JPS63209029A - Optical pick-up device - Google Patents

Optical pick-up device

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JPS63209029A
JPS63209029A JP62040433A JP4043387A JPS63209029A JP S63209029 A JPS63209029 A JP S63209029A JP 62040433 A JP62040433 A JP 62040433A JP 4043387 A JP4043387 A JP 4043387A JP S63209029 A JPS63209029 A JP S63209029A
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grating lens
optical
photodetector
grating
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Tomoji Maeda
智司 前田
Masayuki Kato
雅之 加藤
Fumio Yamagishi
文雄 山岸
Hiroyuki Ikeda
池田 弘之
Yushi Inagaki
雄史 稲垣
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To fulfil requests such as light weight, small size and low cost and to obtain an optical pick-up device having high precision and reliability, which does not receive the effect of the variation of wavelength, by utilizing a grating lens optical system. CONSTITUTION:By combining two grating lenses such as first grating lens 11 which crosses an incident laser beam in an axis symmetry and a second grating lens 12 which converges the crossed beam on an optical disk 10, a favorable beam spot having no astigmation and a stable focusing function having no stagger can be realized without receiving the effect of the variation of wavelength of the incident laser beam. And a third grating lens 33 which diffracts a part of a reflected beam (signal light) from the optical disk, which goes back following a course opposite to going, and transmits a part of the beam is installed and the one (for example the diffracted light) is introduced to a photodetector 37 for focusing and the other (for example the transmitted light) is introduced to the photodetector 39 for tracking. Thus, the pick-up device for the optical disk which has high detecting precision and high reliability can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 入射レーザビームを軸対称に交叉させる第1のグレーテ
ィングレンズとこの交叉ビームを光デイスク上に収束さ
せる第2のグレーティングレンズとの2枚のグレーティ
ングレンズを組合せることにより入射レーザビームの波
長変動の影響を受けることなく収差のない良好なビーム
スポットとずれのない安定した合焦性能を実現し得るよ
うにした新規に開発されたグレーティングレンズ系に、
該グレーティングレンズ系を往きと逆のコースを辿って
逆行してくる光ディスクからの反射ビーム(信号光)の
一部を回折し且つ一部を透過せしめる第3のグレーティ
ングレンズを付設し、その一方(例えば回折光)をフォ
ーカシング用光検出器に導き、他方(例えば透過光)を
トラッキング用光検出器に導くことにより検出精度並び
に信顛性の高い光デイスク用ピックアップ装置が実現出
来る。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Two grating lenses are combined: a first grating lens that crosses an incident laser beam axially symmetrically, and a second grating lens that converges this crossed beam onto an optical disk. A newly developed grating lens system that achieves a good beam spot without aberration and stable focusing performance without deviation without being affected by wavelength fluctuations of the incident laser beam.
A third grating lens is attached to the grating lens system, which diffracts a part of the reflected beam (signal light) from the optical disk traveling backward through the grating lens system, and transmits a part of the reflected beam (signal light). By guiding one (for example, diffracted light) to a focusing photodetector and the other (for example, transmitted light) to a tracking photodetector, an optical disk pickup device with high detection accuracy and reliability can be realized.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は光ピンクアンプ、特にグレーティングレンズ系
を用いた光デイスク用ピックアップ装置に関する。
The present invention relates to an optical pink amplifier, and particularly to an optical disk pickup device using a grating lens system.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

光ディスクへの情報の書込みあるいは読取りを行うピン
クアップは光デイスク装置全体の小型、高密度化、ある
いはアクセス時間の短縮等の要求から軽量、小型化、低
価格化が進められている。
Pink-up devices that write or read information on optical disks are being made lighter, smaller, and less expensive due to demands for smaller, higher-density, and shorter access times for the entire optical disk device.

かかる要望を充足するべく、近年、ホログラム素子を用
いた光ピックアップの開発が進められている。これは、
半導体レーザ光源からのレーザビームをホログラムを通
して光デイスク上に収束させ、その反射ビーム(信号光
)を1/4波長板により偏光して光検出器に取り出すも
のであるが、その構造の簡略さから軽量、小型、低価格
化が実現でき、この点においてはこれまでのものに比し
かなり満足すべき結果が得られている。
In order to satisfy such demands, development of optical pickups using hologram elements has been progressing in recent years. this is,
A laser beam from a semiconductor laser light source is focused on an optical disk through a hologram, and the reflected beam (signal light) is polarized by a quarter-wave plate and taken out to a photodetector. Light weight, small size, and low cost can be realized, and in this respect, results that are quite satisfactory compared to the previous ones have been obtained.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、ホログラムレンズは周知の如く波長変化
に応じて回折角が変化し収差が生じるので、半導体レー
ザの発振波長の変化に伴い(半導体レーザビーム光源の
波長は実質上常時、僅かに変動する)、焦点位置の変化
や焦点ビーム径の劣化といった固有の問題があり、その
ためホログラムを用いた光ピックアップの完全な実用化
にまだ至っていない。
However, as is well known, the diffraction angle of a hologram lens changes as the wavelength changes and aberrations occur, so as the oscillation wavelength of the semiconductor laser changes (the wavelength of the semiconductor laser beam source virtually always changes slightly), There are inherent problems such as changes in the focal point position and deterioration of the focal beam diameter, and as a result, optical pickups using holograms have not yet been fully put into practical use.

ところで、本願出願人は先に、特願昭61−22087
0号明細書において、上述の如き入射光の波長変動があ
ってもその影響を受けずに常に収差のない良好なビーム
スポットを得ることができ且つ正確な安定した合焦性能
を有するグレーティングレンズ光学系を提案した。
By the way, the applicant of this application previously filed Japanese Patent Application No. 61-22087.
In the specification of No. 0, a grating lens optical system that can always obtain a good beam spot free of aberrations without being influenced by the above-mentioned wavelength fluctuations of incident light and has accurate and stable focusing performance. proposed a system.

本発明はこのグレーティングレンズ光学系を利用して、
軽量、小型、低度という要求は充足しつつ、尚且つ波長
変動の影響を受けない高精度にして信顧性の高い光ピッ
クアップ装置を提供することを目的とする。
The present invention utilizes this grating lens optical system,
It is an object of the present invention to provide an optical pickup device that satisfies the requirements of light weight, small size, and low intensity, and is not affected by wavelength fluctuations, has high precision, and has high reliability.

C問題点を解決するための手段〕 上記の目的を達成するために、本発明に係る光ピックア
ップ装置は、レーザ光源からのレーザ光を軸対称に交叉
させる第1グレーティングレンズと該第1グレーティン
グレンズを透過した回折光を光信号記録媒体上の一点に
合焦させる第2グレーティングレンズとを光軸上に配置
したグレーティングレンズ系と、特定方向の直線偏光の
みを通過せしめそれと垂直な方向の直線偏光は反射する
偏光ビームスプリッタと、該偏光ビームスプリッタを透
過したまたはこれにより反射された直線偏光を円偏光に
変換して上記グレーティングレンズ系に入射せしめる1
/4波長板と、上記光信号記録媒体により反射され往路
と逆のコースを辿るグレーティングレンズ系からの上記
1/4波長板により90°偏光角を変えられた信号光を
一部は透過させ一部は回折させる上記偏光ビームスブリ
フタと一体的な第3のグレーティングレンズと、該第3
グレーティングレンズによる透過光ないし回折光の一方
を検出するフォーカシング用光検出器と、上記透過光な
いし回折光の他方を検出するトラッキング用光検出器と
を有することを構成上の特徴とする。
Means for Solving Problem C] In order to achieve the above object, the optical pickup device according to the present invention includes a first grating lens that allows laser light from a laser light source to intersect axially symmetrically, and the first grating lens. A grating lens system includes a second grating lens that focuses the diffracted light that has passed through the optical signal onto a single point on the optical signal recording medium, and a second grating lens that allows only linearly polarized light in a specific direction to pass through and linearly polarized light in a direction perpendicular to the second grating lens. 1 which converts the linearly polarized light transmitted through or reflected by the polarized beam splitter into circularly polarized light and makes it incident on the grating lens system;
A part of the signal light whose polarization angle has been changed by 90 degrees by the quarter-wave plate and the quarter-wave plate from the grating lens system, which is reflected by the optical signal recording medium and follows a course opposite to the outgoing path, is transmitted and unified. a third grating lens integral with the polarized beam subrifter for diffraction;
The structure is characterized in that it includes a focusing photodetector that detects one of the transmitted light or diffracted light by the grating lens, and a tracking photodetector that detects the other of the transmitted light or diffracted light.

〔作用〕[Effect]

偏光ビームスプリッタは特定方向のレーザビーム(直線
偏光)のみ、例えばS波のみを通過させそれと直交する
方向の直線偏光、たとえばP波は反射する。従って、例
えばP波のみが偏光ビームスブリフタにより反射されグ
レーティングレンズ系に入射する。その時、直線偏光は
1/4波長板(λ/4板)により円偏光に変換される。
A polarizing beam splitter passes only a laser beam (linearly polarized light) in a specific direction, for example, only an S wave, and reflects linearly polarized light in a direction perpendicular thereto, for example, a P wave. Therefore, for example, only the P wave is reflected by the polarization beam subrifter and enters the grating lens system. At that time, the linearly polarized light is converted into circularly polarized light by a quarter wavelength plate (λ/4 plate).

グレーティングレンズ系内においては、ビームは第1グ
レーティングレンズにより回折されるがその時回折光は
光軸対称に交叉せしめられる。次にこれらの回折光は第
2グレーティングレンズにより回折され、光ディスク(
光信号記録媒体)上の一点に収束する。光ディスクによ
り反射された反射ビーム(信号光)は往路と全く逆コー
スを辿ってグレーティングレンズ系から出ていく。その
際、円偏光はλ/4板により再び直線偏光にされる。従
って、円偏光となるのはλ/4板と光ディスクの間(グ
レーティングレンズ系を含む)においてのみである。
In the grating lens system, the beam is diffracted by the first grating lens, and the diffracted lights are made to intersect symmetrically with the optical axis. Next, these diffracted lights are diffracted by the second grating lens, and the optical disc (
converges on one point on the optical signal recording medium). The reflected beam (signal light) reflected by the optical disk exits from the grating lens system following a course completely opposite to the outgoing path. At this time, the circularly polarized light is again converted into linearly polarized light by the λ/4 plate. Therefore, circularly polarized light occurs only between the λ/4 plate and the optical disk (including the grating lens system).

グレーティングレンズ系から出射された直線偏光(信号
光)は前記のλ/4板を通過するときに往路の直線偏光
に対し90°偏光方向が異なる直線偏光(即ち、往路が
P波とすると復路はS波)になるため偏光ビームスプリ
ッタを透過する。偏光ビームスプリッタに一体的に形成
された第3のグレーティングレンズは一種のハーフミラ
−の機能を有し、偏光ビームスプリッタを透過した光の
一部は透過させ、一部は回折する。透過光(または回折
光)はフォーカシング用光検出器に導がれてフォーカシ
ング制御を行い、回折光(または透過光)はトラッキン
グ用検出器に導かれてトラッキング制御を行う。
When the linearly polarized light (signal light) emitted from the grating lens system passes through the above-mentioned λ/4 plate, it is linearly polarized light whose polarization direction is 90° different from the linearly polarized light on the outgoing path (i.e., if the outgoing path is a P wave, the incoming path is a P wave). It passes through the polarizing beam splitter to become an S wave). The third grating lens integrally formed with the polarizing beam splitter has a function of a kind of half mirror, and part of the light transmitted through the polarizing beam splitter is transmitted, and part of it is diffracted. The transmitted light (or diffracted light) is guided to a focusing photodetector to perform focusing control, and the diffracted light (or transmitted light) is guided to a tracking detector to perform tracking control.

グレーティングレンズ系は後述するようにレーザビーム
の波長変動の影響を全く受けず、常に光デイスク上の一
点に合焦させることが出来る。即ち、波長変動によりさ
もなければ生じるであろう収差はグレーティングレンズ
系を用いることにより全く発生しない。
As will be described later, the grating lens system is completely unaffected by wavelength fluctuations of the laser beam and can always focus on one point on the optical disk. That is, aberrations that would otherwise occur due to wavelength variations are completely eliminated by using the grating lens system.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の好ましい実施例につき添付図面を参照し
て詳細に説明する。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

まず初めに、本発明において重要な役割を果たすグレー
ティングレンズ系の構成について第11図、第12図を
参照して簡単に説明する。尚、このグレーティングレン
ズ系の詳細構造は上記の特願昭61−220870号に
開示されている。
First, the configuration of the grating lens system, which plays an important role in the present invention, will be briefly explained with reference to FIGS. 11 and 12. The detailed structure of this grating lens system is disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application No. 61-220870.

第11図において、グレーティングレンズ系は第1.第
2のインライン型のグレーティングレンズ11.12を
同一光軸(一点鎖線)上に配置した構成であり、光軸上
の点P(コヒーレント光源)から発散する球面波を第1
のグレーティングレンズ11で光軸側に回折させ、光軸
と一旦交差させた後に、第2のグレーティングレンズ1
2によって光軸上の所定の点Qに集束させるようにした
ものである。
In FIG. 11, the grating lens system is the first. It has a configuration in which second inline grating lenses 11 and 12 are arranged on the same optical axis (dotted chain line), and a spherical wave diverging from a point P (coherent light source) on the optical axis is
The second grating lens 11 diffracts the light toward the optical axis, and once it crosses the optical axis, the second grating lens 1
2 to focus the light on a predetermined point Q on the optical axis.

上記第1のグレーティングレンズ11は、光軸に関して
回転対称の所定の空間周波数分布を有しており、光軸に
関して対称な任意の2点からの回折光が光軸上で交差す
るようにしである。また、上記第2のグレーティングレ
ンズ12は、光軸に関して回転対称の所定の空間周波数
分布を有しており、上記交差した回折光が光軸上の1点
(点Q)に集束するようにしである。
The first grating lens 11 has a predetermined spatial frequency distribution that is rotationally symmetrical with respect to the optical axis, so that diffracted lights from any two points that are symmetrical with respect to the optical axis intersect on the optical axis. . Further, the second grating lens 12 has a predetermined spatial frequency distribution that is rotationally symmetrical with respect to the optical axis, so that the crossed diffracted lights are focused on one point (point Q) on the optical axis. be.

上記構成において、第1のインライン型グレーティング
レンズの任意の1点に同一方向から入射した、互いに異
なる波長λ0.λ(λ0〈λ)の2つの光の進路を考え
てみる。まず、第1のインライン型グレーティングレン
ズによって、波長λの光は波長λ0の光よりも大きな角
度で回折されるとともに、これらの回折光はいずれも光
軸と交わった後に、第2のインライン型グレーティング
レンズ上に到達する。これらの光の到達点は、光軸を中
心とした同−半径上にあって、しかもその光軸からの距
離は波長λの光の方が波長λ0の光よりも遠い。次に、
これらの光は上記第2のインライン型グレーティングレ
ンズによって回折されるが、この時、波長λの光が波長
λ0の光よりも大きな角度で回折されるので、2つの光
の間隔は次第に狭まっていき、最終的には1点で交わる
In the above configuration, mutually different wavelengths λ0. Consider two paths of light λ (λ0<λ). First, light with a wavelength λ is diffracted by a first in-line grating lens at a larger angle than light with a wavelength λ0, and after both of these diffracted lights intersect with the optical axis, they are passed through a second in-line grating lens. reach above the lens. The arrival points of these lights are on the same radius around the optical axis, and the distance from the optical axis for light with wavelength λ is farther than light with wavelength λ0. next,
These lights are diffracted by the second in-line grating lens, but at this time, the light with wavelength λ is diffracted at a larger angle than the light with wavelength λ0, so the distance between the two lights gradually narrows. , eventually intersect at one point.

よって、2つのインライン型グレーティングレンズに所
定の空間周波数分布を持たせておくことにより、上記2
つの光の交わる点を上記光軸上の指定の1点に置くこと
ができる。
Therefore, by providing the two inline grating lenses with a predetermined spatial frequency distribution, the above 2.
The point where the two lights intersect can be placed at a specified point on the optical axis.

以上のことは第1のインライン型グレーティングレンズ
のどの点に入射した光についても言うことが出来、しか
も上記空間周波数分布は光軸に関して回転対称としであ
るので、入射した発散球面波光はその波長が変化したと
しても、光軸上の上記所定の1点に集束され、従って収
差や焦点位置ずれが生じることはなくなる。
The above can be said about the light incident on any point of the first in-line grating lens, and since the above spatial frequency distribution is rotationally symmetric with respect to the optical axis, the wavelength of the incident diverging spherical wave light is Even if the light changes, it will be focused on the predetermined point on the optical axis, and therefore no aberrations or focal position shifts will occur.

次に、上記グレーティングレンズ11.12の空間周波
数分布の具体的な決定方法について、第2図を用いて以
下(i)〜(iv )で述べる。なお、点Pとグレーテ
ィングレンズ11との距離をj!l。
Next, a specific method for determining the spatial frequency distribution of the grating lenses 11, 12 will be described below in (i) to (iv) using FIG. Note that the distance between the point P and the grating lens 11 is j! l.

2つのグレーティングレンズ11.12官の距離をd1
グレーティングレンズ12と点Qとの距離を22とする
The distance between the two grating lenses 11.12 is d1
The distance between the grating lens 12 and point Q is assumed to be 22.

(i)まず、点Pを発してグレーティングレンズ11の
最外周の点R1に達する、波長λOの光線を考える。こ
の光線は、点R1で回折され、グレーティングレンズ1
2の中心の点−1(=O)に達し、ここで更に回折され
て点Qに達するものとする(第2図中の実線a)sする
と、上述した光路(P→R1→rl−’Q)を仮定する
ことにより、点R1,rlにおける空間周波数F1.f
lが決定される。
(i) First, consider a ray of wavelength λO that is emitted from point P and reaches point R1 at the outermost periphery of grating lens 11. This ray is diffracted at point R1 and grating lens 1
2, and is further diffracted here to reach point Q (solid line a in Figure 2). Then, the optical path described above (P→R1→rl−' Q), the spatial frequency F1 . f
l is determined.

(ii )次に、波長がλ0からλ(〉λO)に変った
場合について考える。点Pから点R1へと進んだ波長λ
の光線は、点R1において、波長がλOのときよりも大
きな角度で回折され、グレーティングレンズ12上の点
r2に達する(破線b)。
(ii) Next, consider the case where the wavelength changes from λ0 to λ (>λO). The wavelength λ that progressed from point P to point R1
At point R1, the light ray is diffracted at a larger angle than when the wavelength is λO, and reaches point r2 on grating lens 12 (dashed line b).

ここで、波長がλであるときでも点Qに集束するという
条件から、点r2における空間周波数12が決定される
Here, the spatial frequency 12 at point r2 is determined from the condition that the light is focused on point Q even when the wavelength is λ.

(iii )波長がλOの場合に戻り、点r2で回折さ
れて点Qに達する光線がグレーティングレンズll上の
どこの点から来るのかを逆に求めることが出来る(実線
C)。そのグレーティングレンズll上の点をR2とす
ると、点R2での回折光が点Pに達するという条件から
、点R2における空間周波数F2が決定される。
(iii) Returning to the case where the wavelength is λO, it is possible to conversely find from which point on the grating lens ll the light beam that is diffracted at point r2 and reaches point Q comes from (solid line C). Assuming that the point on the grating lens 11 is R2, the spatial frequency F2 at the point R2 is determined from the condition that the diffracted light at the point R2 reaches the point P.

(iv )再び波長がλになった場合を考え、上記゛(
ii )と同様にしてグレーティングレンズ12上の点
r3(図示せず)とその空間周波数f3を求める。そし
て波長をλ0に戻し、上記(i酩)と同様にしてグレー
ティングレンズ11上の点R3(図示せず)とその空間
周波数F3を求める。このようにして点Rn (n−1
,2,3,・・・)がグレーティングレンズ11の中心
に達するまで上記(ii )及び(iii )の過程を
繰り返すことにより、グレーティングレンズ11.12
における半径方向の空間周波数分布が決定される。なお
、第2のグレーティングレンズ12の径は、点rnの位
置で決定される。
(iv) Consider the case where the wavelength becomes λ again, and consider the above ゛(
Similarly to ii), the point r3 (not shown) on the grating lens 12 and its spatial frequency f3 are determined. Then, the wavelength is returned to λ0, and the point R3 (not shown) on the grating lens 11 and its spatial frequency F3 are determined in the same manner as in (i) above. In this way, point Rn (n-1
, 2, 3, ...) reaches the center of the grating lens 11, by repeating the steps (ii) and (iii) above,
The radial spatial frequency distribution at is determined. Note that the diameter of the second grating lens 12 is determined at the position of point rn.

以上のようにしてグレーティングレンズ11゜12の空
間周波数分布を決定することにより、点Pから発した光
が、基準となる波長λ0とは異なる波長λであっても、
これを無収差で点Qに集束させることが出来る。
By determining the spatial frequency distribution of the grating lenses 11° and 12 as described above, even if the light emitted from point P has a wavelength λ different from the reference wavelength λ0,
This can be focused on point Q without aberration.

本発明は上述の如きグレーティングレンズ光学系を利用
して光ピックアップ装置を実現したものであり、光信号
記録媒体として光ディスクを例にとり第1図以下を参照
して本発明の詳細な説明する。
The present invention realizes an optical pickup device using the grating lens optical system as described above, and the present invention will be described in detail with reference to FIG. 1 and subsequent figures, taking an optical disk as an example of an optical signal recording medium.

第1図において、上述のグレーティングレンズ系は全体
を21でしめされ、第1グレーティングレンズ11と第
2グレーティングレンズ12とが光軸位置に配置される
。レーザは半導体レーザ23からの発散光を平板状の偏
光ビームスプリッタ(P B S : Po1ariz
ed  Beam 5plitLer ) 25により
所定角度だけ偏光してグレーティングレンズ系21に入
射する。ここで、偏光ビームスプリッタ25は周知の如
く特定方向の直線偏光のみ透過させ、それと垂直な方向
の直線偏光は反射する。
In FIG. 1, the above-mentioned grating lens system is indicated as a whole by 21, and the first grating lens 11 and the second grating lens 12 are arranged at the optical axis position. The laser converts the diverging light from the semiconductor laser 23 into a flat polarizing beam splitter (PBS: Po1ariz
The beam is polarized by a predetermined angle by the ed Beam 5plitLer ) 25 and enters the grating lens system 21 . Here, as is well known, the polarizing beam splitter 25 transmits only linearly polarized light in a specific direction, and reflects linearly polarized light in a direction perpendicular thereto.

即ち、例えばS波(またはP波)のみ通過させ、P波(
またはS波)は反射する。
That is, for example, only S waves (or P waves) are allowed to pass, and P waves (
or S waves) are reflected.

本発明によれば、第1グレーティングレンズ11には1
/4波長Fi(λ/4板)29が付設されている。尚、
1/4波長板29は第1グレーティングレンズ11に物
理的に付着することは必ずしも必要ない。偏光ビームス
プリッタ25により反射された直線偏光(例えばP波)
は1/4波長板29により円偏光に変換され、第1グレ
ーティングレンズ11により上述の如く軸対称に回折さ
れ第2グレーティングレンズ12により光ディスク10
の所定の1点上に収束する。
According to the present invention, the first grating lens 11 has one
/4 wavelength Fi (λ/4 plate) 29 is attached. still,
The quarter-wave plate 29 does not necessarily need to be physically attached to the first grating lens 11. Linearly polarized light (for example, P wave) reflected by the polarizing beam splitter 25
is converted into circularly polarized light by the quarter-wave plate 29, diffracted axially symmetrically by the first grating lens 11 as described above, and transmitted to the optical disc 10 by the second grating lens 12.
converges on one predetermined point.

光デイスク装置は周知の如く、光デイスク10上のビッ
ト5 (一般には深さ=λ/8)からの反射光強度を、
回折限界近くまで絞ったビームスボ・ノドを用いて、検
出することによりビットの有無、従って光信号を検出す
るものである。
As is well known, the optical disc device calculates the intensity of reflected light from bit 5 (generally depth = λ/8) on the optical disc 10.
The presence or absence of bits, and therefore the optical signal, is detected by using a beam probe narrowed to near the diffraction limit.

半導体レーザからのビームの波長は実質上絶えず変動す
るが、グレーティングレンズ系を用いることにより波長
変化に起因する収差は上述の如く吸収でき極めて精度の
高い光信号が得られる。
Although the wavelength of the beam from the semiconductor laser changes virtually constantly, by using a grating lens system, aberrations caused by wavelength changes can be absorbed as described above, and an extremely highly accurate optical signal can be obtained.

光ディスクlOにより反射されたビーム(信号光)は往
きと全く逆の光路を辿ってグレーティングレンズ系21
内を逆行しグレーティングレンズ系21から出射し、1
/4波長板29により90″偏光角を変えられ直線偏光
となる。即ちビームはλ/4板29への入射光とλ/4
板29からの出射光(信号光)とでは偏光角が90°異
なり、従って信号光は偏光ビームスプリッタ25を透過
する。
The beam (signal light) reflected by the optical disk 1O follows the completely opposite optical path to the grating lens system 21.
The light travels backwards inside the grating lens system 21 and exits from the grating lens system
/4 wavelength plate 29 changes the polarization angle by 90'' and becomes linearly polarized light. In other words, the beam has a polarization angle of λ/4 with respect to the incident light on λ/4 plate 29
The polarization angle differs by 90° from the light emitted from the plate 29 (signal light), and therefore the signal light passes through the polarization beam splitter 25.

本発明によれば、平板状の偏光ビームスブリフタ25に
は一種のハーフミラ−として機能する第3のグレーティ
ングレンズ33が一体的に形成される。
According to the present invention, the third grating lens 33, which functions as a kind of half mirror, is integrally formed on the flat polarizing beam subrifter 25.

かくして、信号光はその一部は第3グレーティングレン
ズ33により回折され、一部は第3グレーティングレン
ズ33を透過する。これら透過光及び回折光の一方、例
えば回折光B1をフォーカシング用光検出器37に、ま
た他方、例えば透過光B2をトラッキング用光検出器3
9に夫々導く。
Thus, part of the signal light is diffracted by the third grating lens 33, and part of it is transmitted through the third grating lens 33. One of the transmitted light and the diffracted light, for example, the diffracted light B1, is sent to the focusing photodetector 37, and the other, for example, the transmitted light B2, is sent to the tracking photodetector 3.
9 respectively.

グレーティングレンズはその縞(グレーティング)を適
切に設計することにより容易に上記の如きハーフミラ−
の特性が得られる。
A grating lens can be easily converted into a half mirror like the one above by appropriately designing its stripes (grating).
The following characteristics are obtained.

フォーカシング用光検出器37及び1−ラフキング用光
検出器39はそれ自体公知の2つに分割されたPINフ
ォト・ダイオードから構成される2分割光検出器である
。光ディスクのビットの有無、即ちチャンネル・ビット
の信号は2分割光検出器37.39の出力の強弱で識別
される。
The focusing photodetector 37 and the 1-roughing photodetector 39 are two-split photodetectors that are composed of two PIN photodiodes, which are known per se. The presence or absence of bits on the optical disc, ie, channel bit signals, is identified by the strength or weakness of the outputs of the two-split photodetectors 37 and 39.

図示実施例においては、第2図に示す如く、フォーカシ
ング用光検出器37は結像点(合焦点)よりわずかに遠
方に置かれ、光ディスク10が正確に合焦位置にある時
に2分割光検出器37の2個のフォト・ダイオードの受
光量が等しくなるようにする。この状態が第2図(a)
に示される。
In the illustrated embodiment, as shown in FIG. 2, the focusing photodetector 37 is placed slightly far from the imaging point (focus point), and when the optical disc 10 is accurately in focus, it detects the two-split light beam. The amount of light received by the two photodiodes of the device 37 is made equal. This state is shown in Figure 2(a).
is shown.

従って、光ディスクIOが合焦位置より“遠い”場合は
第2図(b)に示す如くフォーカシング用光検出器37
の下方のフォト・ダイオード37bの出力の方が大きく
なり、逆に、光ディスク1゜が“近い”場合には第2図
(C)に示す如く上方のフォト・ダイオード37aの出
力の方が大きくなる。
Therefore, when the optical disc IO is "far" from the in-focus position, the focusing photodetector 37 as shown in FIG. 2(b)
The output of the lower photodiode 37b becomes larger, and conversely, when the optical disk 1° is "closer", the output of the upper photodiode 37a becomes larger as shown in FIG. 2(C). .

第2図に示すフォーカスエラー検出方法は所謂「ナイフ
ェツジ法」の変形と考えることが出来よう。
The focus error detection method shown in FIG. 2 can be considered a modification of the so-called "Knifezi method."

尚、好ましくは、フォーカシング用光検出器37の2個
のフォト・ダイオード37a、37bの分割面は第3図
に示す如く、第3のグレーティングレンズ33の干渉縞
に対して直交する方向に向いている。つまり、光源の波
長変化があると、上述の如く特殊構成のグレーティング
レンズ系21内においては有効に吸収され焦点ぼけ等の
悪影響は回避されるが、第3のグレーティングレンズ3
3による回折方向の変化は回避出来ない。そのため、こ
の回折方向が変化する方向、即ち干渉縞と直交する方向
にフォーカシング用光検出器37の分割面を位置させれ
ば、第3図(a)、(b)、(c)の如く発振波長の変
化に応じて第3グレーティングレンズ33の回折角が変
化しても相変わらず分割面の中心に結像することにおい
ては変わりない。即ち、結像位置は分割面上で変化する
に過ぎないので2個のフォト・ダイオード37a、37
bの相対的出力特性には何等影響を及ぼさない。
Preferably, the dividing planes of the two photodiodes 37a and 37b of the focusing photodetector 37 are oriented in a direction perpendicular to the interference fringes of the third grating lens 33, as shown in FIG. There is. In other words, if there is a change in the wavelength of the light source, it is effectively absorbed within the specially configured grating lens system 21 as described above, and adverse effects such as defocusing are avoided, but the third grating lens 3
The change in the diffraction direction due to 3 cannot be avoided. Therefore, if the dividing surface of the focusing photodetector 37 is positioned in the direction in which this diffraction direction changes, that is, in the direction perpendicular to the interference fringes, oscillation will occur as shown in FIGS. 3(a), (b), and (c). Even if the diffraction angle of the third grating lens 33 changes in accordance with the change in wavelength, the image remains focused on the center of the dividing plane. That is, since the imaging position only changes on the dividing plane, the two photodiodes 37a, 37
It has no effect on the relative output characteristics of b.

第4A図はトラッキング用光検出器39の配置構成を示
す。光ディスクではトラッキングは光ディスクのビット
により行われる。トラッキング用光検出器39を構成す
る2分割フォト・ダイオード39a、39bの分割面は
ビット5の列(トラック)に平行に位置する。第4A図
において、光ディスク10に結像するビームがビット5
の中心に位置している時は第4A図(a)に示す如くビ
ームスポットはフォト・ダイオード39a、39bの分
割面中心に位置する。第4A図(b)はビームがビット
5の左側にずれた場合を示し、この場合には一方のフォ
ト・ダイオード39aの受光量が一部暗くなり、反対に
ビームがピットの右側にずれた場合には第4A図(c)
に示す如く他方のフォト・ダイオード39bの受光量が
一部暗くなる。尚、レーザビームをグレーティングレン
ズ系21内で軸対称に交叉させるため、収差ビームの位
置ずれによる暗い部分は反転してフォト・ダイオード3
9a、39bの分割面の近傍に現れることになる。その
反転の様子を第4B図に示す。
FIG. 4A shows the arrangement of the tracking photodetector 39. In optical discs, tracking is performed using bits of the optical disc. The dividing planes of the two-split photodiodes 39a and 39b constituting the tracking photodetector 39 are located parallel to the row (track) of the bits 5. In FIG. 4A, the beam focused on the optical disk 10 is bit 5.
When the beam spot is located at the center of the photodiodes 39a and 39b, the beam spot is located at the center of the dividing plane of the photodiodes 39a and 39b, as shown in FIG. 4A (a). FIG. 4A (b) shows a case where the beam shifts to the left side of bit 5. In this case, the amount of light received by one photodiode 39a becomes partially dark, and conversely, when the beam shifts to the right side of the pit. Figure 4A (c)
As shown in FIG. 3, the amount of light received by the other photodiode 39b becomes partially dark. In addition, since the laser beams are crossed axially symmetrically within the grating lens system 21, the dark portion due to the positional deviation of the aberration beam is reversed and the photodiode 3
It appears near the dividing planes 9a and 39b. The state of the reversal is shown in FIG. 4B.

第4A図に示すトラッキングエラー検出法は両フォト・
ダイオード39a、39bの光量差を検出するブツシュ
・プル法を利用したものである。
The tracking error detection method shown in Figure 4A is
This uses a bush-pull method that detects the difference in light intensity between the diodes 39a and 39b.

第5図は第1図に示す基本構想に基づいて構成した光デ
ィスクlO用のピックアンプの実際構造例の一例を示す
。同図において、第1図の部品に対応する部品は対応番
号で示し、その詳しい説明は省略する。
FIG. 5 shows an example of an actual structure of a pick amplifier for an optical disk 10 constructed based on the basic concept shown in FIG. In the figure, parts corresponding to the parts in FIG. 1 are indicated by corresponding numbers, and detailed explanation thereof will be omitted.

第5図において、第1、第2グレーティングレンズ11
S 12及びl/4波長板29は予めフレーム53によ
り一体化され、ハウジング51に固定される。尚、40
は第1グレーティングレンズ11と1/4波長板29と
の間に介在させたスペーサであり、光学的には無用のも
のである。
In FIG. 5, the first and second grating lenses 11
The S12 and 1/4 wavelength plates 29 are integrated in advance by a frame 53 and fixed to the housing 51. In addition, 40
is a spacer interposed between the first grating lens 11 and the quarter wavelength plate 29, and is optically useless.

偏光ビームスプリンタ25と第3グレーティングレンズ
33はガラス基板61の両面に一体形成され、同様にハ
ウジング51内の所定位置に固定される。フォーカシン
グ用光検出器37とトラッキング用光検出器39はとも
にハウジング51の壁厚内に直接取りつけられる。半導
体レーザ23もハウジング51内に固定される。
The polarizing beam splinter 25 and the third grating lens 33 are integrally formed on both sides of the glass substrate 61 and similarly fixed at a predetermined position within the housing 51. Both the focusing photodetector 37 and the tracking photodetector 39 are mounted directly within the wall thickness of the housing 51. The semiconductor laser 23 is also fixed within the housing 51.

また、第1、第2グレーティングレンズの間を中実(例
えばガラス)構造にし、予めガラス基板の両面に2枚の
グレーティングレンズを一体形成し、ハウジング内に固
定することも可能である。
It is also possible to form a solid (for example, glass) structure between the first and second grating lenses, integrally form two grating lenses on both sides of a glass substrate in advance, and fix them in the housing.

第5図に示す光ピックアップにおいて、収束ビームの調
整は半導体レーザ23の位置調整により行い、検出部の
調整はフォーカシング用光検出器37及びトラッキング
用光検出器39の位置調整により節単に行うことができ
る。
In the optical pickup shown in FIG. 5, the convergent beam can be adjusted by adjusting the position of the semiconductor laser 23, and the detection section can be adjusted simply by adjusting the positions of the focusing photodetector 37 and the tracking photodetector 39. can.

第5図の構成によれば、トラッキング用光検出器39は
単に2個のフォト・ダイオード39a139bの光量差
を検出するだけなので、トラッキング用光検出器39は
第3グレーティングレンズ33に近接して配置すること
が出来、従って第5図におけるハウジング51の縦方向
の幅長Wを短くすることが出来る。
According to the configuration shown in FIG. 5, the tracking photodetector 39 simply detects the difference in light intensity between the two photodiodes 39a139b, so the tracking photodetector 39 is placed close to the third grating lens 33. Therefore, the vertical width W of the housing 51 in FIG. 5 can be shortened.

尚、フォーカシング用光検出器37或いはトラッキング
用光検出器39によりフォーカシングエラーあるいはト
ラッキングエラーが検出された時の光学系の調整は、例
えばハウジング全体を適当なアクチュエータ(図示せず
)により光ディスク10に対して所定方向に動かすこと
により行うことができる。
When a focusing error or a tracking error is detected by the focusing photodetector 37 or the tracking photodetector 39, the optical system can be adjusted by, for example, moving the entire housing relative to the optical disk 10 using an appropriate actuator (not shown). This can be done by moving it in a predetermined direction.

第6図は本発明の別の実施例を示すもので、同図におい
ては、フォーカシング用光検出器37とトラッキング用
光検出器39の光学的配置が第1図に示すものと逆にな
っている点を除き第1図と同様の構成である。即ち、第
6図においては、第3グレーティングレンズ33の透過
光B2がフォーカシング用光検出器37に導かれ、回折
光81がトラッキング用光検出器39に導か耗ている。
FIG. 6 shows another embodiment of the present invention, in which the optical arrangement of the focusing photodetector 37 and the tracking photodetector 39 is reversed from that shown in FIG. The configuration is the same as that in FIG. 1 except that That is, in FIG. 6, the transmitted light B2 of the third grating lens 33 is guided to the focusing photodetector 37, and the diffracted light 81 is guided to the tracking photodetector 39.

トラッキング用光検出器39は第4A図の場合と全く同
様に2個のフォト・ダイオード39a、39bの光量差
を検出するブツシュ・プル法が用いられ、その分割面は
光ディスク10のトラックに対し平行となっている。従
って、第7図に示す如くビームが光ディスクのピット(
トラック)に対し、左右にずれるとそれに応じてフォト
・ダイオード39a、39bの間に光量差が生じ、ずれ
を検出出来る。
The tracking photodetector 39 uses the bush-pull method to detect the difference in light intensity between the two photodiodes 39a and 39b, just as in the case of FIG. 4A, and its dividing plane is parallel to the track of the optical disk 10. It becomes. Therefore, as shown in FIG.
If there is a shift to the left or right with respect to the track), a difference in light amount will occur between the photodiodes 39a and 39b, and the shift can be detected.

また、第3図に関して説明したのと同様の理由により、
フォト・ダイオード39a、39bの分割面は第8図に
示す如く第3グレーティングレンズ33の干渉縞に対し
垂直な方向に位置せしめられ、その結果、発振波長の変
動に伴う第3グレーティングレンズ33による回折光の
回折角の変化はフォト・ダイオード39a、39bの分
割面上で生じるためトラッキングエラー検出には何ら悪
影響を与えない。尚、第7.8図において(a)は合焦
状態を示し、(b)、(c)はビームが夫々ビットから
左右にずれた場合を示す。
Also, for the same reason as explained in relation to Figure 3,
The dividing planes of the photodiodes 39a and 39b are positioned in a direction perpendicular to the interference fringes of the third grating lens 33 as shown in FIG. Since the change in the diffraction angle of light occurs on the dividing plane of the photodiodes 39a and 39b, it does not have any adverse effect on tracking error detection. In FIG. 7.8, (a) shows the focused state, and (b) and (c) show the case where the beam is shifted left and right from the bit, respectively.

第6図の実施例では、フォーカシング用光検出器37は
第9図に示す如きそれ自体公知の4分割光検出器により
構成される。4分割光検出器37は受光領域が4つに分
割されたPINフォト・ダイオード37a、37b、3
7c、37dであり、光ディスクのビットの有無(即ち
、光信号)は4分割光検出器37の全出力(It + 
12 + 13 + 14)の強弱で識別される。4分
割光検出器37は第9図(a)に示す如く、合焦状態に
おいてフォト・ダイオード37a、37b、37c、3
7dの中心にビームスポットが当たるように配置される
In the embodiment shown in FIG. 6, the focusing photodetector 37 is constituted by a known four-part photodetector as shown in FIG. The four-division photodetector 37 includes PIN photodiodes 37a, 37b, and 3 whose light-receiving areas are divided into four.
7c and 37d, and the presence or absence of bits on the optical disc (i.e., optical signal) is determined by the total output (It +
12 + 13 + 14). As shown in FIG. 9(a), the four-split photodetector 37 has photodiodes 37a, 37b, 37c, 3 in a focused state.
It is arranged so that the beam spot hits the center of 7d.

光ディスク10が合焦位置から第2グレーティングレン
ズ12に近ずくと4分割光検出器37上の信号光のスポ
ットは第9図(c)に示す如く横長の楕円になり、逆に
遠ざかると第9図(b)に示す如く縦長の楕円となる。
When the optical disc 10 approaches the second grating lens 12 from the in-focus position, the spot of the signal light on the 4-split photodetector 37 becomes a horizontally long ellipse as shown in FIG. As shown in Figure (b), it becomes a vertically long ellipse.

従って、4分割光検出′2i37の4個の領域37a、
37b、37c、37dの光出力から(Il+12) 
−(I3 +I4)を測れば合焦状態では“0”、光デ
ィスクが近すいた場合はくO1遠ざかった場合は〉Oに
なる。従って、この誤差信号(11+I2) −(13
+I4)がOになるようにハウジング51をアクチュエ
ータ(図示せず)により上下に制御することによりフォ
ーカシングが行える。これは、非点収差法とよばれる方
法で、この場合、偏光ビームスプリッタ25と第3グレ
ーティングレンズ33とを一体成形したガラス基板61
 (第10図)が非点収差素子となる。
Therefore, the four areas 37a of the four-division light detection '2i37,
From the optical output of 37b, 37c, 37d (Il+12)
If you measure -(I3 +I4), it will be "0" when the optical disc is in focus, 0 when the optical disc approaches, and 〉O when it moves away. Therefore, this error signal (11+I2) −(13
Focusing can be performed by controlling the housing 51 up and down with an actuator (not shown) so that +I4) becomes O. This is a method called the astigmatism method, and in this case, the polarizing beam splitter 25 and the third grating lens 33 are integrally formed on a glass substrate 61.
(FIG. 10) becomes an astigmatism element.

第10図は第6図に示す実施例に対応する実際のピック
アップ構造を示すもので、フォーカシング用光検出器3
7とトラッキング用光検出器39との位置が逆になって
いる点を除き第5図のものと全く同様である。第10図
に示すピックアップにおいては第5図の場合と同様の理
由により、ハウジング51の横方向の幅長W′が短く出
来るということは容易に理解されよう。
FIG. 10 shows an actual pickup structure corresponding to the embodiment shown in FIG.
It is completely the same as that shown in FIG. 5 except that the positions of the tracking photodetector 7 and the tracking photodetector 39 are reversed. It will be easily understood that in the pickup shown in FIG. 10, the lateral width W' of the housing 51 can be shortened for the same reason as in the case of FIG.

以上の実施例において、トラッキング用光検出器及びフ
ォーカシング用光検出器は上記の2分割ないしは4分割
フォト・ダイオードに限らず、その他の光検出器を用い
得ることは勿論である。
In the embodiments described above, the tracking photodetector and the focusing photodetector are not limited to the above-mentioned 2-split or 4-split photodiodes, but it goes without saying that other photodetectors can be used.

また、上記の実施例においては偏光ビームスプリッタ2
5において、往きは反射させ、帰りは透過させるような
配置としたが、その逆に往きは透過光を用い、帰りは反
射光を用いるような配置とすることも可能である。
In addition, in the above embodiment, the polarizing beam splitter 2
In No. 5, the arrangement was such that the outbound light is reflected and the return light is transmitted, but conversely, it is also possible to use an arrangement in which transmitted light is used for the outbound journey and reflected light is used for the return journey.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の如く、本発明によれば発振波長の変化の影響を受
けず、収差の生じないグレーティングレンズ光学系を用
いることにより、トラッキング制御、フォーカシング制
御の作動信転性の高い、軽量、小型、廉価な高性能の光
ピックアップ装置が実現出来る。
As described above, according to the present invention, by using a grating lens optical system that is not affected by changes in the oscillation wavelength and does not produce aberrations, it is lightweight, compact, and inexpensive, with high operational reliability for tracking control and focusing control. A high-performance optical pickup device can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係る光ピックアップ装置の基本構成を
示す図、第2図は第1図に示されるフォーカシング用光
検出器の3種のビーム検出状態を示す図、第3図は第1
図に示されるフォーカシング用光検出器が発振波長の変
化の影響を受けないことを説明するための図、第4A図
は第1図に示されるトラッキング用光検出器の3種のビ
ーム検出状態を示す図、第4B図はトラッキング用光検
出器に入るビームの“暗部”が反転することを説明する
図、第5図は第1図に示す構成を用いたピックアップの
実際構造を示す図解図、第6図は本発明の第2の実施例
を示す第1図と同様の図、第7図は第6図に示されるト
ラッキング用光検出器の3種のビーム検出状態を示す図
、第8図は第6図に示されるトラッキング用光検出器が
発振波長の変化の影響を受けないことを説明する図、第
9図は第6図に示されるフォーカシング用光検出器を構
成する4分割光検出器の3種のビーム検出状態を示す図
、第10図は第6図に示される実施例に対応する光ビッ
クアンプの実際構造を示す図、第11図は本発明におい
て用いられるグレーティングレンズ光学系の基本構成を
示す図、第12図は第11図に示されるグレーティング
レンズの空間周波数の決定方法を説明する図。 lO・・・光ディスク、 11・・・第1グレーティングレンズ、12・・・第2
グレーティングレンズ、21・・・グレーティングレン
ズ光学系、23・・・半導体レーザ、 25・・・偏光ビームスプリッタ、 29・・弓/4波長板、 33・・・第3グレーティングレンズ、37・・・フォ
ーカシング用光検出器、39・・・トラッキング用光検
出器。 第3図 (b) (C) トラッキング用光検出器のビーム検出 状態を示す図 第4A図 光の1暗”部が反転することを説明する図第4B図 光ピツクアンプの実際構造の一例を示す図第5図 本発明の第2実施例を示す図 第6図 (b) ト 検 第7図 寿8図 (C) 1119図 j/ 光ピックアップの実際構造の別の例を示す図第10図
FIG. 1 is a diagram showing the basic configuration of an optical pickup device according to the present invention, FIG. 2 is a diagram showing three types of beam detection states of the focusing photodetector shown in FIG. 1, and FIG.
A diagram for explaining that the focusing photodetector shown in the figure is not affected by changes in the oscillation wavelength, and Figure 4A shows three types of beam detection states of the tracking photodetector shown in Figure 1. Figure 4B is a diagram explaining that the "dark part" of the beam entering the tracking photodetector is reversed, and Figure 5 is an illustrative diagram showing the actual structure of the pickup using the configuration shown in Figure 1. 6 is a diagram similar to FIG. 1 showing a second embodiment of the present invention, FIG. 7 is a diagram showing three types of beam detection states of the tracking photodetector shown in FIG. 6, and FIG. The figure is a diagram explaining that the tracking photodetector shown in Fig. 6 is not affected by changes in the oscillation wavelength, and Fig. 9 is a diagram illustrating the 4-split light that constitutes the focusing photodetector shown in Fig. 6. Figure 10 shows the actual structure of the optical big amplifier corresponding to the embodiment shown in Figure 6. Figure 11 shows the grating lens optics used in the present invention. A diagram showing the basic configuration of the system, and FIG. 12 is a diagram explaining a method for determining the spatial frequency of the grating lens shown in FIG. 11. IO...Optical disk, 11...First grating lens, 12...Second
Grating lens, 21... Grating lens optical system, 23... Semiconductor laser, 25... Polarizing beam splitter, 29... Bow/4 wavelength plate, 33... Third grating lens, 37... Focusing photodetector for tracking, 39...photodetector for tracking. Fig. 3(b) (C) Fig. 4A shows the beam detection state of the tracking photodetector Fig. 4B shows an example of the actual structure of the optical pick amplifier Figure 5: A diagram showing the second embodiment of the present invention Figure 6 (b) Figure 7: Figure 8 (C) Figure 1119: Figure 10: Another example of the actual structure of the optical pickup

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、レーザ光源(23)からのレーザ光を軸対称に交叉
させる第1のグレーティングレンズ(11)と、該第1
グレーティングレンズを透過した回折光を光信号記録媒
体(10)上の一点に合焦させる第2のグレーティング
レンズ(12)とを光軸上に配置したグレーティングレ
ンズ系(21)と、 レーザ光源からのレーザ光の特定方向の直線偏光のみを
通過せしめそれと垂直な方向の直線偏光は反射する偏光
ビームスプリッタ(25)と、該偏光ビームスプリッタ
を透過しまたはこれにより反射された直線偏光を円偏光
に変換して上記グレーティングレンズ系に入射せしめる
1/4波長板(29)と、 上記光信号記録媒体により反射されて往きと逆の光路を
辿る上記グレーティングレンズ系からの上記1/4波長
板により90°偏光角を変えられた信号光を一部は透過
させ一部は回折させる上記偏光ビームスプリッタと一体
的な第3のグレーティングレンズ(33)と、 該第3グレーティングレンズによる透過光ないし回折光
の一方を検出するフォーカシング用光検出器(37)と
、 上記透過光ないし回折光の他方を検出するトラッキング
用光検出器(39)、 を有する光ピックアップ装置。
[Claims] 1. A first grating lens (11) that axially symmetrically intersects laser light from a laser light source (23);
A grating lens system (21) in which a second grating lens (12) that focuses the diffracted light transmitted through the grating lens on a single point on the optical signal recording medium (10) is arranged on the optical axis; A polarizing beam splitter (25) that allows only linearly polarized light in a specific direction of the laser beam to pass through and reflects linearly polarized light in a direction perpendicular thereto, and converts the linearly polarized light transmitted through or reflected by the polarized beam splitter into circularly polarized light. a 1/4 wavelength plate (29) which makes the optical signal enter the grating lens system, and a 1/4 wavelength plate (29) from the grating lens system that is reflected by the optical signal recording medium and follows an optical path in the opposite direction. a third grating lens (33) integrated with the polarizing beam splitter that partially transmits the signal light whose polarization angle has been changed and partially diffracts the signal light; and one of the transmitted light and the diffracted light by the third grating lens. An optical pickup device comprising: a focusing photodetector (37) that detects the light; and a tracking photodetector (39) that detects the other of the transmitted light or the diffracted light.
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