため、最初の波形は見逃してしま
う。従ってシャトルがエツジ検出信号を見てから反転す
る場合、使用出来ないという問題がある。
Further, in FIG. 5(C), the influence of changes in the waveform size due to fluctuations in the amount of light received by the light-receiving element 5 can be prevented to some extent, but since the peak is held, the first waveform is missed. Therefore, if the shuttle reverses itself after seeing the edge detection signal, there is a problem that it cannot be used.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

第1図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram of a circuit showing one embodiment of the present invention.

2は発光素子、4はシャトルに取付けたマスク、5aは
プリントクロック用受光素子、5bはエツジ用受光素子
、18.19は増幅回路、20はプリントクロック検出
用の比較回路、21はプリントクロック用増幅回路18
の出力から閾値を得るエツジ検出用の比較回路、22は
プリントクロック用穴の総面積とエツジ用穴面積を略同
一とした固定台に取付けたマスクである。
2 is a light emitting element, 4 is a mask attached to the shuttle, 5a is a light receiving element for print clock, 5b is a light receiving element for edge, 18.19 is an amplifier circuit, 20 is a comparison circuit for detecting print clock, 21 is for print clock Amplification circuit 18
22 is a mask attached to a fixed base in which the total area of the print clock holes and the area of the edge holes are approximately the same.

比較回路21はマスク22により受光素子5aが発光素
子2から受光素子5bと略同量の光量を受けて作成した
プリントクロック波形から閾値を得ることで、発光素子
2の光量変化に伴う受光素子5bの受光量変動を補償し
た閾値により、エツジ検出信号を作成する構成とする。
The comparator circuit 21 obtains a threshold value from a print clock waveform created when the light receiving element 5a receives substantially the same amount of light from the light emitting element 2 as the light receiving element 5b through the mask 22, thereby detecting a change in the light receiving element 5b due to a change in the light amount of the light emitting element 2. The edge detection signal is created using a threshold value that compensates for fluctuations in the amount of received light.

〔作用〕[Effect]

上記構成とすることにより、マスク22は発光素子2の
光を受光素子5aと5bに夫々略同量送出し、比較回路
21は発光素子2の発光量の変動に対応した適切な閾値
を増幅回路18より受領することが出来るため、発光素
子2の発光量変化に影響されないプリントクロックとエ
ツジの検出信号を送出することが出来る。
With the above configuration, the mask 22 sends out approximately the same amount of light from the light emitting element 2 to the light receiving elements 5a and 5b, and the comparison circuit 21 uses an amplification circuit to determine an appropriate threshold value corresponding to fluctuations in the amount of light emitted from the light emitting element 2. 18, it is possible to send print clock and edge detection signals that are not affected by changes in the amount of light emitted from the light emitting element 2.

〔実施例〕〔Example〕

第1図において、発光素子2はマスク22を一様に照明
する。マスク22は第2図に示す如く、エツジ検出用穴
23と24が設けられ、その穴面積は同一である。又プ
リントクロック検出用穴25はその総面積が穴23又は
24と略等しくなるように設けられている。
In FIG. 1, the light emitting element 2 uniformly illuminates the mask 22. In FIG. As shown in FIG. 2, the mask 22 is provided with edge detection holes 23 and 24, the areas of which are the same. Further, the print clock detection hole 25 is provided so that its total area is approximately equal to that of the hole 23 or 24.

受光素子5aで検出したプリントクロック波形は増幅回
路18に送出される。増幅回路1日で増幅されたプリン
トクロック波形は直流分をコンデンサCIにより阻止さ
れ、変動量VイPのみが比較回路20に送出される。比
較回路20は閾値とこの変動量VHpを比較し、プリン
トクロック検出信号を端子Eに送出する。
The print clock waveform detected by the light receiving element 5a is sent to the amplifier circuit 18. The direct current component of the print clock waveform amplified by the amplifier circuit is blocked by the capacitor CI, and only the fluctuation amount VP is sent to the comparator circuit 20. Comparison circuit 20 compares this variation amount VHp with a threshold value and sends a print clock detection signal to terminal E.

又、増幅回路18から送出されたプリントクロック波形
は、ダイオードRCで整流され、抵抗R3,R2により
分圧されて、コンデンサC2により平滑された後、比較
回路21の閾値として供給される。従って、発光素子2
の発光量の変動に対応した閾値が供給される。
Further, the print clock waveform sent out from the amplifier circuit 18 is rectified by a diode RC, divided by resistors R3 and R2, smoothed by a capacitor C2, and then supplied as a threshold value to a comparator circuit 21. Therefore, the light emitting element 2
A threshold value corresponding to fluctuations in the amount of light emitted is supplied.

受光素子5bで検出したエツジ波形は増幅回路19に送
出される。増幅回路19で増幅されたエツジ波形は直流
分を含み比較回路21に送出される。比較回路21は増
幅回路18からプリントクロック波形の直流分を含む閾
値を得ており、この閾値でエツジ波形の変動量VIIE
からエツジ検出信号を検出して端子Fに送出する。
The edge waveform detected by the light receiving element 5b is sent to the amplifier circuit 19. The edge waveform amplified by the amplifier circuit 19 includes a DC component and is sent to the comparison circuit 21. The comparison circuit 21 obtains a threshold value including the DC component of the print clock waveform from the amplifier circuit 18, and uses this threshold value to calculate the edge waveform variation amount VIIE.
An edge detection signal is detected from and sent to terminal F.

比較回路21はプリントクロック波形から得られる閾値
を用いるため、発光素子2の発光量の変動に対応した適
切な閾値でエツジ波形からエツジ検出信号を得ており、
エツジ波形の直流分や変動JI V 11 Eの変動が
あっても、エツジとその隣のプリントクロックは常に同
じに検出することが出来る。
Since the comparator circuit 21 uses the threshold value obtained from the print clock waveform, the edge detection signal is obtained from the edge waveform with an appropriate threshold value that corresponds to fluctuations in the amount of light emitted by the light emitting element 2.
Even if there is a fluctuation in the DC component of the edge waveform or the fluctuation JI V 11 E, the edge and the print clock next to it can always be detected in the same manner.

尚、マスクの穴面積と受光素子5の出力との関係は第7
図に示す如くであり、縦軸に電圧、横軸に穴面積をとる
と、穴面積がD点以上となると、受光素子の出力電圧は
穴面積に比例せず、略一定となる。
Incidentally, the relationship between the hole area of the mask and the output of the light receiving element 5 is expressed by the seventh
As shown in the figure, when the voltage is plotted on the vertical axis and the hole area is plotted on the horizontal axis, when the hole area exceeds point D, the output voltage of the light receiving element is not proportional to the hole area and becomes approximately constant.

従って、エツジ波形用の穴7とlO又は8と12の面積
に対し、プリントクロフタ波形用の穴の総面積が異なっ
ていると、受光素子5が受光する光量変動により、第7
図のD点に対し、恰も右側に例えばプリントクロック用
の穴面積が、左側にエツジ用の穴面積がきた如くになり
、プリントクロックとエツジとで受光素子5の出力のバ
ランスが掻端にくるってしまい、プリントクロックに関
連してエツジの閾値を決めることが困難な場合があると
いう問題がある。
Therefore, if the total area of the print crofter waveform holes is different from the area of the edge waveform holes 7 and lO or 8 and 12, the 7th
With respect to point D in the figure, the hole area for the print clock, for example, is on the right side, and the hole area for the edge is on the left side, and the output of the light receiving element 5 is balanced between the print clock and the edge. Therefore, there is a problem in that it may be difficult to determine the edge threshold value in relation to the print clock.

しかしながら、前述のように、エツジ検出用の穴の面積
とプリントクロック検出用の穴の総面積とを同一にして
いるため、受光素子5aと5bとは、マスク22とマス
ク4との穴が重なった時、略同一の光量で照射され、発
光素子2の発光量変動に対しても、第7図に示す出力曲
線上の差は発生しない。
However, as mentioned above, since the area of the hole for edge detection and the total area of the hole for print clock detection are the same, the holes of the masks 22 and 4 overlap in the light receiving elements 5a and 5b. When the light emitting element 2 is irradiated with substantially the same amount of light, there is no difference in the output curve shown in FIG. 7 even when the amount of light emitted from the light emitting element 2 changes.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した如く、本発明は発光素子の発光量変動に対
して、印字ずれ発生を防止出来る。
As described above, the present invention can prevent printing misalignment due to fluctuations in the amount of light emitted from the light emitting elements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す回路のブロック図、 第2図は第1図のマスク22の詳細図、第3図はシャト
ル位置センサの一例を説明する斜視図、 第4図はマスクの一例を説明する図、 第5図は検出回路の一例を示すブロック図、第6図は増
幅回路の出力を説明する波形図、第7図は受光素子の出
力と穴面積との関係を説明する図である。 図において、 ■はシャトル、   2は発光素子、 3.4.22はマスク、  5は受光素子、6は案内棒
、     7〜12は穴、13は演算増幅回路、 1
4.16.20.21は比較回路、15、18.19は
増幅回路、 17はピークホールド回路である。 ネ、k」月の一美艶例塩示−4山路ブロッフ口81 口 め1目マ又722の詳、*f 口 躬z 口 シql−ル位1乞ン!q−’Vy・11砺乙明慣ろ劇目
り回め3目 マスクグーf列を緻明1ろ図 躬4 回 検ボ回路の一便j友禾イフ゛口・/り間第5図 時間 贈幅固浴の宙刀1え8月する!度形凪 躬6 図 受把泰:f−tr+l五力と穴釦1に力閏イ乱と託明1
ろ口わ7 図
FIG. 1 is a block diagram of a circuit showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed view of the mask 22 shown in FIG. 1, FIG. 3 is a perspective view illustrating an example of a shuttle position sensor, and FIG. FIG. 5 is a block diagram showing an example of a detection circuit, FIG. 6 is a waveform diagram explaining the output of the amplifier circuit, and FIG. 7 is a diagram showing the relationship between the output of the light receiving element and the hole area. FIG. In the figure, ■ is a shuttle, 2 is a light emitting element, 3, 4, 22 is a mask, 5 is a light receiving element, 6 is a guide rod, 7 to 12 are holes, 13 is an operational amplifier circuit, 1
4.16.20.21 is a comparison circuit, 15, 18.19 is an amplifier circuit, and 17 is a peak hold circuit. Ne, k''month's beautiful gloss example Shioji - 4 Yamaji broff mouth 81 mouth 1 eye mamata 722 details, *f mouth z mouth seal rank 1 begging! q-'Vy・11 Toki Otomei routine play turn 3 eyes mask goo f row detailed 1ro drawing 4 times inspection Bo circuit one flight j friend life mouth/period figure 5 time gift width A hard bathing sword will be held in August! Degree Form Nagiman 6 Diagram Reception: f-tr+l five powers and hole button 1, power attack, and oracle 1
Diagram 7

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)紙送り方向に対し印字ヘッドを直角方向に往復運
動させるシャトルに取付けられ、該シャトルの往復運動
範囲の端部位置を検出するエッジ検出用穴と、印字ヘッ
ドの印字位置を検出するプリントクロック検出用穴とを
持つ第1のマスク(4)と、該第1のマスク(4)と重
なりあって固定され、第1のマスク(4)に対応して、
エッジ検出用穴とプリントクロック検出用穴とを設けた
第2のマスク(22)と、 該第1と第2のマスクを挟んで一方に配置される発光素
子(2)と、 夫々該第1と第2のマスクを挟んで他方に配置され、該
エッジ検出用穴を通過した光を受ける第1の受光素子(
5a)と該プリントクロック検出用穴を通過した光を受
ける第2の受光素子(5b)とを含む受光素子(5)と
、 該第1の受光素子(5a)の出力を第1の閾値と比較し
てエッジ検出信号を送出する比較回路(21)と、該第
2の受光素子(5b)の出力を所定の第2の閾値で比較
してプリントクロック検出信号を送出する比較回路(2
0)とを備えて成り、 該第1の閾値は、該第2の受光素子(5b)の出力に対
応した値であることを特徴とするシャトル位置センサ。
(1) An edge detection hole that is attached to a shuttle that reciprocates the print head in a direction perpendicular to the paper feed direction, and that detects the end position of the reciprocating range of the shuttle, and a print head that detects the print position of the print head. A first mask (4) having a clock detection hole, overlapping and fixed with the first mask (4), corresponding to the first mask (4),
a second mask (22) provided with an edge detection hole and a print clock detection hole; a light emitting element (2) disposed on one side with the first and second masks in between; and a second mask, and a first light-receiving element (
5a) and a second light receiving element (5b) that receives the light that has passed through the print clock detection hole; and the output of the first light receiving element (5a) is set as a first threshold value. A comparison circuit (21) that compares and sends out an edge detection signal, and a comparison circuit (21) that compares the output of the second light receiving element (5b) with a predetermined second threshold and sends out a print clock detection signal.
0), wherein the first threshold value is a value corresponding to the output of the second light receiving element (5b).
(2)上記第2のマスク(22)に設けたプリントクロ
ック検出用穴の総面積は、エッジ検出用穴の面積と略同
一となるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のシャトル位置センサ。
(2) The total area of the print clock detection holes provided in the second mask (22) is approximately the same as the area of the edge detection holes. Shuttle position sensor as described.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0588952U (en) * 1992-05-15 1993-12-03 日立工機株式会社 Dot printer
US6933256B2 (en) 2000-02-09 2005-08-23 Tdk Corporation Dielectric ceramic composition, electronic device, and method for producing same

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