JPS6319812Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6319812Y2 JPS6319812Y2 JP12635681U JP12635681U JPS6319812Y2 JP S6319812 Y2 JPS6319812 Y2 JP S6319812Y2 JP 12635681 U JP12635681 U JP 12635681U JP 12635681 U JP12635681 U JP 12635681U JP S6319812 Y2 JPS6319812 Y2 JP S6319812Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lamp
- switch
- test
- lamp test
- circuit
- Prior art date
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- Expired
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Description
【考案の詳細な説明】 本考案はランプテスト回路に関する。[Detailed explanation of the idea] The present invention relates to a lamp test circuit.
従来のランプテスト回路は操作盤内にランプテ
ストスイツチを設け、該スイツチを押下している
間だけランプを強制点灯させ、離すと元の状態に
戻る様に設計されていた。すなわち、ランプテス
トスイツチにはモーメンタリ式の押ボタンスイツ
チが使われることが多かつた。このような回路で
あると例えば、ランプ点灯状態でそのランプに対
応する回路の調整（例えば、バーグラフ表示）を
行う様なときは、ランプテストスイツチを押下し
たまま回路調整を行う必要があり不便である。ま
た、この不便さを解消するためにランプテストス
イツチにオルタネート式を用いることもあるが、
これはランプテスト状態のまま放置することがあ
り、やはり使い易いものではなかつた。 Conventional lamp test circuits are designed to include a lamp test switch in the operation panel, and forcibly turn on the lamp only while the switch is pressed down, and return to its original state when released. That is, momentary type push button switches were often used as lamp test switches. With such a circuit, for example, when adjusting the circuit corresponding to the lamp while the lamp is on (for example, displaying a bar graph), it is inconvenient to adjust the circuit while holding down the lamp test switch. It is. Also, to eliminate this inconvenience, an alternate type lamp test switch is sometimes used.
This was not easy to use because it was sometimes left in the lamp test state.
本考案の目的はランプテストスイツチにモーメ
ンタリおよびオルタネート機能を兼ね備えたもの
を用いることにより上記欠点を除去し通常のラン
プテストにはモーメンタリ機能を、また回路テス
トあるいは調整時にはオルタネート機能を使える
様にしたランプテスト回路を提供することにあ
る。 The purpose of this invention is to eliminate the above drawbacks by using a lamp test switch that has both momentary and alternate functions.The purpose of this invention is to eliminate the above drawbacks by using a lamp test switch that has both momentary and alternate functions. The purpose is to provide test circuits.
本考案によれば、モーメンタリ機能とオルタネ
ート機能を持つスイツチと、該スイツチにより強
制的に動作するランプ駆動回路と、ランプ駆動回
路により点灯／滅灯するランプとを含むことを特
徴とするランプテスト回路が得られる。 According to the present invention, a lamp test circuit includes a switch having a momentary function and an alternate function, a lamp drive circuit forcibly operated by the switch, and a lamp turned on/off by the lamp drive circuit. is obtained.
次に本考案について図面を参照して詳細に説明
する。本考案の第１の実施例を示す第１図におい
て、本考案のランプテスト回路はランプテストス
イツチ１と、該スイツチの出力信号をTTLレベ
ルに変換するスイツチフイルタ２と、多くのラン
プ駆動回路を駆動するためのバツフアゲート３
と、ランプ駆動回路５−１，５−２……５−ｎ
と、ランプ６−１，６−２，……６−ｎとで構成
されている。 Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings. In FIG. 1 showing the first embodiment of the present invention, the lamp test circuit of the present invention includes a lamp test switch 1, a switch filter 2 that converts the output signal of the switch to a TTL level, and many lamp drive circuits. Buffer gate 3 for driving
and lamp drive circuits 5-1, 5-2...5-n
and lamps 6-1, 6-2, . . . 6-n.
ランプテストスイツチ１にはスイツチ端子１−
１，１−２および１−３があり、１−１はアース
に、１−２，１−３はワイヤードオアされスイツ
チフイルタ２の入力となつている。更にランプテ
ストスイツチ１は３つのポジシヨンを持ち、第１
のポジシヨンではスイツチ端子１−１と１−２が
操作している間だけ接触されるいわゆるモーメン
タリ式のスイツチで、第２のポジシヨンはスイツ
チ端子１−１が他のスイツチ端子と接触しない位
置になる。第３のポジシヨンはスイツチ端子１−
１と１−３が接触される位置で一旦操作するとそ
の位置で安定するオルタネート式のスイツチとな
つている。 Lamp test switch 1 has switch terminal 1-
1, 1-2, and 1-3, 1-1 is connected to ground, and 1-2, 1-3 are wired-ORed and are input to the switch filter 2. Furthermore, the lamp test switch 1 has three positions, the first
In the second position, it is a so-called momentary switch where switch terminals 1-1 and 1-2 are in contact only during operation, and in the second position, switch terminal 1-1 is not in contact with other switch terminals. . The third position is switch terminal 1-
It is an alternate type switch that is stable in that position once it is operated at the position where 1 and 1-3 are in contact.
スイツチフイルタ２の出力はTTLレベルとな
りバツフアゲート３の入力となつている。バツフ
アゲート３の出力はランプ点灯指示線４−１〜４
−ｎと論理和されランプ駆動回路５−１〜５−ｎ
の入力となつている。 The output of the switch filter 2 is at TTL level and serves as the input to the buffer gate 3. The output of the buffer gate 3 is the lamp lighting instruction line 4-1 to 4
-n and lamp drive circuits 5-1 to 5-n
It is used as an input.
ランプ駆動回路５−１〜５−ｎの出力はそれぞ
れ対応するランプ６−１〜６−ｎに接続されてお
り、各ランプのもう一方の端子にはランプ電源が
接続されている。ここでランプは白熱球に限らず
LED等の表示器であつても良い。 The outputs of the lamp drive circuits 5-1 to 5-n are connected to corresponding lamps 6-1 to 6-n, respectively, and the other terminal of each lamp is connected to a lamp power source. Here, lamps are not limited to incandescent bulbs.
It may be an indicator such as an LED.
第１図の回路は通常はランプ点灯指示線４−１
〜４−ｎにより点灯しており、ランプテスト時に
はランプテストスイツチの操作により全ランプが
点灯することがわかる。 The circuit shown in Figure 1 usually has a lamp lighting instruction line 4-1.
It can be seen that all the lamps are turned on by operating the lamp test switch during the lamp test.
次にランプテストスイツチの取扱い方について
述べる。 Next, we will discuss how to use the lamp test switch.
スイツチは前述のとおり３つのポジシヨンがあ
る。第１のポジシヨンは、例えばスイツチレバー
をその位置に倒すと接点１−１と１−２が接触し
ランプテストが実行できる。この位置ではレバー
を離すと自動的に接点１−１と１−２が開放され
る。通常のランプテストはこの位置を使う。第２
のポジシヨンはランプテストオフの位置とする。
第３のポジシヨンはスイツチレバーをこの位置に
すると接点１−１と１−３が接触しランプテスト
が実行される。ここで、第１のポジシヨンでのラ
ンプテスト実行と異るところは第３のポジシヨン
はオルタネートスイツチであり、一旦倒すとその
状態を保つところにある。すなわちレバーを倒す
ことによりランプテスト状態を継続することがで
きる。この状態によりランプ駆動回路の調整が容
易にできる。 As mentioned above, the switch has three positions. In the first position, for example, when the switch lever is moved to that position, contacts 1-1 and 1-2 come into contact and a lamp test can be performed. In this position, when the lever is released, contacts 1-1 and 1-2 are automatically opened. This position is used for normal lamp tests. Second
The position is the lamp test off position.
In the third position, when the switch lever is in this position, contacts 1-1 and 1-3 come into contact and a lamp test is executed. Here, the difference from executing the lamp test in the first position is that the third position is an alternate switch, and once it is turned down, it remains in that state. That is, the lamp test state can be continued by pushing down the lever. This state facilitates adjustment of the lamp drive circuit.
本考案には以上説明したようにランプテストス
イツチにモーメンタリおよびオルタネートの両機
能を持つことにより通常のランプテスト操作は勿
論ランプ駆動回路の調整を容易にできるという効
果がある。 As explained above, the present invention has the advantage that by providing the lamp test switch with both momentary and alternate functions, not only normal lamp test operations but also adjustment of the lamp drive circuit can be facilitated.
第１図は本考案の一実施例を示すブロツク回路
図である。
１……ランプテストスイツチ、２……フイル
タ、３……バツフア−ゲート、４−１〜４−ｎ…
…ランプ点灯指示線、５−１〜５−ｎ……ランプ
駆動回路、６−１〜６−ｎ……ランプ（発光体）。
FIG. 1 is a block circuit diagram showing one embodiment of the present invention. 1... Lamp test switch, 2... Filter, 3... Buffer gate, 4-1 to 4-n...
... Lamp lighting instruction line, 5-1 to 5-n... Lamp drive circuit, 6-1 to 6-n... Lamp (light emitter).
Claims (1)
イツチと、該スイツチにより強制的に動作するラ
ンプ駆動回路と、該ランプ駆動回路により点灯／
滅灯するランプとを含むことを特徴とするランプ
テスト回路。 A switch with a momentary function and an alternate function, a lamp drive circuit that is forcibly operated by the switch, and a lamp drive circuit that turns on/off by the lamp drive circuit.
A lamp test circuit comprising: a lamp that goes out;
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12635681U JPS5832472U (en) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | lamp test circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12635681U JPS5832472U (en) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | lamp test circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5832472U JPS5832472U (en) | 1983-03-03 |
| JPS6319812Y2 true JPS6319812Y2 (en) | 1988-06-02 |
Family
ID=29920148
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12635681U Granted JPS5832472U (en) | 1981-08-26 | 1981-08-26 | lamp test circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5832472U (en) |
-
1981
- 1981-08-26 JP JP12635681U patent/JPS5832472U/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5832472U (en) | 1983-03-03 |
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