JPS63165858A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[M架上の利用分野]
この発明は、帯電特性、暗減衰特性、ff、感度特性及
び耐環境性等が優れた電子写真感光体く関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Application of M Rack] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, dark decay characteristics, ff, sensitivity characteristics, environmental resistance, and the like.
[従来の技術]
水素(H)を含有するア七ルファスシリコン(以下、a
−Sl :Hと略す)は、近年、光電変換材料として
注目されており、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体とし
て応用されている。[Prior art] Hydrogen (H)-containing analymphous silicon (hereinafter referred to as a)
-Sl:H) has recently attracted attention as a photoelectric conversion material, and has been applied not only to solar cells, thin film transistors, and image sensors, but also as photoreceptors in electrophotographic processes.
従来、1[、子写真感元体の元導電層金構成する材料と
して、CdS 、 ZnO、Ss 、若しくは5e−T
o等の無機材料又はポ+7−N−ビニルカルバソー ル
(pvcz ) 若しくはトリニトロフルオレノン(T
NF )等の有機材料が使用されていた。しかしながら
、 a−81:Hにこれらの無機材料又は有機材料に比
して、無公害物質であるため回収処理の必要がないこと
、可視光領域で高い分光感度を有すること、並びに表面
硬度が高く耐磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の
利点t−有している。このため、a−81:Hは電子写
真プロセスの感光体として注目されている。Conventionally, CdS, ZnO, Ss, or 5e-T was used as the material constituting the original conductive layer of the secondary photographic element.
or inorganic materials such as poly-7-N-vinylcarbasol (pvcz) or trinitrofluorenone (T
Organic materials such as NF) were used. However, compared to these inorganic or organic materials, a-81:H does not require recovery treatment because it is a non-polluting substance, has high spectral sensitivity in the visible light region, and has a high surface hardness. It has advantages such as excellent abrasion resistance and impact resistance. For this reason, a-81:H is attracting attention as a photoreceptor for electrophotographic processes.
このa−81:Hは、カールソン方式に基づく感光体と
して検討が進められているが、この場合、感光体特性と
して抵抗及び光感度が高いことが要求される。しかしな
がら、この両特性を単一の感光体で満足させることが困
難であるため、光導電層と導電性支持体との間に障壁層
を設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層を設けた積層
型の構造にすることにより、このような要求を満足させ
ている。This a-81:H is being studied as a photoreceptor based on the Carlson method, but in this case, the photoreceptor is required to have high resistance and photosensitivity. However, it is difficult to satisfy both of these characteristics with a single photoreceptor, so a barrier layer is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a surface charge retention layer is provided on the photoconductive layer. These requirements are met by creating a multilayer structure.
[発明が解決しようとする問題点コ
ところで、 a−8l:Hは、通常、シラン系ガスを使
用したグロー放電分解法により形成されるが、この際に
、a”81H腹中に水素が取シ込1れ、水素量の差によ
シミ気的及び光字的特性が大きく変動する。即ち、 a
−81:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学的
バンドギャップが大きくなシ、a−81:Hの抵抗が高
くなるが、それにともない、長波長光に対する光感度が
低下してしまうので、例えば、半導体レーデを搭載した
レーデビームプリンクに使用することが困難である。ま
た、*−81:H膜中の水素の含有量が多くなると、成
膜条件によって、(5IH2)及び5IH2等の結合構
造を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合があ
る。[Problems to be Solved by the Invention] By the way, a-8l:H is usually formed by a glow discharge decomposition method using a silane gas, but at this time, hydrogen is removed in the a”81H abdomen. The atmospheric and optical characteristics of the stain vary greatly depending on the difference in the amount of hydrogen.
As the amount of hydrogen that enters the -81:H film increases, the optical bandgap becomes larger and the resistance of a-81:H increases, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light decreases. Therefore, it is difficult to use it, for example, in a radar beam link equipped with a semiconductor radar. Furthermore, when the hydrogen content in the *-81:H film increases, hydrogen having bond structures such as (5IH2) and 5IH2 may occupy most of the area in the film, depending on the film forming conditions.
そうすると、がイドが増加し、シリコンダングリングゲ
/ドが増加するため、光導電特性が劣化し、電子写真感
光体として使用不能になる。逆に、a−81:H中に取
込まれる水素の量が低下すると、光学的バンドギャップ
が小さくなシ、その抵抗が小さくなるが、長波長光に対
する光感度が増加する。しかし、水素含有量が少ないと
、シリコンダングリングゲンドと結合してこれを減少さ
せるべき水素が少なくなる。このため、発生するキャリ
アの移動度が低下し、寿命が短くなると共に、光導電特
性が劣化してしまい、電子写真感光体として使用し難い
ものとなる。In this case, the number of pores and silicon dangling gates increases, which deteriorates the photoconductive properties and makes the material unusable as an electrophotographic photoreceptor. Conversely, as the amount of hydrogen incorporated into a-81:H decreases, the optical bandgap becomes smaller and its resistance decreases, but the photosensitivity to longer wavelength light increases. However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to combine with and reduce the silicon dangling glands. For this reason, the mobility of the generated carriers is reduced, the life span is shortened, and the photoconductive properties are deteriorated, making it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.
このように、電子写、真感光体の光導電層を単一のa−
81:H層のみで構成したのでは、 a−81:H層の
製造条件によって特性が大きく変化し、望ましい特性が
得られないという問題がある。In this way, the photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor can be formed into a single a-
If the structure is made up of only the 81:H layer, there is a problem that the characteristics change greatly depending on the manufacturing conditions of the a-81:H layer, and desired characteristics cannot be obtained.
この発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであって
、帯電能が優れておシ、残留電位が似く、近赤外領域ま
での広い波長領域に亘って感度が高く、基板との密着性
が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を提供するこ
とを目的とする。This invention was made in view of the above circumstances, and has excellent charging ability, similar residual potential, high sensitivity over a wide wavelength range up to the near infrared region, and excellent adhesion to the substrate. The purpose of the present invention is to provide an electrophotographic photoreceptor having good properties and excellent environmental resistance.
[発明の構成コ
(問題点t″屏決るための手段)
本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の光導電層を電荷保持層と電荷発生層とにより構成し、
そのうち電荷発生層上、所定の複数の微結晶シリコン膜
の積層即ち超格子構造により構成し、電荷保持層を所定
の非晶質シリコン膜と微結晶シリコン膜との積層即ち超
格子構造によシ構成することによシ、上記目的を達成し
得ることを見出し、本発明を完成するに至った。[Structure of the Invention (Means for Determining Problem t'') As a result of various studies, the present inventors have discovered that the photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor is composed of a charge retention layer and a charge generation layer,
Among them, the charge generation layer is formed by laminating a plurality of predetermined microcrystalline silicon films, that is, has a superlattice structure, and the charge retention layer is formed by laminating a predetermined amorphous silicon film and a microcrystalline silicon film, that is, having a superlattice structure. The present inventors have discovered that the above object can be achieved by configuring the present invention, and have completed the present invention.
即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体と光導
電層とt−有する電子写真感光体において、前記光導電
層は電荷発生層と電荷保持層とを有し、前記電荷発生層
の少なくとも1部は、炭素、酸素および窒素から選ばれ
た元素の少なくとも1flllを含み、かつ結晶度が異
なる複数の微結晶シリコンS全交互に積層して構成され
ており、前記電荷保持層の少なくとも1部は、炭素、酸
素および窒素から選ばれた元素の少なく2も1種を含む
非晶質シリコン膜と微結晶シリコン膜とを交互に積層し
て構成されていることを特徴とする。微結晶シリコン膜
間の結晶度の相違は、5〜30%が好1しく、10〜2
0%がよシ好ましい。That is, the electrophotographic photoreceptor of the present invention is an electrophotographic photoreceptor having a conductive support and a photoconductive layer, wherein the photoconductive layer has a charge generation layer and a charge retention layer, and the charge generation layer At least a part of the charge retention layer is composed of a plurality of microcrystalline silicon S containing at least 1 flll of an element selected from carbon, oxygen, and nitrogen, and having different crystallinity, all of which are alternately stacked, and at least a part of the charge retention layer The first part is characterized by being configured by alternately laminating amorphous silicon films and microcrystalline silicon films containing at least two or more elements selected from carbon, oxygen, and nitrogen. The difference in crystallinity between microcrystalline silicon films is preferably 5 to 30%, and 10 to 2%.
0% is highly preferable.
本発明において用いる微結晶シリコン(μC−81ンは
、粒径が数十オンゲストロムの微結晶化したシリコンと
非晶質シリコンとの混合層によ多形成されてhるものと
考えられ、以下のような物性上の特徴を有している。第
一に、X線回折測定では20が28〜28.5°付近に
ある結晶回折パターンを示し、ハローのみが現れる無定
形のa−81から明確に区別される。第二に、μc−8
iの暗抵+に
抗を10”Ω・m以上(調整することができ、暗抵抗が
100・1の4リクリスタリンシリコンからも明確に区
別される。The microcrystalline silicon (μC-81) used in the present invention is thought to be formed in a mixed layer of microcrystalline silicon and amorphous silicon with a grain size of several tens of Angstroms, It has the following physical properties.First, X-ray diffraction measurements show a crystal diffraction pattern in which 20 is around 28 to 28.5 degrees, and it is an amorphous a-81 with only a halo. It is clearly distinguished from μc-8.
The resistance to the dark resistance of i can be adjusted to 10''Ω·m or more, and it can be clearly distinguished from 4-licrystalline silicon, which has a dark resistance of 100·1.
本発明で用いる上記μc−8iの光学的パントイ+ 2
7’ (Eg” )は、例えば1.55 eV トf
h (D カ望ましい。しかし、一定の範囲で任意に設
定することができる。望ILrEg’を得るため夫々に
所要量の水素を添加し、μc −Si :Hとして使用
するのが好ましい、これにより、シリコンのダングリン
グぎyドが補償され、暗抵抗と明抵抗との調和がとれ、
元導電特性が向上する。Optical pantoy + 2 of the μc-8i used in the present invention
7'(Eg") is, for example, 1.55 eV
h (D is desirable. However, it can be set arbitrarily within a certain range. In order to obtain the desired ILrEg', it is preferable to add the required amount of hydrogen to each and use it as μc-Si:H. , the dangling bonds of silicon are compensated, and the dark resistance and bright resistance are balanced.
Original conductive properties are improved.
なお、実際のμc−8l膜は、製造条件等の具体的な要
因によって弱いP型またはN型を帯びることが多い(特
にN型になシ易い〕。そこで、超格子構造を形成するた
めに必要なエルとするために。Note that the actual μC-8L film often takes on a weak P-type or N-type depending on specific factors such as manufacturing conditions (it is particularly susceptible to becoming N-type).Therefore, in order to form a superlattice structure, To make it necessary El.
夫々逆の導電型を有する不純物を軽くドーグして前記の
P型またはN型を打消すのが望ましい。It is desirable to lightly dope impurities having opposite conductivity types to cancel out the P type or N type.
(作用)
本発明の電子写真感光体では、光導電層に前記超格子構
造が設けられているため、この領域では発生したキャリ
アの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につい
ては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子構
造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる量子効果
であることは疑いがなく、これは特に超格子効果といわ
れる。(Function) In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, since the photoconductive layer is provided with the superlattice structure, carriers generated in this region have a long life and a high mobility. Although the theory has not yet been fully established, there is no doubt that this is a quantum effect due to the periodic well potential characteristic of the superlattice structure, and this is particularly referred to as the superlattice effect.
こうして光導電層でのキャリアの移動度が大きくなシ、
またキャリアの寿命が長くなることによって電子写真感
光体の感度は著しく向上することになる。In this way, the mobility of carriers in the photoconductive layer is large.
Furthermore, the sensitivity of the electrophotographic photoreceptor is significantly improved due to the longer life of the carrier.
(実施例)
第1図は、本発明の一実施例に係る電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体l
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。(Example) FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional structure of an electrophotographic photoreceptor according to an example of the present invention. In the same figure, a conductive support l
A barrier layer 2 is formed thereon, and a photoconductive layer 3 consisting of a charge retention layer 5 and a charge generation layer 6 is formed thereon.
また、電荷発生層6の上に表面層4が形成されてhる。Further, the surface layer 4 is formed on the charge generation layer 6.
なお、電荷保持層5および電荷発生層6はいずれも超格
子構造を有している。Note that both the charge retention layer 5 and the charge generation layer 6 have a superlattice structure.
第2図〜篤4図は、本発明の他の実施例に係る電子写真
感光体の断面構造を示す、第2図に示す感光体では、電
荷発生層の一部が超格子構造を有し、第3図に示す感光
体では、電荷保持層の一部が超格子構造を有し、第4図
に示す感光体では、電荷発生層および電荷保持層のそれ
ぞれ一部が超格子構造を有している。2 to 4 show cross-sectional structures of electrophotographic photoreceptors according to other embodiments of the present invention. In the photoreceptor shown in FIG. 2, a part of the charge generation layer has a superlattice structure. In the photoconductor shown in FIG. 3, a part of the charge retention layer has a superlattice structure, and in the photoconductor shown in FIG. 4, a part of each of the charge generation layer and the charge retention layer has a superlattice structure. are doing.
以下、fg1図に示す電子写真感光体の構成について、
よシ詳細に説明する。Below, regarding the structure of the electrophotographic photoreceptor shown in Fig. fg1,
I will explain in detail.
導電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。The conductive support 1 usually consists of a drum made of aluminum.
障壁層2はμC−81やa−81:Ht−用いて形成し
てもよく、またa−BN:H(窒素および水素を添加し
たアモルファス硼素)を使用してもよい。更に、絶縁性
の膜を用いてもよい。例えば、μc−8t:H及びa−
81:Hに炭素C1窒素N及び酸素Oから選択された元
素の1mm上上含有させることによシ、高抵抗の絶縁性
障壁層を形成することができる。障壁層2の膜厚は10
0X〜10μmが好ましい。The barrier layer 2 may be formed using μC-81 or a-81:Ht-, or may be formed using a-BN:H (amorphous boron to which nitrogen and hydrogen are added). Furthermore, an insulating film may be used. For example, μc-8t:H and a-
A high-resistance insulating barrier layer can be formed by containing 1 mm or more of an element selected from carbon C1 nitrogen N and oxygen O in 81:H. The thickness of barrier layer 2 is 10
0x to 10 μm is preferred.
上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することにより感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従うて、半導体層を障壁層に用いてカー
ルソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電さ
せた電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2を
P型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電させ
る場合には障壁層2t−P型とし、表面電荷を中和する
電子が電荷発生層に注入されるのを防止する。The barrier layer 2 is formed in order to suppress the flow of charges between the conductive support 1 and the charge generation layer 5, thereby increasing the charge retention function of the surface of the photoreceptor and increasing the charging ability of the photoreceptor. It is something. Therefore, when a Carlson type photoreceptor is constructed using a semiconductor layer as a barrier layer, the barrier layer 2 is made to be P type or N type in order not to reduce the ability to retain charges charged on the surface. That is, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier layer 2t-P type is used to prevent electrons that neutralize the surface charge from being injected into the charge generation layer.
逆に表面に負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁層2から注入されるキャリアFi光の
入射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイ
ズとなるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止
することは感度の向上をもたらす。なお、μc −81
:H+a −8i :HをP型にするためには、周期律
表の第■族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウム
AL、、fリウムGa 、インジウムIn 、及びタリ
ウムTt等をドーピングすることが好ましい。また、μ
c−81:Hやa−8t:Ht−N型にするためには周
期律表の第V族に属する元素、例えば窒素、燐P、砒素
A1、アンチモンSb、及び゛ビスマスB1等をドーピ
ングすることが好ましい。On the other hand, when the surface is negatively charged, the barrier layer 2 is of N type,
This prevents holes that neutralize surface charges from being injected into the charge generation layer. Since carriers generated in the charge generation layer 6 due to the incidence of the carrier Fi light injected from the barrier layer 2 become noise, preventing carrier injection as described above improves the sensitivity. In addition, μc −81
:H+a-8i: In order to make H the P type, it is possible to dope it with elements belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B, aluminum AL, fium Ga, indium In, and thallium Tt. preferable. Also, μ
In order to make c-81:H or a-8t:Ht-N type, elements belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen, phosphorus P, arsenic A1, antimony Sb, and bismuth B1, are doped. It is preferable.
電荷発生層6は、光の入射によりキャリアを発生し、こ
のキャリアは、一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷保持層5内を走行して導
電性支持体1に到達する。The charge generation layer 6 generates carriers when light is incident thereon, and carriers of one polarity neutralize the charges on the surface of the photoreceptor, and the other carriers travel within the charge retention layer 5 and become conductive. The sexual support 1 is reached.
電荷保持層5および電荷発生層6は、第5図にその断面
を拡大して示すように、μa−81又は1−8lからな
る薄層11と薄層12とを交互に積層して構成されてい
る。薄層11.12は、光学的バンドギャップが相違し
、それぞれ厚みが30〜200Xの範囲にある。The charge retention layer 5 and the charge generation layer 6 are constructed by alternately laminating thin layers 11 and 12 made of μa-81 or 1-8L, as shown in the enlarged cross section of FIG. ing. The thin layers 11.12 have different optical bandgaps and each have a thickness in the range 30-200X.
第6図は横軸に厚み方向をとシ、縦軸に光学的バンドギ
ャップをとって示す超格子構造のエネルーバンド図であ
る。このように、光学的バンドギャップが相互に異なる
薄層を積層することによって、光学的バンドギャップの
大きさ自体に拘シなく、光学的バンドギャップが小さい
層を基準にして光学的バンドギャップが大きな層がバリ
アとなる周期的なポテンシャルバリアを有する超格子構
造が形成される。この超格子構造においては、バリア薄
層が極めて薄りので、薄層におけるキャリアのトンネル
効果によシ、キャリアはバリアを通過して超格子構造中
を走行する。また、このような超格子構造においては、
元の入射によシ発生するキャリアの数が多り、従って1
光感度が高い。FIG. 6 is an energy band diagram of a superlattice structure in which the horizontal axis represents the thickness direction and the vertical axis represents the optical band gap. In this way, by stacking thin layers with mutually different optical bandgaps, the optical bandgap can be made larger based on the layer with the smaller optical bandgap, regardless of the size of the optical bandgap itself. A superlattice structure with periodic potential barriers is formed in which the layers act as barriers. In this superlattice structure, since the barrier thin layer is extremely thin, carriers pass through the barrier and travel through the superlattice structure due to carrier tunneling in the thin layer. In addition, in such a superlattice structure,
The number of carriers generated by the original injection is large, so 1
High light sensitivity.
なお、超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚を変更
することにより、ヘテロ接合超格子構造を有する層のみ
かけのバンドギャップを自由に調整することができる。Note that by changing the bandgap and layer thickness of the thin layer of the superlattice structure, the apparent bandgap of the layer having the heterojunction superlattice structure can be freely adjusted.
電荷保持層5および電荷発生層6t−構成するa−fl
it:uおよびμc −81:Hにおける水素の含有量
は、0.01〜30原子優が好筐しく、1〜25原子優
がより好ましい。このような水素の含有量により、シリ
コンのダングリングゲンドが補償され、暗抵抗と明抵抗
とが調和のとれたものとなり、光導電特性が向上する。Charge retention layer 5 and charge generation layer 6t - a-fl constituting
The hydrogen content in it:u and μc-81:H is preferably 0.01 to 30 atoms, more preferably 1 to 25 atoms. Such a hydrogen content compensates for silicon dangling, brings the dark resistance and bright resistance into balance, and improves the photoconductive properties.
a−81:H!flをグロー放電分解法により成膜する
には、原料として81)14及び812M5等のシラン
類ガスを反応室に導入し、高周波によりグロー放電する
ことによシ薄層中にHl−添加することができる。必要
に応じて、シラン類のキャリアガスとして水素又はヘリ
ウムをガスを使用することができる。一方、 SiF4
ガス及びgict4ガス等のハロゲン化ケイ素を原料ガ
スとして使用することができる。また、シラン類ガスと
ハロゲン化ケイ素ガスとの混合ガスで反応させても、同
様にHi金含有る*−81:Ht−成膜することができ
る。なお、グロー放電分解法によらず、例えば、スパッ
タリング等の物理的な方法によってもこれ等の薄膜を形
成することができる。a-81:H! To form a film of fl by the glow discharge decomposition method, silane gases such as 81) 14 and 812M5 are introduced into the reaction chamber as raw materials, and Hl- is added into the thin layer by glow discharge using high frequency. I can do it. If necessary, hydrogen or helium gas can be used as a carrier gas for the silanes. On the other hand, SiF4
Silicon halides such as gas and gict4 gas can be used as the source gas. Furthermore, by reacting with a mixed gas of a silane gas and a silicon halide gas, a *-81:Ht- film containing Hi gold can be similarly formed. Note that these thin films can be formed not only by the glow discharge decomposition method but also by a physical method such as sputtering.
μc −81層も、a−81:Hと同様に、高周波グロ
ー放電分解法によシ、シランガスtM科として、成膜す
ることができる。この場合に、支持体の温度をa−81
:Ht−形成する場合よりも高く設定し、高周波電力も
a ” 81 :Hの場合よりも高く設定すると、μc
−81:Hl−形成しやすくなる。また、支持体温度及
び高周波電力を高くすることにより、シランガスなどの
原料ガスの流量を増大させることができ、その結果、成
膜速度を早くすることができる。また、原料ガスの81
H4及びSi2H6等の高次のシランガスを水素で希釈
したガスを使用することにより、μc−81:Hを一層
高効率で形成することができる。Similarly to a-81:H, the μc-81 layer can also be formed as a silane gas tM film by the high-frequency glow discharge decomposition method. In this case, the temperature of the support is set to a-81
:Ht-formation, and the high frequency power is also set higher than that of a 81 :H, μc
-81: Hl- becomes easier to form. Furthermore, by increasing the support temperature and high frequency power, the flow rate of source gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, 81 of the raw material gas
By using a gas obtained by diluting a high-order silane gas such as H4 and Si2H6 with hydrogen, μc-81:H can be formed with higher efficiency.
μc−81:H及びa −St :HをP型にするため
には、周期律表の第1族に属する元素、例えば、ホウ素
B、アルミニウムAL、ガリウムQa 、インジウムI
n 、及びタリウムTt等をドーピングすることが好ま
しく、fie −Si :H及びa −81:Hをn型
にするためには、周期律表の第■族に属する元素、例え
ば、窒素N、す/P、ヒ素AM、アンチモンSb、及び
ビスマスB1等をドーピングすることが好ましい。この
p型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支持体
側から光導電層へ電荷が移動することが防止される。一
方、μc −81:H及びa −Sl:Hに、炭素C1
窒素N及び酸素0から選択された少なくとも1種の元素
を含有させることにより、高抵抗とし、表面電荷保持能
力を増大させることができる。これら元素の含有量は5
〜40原子チ、好ましく、は10〜30原子−である。μc-81:H and a-St: In order to make H the P type, elements belonging to Group 1 of the periodic table, such as boron B, aluminum AL, gallium Qa, indium I
It is preferable to dope with n, thallium Tt, etc., and in order to make fie-Si:H and a-81:H n-type, doping with elements belonging to group Ⅰ of the periodic table, such as nitrogen N, It is preferable to dope with /P, arsenic AM, antimony Sb, bismuth B1, etc. This doping with p-type impurities or n-type impurities prevents charges from moving from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, in μc -81:H and a -Sl:H, carbon C1
By containing at least one element selected from nitrogen (N) and oxygen (0), high resistance can be achieved and the surface charge retention ability can be increased. The content of these elements is 5
~40 atoms, preferably 10-30 atoms.
電荷発生層6の上に表面層4が設けられている。A surface layer 4 is provided on the charge generation layer 6.
電荷発生層60μe−81:H等は、その屈折率が3乃
至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層又は電荷
発生層に吸収される光量の割合いが低下し、光損失が大
きくなる。このため、表面層4を設けて反射全防止する
ことが好ましい。また、表面層4を設けることにより、
電荷発生層6が損傷から保護される。さらに、表面層を
形成することにより、帯電能が向上し、表面に電荷がよ
くのるようになる。表面、!11t−形成する材料とし
ては。Since the charge generation layer 60μe-81:H and the like has a relatively large refractive index of 3 to 3.4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer or the charge generation layer decreases, resulting in increased light loss. For this reason, it is preferable to provide the surface layer 4 to completely prevent reflection. Moreover, by providing the surface layer 4,
Charge generation layer 6 is protected from damage. Furthermore, by forming the surface layer, the charging ability is improved, and the charge can be easily deposited on the surface. surface,! 11t- As a material for forming.
a −SIN:H、a −810:H、及びa −SI
C:H等の無機化合物並びにポリ塩化ビニル及びポリア
ミド等の有機材料がある。a-SIN:H, a-810:H, and a-SI
There are inorganic compounds such as C:H and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.
このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電によシ約500vの正電圧で帯電させると、第7図
に示すように、ポテンシャルバリアが形成される。この
感光体に元(hν)が入射すると、電荷発生層6の超格
子構造で電子と正孔のキャリアが発生する。この伝4帯
の電子は、感光体中の電界により、表面層49mに向け
て加速され、正孔は導電性支持体1 (illに向けて
加速される。この場合に、光学的バンドギャップが相違
する薄層の境界で発生するキャリアの数は、バルクで発
生するキャリアの数よりも極めて多い。このため、この
超格子構造においては、光感度が高い、また、ポテンシ
ャルの井戸層にお、いては、量子効果のために、超格子
構造でない単一層の場合に比して、キャリアの寿命が5
乃至10倍と長い。更に、超格子構造においては、パン
ドイヤツデの不連続性により、周期的なバリア層が形成
されるが、キャリアはトンネル効果で容易にバイアス層
會通シ抜けるので、キャリアの実効移動度はバルクにお
ける移動度と同等であり、キャリアの走行性が優れてい
る。When the surface of the electrophotographic photoreceptor constructed in this way is charged with a positive voltage of about 500 V by corona discharge, a potential barrier is formed as shown in FIG. When the element (hv) is incident on this photoreceptor, carriers of electrons and holes are generated in the superlattice structure of the charge generation layer 6. The electrons in the electron band 4 are accelerated toward the surface layer 49m by the electric field in the photoreceptor, and the holes are accelerated toward the conductive support 1 (ill). The number of carriers generated at the boundaries between different thin layers is much larger than the number of carriers generated in the bulk.Therefore, in this superlattice structure, there is a high photosensitivity and potential well layer. In this case, due to quantum effects, the carrier lifetime is 5 times shorter than in the case of a single layer without a superlattice structure.
It is 10 to 10 times longer. Furthermore, in a superlattice structure, a periodic barrier layer is formed due to the discontinuity of the Pandora, but carriers easily pass through the bias layer due to the tunnel effect, so the effective mobility of carriers is The carrier has excellent runnability.
電荷保持層5の場合も同様に、ポテンシャル井戸層にお
いては、量子効果のために、超格子構造でない巣一層の
場合に比して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。Similarly, in the case of the charge retention layer 5, due to quantum effects, the lifetime of carriers in the potential well layer is 5 to 10 times longer than in the case of a single layer without a superlattice structure.
また、超格子構造においては、バンドギャップの、不連
続性により、周期的なバリア層が形成されるが、キャリ
アはトンネル効果で容易にバイアス層を通り抜仕るので
、キャリアの実効移動度はバルクにおける移動度と同等
であり、キャリアの走行性が優れている。以上のごとく
、光学的バンドギャップが相違する薄層を積層した超格
子構造によれば、高光導電特性を得ることができ、従来
の感光体よりも鮮明な画像を得ることができる。In addition, in a superlattice structure, a periodic barrier layer is formed due to the discontinuity of the band gap, but carriers easily pass through the bias layer due to the tunnel effect, so the effective mobility of carriers is The mobility is equivalent to that in bulk, and carrier mobility is excellent. As described above, the superlattice structure in which thin layers with different optical band gaps are laminated can provide high photoconductivity and provide clearer images than conventional photoreceptors.
以下に第6図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法を説
明する。同図において、ガス?ンペ21,22m23.
24には、例えば夫々S i H4aB2H6a B2
− CH4等の原料ガスが収容されている。これらガス
ゴンペ内のガスは、流量調整用の)々ルグ26及び配管
27を介して混合器28に供給されるようになっている
。各ゲンベには圧力計25が設置されており、該圧力計
25t−監視しつつパルプ26t−調整することにより
混合器28に供給する各M科ガスの流量及び混合比を調
節できる。混合器28にて混合されたガスは反応容器2
9に供給される。反応容器29の底部31には、回転軸
30が鉛直方向の回シに回転可能に取付けられている。Referring to FIG. 6, an apparatus and a manufacturing method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the above embodiment by a glow discharge method will be described below. In the same figure, gas? Npe 21,22m23.
24, for example, S i H4aB2H6a B2
- Contains raw material gas such as CH4. The gas in these gas gompes is supplied to a mixer 28 via a pipe 27 and a pipe 26 for adjusting the flow rate. A pressure gauge 25 is installed in each gas, and by monitoring the pressure gauge 25t and adjusting the pulp 26t, the flow rate and mixing ratio of each M gas to be supplied to the mixer 28 can be adjusted. The gas mixed in the mixer 28 is transferred to the reaction container 2
9. A rotating shaft 30 is attached to the bottom 31 of the reaction vessel 29 so as to be rotatable in a vertical direction.
該回転軸30の上端に、円板状の支持合32がその面を
回転軸30に垂直にして固定されている。反応容器29
内には、円筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の
軸中心と一致させて底部3ノ上に設置されている。感光
体のドラム基体34が支持台32上にその軸中心を回転
軸30の軸中心と一致させて載置されており、このドラ
ム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が
配設されている。電極33とドラム基体34との間には
高周波電@36が接続されており、電極33およびドラ
ム基体34間に高周波電流が供給されるようになってい
る0回転軸30はモータ38によシ回転駆動される1反
応容器29内の圧力は圧力計37によシ監視され、反応
容器29はダートパルプ38f介して真空ポンプ等の適
宜の排気手段に連結されている。。A disk-shaped support 32 is fixed to the upper end of the rotating shaft 30 with its surface perpendicular to the rotating shaft 30. Reaction container 29
Inside, a cylindrical electrode 33 is installed on the bottom part 3 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 30. A drum base 34 of a photoreceptor is placed on a support base 32 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 30, and a heater 35 for heating the drum base is disposed inside the drum base 34. has been done. A high-frequency electric current @36 is connected between the electrode 33 and the drum base 34, and the zero-rotation shaft 30, through which high-frequency current is supplied between the electrode 33 and the drum base 34, is driven by a motor 38. The pressure within one reaction vessel 29 that is driven to rotate is monitored by a pressure gauge 37, and the reaction vessel 29 is connected to a suitable evacuation means such as a vacuum pump via a dirt pulp 38f. .
上記製造装置により感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34f:設置した後、ダートパル
プ39を開にして反応容器29内を約0、1 Torr
の圧力以下に排気する0次いで、?ンペ21,22.2
3.24から所要の反応ガスを所定の混合比で混合して
反応容器29内に導入する。この場合に、反応容器29
内に導入するガス流量は反応容器29内の圧力が0.1
乃至1. OTorrになるように設定する0次いで、
モータ38t−作動させてドラム基体34t−回転させ
、ヒータ35によシトラム基体34t−一定温度に加熱
すると共に、高周波電@36によシミ極33とドラム基
体34との間に高周波電流を供給して1両者間にグロー
放電を形成する。これにより、ドラム基体34上にa
−81:Hが堆積する。なお、原料ガス中K N、O,
NH,lN02sN2@CH4,C2H410□ガス等
を使用することによシ、これらの元累をa−8l :H
中に含有させることができる。When manufacturing a photoreceptor using the above-mentioned manufacturing apparatus, after installing the drum base 34f in the reaction container 29, the dirt pulp 39 is opened and the inside of the reaction container 29 is heated to about 0.1 Torr.
0 then evacuate below the pressure of ? Empe 21, 22.2
From 3.24 onwards, required reaction gases are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 29. In this case, the reaction vessel 29
The gas flow rate introduced into the reaction vessel 29 is such that the pressure inside the reaction vessel 29 is 0.1.
~1. Set it to OTorr 0 then
The motor 38t is activated to rotate the drum base 34t, the heater 35 heats the citrus base 34t to a constant temperature, and the high frequency electric current is supplied between the stain electrode 33 and the drum base 34 using a high frequency electric current @36. A glow discharge is formed between the two. As a result, a
-81: H is deposited. In addition, K N, O,
By using NH, lN02sN2@CH4, C2H410□ gas, etc., these elements can be converted into a-8l :H
It can be contained inside.
このように、この発明に係る電子写真感光体は、クロー
ズドシステムの製造装置で製造することができるため1
人体に対して安全である。As described above, since the electrophotographic photoreceptor according to the present invention can be manufactured using a closed system manufacturing apparatus,
Safe for humans.
次に、この発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写
真特性を試験した結果について説明する。Next, the results of testing the electrophotographic properties of an electrophotographic photoreceptor according to the present invention formed into a film will be described.
試験例1
必要に応じて、干渉防止のために、酸処理、アルカリ処
理及びサンドfラスト処理を施した直径が80■1幅が
350箇のアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し1反応容器を約10−5トルの真空度罠排気した。Test Example 1 An aluminum drum base with a diameter of 80 mm and a width of 350 points, which has been subjected to acid treatment, alkali treatment, and sand f-last treatment to prevent interference as necessary, was installed in a reaction vessel and one reaction was carried out. The vessel was evacuated to a vacuum of approximately 10-5 torr.
ドラム基体を250℃に加熱し、10 rpmで自転さ
せつつ、5fiH4ガス1500 SCCM、 B2H
6fスを引H4ガスに対する流量比で10−5、CH4
ガスを1008CCMという流量で反応容器内に導入し
、反応容器内の圧力を1トルに調節した。そして、13
.56MHzの高周波電力を印加してプラズマを生起さ
せ、ドラム基体上にp型のs −81C:H障壁層を形
成した。While heating the drum base to 250°C and rotating it at 10 rpm, 5fiH4 gas 1500 SCCM, B2H
6f gas and the flow rate ratio to H4 gas is 10-5, CH4
Gas was introduced into the reaction vessel at a flow rate of 1008 CCM, and the pressure inside the reaction vessel was adjusted to 1 Torr. And 13
.. Plasma was generated by applying high frequency power of 56 MHz to form a p-type s-81C:H barrier layer on the drum substrate.
次に、放電を一旦停止し、NHsガス流量t−1208
0CM導入し、反応圧力を1.2トルに調節し、500
Wの高周波電力を印加して、1001のa −81N:
H薄層を形成した0次いで、8%H4ガスを5008C
CM、H2ガスを500 SCCMの流量で反応容器内
に導入し、600Wの高周波電力を印加して、100X
のμc −81:H薄層を形成した。Next, the discharge is temporarily stopped, and the NHs gas flow rate is t-1208.
0CM was introduced, the reaction pressure was adjusted to 1.2 Torr, and 500
Applying high frequency power of W, 1001 a -81N:
Then, 8% H4 gas was added to 5008C to form a thin H layer.
CM, H2 gas was introduced into the reaction vessel at a flow rate of 500 SCCM, and a high frequency power of 600 W was applied to give a 100X
A thin layer of .mu.c-81:H was formed.
このような操作を繰り返して、600層のa−8IN:
H薄層と600層のμc −81:H薄層とを交互に積
層し、ヘテロ接合超格子構造の電荷保持層″f:12趨
形成した。Repeat these operations to create 600 layers of a-8IN:
The H thin layer and 600 μc -81:H thin layers were alternately laminated to form a charge retention layer with a heterojunction superlattice structure f:12.
入し1反応圧力?: 1.2 Torrに調節してs
o o w ”の高周波電力を印加し、100Xのμc
−SiC:H薄yx<m晶度60 % ) t−形g
t、り。FK、CH4ffスの流量を12SCCMK増
mし、1001Oμc−81C:H薄層(N晶度75%
)を形成した。このような操作を繰返して、結畠度が異
なる250層のμc −81C:H薄層と250層のμ
c −81C:)iとを交互に積層し、ヘテロ接合超格
子構造の5μmの電荷発生層を形成した。Input 1 reaction pressure? : Adjust to 1.2 Torr.
o o w” high frequency power is applied, 100X μc
-SiC:H thin yx<m crystallinity 60%) T-type g
T, Ri. The flow rate of FK and CH4ff was increased by 12SCCMK, and 1001Oμc-81C:H thin layer (N crystallinity 75%) was added.
) was formed. By repeating this operation, 250 layers of μc-81C:H thin layer and 250 μc layers with different degrees of grain setting were obtained.
c-81C:)i were alternately stacked to form a 5 μm charge generation layer having a heterojunction superlattice structure.
次いで、表面層として0.5IBのa −SiC:1層
を形成した。Next, a 0.5IB a-SiC:1 layer was formed as a surface layer.
このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光を露光すると、この元は電荷発生層で吸収
され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験例に
おいては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿命が
高く、高い走行性が得られた。これによシ、鮮明で高品
質の画像が得られた。また、この試験例で製造された感
光体を、繰返し帯電させたところ、転写画像の再現性及
び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性。When the surface of the photoreceptor thus formed is positively charged at about 500 V and exposed to white light, this source is absorbed by the charge generation layer and carriers of electron-hole pairs are generated. In this test example, a large number of carriers were generated, the carriers had a long life, and high running performance was obtained. As a result, clear and high quality images were obtained. Furthermore, when the photoreceptor manufactured in this test example was repeatedly charged, the reproducibility and stability of the transferred image were extremely good, and the corona resistance was also excellent.
耐湿性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実
証された。It has been demonstrated that it has excellent durability such as moisture resistance and abrasion resistance.
このようにして製造された感光体は、半導体レーデの発
掘波長である780乃至790 nmの長波長光に対し
ても高層感度を有する。この感光体を半導体レーデプリ
ンタに搭載してカールソンプロセスによ多画像を形成し
たところ、感光体表面の露光量が25・rga+2であ
る場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることができた
。The photoreceptor manufactured in this manner has high sensitivity even to long wavelength light of 780 to 790 nm, which is the wavelength discovered by semiconductor radar. When this photoreceptor was installed in a semiconductor radar printer and multiple images were formed using the Carlson process, clear, high-resolution images could be obtained even when the exposure amount on the photoreceptor surface was 25·rga+2. .
−SIN:H薄層の代わシに100Xのa −SiC:
H薄層を形成したことを除いて、試験例1と同様にして
電子写真感光体を製造した。-SIN: 100X a in place of H thin layer -SiC:
An electrophotographic photoreceptor was produced in the same manner as in Test Example 1 except that a thin H layer was formed.
なお、a −81C:H薄層は、CH4ガス流tt75
SCCMに設定し、反応容器内圧力t’ 1.2 To
rrに調節し、soowの高周波電力を印加することに
より得られた。Note that the a-81C:H thin layer is formed by CH4 gas flow tt75
Set to SCCM, the reaction vessel internal pressure t' 1.2 To
It was obtained by adjusting to rr and applying high frequency power of sow.
この感光体を繰返し帯電したところ、転写画像の再現性
及び安定性が高く、耐コロナ性、耐湿性、及び耐磨耗性
などの耐久性が優れていた。When this photoreceptor was repeatedly charged, the transferred image had high reproducibility and stability, and had excellent durability such as corona resistance, moisture resistance, and abrasion resistance.
なお、上記試験例においては、電荷発生層の厚みが5.
wであったが、これに限らず、1又は3μm等に設定し
ても感光体として実用可能である。In the above test example, the thickness of the charge generation layer was 5.5 mm.
However, the thickness is not limited to this, and even if it is set to 1 or 3 μm, it can be practically used as a photoreceptor.
筐た、薄層の種類は、上記試験例のように2種類に限ら
ず、3種類以上の薄層を積層しても良く。The types of thin layers in the case are not limited to two types as in the above test example, but three or more types of thin layers may be laminated.
要するに、光学的バンドギャップが相違する薄層の境界
を形成すれば良い。In short, it is sufficient to form a boundary between thin layers having different optical band gaps.
[発明の効果]
この発明によれば、光導電層の一部又は全部に、光学的
バンドギヤラグが相互に異なる薄層を積層して構成され
る超格子構造を使用するから、可視光から近赤外光の広
い波長領域に亘うて高感度であり、キャリアの走行性が
高いと共に、高抵抗で帯電特性が優れた電子写真感光体
を得ることができる。特に、この発明においては、薄層
を形成す名材料を適宜組み合わせることによシ、任意の
波長帯の元に対して最適の光導電特性を有する感光体を
得ることができるという利点がある。[Effects of the Invention] According to the present invention, a superlattice structure in which the optical band gear lugs are formed by laminating different thin layers is used in part or all of the photoconductive layer, so that light from visible light to near-infrared light is emitted. It is possible to obtain an electrophotographic photoreceptor that is highly sensitive over a wide wavelength range of external light, has high carrier mobility, has high resistance, and has excellent charging characteristics. In particular, the present invention has the advantage that by appropriately combining famous materials forming the thin layer, it is possible to obtain a photoreceptor having optimal photoconductive properties for any wavelength band.
第1図はこの発明の実施例に係る電子写真感光体を示す
断面図、第2図〜第4図は同じく他の実施例に係る電子
写真感光体を示す断面図、第5図は第1図及び第4図の
一部拡大断面図、第6図は超格子構造のエネルギバンド
を示す図、第7図社この発明の実施例に係る電子写真感
光体の製造装置を示す図、第8図は感光体のエネルギギ
ャップを示す模式図である。
出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第1図
第2図
第3図 第4図
第5図
1、事件の表示
特願昭61−315569号
2、発明の名称
電子写真感光体
3、補正をする者
事件との関係 特許出願人
(307) 株式会社 東芝
(ほか1名)
4、代理人
東京都千代田区霞が関3丁目7番2号 UBEビル7、
補正の内容
(1)明細書第8頁第8行目〜第13行目の「なお、・
・・・・・望ましい。」を削除する。
(2)明細書第23頁第12行目のr 25 erg
dJをr 25 erg/d Jと訂正する。FIG. 1 is a sectional view showing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the present invention, FIGS. 2 to 4 are sectional views showing an electrophotographic photoreceptor according to another embodiment, and FIG. FIG. 6 is a diagram showing the energy band of the superlattice structure, FIG. 7 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the present invention, and FIG. The figure is a schematic diagram showing the energy gap of a photoreceptor. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1
Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 1, Indication of the case Japanese Patent Application No. 61-315569 2, Name of the invention Electrophotographic photoreceptor 3, Person making the amendment Relationship to the case Patent applicant (307) Stock Company: Toshiba (and 1 other person) 4. Agent: UBE Building 7, 3-7-2 Kasumigaseki, Chiyoda-ku, Tokyo.
Contents of the amendment (1) “In addition,” on page 8, lines 8 to 13 of the specification.
·····desirable. ” to be deleted. (2) r 25 erg on page 23, line 12 of the specification
Correct dJ to r 25 erg/d J.
Claims (7)
体において、前記光導電層は電荷発生層と電荷保持層と
を有し、前記電荷発生層の少なくとも一部は、炭素、酸
素および窒素から選ばれた元素の少なくとも1種を含み
、かつ結晶度が異なる複数の微結晶シリコン膜を交互に
積層して構成されており、前記電荷保持層の少なくとも
1部は、炭素、酸素および窒素から選ばれた元素の少な
くとも1種を含む非晶質シリコン膜と微結晶シリコン膜
とを交互に積層して構成されていることを特徴とする電
子写真感光体。(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support and a photoconductive layer, the photoconductive layer has a charge generation layer and a charge retention layer, and at least a portion of the charge generation layer contains carbon, oxygen, A plurality of microcrystalline silicon films containing at least one element selected from carbon and nitrogen and having different degrees of crystallization are alternately stacked, and at least a part of the charge retention layer contains carbon, oxygen and An electrophotographic photoreceptor characterized in that it is constructed by alternately laminating amorphous silicon films and microcrystalline silicon films containing at least one element selected from nitrogen.
膜厚は、30〜200Åであることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の電子写真感光体。(2) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the microcrystalline silicon film and the amorphous silicon film have a thickness of 30 to 200 Å.
属する元素から選択された少なくとも1種を含むことを
特徴とする特許請求の範囲第1又は2項記載の電子写真
感光体。(3) The electrophotographic photosensitive material according to claim 1 or 2, wherein the photoconductive layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III or V of the periodic table. body.
料又は少なくとも1部が微結晶化した半導体材料からな
る障壁層を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の電子写真感光体。(4) A barrier layer made of an amorphous material or a semiconductor material at least partially microcrystalline is provided between the conductive support and the photoconductive layer.
The electrophotographic photoreceptor described in .
する元素から選択された少なくとも1種を含むことを特
徴とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。(5) The electrophotographic photoreceptor according to claim 4, wherein the barrier layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III or Group V of the periodic table.
から選択された元素の少なくとも1種を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第4項記載の電子写真感光体。(6) The electrophotographic photoreceptor according to claim 4, wherein the barrier layer contains at least one element selected from the group consisting of carbon, oxygen, and nitrogen.
する特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。(7) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, further comprising a surface layer on the photoconductive layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31556986A JPS63165858A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Electrophotographic sensitive body |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31556986A JPS63165858A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Electrophotographic sensitive body |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63165858A true JPS63165858A (en) | 1988-07-09 |
Family
ID=18066921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31556986A Pending JPS63165858A (en) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | Electrophotographic sensitive body |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63165858A (en) |
-
1986
- 1986-12-26 JP JP31556986A patent/JPS63165858A/en active Pending
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