JPS63239199A - Organic crystal and its formation - Google Patents

Organic crystal and its formation

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JPS63239199A
JPS63239199A JP7352487A JP7352487A JPS63239199A JP S63239199 A JPS63239199 A JP S63239199A JP 7352487 A JP7352487 A JP 7352487A JP 7352487 A JP7352487 A JP 7352487A JP S63239199 A JPS63239199 A JP S63239199A
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organic
nucleation
crystal
forming
nucleation surface
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JP7352487A
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Tetsuya Yano
哲哉 矢野
Norio Kaneko
典夫 金子
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Canon Inc
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Abstract

PURPOSE:To selectively grow organic single crystal in the part wherein a nucleus formation face exists by finely forming the nucleus formation face which consists of a different kind of material having nucleus formation density sufficiently larger than a material for forming a nucleus nonformation face or has the state of a different kind of surface so that only single nucleus of organic crystal is grown thereon. CONSTITUTION:A thin film 5 capable of selectively forming a nucleus and small in nucleus formation density is formed on a substrate 4 and a material different from the material for forming the thin film 5 is thinly deposited thereon. A nucleus formation face 6 consisting of the state of a different kind of surface of a different kind of material and a material having a different kind of surface is formed sufficiently finely by patterning and ion-implanting the different kind of material on the thin film 5. Then single nucleus of organic crystal consisting of the material for a thin film is formed only on the nucleus formation face 6. Furthermore an islandlike organic single crystal particle 7 is formed by growing the nucleus of organic crystal while keeping a single crystalline structure. Thereafter the crystal particle 7 is grown furthermore to cover whole parts of the thin film 5. (C) Successively organic single crystal is flattened by polishing or the like and organic single crystal 8 capable of forming a required element is formed on the thin film 5. (D).

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は有機結晶およびその形成方法に係り、特に核形
成面の有機結晶材料の核形成密度と非核形成面における
核形成密度の差を利用した有機結晶およびその形成方法
に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an organic crystal and a method for forming the same, and in particular utilizes the difference between the nucleation density of an organic crystal material on a nucleation surface and the nucleation density on a non-nucleation surface. The present invention relates to an organic crystal and a method for forming the same.

木登゛明は、例えば半導体集積回路、光集積回路、磁気
回路等の電子素子、光素子、磁気素子、圧電素子あるい
は表面音響素子等に使用される有mIL結晶や有機多結
晶等の有機結晶の形成に適用される。
Akira Kidobori specializes in organic crystals such as mIL crystals and organic polycrystals used in electronic devices such as semiconductor integrated circuits, optical integrated circuits, and magnetic circuits, optical devices, magnetic devices, piezoelectric devices, and surface acoustic devices. applied to the formation of

[従来の技術] 第13図は、従来のイオンビームエツチングによる薄膜
形成方法を示す工程図である。
[Prior Art] FIG. 13 is a process diagram showing a conventional method of forming a thin film by ion beam etching.

第13図(A)に示すような均一な組成の材料種および
均一な表面状態を有する基板24を洗浄し、続いて、種
々の薄膜堆積方法(真空蒸着法、スパッタリング法、イ
オンプレート法、MBE法等)によって基板24の全面
に薄膜25を堆積させる(第13図よる工支ンチングを
行い(第13図(C))、所望パターンの簿膜25を形
成する(第13図(D))。
A substrate 24 having a uniform composition of materials and a uniform surface condition as shown in FIG. A thin film 25 is deposited on the entire surface of the substrate 24 by a method (such as a method) (etching according to FIG. 13 is performed (FIG. 13(C)), and a film 25 with a desired pattern is formed (FIG. 13(D)). .

第14図は、レーザービームあるいはフォーカスイオン
ビームを走査することによる従来の薄膜形成方法を示す
工程図である。
FIG. 14 is a process diagram showing a conventional method of forming a thin film by scanning a laser beam or a focused ion beam.

第14図(A)  に示すような均一な組成の材料種お
よび均一な表面状態を有する基板z4を洗浄し、続いて
、種々の薄膜堆積方法(真空蒸着法、スパッタリング法
、イオンプレート法、MBE法等)によって基板24の
全面に薄膜25を堆積させる(第14図(B))。続い
てレーザービームあるいはフォーカスイオンビーム28
を走査することによって薄膜25を昇華させ(第14図
(C))、所望パターンの薄膜25を形成する(第14
図(D))。
A substrate z4 having a uniform composition of materials and a uniform surface condition as shown in FIG. A thin film 25 is deposited on the entire surface of the substrate 24 by a method such as a method (FIG. 14(B)). Next, a laser beam or focused ion beam 28
The thin film 25 is sublimated by scanning (FIG. 14(C)), and a desired pattern of the thin film 25 is formed (FIG. 14(C)).
Figure (D)).

[発明が解決しようとする問題点] 上述のような薄膜形成方法の工程を繰返すことで、所望
パターンの薄膜を積層し、集積回路を構成する。その際
、各層の薄膜の位置合せが素子の特性にとって極めて重
要な要因となる。特に超LSIのようにザブミクロンの
精度が要求される場合では、位置合せとともに各層の薄
膜の形状精度も極めて重要なものとなる。
[Problems to be Solved by the Invention] By repeating the steps of the thin film forming method as described above, thin films in a desired pattern are laminated to form an integrated circuit. In this case, alignment of the thin films of each layer becomes an extremely important factor for the characteristics of the device. Particularly in cases where submicron precision is required, such as in VLSIs, the shape precision of the thin films of each layer is extremely important as well as alignment.

しかしながら、上記従来の薄膜形成方法においては、必
要なマスクの位置合せを精度良く行うことが困郵であり
、またエツチングにより所望パターンの薄膜を形成して
いるために、薄膜の形状の精度も不十分である。更にパ
ターンのエツジ部分においては堆積膜が有機物であるた
めにイオンまタハレーザーによる部分的融解あるいはイ
オン化が生じ、これによる堆積膜の不均一化あるいは変
質が問題となっている。さらに、例えばSHG効果を持
つ非線形光学材料では堆積膜の結晶性が重要でありアモ
ルファス、多結晶状態では十分な機能を得ることができ
ない。更に従来の薄膜形成方法では堆積膜の結晶性制御
は完全ではなく、このため作製した回路あるいは素子の
特性の不良、あるいはバラツキが大きくなってしまうと
いう問題もあった。そして単結晶を得るためには下地基
板の制限も大きく、このため使用できる材料の種類が限
定され、応用範囲も狭くなってしまう。
However, in the conventional thin film forming method described above, it is difficult to precisely align the required mask, and since the thin film with the desired pattern is formed by etching, the precision of the shape of the thin film is also poor. It is enough. Furthermore, since the deposited film is an organic material at the edge portion of the pattern, partial melting or ionization occurs due to the ion or Tahar laser, resulting in non-uniformity or alteration of the deposited film, which poses a problem. Furthermore, for example, in nonlinear optical materials having the SHG effect, the crystallinity of the deposited film is important, and sufficient functionality cannot be obtained in an amorphous or polycrystalline state. Furthermore, in the conventional thin film forming method, the crystallinity of the deposited film cannot be completely controlled, resulting in problems such as defects or large variations in the characteristics of the fabricated circuits or elements. In order to obtain a single crystal, there are significant restrictions on the base substrate, which limits the types of materials that can be used and narrows the range of applications.

本発明は、上述のような従来の問題点も解消し、薄膜の
形状精度が良好で、マスクの位置合せも良好で、堆積膜
が均一で変質が起こらず、下地基板に制約されることな
く、粒界を含まない有機単結晶および粒界制御された有
機結晶およびその形成方法を提供することを目的とする
The present invention solves the above-mentioned conventional problems; the shape accuracy of the thin film is good, the alignment of the mask is also good, the deposited film is uniform, no deterioration occurs, and the film is not restricted by the underlying substrate. The present invention aims to provide an organic single crystal containing no grain boundaries, an organic crystal with controlled grain boundaries, and a method for forming the same.

[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するために、本発明の有機結晶は
、核形成密度の小さい非核形成面(SNDS)と、非核
形成面(SNDS)に隣接して配され、単一核のみより
なる有機結晶が成長するのに充分小さい面積を有し、非
核形成面(SNDS)の核形成密度(NDS)よりも大
きい核形成密度(NDL)を有する核形成面(SNDL
)と、有機結晶単一核より成長して核形成面(SNDL
)を越えて非核形成面(SNI)!+)を覆っている単
結晶であることを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve such an object, the organic crystal of the present invention has a non-nucleation surface (SNDS) with a low nucleation density and a non-nucleation surface (SNDS) adjacent to the non-nucleation surface (SNDS). A nucleation surface having a small enough area for growth of an organic crystal consisting of only single nuclei and having a nucleation density (NDL) larger than the nucleation density (NDS) of the non-nucleation surface (SNDS). (SNDL
) and a nucleation surface (SNDL) that grows from a single organic crystal nucleus.
) beyond the non-nucleating surface (SNI)! It is characterized by being a single crystal that covers +).

本発明の有機′結晶の形成方法は、核形成密度の小さい
非核形成面(SNDS)を有する基体の非核形成面(S
NDS)の所望位置に非核形成面(SNDS)の核形成
密度(NDS)より大きい核形成密度(NDL)を有し
、かつ単一核のみより結晶成長するに充分小さい面積の
核形成面(SNDL)を形成し、次いで、基体に結晶形
成処理を施して、単一核を核形成面(SNDL)に形成
し、単一核より有機結晶を成長させることを特徴とする
The method for forming an organic crystal of the present invention is based on a non-nucleation surface (SNDS) of a substrate having a low nucleation density (SNDS).
A nucleation surface (SNDL) that has a nucleation density (NDL) larger than the nucleation density (NDS) of the non-nucleation surface (SNDS) at a desired position of the non-nucleation surface (NDS) and has a sufficiently small area for crystal growth than a single nucleus. ), then subjecting the substrate to crystal formation treatment to form a single nucleus on the nucleation surface (SNDL), and growing an organic crystal from the single nucleus.

[作 用] まず、堆積面上に選択的に有機堆積膜を形成する有機選
択堆積法について述べる。有機選択堆積法とは、表面エ
ネルギ、付着係数、脱離係数、表面拡散速度等という薄
膜形成過程での核形成を左右する因子の材料間での差を
利用して、基板上に選択的に有機薄膜を形成する方法で
ある。
[Function] First, an organic selective deposition method for selectively forming an organic deposited film on a deposition surface will be described. The organic selective deposition method uses the differences between materials in factors that affect nucleation during thin film formation, such as surface energy, adhesion coefficient, desorption coefficient, and surface diffusion rate, to selectively deposit materials on a substrate. This is a method for forming organic thin films.

第12図(A)および(8)は有機選択堆積法の説明図
である。まず同図(A)に示すように、基板21上に、
基板21と上記因子の異なる材料から成る薄膜22を所
望部分に形成する。そして、適当な堆積条件によって適
当な有機材料から成る薄膜の堆積を才テつ と、 官掃
蒲■故21乙士蒲1m 9フ μL−のλ虐、匡16 
  基板21上には成長しないという現象を生じさせる
ことができる。この現象を利用することで、自己整合的
に成形された有機薄膜23を成長させることができ、従
来のようなレジストを用いたリングラフィ工程の省略が
可能となる。
FIGS. 12(A) and 12(8) are explanatory diagrams of the organic selective deposition method. First, as shown in the same figure (A), on the substrate 21,
A thin film 22 made of a material having the above factors different from that of the substrate 21 is formed at a desired portion. Then, by depositing a thin film made of an appropriate organic material under appropriate deposition conditions, the thickness of 1 m 9 μL of λ, 16
This can cause a phenomenon in which no growth occurs on the substrate 21. By utilizing this phenomenon, the organic thin film 23 formed in a self-aligned manner can be grown, and the conventional phosphorography process using a resist can be omitted.

このような有機選択堆積法を利用し、堆積面の材料より
核形成密度の十分大きい核形成面(SNDL)を単一の
有機結晶核だけが成長するように十分微細に形成するこ
とによって、その微細な核形成面(SNDL)の存在す
る箇所だけに有機単結晶を選択的に成長させることがで
きる。
By using such an organic selective deposition method and forming a nucleation surface (SNDL) that has a sufficiently higher nucleation density than the material on the deposition surface and is sufficiently fine so that only a single organic crystal nucleus grows, Organic single crystals can be selectively grown only at locations where fine nucleation planes (SNDLs) exist.

なお、有機単結晶の選択的成長は、非核形成面の電子状
態、特にダングリングボンドの状態によって決定される
ために、核形成密度の低い材料はバルク材料である必要
はなく、任意の材料や基板等の表面のみに形成されて非
核形成面を成していれば良い。
Note that the selective growth of an organic single crystal is determined by the electronic state of the non-nucleation surface, especially the state of dangling bonds, so the material with a low nucleation density does not have to be a bulk material, but can be any material or material. It is sufficient if it is formed only on the surface of the substrate or the like to form a non-nucleation surface.

このようにして、所望パターンの有機単結晶が高精度に
形成でき、しかも、核形成密度差を有する核形成面とを
;罪状することr上り 任音/7’l jt 燐上に有
機単結晶を形成することができる。単にエツチングプロ
セスが不用となるためプロセスの簡略化を実現でき、か
つ、イオンまたはレーザーによる有機単結晶の不均一化
あるいは変質を防止することが可能となった。そして下
地材料に制約されることなく、例えば基板の材料、結晶
性、構成、大きさ等に制約されることなく粒界を含まな
い有機単結晶および粒界制御された有機多結晶等の良質
な有機結晶を得ることが可能になった。
In this way, an organic single crystal with a desired pattern can be formed with high precision, and the nucleation surface having a difference in nucleation density can be formed. can be formed. Since the etching process is simply unnecessary, the process can be simplified, and it is also possible to prevent the organic single crystal from becoming non-uniform or deteriorating due to ions or lasers. And without being restricted by the underlying material, for example, by substrate material, crystallinity, structure, size, etc., we can produce high-quality organic single crystals that do not contain grain boundaries and organic polycrystals with controlled grain boundaries. It became possible to obtain organic crystals.

[実施例] 以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。[Example] Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on the drawings.

第1図(八)〜(D)は、本発明による有機結晶の形成
方法の第1実施態様例を示す形成工程図であり、第2図
(八)および(B)は、それぞれ第1図(A)および(
D)における基板の斜視図である。
FIGS. 1(8) to (D) are formation process diagrams showing the first embodiment of the method for forming organic crystals according to the present invention, and FIGS. 2(8) and (B) are respectively shown in FIG. (A) and (
It is a perspective view of the board|substrate in D).

まず、第1図(八)および第2図(A)に示すように、
基板4上に、選択核形成を可能にする核形成密度の小さ
い薄膜5[非核形成面(SNDS)]を形成する。その
上に核形成密度の小さい薄膜5を形成する材料とは異種
の材料を薄く堆積させ、リソグラフィ等によってバター
ニングすることで異種材料もしくはOやF等を薄膜5に
イオン注入して形成される過剰に0やF等を有する異種
表面状態、または異種材料および異種表面材料からなる
核形成面(S、4゜L)6を十分微細に形成する。ただ
し、基板4の大きさ、有機結晶構造および組成は任意の
ものでよく、通常の半導体技術で作成した機能素子が形
成された基板であってもよい。
First, as shown in Figure 1 (8) and Figure 2 (A),
A thin film 5 [non-nucleation surface (SNDS)] with a low nucleation density that enables selective nucleation is formed on the substrate 4 . It is formed by depositing a thin layer of a material different from the material that forms the thin film 5 with a low nucleation density thereon, and by patterning it by lithography or the like, or by ion-implanting O, F, etc. into the thin film 5. A nucleation surface (S, 4°L) 6 consisting of a different surface state having an excess of 0, F, etc., or a different material and a different surface material is formed sufficiently finely. However, the size, organic crystal structure, and composition of the substrate 4 may be arbitrary, and the substrate 4 may be a substrate on which a functional element made by ordinary semiconductor technology is formed.

次に、適当な堆積条件を選択することによって核形成面
(SNDL) 6だけに薄膜材料の単一の有機結晶核が
形成される。すなわち、核形成面(SNDL) 6は、
単一の核のみが形成される程度に十分微細に形成する必
要がある。核形成面(SNDL) 6の大きさは、材料
の種類によって異なるが、数ミクロン以下であればよい
。さらに有機結晶核は単結晶構造を保ちながら成長し、
第1図(B、) に示すように島状の有機単結晶粒7ど
なる。島状の有機単結晶粒7が形成されるだめには、す
でに述べたように、薄膜5上で全く核形成が起こらない
ように条件を決めることが望ましいものである。
A single organic crystal nucleus of the thin film material is then formed only at the nucleation surface (SNDL) 6 by selecting appropriate deposition conditions. That is, the nucleation surface (SNDL) 6 is
It is necessary to form it sufficiently finely so that only a single nucleus is formed. The size of the nucleation surface (SNDL) 6 varies depending on the type of material, but may be several microns or less. Furthermore, organic crystal nuclei grow while maintaining a single crystal structure,
As shown in FIG. 1(B,), island-shaped organic single crystal grains 7 swell. In order to form island-shaped organic single crystal grains 7, it is desirable to determine conditions such that no nucleation occurs on thin film 5, as described above.

島状の有機単結晶粒7は有機単結晶構造を保ちながら修
形成面(SMDl、) 6を中心にして更に成長しく1
ateral overgrowth ) 、同図(C
)  に示すように簿膜5全体を覆うことが出来る。
The island-shaped organic single crystal grains 7 further grow around the modified surface (SMDl) 6 while maintaining the organic single crystal structure 1
ateral overgrowth), same figure (C
) As shown in (), the entire membrane 5 can be covered.

続いて、必要に応じてエツチングまたは研磨によって有
機単結晶を平坦化し、第1図(D)および第2図(B)
 に示すように、所望の素子を形成することができる有
機単結晶層8が薄膜5上に形成される。
Subsequently, the organic single crystal is planarized by etching or polishing as necessary, and the organic single crystal is flattened as shown in FIG. 1 (D) and FIG. 2 (B).
As shown in FIG. 2, an organic single crystal layer 8 capable of forming a desired element is formed on the thin film 5.

このように非核形成面(SNDS)を形成する薄膜5が
゛基板4上に形成されているために、支持体となる基板
4は任意の材料を使用することができる。
Since the thin film 5 forming the non-nucleation surface (SNDS) is thus formed on the substrate 4, any material can be used for the substrate 4 serving as a support.

さらにこのような場合には基板4に通常の半導体技術に
よって機能素子等が形成されたものであっても、その上
に容易に有機単結晶層8を形成することができる。
Furthermore, in such a case, even if functional elements and the like are formed on the substrate 4 using normal semiconductor technology, the organic single crystal layer 8 can be easily formed thereon.

なお、上記実施態様例では、非核形成面(SNDS)九
傭rug トl<子1糺L(加色 雷り画1雫二十し^
に、選択核形成を可能にする核形成密度(ND)の小さ
い材料から成る基板をそのまま用いて、核形成1(SN
Dt、)を所望に応じた位置に設けて、有機単結晶層を
同様に形成してもよい。
In addition, in the above embodiment example, the non-nucleation surface (SNDS) 9 rugs 1 drop L (additional color lightning picture 1 drop 20 ^
Nucleation 1 (SN
Dt, ) may be provided at desired positions to form an organic single crystal layer in the same manner.

第3図(八)〜(D)は、本発明の第2実施態様例を示
す有機結晶の形成工程図である。同図に示すように、選
択核形成を可能にする核形成密度(ND)の小さい材料
から成る基板9上に、核形成密度(ND)の大きい材料
から成る核形成面(SNDL) 6を十分微小に形成す
ることで、第1実施態様例と同様にして有機単結晶層8
を形成することかできる。
FIGS. 3(8) to 3(D) are process diagrams for forming organic crystals showing a second embodiment of the present invention. As shown in the figure, a nucleation surface (SNDL) 6 made of a material with a large nucleation density (ND) is sufficiently placed on a substrate 9 made of a material with a small nucleation density (ND) that enables selective nucleation. By forming it minutely, the organic single crystal layer 8 can be formed in the same manner as in the first embodiment.
can be formed.

第4図(A)〜(D)は、本発明による有機結晶の形成
方法の第3実施態様例を示す形成工程図であり、第5図
(A)および(B)は、それぞれ第4図(八)および(
D) における基板の斜視図である。
FIGS. 4(A) to 4(D) are formation process diagrams showing a third embodiment of the method for forming organic crystals according to the present invention, and FIGS. 5(A) and (B) are respectively shown in FIG. (8) and (
D) is a perspective view of the substrate in FIG.

第4図(A)  および第5図(A)に示すように、非
晶質絶縁物基板11上に、距離lを隔てて上記選択核形
成を可能とする基板11とは異種材料で核形成面(sN
n、)を十分に小さく配置する。この罪前lは、例えば
半導体素子または素子群を形成するため(必要とされる
有機単結晶領域の大きさと同じかまたはそれ以上に設定
される。
As shown in FIG. 4(A) and FIG. 5(A), nucleation is performed on an amorphous insulating substrate 11 using a material different from that of the substrate 11, which enables selective nucleation as described above, at a distance l. Surface (sN
n,) is arranged sufficiently small. This predetermined value l is set to be equal to or larger than the size of the organic single crystal region required (for example, to form a semiconductor element or a group of elements).

次に、適当な有機結晶形成条件を選択することによって
、核形成面(SSDL)だけに有機結晶形成材料の有機
結晶核の唯一が形成される。すなわち、核形成面は単一
の有機結晶核のみが形成される程度に十分微細な大きさ
く面積)に形成する必要がある。核形成面(SNDL)
の大きさは、材料の種類によフて異なるが、数ミクロン
以下であればよい。
Next, by selecting appropriate organic crystal forming conditions, only one organic crystal nucleus of the organic crystal forming material is formed only on the nucleation surface (SSDL). That is, the nucleation surface needs to be formed to be sufficiently fine and large enough to form only a single organic crystal nucleus. Nucleation surface (SNDL)
The size varies depending on the type of material, but may be several microns or less.

さらに、有機結晶核は有機単結晶構造を保ちながら成長
し、第4図(8) に示すように島状の有機単結晶粒1
3となる。島状の有機!#結晶粒13が形成されるため
には、すでに述べたように、基板11上の核形成面(S
NDL)以外の表面で全く有機結晶核の形成が起こらな
いように条件を決めることが望ましいものである。
Furthermore, the organic crystal nucleus grows while maintaining the organic single crystal structure, and as shown in Figure 4 (8), the organic crystal nucleus grows into an island-like organic single crystal grain 1.
It becomes 3. Island-like organic! # In order for the crystal grains 13 to be formed, the nucleation surface (S
It is desirable to determine conditions such that no organic crystal nuclei are formed on surfaces other than NDL).

島状の有機単結晶粒の基板11の法線方向の有機結晶方
位は、基板11の材料および有機結晶核を形成する材料
の界面エネルギを最小にするように一定に決まる。なぜ
ならば、表面あるいは界面エネルギは有機結晶面によっ
て異方性を有するからである。しかしながら、すでに述
べたように、非晶質基板における基板面内の有機結晶方
位は決定されない。
The organic crystal orientation of the island-shaped organic single crystal grain in the normal direction to the substrate 11 is fixed so as to minimize the interfacial energy of the material of the substrate 11 and the material forming the organic crystal nucleus. This is because the surface or interfacial energy has anisotropy depending on the organic crystal plane. However, as already mentioned, the in-plane organic crystal orientation of an amorphous substrate is not determined.

島状の有機単結晶粒はさらに成長して、有機単結晶とな
り、第4図(C)  に示すように隣りの有機単結晶粒
13が互いに接触するが、基板面内の有機結晶方位は一
定ではないために、核形成面(SNDL)の中間位置に
有機結晶粒界14が形成される。
The island-shaped organic single crystal grains further grow to become organic single crystals, and as shown in FIG. 4(C), adjacent organic single crystal grains 13 come into contact with each other, but the organic crystal orientation within the substrate plane remains constant. Therefore, an organic crystal grain boundary 14 is formed at an intermediate position of the nucleation plane (SNDL).

続いて、有機単結晶は三次元的に成長するが、成長速度
の遅い有機結晶面がファセットとして現われる。その為
に、エツチングまたは研磨によって有機単結晶の表面の
平坦化を行い、更に粒界14の部分を除去して、第4図
(D)および第5図(B)に示すように粒界を含まない
有機単結晶の薄膜を格子状に形成する。この有機単結晶
薄膜の大きさは、上述したように核形成面(SNDL)
 12の間隔立によって決定される。すなわち、核形成
面(SNDL) 12の形成パターンを適当に定めるこ
とによって、粒界O位置を制御することができ、所望の
大きさの有機単結晶を所望の配列で形成することができ
る。
Subsequently, the organic single crystal grows three-dimensionally, but organic crystal planes that grow slowly appear as facets. For this purpose, the surface of the organic single crystal is flattened by etching or polishing, and the grain boundary portion 14 is removed, as shown in FIGS. 4(D) and 5(B). A thin film of an organic single crystal free of organic matter is formed in a lattice shape. The size of this organic single crystal thin film is determined by the nucleation surface (SNDL) as described above.
determined by a spacing of 12. That is, by appropriately determining the formation pattern of the nucleation plane (SNDL) 12, the grain boundary O position can be controlled, and an organic single crystal of a desired size and a desired arrangement can be formed.

第6図(A)〜(D)は、本発明の第4実施態様例を示
す有機結晶の形成工程図である。同図に示すように、第
1実施例と同様に所望の基板4上に、選択核形成を可能
にする核形成密度(ND)の小さい材料から成る薄膜状
の非核形成面(SNDS) 5を形成し、その上に間隔
℃で核形成密度(ND)の大きい異種材料から成る核形
成面(SNDS) 12を形成し、上記第3実施態様例
と同様にして有機単結晶層15を形成することができる
FIGS. 6(A) to 6(D) are process diagrams for forming organic crystals showing a fourth embodiment of the present invention. As shown in the figure, as in the first embodiment, a thin non-nucleation surface (SNDS) 5 made of a material with a low nucleation density (ND) that enables selective nucleation is provided on a desired substrate 4. A nucleation surface (SNDS) 12 made of a different material having a large nucleation density (ND) is formed thereon at an interval of 0.degree. C., and an organic single crystal layer 15 is formed in the same manner as in the third embodiment. be able to.

第7図(A)〜(C)は、本発明による有機結晶の形成
方法の第5実施態様例を示す形成工程図であり、第8図
(八)および(8)は、それぞれ第7図(A)および(
C)における基板の斜視図である。
7(A) to 7(C) are formation process diagrams showing the fifth embodiment of the method for forming organic crystals according to the present invention, and FIGS. 8(8) and 8(8) are respectively shown in FIG. (A) and (
It is a perspective view of the board|substrate in C).

まず、第7図(A)および第8図(八)に示すように、
非晶質絶縁物基板11に所望の大きさおよび形状の凹部
16を形成し、その中に単一有機結晶核のみが形成され
得るに充分微小サイズの核形成面(SNDL)12を形
成する。
First, as shown in Figure 7 (A) and Figure 8 (8),
A recess 16 of a desired size and shape is formed in the amorphous insulating substrate 11, and a nucleation surface (SNDL) 12 of a sufficiently minute size is formed therein so that only a single organic crystal nucleus can be formed.

続いて、第7図(B)に示すように、第1実施態様例と
同様にして島状の有機単結晶粒13を成長させる。
Subsequently, as shown in FIG. 7(B), island-shaped organic single crystal grains 13 are grown in the same manner as in the first embodiment.

そして、第7図(C)および第8図(B) に示すよう
に、有機単結晶粒13が凹部16を埋めるまで成長させ
、有機単結晶層17を形成する。
Then, as shown in FIGS. 7(C) and 8(B), the organic single crystal grains 13 are grown until they fill the recesses 16, thereby forming an organic single crystal layer 17.

第9図(A)〜(C)は、本発明の第6実施態様例を示
す有機結晶の形成工程図である。同図に示すように、第
1実施態様例と同様の任意の基板4上に、選択核形成を
可能にする核形成密度(ND)の小さい材料から成る薄
膜状め非核形成面(SNDS) 18を形成し、そこに
所望の大きさおよび形状の凹部16を形成する。そして
、その中に非核形成面(SNDS)を形成する材料とは
、異種材料であって、核形成密度(ND)の大きい材料
から成る核形成面(SNDL) 12を微小に形成し、
第5実施態様例と同様にして有機単結晶層17を形成す
る。
FIGS. 9(A) to 9(C) are process diagrams for forming organic crystals showing a sixth embodiment of the present invention. As shown in the figure, a thin film-like non-nucleation surface (SNDS) 18 made of a material with a low nucleation density (ND) that enables selective nucleation is placed on an arbitrary substrate 4 similar to the first embodiment. , and a recess 16 of a desired size and shape is formed therein. The material forming the non-nucleation surface (SNDS) therein is a different material, and a nucleation surface (SNDL) 12 made of a material with a large nucleation density (ND) is minutely formed,
An organic single crystal layer 17 is formed in the same manner as in the fifth embodiment.

第10図(A)〜(C)は、本発明の第7実施態様例を
示す有機結晶の形成工程図である。所望の基板19に凹
部を形成した後、選択核形成を可能にするに充分核形成
密度(ND)の小さい材料から成る薄膜状の非核形成面
(SNas)20を形成し、以下前記の例と同様にして
有機単結晶層17を形成することができる。
FIGS. 10(A) to 10(C) are process diagrams for forming organic crystals showing a seventh embodiment of the present invention. After forming the recesses in the desired substrate 19, a thin film-like non-nucleation surface (SNas) 20 made of a material with a sufficiently low nucleation density (ND) to enable selective nucleation is formed, and as described in the example above. Organic single crystal layer 17 can be formed in the same manner.

第11図(八)〜(D)は、本発明の第8実施態様例を
示す有機結晶の形成工程図である。
FIGS. 11(8) to 11(D) are process diagrams for forming organic crystals showing the eighth embodiment of the present invention.

同図(A)〜(C)は第4図の(八)〜(C)  と同
じである。すなわち、核形成面12を間隔犯をおいて複
数個形成し、核形成面12上に有機単結晶粒13を形成
する。この・有機単結晶を更に成長させて有機単結晶粒
13を形成することによって核形成面(SNDL) 1
2のほぼ中央に粒界14が形成され、有機単結晶粒13
の表面を平坦化することで第11図(D) に示すよう
な粒径が略々kに揃った有機多結晶10を得ることがで
きる。
Figures (A) to (C) are the same as (8) to (C) in Figure 4. That is, a plurality of nucleation surfaces 12 are formed at regular intervals, and organic single crystal grains 13 are formed on the nucleation surfaces 12. By further growing this organic single crystal to form organic single crystal grains 13, the nucleation surface (SNDL) 1
A grain boundary 14 is formed approximately in the center of the organic single crystal grain 13.
By flattening the surface, it is possible to obtain an organic polycrystal 10 whose grain size is approximately equal to k as shown in FIG. 11(D).

この有機多結晶層lOの粒径は核形成面(SNoJ12
の間隔℃によって決定されるために、有機多結晶の粒径
制御が可能となる。従来では、有機多結晶の粒径は形成
方法や形成温度等の複数の要因によって変化し、かつ犬
ぎい粒径の有機多結晶を作成する場合には、平成り幅を
もった粒径分布を有するものであったが、本発明によれ
ば核形成面12の間隔℃によりて制御性良く粒径および
粒径分布が決定される。
The grain size of this organic polycrystalline layer lO is determined by the nucleation surface (SNoJ12
It is possible to control the grain size of organic polycrystals because the interval is determined by the temperature range of °C. Conventionally, the grain size of organic polycrystals varies depending on multiple factors such as the formation method and formation temperature, and when creating organic polycrystals with a dog-sized grain size, it is necessary to create a grain size distribution with a Heisei width. However, according to the present invention, the particle size and particle size distribution are determined with good controllability by the interval C between the nucleation surfaces 12.

勿論、第6図に示すように、所望基板4上に核形成密度
(ND)の小さい非核形成面(SNDS)と核形成密度
(ND)の大きい核形成面(SNDL) 5を形成して
、第11図(D)に示した上記有機多結晶層lOを形成
してもよい。この場合は、既に述へたように、基板材料
や構造等に制約されることなく、有機多結晶層10を粒
径と粒径分布を制御して形成することができる。
Of course, as shown in FIG. 6, a non-nucleation surface (SNDS) with a small nucleation density (ND) and a nucleation surface (SNDL) 5 with a large nucleation density (ND) are formed on the desired substrate 4. The organic polycrystalline layer IO shown in FIG. 11(D) may be formed. In this case, as described above, the organic polycrystalline layer 10 can be formed by controlling the grain size and grain size distribution without being restricted by the substrate material, structure, etc.

次に、上記核実施態様例における有機単結晶層または有
機多結晶層の具体的形成方法を第3図に示す第2実施態
様例、第11図に示す第8実施態様例を中心により具体
的、より詳細に説明する。
Next, the specific method for forming the organic single crystal layer or the organic polycrystalline layer in the above core embodiment will be explained in more detail, focusing on the second embodiment shown in FIG. 3 and the eighth embodiment shown in FIG. , will be explained in more detail.

実施例1 木実層側における有機単結晶層の形成方法を第3図に基
づいて説明する。
Example 1 A method for forming an organic single crystal layer on the nut layer side will be explained based on FIG. 3.

S+有機単結晶基板9にフォトリソグラフィー技術によ
り約1〜2μmφの核形成面である5in2膜6を10
00人の厚さに形成させる(第3図(A))。
A 5in2 film 6, which is a nucleation surface with a diameter of about 1 to 2 μm, is formed on the S+ organic single crystal substrate 9 by photolithography.
It is formed to a thickness of 0.00 mm (Fig. 3(A)).

この基板9に真空蒸着法により2−メチル−4−ニトロ
アニリン(MNA)を蒸着すると5in2膜6上にのみ
MNA7は堆積する(第2図(B))。蒸着速度が2人
/sec程度以下であるとMNAは有機単結晶となる。
When 2-methyl-4-nitroaniline (MNA) is deposited on this substrate 9 by vacuum evaporation, MNA 7 is deposited only on the 5in2 film 6 (FIG. 2(B)). When the deposition rate is about 2 people/sec or less, MNA becomes an organic single crystal.

蒸着条件は真空容器の真空度は5 X 1O−6Tor
r程度、基板温度は室温である。使用したMNAは昇華
法により精製したものであり、抵抗加熱法で蒸着した。
The evaporation conditions are a vacuum degree of 5 x 1O-6 Torr in the vacuum container.
r, and the substrate temperature is room temperature. The MNA used was purified by a sublimation method, and was vapor deposited by a resistance heating method.

この結果、5i02の微少部を中心にMNAの有機単結
晶7が成長し、有機単結晶の大きさは約2時間で基板面
内方向で数十μm以上になった(第3図(C))。有機
単結晶粒7を平坦化すると有機単結晶層8となる(第3
図(B))。
As a result, an organic single crystal 7 of MNA grew around the microscopic part of 5i02, and the size of the organic single crystal became several tens of μm or more in the in-plane direction of the substrate in about 2 hours (Figure 3 (C)). ). When the organic single crystal grain 7 is flattened, it becomes an organic single crystal layer 8 (third
Figure (B)).

実施例2 実施例1と同様にSt基板に約2〜4μmφの5in2
を500人程1の厚さに形成させる。基板にしてHeあ
るいはArイオンビームを照射しなからMNAを蒸着す
る。蒸着条件等はHeあるいはArイオンビームを照射
する以外実施例1と同様である。この結果、約3時間で
5in2の微少部を中心にMNAの有機単結晶が約60
μm程度の大きさに成長した。
Example 2 As in Example 1, 5in2 of approximately 2 to 4 μmφ was formed on the St substrate.
500 people to a thickness of 1. A substrate is irradiated with a He or Ar ion beam, and then MNA is deposited. The vapor deposition conditions and the like are the same as in Example 1 except that He or Ar ion beam irradiation is used. As a result, in about 3 hours, about 60 organic single crystals of MNA were formed mainly in a 5 in 2 minute part.
It grew to a size of about μm.

一ス】■pH3− 5i単結晶を熱酸化して5iOJuを形成し、イオン注
入法によりSiを核形成面である微少部以外の場所に注
入する。Si濃度はSiO□膜表面付近で1018〜1
022cm−’程度である。Siが注入されていない5
i02部の微少部は1〜2μm程度の大きさである。ま
た5in2の1牧牛部間の距離は80μmである。これ
を基板として実施例2と同様にMNAをイオンビーム支
援蒸着法により蒸着する。約4時間の蒸着でMNへの有
機結晶が成長した。MNAの有機結晶粒界は有機結晶間
に存在する。
1) pH 3- A 5i single crystal is thermally oxidized to form 5iOJu, and Si is implanted into a place other than the minute portion which is the nucleation surface by ion implantation. The Si concentration is 1018~1 near the SiO□ film surface.
It is about 0.022 cm-'. No Si injected 5
The microscopic portion of the i02 portion has a size of about 1 to 2 μm. Further, the distance between each cow pasting section of 5 in 2 is 80 μm. Using this as a substrate, MNA is deposited using the ion beam assisted deposition method in the same manner as in Example 2. Organic crystals on MN were grown after about 4 hours of deposition. Organic grain boundaries of MNA exist between organic crystals.

実施例4 第11図においてGaAs単結晶上11フオトリソグラ
フイによりポリイミド系レジストを用いて、ポリイミド
系フィルム12を基板11に形成する(第11図(A)
)。この時のポリイミド系フィルム12の太きさは1〜
4μmφ程度であり第11図(A)に示した塁の値は1
00μmである。次に真空蒸着法によりアントラセンを
蒸着すると、ポリイミド系フィルム12上よりアントラ
セン13の有機結晶が成長しくN l1図(B))、ポ
リイミド系フィルム12のほぼ中間に粒界ができるよう
に有機結晶成長した(第11図(C))。最後に有機結
晶粒13を研磨することにより平坦な有機結晶層lOが
得られた(第11図(D))。
Example 4 In FIG. 11, a polyimide film 12 is formed on a substrate 11 by photolithography on a GaAs single crystal using a polyimide resist (FIG. 11(A)).
). The thickness of the polyimide film 12 at this time is 1~
The diameter of the base shown in Figure 11 (A) is approximately 4 μmφ, and the value of the base shown in Figure 11 (A) is 1.
00 μm. Next, when anthracene is deposited using a vacuum evaporation method, organic crystals of anthracene 13 grow from above the polyimide film 12 (Figure (B)), and the organic crystals grow so that a grain boundary is formed approximately in the middle of the polyimide film 12. (Figure 11(C)). Finally, by polishing the organic crystal grains 13, a flat organic crystal layer IO was obtained (FIG. 11(D)).

[発明の効果] 以上詳細に説明したように、本発明による有機結晶およ
びその形成方法は、非核形成面(SNDS)形成用の材
料より核形成密度(ND)の十分大きい異種材料または
異種表面状態、もしくは異種材料および異種表面状態で
ある核形成面(SNDL)を単一の有機結晶核だけが成
長するように十分微細に形成することによって、その微
細に核形成面(Sso、、)の存在する箇所に有機単結
晶を選択的に成長させるものであり、これによって必要
な大きさの有機単結晶、複数の島状の有機!#結晶、粒
径および粒径分布が制御された有m多結晶等の有機結晶
を任意の材料の下地基板上に容易に形成することができ
る。しかも、特別に新たな製造装置を必要とせず、通常
の半導体プロセスで使用される装置を用いて形成するこ
とができる。
[Effects of the Invention] As explained above in detail, the organic crystal and the method for forming the same according to the present invention are applicable to a different material or a different surface state having a sufficiently higher nucleation density (ND) than a material for forming a non-nucleation surface (SNDS). , or by forming the nucleation surface (SNDL), which is a heterogeneous material and a heterogeneous surface state, sufficiently finely so that only a single organic crystal nucleus grows. This method allows organic single crystals to grow selectively in the desired size, and multiple island-shaped organic crystals can be grown. #Organic crystals such as polycrystals with controlled crystal, grain size, and grain size distribution can be easily formed on a base substrate of any material. Moreover, no special new manufacturing equipment is required, and it can be formed using equipment used in normal semiconductor processes.

また、本発明による有機結晶は、従来のように下地基板
の材料に制約されることがないために、三次元集積化、
大面積化および低コスト化を容易に達成することができ
る。具体的には、光素子、表面音響素子、圧電素子等と
、それらの各々との周辺回路IC等の集積、一体化が可
能となる。また、安価なガラスやセラミック等を下地材
料とすれば、駆動回路を一枚のガラス等の集積した大型
フラットパネルディスプレイ等に大面積電子装置への応
用が可能となる。
Furthermore, since the organic crystal according to the present invention is not limited by the material of the underlying substrate as in the past, it can be integrated into three dimensions.
Larger area and lower cost can be easily achieved. Specifically, it becomes possible to integrate and integrate optical elements, surface acoustic elements, piezoelectric elements, etc., and peripheral circuit ICs and the like for each of them. In addition, if inexpensive glass, ceramic, or the like is used as the base material, it becomes possible to apply it to large-area electronic devices such as large flat panel displays in which drive circuits are integrated on a single sheet of glass or the like.

さらに、本発明は上記核形成面(SNDL)を非核形成
面(SNDS)に所望の大きさで所望の距離をおいて形
成することによって、必要な大きさの有機単結晶を複数
の箇所に形成することができる。
Furthermore, the present invention forms organic single crystals of a required size at multiple locations by forming the nucleation surface (SNDL) with a desired size and a desired distance from the non-nucleation surface (SNDS). can do.

また、上記非核形成面(SNDS)に形成される核形成
面(SvoL)の間隔を調整することによフて、その間
隔によって粒径が制御された有機多結晶を形成すること
ができる。
Furthermore, by adjusting the interval between the nucleation planes (SvoL) formed on the non-nucleation plane (SNDS), it is possible to form organic polycrystals whose grain size is controlled by the interval.

実bt例に示した基板材料はSi、 GaAsであり、
また、単一核を発生させるための核形成面である異種材
料に5i02.ポリイミド系フィルムを選び、核形成面
を形成するためにはイオン注入法で行った。本発明はい
ずれもこれらに限定されるものではないことは自明であ
る。
The substrate materials shown in the actual bt example are Si, GaAs,
In addition, 5i02. A polyimide film was chosen and ion implantation was used to form the nucleation surface. It is obvious that the present invention is not limited to these.

また、成長させる結晶の形成方法も前述の実施例に限定
されるものではなく、昇華法、 CVO法。
Furthermore, the method of forming the crystal to be grown is not limited to the above-mentioned embodiments, and may include sublimation method and CVO method.

スパッタ法1MBE法、プラズマ放電法などを用いても
同様の効果を得ることができる。
Similar effects can be obtained by using a sputtering method, 1MBE method, plasma discharge method, or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(八)〜(D)は本発明による有機結晶の形成方
法の第1実施例を示す形成工程図、 第2図(A)および(B)は第1図(A)および([1
)における基板の斜視図、 第3図(八)〜(D)は本発明の第2実施例を示す形成
工汗呈図5、 第4図は(A)〜(D)は本発明による単結晶の形成方
法の第3実施例を示す形成工程図、 第5図(A)および(II)は第4図(A)および(D
Jにおける基板の斜視図、 第6図(A)〜(D)は本発明の第4実施例を示す形成
工程図、 第7図(A)〜(C)は本発明による結晶の形成方法の
第5実施例を示す形成工程図、 第8図(A)および(B)は第7図(A)および(C1
における基板の斜視図、 第9図(A)〜(C)は本発明の第6実施例を示す形成
工程図、 第1O図(M〜(C)は本発明の第7実施例を示す形成
工程図、 P−(D) 第11図(八)咎ψ等→帥は本発明の第8実施例を示す
形成工程図、 第12図(八)および(B)は選択堆積法の説明図、第
13図(A)〜(D)は従来のイオンビームエツチング
による薄膜形成方法を示す工程図、 第14図(A)〜(D)は従来のフォーカスイオンビー
ムあるいはレーザービームスキャンによる薄膜形成方法
を示す工程図である。 4・・・基板、 5・・・薄l摸、 6・・・核形成面、 7・・・有機有機単結晶粒、 8・・・有機有機単結晶層、 9・・・基板、 10・・・有機多結晶層、 11・・・基板、 12・・・核形成面、 13・・・有機単結晶粒、 14・・・粒界、 15・・・有機単結晶層、 16・・・凹部、 17・・・有機単結晶層、 19・・・凹部、 20・・・薄膜、 21・・・基板、 22・・・薄膜、 23・・・有機薄膜、 24・・・基板、 25・・・薄膜、 26・・・マスク、 27・・・イオンビーム、 28・・・ビーム。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第8図 第9図 第10図 N−N− 第12図 第13図
FIGS. 1(8) to (D) are formation process diagrams showing the first embodiment of the method for forming organic crystals according to the present invention. FIGS. 2(A) and (B) are FIGS. 1(A) and ([ 1
), FIGS. 3(8) to 3(D) are perspective views of the substrate in accordance with the present invention; FIGS. Formation process diagrams showing the third example of the crystal formation method, FIGS. 5(A) and (II) are shown in FIGS. 4(A) and (D
6(A) to 6(D) are formation process diagrams showing the fourth embodiment of the present invention, and FIGS. 7(A) to (C) are perspective views of the substrate in J. Formation process diagrams showing the fifth embodiment, Figures 8(A) and (B) are Figures 7(A) and (C1
FIGS. 9(A) to 9(C) are forming process diagrams showing a sixth embodiment of the present invention, and FIGS. 10(M to C) are forming process diagrams showing a seventh embodiment of the present invention. Process diagram, P-(D) Figure 11 (8) 咎ψ etc→帥 is a formation process diagram showing the eighth embodiment of the present invention, Figure 12 (8) and (B) are explanatory diagrams of selective deposition method , FIGS. 13(A) to (D) are process diagrams showing a conventional method of forming a thin film using ion beam etching, and FIGS. 14(A) to (D) are process diagrams showing a method of forming a thin film using a conventional focused ion beam or laser beam scanning. 4. Substrate, 5. Thin layer, 6. Nucleation surface, 7. Organic single crystal grain, 8. Organic single crystal layer, 9. ...Substrate, 10...Organic polycrystalline layer, 11...Substrate, 12...Nucleation surface, 13...Organic single crystal grain, 14...Grain boundary, 15...Organic monocrystalline grain Crystal layer, 16... Concavity, 17... Organic single crystal layer, 19... Concavity, 20... Thin film, 21... Substrate, 22... Thin film, 23... Organic thin film, 24 ... Substrate, 25... Thin film, 26... Mask, 27... Ion beam, 28... Beam. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 8 Figure 9 Figure 10 Figure 12 Figure 13

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1)核形成密度の小さい非核形成面(S_N_D_S)
と、該非核形成面(S_N_D_S)に隣接して配され
、単一核のみよりなる有機結晶が成長するのに充分小さ
い面積を有し、前記非核形成面(S_N_D_S)の核
形成密度(ND_S)よりも大きい核形成密度(ND_
L)を有する核形成面(S_N_D_L)と、前記有機
結晶単一核より成長して前記核形成面(S_N_D_L
)を越えて前記非核形成面(S_N_D_S)を覆って
いる単結晶であることを特徴とする有機結晶。 2)前記有機結晶が、結晶分子内において対称面もしく
は回転対称軸を有する芳香族化合物であることを特徴と
する特許請求の範囲第1項に記載の有機結晶。 3)前記有機結晶が非局在のπ電子を有する有機化合物
であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の有
機結晶。 4)前記非局在π電子を有する有機結晶が非線形光学特
性を有する有機化合物であることを特徴とする特許請求
の範囲第3項に記載の有機結晶。 5)核形成密度の小さい非核形成面(S_N_D_S)
を有する基体の前記非核形成面(S_N_D_S)の所
望位置に該非核形成面(S_N_D_S)の核形成密度
(ND_S)より大きい核形成密度(ND_L)を有し
、かつ単一核のみより結晶成長するに充分小さい面積の
核形成面(S_N_D_L)を形成し、次いで、前記基
体に結晶形成処理を施して、単一核を前記核形成面(S
_N_D_L)に形成し、該単一核より有機結晶を成長
させることを特徴とする有機結晶の形成方法。 6)前記有機結晶が、結晶分子内において対称面もしく
は回転対称軸を有する芳香族化合物であることを特徴と
する特許請求の範囲第5項に記載の有機結晶の形成方法
。 7)前記有機結晶が非局在のπ電子を有する有機化合物
であることを特徴とする特許請求の範囲第5項記載の有
機結晶の形成方法。 8)前記非局在π電子を有する有機化合物が、非線形光
学特性を有する有機化合物であることを特徴とする特許
請求の範囲第7項記載の有機結晶の形成方法。 9)前記核形成面(S_N_D_L)は、上記非核形成
面(S_N_D_S)より核形成密度の充分大きい材料
を非核形成面(S_N_D_S)上に堆積させた後、パ
ターニングすることによって十分微細に形成されること
を特徴とする特許請求の範囲第5項記載の有機結晶の形
成方法。 10)前記核形成面(S_N_D_L)は、前記非核形
成面(S_N_D_S)の材料より核形成密度の十分大
きい材料を前記非核形成面(S_N_D_S)にイオン
注入することによって、十分微細に形成されることを特
徴とする特許請求の範囲第5項記載の有機結晶の形成方
法。 11)前記核形成面(S_N_D_L)は前記核形成面
(S_N_D_S)に必要とされる有機結晶の大きさと
同じか、または該有機結晶の大きさ以上の距離をおいて
形成されることを特徴とする特許請求の範囲第5項記載
の有機結晶の形成方法。 12)前記核形成面(S_N_D_L)を上記非核形成
面(S_N_D_S)に複数個形成し、前記核形成面(
S_N_D_L)間の距離によって前記有機結晶の粒径
を制御することを特徴とする特許請求の範囲第5項記載
の有機結晶の形成方法。
[Claims] 1) Non-nucleation surface with low nucleation density (S_N_D_S)
and a nucleation density (ND_S) of the non-nucleation surface (S_N_D_S), which is disposed adjacent to the non-nucleation surface (S_N_D_S) and has a sufficiently small area for growth of an organic crystal consisting of only a single nucleus; Nucleation density (ND_
A nucleation surface (S_N_D_L) having a nucleation surface (S_N_D_L) having a
) and covering the non-nucleation surface (S_N_D_S). 2) The organic crystal according to claim 1, wherein the organic crystal is an aromatic compound having a plane of symmetry or an axis of rotational symmetry within the crystal molecule. 3) The organic crystal according to claim 1, wherein the organic crystal is an organic compound having delocalized π electrons. 4) The organic crystal according to claim 3, wherein the organic crystal having delocalized π electrons is an organic compound having nonlinear optical properties. 5) Non-nucleation surface with low nucleation density (S_N_D_S)
has a nucleation density (ND_L) larger than the nucleation density (ND_S) of the non-nucleation surface (S_N_D_S) at a desired position of the non-nucleation surface (S_N_D_S) of the substrate having a substrate, and the crystal grows from only a single nucleus. A nucleation surface (S_N_D_L) with a sufficiently small area is formed on the substrate, and then a crystal formation treatment is performed on the substrate to form a single nucleus on the nucleation surface (S_N_D_L).
_N_D_L) and growing an organic crystal from the single nucleus. 6) The method for forming an organic crystal according to claim 5, wherein the organic crystal is an aromatic compound having a plane of symmetry or an axis of rotational symmetry within the crystal molecule. 7) The method for forming an organic crystal according to claim 5, wherein the organic crystal is an organic compound having delocalized π electrons. 8) The method for forming an organic crystal according to claim 7, wherein the organic compound having delocalized π electrons is an organic compound having nonlinear optical properties. 9) The nucleation surface (S_N_D_L) is formed sufficiently finely by depositing a material having a sufficiently higher nucleation density than the non-nucleation surface (S_N_D_S) on the non-nucleation surface (S_N_D_S) and then patterning the material. The method for forming organic crystals according to claim 5, characterized in that: 10) The nucleation surface (S_N_D_L) is formed sufficiently finely by ion-implanting a material having a sufficiently higher nucleation density than the material of the non-nucleation surface (S_N_D_S) into the non-nucleation surface (S_N_D_S). A method for forming an organic crystal according to claim 5, characterized in that: 11) The nucleation surface (S_N_D_L) is formed at a distance equal to or greater than the size of the organic crystal required for the nucleation surface (S_N_D_S). A method for forming an organic crystal according to claim 5. 12) A plurality of the nucleation surfaces (S_N_D_L) are formed on the non-nucleation surface (S_N_D_S), and the nucleation surface (S_N_D_L) is
6. The method for forming organic crystals according to claim 5, wherein the particle size of the organic crystals is controlled by the distance between S_N_D_L.
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