JPS63159774A - 周波数応答を決定するための回路 - Google Patents
周波数応答を決定するための回路Info
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- JPS63159774A JPS63159774A JP62284076A JP28407687A JPS63159774A JP S63159774 A JPS63159774 A JP S63159774A JP 62284076 A JP62284076 A JP 62284076A JP 28407687 A JP28407687 A JP 28407687A JP S63159774 A JPS63159774 A JP S63159774A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被テストユニットの周波数応答を決定するた
めの回路に関する。そして、特に、被テストユニットに
入力するための様々な周波数テスト信号を発生させるた
めの種々の周波数発振器と、発振器の周波数を変化させ
るための制御信号を生しさせるための制御信号発生器と
、テスト信号に応じて被テストユニットから発せられた
出力信号の測定値に基づいて被テストユニットのパラメ
ータを決定するためのプロセス回路とを含む種類の回路
に関する。
めの回路に関する。そして、特に、被テストユニットに
入力するための様々な周波数テスト信号を発生させるた
めの種々の周波数発振器と、発振器の周波数を変化させ
るための制御信号を生しさせるための制御信号発生器と
、テスト信号に応じて被テストユニットから発せられた
出力信号の測定値に基づいて被テストユニットのパラメ
ータを決定するためのプロセス回路とを含む種類の回路
に関する。
〔従来の技術及び発明が解決しようとする問題点〕この
ような回路は、例えば、回路網の周波数振幅特性の測定
か、又は受信信号の周波数スペクトルノ決定に用いられ
る。典型的なものとして、発振器には、のこぎり波状電
圧発生器のような制御電圧発生器によって掃引された（
例えば変化する）周波数のテスト信号を発生させる電圧
制御発振器を含んでいる。
ような回路は、例えば、回路網の周波数振幅特性の測定
か、又は受信信号の周波数スペクトルノ決定に用いられ
る。典型的なものとして、発振器には、のこぎり波状電
圧発生器のような制御電圧発生器によって掃引された（
例えば変化する）周波数のテスト信号を発生させる電圧
制御発振器を含んでいる。
通常、プロセス回路によりて決定された、被テストユニ
ットのパラメータの周波数に関する変化は、例えばブラ
ウン管のような表示手段によって表示される。これは、
パラメータとして決定された夫々の値に対応する実際の
周波数を表わす信号を必要とする。これは、従来では、
電圧制御発振器に入力された制御電圧が、発振器によっ
て生成された周波数を表わすと仮定することによるが、
或いは、例えばブラウン管の帰線時間中に発振器の目盛
りを周期的に調整し、そして例えば波腹を固定した位相
で発振器を一時的に接続することによるか、の何れかに
よって達成されていた０通常、後者で操作される回路は
、イギリス国特許第１５４６６６７号とヨーロッパ特許
出願第００９５７２３号に開示されている。
ットのパラメータの周波数に関する変化は、例えばブラ
ウン管のような表示手段によって表示される。これは、
パラメータとして決定された夫々の値に対応する実際の
周波数を表わす信号を必要とする。これは、従来では、
電圧制御発振器に入力された制御電圧が、発振器によっ
て生成された周波数を表わすと仮定することによるが、
或いは、例えばブラウン管の帰線時間中に発振器の目盛
りを周期的に調整し、そして例えば波腹を固定した位相
で発振器を一時的に接続することによるか、の何れかに
よって達成されていた０通常、後者で操作される回路は
、イギリス国特許第１５４６６６７号とヨーロッパ特許
出願第００９５７２３号に開示されている。
けれども、これら先行技術に係る回路は、その制御電圧
に対する発振器の周波数応答、は必ずしも直線的でなく
、シかもドリフトの影響をうけるものであり、この両方
の要因がパラメータ対周波数の正確な決定のために明ら
かに悪影響を与える、という欠点を有する。
に対する発振器の周波数応答、は必ずしも直線的でなく
、シかもドリフトの影響をうけるものであり、この両方
の要因がパラメータ対周波数の正確な決定のために明ら
かに悪影響を与える、という欠点を有する。
従って、本発明は、上述の回路、即ち先行技術に係る回
路が与える悪影響を生じることなく、簡単な可変周波数
発振器及び制御信号発生器を使用することができる回路
を提供することを目的とする。
路が与える悪影響を生じることなく、簡単な可変周波数
発振器及び制御信号発生器を使用することができる回路
を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明によれ
ば、被テストユニットの周波数応答を決定するための回
路が備えられており、この回路は、被テストユニットに
入力させるための可変周波数テスト信号を発生させる可
変周波数発振器と、該発振器の周波数を変化させるため
の制御信号を生じさせる制御信号発生器と、テスト信号
に応じて被テストユニットによって発生される出力信号
の測定値から被テストユニットのパラメータを決定する
プロセス回路と、発振器出力信号の周期又は周波数の何
れかを夫々正確に代表する計数値を取り出すために、基
準周波数と発振器の出力から得られる信号とを受信すべ
く接続され且つ基準周波数と発振器の出力から得られる
信号の何れか一方の信号を他方の信号により限定される
時間の間にカウントするように構成されたカウンターと
、被テストユニットからの出方信号の夫々の測定値を同
時に得られた夫々の計数値に配分する制御ユニットを含
んでいる。
ば、被テストユニットの周波数応答を決定するための回
路が備えられており、この回路は、被テストユニットに
入力させるための可変周波数テスト信号を発生させる可
変周波数発振器と、該発振器の周波数を変化させるため
の制御信号を生じさせる制御信号発生器と、テスト信号
に応じて被テストユニットによって発生される出力信号
の測定値から被テストユニットのパラメータを決定する
プロセス回路と、発振器出力信号の周期又は周波数の何
れかを夫々正確に代表する計数値を取り出すために、基
準周波数と発振器の出力から得られる信号とを受信すべ
く接続され且つ基準周波数と発振器の出力から得られる
信号の何れか一方の信号を他方の信号により限定される
時間の間にカウントするように構成されたカウンターと
、被テストユニットからの出方信号の夫々の測定値を同
時に得られた夫々の計数値に配分する制御ユニットを含
んでいる。
従って、制御信号発生器により制御され、電圧制御発振
器から出力されるテスト信号により被テストユニットの
測定値及びパラメータが決定され、一方でテスト信号の
周期又は周波数をカウンターにより計数値として発生せ
しめ、制御ユニットにより計数値に測定値を配分するよ
うにして、被テストユニットの周波数応答を決定する。
器から出力されるテスト信号により被テストユニットの
測定値及びパラメータが決定され、一方でテスト信号の
周期又は周波数をカウンターにより計数値として発生せ
しめ、制御ユニットにより計数値に測定値を配分するよ
うにして、被テストユニットの周波数応答を決定する。
以下に本発明の一実施例を、添付図面に基づいて説明す
る。図面は本発明に従う回路を単純化したブロック図で
ある。
る。図面は本発明に従う回路を単純化したブロック図で
ある。
被テストユニット１０は、周波数応答（周波数に対応す
る減衰）が決定されるべき回路網を有すると仮定する。
る減衰）が決定されるべき回路網を有すると仮定する。
ユニット１０の入力側には、電圧制御発振器（ＶＣＯ）
１２で生ぜしめられた、予め決定され固定された振幅で
あって可変の周波数を有する交流電圧が供給される。レ
ベル検波器１４はユニット１０の出力側に接続される。
１２で生ぜしめられた、予め決定され固定された振幅で
あって可変の周波数を有する交流電圧が供給される。レ
ベル検波器１４はユニット１０の出力側に接続される。
ＶＣＯ１２用の制御電圧は掃引発生器１６によって供給
され、該掃引発生器１６は速度と方向に関して可変であ
る単純なのこぎり波発生器であってもよい。
され、該掃引発生器１６は速度と方向に関して可変であ
る単純なのこぎり波発生器であってもよい。
ＶＣＯ１２で発生せしめられるテスト周波数はカウンタ
ー１８に供給される。もし、カウンター１Ｂを極端に高
いクロック周波数で操作することができない場合には、
■ＣＯ出力をもつと低い周波数帯に変えるために混合器
２０を使用してもよい、カウンター１８は水晶安定化ク
ロック発生器２１を有していて、この水晶安定化クロッ
ク発生器２１は、テスト周波数がカウンター１８の計数
入力端に供給される場合に計数間隔を決定するか、さも
なければテスト周波数周期で定まる計数間隔の間カウン
トされるパルスを供給する。
ー１８に供給される。もし、カウンター１Ｂを極端に高
いクロック周波数で操作することができない場合には、
■ＣＯ出力をもつと低い周波数帯に変えるために混合器
２０を使用してもよい、カウンター１８は水晶安定化ク
ロック発生器２１を有していて、この水晶安定化クロッ
ク発生器２１は、テスト周波数がカウンター１８の計数
入力端に供給される場合に計数間隔を決定するか、さも
なければテスト周波数周期で定まる計数間隔の間カウン
トされるパルスを供給する。
装置は夫々の計数間隔の終端で自由走行モードで操作で
きるようにするために計数値は比較器２２へ移送され、
この比較器２２において、その計数値は掃引周波数を代
表し且つ制御ユニット３０から供給される基準値と比較
される。もし、計数値が（掃引発生器１６の実際の掃引
方向に依存する）基準値を越えるか下まわる場合即ち、
差の符号が変わる時はいつでも、掃引方向はライン３８
を経由して逆になるので、掃引発生器１６は常に基準手
段２４によって制御ユニット３０により限定された範囲
内にある。
きるようにするために計数値は比較器２２へ移送され、
この比較器２２において、その計数値は掃引周波数を代
表し且つ制御ユニット３０から供給される基準値と比較
される。もし、計数値が（掃引発生器１６の実際の掃引
方向に依存する）基準値を越えるか下まわる場合即ち、
差の符号が変わる時はいつでも、掃引方向はライン３８
を経由して逆になるので、掃引発生器１６は常に基準手
段２４によって制御ユニット３０により限定された範囲
内にある。
更に、この発明に関してもっと明らかにすれば、計数値
は表示プロセス及び記憶ユニット２８に入力される。夫
々の計数値は、ユニット２８で計数と同時にレベル検波
器１４から送られる夫々のレベル値に配分される。夫々
のレベル値とその対応する計数値は、その後表示装置２
６によって表示に適する形態に変換される。
は表示プロセス及び記憶ユニット２８に入力される。夫
々の計数値は、ユニット２８で計数と同時にレベル検波
器１４から送られる夫々のレベル値に配分される。夫々
のレベル値とその対応する計数値は、その後表示装置２
６によって表示に適する形態に変換される。
このため、ＶＣＯ１２の出力周波数の夫々上向き又は下
向きの掃引の間、夫々の実際の出力周波数（又は周期）
は、レベル検波器１４の出力における信号の夫々の値の
ためにカウンター１８と発生器２１によって正確に決定
される。従って、掃引率における非直線性による問題と
、ＶＣＯ１２及びその制御ユニット３０における周波数
ドリフトは避けられる。
向きの掃引の間、夫々の実際の出力周波数（又は周期）
は、レベル検波器１４の出力における信号の夫々の値の
ためにカウンター１８と発生器２１によって正確に決定
される。従って、掃引率における非直線性による問題と
、ＶＣＯ１２及びその制御ユニット３０における周波数
ドリフトは避けられる。
上記具体例は、掃引発生器１６を経由したＶＣ０１２で
三角形状の周期的な制御電圧を発生させるのに役立つ、
替わりとして、基準値を越えた時に掃引を固定又は置き
換えることによって、（例えば）のこぎり波又は単発の
掃引が得られるようにしてもよい。
三角形状の周期的な制御電圧を発生させるのに役立つ、
替わりとして、基準値を越えた時に掃引を固定又は置き
換えることによって、（例えば）のこぎり波又は単発の
掃引が得られるようにしてもよい。
掃引発生器が自由運転モードで動作しているところでは
、計数間隔が掃引と同期しないので表示プロセスと記憶
手段とによって得られる瞬間的°な振幅と周波数の共通
縦座標は個々の掃引間で異なるであろう、このように、
正確に記憶された値の表示は掃引が進行したとき行なわ
れ、解像度は掃引毎に上昇し、達成し得る解像度に理論
的には限界はない。
、計数間隔が掃引と同期しないので表示プロセスと記憶
手段とによって得られる瞬間的°な振幅と周波数の共通
縦座標は個々の掃引間で異なるであろう、このように、
正確に記憶された値の表示は掃引が進行したとき行なわ
れ、解像度は掃引毎に上昇し、達成し得る解像度に理論
的には限界はない。
上述の如く、本発明によれば出力周波数は、周波数応答
の非直線性による問題やドリフトの影響を受けることな
く、正確に決定せしめることができる。
の非直線性による問題やドリフトの影響を受けることな
く、正確に決定せしめることができる。
図面は本発明の一実施例を示すブロック図である。
ｌＯ・・・・被テストユニット、１２・・・・可変周波
数発振器、１６・・・・制御信号発生器、１８・・・・
カウンター、２２・・・・比較器、２６・・・・表示装
置、２Ｂ・・・・表示プロセス及び記憶手段、３０・・
・・制御ユニット。
数発振器、１６・・・・制御信号発生器、１８・・・・
カウンター、２２・・・・比較器、２６・・・・表示装
置、２Ｂ・・・・表示プロセス及び記憶手段、３０・・
・・制御ユニット。
Claims (7)
- （１）被テストユニットに入力するための可変周波数テ
スト信号を発生させる可変周波数発振器と、該発振器の
周波数を変化させるための制御信号を発生させる制御信
号発生器と、テスト信号に応じて被テストユニットによ
って発生される出力信号の測定値から被テストユニット
のパラメータを決定するプロセス回路と、発振器の出力
から送られる信号と基準周波数を受信するように接続さ
れていて発振器の出力信号の周期又は周波数の何れかを
夫々正確に表わす夫々の計数を行わせるために一方の信
号を他方の信号により限定される時間間隔の間計数する
ように配置されたカウンターと、被テストユニットから
発生した出力信号の夫々の測定値を同時に得られた夫々
の計数に配分する制御ユニットとを含んでいる、被テス
トユニットの周波数応答を決定するための回路。 - （２）前記制御ユニットは、夫々検出された計数値に応
じて発振器の予め決定された周波数範囲を限定するため
に前記制御信号発生器に作動的に接続されている、特許
請求の範囲（１）に記載の回路。 - （３）テスト周波数をカウンターが作動できる範囲内に
変換するために発振器とカウンターとの間に接続された
混合器を含んでいる、特許請求の範囲（１）又は（２）
に記載の回路。 - （４）検出された計数値と予め決定された基準値とを比
較し、そして発振器の周波数が計数値と基準値の間の差
による符号変換を変化せしめる方向に制御信号発生器を
転換せしめる信号を発生させる比較器を含んでいる、特
許請求の範囲（１）乃至（３）の何れかに記載の回路。 - （５）前記基準値や夫々の符号変換に読み出される新し
い基準値を記憶する記憶手段を含んでいる、特許請求の
範囲（４）に記載の回路。 - （６）直交軸を有する表示手段を含んでいて、前記計数
値は一方の軸に沿って表現され、そして前記測定値は他
方の軸に沿って表現されるようにした、特許請求の範囲
（１）乃至（５）の何れかに記載の回路。 - （７）添付図面を参照してここに実質的に記述された、
被テストユニットの周波数応答を決定するための回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3638458.5 | 1986-11-11 | ||
| DE19863638458 DE3638458A1 (de) | 1986-11-11 | 1986-11-11 | Schaltungsanordnung zum bestimmen des frequenzverhaltens eines prueflings |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63159774A true JPS63159774A (ja) | 1988-07-02 |
Family
ID=6313671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62284076A Pending JPS63159774A (ja) | 1986-11-11 | 1987-11-10 | 周波数応答を決定するための回路 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4896095A (ja) |
| EP (1) | EP0269309B1 (ja) |
| JP (1) | JPS63159774A (ja) |
| DE (2) | DE3638458A1 (ja) |
| GB (1) | GB2197492B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3733555A1 (de) * | 1987-10-03 | 1989-04-13 | Hartmann & Braun Ag | Verfahren zur messung der amplitude eines periodischen zeitabhaengigen elektrischen signales g(t) in einem signalgemisch u(t) |
| JPH06242188A (ja) * | 1993-02-16 | 1994-09-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体集積回路及びそのテスト方法 |
| JPH11118848A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-30 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
| US8023558B2 (en) * | 2004-09-27 | 2011-09-20 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for measuring the input frequency response of a digital receiver |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5166879A (en) * | 1974-12-06 | 1976-06-09 | Sony Corp | Shuhasuo hensutosuru sokuteihoho oyobi sochi |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2036449B2 (de) * | 1970-07-22 | 1977-03-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zum bestimmen der einem markierbaren zeitpunkt zugeordneten frequenz eines stetig frequenzmodulierbaren senders |
| DE2036412B2 (de) * | 1970-07-22 | 1977-03-31 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schaltung zum bestimmen der einem markierbaren zeitpunkt zugeordneten frequenz eines gegenlaeufig frequenzmodulierbaren senders |
| US3968427A (en) * | 1975-08-11 | 1976-07-06 | Hewlett-Packard Company | Group delay measurement apparatus and method |
| GB1579735A (en) * | 1976-03-19 | 1980-11-26 | Nat Res Dev | Frequency response testing apparatus |
| US4085361A (en) * | 1977-03-10 | 1978-04-18 | Wiltron Company | Measurement of frequency response with improved sensitivity and accuracy |
| DE3220462C1 (de) * | 1982-05-29 | 1983-12-22 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Spektrumanalysator |
-
1986
- 1986-11-11 DE DE19863638458 patent/DE3638458A1/de not_active Ceased
- 1986-12-16 GB GB8629947A patent/GB2197492B/en not_active Expired - Fee Related
-
1987
- 1987-11-10 DE DE87309933T patent/DE3787154T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-11-10 JP JP62284076A patent/JPS63159774A/ja active Pending
- 1987-11-10 EP EP87309933A patent/EP0269309B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-11-12 US US07/119,373 patent/US4896095A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5166879A (en) * | 1974-12-06 | 1976-06-09 | Sony Corp | Shuhasuo hensutosuru sokuteihoho oyobi sochi |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8629947D0 (en) | 1987-01-28 |
| US4896095A (en) | 1990-01-23 |
| GB2197492A (en) | 1988-05-18 |
| GB2197492B (en) | 1991-01-30 |
| DE3638458A1 (de) | 1988-05-26 |
| EP0269309A3 (en) | 1989-10-25 |
| DE3787154D1 (de) | 1993-09-30 |
| EP0269309B1 (en) | 1993-08-25 |
| DE3787154T2 (de) | 1994-03-31 |
| EP0269309A2 (en) | 1988-06-01 |
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