JPS63173206A - Integral detecting circuit - Google Patents

Integral detecting circuit

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JPS63173206A
JPS63173206A JP416887A JP416887A JPS63173206A JP S63173206 A JPS63173206 A JP S63173206A JP 416887 A JP416887 A JP 416887A JP 416887 A JP416887 A JP 416887A JP S63173206 A JPS63173206 A JP S63173206A
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JP
Japan
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transistors
transistor
current
differential
output
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JP416887A
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Japanese (ja)
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Katsumi Yamaoka
山岡 克美
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Sony Corp
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Sony Corp
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Abstract

PURPOSE:To constitute the titled circuit so that is is scarcely influenced b6y a variation of a power source, and strong against the same phase noise, and to make it unnecessary to provide a bypass capacitor of a large capacity, by adopting a circuit constitution of a differential type. CONSTITUTION:Input signals supplied to the first and the second transistors 11, 12 through input terminals 1, 2 are differentiated by a capacitor 3 for differentiating a current, and become collector output currents of each transistor 11, 12. Simultaneously, in each emitter of both the transistors 11, 12 voltages of the input signals are obtained as they are, each input signal voltage is integrated by an integrating circuit 4, and thereafter, supplied to a differential amplifier consisting of transistors 14, 13 through the respective buffers of transistors 16, 15 and an output is added to each collector current of the second and the first transistors 12, 11. In such a way, a current which has synthesized a differential current, and an inverted current flows through each load resistance 17, 18 of the transistors 11, 12, by which output voltage are fetched from each output terminal 7, 8, respectively.

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 本発明は、磁気ディスク等の記録媒体に記録された信号
を再生してデータを検出するための積分検出回路に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A. Field of Industrial Application The present invention relates to an integral detection circuit for detecting data by reproducing signals recorded on a recording medium such as a magnetic disk.

B0発明の概要 本発明は、記録媒体からの再生信号等を微積分処理して
その位相を略々90”ずらせることによりデータ信号を
検出するための積分検出回路において、入力信号が供給
される第1、第2のトランジスタの各エミッタ間に接続
されたコンデンサにより入力信号を電流微分し、これら
の第1、第2のトランジスタの各エミッタ電圧を積分回
路で積分し、差動増幅回路で反転するとともに電流に変
換し、この積分電流出力と上記微分電流出力とを加算し
て取り出すことにより、電源変動の影響を受は難く、同
相雑音に強く、簡単な回路構成で、良好な積分特性を得
るものである。
B0 Summary of the Invention The present invention provides an integral detection circuit for detecting a data signal by differentially and integrally processing a reproduced signal etc. from a recording medium and shifting its phase by approximately 90''. 1. The input signal is current differentiated by a capacitor connected between the emitters of the second transistor, the emitter voltages of these first and second transistors are integrated by an integrating circuit, and inverted by a differential amplifier circuit. By converting the integrated current output and the above-mentioned differential current output into a current and taking it out, good integration characteristics can be obtained with a simple circuit configuration that is less susceptible to power supply fluctuations and is resistant to common mode noise. It is something.

C9従来の技術 −iに、フロッピィ・ディスクやビデオテープレコーダ
、ディジタル・テープレコーダ等において、再生信号か
らデータを検出する際には、信号の位相を略η90°ず
らずことがa−要とされる。
C9 Conventional technology-i, when detecting data from a reproduced signal in a floppy disk, video tape recorder, digital tape recorder, etc., it is essential that the phase of the signal be shifted by approximately η90°. Ru.

これは、第2図Aに示すような再生信号において、「1
」、「0」の情報の変化点は信号波形のピーク点、例え
ば点1)+ % pz等に対応するわけであるが、この
ピーク点検出は一般に面倒であるため、この波形を第2
図Bのように変換して上記情報の変化点に対応するピー
ク点1)+ s piを所謂ゼロクロス点にもって行く
ことが必要とされるからである。この第2図Bのような
信号波形に変換することにより、後は所謂ゼロクロス・
コンパレータ等を用いて本来のデータ信号を容易に得る
ことができる。
This means that in the reproduced signal as shown in Figure 2A, "1
”, “0” information change point corresponds to the peak point of the signal waveform, for example, point 1) + % pz, etc. However, since detecting this peak point is generally troublesome, this waveform is
This is because it is necessary to transform the peak point 1)+s pi corresponding to the change point of the information as shown in FIG. B to bring it to the so-called zero cross point. By converting the signal waveform to the one shown in Figure 2B, the so-called zero cross
The original data signal can be easily obtained using a comparator or the like.

このように信号位相を略々90°ずらずための検出回路
には、従来より微分形のものも多く用いられているが、
周波数特性が低域側で劣化すること等より、微分と積分
とを併用した所謂積分方式の検出回路も使用されている
。この積分方式の検出回路は、上記再生信号等の入力信
号を微分したものと積分して反転したものとを適当な比
率で合成することによりて目的の出力信号を得るように
しており、その−例を第3図に示す。
In this way, differential type detection circuits have often been used to shift the signal phase by approximately 90 degrees.
Since the frequency characteristics deteriorate in the low frequency range, so-called integral type detection circuits that use both differentiation and integration are also used. This integral-type detection circuit obtains a target output signal by combining the differentiated input signal, such as the reproduced signal, and the integrated and inverted signal at an appropriate ratio. An example is shown in FIG.

この第3図に示す積分検出回路において、入力端子31
に入力された上記再生信号等の入力信号は、エミッタフ
ォロア・トランジスタ32を介して微分用のコンデンサ
33に供給されることにより、このコンデンサ33に上
記入力信号を微分した電流信号が流れる。また、トラン
ジスタ32のエミッタ出力は抵抗34R及びコンデンサ
34Cより成る積分回路34により積分され、トランジ
スタ35で反転増幅されて電流出力となる。この反転さ
れた積分出力電流と上記微分電流との加算合成電流は、
ベース接地構成のトランジスタ36の負荷抵抗37を流
れることにより電圧に変換され、出力トランジスタ38
を介して出力端子39より取り出される。
In the integral detection circuit shown in FIG.
An input signal such as the above-mentioned reproduced signal inputted to is supplied to a differentiating capacitor 33 via an emitter-follower transistor 32, so that a current signal obtained by differentiating the above-mentioned input signal flows through the capacitor 33. Further, the emitter output of the transistor 32 is integrated by an integrating circuit 34 consisting of a resistor 34R and a capacitor 34C, and is inverted and amplified by a transistor 35 to become a current output. The combined current of this inverted integral output current and the differential current is:
The output transistor 38 is converted into a voltage by flowing through the load resistor 37 of the transistor 36 having a common base configuration.
It is taken out from the output terminal 39 via.

D0発明が解決しようとする問題点 ところで、この第3図に示すような従来の積分検出回路
においては、ベース接地トランジスタ36の負荷抵抗3
7の出力電圧は電源電圧Vccを基準として決定される
ため、電源変動の影響を受は易いのみならず、所謂シン
グル・エンド構成のため、同相雑音がそのまま増幅され
て出力され、同相雑音信号に対して弱いという欠点があ
る。また、比較的に低い周波数領域までの信号を取り扱
うために、大容量のバイパス・コンデンサ41.42等
を必要とし、集積回路化に適当でなく、コストアップの
原因となるのみならず、電源投入後若しくはスタンバイ
状態からの復帰時等に動作が定常状態になるまでの時間
が長くかかるという欠点が生ずる。さらに、積分した信
号を反転増幅する増幅器(トランジスタ35)の入力イ
ンピーダンスが低いことより、積分回路34のインピー
ダンスも低くしなければならず、この場合積分をなるべ
く理想的にするために、コンデンサ34Cに比較的に大
容量で精度の高いものを必要とする。  。
D0 Problems to be Solved by the Invention Incidentally, in the conventional integral detection circuit as shown in FIG. 3, the load resistance 3 of the common base transistor 36
Since the output voltage of 7 is determined based on the power supply voltage Vcc, it is not only easily affected by power supply fluctuations, but also because of the so-called single-ended configuration, the common-mode noise is amplified and output as is, and the common-mode noise signal is It has the disadvantage of being weak against In addition, in order to handle signals up to a relatively low frequency range, large-capacity bypass capacitors 41, 42, etc. are required, which is not suitable for integrated circuits, increases costs, and A drawback arises in that it takes a long time for the operation to reach a steady state after returning from a standby state or the like. Furthermore, since the input impedance of the amplifier (transistor 35) that inverts and amplifies the integrated signal is low, the impedance of the integrating circuit 34 must also be low, and in this case, in order to make the integration as ideal as possible, the capacitor 34C is Requires something with relatively large capacity and high precision. .

本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり
、上述の欠点を除去し、電源変動の影響を受は難く、同
相雑音に対して強く、大容量のバイパス・コンデンサを
必要とすることなく低い周波数領域の信号を取り扱うこ
とができ、電源投入後等の定常動作になるまでの待時間
を短くでき、集積回路化に適した構成の積分検出回路の
提供を目的とする。
The present invention has been made in view of these circumstances, and eliminates the above-mentioned drawbacks, is less susceptible to power fluctuations, is resistant to common mode noise, and requires a large-capacity bypass capacitor. It is an object of the present invention to provide an integral detection circuit which can handle signals in a low frequency range without any interference, can shorten the waiting time until steady operation after power-on, etc., and has a configuration suitable for integration into an integrated circuit.

E0問題点を解決するための手段 本発明に係る積分検出回路は、上述の問題点を解決する
ために、一対の非反転、反転入力端子にそれぞれベース
が接続された第1、第2のトランジスタと、これらの第
1、第2のトランジスタの各エミッタ間に挿入接続され
た微分用コンデンサと、上記各第1、第2のトランジス
タの各エミッタにそれぞれコレクタが接続された第3、
第4のトランジスタより成るトランジスタ差動対と、上
記各第1、第2のトランジスタの各エミッタ電圧をそれ
ぞれ積分して上記トランジスタ差動対の第4、第3のト
ランジスタの各ベースにそれぞれ供給する積分回路とを
備え、上記微分用コンデンサを流れる微分電流と、上記
トランジスタ差動対がらの積分電流とを加算して上記第
1、第2のトランジスタの少なくとも一方のコレクタが
ら出力を取り出すことを特徴としている。
Means for Solving the E0 Problem In order to solve the above-mentioned problem, the integral detection circuit according to the present invention includes first and second transistors whose bases are respectively connected to a pair of non-inverting and inverting input terminals. , a differential capacitor inserted and connected between the emitters of the first and second transistors, and a third transistor whose collectors are connected to the emitters of the first and second transistors, respectively.
A transistor differential pair consisting of a fourth transistor, and the respective emitter voltages of the first and second transistors are integrated and supplied to the bases of the fourth and third transistors of the transistor differential pair, respectively. an integrating circuit, the differential current flowing through the differentiation capacitor and the integrated current of the differential pair of transistors are added together, and an output is taken out from the collector of at least one of the first and second transistors. It is said that

F1作用 差動型の回路構成を採用していることより、電源変動の
影響を受は難く、同相雑音に対して強く、大容量のバイ
パス・コンデンサを必要とすることなく低い周波数領域
の信号を取り扱うことができ、電源投入後等の定常動作
になるまでの待時間を短くできる。
By adopting an F1 action differential type circuit configuration, it is less affected by power supply fluctuations, is resistant to common mode noise, and can handle signals in the low frequency range without the need for large-capacity bypass capacitors. It is possible to shorten the waiting time for normal operation after turning on the power.

G、実施例 第1図は本発明の一実施例となる積分検出回路を示す回
路図である。
G. Embodiment FIG. 1 is a circuit diagram showing an integral detection circuit according to an embodiment of the present invention.

この第1図において、例えば磁気ディスクや磁気テープ
からの再生信号等は、非反転入力端子1と反転入力端子
2との間に供給されており、これらの一対の非反転、反
転入力端子1.2には、それぞれ第1、第2のトランジ
スタ11.12の各ベースが接続されている。これらの
第1、第2のトランジスタ11.12の各エミッタ間に
は、微分用コンデンサ3が挿入接続されており、上記入
力信号はこのコンデンサ3によって微分され、各トラン
ジスタ11.12のコレクタ出力電流となって取り出さ
れる。また、第1、第2のトランジスタ11.12の各
エミッタには、第3、第4のトランジスタ13.14の
各コレクタが接続されており、これらの第3、第4のト
ランジスタ13.14は、各エミッタがそれぞれ電流源
を介して接地され、これらのエミッタ間に抵抗5が挿入
接続されることによって、所謂差動増幅器構成を有して
いる。さらに、第1、第2のトランジスタ11.12の
各エミッタ電圧をそれぞれ積分して上記トランジスタ差
動対の第4、第3のトランジスタ13.14の各ベース
にそれぞれ供給する積分回路4が設けられている。この
積分回路4は、第1のトランジスタ11のエミッタに一
端が接続された第1の抵抗4aと、第2のトランジスタ
12のエミッタに一端が接続された第2の抵抗4bと、
これらの抵抗4a、4bの各他端間に挿入接続されたコ
ンデンサ(積分容り4Cとから成り、第1の抵抗4aの
上記他端からの出力をバッファ用トランジスタ16を介
して上記第4のトランジスタ14のベースに供給し、第
2の抵抗4bの上記他端からの出力をバッファ用トラン
ジスタ15を介して上記第3のトランジスタ13のベー
スに供給するように構成している。
In FIG. 1, a reproduced signal from a magnetic disk or magnetic tape, for example, is supplied between a non-inverting input terminal 1 and an inverting input terminal 2, and these pair of non-inverting and inverting input terminals 1. 2 are connected to the bases of the first and second transistors 11 and 12, respectively. A differentiation capacitor 3 is inserted and connected between the emitters of these first and second transistors 11.12, and the input signal is differentiated by this capacitor 3, and the collector output current of each transistor 11.12 is It is taken out. Furthermore, the emitters of the first and second transistors 11.12 are connected to the collectors of the third and fourth transistors 13.14. , each emitter is grounded via a current source, and a resistor 5 is inserted and connected between these emitters, thereby forming a so-called differential amplifier configuration. Furthermore, an integrating circuit 4 is provided which integrates each emitter voltage of the first and second transistors 11.12 and supplies the integrated voltages to the respective bases of the fourth and third transistors 13.14 of the transistor differential pair. ing. This integrating circuit 4 includes a first resistor 4a having one end connected to the emitter of the first transistor 11, a second resistor 4b having one end connected to the emitter of the second transistor 12,
A capacitor (consisting of an integrating capacitor 4C) inserted and connected between the other ends of these resistors 4a and 4b connects the output from the other end of the first resistor 4a to the fourth transistor through the buffer transistor 16. The configuration is such that the output from the other end of the second resistor 4b is supplied to the base of the third transistor 13 via the buffer transistor 15.

バッファ用のトランジスタ15.16の各エミッタはそ
れぞれ電流源に接続され、各コレクタは電源Vccに接
続されている。また、上記第1、第2のトランジスタ1
1.12の各コレクタは、それぞれ負荷抵抗17.18
を介して電fiVccに接続されており、トランジスタ
11のコレクタ出力端子7より反転出力が、トランジス
タ12のコレクタ出力端子8より非反転出力がそれぞれ
取り出されるようになっている。
Each emitter of the buffer transistors 15 and 16 is connected to a current source, and each collector is connected to a power supply Vcc. Further, the first and second transistors 1
Each collector of 1.12 has a load resistance of 17.18
The inverted output is taken out from the collector output terminal 7 of the transistor 11, and the non-inverted output is taken out from the collector output terminal 8 of the transistor 12.

このような積分検出回路において、入力端子1.2を介
して第1、第2のトランジスタ11.12に供給された
上記入力信号は、上記電流微分用のコンデンサ3によっ
て微分され、各トランジスタ11.12のコレクタ出力
電流となる。同時に、両トランジスタ11.12の各エ
ミッタには上記入力信号の電圧がそのまま得られ、各入
力信号電圧を上記積分回路4で積分した後に、トランジ
スタ16.15のバッファをそれぞれ介してトランジス
タ14.13より成る差動増幅器に供給し、その出力を
上記第2、第1のトランジスタ12.11の各コレクタ
電流に加算している。このように、微分電流と、反転さ
れた積分電流とを合成した電流が、トランジスタ11.
12の各負荷抵抗17.18を流れることにより、各出
力端子7.8よりそれぞれ出力電圧が取り出される。
In such an integral detection circuit, the input signal supplied to the first and second transistors 11.12 via the input terminal 1.2 is differentiated by the current differentiation capacitor 3, and the input signal is differentiated by the current differentiation capacitor 3. The collector output current is 12. At the same time, the voltage of the input signal is obtained as it is at each emitter of both transistors 11.12, and after each input signal voltage is integrated by the integration circuit 4, it is passed through the buffer of transistor 16.15 to transistor 14.13. The output of the differential amplifier is added to the respective collector currents of the second and first transistors 12 and 11. In this way, a current that is a combination of the differential current and the inverted integral current is generated by the transistor 11.
By flowing through each of the 12 load resistors 17.18, an output voltage is taken out from each output terminal 7.8.

ここで、バッファ用のトランジスタ15.16は、上記
第3、第4のトランジスタ13.14のコレクターベー
ス間電圧VCIを確保するためのレベル・シックとして
の機能も有するものである。
Here, the buffer transistors 15 and 16 also have a level thick function for securing the collector-base voltage VCI of the third and fourth transistors 13 and 14.

なお、第1図において、上記第3、第4のトランジスタ
13.14の各エミッタ間に挿入接続された抵抗5は、
抵抗値を変化できる可変抵抗であり、この抵抗値を調整
することにより上記微分信号に対する積分信号の加算量
を調整するようになっている。また、第1図においては
所謂直流バイアス系の構成を省略しているが、この第1
図の回路は直流的には3段ダーリントン接続の差動増幅
回路であり、従来と同様な直流バイアス系回路構成を用
い得るものである。
In addition, in FIG. 1, the resistor 5 inserted and connected between the emitters of the third and fourth transistors 13 and 14 is as follows.
It is a variable resistor whose resistance value can be changed, and by adjusting this resistance value, the amount of addition of the integral signal to the differential signal is adjusted. Furthermore, although the configuration of the so-called DC bias system is omitted in FIG.
The circuit shown in the figure is a three-stage Darlington-connected differential amplifier circuit in terms of direct current, and can use the same conventional direct current bias system circuit configuration.

このような積分検出回路によれば、先ず全体が差動型の
回路構成であるため、電源変動の影響を受は難く、同相
雑音に対して強くなっている。また、大容量のバイパス
・コンデンサの必要性が無くなり、IC化に好適である
と共に、電源投入後若しくはスタンバイ状態からの復帰
時等に動作が定常状態になるまでの待時間が短くて済む
、さらに、積分容量の容量値を小さくしても理想に近い
積分特性を得ることができる。
Since such an integral detection circuit has a differential circuit configuration as a whole, it is less susceptible to power supply fluctuations and is resistant to common mode noise. In addition, it eliminates the need for large-capacity bypass capacitors, making it suitable for IC implementation, and requires less waiting time until the operation returns to a steady state after turning on the power or returning from standby mode. , even if the capacitance value of the integral capacitor is reduced, it is possible to obtain an integral characteristic close to the ideal.

なお本発明は、上記実施例のみに限定されるものではな
く、例えばバッファ用トランジスタ15.16は原理的
には無(ともよく、また、これらのトランジスタ15.
16の代わりにレベル・シフト用のダイオードをそれぞ
れ用いるようにしてもよい、この場合、各レベル・シフ
ト用ダイオードのアノードを積分回路4側に、カソード
を各トランジスタ13.14のベース側にそれぞれ接続
すればよい、この他、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の変更が可能である。
Note that the present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, and for example, the buffer transistors 15 and 16 may not be provided in principle (or may be replaced by these transistors 15 and 16).
Level shifting diodes may be used instead of 16. In this case, the anode of each level shifting diode is connected to the integrating circuit 4 side, and the cathode is connected to the base side of each transistor 13 and 14. In addition, various changes can be made without departing from the gist of the present invention.

H1発明の効果 本発明の積分検出回路によれば、電源変動の影響を受は
難くなり、同相雑音信号に対して強くなるとともに、大
容量のバイパス・コンデンサを必要としなくなって、電
源投入後若しくはスタンバイ状態からの復帰時に動作が
定常状態になるまでの待時間が短(なる、また、積分用
コンデンサの容量を小さくしても理想的な積分特性を得
ることができ、集積回路化(IC化)に好適であり、I
C化することによって外付は部品点数及び占有面積を削
減することができる。
H1 Effects of the Invention According to the integral detection circuit of the present invention, it is less susceptible to power supply fluctuations, is strong against common-mode noise signals, and eliminates the need for large-capacity bypass capacitors. The waiting time until the operation returns to a steady state when returning from standby mode is short (it becomes possible), and even if the capacity of the integrating capacitor is reduced, ideal integral characteristics can be obtained, making it easier to integrate circuits (ICs). ), suitable for I
By using C, the number of external parts and the area occupied can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例となる積分検出回路を示す回
路図、第2図は再生信号等の検出動作を説明するための
タイムチャート、第3図は積分検出回路の従来例を示す
回路図である。 l・・・非反転入力端子 2・・・反転入力端子 3・・・微分用コンデンサ 4・・・積分回路 4a、4b・・・積分用抵抗 4C・・・積分用コンデンサ 5・・・積分加算ffi!J!整用抵抗7・・・反転出
力端子 8・・・非反転出力端子 11・・・第1のトランジスタ 12・・・第2のトランジスタ 13・・・第3のトランジスタ 14・・・第4のトランジスタ 15.16・・・バッファ用トランジスタ17.18・
・・負荷抵抗
Fig. 1 is a circuit diagram showing an integral detection circuit according to an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a time chart for explaining the detection operation of a reproduced signal, etc., and Fig. 3 shows a conventional example of an integral detection circuit. It is a circuit diagram. l... Non-inverting input terminal 2... Inverting input terminal 3... Differential capacitor 4... Integrating circuit 4a, 4b... Integrating resistor 4C... Integrating capacitor 5... Integral addition ffi! J! Adjustment resistor 7...Inverting output terminal 8...Non-inverting output terminal 11...First transistor 12...Second transistor 13...Third transistor 14...Fourth transistor 15.16... Buffer transistor 17.18.
··Load resistance

Claims (1)

【特許請求の範囲】 一対の非反転、反転入力端子にそれぞれベースが接続さ
れた第1、第2のトランジスタと、これらの第1、第2
のトランジスタの各エミッタ間に挿入接続された微分用
コンデンサと、上記各第1、第2のトランジスタの各エ
ミッタにそれぞれコレクタが接続された第3、第4のト
ランジスタより成るトランジスタ差動対と、上記各第1
、第2のトランジスタの各エミッタ電圧をそれぞれ積分
して上記トランジスタ差動対の第4、第3のトランジス
タの各ベースにそれぞれ供給する積分回路とを備え、 上記微分用コンデンサを流れる微分電流と、上記トラン
ジスタ差動対からの積分電流とを加算して上記第1、第
2のトランジスタの少なくとも一方のコレクタから出力
を取り出すことを特徴とする積分検出回路。
[Claims] First and second transistors whose bases are respectively connected to a pair of non-inverting and inverting input terminals;
a differential capacitor inserted and connected between the emitters of the transistors, and a third and fourth transistor whose collectors are connected to the emitters of the first and second transistors, respectively; Each of the above 1st
, an integrating circuit that integrates each emitter voltage of the second transistor and supplies each of the emitter voltages of the second transistor to the bases of the fourth and third transistors of the transistor differential pair, a differential current flowing through the differential capacitor, An integral detection circuit characterized in that the integrated current from the differential pair of transistors is added together and an output is taken out from the collector of at least one of the first and second transistors.
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