JPS63210784A - 位相同期発振器の伝達特性測定装置 - Google Patents
位相同期発振器の伝達特性測定装置Info
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- JPS63210784A JPS63210784A JP62045458A JP4545887A JPS63210784A JP S63210784 A JPS63210784 A JP S63210784A JP 62045458 A JP62045458 A JP 62045458A JP 4545887 A JP4545887 A JP 4545887A JP S63210784 A JPS63210784 A JP S63210784A
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 title abstract 5
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 6
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、位相同期発振器の伝達特性測定装置に関する
ものであり、特に入出力伝達特性を測定する装置に関す
る。
ものであり、特に入出力伝達特性を測定する装置に関す
る。
本発明は、位相同期発振器の伝達特性を測定す−る装置
において、 位相同期発振器の入力信号を発生する電圧制御発振器の
制御入力と、位相同期発振器内の電圧制御発振器の制御
入力とを測定することにより、簡単な構成で精度良く伝
達特性を測定するものである。
において、 位相同期発振器の入力信号を発生する電圧制御発振器の
制御入力と、位相同期発振器内の電圧制御発振器の制御
入力とを測定することにより、簡単な構成で精度良く伝
達特性を測定するものである。
従来、位相同期発振器の伝達特性の測定は第３図に示す
構成により行われていた。
構成により行われていた。
まず、位相同期発振器３は、比較信号が入力される位相
比較回路４とこの位相比較回路４の出力が入力されるル
ープフィルタ回路５とこのループフィルタ回路５の出力
を制御入力とする電圧制御発振器６とが同期ループを構
成し、この電圧制御発振器６の出力を位相同期出力とし
て取り出している。
比較回路４とこの位相比較回路４の出力が入力されるル
ープフィルタ回路５とこのループフィルタ回路５の出力
を制御入力とする電圧制御発振器６とが同期ループを構
成し、この電圧制御発振器６の出力を位相同期出力とし
て取り出している。
この位相同期発振器３の伝達特性を測定するには、変調
信号発生器８の出力を電圧制御発振器２の制御入力とし
、この電圧制御発振器２の出力を上記位相同期発振器３
の比較信号として与え、この電圧制御発振器２の出力と
、位相同期発振器３の電圧制御発振器６の出力とを波形
観測器９で観測して、人力された位相変調信号が被測定
位相同期発振器の出力信号としていかに変化するかを測
定するものであった。
信号発生器８の出力を電圧制御発振器２の制御入力とし
、この電圧制御発振器２の出力を上記位相同期発振器３
の比較信号として与え、この電圧制御発振器２の出力と
、位相同期発振器３の電圧制御発振器６の出力とを波形
観測器９で観測して、人力された位相変調信号が被測定
位相同期発振器の出力信号としていかに変化するかを測
定するものであった。
しかし、上述した従来の測定方法においては、伝達特性
の測定を被測定位相同期発振器３の出力周波数に変調さ
れた形で測定しなければならず、その測定量は変調され
た波形に依存し、その観測はオシロスコープ上で位相変
動量を読み取る手段しかないため、測定精度が悪く、特
に位相差については測定が困難であった。
の測定を被測定位相同期発振器３の出力周波数に変調さ
れた形で測定しなければならず、その測定量は変調され
た波形に依存し、その観測はオシロスコープ上で位相変
動量を読み取る手段しかないため、測定精度が悪く、特
に位相差については測定が困難であった。
本発明は、新規な測定方法により簡単な測定系で容易に
測定精度を高めることができる測定装置を提供すること
を目的とする。
測定精度を高めることができる測定装置を提供すること
を目的とする。
本発明は、位相比較回路とループフィルタ回路と第一の
電圧制御発振器とを同期ループに含む位相同期発振器の
伝達特性を測定する装置において、上記位相比較回路の
比較入力に発振出力を与える第二の電圧制御発振器と、
この第二の電圧制御発振器の制御入力と、位相同期発振
器内の前記第一の電圧制御発振器の制御入力との振幅お
よび位相差を測定する手段とを備えたことを特徴とする
。
電圧制御発振器とを同期ループに含む位相同期発振器の
伝達特性を測定する装置において、上記位相比較回路の
比較入力に発振出力を与える第二の電圧制御発振器と、
この第二の電圧制御発振器の制御入力と、位相同期発振
器内の前記第一の電圧制御発振器の制御入力との振幅お
よび位相差を測定する手段とを備えたことを特徴とする
。
位相同期発振器に比較信号を出力する電圧制御発振器の
制御入力と、位相同期発振器内の電圧制御発振器の制御
入力とを振幅および位相測定器で観測する。
制御入力と、位相同期発振器内の電圧制御発振器の制御
入力とを振幅および位相測定器で観測する。
この二つの電圧制御発振器の制御入力は、位相同期発振
器の伝達特性を決定する比較信号と出力信号の位相変動
量θ。とθ、と比例関係にあるため、この二つの電圧制
御入力の振幅および位相の比をとることにより位相同期
発振器の伝達特性Ｈを求めることができる。
器の伝達特性を決定する比較信号と出力信号の位相変動
量θ。とθ、と比例関係にあるため、この二つの電圧制
御入力の振幅および位相の比をとることにより位相同期
発振器の伝達特性Ｈを求めることができる。
以下図面に基づいて本発明の詳細な説明する。
まず、本発明の測定原理を第２図に基づいて説明する。
位相同期発振器の伝達特性は、位相同期回路の比較入力
であるＡ点における位相変動量と、その出力であるＢ点
における位相変動量の比で示される。すなわち、Ａ点の
位相を０１、Ｂ点での位相をθ。とすると、伝達特性Ｈ
は、Ｈ＝θ。／θ１である。
であるＡ点における位相変動量と、その出力であるＢ点
における位相変動量の比で示される。すなわち、Ａ点の
位相を０１、Ｂ点での位相をθ。とすると、伝達特性Ｈ
は、Ｈ＝θ。／θ１である。
ここで、電圧制御発振器６の出力がθ。であり、Ｂ′点
での制御値をＶｏとすると、位相は周波数の積分である
ため、θ。は（１／ｓ）’Ｖｏと比例関係にある。また
Ａ点の前段に電圧制御発振器２を考え、その制御入力で
あるＡ′の制御値を■、とすると、同様に０１は（１／
ｓ） Ｖ 、と比例関係にある。
での制御値をＶｏとすると、位相は周波数の積分である
ため、θ。は（１／ｓ）’Ｖｏと比例関係にある。また
Ａ点の前段に電圧制御発振器２を考え、その制御入力で
あるＡ′の制御値を■、とすると、同様に０１は（１／
ｓ） Ｖ 、と比例関係にある。
したがって、θ。／θ１を測定する代わりに、Ｖ ｏ
／ Ｖ ＋を測定することにより伝達特性Ｈが得られる
。
／ Ｖ ＋を測定することにより伝達特性Ｈが得られる
。
Ｖｌおよび■。は測定しようとしている伝達特性の周波
数そのものの信号振幅、位相量であるから、この信号を
直接測定すれば容易に伝達特性が得られる。
数そのものの信号振幅、位相量であるから、この信号を
直接測定すれば容易に伝達特性が得られる。
次に本発明実施例構成図を第１図に示す。
低周波発振器１は測定しようとする伝達特性の周波数を
出力するものであり、この出力信号を電圧制御発振器２
に出力する。この電圧制御発振器２の出力は位相同期発
振器３の比較入力に入力される。位相同期発振器３は、
位相比較回路４、ループフィルタ回路５、電圧制御発振
器６とを含んで同期ループを構成しており、電圧制御発
振器６の出力を位相同期発振出力として取り出す。
出力するものであり、この出力信号を電圧制御発振器２
に出力する。この電圧制御発振器２の出力は位相同期発
振器３の比較入力に入力される。位相同期発振器３は、
位相比較回路４、ループフィルタ回路５、電圧制御発振
器６とを含んで同期ループを構成しており、電圧制御発
振器６の出力を位相同期発振出力として取り出す。
この位相同期発振器３の伝達特性の測定は、上記低周波
発振器１の出力すなわち電圧制御発振器２の制御入力と
、位相同期発振器３のループフィルタ回路５の出力すな
わち電圧制御発振器６の制御入力を振幅および位相測定
器７に入力して行う。
発振器１の出力すなわち電圧制御発振器２の制御入力と
、位相同期発振器３のループフィルタ回路５の出力すな
わち電圧制御発振器６の制御入力を振幅および位相測定
器７に入力して行う。
振幅および位相測定器７は上記二つの電圧制御発振器２
および６０制御入力の比を測定して位相同期発振器３の
伝達特性を測定する。
および６０制御入力の比を測定して位相同期発振器３の
伝達特性を測定する。
以上説明したように、本発明は、位相同期発振器の伝達
特性を、その周波数成分の信号で測定することができる
ので、従来のように波形測定器等を用いることなく、簡
単な構成で容易に測定精度を上げることができる効果が
ある。
特性を、その周波数成分の信号で測定することができる
ので、従来のように波形測定器等を用いることなく、簡
単な構成で容易に測定精度を上げることができる効果が
ある。
第１図は本発明実施例の構成図。
第２図は本発明の原理を示す構成図。
第３図は従来例の構成を示す図。
１・・・低周波発振器、２．６・・・電圧制御発振器、
３・・・位相同期発振器、４・・・位相比較回路、５・
・・ループフィルタ回路、７・・・振幅および位相測定
器、８・・・変調信号発生器、９・・・波形観測器。
３・・・位相同期発振器、４・・・位相比較回路、５・
・・ループフィルタ回路、７・・・振幅および位相測定
器、８・・・変調信号発生器、９・・・波形観測器。
Claims (1)
- （１）位相比較回路（４）と、ループフィルタ回路（５
）と、第一の電圧制御発振器（６）とを同期ループに含
む位相同期発振器（３）の伝達特性を測定する装置にお
いて、 上記位相比較回路の比較入力に発振出力を与える第二の
電圧制御発振器（２）と、 この第二の電圧制御発振器の制御入力と、位相同期発振
器内の前記第一の電圧制御発振器の制御入力との振幅お
よび位相差を測定する手段とを備えたことを特徴とする
位相同期発振器の伝達特性測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62045458A JP2595523B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 位相同期発振器の伝達特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62045458A JP2595523B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 位相同期発振器の伝達特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63210784A true JPS63210784A (ja) | 1988-09-01 |
| JP2595523B2 JP2595523B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=12719913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62045458A Expired - Lifetime JP2595523B2 (ja) | 1987-02-27 | 1987-02-27 | 位相同期発振器の伝達特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2595523B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7755438B2 (en) | 2007-06-06 | 2010-07-13 | Nec Electronics Corporation | Phase lock loop semiconductor device |
| CN102207522A (zh) * | 2011-04-01 | 2011-10-05 | 广州润芯信息技术有限公司 | 一种基于频率测量的rc常数测量方法 |
-
1987
- 1987-02-27 JP JP62045458A patent/JP2595523B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7755438B2 (en) | 2007-06-06 | 2010-07-13 | Nec Electronics Corporation | Phase lock loop semiconductor device |
| CN102207522A (zh) * | 2011-04-01 | 2011-10-05 | 广州润芯信息技术有限公司 | 一种基于频率测量的rc常数测量方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2595523B2 (ja) | 1997-04-02 |
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