JPS63177033A - Method and apparatus for measuring light emitting diode head - Google Patents
Method and apparatus for measuring light emitting diode headInfo
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野上
本発明は、電子写真プロセスを利用したプリンタにおけ
る光書き込みなどに用いられる発光ダイオードヘッドに
おいて各発光ダイオードアレイの発光光量を測定する発
光ダイオードヘッドの測定方法および測定装置に関する
。Detailed Description of the Invention [In the field of industrial application, the present invention relates to a light emitting diode head that measures the amount of light emitted from each light emitting diode array in a light emitting diode head used for optical writing in a printer using an electrophotographic process. This invention relates to a measuring method and a measuring device.
一般に、発光ダイオード(以下、L E Dと略称する
)ヘッドは、整列配置された多数のL E Dアレイと
これらのLEDアレイに対向配置されたしルフォックレ
ンズアレイ(以下SLAと略称す”る)とにより構成さ
れているが、このようなLEr)ヘッドをプリンタの光
青き込みに使用覆る場合、各L E Dアレイの発光光
量にばらつきがあると、この発光光量のばらつきがその
まま印字品質の劣化に結びつくため、各LEDアレイの
発光先出の測定を行なってLEDアレイの発光光量のば
らつきが基準範囲(通常±15%)以内にあるかどうか
を検出しなければならない。In general, a light emitting diode (hereinafter abbreviated as LED) head has a large number of LED arrays arranged in an array and a Rufoc lens array (hereinafter abbreviated as SLA) that is placed opposite to these LED arrays. ), but when such an LEr) head is used for printing light in a printer, if there is variation in the amount of light emitted from each LED array, this variation in the amount of light emitted directly affects the print quality. Since this leads to deterioration, it is necessary to measure the light emission of each LED array first to detect whether the variation in the amount of light emitted by the LED array is within a reference range (usually ±15%).
このため、従来から第3図および第4図に示すようなt
−F I)ヘッドの測定装置が用いられていた。For this reason, conventionally, t as shown in FIG. 3 and FIG.
-F I) Head measuring device was used.
この従来のL [+]ヘッドの測定装置は、第3図に示
りJ:うに、L E Dヘッド1のケーシング2の曲面
に横方向に延在するにうに配設されているSL△3に対
向する対物レンズ5を備えた測定ユニッ1〜4を有して
おり、この測定コニツ1−4には、ハーフミラ−6を介
して対物レンズ5の軸上に位置し対物レンズ5からの光
を受光するカメラ7と、ハーフミラ−6を介して対物レ
ンズ5からの光を受光する光パワーメータ8とが一体的
に設けられている。そして、この測定ユニット4は、パ
ルスステージ9によりX−Y・7の3方向に微小調節可
能に移動されるようになっている。また、このパルスス
テージ9の移動は第4図に示すホス]・コンピュータ1
0からの制御信号により行なわれるようになっている。This conventional L [+] head measuring device is shown in FIG. It has measurement units 1 to 4 each having an objective lens 5 facing to the measuring unit 1-4. A camera 7 that receives light from the objective lens 5 and an optical power meter 8 that receives light from the objective lens 5 via a half mirror 6 are integrally provided. The measurement unit 4 is moved by a pulse stage 9 in three directions, X-Y and 7, so as to be able to be finely adjusted. Moreover, the movement of this pulse stage 9 is as shown in FIG.
This is done using a control signal from 0.
このボス!・コンピュータ10は、前記LEDヘッド1
の各LEr)アレイを点滅さUるI−E D駆vノ回路
11と接続されており、このL E D駆動回路11が
LFDヘッド1と接続されて特定のLEDアレイを点滅
さけるようになっている。さらに、前記ホストコンピュ
ータ10には、前記光パワーメータ8からの測定信号(
データ)が入力されるようになっており、ホス1−コン
ピュータ10においてこのデータが記憶されろことにな
る。This boss! - The computer 10 has the LED head 1
The LED drive circuit 11 is connected to the LFD head 1 to avoid blinking a specific LED array. ing. Furthermore, the host computer 10 is provided with a measurement signal (
data) is to be input, and this data is to be stored in the host 1-computer 10.
前述した構成によりL E Dヘッド1の1. F I
)アレイの発光光ωのばらつぎを検出するには、まず、
l F Dヘッド1を図示しない支持台に固定し、つぎ
に、対物レンズ5を介してカメラ7に一端のLEDアレ
イの光が結像する位置にパルスステージ9により測定ユ
ニット4を移IJ ’する。イして、ホストコンピュー
タ10からの制御信号によりL ED駆vJ回路11を
介してカメラ7に光が結像され得るLEDアレイを点灯
さゼて、この発光光量をハーフミラ−6を介して光パワ
ーメータ8に到達Uしめ、この光パワーメータ8が発光
光ωを測定する。このようにしてひとつのLEDアレイ
の測定が終ったら、このLEr)を消灯した」−で対物
レンズ5が次位のL E Dアレイにλ1向り°るよう
にパルスステージ9により測定ユニツl−4を矢印方向
に移動させて前述したと同様の測定を行なう。1 of the LED head 1 with the above-described configuration. FI
) To detect the dispersion of the emitted light ω of the array, first,
l The FD head 1 is fixed to a support stand (not shown), and then the measurement unit 4 is moved by the pulse stage 9 to a position where the light from the LED array at one end forms an image on the camera 7 via the objective lens 5. . Then, the control signal from the host computer 10 lights up the LED array through which the light can be imaged on the camera 7 via the LED driving vJ circuit 11, and the amount of light emitted is converted into optical power through the half mirror 6. The light reaches the meter 8, and the optical power meter 8 measures the emitted light ω. When the measurement of one LED array was completed in this way, this LEr was turned off, and the pulse stage 9 was used to move the measurement unit l- so that the objective lens 5 was directed towards the next LED array by λ1. 4 in the direction of the arrow and perform the same measurements as described above.
しかしながら、前述した従来の発光ダイオードヘッドの
測定方法および測定装置においては、ひとつのL E
Dアレイの測定ごとに測定ユニット4を移動させて対物
レンズ5の位置決めをしなければならないため、測定時
間が良く掛り、例えば、2560個のLEDアレイを備
えたL E Dヘッド1の測定には約2時間もの時間を
要していた。したがって、LEDヘッド1を大m生産す
る場合に検査が追いつかないという問題点があった。However, in the conventional light emitting diode head measuring method and measuring device described above, only one L E
The measurement unit 4 must be moved to position the objective lens 5 each time the D array is measured, which takes a long time to measure. It took about two hours. Therefore, there is a problem in that the inspection cannot keep up when producing a large number of LED heads 1.
本発明は、このような従来のものにおける問題点を克服
し、短かい測定時間で数多くのLEDアレイの測定を行
なうことができる発光ダイオードヘッドの測定方法およ
び測定装置を゛提供1することを目的とする。An object of the present invention is to provide a method and apparatus for measuring a light emitting diode head that can overcome the problems of the conventional methods and measure a large number of LED arrays in a short measurement time. shall be.
本発明のLEDヘッドの測定方法は、整列配置された多
数のLEDアレイとこれらのLEDアレイに対向配置さ
れたSL八とにより構成された発光ダイオードヘッドの
各LEDアレイの発光光Φを測定するL E Dヘッド
の測定方法において、整列配置された多数の電荷結合素
子(以下、CCr)と略称覆る)を備えているCCDア
レイを各CCDが各I E r)アレイに対向するよう
に配置し、ホストコンビコータからのa、lI御信8に
より各1−FDを順次点滅し、この点灯時のLEDの光
を対応16CODが受光して光艶を測定し、この測定し
たデータを前記ホストコンピュータに入力して記憶する
ようにしたことを特徴としている。The method for measuring an LED head of the present invention is to measure the emitted light Φ of each LED array of a light emitting diode head, which is constituted by a large number of LED arrays arranged in a row and an SL eight arranged opposite to these LED arrays. In the method for measuring an ED head, a CCD array including a large number of charge-coupled devices (hereinafter abbreviated as CCr) arranged in an array is arranged so that each CCD faces each IEr) array, Each 1-FD is blinked in sequence according to the a and lI signals 8 from the host combination coater, and the corresponding 16 COD receives the light from the LED when lit, measures the gloss, and sends this measured data to the host computer. It is characterized by being able to be entered and memorized.
また、本発明のLEDヘッドの測定装置は、整列配置さ
れた多数のl E DアレイとこれらのIFDアレイに
対向配置されたS L Aとにより構成されたLEDヘ
ッドの各LEDアレイの発光光量を測定するLEDヘッ
ドの測定装置において、整列配置された多数のCODを
備えているCCDアレイを各CCDが各L E l’)
アレイに対向するように配置し、前記各L E I)ア
レイを点滅させるLEDアレイ駆初回路を前記LFDヘ
ッドに接続するとともに、前記各CODを先口測定可能
状態にするCCD駆動回路を前記CCDアレイに接続し
、前記CCD駆動回路に、各CODが測定したアナログ
データをデジタルデータに変換するアナログ−デジタル
変1!J忽(以下、A−D変換器と略称する)を接続し
、このA−D′!I換器および前記CCD駆動回路に、
CCD駆動回路に制御信号を出力するとともにA−D変
換器からのデータを記憶するホストコンピュータを接続
したことを特徴としている。Furthermore, the LED head measuring device of the present invention measures the amount of light emitted from each LED array of an LED head, which is composed of a large number of LED arrays arranged in a row and SLAs arranged opposite to these IFD arrays. In the measuring device for the LED head to be measured, each CCD has a CCD array having a large number of CODs arranged in an array.
An LED array driving circuit arranged to face the array and for blinking each of the arrays is connected to the LFD head, and a CCD driving circuit for making each COD ready for first measurement is connected to the CCD. An analog-to-digital converter 1 connected to the array and connected to the CCD drive circuit to convert analog data measured by each COD into digital data! A-D'! I converter and the CCD drive circuit,
The device is characterized in that it is connected to a host computer that outputs control signals to the CCD drive circuit and stores data from the AD converter.
本発明の発光ダイオードヘッドの測定方法および測定装
置によれば、LEDヘッドにCCDアレイを対向させて
i E Dヘッドの各1− E Dアレイの発光光かの
測定を行なうので、各LEDアレイごとに測定m器を移
動、位お決めする手間が掛らず、短かい測定時間で1個
のL E Dヘッドの全LEDアレイの測定を行なうこ
とができる。According to the method and apparatus for measuring a light emitting diode head of the present invention, since the CCD array is placed opposite to the LED head and the emitted light of each 1-ED array of the iED head is measured, the emitted light is measured for each LED array. It is possible to measure the entire LED array of one LED head in a short measurement time without having to take the trouble of moving and determining the position of the measurement device.
以下、本発明を図面に示す実施例により説明する。なお
、前述した従来のものと同一の構成については、図面中
に同一の符号をイ1し、イの説明は省略する。The present invention will be explained below with reference to embodiments shown in the drawings. Note that the same configurations as those of the conventional device described above are designated by the same reference numerals 1 and 1 in the drawings, and the explanation of 1 is omitted.
第1図おにび第2図は本発明に係る発光ダイオードヘッ
ドの測定装置の実施例を承りものであり、このうら第1
図に示1ように、L [Dヘッド1の前方には、所定間
隔をもってCCDアレイ12が配設されている。このC
CDアレイ12には、1−EDヘッド1の各り、 E
Dアレイに対向するようにL E Dアレイと同数のC
ODが配設されており、前述したLEDヘッド1および
CCDアレイ12聞の間隔は、L E Dアレイから5
LA3を介して照射された光が対応するCODにおいて
結像し1りるように、L E Dヘッド1およびCCD
アレイ12間に挟持された図示しないスベーりなどにに
り設定されている。Figures 1 and 2 show examples of the measuring device for light emitting diode heads according to the present invention;
As shown in FIG. 1, a CCD array 12 is disposed in front of the L[D head 1 at a predetermined interval. This C
The CD array 12 includes 1-ED heads 1, E
The same number of C arrays as the L E D arrays are placed opposite the D arrays.
The distance between the LED head 1 and the CCD array 12 described above is 5 from the LED array.
The LED head 1 and the CCD are arranged so that the light irradiated through the LA 3 forms an image on the corresponding COD.
It is set on a substrate (not shown) sandwiched between the arrays 12.
11h記1− E Dヘッド1の各IEDアレイは、第
2図に示すように、LEr)ヘッド1に11i続された
IED駆動回路11により点滅されるようになっており
、またCCDアレイ12 G、t CCD駆動回路13
と接続され、点灯した特定のLEDアレイに対応するC
CDを光?測定状態にするようになっている。また、前
記COD駆動回路13はA−D変換器14と接続されて
おり、CODが測定したLEr)アレイの発光光分のア
ナログデータをデジタルデータに変J*−!J°るよう
になっている。さらに、前記Δ−り変換器14はホスト
コンピュータ10ど接続されており、A−r)変換器1
4が出力したデータをホストコンピュータ10が記憶覆
るようになっている。また、このホストコンピュータ1
0は前記LFD駆動回路11と接続されており、前記[
[I)ヘッド1の1)定のLEDアレイを点滅させるよ
うになっている。As shown in FIG. , t CCD drive circuit 13
C corresponding to the specific LED array connected to and illuminated.
Light a CD? It is designed to be in measurement state. The COD drive circuit 13 is also connected to an A-D converter 14, which converts the analog data of the light emitted from the LEr) array measured by the COD into digital data. It's starting to look like J°. Further, the Δ-r converter 14 is connected to a host computer 10, etc., and the A-r) converter 1
The host computer 10 stores and overwrites the data outputted by the computer 4. Also, this host computer 1
0 is connected to the LFD drive circuit 11, and the [
[I) 1) A certain LED array of the head 1 is made to blink.
ところで、CCr)アレイ12の各CCOには受光感度
にばらつきのあることがあるが、受光感度にばらつきの
あるCODを備えたCCDアレイ12でそのまましEl
)ヘッド1の各LEDアレイの発光光度を測定すると測
定データが不正確になる。そこで、まず、各LEDアレ
イの発光光固が既知となっているLEDヘッド1の各1
− E Dアレイの発光光量をCCDアレイ12の各C
CDにより測定し、この測定データと各・LEDアレイ
の実際の発光光品とに誤差がある場合には、11−スト
コンピュータ10にCODの受光感度のばらつきのデー
タを入力してホストコンピュータ10により測定データ
を補正し得るようにし、あらかじめ測定データがCOD
の受光感度の影響を受けないようにしておく。By the way, each CCO of the CCr) array 12 may have variations in light receiving sensitivity, but if the CCD array 12 is equipped with CODs with varying light receiving sensitivities, then the El
) If the luminous intensity of each LED array of the head 1 is measured, the measurement data will be inaccurate. Therefore, first, each one of the LED heads 1 whose light emitting light intensity of each LED array is known is
- The amount of light emitted from the ED array is determined by each C of the CCD array 12.
If there is an error between the measured data and the actual light emitting product of each LED array when measured using a CD, the data on the variation in light receiving sensitivity of the COD is input to the 11-st computer 10 and the host computer 10 reads the data. Make it possible to correct the measurement data, and make sure that the measurement data is COD in advance.
Make sure that it is not affected by the light-receiving sensitivity of
つぎに、前述した構成により本発明の測定方法について
説明する。Next, the measuring method of the present invention will be explained using the above-described configuration.
まず、図示しない支持台に固定されているり、 EDヘ
ッド1の前方に、前述したJこうに各1− E Dアレ
イからS L A 3を介して照射された光が対応する
CODに結像されるような間隔をしってCCI)アレイ
12を配設し、ホストコンピュータ10からの制御信号
によりLED駆動回路11によりLEOヘッド1の一端
のLE[)アレイを魚灯し、このとき、このLEDアレ
イに対応ツるCCDは、同じり/I〜ストコンピュータ
10からΔ−り変換器14を介する制御信号により受光
可能状態とされており、このCCDによりLEDアレイ
の発光光41を測定する。そして、この測定データはC
OD駆動回路13からアナログデータとして△−D変換
器14に入力され、ここでデジタル変操されてホストコ
ンピュータ10に入力され、このホスト]ンピ1−91
0において記憶される。First, the ED head 1 is fixed to a support stand (not shown) or in front of the ED head 1, and the light irradiated from each ED array described above through the SLA 3 is imaged onto the corresponding COD. The CCI) array 12 is arranged at intervals such that the LED drive circuit 11 lights the LE[) array at one end of the LEO head 1 according to a control signal from the host computer 10. The CCD corresponding to the array is enabled to receive light by a control signal sent from the Δ/I to ST computer 10 via the Δ-reverse converter 14, and the CCD measures the light emitted from the LED array. And this measurement data is C
The data is input from the OD drive circuit 13 to the Δ-D converter 14 as analog data, where it is digitally transformed and input to the host computer 10.
Stored at 0.
このようにしてひとつのL E Dアレイの発光光帛の
測定が終了したら、ホストコンピュータ10からの指令
信V3によりこのL E Dアレイは消灯されて、代り
に次位のIFDアレイが点灯され、前述したと同様の1
稈により測定が行なわれ、この工程を繰返してひとつの
L E Dヘッド1に設置プられている2560個のL
EDアレイの測定を行なうことができる。When the measurement of the light emitted from one LED array is completed in this way, this LED array is turned off in response to a command signal V3 from the host computer 10, and the next IFD array is turned on instead. Same as above 1
Measurements are made using the culm, and this process is repeated to measure the 2560 L E D heads installed in one L E D head 1.
Measurements of the ED array can be made.
前)ホした実施例によれば、L E Dヘッド1の各L
E Dアレイに対応するCODを備えたCCDアレイ
12をLEDヘッド1に対向設置してL E Dアレイ
の発光光fi1の測定を行なうので、前述した従来のも
ののようにひとつのLEDアレイの測定ごとに測定コニ
ット4(第4図)を移動して位置決めするという手間が
掛らず、したがって高速測定を達成することができる。According to the embodiment described above, each L of the L E D head 1
Since the CCD array 12 equipped with a COD corresponding to the ED array is installed opposite to the LED head 1 and the emitted light fi1 of the LED array is measured, unlike the conventional method described above, each measurement of one LED array is performed. This eliminates the trouble of moving and positioning the measurement unit 4 (FIG. 4), and therefore high-speed measurement can be achieved.
なお、本発明は、前述した実施例に限定されるものでは
なく、必要に応じて種々の変更が可能である。Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, and various changes can be made as necessary.
以」−説明したように本発明によれば、知かい測定時間
で数多くのLEDアレイの測定を行なうができ、LED
ヘッドを大部生産する際の検査に好適である。As described above, according to the present invention, it is possible to measure a large number of LED arrays in a short measurement time, and
Suitable for inspection when producing heads in large quantities.
第1図および第2図は本発明に係る発光ダrオードヘッ
ドの測定装rの実施例を示すものであり、第゛1図は機
械的構成の斜視図、第2図は制御回路図、第3図ajよ
び第4図は従来の発光ダイオードヘッドの測定装置を示
すものであり、第3図は機械的構成の斜視図、第4図は
制御回路図である。
1・・・L E Oヘッド、2・・・ゲージング、3・
・・S l−Δ、4・・・測定ユニツ1−15・・・対
物レンズ、6・・・ハ−フミラー、7・・・カメラ、8
・・・光パワーメータ、9・・・パルスステージ、10
・・・ホス1−]ンビュータ、11・・・l F D駆
動回路、12・・・CCDアレイ、13・・・CCD駆
動回路、14・・・A−D変換器。
出願人代理人 中 尾 俊 輔第1vA
第2図1 and 2 show an embodiment of a measuring device for a light emitting diode head according to the present invention, in which FIG. 1 is a perspective view of the mechanical configuration, FIG. 2 is a control circuit diagram, 3aj and 4 show a conventional measuring device for a light emitting diode head, FIG. 3 is a perspective view of the mechanical configuration, and FIG. 4 is a control circuit diagram. 1... L E O head, 2... Gauging, 3...
...S l-Δ, 4...Measurement unit 1-15...Objective lens, 6...Half mirror, 7...Camera, 8
...Optical power meter, 9...Pulse stage, 10
. . . host 1-] monitor, 11 . . . FD drive circuit, 12 . . . CCD array, 13 . Applicant's agent Shunsuke Nakao No. 1vA Figure 2
Claims (1)
らの発光ダイオードアレイに対向配置されたセルフォッ
クレンズアレイとにより構成された発光ダイオードヘッ
ドの各発光ダイオードアレイの発光光量を測定する発光
ダイオードヘッドの測定方法において、整列配置された
多数の電荷結合素子を備えている電荷結合素子アレイを
各電荷結合素子が各発光ダイオードアレイに対向するよ
うに配置し、ホストコンピュータからの制御信号により
各発光ダイオードを順次点滅し、この点灯時の発光ダイ
オードの光を対応する電荷結合素子が受光して光量を測
定し、この測定したデータを前記ホストコンピュータに
入力して記憶するようにしたことを特徴とする発光ダイ
オードヘッドの測定方法。 2)前記電荷結合素子が測定したデータはアナログデー
タとされており、このアナログデータはアナログ−デジ
タル変換器を介して前記ホストコンピュータに入力され
るようになっている特許請求の範囲第1項記載の発光ダ
イオードヘッドの測定方法。 3)前記ホストコンピュータは、各電荷結合素子の感度
補正を行ない得るようになっている特許請求の範囲第1
項または第2項記載の発光ダイオードヘッドの測定方法
。 4)整列配置された多数の発光ダイオードアレイとこれ
らの発光ダイオードアレイに対向配置されたセルフォッ
クレンズアレイとにより構成された発光ダイオードヘッ
ドの各発光ダイオードアレイの発光光量を測定する発光
ダイオードヘッドの測定装置において、整列配置された
多数の電荷結合素子を備えている電荷結合素子アレイを
各電荷結合素子が各発光ダイオードアレイに対向するよ
うに配置し、前記各発光ダイオードアレイを点滅させる
発光ダイオード駆動回路を前記発光ダイオードヘッドに
接続するとともに、前記各電荷結合素子を光量測定可能
状態にする電荷結合素子駆動回路を前記電荷結合素子ア
レイに接続し、前記電荷結合素子駆動回路に、各電荷結
合素子が測定したアナログデータをデジタルデータに変
換するアナログ−デジタル変換器を接続し、このアナロ
グ−デジタル変換器および前記電荷結合素子駆動回路に
、電荷結合素子駆動回路に制御信号を出力するとともに
アナログ−デジタル変換器からのデータを記憶するホス
トコンピュータを接続したことを特徴とする発光ダイオ
ードヘッドの測定装置。 5)前記ホストコンピュータは、各電荷結合素子の感度
補正を行ない得るようになっている特許請求の範囲第4
項記載の発光ダイオードヘッドの測定装置。[Claims] 1) Measuring the amount of light emitted from each light emitting diode array of a light emitting diode head composed of a large number of light emitting diode arrays arranged in an array and a SELFOC lens array arranged opposite to these light emitting diode arrays. In a method for measuring a light-emitting diode head, a charge-coupled device array including a large number of charge-coupled devices arranged in an array is arranged such that each charge-coupled device faces each light-emitting diode array, and control signals from a host computer are provided. The light emitting diodes are sequentially turned on and off, and the light from the light emitting diodes when lit is received by the corresponding charge-coupled device to measure the amount of light, and the measured data is input to the host computer and stored. A method for measuring a light emitting diode head characterized by: 2) The data measured by the charge-coupled device is analog data, and the analog data is input to the host computer via an analog-to-digital converter. How to measure light emitting diode head. 3) The host computer is adapted to perform sensitivity correction of each charge-coupled device.
The method for measuring a light emitting diode head according to item 1 or 2. 4) Measurement of the light emitting diode head, which measures the amount of light emitted from each light emitting diode array of the light emitting diode head, which is composed of a large number of light emitting diode arrays arranged in a row and a SELFOC lens array arranged opposite to these light emitting diode arrays. A light-emitting diode drive circuit in which a charge-coupled device array including a large number of charge-coupled devices arranged in an array is arranged such that each charge-coupled device faces each light-emitting diode array, and the light-emitting diode drive circuit blinks each light-emitting diode array. is connected to the light-emitting diode head, and a charge-coupled device drive circuit is connected to the charge-coupled device array to enable each charge-coupled device to measure the amount of light. An analog-to-digital converter that converts measured analog data to digital data is connected, and a control signal is output to the charge-coupled device drive circuit and the analog-to-digital conversion is performed to the analog-to-digital converter and the charge-coupled device drive circuit. A measuring device for a light emitting diode head, characterized in that it is connected to a host computer that stores data from the device. 5) The host computer is adapted to perform sensitivity correction of each charge-coupled device.
A measuring device for a light emitting diode head as described in Section 1.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP827387A JPS63177033A (en) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | Method and apparatus for measuring light emitting diode head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP827387A JPS63177033A (en) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | Method and apparatus for measuring light emitting diode head |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63177033A true JPS63177033A (en) | 1988-07-21 |
Family
ID=11688563
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP827387A Pending JPS63177033A (en) | 1987-01-19 | 1987-01-19 | Method and apparatus for measuring light emitting diode head |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63177033A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007209680A (en) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Hitachi Medical Corp | Inspection device of biomedical optical measurement apparatus |
JP2010091341A (en) * | 2008-10-06 | 2010-04-22 | Micronics Japan Co Ltd | Device for testing led |
-
1987
- 1987-01-19 JP JP827387A patent/JPS63177033A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2007209680A (en) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Hitachi Medical Corp | Inspection device of biomedical optical measurement apparatus |
JP2010091341A (en) * | 2008-10-06 | 2010-04-22 | Micronics Japan Co Ltd | Device for testing led |
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